一種內(nèi)存測試分析系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種內(nèi)存測試分析系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]模組產(chǎn)線現(xiàn)有的在分析ET和AT異常不良的時候需要先搜集大量的數(shù)據(jù)(TestLog，收率，實際不良資材)；接著讀取所有不良資材的SPD (Serial Presence Detect)信息，即是通過 IIC 串行接口的 EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-OnlyMemory,電可擦可編程只讀存儲器)對內(nèi)存插槽中的模組存在的信息檢查；最后根據(jù)STO信息將所有數(shù)據(jù)匯總整理至EXCEL得出結(jié)論。由此可見，現(xiàn)有的分析過程冗長和繁瑣，缺乏直觀的數(shù)據(jù)反映。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點，本發(fā)明的目的在于提供一種內(nèi)存測試分析系統(tǒng)，解決現(xiàn)有技術(shù)分析結(jié)果冗長繁瑣的問題。
[0004]為實現(xiàn)上述目標(biāo)及其他相關(guān)目標(biāo)，本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試分析系統(tǒng)，包括:測試數(shù)據(jù)庫，用于存儲來自AT測試設(shè)備及ET測試設(shè)備的內(nèi)存測試結(jié)果的原始數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)分析模塊，用于根據(jù)所述原始數(shù)據(jù)生成運算分析結(jié)果；顯示模塊，用于顯示所述運算分析結(jié)果，以供區(qū)分真性不良與假性不良；查詢模塊，用于將所述運算分析結(jié)果按AT測試及ET測試劃分分類，以供分類查詢。
[0005]可選的，所述ET測試，是通過ET測試設(shè)備根據(jù)內(nèi)存電壓、電流、及頻率參數(shù)來檢測內(nèi)存的各個線路以及元器件之間的開路、短路、或漏電現(xiàn)象；所述AT測試，是通過AT測試設(shè)備對內(nèi)存的每個顆粒是否能夠正常讀與寫以完成基本的功能性測試。
[0006]可選的，所述劃分分類包括:AT設(shè)備類別的量產(chǎn)進(jìn)行履歷、AT設(shè)備類別的內(nèi)存健康壽命損失年、直流電性類別測試結(jié)果、及每日最差被測試器件自動通知。
[0007]可選的，所述HITEMS軟件用于查詢存入EIS DB的Lot及測試設(shè)備信息。
[0008]可選的，所述HITEMS軟件數(shù)據(jù)庫，用于保存各個內(nèi)存產(chǎn)品的信息基本信息在SPD中并與各自測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)；HITEMS識別模塊，根據(jù)所述自動識別產(chǎn)品種類與參數(shù)，自動顯示產(chǎn)品信息的測試結(jié)果，以確保每一個內(nèi)存產(chǎn)品信息獨立與完整。
[0009]可選的，所述的內(nèi)存測試分析系統(tǒng)，還包括:備份模塊，用于在內(nèi)存測試結(jié)果向服務(wù)器發(fā)送時進(jìn)行備份。
[0010]如上所述，本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試分析系統(tǒng)，包括:測試數(shù)據(jù)庫，用于存儲來自AT測試設(shè)備及ET測試設(shè)備的內(nèi)存測試結(jié)果的原始數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)分析模塊，用于根據(jù)所述原始數(shù)據(jù)生成運算分析結(jié)果；顯示模塊，用于顯示所述運算分析結(jié)果，以供區(qū)分真性不良與假性不良；查詢模塊，用于將所述運算分析結(jié)果按AT測試及ET測試劃分分類，以供分類查詢；全自動化作業(yè)系統(tǒng)替代了人工操作，自動導(dǎo)出數(shù)據(jù)，直觀反映數(shù)據(jù)圖表；通過內(nèi)存測試分析系統(tǒng)與原有人工整理數(shù)據(jù)對比的差異性，減少量產(chǎn)異常Fail ;根據(jù)SH)信息的唯一性(Serial N0.)可以確保每一個產(chǎn)品的信息有據(jù)可依；根據(jù)內(nèi)存測試分析系統(tǒng)的數(shù)據(jù)查詢，量產(chǎn)收率的真實性與精確性大大提高。
【附圖說明】
[0011]圖1顯示為本發(fā)明一實施例中的內(nèi)存測試分析系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]元件標(biāo)號說明:1_內(nèi)存測試分析系統(tǒng)，11-測試數(shù)據(jù)庫，12-數(shù)據(jù)分析模塊，13-顯示模塊，14-查詢模塊。
【具體實施方式】
[0013]以下通過特定的具體實例說明本發(fā)明的實施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說明書所揭露的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點與功效。本發(fā)明還可以通過另外不同的【具體實施方式】加以實施或應(yīng)用，本說明書中的各項細(xì)節(jié)也可以基于不同觀點與應(yīng)用，在沒有背離本發(fā)明的精神下進(jìn)行各種修飾或改變。需說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。
[0014]如圖1所示，本發(fā)明提供一種本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試分析系統(tǒng)1，包括:測試數(shù)據(jù)庫11，用于存儲來自AT測試設(shè)備及ET測試設(shè)備的內(nèi)存測試結(jié)果的原始數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)分析模塊12，用于根據(jù)所述原始數(shù)據(jù)生成運算分析結(jié)果；顯示模塊13，用于顯示所述運算分析結(jié)果，以供區(qū)分真性不良與假性不良，利用概率統(tǒng)計學(xué)對數(shù)據(jù)結(jié)果分析即可區(qū)分真性不良與假性不良；查詢模塊14，用于將所述運算分析結(jié)果按AT測試及ET測試劃分分類，以供分類查詢。
[0015]在一實施例中，所述ET測試，是通過ET測試設(shè)備根據(jù)內(nèi)存電壓、電流、及頻率參數(shù)來檢測內(nèi)存的各個線路以及元器件之間的開路、短路、或漏電現(xiàn)象；所述AT測試，是通過AT測試設(shè)備對內(nèi)存的每個顆粒是否能夠正常讀與寫以完成基本的功能性測試。
[0016]在一實施例中，優(yōu)選可采用Hitems軟件來進(jìn)行數(shù)據(jù)存儲及顯示等，例如，利用計算機(jī)語言(C/C++)將數(shù)據(jù)庫的原始數(shù)據(jù)以及運算結(jié)果顯示于軟件HITEMS (Test EquipmentManagement System,用于查詢存入EIS DB的Lot和設(shè)備信息)之中，以便更直觀的查看數(shù)據(jù)結(jié)果:對于ET測試(電壓、電流、頻率)，檢測內(nèi)存的各個線路以及元器件之間的Open、Short、Leakage等問題，對于AT測試，Module的每個顆粒是否能夠正常的讀與寫，完成基本的功能性測試用。
[0017]在一實施例中，所述劃分分類包括:AT設(shè)備類別的量產(chǎn)進(jìn)行履歷、AT設(shè)備類別的內(nèi)存健康壽命損失年、直流電性類別測試結(jié)果、及每日最差被測試器件自動通知，具體的，即通過軟件設(shè)計將Hitems各個模塊分類劃分(AT量產(chǎn)進(jìn)行的履歷，AT設(shè)備別YLDMornitoring,ELEC DC Item別 Test 結(jié)果及 Daily Worst Dut Auto Mailing)，以便有針對性的查詢)。
[0018]在一實施例中，所述HITEMS軟件用于查詢存入EIS DB的Lot及測試設(shè)備信息。
[0019]在一實施例中，所述HITCMS軟件數(shù)據(jù)庫，用于保存各個內(nèi)存產(chǎn)品的信息基本信息在SPD (例如256Byte EEPR0M)中并與各自測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)；HITEMS識別模塊，根據(jù)所述自動識別產(chǎn)品種類與參數(shù)，自動顯示產(chǎn)品信息的測試結(jié)果，以確保每一個內(nèi)存產(chǎn)品信息獨立與完整。
[0020]在一實施例中，所述的內(nèi)存測試分析系統(tǒng)1，還包括:備份模塊，用于在內(nèi)存測試結(jié)果向服務(wù)器發(fā)送時進(jìn)行備份，具體的，例如，為了保證內(nèi)存測試結(jié)果的精確性，該系統(tǒng)開發(fā)了系統(tǒng)自檢模塊，測試結(jié)果發(fā)送Server的同時設(shè)備會進(jìn)行Backup，不管測試結(jié)果是良品還是不良品，都可以進(jìn)行下載真實Log進(jìn)行參考。
[0021]綜上所述，本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試分析系統(tǒng)，包括:測試數(shù)據(jù)庫，用于存儲來自AT測試設(shè)備及ET測試設(shè)備的內(nèi)存測試結(jié)果的原始數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)分析模塊，用于根據(jù)所述原始數(shù)據(jù)生成運算分析結(jié)果；顯示模塊，用于顯示所述運算分析結(jié)果，以供區(qū)分真性不良與假性不良；查詢模塊，用于將所述運算分析結(jié)果按AT測試及ET測試劃分分類，以供分類查詢；全自動化作業(yè)系統(tǒng)替代了人工操作，自動導(dǎo)出數(shù)據(jù)，直觀反映數(shù)據(jù)圖表；通過內(nèi)存測試分析系統(tǒng)與原有人工整理數(shù)據(jù)對比的差異性，減少量產(chǎn)異常Fail ;根據(jù)SH)信息的唯一性(Serial N0.)可以確保每一個產(chǎn)品的信息有據(jù)可依；根據(jù)內(nèi)存測試分析系統(tǒng)的數(shù)據(jù)查詢，量產(chǎn)收率的真實性與精確性大大提高。
[0022]上述實施例僅例示性說明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限制本發(fā)明。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下，對上述實施例進(jìn)行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者在未脫離本發(fā)明所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應(yīng)由本發(fā)明的權(quán)利要求所涵蓋。
【主權(quán)項】
1.一種內(nèi)存測試分析系統(tǒng)，其特征在于，包括: 測試數(shù)據(jù)庫，用于存儲來自AT測試設(shè)備及ET測試設(shè)備的內(nèi)存測試結(jié)果的原始數(shù)據(jù)； 數(shù)據(jù)分析模塊，用于根據(jù)所述原始數(shù)據(jù)生成運算分析結(jié)果； 顯示模塊，用于顯示所述運算分析結(jié)果，以供區(qū)分真性不良與假性不良； 查詢模塊，用于將所述運算分析結(jié)果按AT測試及ET測試劃分分類，以供分類查詢。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測試分析系統(tǒng)，其特征在于，所述ET測試，是通過ET測試設(shè)備根據(jù)內(nèi)存電壓、電流、及頻率參數(shù)來檢測內(nèi)存的各個線路以及元器件之間的開路、短路、或漏電現(xiàn)象；所述AT測試，是通過AT測試設(shè)備對內(nèi)存的每個顆粒是否能夠正常讀與寫以完成基本的功能性測試。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測試分析系統(tǒng)，其特征在于，所述劃分分類包括:AT設(shè)備類別的量產(chǎn)進(jìn)行履歷、AT設(shè)備類別的內(nèi)存健康壽命損失年、直流電性類別測試結(jié)果、及每日最差被測試器件自動通知。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測試分析系統(tǒng)，其特征在于，所述HITEMS軟件用于查詢存入EIS DB的Lot及測試設(shè)備信息。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測試分析系統(tǒng)，其特征在于，所述HITCMS軟件數(shù)據(jù)庫，用于保存各個內(nèi)存產(chǎn)品的信息基本信息在SPD中并與各自測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)；HITEMS識別模塊，根據(jù)所述自動識別產(chǎn)品種類與參數(shù)，自動顯示產(chǎn)品信息的測試結(jié)果，以確保每一個內(nèi)存產(chǎn)品信息獨立與完整。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測試分析系統(tǒng)，其特征在于，還包括:備份模塊，用于在內(nèi)存測試結(jié)果向服務(wù)器發(fā)送時進(jìn)行備份。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試分析系統(tǒng)，包括：測試數(shù)據(jù)庫，用于存儲來自AT測試設(shè)備及ET測試設(shè)備的內(nèi)存測試結(jié)果的原始數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)分析模塊，用于根據(jù)所述原始數(shù)據(jù)生成運算分析結(jié)果；顯示模塊，用于顯示所述運算分析結(jié)果，以供區(qū)分真性不良與假性不良；查詢模塊，用于將所述運算分析結(jié)果按AT測試及ET測試劃分分類，以供分類查詢；全自動化作業(yè)系統(tǒng)替代了人工操作，自動導(dǎo)出數(shù)據(jù)，直觀反映數(shù)據(jù)圖表；通過內(nèi)存測試分析系統(tǒng)與原有人工整理數(shù)據(jù)對比的差異性，減少量產(chǎn)異常Fail；根據(jù)SPD信息的唯一性（Serial NO.）可以確保每一個產(chǎn)品的信息有據(jù)可依；根據(jù)內(nèi)存測試分析系統(tǒng)的數(shù)據(jù)查詢，量產(chǎn)收率的真實性與精確性大大提高。
【IPC分類】G11C29-56
【公開號】CN104599719
【申請?zhí)枴緾N201410775071
【發(fā)明人】沈澤斌
【申請人】海太半導(dǎo)體（無錫）有限公司
【公開日】2015年5月6日
【申請日】2014年12月15日