固態(tài)硬盤測試裝置的制造方法
【專利摘要】一種固態(tài)硬盤測試裝置，用于同時測試若干固態(tài)硬盤，所述固態(tài)硬盤測試裝置包括一電腦機箱、設(shè)于所述電腦機箱內(nèi)的一主機板、設(shè)于所述電腦機箱內(nèi)的一電源及一測試電路板，電腦機箱的外表面開設(shè)一安裝口，測試電路板裝設(shè)于所述安裝口內(nèi)，測試電路板的外表面設(shè)有若干接口，測試電路板的內(nèi)表面設(shè)有一電源接口及一信號接口，這些接口分別用于插接這些固態(tài)硬盤，每一接口電性連接于所述電源接口及信號接口，電源接口通過一電源線連接于所述電源，信號接口通過一數(shù)據(jù)線連接于所述主機板，使主機板與這些固態(tài)硬盤電性連接。數(shù)據(jù)線的長度較短，信號傳輸衰減比較少，從而提高測試結(jié)果的準確度。
【專利說明】
固態(tài)硬盤測試裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本發(fā)明涉及一種固態(tài)硬盤測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]固態(tài)硬盤(solid state drive，SSD)在生產(chǎn)完成后，需要對SSD進行大批量的數(shù)據(jù)寫入及讀取來考核SSD的壽命承受能力的老化測試?，F(xiàn)有技術(shù)中，SSD的測試架與測試電腦主機一般是分離的且相隔一定距離，在對SSD進行測試時，需通過線纜從所述測試電腦主機內(nèi)的主板上牽出后，再電性連接于所述SSD的測試架，然而，由于SSD的測試架的體積較大，從而使所述線纜的長度較長，在對SSD進行老化測試時，信號通過較長的線纜后使所述信號的衰減增大，從而使測試結(jié)果不準確且容易出現(xiàn)誤測和誤判的情況。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]有鑒于此，有必要提供一種測試結(jié)果準確的固態(tài)硬盤測試裝置。
[0004]—種固態(tài)硬盤測試裝置，用于測試若干固態(tài)硬盤，所述固態(tài)硬盤測試裝置包括一電一種固態(tài)硬盤測試裝置，用于同時測試若干固態(tài)硬盤，所述固態(tài)硬盤測試裝置包括一電腦機箱、設(shè)于所述電腦機箱內(nèi)的一主機板、設(shè)于所述電腦機箱內(nèi)的一電源及一測試電路板，所述電腦機箱的外表面開設(shè)一安裝口，所述測試電路板裝設(shè)于所述安裝口內(nèi)，所述測試電路板的外表面設(shè)有若干接口，所述測試電路板的內(nèi)表面設(shè)有一電源接口及一信號接口，這些接口分別用于插接這些固態(tài)硬盤，每一接口電性連接于所述電源接口及信號接口，所述電源接口通過一電源線連接于所述電源，所述信號接口通過一數(shù)據(jù)線連接于所述主機板，使所述主機板與這些固態(tài)硬盤電性連接。
[0005]本發(fā)明固態(tài)硬盤測試裝置的電腦機箱的外表面直接安裝有測試電路板，數(shù)據(jù)線在所述電腦機箱的內(nèi)部空間連接于所述主機板與所述測試電路板，因此，所述數(shù)據(jù)線的長度較短，信號傳輸衰減比較少，且信號傳輸在電腦機箱的內(nèi)部進行能減少外部電子干擾，從而提高測試結(jié)果的準確度，防止出現(xiàn)誤測和誤判的情況。
【附圖說明】
[0006]圖1是本發(fā)明固態(tài)硬盤測試裝置的較佳實施方式的立體分解示意圖，所述固態(tài)硬盤測試裝置包括一測試電路板；
圖2是圖1中測試電路板的放大圖；
圖3是本發(fā)明固態(tài)硬盤測試裝置使用狀態(tài)圖。
【具體實施方式】
[0007]下面結(jié)合附圖及較佳實施方式對本發(fā)明作進一步詳細描述:
請參考圖1，本發(fā)明固態(tài)硬盤測試裝置100的較佳實施方式用于同時測試若干固態(tài)硬盤300，所述固態(tài)硬盤測試裝置100包括一電腦機箱20、設(shè)于所述電腦機箱20內(nèi)的一主機板30、設(shè)于所述電腦機箱20內(nèi)的一電源50、一測試電路板60及一顯示單元90。
[0008]所述電腦機箱20包括一底板21、自所述底板21的前端向上垂直延伸的一前側(cè)板23、自所述底板21的后端向上垂直延伸的一后側(cè)板24、連接于所述前側(cè)板23的頂端與所述后側(cè)板24的頂端的一頂板26及兩側(cè)板(圖中未示)。所述主機板30設(shè)于所述電腦機箱20內(nèi)，所述電源50固定于所述后側(cè)板24的頂端處。所述前側(cè)板23的頂端處設(shè)有一方形的安裝口231，所述前側(cè)板23于所述安裝口 231的四角處分別凸設(shè)一安裝片233，每一安裝片233上開設(shè)一連接孔235。本實施方式中，所述安裝口231是所述電腦機箱20用于安裝光驅(qū)的開口。
[0009]所述主機板30設(shè)有一信號接口31，所述信號接口 31連接于一數(shù)據(jù)線70，所述數(shù)據(jù)線70是周邊裝置互連高速(Peripheral Component Interconneet Experss ,PC1-E)數(shù)據(jù)線，所述數(shù)據(jù)線70的兩端分別設(shè)有PC 1-E接口連接器71。所述數(shù)據(jù)線70—端的PC 1-E接口連接器71連接于所述主機板30的信號接口 31。所述主機板30與所述顯示單元90電性連接，用于顯示這些固態(tài)硬盤300的測試結(jié)果。
[0010]所述電源50設(shè)有一電源線51，所述電源線51的末端設(shè)有一連接器53。
[0011]請參考圖2，所述測試電路板60概呈方形，所述測試電路板60設(shè)有一外表面61及與所述外表面61相對的一內(nèi)表面63。所述外表面61上焊接若干接口 65，這些接口 65相間隔地排成一列。所述外表面61上對應(yīng)每一接口 65設(shè)有一電子保護開關(guān)68，每一電子保護開關(guān)68用于防止對應(yīng)的待測固態(tài)硬盤300損壞。所述外表面61的四角處分別一通孔611。所述內(nèi)表面63設(shè)有一電源接口66及一信號接口67。這些接口65是串行高級附件(Serial AdvancedTechnology Attachment，SATA)接口，這此固態(tài)硬盤300可分別插接于這些接口65。每一接口 65通過測試電路板60分別電性連接于所述電源接口 66及所述信號接口 67。所述外表面61還設(shè)有一電源指示燈69，用于顯示所述測試電路板60是否處于供電狀態(tài)。
[0012]請一并參考圖1及圖3，組裝所述固態(tài)硬盤測試裝置100時，將所述測試電路板60置于所述安裝口 231內(nèi)，使所述電源接口 66及所述信號接口67朝向所述電腦機箱20內(nèi)。若干鎖固件分別穿過所述測試電路板60的通孔611鎖固于對應(yīng)的連接孔235內(nèi)，使所述測試電路板60固定于所述電腦機箱20上。將電源線51的連接器53插接于所述測試電路板60的電源接口66。將所述數(shù)據(jù)線70另一端的PC1-E接口連接器71插接于所述測試電路板60的信號接口 67。將所述兩側(cè)板安裝至所述電腦機箱20相對的兩側(cè)即可。此時，每一接口65外露于所述電腦機箱20且分別電性連接于所述主機板30及所述電源50。
[0013]本實施方式中，每一連接孔235為一螺孔，每一鎖固件為一螺絲釘。
[0014]測試時，將這些固態(tài)硬盤300分別插入這些接口65，每一固態(tài)硬盤300與顯示單元90之間通過測試電路板60、信號接口 67、數(shù)據(jù)線70、信號接口 31及主機板30來傳輸信號。所述主機板30內(nèi)載有測試程序。所述測試電路板60將這些固態(tài)硬盤300的SATA信號轉(zhuǎn)化為PC1-E信號再傳輸至所述主機板30，以提高信號傳輸速度。所述主機板30將這些固態(tài)硬盤300的測試結(jié)果進行處理后輸送至所述顯示單元90，所述顯示單元90顯示測試結(jié)果。
[0015]本實施方式中，所述顯示單元90是一顯示器。
[0016]在其他實施方式中，所述顯示單元90可以是與待測固態(tài)硬盤300的數(shù)量相對應(yīng)的發(fā)光二極管(Light Emitting D1de ,LED)或報警器。
[0017]在其他實施方式中，所述安裝口231可以開設(shè)于所述電腦機箱20的外表面，如后側(cè)板24、頂板26或其中一側(cè)板上。
[0018]在其他實施方式中，所述所述測試電路板60通過卡接的方式連接于所述電腦機箱20上。
[0019]本發(fā)明固態(tài)硬盤測試裝置100的測試電路板60裝設(shè)于所述電腦機箱20的前側(cè)板23的安裝口231內(nèi)，所述數(shù)據(jù)線70在所述電腦機箱20的內(nèi)部空間中連接于所述主機板30與所述測試電路板60，因此，所述數(shù)據(jù)線70的長度大大縮短，信號傳輸衰減比較少，且信號傳輸在電腦機箱的內(nèi)部空間進行，能防止外部電子干擾，從而提高測試結(jié)果的準確度，防止出現(xiàn)誤測和誤判的情況。
[0020]以上實施方式僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照以上實施方式對本發(fā)明進行了詳細說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對本發(fā)明的技術(shù)方案進行修改或等同替換都不應(yīng)脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍。
【主權(quán)項】
1.一種固態(tài)硬盤測試裝置，用于同時測試若干固態(tài)硬盤，所述固態(tài)硬盤測試裝置包括一電腦機箱、設(shè)于所述電腦機箱內(nèi)的一主機板、設(shè)于所述電腦機箱內(nèi)的一電源及一測試電路板，所述電腦機箱的外表面開設(shè)一安裝口，所述測試電路板裝設(shè)于所述安裝口內(nèi)，所述測試電路板的外表面設(shè)有若干接口，所述測試電路板的內(nèi)表面設(shè)有一電源接口及一信號接口，這些接口分別用于插接這些固態(tài)硬盤，每一接口電性連接于所述電源接口及所述信號接口，所述電源接口通過一電源線連接于所述電源，所述信號接口通過一數(shù)據(jù)線連接于所述主機板，使所述主機板與這些固態(tài)硬盤電性連接。2.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤測試裝置，其特征在于:所述安裝口開設(shè)于所述電腦機箱的前側(cè)板。3.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤測試裝置，其特征在于:所述安裝口是所述電腦機箱用于安裝光驅(qū)的開口。4.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤測試裝置，其特征在于:這些接口相間隔地排成一列。5.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤測試裝置，其特征在于:所述測試電路板上對應(yīng)每一接口設(shè)有一電子保護開關(guān)。6.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤測試裝置，其特征在于:所述測試電路板上設(shè)有一電源指示燈。7.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤測試裝置，其特征在于:所述電腦機箱于所述安裝口的四周設(shè)有若干安裝片，所述測試電路板固定于這些安裝片。8.如權(quán)利要求7所述的固態(tài)硬盤測試裝置，其特征在于:每一安裝片開設(shè)一連接孔，所述測試電路板的四周對應(yīng)這些安裝片的連接孔開設(shè)若干通孔，若干鎖固件分別穿過所述測試電路板的通孔鎖固于對應(yīng)的連接孔內(nèi)。9.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤測試裝置，其特征在于:所述固態(tài)硬盤測試裝置還包括顯示這些固態(tài)硬盤的測試結(jié)果的一顯示單元，所述主機板與所述顯示單元電性連接，所述主機板將這些固態(tài)硬盤的信號處理后傳輸至所述顯示單元。10.如權(quán)利要求9所述的固態(tài)硬盤測試裝置，其特征在于:這些接口是串行高級技術(shù)附件接口，所述數(shù)據(jù)線是周邊裝置互連高速數(shù)據(jù)線，所述測試電路板將這些固態(tài)硬盤的串行高級技術(shù)附件信號轉(zhuǎn)化為周邊裝置互連高速信號后再傳輸給所述主機板。
【文檔編號】G11C29/56GK106098105SQ201610689288
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年8月18日 公開號201610689288.7, CN 106098105 A, CN 106098105A, CN 201610689288, CN-A-106098105, CN106098105 A, CN106098105A, CN201610689288, CN201610689288.7
【發(fā)明人】陳暉
【申請人】深圳市嘉合勁威電子科技有限公司