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      形成多層互連結(jié)構(gòu)方法、電路板制造方法及制造器件方法

      文檔序號(hào):6832452閱讀:251來源:國(guó)知局
      專利名稱:形成多層互連結(jié)構(gòu)方法、電路板制造方法及制造器件方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法、一種制造電路板的方法以及一種制造器件的方法。
      背景技術(shù)
      最近,在諸如半導(dǎo)體器件等的電子器件中,布線被多層化以實(shí)現(xiàn)高度的集成。并且,在具有多層互連結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體中,在電連接經(jīng)由層間絕緣層排列的上和下布線圖案的情況下,觸孔在層間絕緣膜中形成,以便通過觸孔進(jìn)行連接。對(duì)于形成這種多層互連結(jié)構(gòu)的方法,已知的方法如下。
      首先,諸如金屬的導(dǎo)電材料在襯底上形成膜狀,并被蝕刻以形成下布線層。接著,層間絕緣層在下布線膜上形成,利用光刻法在層間絕緣層上形成預(yù)定的孔(觸孔)。然后,用作觸塞(contact plug)的導(dǎo)電材料被涂在層間絕緣層的整個(gè)表面上,以便充滿觸孔,并利用光刻法形成圖案以形成觸塞。接著,用于上層的導(dǎo)電布線材料形成為膜狀以便連接到觸塞,并且,通過光刻法對(duì)其形成圖像,形成上布線層(例如參見日本未審查專利申請(qǐng)首次公開出版物No.Hei4-291240)。
      在上述的日本專利公開文件中,當(dāng)形成觸塞和布線層時(shí),使用光刻法。即,進(jìn)行這樣的過程,其中,在形成觸孔后,沉積導(dǎo)電材料,在導(dǎo)電材料上涂光刻膠,曝光和顯影,并且,在利用用作掩模的光刻膠對(duì)導(dǎo)電材料進(jìn)行蝕刻之后,除去光刻膠。在這種情況下,由于處理過程是先在整個(gè)表面上沉積導(dǎo)電材料,然后蝕刻,留下預(yù)定的圖案,因而材料的利用效率極低。并且,處理的數(shù)量較多,這會(huì)導(dǎo)致制造成本提高。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明解決了上述問題,本發(fā)明的一個(gè)目的是,提供一種多層互連結(jié)構(gòu)的形成方法,其可提高材料利用效率,減少處理數(shù)量,從而使制造成本得以降低。
      并且,本發(fā)明的一個(gè)方面是提供一種形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法,其可以形成用于觸點(diǎn)的穩(wěn)定的導(dǎo)電材料,而不論形狀和尺寸(例如觸孔的內(nèi)徑),并能夠處理一定范圍的觸孔的形狀和尺寸。
      并且,本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法,其通過簡(jiǎn)化處理順序,使得連接失敗很難出現(xiàn),并提供高度可靠性。
      再者,本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種制造電路板的方法和制造器件的方法,其中使用上述的形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法。
      為了實(shí)現(xiàn)上述的目的,本發(fā)明提供了一種形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法。所述方法包括以下步驟在襯底上形成第一導(dǎo)電層;在所述第一導(dǎo)電層上形成帶有觸孔的絕緣層;利用液滴排放裝置用導(dǎo)電材料填充所述觸孔,以便形成導(dǎo)電接觸材料;以及形成第二導(dǎo)電層以便連接到所述導(dǎo)電接觸材料,從而,所述第一導(dǎo)電層和所述第二導(dǎo)電層經(jīng)由所述絕緣層疊加,并通過在所述絕緣層中形成的觸孔被連接。
      本發(fā)明提供了一種用于連接第一導(dǎo)電層和第二導(dǎo)電層的理想方法,所述的第一導(dǎo)電層和第二導(dǎo)電層經(jīng)由絕緣層形成。即,在本發(fā)明中,使用液滴排放裝置的液滴排放方法被用作將導(dǎo)電材料填充到觸孔中的方法,這使得能夠使用用于包含導(dǎo)電材料的液滴的固定位置布置或固定容量布置。因此,徹底解狀了上述的問題,例如與傳統(tǒng)的光刻法的情況相比,可提高材料利用效率,并且減少了工藝數(shù)量。因此,有可能實(shí)現(xiàn)TAT(周轉(zhuǎn)時(shí)間tumaround timer)的減小,從而使得制造成本得以降低。并且,無論觸孔的形狀和尺寸(例如內(nèi)徑),可利用液滴排放裝置穩(wěn)定地排放液滴,甚至是排放到具有較小直徑的觸孔中。即,能夠穩(wěn)定地提供導(dǎo)電材料至一定范圍的形狀和尺寸的觸孔。
      對(duì)于形成本發(fā)明的多層互連結(jié)構(gòu)的方法,形成絕緣層的步驟包括以下步驟在第一導(dǎo)電層上的預(yù)定的觸孔形成區(qū)上形成掩模;在第一導(dǎo)電層上除形成掩模以外的區(qū)域形成絕緣層;以及除去掩模并在絕緣層中形成用作觸孔的通孔。
      這樣,沒有必要使用干蝕刻絕緣層的方法來形成觸孔,因此不需要相關(guān)的昂貴真空設(shè)備。因此,能夠快速形成觸孔,并減少形成觸孔所需要的時(shí)間和能量,從而能夠減少形成多層互連結(jié)構(gòu)的成本。此外,由于不使用干蝕刻,不會(huì)出現(xiàn)諸如等離子損壞或者用作蝕刻掩模的光刻膠的固化等問題。并且,下導(dǎo)電層只暴露于掩模去除劑,該導(dǎo)電層不會(huì)被蝕刻。因此,有可能形成穩(wěn)定的觸孔。此外,利用上述的方法,內(nèi)徑可被制造得相對(duì)較小,因此,有可能提供較大的面積有效地用于布線。即使觸孔的內(nèi)徑以這種方式制造得較小的情況下,由于本發(fā)明使用液滴排放裝置填充導(dǎo)電層,因此可穩(wěn)定地提供導(dǎo)電材料。
      此外,在形成本發(fā)明的多層互連結(jié)構(gòu)的方法中,形成絕緣層的方法包括以下步驟將液態(tài)絕緣材料涂在第一導(dǎo)電層上除掩模以外的區(qū)域;以及固化被涂敷的液態(tài)絕緣材料。這樣,可不利用真空設(shè)備等形成絕緣層,簡(jiǎn)化了步驟并減小了成本。作為液態(tài)絕緣材料,可使用具有硅氧烷粘接劑(bond)的SOG(Spin On Glass)、聚硅氨烷、聚酰亞胺、低介電材料(所謂的低-K材料)等。此外,液態(tài)絕緣材料不需要總是非導(dǎo)電性的,只要最終獲得的膜是非導(dǎo)電性的。并且,這樣的液態(tài)絕緣材料可形成為絕緣膜,典型地在溶解在有機(jī)溶劑中并被涂敷后,通過熱處理制造。因此,絕緣材料固化步驟優(yōu)選包括加熱和涂敷液態(tài)絕緣材料。
      上述的本發(fā)明的形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法例如可用于電路板的制造過程中。以這種方法制造的電路板具有多層互連結(jié)構(gòu),層間電連接性極好,并可降低制造成本。此外,上述的形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法例如可用于器件的制造過程。這樣,制造出的器件成本低并具有極高的可靠性。


      圖1A-1C的示意剖面圖示出了本實(shí)施例的制造電路板的方法的過程;圖2A-2C的示意剖面圖示出了制造電路板的方法中跟在圖1A-1C的后的過程;圖3的示意剖面圖示出了通過本實(shí)施例的制造方法獲得的電路板的例子;圖4的示意剖面圖示出了通過本實(shí)施例的制造方法獲得的器件的例子;圖5A-5D的示意剖面圖示出了本實(shí)施例的器件制造方法的過程;圖6A-6C的示意剖面圖示出了制造器件的方法中圖5A-5D之后的過程;圖7A-7C的示意剖面圖示出了制造器件的方法中圖6A-6C之后的過程;圖8A-8C的示意剖面圖示出了制造器件的方法中圖7A-7C之后的過程;圖9示出了用于本實(shí)施例的液滴排放裝置的結(jié)構(gòu)的透視圖;圖10A-10B是主要部件的透視圖以及圖9的主要部件的剖面圖。
      具體實(shí)施例方式
      (制造電路板的方法)以下將參照附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例。圖1A至圖3的示意剖面圖示出了制造電路板的一種方法的一般過程,在所述方法中使用了本發(fā)明的形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法。這里,在每個(gè)圖中,每一層和第一部件的縮放比例被調(diào)整,從而使每一層和每一元件足夠大以便于理解。
      首先利用圖3描述將被制造的電路板100的結(jié)構(gòu)。如圖3所示的電路板100具有位于玻璃襯底(基材)10的表面上的第一導(dǎo)電膜(多晶硅膜)14,第二導(dǎo)電膜16經(jīng)由層間導(dǎo)電膜(導(dǎo)電層)26形成在第一導(dǎo)電膜14的上層。第一導(dǎo)電膜14和第二導(dǎo)電膜16通過觸塞15電連接,即,電路板100具有多層互連結(jié)構(gòu)。
      以下將參照?qǐng)D1A至圖3描述具有這種多層互連結(jié)構(gòu)的電路板100的制造方法。首先,準(zhǔn)備如圖1A所示的玻璃襯底10。然后,如圖1B所示,在玻璃襯底10上形成多晶硅膜14。該多晶硅膜14例如可用以下方式形成。首先,將液態(tài)硅烷涂在玻璃襯底10上并干燥。接著,干燥的硅烷膜被烘焙并熱分解以形成無定形硅膜。并且,諸如XeCl的受激準(zhǔn)分子激光器輻射到無定形硅膜上對(duì)其進(jìn)行退火,使無定形硅多晶化以制造多晶硅膜14。
      接著,如圖1C所示,在多晶硅膜14的預(yù)定區(qū)域形成掩模24。具體而言,在隨后將形成觸孔28(參照?qǐng)D3)的預(yù)定區(qū)域中形成掩模24。這里,作為有選擇地形成掩模24的方法,光致抗蝕劑材料首先涂敷在多晶硅膜14的整個(gè)表面上(例如通過旋涂法,浸漬涂布法或類似方法)。接著,有選擇地通過掩模曝光僅將上述的預(yù)定區(qū)域暴露,然后顯影以形成掩模24的預(yù)定圖案。旋涂法、浸涂等可用作涂敷抗蝕材料的方法。此外,在曝光和顯影步驟之后,將被形成的掩模用真空UV照射固化。
      接著,如圖2A所示,由液態(tài)絕緣材料形成的絕緣層26形成在所形成的掩模24的周圍,即,除了掩模24之外的多晶硅模14的整個(gè)表面上。該絕緣層26可通過在除掩模24之外的多晶硅膜14的整個(gè)表面上涂敷液態(tài)絕緣材料然后對(duì)其烘焙以使其熱分解而形成。這樣,就沒有必要使用昂貴的真空設(shè)備,從而可減少形成膜所需的輸入能量和時(shí)間。
      在本實(shí)施例中通過所謂的旋涂法涂敷上述的液態(tài)絕緣材料。然而,也可以用浸涂、液態(tài)源霧化化學(xué)沉積法(LSMCD)、裂縫涂敷法(slit coating)等方法來涂敷液態(tài)絕緣材料。此外,也可以使用諸如所謂的噴墨裝置的液滴排放裝置來涂敷液態(tài)絕緣材料。如果使用這樣的液滴排放裝置,能夠在期望區(qū)域定量地涂敷,從而可減少材料用量。并且,作為液態(tài)絕緣材料,可使用具有硅氧烷粘接劑(bond)的SOG(Spin On Glass)、聚硅氨烷、聚酰亞胺、低介電材料(所謂的低-K材料)等。此外,液態(tài)絕緣材料不需要總是非導(dǎo)電性的,只要最終獲得的膜是非導(dǎo)電性的。并且,這樣的液態(tài)絕緣材料可形成為絕緣膜26,典型地在溶解在有機(jī)溶劑中并被涂敷后,通過熱處理制造。因此,絕緣材料固化步驟優(yōu)選包括加熱和涂敷液態(tài)絕緣材料。
      接著進(jìn)行除去掩模24的步驟,如圖2B所示,在絕緣層26中形成掩模24的區(qū)域中形成通孔(觸孔)28。除去掩模24的步驟可通過以下步驟進(jìn)行在大氣壓或減小的氣壓下用氧等離子體灰化(ashing),或用臭氧灰化,或用通常的光致抗蝕劑剝離液體進(jìn)行灰化。當(dāng)使用這些方法除去掩模24時(shí),可選擇不影響下邊的多晶硅膜14(過度蝕刻等影響)的方法,從而使觸孔能夠穩(wěn)定地打開。
      接著,如圖2C所示,利用具有液滴排放頭34的液滴排放裝置將以有機(jī)化合物作為主要成份的液態(tài)接觸形成材料提供到通孔(觸孔)28中。之后,對(duì)通孔(觸孔)28中的液態(tài)接觸形成材料進(jìn)行烘焙和固化,以形成如圖3所示的觸塞15。接著,在形成觸塞15后,利用液滴排放裝置將例如將導(dǎo)電材料的細(xì)粉在有機(jī)溶劑中分散形成的液態(tài)布線材料以類似方法提供預(yù)定的圖案,然后對(duì)其進(jìn)行熱處理以形成第二導(dǎo)電膜16,如圖3所示。結(jié)果,多晶硅膜14和第二導(dǎo)電膜16通過設(shè)置在觸孔28中的觸塞15電連接。
      另外,在上述的本實(shí)施例的制造過程中,掩模24事先形成以在絕緣膜26中形成觸孔,在除去掩模24之后保留的通孔被用作觸孔。然而,也可以例用替代的光刻法在絕緣層26中形成通孔。此外,在上述實(shí)施例中,光致抗蝕劑被用作掩模24,并通過曝光和顯影使其形成圖案。然而,也可以使用利用液滴排放裝置的液滴排放方法,以便有選擇地供應(yīng)掩模形成材料(無論是無機(jī)或有機(jī)材料)到預(yù)定的觸孔形成區(qū)域中。在以這種方式將掩模形成材料有選擇地提供到預(yù)定觸孔形成區(qū)域的情況下,最好進(jìn)行表面處理步驟以使得接觸形成區(qū)域親液而周圍區(qū)域排斥液體,接著執(zhí)行有選擇的涂敷步驟。結(jié)果,可增加有機(jī)材料與觸孔形成區(qū)域的浸潤(rùn)性和粘接性,防止有機(jī)材料擴(kuò)展到周圍,從而掩??梢栽谟|孔形成區(qū)域中可靠地對(duì)齊。
      并且,在本實(shí)施例的制造過程中,也可利用無機(jī)材料形成掩模24。在這種情況下,無機(jī)材料被沉積在襯底上以形成沉積膜,被沉積的膜可有選擇地通過蝕刻法形成在觸孔形成區(qū)域中。這里,真空沉積、諸如噴濺法的物理沉積或者諸如CVD的化學(xué)沉積可用于將無機(jī)掩模材料沉積在襯底上。
      并且,在本實(shí)施例的制造過程中,有掩模24由有機(jī)材料形成的情況下,可通過在大氣壓或減小的氣壓下用氧等離子體灰化(ashing)、或用臭氧灰化或用通常的光致抗蝕劑剝離液體進(jìn)行灰化進(jìn)行除去掩模24的步驟。此外,在掩模24由無機(jī)材料形成的情況下,掩模24可以通過浸泡在能夠溶解此無機(jī)材料的蝕刻劑中而移除。當(dāng)使用這些方法除去掩模24時(shí),可選擇不影響下邊的多晶硅膜14(過度蝕刻等產(chǎn)生的影響)的方法,從而使觸孔能夠穩(wěn)定地打開。
      以下是在本實(shí)施例中使用的液滴排放裝置的總體結(jié)構(gòu)的描述。圖9的透視圖示出了液滴排放裝置的一個(gè)實(shí)施例的噴墨裝置30。該噴墨裝置30包括基座31、襯底移動(dòng)裝置32、頭部移動(dòng)裝置33、噴墨頭(頭部)34、墨水供給裝置35等等。
      基座31上設(shè)置有襯底移動(dòng)裝置32和設(shè)置在其上的頭部移動(dòng)裝置33。襯底移動(dòng)裝置32設(shè)置在基座31上,并具有沿著Y軸方向布置的導(dǎo)軌36。該襯底移動(dòng)裝置32構(gòu)造為滑塊37通過線性電機(jī)等沿著導(dǎo)軌36移動(dòng)?;瑝K37具有θ軸電機(jī)(在圖中未示出)。該電機(jī)例如是直接驅(qū)動(dòng)電機(jī),其轉(zhuǎn)子(在圖中未示出)被固定到工作臺(tái)39上。利用這樣的構(gòu)造,當(dāng)電力供給電機(jī)時(shí),轉(zhuǎn)子和工作臺(tái)39沿θ方向旋轉(zhuǎn)以便分度(旋轉(zhuǎn)分度)工作臺(tái)39的角度。
      工作臺(tái)39安置并保持襯底S(在圖2C的狀態(tài)),襯底S是涂敷液滴的對(duì)象。襯底S通過工作臺(tái)39上的定位銷(在圖中未示出)精確地設(shè)置和保持在工作臺(tái)39的預(yù)定位置。工作臺(tái)39具有測(cè)試區(qū)41,噴墨頭34使用該測(cè)試區(qū)用于廢墨水滴或測(cè)試墨水滴(在本實(shí)施例中的液態(tài)接觸形成材料等)。
      頭部移動(dòng)裝置33包括裝配在基座31后部的一對(duì)支撐件33a以及裝配在支撐件33a上的軌道33b。軌道33b沿X軸方向布置,即與Y軸方向成直角。軌道33b包括在支撐件33a之間延伸的保持板33c以及布置在該保持板33c上的保持滑塊42的一對(duì)導(dǎo)軌33d,所述滑塊42保持噴墨頭34以便其可沿導(dǎo)軌33d的長(zhǎng)度方向移動(dòng)?;瑝K42通過線性電機(jī)(未示出)等的操作沿著導(dǎo)軌33d運(yùn)行,從而沿X軸方向移動(dòng)噴墨頭34。
      電機(jī)43、44、45和46作為旋轉(zhuǎn)定位裝置連接到噴墨頭34。當(dāng)電機(jī)43操作時(shí),噴墨頭34沿Z軸上下移動(dòng),使得它能夠沿Z軸定位。并且,當(dāng)電機(jī)44操作時(shí),噴墨頭34沿圖9所示的β方向旋轉(zhuǎn),使得它被定位,當(dāng)電機(jī)45操作時(shí),噴墨頭34沿γ方向旋轉(zhuǎn),使得它被定位,當(dāng)電機(jī)46操作時(shí),噴墨頭34沿著α方向旋轉(zhuǎn),使得它被定位。
      以這種方式,噴墨頭34在滑塊42上沿Z軸方向線性移動(dòng)以便能夠被定位,并繞α、β和γ軸旋轉(zhuǎn)以便能夠被定位。因此,可精確地控制噴墨頭34的墨水排放裝置相對(duì)于工作臺(tái)39上的襯底S的位置和方位角。
      這里,如圖10A所示,噴墨頭34例如具有由不銹鋼制造的噴嘴板112以及經(jīng)由分隔壁(容器板)114連接的隔板113。多個(gè)空腔115和容器116用墨水填充(在本實(shí)施例中,液體接觸形成材料等)??涨?15和容器116通過供給端口117連接。并且,用于從空腔115噴射墨水的多個(gè)噴嘴孔118沿著噴嘴板112形成一排。另一方面,在隔板113上形成孔119以向容器116供應(yīng)墨水。
      并且,如圖10B所示,壓電元件(壓力元件)120裝配在與面對(duì)隔板113的空腔115的表面相對(duì)的表面上。結(jié)構(gòu)為壓電元件120夾在成對(duì)電極121之間,并且在通電時(shí)向外撓曲。其上裝配有上述構(gòu)造的壓電元件120的隔板113與壓電元件120一起向外撓曲,從而增加空腔115的容積。因此,對(duì)應(yīng)空腔115的容積增加的墨水量經(jīng)由供給端口117從容器116流到空腔115中。并且,當(dāng)停止流到壓電元件120的電力時(shí),壓電元件120和隔板113返回到它們的原始形狀。因此,空腔115也返回到其原有容積。因此,空腔115內(nèi)的墨水的壓力增加,液滴112從噴嘴118朝向襯底排放。
      如上所述,在本實(shí)施例中,作為將液態(tài)布線材料(導(dǎo)電材料)填充到觸孔28中的方法,應(yīng)用了使用液滴排放裝置(噴墨裝置)30的液滴排放方法。因此,與利用光刻法將液態(tài)布線材料有選擇地布置在觸孔中的傳統(tǒng)情況相比,可增加材料使用效率,并減少步驟的數(shù)量,從而使制造成本降低。
      在本實(shí)施例中,電阻率低于多晶硅膜14和/或第二導(dǎo)電膜16的材料被用作填充觸孔28的布線材料(導(dǎo)電材料)。這樣做,能夠確保觸塞15的更高的導(dǎo)電性。
      并且,在本實(shí)施例中,在烘焙填充觸孔28的布線材料(導(dǎo)電材料)之后,涂敷用于第二導(dǎo)電膜16的導(dǎo)電材料,并對(duì)其進(jìn)一步烘焙。然而,也可以使用這樣的方法,即涂敷填充觸孔28的布線材料(導(dǎo)電材料)和用于第二導(dǎo)電膜16的導(dǎo)電材料,然后一起進(jìn)行烘焙。
      (制造器件的方法)以下參照附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的第二實(shí)施例。圖4的示意剖面圖示出了作為用本實(shí)施例的制造方法制造的器件的例子的TFT(薄膜晶體管)200的結(jié)構(gòu)。圖5A-8C示出了制造TFT200的方法的總的過程。這里,在每幅圖中,每一層和第一元件的縮放比例被調(diào)節(jié)以便使每層和第一元件足夠大以便于理解。
      首先描述將被制造的TFT200的結(jié)構(gòu)。如圖4所示的TFT200具有位于玻璃襯底(基材)10上的多晶硅膜14,多晶硅膜14具有源極區(qū)14a、溝道區(qū)14b和漏極區(qū)14c。源極161經(jīng)由觸孔28a和28b連接到源極區(qū)14a,像素電極162經(jīng)由觸孔29a、29b和29c連接到漏極區(qū)14c。即,TFT200作為諸如液晶裝置等電光裝置的像素開關(guān)元件是理想的。并且,柵極19經(jīng)由柵絕緣膜261形成在多晶硅膜14的溝道區(qū)14b的上層。
      這里,作為第一導(dǎo)電層的多晶硅膜14以及作為第二導(dǎo)電層的源極161經(jīng)由柵絕緣膜261和層間絕緣膜262疊加。并且,作為第一導(dǎo)電層的多晶硅膜14和作為第三導(dǎo)電層的像素電極162經(jīng)由柵絕緣膜261和兩個(gè)層間絕緣膜262和263疊加。如上所述,本實(shí)施例的TFT200具有多層互連結(jié)構(gòu),并且可使用上述的電路板制造方法按如下所述制造。
      以下參照?qǐng)D5A-8C描述如圖4所示的TFT200的制造方法。
      如圖5A所示,多晶硅膜14形成在玻璃襯底10的表面上。該多晶硅膜14可用以下方式形成。首先,諸如氟塑料之類的液體排斥膜(在圖中未示出)形成在玻璃襯底10上。接著,紫外線照射到該液體排斥膜的元件形成區(qū)域,元件形成區(qū)域的液體排斥膜被分解并被除去以便形成圖案,從而制造液體排斥岸(bank)。接著,液態(tài)硅烷被涂敷在元件形成區(qū)域并被干燥。接著,被干燥的液態(tài)硅烷膜被烘焙并熱分解以便制造無定形硅膜。并且,紫外線被輻射到整個(gè)玻璃襯底10上以便分解和除去液體排斥岸。然后,諸如XeCl激光器的準(zhǔn)分子激光器被照射到無定形硅膜上以便對(duì)其退火,并對(duì)無定形硅進(jìn)行多晶化以制造多晶硅膜14。
      之后,執(zhí)行多晶硅膜14的溝道浸漬。即,適當(dāng)?shù)碾s質(zhì)(例如在形成n-型導(dǎo)電層的情況下的PH3離子)被排放并擴(kuò)散到整個(gè)表面上。該多晶硅膜14成為第一導(dǎo)電層。
      接著,液態(tài)有機(jī)材料的光掩模被涂在玻璃襯底10的整個(gè)表面上,以便覆蓋多晶硅膜14。接著,被涂敷的光掩模在70至90℃的溫度下干燥(預(yù)烘焙)。液態(tài)有機(jī)材料可以是光致抗蝕劑(如聚酰亞胺)。并且,液態(tài)有機(jī)材料可通過旋涂法、浸涂、液態(tài)源霧化化學(xué)沉積法(LSMCD)、裂縫涂敷法(slit coating)或液滴排放裝置施加。接著,光掩模通過光刻法被曝光并顯影以在源極區(qū)14a和觸孔形成區(qū)的漏板區(qū)14c形成如圖5A所示的掩模24a和24c。這些掩模24a和24c形成為與隨后形成的柵絕緣膜261(見圖4)的厚度相等或更大的高度。
      之后,如圖5B所示,柵絕緣膜261在玻璃襯底10(包括多晶硅膜14)上除掩模24a和24c以外的整個(gè)表面上形成。該柵絕緣膜261可利用與前述制造電路板的方法的實(shí)施例中示出的用于形成絕緣層26的方法相同的方法來形成,即通過涂敷和固化液態(tài)絕緣材料來形成。
      接著,通過灰化除去掩模24a和24c,并且,如圖5C所示,在柵絕緣膜261的形成掩模24a和24c的區(qū)域中形成通孔28a和29a。進(jìn)一步,如圖5D所示,利用噴墨裝置30(參見圖9)將以有機(jī)金屬?gòu)?fù)合物作為主要成份的液態(tài)接觸形成材料提供到通孔28a和29a中。之后,對(duì)通孔28a和29a中的液態(tài)接觸形成材料進(jìn)行烘焙和固化,以形成觸塞15a和16a。
      接著,如圖6A所示,柵電極19在柵絕緣膜261上對(duì)應(yīng)溝道區(qū)14b的位置形成。具體而言,以有機(jī)金屬?gòu)?fù)合物作為主要成份的液態(tài)接觸形成材料被涂敷到整個(gè)表面上,通過光刻法或類似方法來形成圖案,以便有選擇地在對(duì)應(yīng)溝道區(qū)14b的位置形成。這里,利用所形成的柵電極19作為掩膜,將適當(dāng)?shù)碾s質(zhì)(例如在形成P-型導(dǎo)電層的情況下的B2H6)排放到源極區(qū)14a和漏板區(qū)14c。
      進(jìn)一步,類似地,如圖6A所示,在兩個(gè)觸塞15a和16a上形成附加的抗蝕劑,然后形成厚度大于(高度大于)層間絕緣膜262的形成掩模241和242。對(duì)于形成這些掩模241和242的方法,例如可使用如上所述的噴墨裝置30。
      接著,如圖6B所示,層間絕緣膜262在玻璃襯底10(包括柵絕緣膜261)上除掩模241和242以外的整個(gè)表面上形成??衫门c如上所述的形成柵絕緣膜261的方法相同的方法來形成層間絕緣膜262。即,通過涂敷和固化液態(tài)絕緣材料。進(jìn)一步,通過灰化除去掩模241和242,并且,如圖6所示,在層間絕緣膜262的形成掩模241和242的區(qū)域中形成通孔28b和29b。并且,利用噴墨裝置30(參見圖9)有選擇地提供以有機(jī)金屬?gòu)?fù)合物作為主要成份的液態(tài)接觸形成材料以形成通孔28b和29b,接著通過烘焙和固化液態(tài)接觸形成材料來形成觸塞15b和16b,如圖7A所示。
      接著,如圖7B所示,源極161被形成預(yù)定的布線圖案,以便與觸塞15a進(jìn)行接觸。當(dāng)形成源極161的布線圖案時(shí),也可以使用噴墨裝置30(參見圖9)。在形成源極161之后,如圖7C所示,在觸塞16b上形成掩模243。此處掩??捎霉饪谭?、利用噴墨裝置30(參見圖9)的液滴排放方法或類似方法來形成。
      接著,如圖8A所示,在層間絕緣膜262(包括源極161)上除掩模243以外的整個(gè)表面上形成層間絕緣膜263。該層間絕緣膜263利用與層間絕緣膜262相同的方法來形成,即,通過烘焙和固化液態(tài)絕緣材料來形成。進(jìn)一步,通過灰化除去掩模243,并且,如圖8B所示,在層間絕緣膜263上形成掩模243的區(qū)域中形成通孔29c。并且,利用噴墨裝置30(參見圖9)有選擇地提供以有機(jī)金屬?gòu)?fù)合物作為主要成份的液態(tài)接觸形成材料以形成通孔29c,接著通過烘焙和固化液態(tài)接觸形成材料來形成觸塞16c,如圖8C所示進(jìn)一步,類似地,如圖8C所示,由ITO等制造的像素電極162形成為預(yù)定的布線圖以便與觸塞16c接觸。當(dāng)形成該像素電極162的圖案時(shí),也可以利用如上所述的噴墨裝置30(參見圖9)。
      利用上述的方法,這里,作為第一導(dǎo)電層的源極區(qū)14a以及作為第二導(dǎo)電層的源極161,以及作為第一導(dǎo)電層的漏極區(qū)14c和作為第二導(dǎo)電層的像素電極162可以分別經(jīng)由設(shè)置在觸孔中的觸塞15a和15b以及觸塞16a、16b、16c電連接。以這種方式,在本實(shí)施例中,通過在觸孔形成區(qū)中提供掩模,接著在掩模周圍形成絕緣層,并除去掩模而形成觸孔。因此,不必要蝕刻絕緣層以便形成通孔(觸孔)。從而不需要昂貴的真空設(shè)備,減少了步驟的數(shù)量,簡(jiǎn)化了步驟。并且,在本實(shí)施例中,使用如圖9所示的液滴排放裝置30的液滴排放方法被用作將液態(tài)接觸形成材料填充到觸孔中的方法。因此,與使用光刻法將液態(tài)接觸形成材料有選擇地定位在觸孔中的傳統(tǒng)情況相比,可提高材料利用效率,減少步驟數(shù)量,從而使制造成本降低。
      以上描述了本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例。然而,本發(fā)明并不局限于上述的實(shí)施例,在不偏離權(quán)利要求的范圍內(nèi),可進(jìn)行各種修改。例如,在制造器器件的方法中,選擇蝕刻方法也可用作膜形成方法、選擇涂敷方法以及在絕緣層中形成通孔的方法,這些方法在上述的制造電路板的方法中進(jìn)行了示出。
      盡管以下描述和示出了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,應(yīng)當(dāng)理解這些只是本發(fā)明的例子而不能認(rèn)為是限制性的。在不偏離本發(fā)明的實(shí)質(zhì)和范圍的情況下,可以進(jìn)行增加、省略、替代和其它變化。因此,本發(fā)明不受前述說明的限制,而僅僅由所附的權(quán)利要求的范圍來限制。
      權(quán)利要求
      1.一種形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法,包括在襯底上形成第一導(dǎo)電層;在第一導(dǎo)電層上形成具有觸孔的絕緣層;利用液滴排放裝置用導(dǎo)電材料填充所述觸孔,以便形成導(dǎo)電接觸件;以及形成經(jīng)由導(dǎo)電接觸件電連接到所述第一導(dǎo)電層的第二導(dǎo)電層。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法,其特征在于,形成絕緣層包括在第一導(dǎo)電層上的預(yù)定觸孔形成區(qū)中形成掩模;在除掩模之外的第一導(dǎo)電層上形成絕緣層;以及移除掩模以在絕緣層中形成用作觸孔的通孔。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法,其特征在于,形成絕緣層包括將液態(tài)絕緣材料施加在除掩模以外的第一導(dǎo)電層上;以及固化液態(tài)絕緣材料。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法,其特征在于,形成絕緣層包括形成多個(gè)絕緣層,形成多個(gè)通過各絕緣層的觸孔,其中填充觸孔包括用導(dǎo)電材料填充通過各絕緣層的觸孔。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法,其特征在于,所述導(dǎo)電材料具有比第一導(dǎo)電層和/或第二導(dǎo)電層低的電阻率。
      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法,其特征在于,還包括在填充觸孔之后,并且通過對(duì)第二導(dǎo)電層施加導(dǎo)電材料來形成第二導(dǎo)電層之后,烘焙所述導(dǎo)電材料。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法,其特征在于,還包括在將導(dǎo)電材料填充到觸孔中之后烘焙所述導(dǎo)電材料;以及在對(duì)第二導(dǎo)電層施加導(dǎo)電材料之后烘焙用于第二導(dǎo)電層的導(dǎo)電材料。
      8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法,其特征在于,形成第二導(dǎo)電層包括使用液滴排放裝置形成布線圖案。
      9.一種制造電路板的方法,包括在襯底上形成第一導(dǎo)電層;在所述第一導(dǎo)電層上形成帶有觸孔的絕緣層;利用液滴排放裝置用導(dǎo)電材料填充所述觸孔,以便形成導(dǎo)電接觸件;以及形成經(jīng)由導(dǎo)電接觸件電連接到所述第一導(dǎo)電層的第二導(dǎo)電層。
      10.一種制造器件的方法,包括在襯底上形成第一導(dǎo)電層;在所述第一導(dǎo)電層上形成帶有觸孔的絕緣層;利用液滴排放裝置用導(dǎo)電材料填充所述觸孔,以便形成導(dǎo)電接觸件;以及形成經(jīng)由導(dǎo)電接觸件電連接到所述第一導(dǎo)電層的第二導(dǎo)電層。
      全文摘要
      一種形成多層互連結(jié)構(gòu)的方法,其中第一導(dǎo)電層和第二導(dǎo)電層經(jīng)由絕緣層疊加,第一導(dǎo)電層和第二導(dǎo)電層通過形成在絕緣層中的通孔互相連接。所述方法包括以下步驟在襯底上形成第一導(dǎo)電層;在所述第一導(dǎo)電層上形成帶有觸孔的絕緣層;利用液滴排放裝置用導(dǎo)電材料填充所述觸孔,以便形成接觸導(dǎo)電材料;以及形成第二導(dǎo)電層以便連接到所述接觸導(dǎo)電材料。
      文檔編號(hào)H01L21/288GK1577735SQ200410062828
      公開日2005年2月9日 申請(qǐng)日期2004年6月25日 優(yōu)先權(quán)日2003年7月7日
      發(fā)明者田中英樹, 湯田坂一夫, 佐藤充 申請(qǐng)人:精工愛普生株式會(huì)社
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