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      一種改進的半導(dǎo)體芯片封裝的引線框架結(jié)構(gòu)的制作方法

      文檔序號:7216888閱讀:240來源:國知局
      專利名稱:一種改進的半導(dǎo)體芯片封裝的引線框架結(jié)構(gòu)的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實用新型涉及一種半導(dǎo)體封裝的引線框架結(jié)構(gòu),尤其涉及一種改進的半導(dǎo)體芯片封裝的引線框架結(jié)構(gòu),屬于半導(dǎo)體分立器件技術(shù)領(lǐng)域。
      背景技術(shù)
      在現(xiàn)有的半導(dǎo)體封裝的數(shù)十種常用封裝技術(shù)中,比較常用的是采用金屬(銅、鎳)引線框架的方案,如DIP、SOP、TSOP、QFP、PLC、DPAK和TO系列等,圖1(a)是現(xiàn)有技術(shù)的半導(dǎo)體芯片引線框架裝配結(jié)構(gòu)示意圖,此類方案,以金屬引線框架為芯片載體,具體地,芯片放置在載片臺1上,芯片2通過金線3與引線框架配線區(qū)域4相連并向外引出,用塑封材料將其密封。
      在現(xiàn)有技術(shù)普遍的設(shè)計中,特別是TO系列如TO22O/TO251/TO252產(chǎn)品的引線框架設(shè)計中,引線框架配線區(qū)域4與載片臺1區(qū)域有一較大落差,如圖1(b)所示。對于上述封裝形式,由于半導(dǎo)體芯片厚度普遍較小,造成配線落差較大。這導(dǎo)致兩個問題一是配線落差大,導(dǎo)致配線弧度較大,在隨后的塑封工序中容易被塑封沖彎,容易導(dǎo)致短路;二是落差過大,致使所用的金線較長,使得材料浪費,在大批量生產(chǎn)的情況下會造成封裝成本的提高。
      實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,提出一種改進的引線框架配線區(qū)域的結(jié)構(gòu),通過將引線配線區(qū)域向載片臺方向彎折下沉,降低配線的落差,這種改進的結(jié)構(gòu)在維持了產(chǎn)品成品原有的外形尺寸的基礎(chǔ)上,不僅實現(xiàn)簡單方便,而且能夠達到滿意的效果,有效減小了金線的落差,增強了金線的抗沖擊性,并有效降低了成本。
      為實現(xiàn)上述目的,本實用新型提供了一種半導(dǎo)體芯片封裝結(jié)構(gòu),至少包括作為芯片載體的引線框架、金線,其中所述的引線框架包括載片臺和引線框架配線單元,所述引線配線單元向或/和所述載片臺通過彎折來減小兩者之間的落差。
      較佳地,所述引線配線單元具有彎沉部,所述彎沉部貼近所述載片臺設(shè)置,所述彎沉部與所述引線配線單元以傾斜面連接。
      較佳地,所述引線配線單元具有彎沉部,所述彎沉部貼近所述載片臺設(shè)置,所述彎沉部與所述引線配線單元以垂直面連接。
      本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比,其優(yōu)點在于通過將引線配線單元打彎下沉,有效地減小了兩者的落差,進而減小了連接兩者的金線的落差,增強了金線的抗沖擊性,同時也節(jié)約了金線用量、減少了產(chǎn)品成本。


      圖1(a)是現(xiàn)有技術(shù)的半導(dǎo)體芯片引線框架示意圖;圖1(b)是圖1(a)所示現(xiàn)有引線框架側(cè)視圖;圖2(a1)是本實用新型的一個實施例的示意圖,其中引線框架配線單元以打彎方式向載片臺彎沉;圖2(a2)是圖2(a1)的側(cè)視圖;圖2(b1)是本實用新型的另一個實施例的示意圖,其中引線框架配線單元以剪切方式向載片臺彎沉;圖2(b2)是圖2(b1)的側(cè)視圖。
      具體實施方式
      以下將結(jié)合附圖對本實用新型的構(gòu)思、具體結(jié)構(gòu)及產(chǎn)生的技術(shù)效果作進一步說明,以充分地了解本實用新型。
      圖2(a1)、圖2(a2)是本實用新型一種改進的半導(dǎo)體芯片封裝的引線框架結(jié)構(gòu)的一個實施例,其中,改進的半導(dǎo)體芯片引線框架配線單元彎沉的示意圖;如圖2(a2)所示,將引線框架的配線單元4向載片臺1(Pad)方向打彎下沉形成一彎沉部,使金線3的落差大幅度降低,從而使得金線3配線的弧度降低。這樣不僅有效地節(jié)約了金線;同時由于其線長縮短,使得金線的抗沖擊能力也得到了加強,使其在塑封灌膠時不易彎曲,避免了短路的現(xiàn)象。特別的,還可以通過減小金線線徑來降低封裝成本。
      圖2(b1)、圖2(b2)所示是本實用新型改進的引線框架配線單元彎沉的又一實施例,其引線框架配線單元4以剪切方式向載片臺1方向彎沉形成一彎沉部。其同樣達到前述優(yōu)點。所述剪切方式是,配線單元需要彎沉的兩個部位是分別沿垂直方向反方向錯位拉伸,以形成剪切式的錯位彎沉;較佳地是錯位拉伸半個配線單元的材料厚度。
      另外需要說明的是,本實用新型所述的引線框架結(jié)構(gòu)同樣適用于DIP、TSOP、QFP、PLC等以金屬引線框架為芯片載體,芯片通過金線與引線框架配線區(qū)域相連并向外引出,用塑封材料將其密封的封裝形式。
      最后所應(yīng)說明的是,以上實施例僅用以說明本實用新型的技術(shù)方案而非限制,盡管參照較佳實施例對本實用新型進行了詳細說明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,可以對本實用新型的技術(shù)方案進行修改或等同替換,而不脫離本實用新型技術(shù)方案的精神和范圍,其均應(yīng)涵蓋在本實用新型的權(quán)利要求范圍之中。
      權(quán)利要求1.一種改進的半導(dǎo)體芯片封裝的引線框架結(jié)構(gòu),至少包括作為芯片載體的引線框架,其中所述的引線框架包括載片臺和引線框架配線單元,其特征在于,所述引線配線單元向所述載片臺彎沉,從而減小兩者之間的落差。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體芯片封裝的引線框架結(jié)構(gòu),其特征在于,所述引線配線單元具有彎沉部,所述彎沉部貼近所述載片臺設(shè)置,所述彎沉部與所述引線配線單元以傾斜面連接。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體芯片封裝的引線框架結(jié)構(gòu),其特征在于,所述引線配線單元具有彎沉部,所述彎沉部貼近所述載片臺設(shè)置,所述彎沉部與所述引線配線單元以垂直面連接。
      專利摘要本實用新型公開了一種改進的半導(dǎo)體芯片封裝的引線框架結(jié)構(gòu),至少包括作為芯片載體的引線框架、金線,其中所述的引線框架包括載片臺和引線框架配線單元,所述引線框架配線單元具有彎沉部,所述彎沉部貼近所述載片臺設(shè)置,所述彎沉部與所述引線配線單元以傾斜面或垂直面連接,來減小載片臺的貼片區(qū)域和引線配線單元之間的落差。這種改進的結(jié)構(gòu)不僅實現(xiàn)簡單方便,而且能夠達到滿意的效果,有效減小了金線的落差,增強了金線的抗沖擊性,并有效降低了封裝成本。
      文檔編號H01L23/12GK2919531SQ200620042538
      公開日2007年7月4日 申請日期2006年6月8日 優(yōu)先權(quán)日2006年6月8日
      發(fā)明者施震宇, 曾小光 申請人:葵和精密電子(上海)有限公司
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