專(zhuān)利名稱(chēng):測(cè)溫裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及測(cè)定配置在容器內(nèi)的被測(cè)溫體的溫度的測(cè)溫裝置。
背景技術(shù):
在半導(dǎo)體的制造過(guò)程中,在將半導(dǎo)體基板載置在處理容器內(nèi)的載 置臺(tái)上的狀態(tài)下,向處理容器內(nèi)供給處理氣體,并利用內(nèi)置在載置臺(tái) 中的加熱器等加熱機(jī)構(gòu)對(duì)半導(dǎo)體基板進(jìn)行加熱,在半導(dǎo)體基板上實(shí)施 規(guī)定的處理。在這種處理中,由于加熱溫度對(duì)半導(dǎo)體基板的品質(zhì)有很 大影響,因此需要正確地測(cè)定載置臺(tái)(或加熱機(jī)構(gòu))的溫度。因此, 在測(cè)定載置臺(tái)的溫度時(shí),大多使用熱響應(yīng)性?xún)?yōu)異的熱電偶。其中,大 多使用具有由有耐熱性的金屬等構(gòu)成的護(hù)套和配置在該護(hù)套內(nèi)的熱電
偶導(dǎo)線束的護(hù)套熱電偶(參照專(zhuān)利文獻(xiàn)l、 2)。
專(zhuān)利文獻(xiàn)1:日本專(zhuān)利特開(kāi)平4-63281號(hào)公報(bào)
專(zhuān)利文獻(xiàn)2:日本專(zhuān)利特開(kāi)平6-176855號(hào)公報(bào)
通常,護(hù)套熱電偶以其前端部與載置臺(tái)接觸的方式氣密地安裝在 處理容器的壁部,但由于其為長(zhǎng)條形狀,在長(zhǎng)度方向容易產(chǎn)生安裝誤 差。另外,如果向處理容器內(nèi)供給處理氣體,由于處理容器內(nèi)的壓力 變化等,載置臺(tái)會(huì)稍稍移動(dòng),所以護(hù)套熱電偶的前端部容易變成不與 載置臺(tái)接觸的狀態(tài)。如果前端部變?yōu)椴慌c載置臺(tái)接觸的狀態(tài),則不能 正確地測(cè)定載置臺(tái)的溫度。因此,為了補(bǔ)償安裝誤差,并且跟隨載置 臺(tái)的運(yùn)動(dòng),考慮使用波紋管將護(hù)套熱電偶安裝在處理容器的壁部,使 得相對(duì)于載置臺(tái)進(jìn)退的方向、即長(zhǎng)度方向具有自由度。
然而,在使用波紋管將護(hù)套熱電偶安裝在處理容器的壁部的情況 下,當(dāng)使處理容器內(nèi)減壓時(shí),波紋管內(nèi)也會(huì)減壓,護(hù)套熱電偶被壓在 載置臺(tái)一側(cè),有時(shí)會(huì)導(dǎo)致護(hù)套熱電偶損傷
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于上述問(wèn)題完成的,其目的在于提供一種測(cè)溫裝置, 其為使用護(hù)套熱電偶的測(cè)溫裝置,該測(cè)溫裝置能夠防止由于容器內(nèi)的 減壓引起的護(hù)套熱電偶或被測(cè)溫體的損傷,并能夠正確地測(cè)定被測(cè)溫 體的溫度。
另外,本發(fā)明的另一個(gè)目的在于提供一種測(cè)溫裝置,其為使用護(hù) 套熱電偶的測(cè)溫裝置,該測(cè)溫裝置除了能夠防止由于容器內(nèi)的減壓引 起的護(hù)套熱電偶或被測(cè)溫體的損傷,并能夠正確地測(cè)定被測(cè)溫體的溫 度外,還能夠防止由于容器內(nèi)的腐蝕氣體引起的腐蝕。
本發(fā)明的測(cè)溫裝置,其測(cè)定配置在處理容器內(nèi)的被測(cè)溫體的溫度, 其特征在于,包括護(hù)套熱電偶,其包括護(hù)套和配置在護(hù)套內(nèi)的熱電 偶導(dǎo)線束,并且具有前端部和緩沖部,上述前端部在處理容器內(nèi)延伸, 與被測(cè)溫體接觸,并跟隨該被測(cè)溫體在進(jìn)退方向移動(dòng),上述緩沖部在 處理容器外延伸,允許前端部的移動(dòng);密閉部件,其固定在處理容器 外表面,容納護(hù)套熱電偶的緩沖部;和彈簧部件,其配置在密閉部件
內(nèi),使護(hù)套熱電偶的前端部向被測(cè)溫體一側(cè)施力,其中,護(hù)套熱電偶 的緩沖部終端部,從密閉部件通過(guò)焊接部或釬焊部進(jìn)一步向外延伸伸 出。
本發(fā)明的測(cè)溫裝置的特征在于,處理容器內(nèi)為腐蝕氣體氣氛,護(hù) 套、密閉部件和彈簧部件均由對(duì)腐蝕氣體具有耐蝕性的材料制成。
本發(fā)明的測(cè)溫裝置的特征在于,上述彈簧部件由螺旋彈簧構(gòu)成, 在上述密閉部件內(nèi)收容有活塞,該活塞隨著上述螺旋彈簧的伸縮,在 相對(duì)于上述被測(cè)溫體進(jìn)退的方向移動(dòng),且由對(duì)上述腐蝕氣體具有耐蝕 性的材料制成,上述護(hù)套熱電偶固定在上述活塞上。
本發(fā)明的測(cè)溫裝置的特征在于,上述腐蝕氣體為含有鹵素的氣體,
對(duì)上述腐蝕氣體具有耐蝕性的材料為鎳(Ni)或鎳合金。
本發(fā)明的測(cè)溫裝置的特征在于,上述彈簧部件由因科鎳合金
(inconel,注冊(cè)商標(biāo))構(gòu)成。
本發(fā)明的測(cè)溫裝置的特征在于,上述緩沖部在相對(duì)于上述被測(cè)溫 體進(jìn)退的方向上能夠伸縮地彎曲。
本發(fā)明的測(cè)溫裝置的特征在于,上述緩沖部呈螺旋狀彎曲。 本發(fā)明的測(cè)溫裝置的特征在于,上述緩沖部呈波形彎曲。采用本發(fā)明,由設(shè)置在容器內(nèi)且能夠跟隨被測(cè)溫體在進(jìn)退方向移 動(dòng)的前端部、和以向容器外延伸伸出的方式設(shè)置且允許前端部移動(dòng)的 緩沖部構(gòu)成護(hù)套熱電偶,并且設(shè)有在使護(hù)套熱電偶的前端部壓在被測(cè) 溫體上的方向上施力的彈簧部件,所以可以不使用受到容器內(nèi)外的壓 力差的很大影響的波紋管,而使護(hù)套熱電偶的前端部可靠地與被測(cè)溫 體接觸。因此,能夠防止由于容器內(nèi)的減壓引起的護(hù)套熱電偶或被測(cè) 溫體的損傷,并能夠正確地測(cè)定被測(cè)溫體的溫度。
另外,采用本發(fā)明,由設(shè)置在容器內(nèi)且能夠跟隨被測(cè)溫體在進(jìn)退 方向移動(dòng)的前端部、和以向容器外延伸伸出的方式設(shè)置且允許前端部 移動(dòng)的緩沖部構(gòu)成護(hù)套熱電偶,并且設(shè)有在使護(hù)套熱電偶的前端部壓 在被測(cè)溫體上的方向上施力的彈簧部件,所以可以不使用受到容器內(nèi) 外的壓力差的很大影響的波紋管,不剝離成為降低耐蝕性的主要原因 的護(hù)套的一部分,而使護(hù)套熱電偶的前端部可靠地與被測(cè)溫體接觸。 并且,由于暴露在容器內(nèi)的腐蝕氣體氣氛中的護(hù)套、密閉部件和彈簧 部件均由對(duì)腐蝕氣體具有耐蝕性的材料制成,通過(guò)焊接或釬焊形成密 閉部件與護(hù)套的接合部,能夠防止由于腐蝕氣體引起的腐蝕。因此, 能夠防止由于容器內(nèi)的減壓引起的護(hù)套熱電偶或被測(cè)溫體的損傷以及 由容器內(nèi)的腐蝕氣體引起的腐蝕,并能夠正確地測(cè)定被測(cè)溫體的溫度。
圖1為示意性地表示具有本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的測(cè)溫裝置的晶片 處理裝置的截面圖。
圖2 (a)為測(cè)溫裝置的截面圖,圖2 (b)為表示護(hù)套熱電偶的截 面圖。
圖3為表示設(shè)在測(cè)溫裝置中的緩沖部的變形例的圖。
圖4為表示測(cè)溫裝置在處理容器中的另一安裝方式的圖。
圖5為表示設(shè)在測(cè)溫裝置中的密閉部件的變形例的圖。
圖6為表示作為比較例的護(hù)套熱電偶在處理容器中的安裝方式的圖。
具體實(shí)施方式
下面,參照附圖,具體地說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式。 圖1為示意性地表示具有本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的測(cè)溫裝置的晶片 處理裝置的截面圖。
晶片處理裝置100包括能夠收容作為半導(dǎo)體基板的晶片W的作
為處理容器的腔室l;基座4,其配置在該腔室l內(nèi),載置晶片W并 作為調(diào)整晶片W溫度的調(diào)溫部;測(cè)定該基座4 (被測(cè)溫體)溫度的測(cè) 溫裝置5;處理氣體供給機(jī)構(gòu)2,其向腔室1內(nèi)供給用于對(duì)晶片W進(jìn) 行規(guī)定處理的含有腐蝕氣體的處理氣體;和能夠使腔室1內(nèi)減壓的減 壓機(jī)構(gòu)3。
腔室1形成為上部開(kāi)口的大致筒狀,在腔室1的側(cè)壁上形成有用 于搬入搬出晶片W的搬入搬出口 13。設(shè)有開(kāi)閉該搬入搬出口 13的閘 闊14?;?通過(guò)在高度方向延伸的支柱部件11設(shè)在腔室1的底壁 19上,其內(nèi)部埋設(shè)有加熱器40,該加熱器40與加熱器電源41連接。 根據(jù)測(cè)溫裝置5的測(cè)定溫度,由控制器90控制加熱器電源41,即加 熱器40,由此,能夠調(diào)整載置在基座4上的晶片W的溫度。
在腔室1的上部,以閉塞開(kāi)口且與基座4相對(duì)的方式設(shè)有噴淋頭 15。噴淋頭15的內(nèi)部具有使來(lái)自處理氣體供給機(jī)構(gòu)2的處理氣體擴(kuò)散 的擴(kuò)散空間16,并且在與基座4相對(duì)的面上形有噴出來(lái)自處理氣體供 給機(jī)構(gòu)2的處理氣體的復(fù)數(shù)或多數(shù)的噴出孔17。
在腔室1的側(cè)壁的下部形成有排氣口 18。減壓機(jī)構(gòu)3具有與排氣 口 18連接的排氣管31和通過(guò)排氣管31排出腔室1內(nèi)氣體的排氣裝置 32。
處理氣體機(jī)構(gòu)2包括處理氣體存儲(chǔ)部21,其存儲(chǔ)含有卣素類(lèi)氣 體(含有鹵素的氣體)等腐蝕氣體的處理氣體;將來(lái)自處理氣體存儲(chǔ) 部21的處理氣體導(dǎo)入噴淋頭15的擴(kuò)散空間16內(nèi)的導(dǎo)管22;以及調(diào) 整在導(dǎo)管22內(nèi)流通的處理氣體流量的作為流量調(diào)整機(jī)構(gòu)的質(zhì)量流量 控制器23和閥24。其中,在向腔室1內(nèi)供給多種不同種類(lèi)的處理氣 體的情況下,例如可以設(shè)置多個(gè)處理氣體供給機(jī)構(gòu)2。
接著,詳細(xì)說(shuō)明測(cè)溫裝置5。
圖2 (a)為測(cè)溫裝置5的截面圖,圖2 (b)為護(hù)套熱電偶50的 截面圖。測(cè)溫裝置5包括具有前端部(軸方向一側(cè))50a和緩沖部(軸方 向另一側(cè))50b的護(hù)套熱電偶50、和固定在腔室1的外表面且容納護(hù) 套熱電偶50的緩沖部50b的密閉部件51。其中,前端部50a在腔室l 內(nèi)延伸,與基座4接觸,并且跟隨該基座4,在進(jìn)退方向移動(dòng)。緩沖 部50b在腔室1外延伸,允許前端部50a的移動(dòng)。并且,在密閉部件 51內(nèi)收容有安裝在護(hù)套熱電偶50上的活塞54、和壓縮螺旋彈簧53。 該壓縮螺旋彈簧53安裝在活塞54上,作為在使護(hù)套熱電偶50的前端 部50a壓在基座4上的方向施力的彈簧部件。收容有該活塞54、壓縮 螺旋彈簧53和緩沖部50b的密閉部件51,以其內(nèi)部與腔室1的內(nèi)部 連通的方式,與腔室1的壁部、例如底壁19氣密地密合。緩沖部50b 的終端部分向密閉部件51的外部延伸伸出,接合部55氣密地設(shè)置在 密閉部件51中緩沖部50b的終端部分在外部(腔室1外的氣氛一側(cè)) 延伸的部分上。
如圖2 (b)所示,護(hù)套熱電偶50包括熱電偶導(dǎo)線束50c、包覆該 熱電偶導(dǎo)線束50c的中空護(hù)套50d、和填充在該護(hù)套50d內(nèi)的氧化鎂等 絕緣材料50e。護(hù)套熱電偶50的護(hù)套50d由對(duì)鹵素類(lèi)氣體具有耐蝕性 的材料,例如純鎳(Ni)或者鎳-鉻-鉬(NiCrMo)或哈斯特洛依耐蝕 耐熱鎳基合金(Hastelloy)等鎳合金形成。其中,護(hù)套50d和絕緣材 料50e可以不必設(shè)置在從密閉部件51向外部延伸伸出的部分上。
護(hù)套熱電偶50的前端部50a,例如通過(guò)插入在基座4的下表面形 成的插入孔4a內(nèi)而與基座4接觸。護(hù)套熱電偶50的緩沖部50b以能 夠在相對(duì)于基座4進(jìn)退的方向伸縮的方式例如呈螺旋狀屈曲或彎曲。 護(hù)套熱電偶50的終端部與信號(hào)傳送部52連接。信號(hào)傳送部52將護(hù)套 熱電偶50的測(cè)定溫度信號(hào)傳送至后述的控制器90,控制器90根據(jù)該 測(cè)定溫度信號(hào)控制加熱器電源41,即控制加熱器40的溫度。
密閉部件51由對(duì)鹵素類(lèi)氣體具有耐蝕性的材料,例如與護(hù)套熱電 偶50的護(hù)套50d同種金屬的純鎳或鎳合金構(gòu)成,并具有筒狀形狀。密 閉部件51按照從軸方向一側(cè)向另一側(cè)的順序,依次具有收容有壓縮螺 旋彈簧53和活塞54的氣缸部51b、以及收容有護(hù)套熱電偶50的緩沖 部50b的緩沖收容部51c。其中,活塞54能夠隨著壓縮螺旋彈簧53 的伸縮,在相對(duì)于基座4進(jìn)退的方向移動(dòng)。在密閉部件51的軸方向的一端部,形成有法蘭51a。密閉部件51通過(guò)法蘭51a的一端面氣密地 與腔室1的底壁19的外表面(底面)接觸而安裝。在密閉部件51的 軸方向另一側(cè)的壁部設(shè)有上述接合部55。接合部55通過(guò)悍接或釬焊 形成。這里,通過(guò)用與護(hù)套熱電偶50的護(hù)套50d同種的金屬制造密閉 部件51,兩者的焊接或釬焊良好,能夠利用接合部55可靠地將護(hù)套 50d固定在密閉部件51上。
壓縮螺旋彈簧53由對(duì)鹵素類(lèi)氣體具有耐蝕性,且能夠確保彈性力 和材料,例如因科鎳合金(注冊(cè)商標(biāo),inconel,因科鎳合金絲)或含 有鎳、鉬的SUS316L等制成?;钊?4由對(duì)鹵素類(lèi)氣體具有耐蝕性的 材料,例如與護(hù)套熱電偶50的護(hù)套同種金屬的純鎳或鎳合金制成。在 活塞54上設(shè)置有護(hù)套熱電偶50的護(hù)套貫通內(nèi)部的貫通口,這兩者通 過(guò)焊接或釬焊、或者鉚接等固定。這樣,護(hù)套熱電偶50的前端部50a 利用隔著活塞54的壓縮螺旋彈簧53的彈性力施力,使其壓在基座4 上(圖2 (a)的箭頭F方向)。其中,通過(guò)用與護(hù)套熱電偶50的護(hù)套 50d同種的金屬制造活塞54,兩者的焊接或釬焊良好,能夠可靠地固 定在護(hù)套50d上。
晶片處理裝置100的各構(gòu)成部,與具有微處理器(計(jì)算機(jī))的控 制器卯(控制部)連接并受其控制。該控制器90與用戶(hù)接口和存儲(chǔ) 有方案的存儲(chǔ)部連接,其中,上述用戶(hù)接口由工序管理者用于管理晶 片處理裝置100的各構(gòu)成部而輸入指令的鍵盤(pán)、可視化顯示晶片處理 系統(tǒng)1的運(yùn)轉(zhuǎn)狀況的顯示器等構(gòu)成;上述方案包括用于在控制器90的 控制下實(shí)現(xiàn)在晶片處理裝置100中執(zhí)行的處理的控制程序和處理?xiàng)l件 數(shù)據(jù)。根據(jù)需要,按照來(lái)自用戶(hù)接口的指示等,從存儲(chǔ)部調(diào)出任意方 案,由控制器90執(zhí)行,在控制器90的控制下,在晶片處理裝置100
中進(jìn)行希望的處理。
在如此構(gòu)成的晶片處理裝置100中,如下所述進(jìn)行晶片W的處理。 首先,利用閘閥14打開(kāi)搬入搬出口 13,在該狀態(tài)下,將晶片W從搬 入搬出口 13搬入腔室1內(nèi),載置在基座4上,利用閘閥14關(guān)閉搬入 搬出口 13。
然后,使減壓機(jī)構(gòu)3的排氣裝置32工作,將腔室1內(nèi)減壓至規(guī)定 壓力,例如真空壓力,并利用處理氣體供給機(jī)構(gòu)2,通過(guò)噴淋頭15,以規(guī)定流量向腔室1內(nèi)供給處理氣體,并利用加熱器40隔著基座4對(duì)
晶片W進(jìn)行加熱。如上所述,當(dāng)利用加熱器40進(jìn)行加熱時(shí),護(hù)套熱 電偶50測(cè)定基座4的溫度,信號(hào)傳送部52將利用護(hù)套熱電偶50得到 的基座4的測(cè)定溫度信號(hào)傳送至控制器90??刂破?0根據(jù)該測(cè)定溫 度信號(hào)控制加熱器40的溫度,由此能夠?qū)⒒?上的晶片W調(diào)整至 規(guī)定的溫度。這樣,對(duì)晶片W進(jìn)行規(guī)定的處理。
其中,當(dāng)利用處理氣體供給機(jī)構(gòu)2向腔室1內(nèi)供給處理氣體和/或 利用減壓機(jī)構(gòu)3使腔室1內(nèi)減壓時(shí),由于腔室1內(nèi)的壓力發(fā)生變化, 在基座4上多少產(chǎn)生搖擺等運(yùn)動(dòng)。然而,護(hù)套熱電偶50的緩沖部50b 在相對(duì)于基座4進(jìn)退的方向伸縮,而且護(hù)套熱電偶50的前端部50a被 壓縮螺旋彈簧53施力,使其壓在基座4上,所以護(hù)套熱電偶50的前 端部50a可以跟隨基座4的運(yùn)動(dòng)移動(dòng),保持與基座4的接觸。因此, 能夠正確地測(cè)定基座4的溫度,這樣,能夠高精度地控制加熱器40的 溫度,提高晶片W處理的品質(zhì)。
另外,由于利用彈簧部件例如壓縮螺旋彈簧53施力,使護(hù)套熱電 偶50的前端部50a壓在基座4上,可以不需要如先前那樣,使用利用 大氣和真空的壓差作用非常大的壓緊力的波紋管,因此,能夠防止由 于腔室1內(nèi)的減壓,導(dǎo)致護(hù)套熱電偶50被強(qiáng)烈地壓在基座4上,由此 能夠防止護(hù)套熱電偶50和基座4的損傷,提高裝置的耐久性。
另外,通過(guò)將護(hù)套熱電偶50同護(hù)套50d —起例如彎曲成螺旋狀, 形成緩沖部50b,不需要如先前那樣,剝離護(hù)套的一部分,使熱電偶 導(dǎo)線束露出,因此能夠確保耐熱性,這樣,即使在腔室1內(nèi)保持高溫 的情況下也能夠?qū)?yīng)。
其中,緩沖部50b優(yōu)選具有極小的曲率,以減輕伸縮時(shí)的負(fù)荷, 此外優(yōu)選在相對(duì)于基座4進(jìn)退的方向上具有一定規(guī)則性的形狀,以分 散伸縮時(shí)的負(fù)荷。作為這種緩沖部52b的形狀,除了圖2 (a)所示的 螺旋狀以外,可以列舉出例如圖3所示的波形。
此外,暴露在腔室1內(nèi)的處理氣體,例如鹵素類(lèi)氣體等腐蝕氣體 氣氛中的測(cè)溫裝置5的各部件,g卩,護(hù)套熱電偶50的護(hù)套50d、密閉 部件51、壓縮螺旋彈簧53和活塞54均由對(duì)處理氣體具有耐蝕性的材 料,例如鎳或鎳合金形成。另外,氣密地接合護(hù)套熱電偶50的護(hù)套50d和密閉部件51的接合部55通過(guò)焊接或釬焊形成。因此,不需要 全部使用樹(shù)脂等有機(jī)類(lèi)材料,能夠防止處理氣體對(duì)測(cè)溫裝置5的腐蝕, 能夠避免有機(jī)污染。
接著,以規(guī)定時(shí)間進(jìn)行利用減壓機(jī)構(gòu)3對(duì)腔室1內(nèi)的減壓、利用 處理氣體供給機(jī)構(gòu)2向腔室1內(nèi)供給處理氣體、以及利用加熱器40對(duì) 晶片W的加熱。如果對(duì)晶片W實(shí)施規(guī)定的處理,則停止利用處理氣 體供給機(jī)構(gòu)2向腔室1內(nèi)供給處理氣體和利用加熱器40對(duì)晶片W的 加熱,利用閘閥14打開(kāi)搬入搬出口 13,將晶片W從搬入搬出口 13 搬出至腔室l外。
下面,利用圖6說(shuō)明本發(fā)明的比較例。
如圖6所示,將稍微伸縮這里為伸長(zhǎng)狀態(tài)的波紋管C的一端部和 另一端部分別氣密地安裝在護(hù)套熱電偶A和處理容器的壁部,例如底 壁D上,由此預(yù)先將護(hù)套熱電偶A輕微地壓在載置臺(tái)B上,利用波紋 管C的伸縮,使護(hù)套熱電偶A跟隨載置臺(tái)的運(yùn)動(dòng)。
但是,通常在半導(dǎo)體的制造過(guò)程中,當(dāng)供給處理氣體時(shí),除了進(jìn) 行使處理容器內(nèi)減壓至例如真空的操作以外,通常波紋管根據(jù)制造過(guò) 程的情況會(huì)有一定的直徑R。因此,在安裝使用上述波紋管C的護(hù)套 熱電偶的情況下,使處理容器內(nèi)減壓至例如真空壓力,波紋管C上會(huì) 受到與其徑R相應(yīng)的大氣與真空的壓差,在護(hù)套熱電偶A上作用向載 置臺(tái)B的非常大的按壓力(參照?qǐng)D6的箭頭E)。結(jié)果,護(hù)套熱電偶A 被強(qiáng)烈地壓在載置臺(tái)B上,可能會(huì)導(dǎo)致護(hù)套熱電偶A或載置臺(tái)B損傷。
與此相對(duì),采用本申請(qǐng)的發(fā)明,由于不需要如上所述使用波紋管, 護(hù)套熱電偶50不會(huì)由于腔室1內(nèi)的減壓而強(qiáng)烈地壓在基座4上,能夠 防止護(hù)套熱電偶50和基座4的損傷。
此外,本發(fā)明不限于上述實(shí)施方式,可以進(jìn)行各種變形。在上述 實(shí)施方式中,以護(hù)套熱電偶50在腔室1內(nèi)露出的方式配置測(cè)溫裝置5。 但也可以如圖4所示,以護(hù)套熱電偶50收容在筒狀的支柱部件11內(nèi) 的方式配置測(cè)溫裝置5。
另外,在上述實(shí)施方式中,使收容緩沖部50b的緩沖收容部51c、 收容壓縮螺旋彈簧53和活塞54的氣缸部51b、和從氣缸部51b的一 端部突出的法蘭51a形成一體,構(gòu)成密閉部件51,并且以法蘭51a的一個(gè)端面緊貼腔室1的底壁19的外表面的方式安裝該密閉部件51。
但是,也可以例如圖5所示,密閉部件51具有安裝在腔室1的底壁 19的外表面(底面)上的外側(cè)部件51d和安裝在腔室1的底壁19的 內(nèi)表面(上面)上的內(nèi)側(cè)部件51e。在這種情況下,在外側(cè)部件51d 和內(nèi)側(cè)部件51e之間配置有緩沖部50b、壓縮螺旋彈簧53和活塞54。 在圖5中,外側(cè)部件51d形成為收容緩沖部50b的容器狀,內(nèi)側(cè)部件 51e形成為圍繞護(hù)套熱電偶50的圓環(huán)狀,壓縮螺旋彈簧53和活塞54 以?shī)A在外側(cè)部件51d與內(nèi)側(cè)部件51e之間的方式配置在腔室1的底壁 19內(nèi)。在這種情況下,腔室l的底壁19的圍繞壓縮螺旋彈簧53和活 塞54的部分也作為密閉部件51的一部分發(fā)揮作用。利用這種結(jié)構(gòu), 能夠?qū)崿F(xiàn)密閉部件51 (密閉部件51從腔室1的底壁19突出的部分) 的小型化。另外,也可以不使用內(nèi)側(cè)部件50e,以?shī)A在外側(cè)部件51d 和腔室1的底壁19之間的方式配置壓縮螺旋彈簧53和活塞54,或者 還可以不使用外側(cè)部件,使內(nèi)側(cè)部件50e形成為容器狀,將緩沖部50b、 壓縮螺旋彈簧53和活塞54收容在內(nèi)側(cè)部件50e內(nèi)。
此外,在上述實(shí)施方式中,使用壓縮螺旋彈簧作為彈簧部件,但 不限于此,也可以使用拉伸螺旋彈簧等其他彈簧。
另外,在上述實(shí)施方式中,對(duì)于利用加熱器的加熱調(diào)整半導(dǎo)體晶 片的溫度的情況的使用例進(jìn)行說(shuō)明,但不限于此,例如在利用冷卻板 的冷卻調(diào)整晶片溫度的情況下也適用。另外,被處理體不限于半導(dǎo)體 晶片,也可以為FPD用玻璃基板等。
產(chǎn)業(yè)上的可利用性
本發(fā)明普遍適用于對(duì)半導(dǎo)體基板進(jìn)行成膜處理的CVD (化學(xué)氣相 沉積Chemical Vapor Deposition)裝置或?qū)OR (化學(xué)氧化物除去 Chemical Oxide Removal)處理后的半導(dǎo)體基板進(jìn)行熱處理的后加熱裝 置等,對(duì)配置在腐蝕氣體氣氛的容器內(nèi)的基座等被測(cè)溫體的溫度進(jìn)行 測(cè)定的用途。
權(quán)利要求
1. 一種測(cè)溫裝置,其測(cè)定配置在處理容器內(nèi)的被測(cè)溫體的溫度,其特征在于,包括護(hù)套熱電偶,其包括護(hù)套和配置在護(hù)套內(nèi)的熱電偶導(dǎo)線束,并且具有前端部和緩沖部,所述前端部在處理容器內(nèi)延伸,與被測(cè)溫體接觸,并跟隨該被測(cè)溫體在進(jìn)退方向移動(dòng),所述緩沖部在處理容器外延伸,允許前端部的移動(dòng);密閉部件,其固定在處理容器外表面,容納護(hù)套熱電偶的緩沖部;和彈簧部件,其配置在密閉部件內(nèi),使護(hù)套熱電偶的前端部向被測(cè)溫體一側(cè)施力,其中,護(hù)套熱電偶的緩沖部終端部,從密閉部件通過(guò)焊接部或釬焊部進(jìn)一步向外延伸伸出。
2. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)溫裝置,其特征在于 處理容器內(nèi)為腐蝕氣體氣氛,護(hù)套、密閉部件和彈簧部件均由對(duì)腐蝕氣體具有耐蝕性的材料制成。
3. 如權(quán)利要求2所述的測(cè)溫裝置,其特征在于 所述彈簧部件由螺旋彈簧構(gòu)成,在所述密閉部件內(nèi)收容有活塞,該活塞隨著所述螺旋彈簧的伸縮, 在相對(duì)于所述被測(cè)溫體進(jìn)退的方向移動(dòng),且由對(duì)所述腐蝕氣體具有耐 蝕性的材料制成,所述護(hù)套熱電偶固定在所述活塞上。
4. 如權(quán)利要求2或3所述的測(cè)溫裝置,其特征在于所述腐蝕氣體為含有鹵素的氣體,對(duì)所述腐蝕氣體具有耐蝕性的材料由鎳(Ni)或鎳合金構(gòu)成。
5. 如權(quán)利要求l所述的測(cè)溫裝置,其特征在于 所述彈簧部件由因科鎳合金(注冊(cè)商標(biāo))構(gòu)成。
6. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)溫裝置,其特征在于所述緩沖部在相對(duì)于所述被測(cè)溫體進(jìn)退的方向上能夠伸縮地彎曲。
7. 如權(quán)利要求6所述的測(cè)溫裝置,其特征在于 所述緩沖部呈螺旋狀彎曲。
8. 如權(quán)利要求6所述的測(cè)溫裝置,其特征在于 所述緩沖部呈波形彎曲。
全文摘要
測(cè)溫裝置(5)包括具有前端部(50a)和緩沖部(50b)的護(hù)套熱電偶(50),上述前端部(50a)能夠跟隨基座(4)在進(jìn)退方向移動(dòng),上述緩沖部(50b)以在腔室(1)外延伸伸出的方式設(shè)置,允許前端部(50a)的移動(dòng);和在使前端部(50a)壓在基座(4)上的方向上施力的壓縮螺旋彈簧(53)。收容壓縮螺旋彈簧(53)和緩沖部(50b)的密閉部件(51)以其內(nèi)部與腔室(1)內(nèi)連通的方式與腔室(1)的底壁(19)密接。緩沖部(50b)的終端部分向密閉部件(51)的外部延伸伸出,利用焊接,在密閉部件(51)中緩沖部(50b)的終端部分向外部延伸伸出的部分上形成接合部(55)。
文檔編號(hào)H01L21/205GK101421599SQ200780012739
公開(kāi)日2009年4月29日 申請(qǐng)日期2007年8月14日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月6日
發(fā)明者朝倉(cāng)賢太朗 申請(qǐng)人:東京毅力科創(chuàng)株式會(huì)社