專利名稱：有源元件陣列基板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種有源元件陣列基板，且特別是有關(guān)于一種具有檢測電 路的有源元件陣列基板。
背景技術(shù)：
現(xiàn)今社會多媒體技術(shù)相當(dāng)發(fā)達(dá)，多半受惠于半導(dǎo)體元件與顯示裝置的進(jìn) 步。就顯示器而言，具有高畫質(zhì)、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優(yōu) 越特性的液晶顯示面板已逐漸成為市場的主流。為了提升液晶顯示面板的良 率，液晶顯示面板的檢測技術(shù)也就日益受到重視。
一般而言，液晶顯示面板的檢測技術(shù)通常都是針對顯示區(qū)來進(jìn)行檢測。在
檢測過程中，當(dāng)顯示區(qū)內(nèi)有亮線(line defect)產(chǎn)生時，便可以得知位于顯示區(qū) 內(nèi)的掃描線(scanline)或數(shù)據(jù)線(dataline)有斷線的問題發(fā)生。值得注意的 是，當(dāng)液晶顯示面板的周邊線路區(qū)內(nèi)的電路發(fā)生斷線時，卻無法通過傳統(tǒng)的檢 測技術(shù)而得知。如此一來，外部驅(qū)動電路板無法通過周邊線路區(qū)內(nèi)的電路，而 有效地將信號傳送至顯示區(qū)內(nèi)。這會造成液晶顯示面板發(fā)生顯示異常的現(xiàn)象， 且制造良率也無法有效提升。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種有源元件陣列基板，其具有檢測周邊線路區(qū)內(nèi)電路是否異 常的功效。
本發(fā)明提出一種有源元件陣列基板，其具有一有源區(qū)與一圍繞有源區(qū)的周 邊線路區(qū)。本發(fā)明的有源元件陣列基板包括一基板、多個像素單元、多條第一 信號線、 一第一連接導(dǎo)線、多個第一開關(guān)元件、多條第二信號線、多個第二開 關(guān)元件與一匯流導(dǎo)線。其中，像素單元配置于基板上的有源區(qū)內(nèi)，且第一信號 線與第二信號線分別與對應(yīng)的像素單元電性連接。本發(fā)明的第一信號線配置于有源區(qū)內(nèi)且向外延伸至周邊線路區(qū)內(nèi)。此外，位于周邊線路區(qū)內(nèi)兩相鄰第一信 號線的一端分別連接至一第一測試導(dǎo)線與一第二測試導(dǎo)線，而兩相鄰第一信號 線的另一端共同連接至一第一開關(guān)元件。另外，第一連接導(dǎo)線配置于周邊線路 區(qū)內(nèi)，并與第一開關(guān)元件電性連接。本發(fā)明的第二信號線配置于有源區(qū)內(nèi)且向 外延伸至周邊線路區(qū)內(nèi)。兩相鄰第二信號線的一端分別連接至一第三測試導(dǎo)線 與一第四測試導(dǎo)線。上述的第二開關(guān)元件，配置于周邊線路區(qū)的第一信號線與 第二信號線上。此外，匯流導(dǎo)線電性連接第二開關(guān)元件。
在本發(fā)明的一實施例中，上述第一信號線為掃描線。
在本發(fā)明的一實施例中，上述第二信號線為數(shù)據(jù)線。
在本發(fā)明的一實施例中，上述兩相鄰第二信號線的另一端共同連接至一第 三開關(guān)元件。
在本發(fā)明的一實施例中，上述的有源元件陣列基板還包括一第二連接導(dǎo) 線，其與第三開關(guān)元件電性連接。
在本發(fā)明的一實施例中，上述的有源元件陣列基板還包括多個接墊，其分 別電性連接至第一測試導(dǎo)線、第二測試導(dǎo)線、第三測試導(dǎo)線與第四測試導(dǎo)線的一端。
在本發(fā)明的一實施例中，上述的有源元件陣列基板還包括多個接墊，其與
第一信號線電性連接，且第一開關(guān)元件位于接墊與第一連接導(dǎo)線之間。
在本發(fā)明的一實施例中，上述的有源元件陣列基板還包括多個接墊，其與
第二信號線電性連接，且第三開關(guān)元件位于接墊與第二連接導(dǎo)線之間。 在本發(fā)明的一實施例中，上述的第一開關(guān)元件包括薄膜晶體管。 在本發(fā)明的一實施例中，上述各第一開關(guān)元件包括一第一柵極、 一第一源
極與一第一漏極，第一柵極與第一連接導(dǎo)線電性連接，而第一源極與第一漏極
分別與兩相鄰第一信號線的末端連接。
在本發(fā)明的一實施例中，上述的第二開關(guān)元件包括薄膜晶體管。 在本發(fā)明的一實施例中，上述各第二開關(guān)元件包括一第二柵極、 一第二源
極與一第二漏極，第二柵極與匯流導(dǎo)線電性連接，且第一信號線會與部分第二
開關(guān)元件的第二源極與第二漏極其中之一電性連接，而第二信號線會與部分第
二開關(guān)元件的第二源極與第二漏極其中之一電性連接。在本發(fā)明的一實施例中，上述的第三開關(guān)元件包括薄膜晶體管。
在本發(fā)明的一實施例中，上述各第三開關(guān)元件包括一第三柵極、 一第三源 極與一第三漏極，第三柵極電性連接至第二連接導(dǎo)線，而第三源極與第三漏極 分別與兩相鄰第二信號線的末端連接。
在本發(fā)明的一實施例中，上述有源元件陣列基板還包括一第五測試導(dǎo)線， 三條相鄰第一信號線的一端分別連接至第一測試導(dǎo)線、第二測試導(dǎo)線與第五測 試導(dǎo)線，而三條相鄰第一信號線的另一端分別連接至相鄰兩第一開關(guān)元件。
在本發(fā)明的一實施例中，上述有源元件陣列基板更包括與一第六測試導(dǎo) 線，三條相鄰第二信號線的一端分別連接至第三測試導(dǎo)線、第四測試導(dǎo)線與第 六測試導(dǎo)線，而三條相鄰第二信號線的另一端分別連接至相鄰兩第三開關(guān)元 件。
本發(fā)明的有源元件陣列基板在周邊線路區(qū)內(nèi)，以兩相鄰第一信號線的末端 共同連接至一第一開關(guān)元件來形成測試電路，借以測試周邊線路區(qū)內(nèi)的電路是 否異常。此外，位于周邊線路區(qū)內(nèi)兩相鄰第二信號線的末端也可共同連接至一 第三開關(guān)元件，以形成另一測試電路。因此，本發(fā)明的有源元件陣列基板通過 此測試電路的測試便可得知周邊線路區(qū)內(nèi)的電路是否異常。


為讓本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，以下結(jié)合附圖對本發(fā) 明的具體實施方式
作詳細(xì)說明，其中
圖1是本發(fā)明第一實施例的有源元件陣列基板的電路示意圖。
圖2A是本發(fā)明第一實施例的有源元件陣列基板有線缺陷的示意圖。
圖2B是本發(fā)明第一實施例的周邊線路區(qū)內(nèi)的電路進(jìn)行測試的示意圖。
圖3是本發(fā)明第二實施例的有源元件陣列基板的電路示意圖。
主要元件符號說明
100、 100':有源元件陣列基板
110:基板
120:像素單元
130、 130'、 130":第一信號線131:第一測試導(dǎo)線
132:第二測試導(dǎo)線
133:第五測試導(dǎo)線
140、 140，、 140":141:第三測試導(dǎo)線
142:第四測試導(dǎo)線
143:第六測試導(dǎo)線
A:有源區(qū)
B:周邊線路區(qū)
BS:匯流導(dǎo)線
CI:第一連接導(dǎo)線
C2:第二連接導(dǎo)線
Dl:第一漏極
D2:第二漏極
D3:第三漏極
Gl:第一柵極
G2:第二柵極
G3:第三柵極
P:接墊
Sl:第一源極
S2:第二源極
S3:第三源極
Tl:第一開關(guān)元件
T2:第二開關(guān)元件
T3:第三開關(guān)元件
XI、X2:斷線處
具體實施例方式
圖1是本發(fā)明第一實施例的有源元件陣列基板的電路示意圖。請參考圖1，本發(fā)明的有源元件陣列基板100具有一有源區(qū)A與一圍繞有源區(qū)A的周邊線路 區(qū)B。詳細(xì)地說，本發(fā)明有源元件陣列基板100至少包括一基板110、多個像 素單元120、多條第一信號線130、多條第二信號線140、多個第一開關(guān)元件 Tl、多個第二開關(guān)元件T2、 一第一連接導(dǎo)線C1與一匯流導(dǎo)線(busline) BS。 其中，像素單元120陣列配置于基板110上的有源區(qū)A內(nèi)。此外，本發(fā)明的第 一信號線130與第二信號線140交錯配置于有源區(qū)A內(nèi)，且兩者皆向外延伸至 周邊線路區(qū)B內(nèi)。在有源區(qū)A內(nèi)，第一信號線130與第二信號線140會分別與 對應(yīng)的像素單元120電性連接。在一實施例中，上述第一信號線130可為掃描 線(scanline)，而第二信號線140為數(shù)據(jù)線(dataline)。
值得注意的是，兩相鄰第一信號線130與130'延伸至周邊線路區(qū)B內(nèi)的一 端，分別連接至一第一測試導(dǎo)線131與一第二測試導(dǎo)線132。特別的是，兩相 鄰第一信號線130與130'延伸至周邊線路區(qū)B內(nèi)的另一端共同連接至一第一開 關(guān)元件T1。具體而言，本發(fā)明的第一開關(guān)元件T1可包括薄膜晶體管，其主要 是由一第一柵極G1、 一第一源極Sl與一第一漏極D1所構(gòu)成。其中，各個第 一開關(guān)元件Tl的第一柵極Gl會與第一連接導(dǎo)線Cl電性連接，而第一源極Sl 與第一漏極Dl分別與兩相鄰第一信號線130與130'的末端連接。另一方面， 兩相鄰第二信號線140與140'延伸至周邊線路區(qū)B內(nèi)的一端，分別連接至一第 三測試導(dǎo)線141與一第四測試導(dǎo)線142。
本發(fā)明的第二開關(guān)元件T2分別配置于周邊線路區(qū)B的第一信號線130與 第二信號線140上。上述的第二開關(guān)元件T2可包括薄膜晶體管，其主要是由 一第二柵極G2、 一第二源極S2與一第二漏極D2所構(gòu)成。值得注意的是，匯 流導(dǎo)線BS會電性連接這些第二開關(guān)元件T2的第二柵極G2。
另一方面，部分的第二開關(guān)元件T2會通過第二源極S2與第二漏極D2， 而電性連接于第一信號線130與第一測試導(dǎo)線131之間。部分的第二開關(guān)元件 T2會通過第二源極S2與第二漏極D2，而電性連接于第一信號線130與第二測 試導(dǎo)線132之間。類似地，部分的第二開關(guān)元件T2會電性連接于第二信號線 140與第三測試導(dǎo)線141之間，而部分的第二開關(guān)元件T2會電性連接于第二信 號線140與第四測試導(dǎo)線142之間。
上述至此，本發(fā)明的有源元件陣列基板100已大致介紹完。接著將在下文中舉例說明，如何對本發(fā)明有源元件陣列基板100的有源區(qū)A與周邊線路區(qū)B
進(jìn)行測試。當(dāng)然，所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者可視測試的目的而選擇采用 不同的測試方式，在此僅舉例說明并不刻意局限。值得注意的是，本發(fā)明的有
源元件陣列基板100在進(jìn)行測試時，已與彩色濾光基板組裝完成。為了附圖的 簡明，在下述圖式與說明中將省略彩色濾光基板的部分。若本發(fā)明的有源元件 陣列基板100采用COA (color filter on array)技術(shù)，則本發(fā)明的有源元件陣列 基板100與透光的基板組裝即可。
在一實施例中，當(dāng)本發(fā)明的有源元件陣列基板100需要對有源區(qū)A進(jìn)行測 試時，第一開關(guān)元件T1為關(guān)閉狀態(tài)。另一方面，通過匯流導(dǎo)線BS傳遞一信號 至第二柵極G2，以將各個第二開關(guān)元件T2開啟。接著，第一測試導(dǎo)線131與 第二測試導(dǎo)線132傳遞一開關(guān)信號至各個像素單元120中。另一方面，第三測 試導(dǎo)線141與第四測試導(dǎo)線142傳遞一顯示信號，而使各個像素單元120顯示。
圖2A是本發(fā)明第一實施例的有源元件陣列基板有顯示亮線的示意圖。請 參考圖2A，以常態(tài)白畫面(normally white)的設(shè)定而言，當(dāng)顯示畫面于XI處 之后的一列像素單元120呈現(xiàn)出一亮線(line defect)時，這意味著第一信號線 130的X1處有斷線的現(xiàn)象。另一方面，當(dāng)顯示畫面于X2處之后的一行像素單 元120呈現(xiàn)出一亮線時，這意謂著第二信號線140的X2處有斷線的現(xiàn)象。操 作人員便可針對此斷線處(Xl、 X2處)進(jìn)行激光修補(laserrepair)。
若本發(fā)明有源元件陣列基板100的有源區(qū)A進(jìn)行測試后為正常狀態(tài)時，接 著可對周邊線路區(qū)B內(nèi)的電路進(jìn)行測試。請參考圖2B，此時第一連接導(dǎo)線C1 可傳遞一信號，而將第一開關(guān)元件T1開啟。在第一開關(guān)元件T1開啟的狀態(tài)下， 理想上相鄰的第一信號線130與130，應(yīng)會相互導(dǎo)通。以常態(tài)白畫面(normally white)的設(shè)定而言，若第一信號線130傳遞信號至像素單元120中，而能使與 第一信號線130'電性連接的像素單元120能正常顯示(如圖2B所示的黑色區(qū) 塊)。這意味著周邊線路區(qū)B內(nèi)的電路為正常狀態(tài)。反之，周邊線路區(qū)B內(nèi)的 電路即為斷線。如此一來，有源區(qū)A或周邊線路區(qū)B內(nèi)的電路都可借由上述的 檢測方式，而得知是否有異常的問題發(fā)生。
為了進(jìn)一步對不同位置的周邊線路區(qū)B內(nèi)的電路進(jìn)行檢測，兩相鄰第二信 號線140與140，延伸至周邊線路區(qū)B內(nèi)的另一端也可共同連接至一第三開關(guān)元件T3。這些第三開關(guān)元件T3可借由一第二連接導(dǎo)線C2而電性連接。詳細(xì)地 說，第三開關(guān)元件T3包括薄膜晶體管，其主要是由一第三柵極G3、 一第三源 極S3與一第三漏極D3所構(gòu)成。其中，第三柵極G3電性連接至第二連接導(dǎo)線 C2，而第三源極S3與第三漏極D3分別與兩相鄰第二信號線140與140，的末 端連接。
此外，本發(fā)明的有源元件陣列基板100還可包括多個接墊P。這些接墊P 可分別電性連接至第一測試導(dǎo)線131、第二測試導(dǎo)線132、第三測試導(dǎo)線141 與第四測試導(dǎo)線142的一端。如圖1所示，部分的接墊P也可與第一信號線130 電性連接，且第一開關(guān)元件Tl位于接墊P與第一連接導(dǎo)線Cl之間。另一方面， 部分的接墊P可與第二信號線140電性連接，且第三開關(guān)元件T3位于接墊P 與第二連接導(dǎo)線C2之間。
第二實施例
第二實施例與第一實施例類似，兩者主要不同之處在于第一開關(guān)元件T1 與第一信號線130電性連接的方式以及第三開關(guān)元件T3與第二信號線140電 性連接的方式。圖3是本發(fā)明第二實施例的有源元件陣列基板的電路示意圖。 請參考圖3，本發(fā)明的有源元件陣列基板100'大致與第一實施例有源元件陣列 基板100的布局(layout)類似，于此不多加贅述。特別的是，第二實施例有 源元件陣列基板100，上接墊P與測試導(dǎo)線的數(shù)目會與第一實施例不同。
詳言之，本實施例的有源元件陣列基板100'還包括一第五測試導(dǎo)線133與 一第六測試導(dǎo)線143。其中，三條相鄰第一信號線130、 130，、 130，，的一端分 別連接至第一測試導(dǎo)線131、第二測試導(dǎo)線132與第五測試導(dǎo)線133，而此三 條相鄰第一信號線130、 130'、 130"的另一端分別連接至相鄰兩第一開關(guān)元件 Tl。
另一方面，三條相鄰第二信號線140、 140，、 140，，的一端分別連接至第三 測試導(dǎo)線141、第四測試導(dǎo)線142與第六測試導(dǎo)線143，而三條相鄰第二信號 線140、 140，、 140"的另一端分別連接至相鄰兩第三開關(guān)元件T3。換言之，兩 相鄰的第一開關(guān)元件T1可通過接墊P，而連接相同的第一信號線130。此外， 兩相鄰的第三開關(guān)元件T3亦可通過接墊P，而連接相同的第二信號線140。第二實施例的有源元件陣列基板100'同樣具有第一實施例有源元件陣列基板100
的功效。
綜上所述，本發(fā)明三相鄰第一信號線延伸至周邊線路區(qū)內(nèi)的一端共同連接 至二第一開關(guān)元件來形成測試電路，進(jìn)而可測試周邊線路區(qū)內(nèi)的電路是否異 常。此外，三相鄰第二信號線延伸至周邊線路區(qū)內(nèi)的一端亦可共同連接至二第 三開關(guān)元件，以形成另一測試電路。因此，本發(fā)明的有源元件陣列基板通過此 測試電路的測試便可得知周邊線路區(qū)內(nèi)的電路是否異常。
雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本 領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的修改和完善， 因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)以權(quán)利要求書所界定的為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1. 一種有源元件陣列基板，具有一有源區(qū)與一圍繞該有源區(qū)的周邊線路區(qū)，該有源元件陣列基板包括一基板；多個像素單元，配置于該基板上的該有源區(qū)內(nèi)；多條第一信號線，配置于該有源區(qū)內(nèi)且向外延伸至該周邊線路區(qū)內(nèi)，其中位于該周邊線路區(qū)內(nèi)兩相鄰第一信號線的一端分別連接至一第一測試導(dǎo)線與一第二測試導(dǎo)線，而兩相鄰第一信號線的另一端共同連接至一第一開關(guān)元件；一第一連接導(dǎo)線，配置于該周邊線路區(qū)內(nèi)，并與該些第一開關(guān)元件電性連接；多條第二信號線，配置于該有源區(qū)內(nèi)且向外延伸至該周邊線路區(qū)內(nèi)，且該些第一信號線與該些第二信號線分別與對應(yīng)的像素單元電性連接，其中兩相鄰第二信號線的一端分別連接至一第三測試導(dǎo)線與一第四測試導(dǎo)線；多個第二開關(guān)元件，配置于該周邊線路區(qū)的該些第一信號線與該些第二信號線上；以及一匯流導(dǎo)線，電性連接該些第二開關(guān)元件。
2. 如權(quán)利要求1所述的有源元件陣列基板，其特征在于，該第一信號線為 掃描線。
3. 如權(quán)利要求2所述的有源元件陣列基板，其特征在于，該第二信號線為 數(shù)據(jù)線。
4. 如權(quán)利要求1所述的有源元件陣列基板，其特征在于，兩相鄰第二信號 線的另一端共同連接至一第三開關(guān)元件。
5. 如權(quán)利要求1所述的有源元件陣列基板，其特征在于，還包括一第二連 接導(dǎo)線，電性連接該些第三開關(guān)元件。
6. 如權(quán)利要求1所述的有源元件陣列基板，其特征在于，還包括多個接墊， 分別電性連接至該第一測試導(dǎo)線、該第二測試導(dǎo)線、該第三測試導(dǎo)線與該第四 測試導(dǎo)線的一端。
7. 如權(quán)利要求l所述的有源元件陣列基板，其特征在于，還包括多個接墊，與該些第一信號線電性連接，且該些第一開關(guān)元件位于該些接墊與該第一連接 導(dǎo)線之間。
8. 如權(quán)利要求5所述的有源元件陣列基板，其特征在于，還包括多個接墊，與該些第二信號線電性連接，且該些第三開關(guān)元件位于該些接墊與該第二連接 導(dǎo)線之間。
9. 如權(quán)利要求1所述的有源元件陣列基板，其特征在于，該些第一開關(guān)元 件包括薄膜晶體管。
10. 如權(quán)利要求9所述的有源元件陣列基板，其特征在于，各該第一開關(guān)元 件包括一第一柵極、 一第一源極與一第一漏極，該第一柵極與該第一連接導(dǎo)線 電性連接，而該第一源極與該第一漏極分別與兩相鄰第一信號線的末端連接。
11. 如權(quán)利要求l所述的有源元件陣列基板，其特征在于，該些第二開關(guān)元 件包括薄膜晶體管。
12. 如權(quán)利要求11所述的有源元件陣列基板，其特征在于，各該第二開關(guān) 元件包括一第二柵極、 一第二源極與一第二漏極，該第二柵極會與該匯流導(dǎo)線 電性連接，而該第一信號線會與部分第二開關(guān)元件的該第二源極與該第二漏極 其中之一電性連接，該第二信號線會與部分第二開關(guān)元件的該第二源極與該第 二漏極其中之一電性連接。
13. 如權(quán)利要求4所述的有源元件陣列基板，其特征在于，該些第三開關(guān)元 件包括薄膜晶體管。
14. 如權(quán)利要求13所述的有源元件陣列基板，其特征在于，各該第三開關(guān) 元件包括一第三柵極、 一第三源極與一第三漏極，該第三柵極電性連接至該第 二連接導(dǎo)線，而該第三源極與該第三漏極分別與兩相鄰第二信號線的末端連 接。
15. 如權(quán)利要求l所述的有源元件陣列基板，其特征在于，還包括一第五測 試導(dǎo)線，三條相鄰第一信號線的一端分別連接至該第一測試導(dǎo)線、該第二測試 導(dǎo)線與該第五測試導(dǎo)線，而三條相鄰第一信號線的另一端分別連接至相鄰兩第 一開關(guān)元件。
16. 如權(quán)利要求4所述的有源元件陣列基板，其特征在于，還包括與一第六 測試導(dǎo)線，三條相鄰第二信號線的一端分別連接至該第三測試導(dǎo)線、該第四測試導(dǎo)線與該第六測試導(dǎo)線，而三條相鄰第二信號線的另一端分別連接至相鄰兩 第三開關(guān)元件。
全文摘要
本發(fā)明提出一種有源元件陣列基板，至少包括一基板、多個像素單元、多條第一信號線、一第一連接導(dǎo)線、多個第一開關(guān)元件、多條第二信號線。像素單元配置于有源區(qū)內(nèi)。此外，兩相鄰第一信號線的一端分別連接至一第一測試導(dǎo)線與一第二測試導(dǎo)線。兩相鄰第一信號線的另一端共同連接至第一開關(guān)元件。另外，第一連接導(dǎo)線與第一開關(guān)元件電性連接。兩相鄰第二信號線的一端分別連接至一第三測試導(dǎo)線與一第四測試導(dǎo)線。
文檔編號H01L23/544GK101546774SQ20081008835
公開日2009年9月30日 申請日期2008年3月28日 優(yōu)先權(quán)日2008年3月28日
發(fā)明者仇翊溱, 劉夢騏, 黃金海 申請人:中華映管股份有限公司