專利名稱：測試用的電連接器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及電連接器技術(shù)領(lǐng)域，特指一種用于測試與其對接 的連接器之電氣性能的電連接器。
技術(shù)背景-
電連接器在出廠前一般還需要進(jìn)行電氣性能測試，檢測其端子導(dǎo) 通情況。測試時是將欲出廠的電連接器與測試用的電連接器接駁，即 可得知該電連接器的電氣性能情況。傳統(tǒng)的測試連接以對插實(shí)現(xiàn)，測 試用的電連接器的插接口為封閉的框式結(jié)構(gòu)，端子接觸部不外露，測 試操作不便，效率低，易出現(xiàn)對插不到位，測試不準(zhǔn)確，且易造成對 插損傷。 發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡單、操作方便，可提升測
試效率的測試用電連接器。
為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案-測試用的電連接器，包括絕緣主體、端子，絕緣主體的接口為開
放式設(shè)計(jì)，恰使端子接觸部排列露置，達(dá)成被測連接器以壓接方式實(shí)
現(xiàn)連接。
3于絕緣主體的接口左右側(cè)設(shè)有限位部；限位部為接口左右側(cè)凸起 的膠位，與絕緣主體一體制作。
左右限位部的內(nèi)側(cè)面與被測連接器形成緊接觸。
本實(shí)用新型將絕緣主體的接口開放式設(shè)計(jì)，與其對接的被測連接 器則以壓接方式實(shí)現(xiàn)測試連接，測試操作相當(dāng)方便，有效提高測試效 率；且測試的視覺效果更佳，有效保證測試的準(zhǔn)確性，減少誤差，減 少對插損傷。


附圖1為本實(shí)用新型立體外形示意附圖2為本實(shí)用新型內(nèi)部結(jié)構(gòu)剖視附圖3為本實(shí)用新型用于測試對接示意附圖4為本實(shí)用新型測試對接后的外形示意附圖5為圖4之內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型進(jìn)一步說明
參閱圖1、 2所示，本實(shí)用新型所述的測試用電連接器，包括絕
緣主體IO、端子20，絕緣主體的接口 ll為開放式設(shè)計(jì)，恰使端子接 觸部21排列露置，達(dá)成被測連接器以壓接方式實(shí)現(xiàn)連接。
圖3、 4、 5所示，實(shí)施時，被測連接器30由上往下壓接，即可 實(shí)現(xiàn)兩連接器的端子之間觸接導(dǎo)通，改變傳統(tǒng)的對插模式，測試操作 更容易，以此提升電氣性能測試的效率。接口ll開放設(shè)計(jì)，更容易控制兩連接器的接駁，且被測連接器以壓接方式實(shí)現(xiàn)連接，其壓入與 卸下操作恰好與端子接觸部21之彈收方向相對，為上下浮動，這樣 不僅保證接觸導(dǎo)通，而且也不會硬性挫傷端子接觸部，保證連接器的 使用性。
圖1 5所示，本實(shí)施例中，于絕緣主體的接口 11左右側(cè)設(shè)有限 位部12，限位部12為接口 11左右側(cè)凸起的垂直膠位，與絕緣主體
一體制作。實(shí)施時，左右限位部12的內(nèi)側(cè)面與被測連接器形成緊接 觸，限位部12起到限制、導(dǎo)向及穩(wěn)定連接的作用，由此提升連接的 速度及測試的穩(wěn)定性。限位部12的結(jié)構(gòu)、形狀可依據(jù)實(shí)際情況設(shè)計(jì)， 并不局限于上述情況。
權(quán)利要求1、測試用的電連接器，包括絕緣主體(10)、端子(20)，其特征在于絕緣主體的接口(11)為開放式設(shè)計(jì)，恰使端子接觸部(21)排列露置，達(dá)成被測連接器以壓接方式實(shí)現(xiàn)連接。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試用的電連接器，其特征在于于絕緣主體的接口 (11)左右側(cè)設(shè)有限位部(12)。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試用的電連接器，其特征在于限位部(12)為接口 (11)左右側(cè)凸起的膠位，與絕緣主體一體制作。
4、 根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的測試用的電連接器，其特征在于: 左右限位部(12)的內(nèi)側(cè)面與被測連接器形成緊接觸。
專利摘要本實(shí)用新型涉及電連接器技術(shù)領(lǐng)域，特指一種用于測試與其對接的連接器之電氣性能的電連接器。包括絕緣主體、端子，絕緣主體的接口為開放式設(shè)計(jì)，恰使端子接觸部排列露置，達(dá)成被測連接器以壓接方式實(shí)現(xiàn)連接；絕緣主體的接口左右側(cè)設(shè)有限位部。本實(shí)用新型將絕緣主體的接口開放式設(shè)計(jì)，以致與其對接的被測連接器可以壓接方式實(shí)現(xiàn)測試連接，測試操作相當(dāng)方便，有效提高測試效率；且測試的視覺效果更佳，有效保證測試的準(zhǔn)確性，減少誤差，減少對插損傷。
文檔編號H01R13/62GK201315384SQ200820205948
公開日2009年9月23日 申請日期2008年12月20日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月20日
發(fā)明者李重志 申請人:蔡添慶