專利名稱：電極卷繞裝置和電極卷繞方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及重疊卷繞帶狀電極和帶狀隔離物(s印arator)的電極卷繞裝置和電 極卷繞方法。另外，本國際申請要求基于2008年1月11日提交的日本專利申請第2008-004114 號的優(yōu)先權(quán)，該申請的全部內(nèi)容作為參照而編入到本說明書中。
背景技術(shù)：
例如在日本專利公報(bào)特開2007-161474號公報(bào)和特開平11-40144號公報(bào)中記載 了重疊卷繞帶狀電極和帶狀隔離物的電極卷繞裝置。在特開2007-161474號公報(bào)中，公開了隔著(夾著)帶狀隔離物而卷繞正、負(fù)電極 材料(帶狀電極)的卷繞裝置。在該公報(bào)中，公開了在對帶狀電極的蜿蜒延伸進(jìn)行校正的 裝置中檢測帶狀電極的邊緣的結(jié)構(gòu)。另外，在特開平11-40144號公報(bào)中，關(guān)于卷繞帶狀電 極的裝置，公開了如下裝置具有檢測帶狀電極的邊緣位置的邊緣位置檢測單元，基于由邊 緣位置檢測單元檢測到的邊緣位置來校正邊緣位置。在這些公報(bào)中，關(guān)于檢測邊緣的裝置， 均圖示了以在上下從外緣包圍帶狀電極的寬度方向上的邊緣部的方式延伸的檢測部。專利文獻(xiàn)1 特開2007-161474號公報(bào)(圖2)專利文獻(xiàn)2 特開平11-40144號公報(bào)(圖1 圖3)

發(fā)明內(nèi)容
當(dāng)制造重疊并卷繞帶狀電極和帶狀隔離物而成的卷繞電極體時(shí)，希望帶狀電極和 帶狀隔離物盡量不發(fā)生偏移地進(jìn)行卷繞。即，在帶狀電極具有涂布(coat) 了電極材料的涂 布部，該涂布部被作為絕緣體的帶狀隔離物覆蓋。當(dāng)涂布部超出帶狀隔離物時(shí)可能會(huì)導(dǎo)致 內(nèi)部短路，因此，帶狀電極被重疊為不超出帶狀隔離物。在上述的專利文獻(xiàn)1、2中，檢測送出的帶狀電極和帶狀隔離物的邊緣的邊緣檢測 單元具有檢測部，該檢測部以在上下從外緣包圍帶狀電極、帶狀隔離物的寬度方向上的邊 緣部的方式延伸。但是，該檢測部201 204例如如圖4所示，以在上下從外緣包圍帶狀電 極11、13、帶狀隔離物12、14的寬度方向上的邊緣部的方式延伸，因此必須在帶狀電極11、 13、帶狀隔離物12、14上下重疊之前配置該檢測部201 204。因此，設(shè)置邊緣檢測單元的 位置ql實(shí)際上離開了帶狀電極11、13、帶狀隔離物12、14重疊的位置q2。從檢測帶狀電極、 帶狀隔離物的位置的位置ql到兩者重疊的位置q2之間具有不小的距離，在位置ql與位置 q2之間進(jìn)行運(yùn)送的期間，兩者的位置可能會(huì)發(fā)生偏移。因此，有時(shí)兩者重疊并被卷繞了時(shí)的 偏移與檢測到的偏移存在差異，即使基于檢測到的偏移來校正帶狀電極、帶狀隔離物的位 置，有時(shí)也無法消除帶狀電極、帶狀隔離物的偏移。另外，由于檢測部201 204的構(gòu)造，上 述的邊緣檢測裝置無法檢測兩者被重疊卷繞了時(shí)的偏移。本發(fā)明提供的電極卷繞裝置重疊并卷繞帶狀電極和帶狀隔離物的電極卷繞裝置。 在此，帶狀隔離物是半透明的，電極卷繞裝置包括拍攝裝置，該拍攝裝置在重疊并卷繞帶狀電極和帶狀隔離物的部分，拍攝帶狀隔離物并透過帶狀隔離物拍攝帶狀電極。根據(jù)該電極 卷繞裝置，帶狀隔離物是半透明的，能夠通過拍攝裝置在重疊并卷繞帶狀電極和帶狀隔離 物的部分，拍攝帶狀隔離物并透過帶狀隔離物拍攝帶狀電極。帶狀電極可以具有偏向帶狀片材的寬度方向上的一側(cè)而涂布了電極材料的涂布 部，并且在帶狀片材的寬度方向上的相反側(cè)的邊緣部具有未涂布電極材料的未涂布部。在 該情況下，拍攝裝置可以被配置成拍攝出帶狀隔離物的邊緣和帶狀電極的涂布部的邊緣。 通過這樣來拍攝帶狀隔離物的邊緣和涂布部的邊緣，能夠基于該拍攝到的圖像來確認(rèn)涂布 部是否未超出隔離物。另外，電極卷繞裝置可以具備校正帶狀電極與帶狀隔離物之間的偏移的校正機(jī) 構(gòu)；和控制校正機(jī)構(gòu)的控制部?？刂撇靠梢詷?gòu)成為基于通過拍攝裝置拍攝到的圖像來檢測 帶狀隔離物與帶狀電極之間的偏移量，并基于該檢測出的偏移量來控制校正機(jī)構(gòu)以校正帶 狀隔離物與帶狀電極之間的偏移。在該情況下，電極卷繞裝置能夠校正帶狀電極與帶狀隔 離物之間的偏移，能夠高精度地重疊、卷繞帶狀電極和帶狀隔離物。另外，電極卷繞裝置可以構(gòu)成依次重疊并卷繞第一帶狀電極、第一帶狀隔離物、第 二帶狀電極、以及第二帶狀隔離物的裝置。在該情況下，可以包括第一拍攝裝置，在重疊并 卷繞第一帶狀電極和第一帶狀隔離物的部分，拍攝第一帶狀電極與第一帶狀隔離物之間的 寬度方向上的偏移。另外，可以包括第二拍攝裝置，在重疊并卷繞第二帶狀電極和第二帶狀 隔離物的部分，拍攝第二帶狀隔離物并透過第二帶狀隔離物拍攝第二帶狀電極，第二帶狀 隔離物是半透明的。在該情況下，即使在依次重疊并卷繞第一帶狀電極、第一帶狀隔離物、 第二帶狀電極、第二帶狀隔離物的裝置結(jié)構(gòu)中，也能夠拍攝第一帶狀電極和第二帶狀電極。第一帶狀電極和第二帶狀電極可以分別具有偏向帶狀片材的寬度方向上的一側(cè) 而涂布了電極材料的涂布部，并且分別在帶狀片材的寬度方向上的相反側(cè)的邊緣部具有未 涂布電極材料的未涂布部。在該情況下，第一拍攝裝置可以被配置成拍攝出第一帶狀隔離 物的邊緣和第一帶狀電極的涂布部的邊緣，第二拍攝裝置可以被配置成拍攝出第二帶狀隔 離物的邊緣和第二帶狀電極的涂布部的邊緣。通過這樣來拍攝帶狀隔離物的邊緣和涂布部 的邊緣，能夠基于該拍攝到的圖像來確認(rèn)涂布部是否未超出隔離物。另外，電極卷繞裝置可以包括校正第一帶狀電極與第一帶狀隔離物之間的偏移 的第一校正機(jī)構(gòu)；校正第二帶狀電極與第二帶狀隔離物之間的偏移的第二校正機(jī)構(gòu)；以及 控制第一校正機(jī)構(gòu)和第二校正機(jī)構(gòu)的控制部。在該情況下，控制部可以執(zhí)行第一控制，所述 第一控制是指基于通過第一拍攝裝置拍攝到的圖像來檢測第一帶狀電極與第一帶狀隔離 物之間的偏移量，并基于該偏移量來控制第一校正機(jī)構(gòu)以校正第一帶狀電極與第一帶狀隔 離物之間的偏移。另外，可以執(zhí)行第二控制，所述第二控制是指基于通過第二拍攝裝置拍 攝到的圖像來檢測第二帶狀電極與第二帶狀隔離物之間的偏移量，并基于該偏移量來控制 第二校正機(jī)構(gòu)以校正所述第二帶狀隔離物與所述第二帶狀電極之間的偏移?？刂撇靠梢詷?gòu)成執(zhí)行第三控制，所述第三控制是指基于通過第一拍攝裝置和第 二拍攝裝置拍攝到的圖像來檢測第一帶狀電極與第二帶狀電極之間的偏移量，并基于該檢 測出的偏移量來控制第一校正機(jī)構(gòu)和第二校正機(jī)構(gòu)以校正第一帶狀電極與第二帶狀電極 之間的偏移。通過該第三控制，例如能夠校正被卷繞的第一帶狀電極與第二帶狀電極的相 對位置。
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檢測帶狀電極與帶狀隔離物之間的偏移的偏移檢測方法，在重疊并卷繞帶狀電極 和帶狀隔離物時(shí)，檢測帶狀電極與帶狀隔離物之間的偏移。在該方法中，可以包括拍攝步 驟，在重疊了帶狀電極和帶狀隔離物的位置，透過帶狀隔離物拍攝帶狀電極，帶狀隔離物是 半透明的；以及偏移檢測步驟，基于通過拍攝步驟拍攝到的圖像來檢測帶狀電極與帶狀隔 離物之間的偏移。另外，偏移量測定方法測定帶狀電極與帶狀隔離物之間的偏移量。在該方法中， 可以包括拍攝步驟，在重疊了帶狀電極和帶狀隔離物的位置，透過帶狀隔離物拍攝帶狀電 極，帶狀隔離物是半透明的；以及算出步驟，基于通過拍攝步驟拍攝到的圖像來算出帶狀電 極與帶狀隔離物之間的偏移量。另外，帶狀電極存在具有偏向帶狀片材的寬度方向上的一側(cè)而涂布了電極材料的 涂布部、并且在帶狀片材的寬度方向上的相反側(cè)的邊緣部具有未涂布電極材料的未涂布部 的情況。在該情況下，可以在拍攝步驟中，在重疊了帶狀電極和帶狀隔離物的位置，拍攝帶 狀隔離物的邊緣和帶狀電極的涂布部的邊緣，在算出步驟中，基于通過拍攝步驟拍攝到的 圖像來算出帶狀隔離物的邊緣與所述帶狀電極的涂布部的邊緣之間的偏移量。另外，偏移量校正方法可以包括下述校正步驟，S卩，基于通過上述的偏移量測定方 法算出的偏移量，在重疊并卷繞帶狀電極和帶狀隔離物時(shí)，校正帶狀電極與帶狀隔離物之 間的偏移。另外，電極卷繞方法可以一邊通過偏移量校正方法校正帶狀電極與帶狀隔離物之 間的偏移，一邊重疊并卷繞帶狀電極和帶狀隔離物。


圖1是表示本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的卷繞電極體的圖。圖2是表示本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的電極卷繞裝置的立體圖。圖3是表示本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的卷繞電極體的電極構(gòu)造的、沿圖1的III-III 線的截面圖。圖4是表示具有邊緣檢測單元的電極卷繞裝置的側(cè)視圖。圖5是表示本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的電極卷繞裝置的重疊了帶狀正極與帶狀隔 離物的狀態(tài)的截面圖。圖6是表示本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的電極卷繞裝置的重疊了帶狀正極與帶狀隔 離物的狀態(tài)的俯視圖。圖7是表示本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的電極卷繞裝置的側(cè)視圖。圖8是表示本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的電極卷繞裝置的重疊了帶狀負(fù)極與帶狀隔 離物的狀態(tài)的截面圖。圖9是表示本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的電極卷繞裝置的重疊了帶狀負(fù)極與帶狀隔 離物的狀態(tài)的俯視圖。
具體實(shí)施例方式以下，基于附圖來說明本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的帶狀電極與帶狀隔離物的偏移檢 測方法、該偏移量測定方法、該偏移量校正方法、電極卷繞方法、以及電極卷繞裝置。需說明的是，對具有相同功能的構(gòu)件、部位標(biāo)注相同的附圖標(biāo)記。另外，各圖中的尺寸關(guān)系(長度、 寬度、厚度等)不反映實(shí)際的尺寸關(guān)系。本發(fā)明的這些方法和電極卷繞裝置100例如用于鋰離子二次電池等的卷繞電極 體的制造裝置。卷繞電極體10如圖1所示，依次重疊卷繞有帶狀正極11、第一帶狀隔離物 12、帶狀負(fù)極13、以及第二帶狀隔離物14。卷繞正負(fù)一對帶狀電極11、13和一對帶狀隔離 物12、14的電極卷繞裝置100如圖2所示，卷繞依次被重疊在卷繞軸101上的帶狀電極11、 13和帶狀隔離物12、14。從分別卷繞了帶狀電極11、13和帶狀隔離物12、14的輥21 24 供給該帶狀電極11、13和帶狀隔離物12、14。如圖1所示，正負(fù)的帶狀電極11、13分別具有偏向帶狀片材31、41的寬度方向上 的一側(cè)而涂布了電極材料32、42的涂布部11a、13a。在本實(shí)施方式中，涂布部11a、13a分別 涂布在帶狀片材31、41的兩面。另外，正負(fù)的帶狀電極11、13在帶狀片材31、41的寬度方 向上的相反側(cè)的邊緣部具有未涂布電極材料32、42的未涂布部llb、13b。在卷繞電極體10 的與卷繞方向正交的方向上的兩端(卷軸方向上的兩端)，帶狀正極11和帶狀負(fù)極13的 未涂布部lib、13b超出帶狀隔離物12、14。該帶狀正極11和帶狀負(fù)極13的未涂布部lib、 13b分別形成了卷繞電極體10的正極和負(fù)極的集電體llbl、13bl。圖3是依次重疊了帶狀 正極11、第一帶狀隔離物12、帶狀負(fù)極13、以及第二帶狀隔離物14的狀態(tài)下的寬度方向上 的截面圖。在該卷繞電極體10中，如圖1和圖3所示，帶狀正極11的涂布部Ila和帶狀負(fù)極 13的涂布部13a分別夾著帶狀隔離物12、14而相對。在該卷繞電極體10中，為了防止內(nèi)部 短路，希望帶狀正極11的涂布部Ila不超出帶狀負(fù)極13的涂布部13a。另外，同樣為了防 止內(nèi)部短路，希望帶狀正極11的涂布部Ila和帶狀負(fù)極13的涂布部13a各自不超出帶狀 隔離物12、14。但是，帶狀正極11的涂布部Ila的寬度和帶狀負(fù)極13的涂布部13a的寬度 在制造上可能存在誤差。另外，帶狀正極11、帶狀負(fù)極13、以及帶狀隔離物12、14被重疊時(shí) 可能會(huì)在寬度方向上發(fā)生偏移。因此，增大帶狀負(fù)極13的涂布部13a的寬度b與帶狀正極 11的涂布部Ila的寬度a之間的差(b_a)，并增大第一帶狀隔離物12和第二帶狀隔離物14 的寬度cl、c2與帶狀負(fù)極13的涂布部13a的寬度b之間的差((cl、c2)_b)，由此使得這些 誤差和/或偏移能夠被允許。如圖4所示，上述專利文獻(xiàn)1、2所記載的具有邊緣檢測單元的電極卷繞裝置200 具有檢測部201 204，該檢測部201 204以在上下從外緣包圍帶狀電極11、13以及帶狀 隔離物12、14的寬度方向上的邊緣部的方式延伸。該檢測部201 204以在上下從外緣包 圍帶狀電極11、13、帶狀隔離物12、14的寬度方向上的邊緣部的方式延伸，因此必須配置在 帶狀電極11、13、帶狀隔離物12、14離開的位置。對帶狀電極11、13、帶狀隔離物12、14的 位置進(jìn)行檢測的位置ql實(shí)際上離開了帶狀電極11、13以及帶狀隔離物12、14被重疊的位 置q2。從對帶狀電極11、13以及帶狀隔離物12、14的位置進(jìn)行檢測的位置ql到兩者被重 疊的位置q2之間存在著相當(dāng)大的距離，在位置ql與位置q2之間進(jìn)行運(yùn)送的期間，兩者的 位置可能會(huì)發(fā)生偏移。因此，即使基于在位置ql檢測到的兩者之間的偏移來校正帶狀電極 11、13、帶狀隔離物12、14的位置，有時(shí)也無法消除帶狀電極11、13、帶狀隔離物12、14的偏 移。另外，在該邊緣檢測單元中，如圖1所示，能夠檢測帶狀電極11、13的寬度方向上的兩側(cè)的邊緣lie、Ilf、13e、13f和帶狀隔離物12、14的寬度方向上的兩側(cè)的邊緣12a、12b、 14a、14b。但是，對于帶狀電極11、13的位置，在具有未涂布部lib、13b的一側(cè)難以直接地 檢測涂布部11a、13a的邊緣llg、13g。即，在該邊緣檢測單元中，在具有未涂布部lib、13b 的一側(cè)，對帶狀電極11、13的具有未涂布部lib、13b的一側(cè)的邊緣lle、13e的位置進(jìn)行檢 測。因此，根據(jù)該位置考慮未涂布部llb、13b的寬度來檢測帶狀電極11、13的涂布部11a、 13a的邊緣llg、13g。但是，由于未涂布部lib、13b的寬度存在偏差，因此檢測出的涂布部 Ila和13a的邊緣llg、13g存在誤差?？紤]該誤差或偏移而將上述差(b_a)設(shè)定得較大，由此使帶狀正極11的涂布部 Ila不超出帶狀負(fù)極13的涂布部13a。另外，同樣地，將上述差((cl、c2)_b)設(shè)定得較大， 使帶狀正極11的涂布部Ila和帶狀負(fù)極13的涂布部13a各自不超出帶狀隔離物12、14。本發(fā)明的發(fā)明者考慮了是否存在以下方法，即，能夠直接且高精度地檢測重疊的 帶狀電極11、13的涂布部11&、13￡1的寬度方向上的兩側(cè)的邊緣11廠118、13廠138和帶狀隔 離物12、14的寬度方向上的兩側(cè)的邊緣12a、12b、14a、14b。即，如果能夠直接且高精度地 檢測上述邊緣，則能夠更可靠地防止帶狀電極11、13和帶狀隔離物12、14的卷繞偏移。由 此，能夠減小上述差(b-a)、差((cl、c2)_b)。如果能夠減小上述差(b-a)、差((cl、c2)_b)， 則能夠相應(yīng)地降低制造成本(特別是帶狀電極和帶狀隔離物的材料成本)，提高電池的性 能。本發(fā)明的發(fā)明者經(jīng)過上述考慮而研究了直接且高精度地檢測帶狀電極11、13的涂布部 11a、13a的寬度方向上的兩側(cè)的邊緣Ilf、llg、13f、13g和帶狀隔離物12、14的寬度方向上 的兩側(cè)的邊緣12a、12b、14a、14b的各種方法和裝置。在該研究中，本發(fā)明的發(fā)明者發(fā)現(xiàn)在帶狀隔離物14為半透明的情況下，如圖5、 圖6所示，在重疊了帶狀電極13和帶狀隔離物14的狀態(tài)下，能夠透過帶狀隔離物14而看 到帶狀電極13的涂布部13a。本發(fā)明的發(fā)明者著眼于該情況而考慮了直接且高精度地檢測 該涂布部13a的寬度方向上的兩側(cè)的邊緣13f、13g和帶狀隔離物14的寬度方向上的兩側(cè) 的邊緣14a、14b的方法和裝置。在圖5中圖示出重疊了作為帶狀電極的帶狀負(fù)極13與第 二帶狀隔離物14的狀態(tài)，但是同樣地，在第一帶狀隔離物12為半透明的情況下，在重疊了 帶狀正極11和第一帶狀隔離物12的狀態(tài)下，也能夠透過第一帶狀隔離物12而看到帶狀正 極11的涂布部11a。首先，檢測帶狀電極13與帶狀隔離物14之間的偏移的偏移檢測方法如下如圖5 所示，帶狀隔離物14是半透明的，在重疊了帶狀電極13與帶狀隔離物14的位置透過帶狀 隔離物14對帶狀電極13進(jìn)行拍攝(拍攝步驟)。然后，基于通過該拍攝步驟拍攝到的圖像 來檢測帶狀電極13與帶狀隔離物14之間的偏移(偏移檢測步驟)。另外，測定該偏移量的 偏移量測定方法如下基于通過該拍攝步驟拍攝到的圖像來算出帶狀電極13與帶狀隔離 物14之間的偏移量(算出步驟)。另外，當(dāng)如圖5所示那樣該帶狀電極13具有偏向帶狀片材41的寬度方向上的一 側(cè)而涂布了電極材料的涂布部13a、在帶狀片材41的寬度方向上的相反側(cè)的邊緣部具有未 涂布電極材料的未涂布部13b時(shí)，可以為在拍攝步驟中，在重疊了帶狀電極13和帶狀隔離 物14的位置，拍攝帶狀隔離物14的邊緣14a、14b和帶狀電極13的涂布部13a的邊緣13f、 13g。并且，在該情況下，在算出偏移量的算出步驟中可以為基于通過拍攝步驟拍攝到的圖 像，算出帶狀隔離物14的邊緣14a、14b與帶狀電極13的涂布部13a的邊緣13f、13g之間
8的偏移量。另外，帶狀電極13與帶狀隔離物14的偏移量校正方法可以為基于通過上述的 偏移量測定方法算出的偏移量，在重疊卷繞帶狀電極13和帶狀隔離物14時(shí)校正帶狀電極 13與帶狀隔離物14之間的偏移量。并且，重疊卷繞帶狀電極13和帶狀隔離物14的電極卷 繞方法可以為一邊通過上述偏移量校正方法校正帶狀電極13與帶狀隔離物14之間的偏 移、一邊重疊卷繞帶狀電極13和帶狀隔離物14。以下，對實(shí)現(xiàn)了上述各種方法的電極卷繞裝置100進(jìn)行說明。如圖2和圖7所示，該電極卷繞裝置100是依次重疊、卷繞帶狀正極11 (第一帶狀 電極)、第一帶狀隔離物12、帶狀負(fù)極13 (第二帶狀電極)、以及第二帶狀隔離物14的裝置。 該電極卷繞裝置100包括第一拍攝裝置20，拍攝被重疊卷繞的帶狀正極11與第一帶狀隔 離物12之間的寬度方向上的偏移；以及第二拍攝裝置21，拍攝帶狀負(fù)極13與第二帶狀隔 離物14之間的寬度方向上的偏移。在此，“拍攝裝置”是拍攝目標(biāo)體的圖像的裝置。第一拍攝裝置20和第二拍攝裝 置21可以根據(jù)該電極卷繞裝置100的使用環(huán)境而采用適于拍攝帶狀電極11、13以及帶狀 隔離物12、14并具有所需要的拍攝功能的拍攝裝置。在本實(shí)施方式中，第一拍攝裝置20和 第二拍攝裝置21采用具有所需要的拍攝功能的相機(jī)，更具體地說采用數(shù)字照相機(jī)或數(shù)字 攝像機(jī)。另外，“拍攝裝置”不限于數(shù)字照相機(jī)或數(shù)字?jǐn)z像機(jī)，還包括識別目標(biāo)體的圖像的圖 像識別裝置(例如具有圖像傳感器等的裝置)。該第一拍攝裝置20和第二拍攝裝置21與控制部400連接，通過第一拍攝裝置20 和第二拍攝裝置21拍攝獲得的信息被傳送給控制部400?？刂撇?00包括由CPU等構(gòu)成的 運(yùn)算部和由非易失性存儲(chǔ)器等構(gòu)成的存儲(chǔ)部，該控制部400按照預(yù)先設(shè)定的程序來進(jìn)行該 電極卷繞裝置100的各種電子的運(yùn)算處理和各部位的控制。如圖2和圖7所示，第一拍攝裝置20從上方拍攝在第一帶狀隔離物12上重疊了 帶狀正極11的部位。第一拍攝裝置20從上方拍攝在第一帶狀隔離物12上重疊了帶狀正 極11的部位，能夠如圖8所示那樣拍攝帶狀正極11與第一帶狀隔離物12之間的寬度方向 上的偏移。在本實(shí)施方式中，如圖8所示，第一拍攝裝置20包括拍攝寬度方向上的兩側(cè)的邊 緣部的兩臺(tái)拍攝裝置20a、20b。如圖9所示，寬度方向上的一側(cè)的拍攝裝置20a能夠拍攝第 一帶狀隔離物12從帶狀正極11的邊緣Ilf超出(露出)的狀態(tài)。并且，拍攝獲得的信息 被傳送給控制部400?？刂撇?00能夠基于該拍攝獲得的信息(圖像)并利用現(xiàn)有的圖像 處理技術(shù)，根據(jù)帶狀正極11的涂布部Ila的顏色、第一帶狀隔離物12的顏色、以及背景的 顏色之間的差異，檢測帶狀正極11的邊緣Ilf的位置和第一帶狀隔離物12的邊緣12b的 位置。并且，能夠基于檢測到的帶狀正極11的邊緣Ilf的位置和第一帶狀隔離物12的邊 緣12b的位置，檢測第一帶狀隔離物12超出帶狀正極11的涂布部Ila的邊緣Ilf的量si。另外，寬度方向上的相反側(cè)的拍攝裝置20b能夠拍攝帶狀正極11的邊緣lie和帶 狀正極11的涂布部Ila的邊緣llg?？刂撇?00能夠基于由拍攝裝置20b拍攝到的圖像， 檢測這些邊緣lie和Ilg的位置。需說明的是，由于第一帶狀隔離物12的邊緣12a成為帶 狀正極11的背側(cè)，因此不會(huì)被拍攝在由拍攝裝置20b拍攝到的圖像上，控制部400無法檢 測該邊緣12a。其次，如圖2和圖7所示，第二拍攝裝置21從下方拍攝在帶狀負(fù)極13之下重疊了第二帶狀隔離物14的部位。另外，在本實(shí)施方式中，第二帶狀隔離物14是半透明的。在本 實(shí)施方式中，如圖5所示，第二拍攝裝置21包括分別拍攝寬度方向上的兩側(cè)的邊緣部的兩 臺(tái)拍攝裝置21a、21b。該兩臺(tái)拍攝裝置21a、21b拍攝被重疊卷繞的帶狀負(fù)極13和第二帶 狀隔離物14。此時(shí)，由于帶狀負(fù)極13與第二帶狀隔離物14相重疊，因此該兩臺(tái)拍攝裝置 21a、21b能夠透過第二帶狀隔離物14拍攝帶狀電極13。如圖6所示，寬度方向上的一側(cè)的拍攝裝置21a能夠拍攝第二帶狀隔離物14的邊 緣14a。進(jìn)一步，能夠透過第二帶狀隔離物14拍攝帶狀負(fù)極13的涂布部13a。并且，拍攝 獲得的信息被傳送給控制部400。控制部400能夠基于該拍攝獲得的信息(圖像)并利用 現(xiàn)有的圖像處理技術(shù)，根據(jù)第二帶狀隔離物14的顏色與背景的顏色的差異，檢測第二帶狀 隔離物14的邊緣14a的位置。進(jìn)一步，控制部400能夠根據(jù)第二帶狀隔離物14的顏色與 透過第二帶狀隔離物14拍攝出的帶狀負(fù)極13的涂布部13a的顏色之間的差異，檢測涂布 部13a的邊緣13f的位置。并且，能夠基于檢測到的第二帶狀隔離物14的邊緣14a的位置 和、檢測到的帶狀負(fù)極13的涂布部13a的邊緣13f的位置，檢測第二帶狀隔離物14超出帶 狀負(fù)極13的涂布部13a的量s2。另外，寬度方向上的相反側(cè)的拍攝裝置21b能夠拍攝帶狀負(fù)極13的相反側(cè)的邊緣 13e和第二帶狀隔離物14的相反側(cè)的邊緣14b。進(jìn)一步，在本實(shí)施方式中，由于第二帶狀隔 離物14是半透明的，因此拍攝到與第二帶狀隔離物14重疊的帶狀負(fù)極13的涂布部13a的 相反側(cè)的邊緣13g?？刂撇?00能夠根據(jù)帶狀負(fù)極13的顏色與背景的顏色之間的差異，檢 測帶狀負(fù)極13的相反側(cè)的邊緣13e的位置。另外，能夠根據(jù)帶狀負(fù)極13的顏色與第二帶 狀隔離物14的顏色之間的差異，檢測第二帶狀隔離物14的邊緣14b的位置。進(jìn)一步，控制 部400能夠根據(jù)第二帶狀隔離物14的顏色與透過第二帶狀隔離物14拍攝到的帶狀負(fù)極13 的涂布部13a的顏色的差異，檢測帶狀負(fù)極13的涂布部13a的邊緣13g的位置。并且，能 夠根據(jù)第二帶狀隔離物14的邊緣14b和帶狀負(fù)極13的涂布部13a的邊緣13g的位置，檢 測第二帶狀隔離物14超出帶狀負(fù)極13的涂布部13a的量s3。在本實(shí)施方式中，通過圖8所示的第一拍攝裝置20 (在本實(shí)施方式中為上述的拍 攝裝置20a)，能夠在寬度方向上的一側(cè)檢測第一帶狀隔離物12超出帶狀正極11的涂布部 Ila的邊緣Ilf的量Si。如果基于該檢測出的si進(jìn)一步考慮第一帶狀隔離物12的寬度cl 和帶狀正極11的涂布部Ila的寬度a的被允許的尺寸誤差，則能夠檢測涂布部Ila是否未 超出第一帶狀隔離物12。另外，在本實(shí)施方式中，如圖5所示，控制部400基于通過第二拍 攝裝置21 (在本實(shí)施方式中為上述的兩臺(tái)拍攝裝置21a、21b)拍攝到的圖像，能夠在寬度方 向上的兩側(cè)檢測第二帶狀隔離物14超出帶狀負(fù)極13的涂布部13a的量s2、s3。如果基于 該檢測出的s2和s3中的某一個(gè)進(jìn)一步考慮第二帶狀隔離物14的寬度和帶狀負(fù)極13的涂 布部13a的寬度的被允許的尺寸誤差，則能夠檢測涂布部13a是否未從第二帶狀隔離物14 露出。在本實(shí)施方式中，如圖7所示，第一拍攝裝置20配置成拍攝帶狀正極11和第一帶 狀隔離物12被重疊卷繞的部分q3。另外，第二拍攝裝置21配置成拍攝帶狀負(fù)極13和第 二帶狀隔離物14被重疊卷繞的部分q4。帶狀正極11與第一帶狀隔離物12、以及帶狀負(fù)極 13與第二帶狀隔離物14各自基本上不偏離該位置q3、q4而被卷繞。該電極卷繞裝置100 在該位置q3、q4檢測帶狀正極11和第一帶狀隔離物12、以及帶狀負(fù)極13和第二帶狀隔離物14的寬度方向上的位置。即，該電極卷繞裝置100實(shí)質(zhì)上能夠直接且高精度地檢測構(gòu)成 卷繞電極體10的帶狀正極11和第一帶狀隔離物12、以及帶狀負(fù)極13和第二帶狀隔離物 14的寬度方向上的位置。該電極卷繞裝置100基于該圖像檢測帶狀正極11與第一帶狀隔 離物12之間的、以及帶狀負(fù)極13與第二帶狀隔離物14之間的寬度方向上的偏移量。進(jìn)一 步，電極卷繞裝置100基于該檢測出的偏移量來校正帶狀正極11與第一帶狀隔離物12之 間的、以及帶狀負(fù)極13與第二帶狀隔離物14之間的寬度方向上的偏移。由此，該電極卷繞 裝置100能夠高精度地校正帶狀正極11與第一帶狀隔離物12之間的、以及帶狀負(fù)極13與 第二帶狀隔離物14之間的偏移。S卩，在本實(shí)施方式中，如圖7所示，電極卷繞裝置100包括第一校正機(jī)構(gòu)301和 302、第二校正機(jī)構(gòu)303和304、以及控制部400。第一校正機(jī)構(gòu)301、302校正帶狀正極11 (第一帶狀電極)與第一帶狀隔離物12 之間的偏移。第二校正機(jī)構(gòu)303、304校正帶狀負(fù)極13(第一帶狀電極)與第二帶狀隔離物 14之間的偏移?？刂撇?00控制第一校正機(jī)構(gòu)302、302和第二校正機(jī)構(gòu)303、304。在本實(shí)施方式 中，控制部400基于通過第一拍攝裝置20拍攝到的圖像，檢測帶狀正極11與第一帶狀隔離 物12之間的偏移量。在本實(shí)施方式中，如上所述，能夠檢測第一帶狀隔離物12超出帶狀正 極11的涂布部Ila的邊緣Ilf的量Si?？刂撇繉υ搒i預(yù)先確定了的預(yù)定值作為基準(zhǔn)值 SlO進(jìn)行存儲(chǔ)，算出差(sl-slO)來作為帶狀正極11與第一帶狀隔離物12之間的偏移量。 并且，基于該偏移量來控制第一校正機(jī)構(gòu)301、302以校正帶狀正極11與第一帶狀隔離物12 之間的偏移(第一控制)。另外，控制部400基于通過第二拍攝裝置21拍攝到的圖像，檢測帶狀負(fù)極13與第 二帶狀隔離物14之間的偏移量。在本實(shí)施方式中，如上所述，控制部400能夠基于通過第 二拍攝裝置21 (在本實(shí)施方式中為上述的兩臺(tái)拍攝裝置21a、21b)拍攝到的圖像，在寬度方 向上的兩側(cè)檢測第二帶狀隔離物14超出帶狀負(fù)極13的涂布部13a的量s2、s3。并且，控 制部400將對該s2和s3中的某一方預(yù)先確定了的預(yù)定值作為基準(zhǔn)值s20、s30預(yù)先進(jìn)行存 儲(chǔ)，算出差(s2-s20)或(s3-s30)來作為帶狀負(fù)極13與第二帶狀隔離物14之間的偏移量。 并且，基于該偏移量來控制第二校正機(jī)構(gòu)303、304以校正帶狀負(fù)極13與第二帶狀隔離物14 之間的偏移(第二控制)。通過執(zhí)行該第一控制和第二控制，能夠校正帶狀正極11與第一帶狀隔離物12之 間的偏移、以及帶狀負(fù)極13與第二帶狀隔離物14之間的偏移。由此，能夠校正帶狀正極11 與第一帶狀隔離物12之間的偏移、以及帶狀負(fù)極13與第二帶狀隔離物14之間的偏移，使 得帶狀正極11的涂布部Ila和帶狀負(fù)極13的涂布部13a各自不超出帶狀隔離物12、14。 由此，能夠防止由帶狀正極11的涂布部Ila和帶狀負(fù)極13的涂布部13a各自超出帶狀隔 離物12、14而導(dǎo)致的內(nèi)部短路。另外，在本實(shí)施方式中，第一拍攝裝置20和第二拍攝裝置21被固定在電極卷繞裝 置100的預(yù)定位置。如圖6和圖9所示，控制部400能夠基于通過第一拍攝裝置20和第二 拍攝裝置21拍攝到的圖像，檢測帶狀正極11與帶狀負(fù)極13的相對偏移量。如上所述，能 夠基于通過第一拍攝裝置20(拍攝裝置20a、20b)拍攝到的圖像，檢測帶狀正極11的涂布 部Ila的邊緣llf、Ilg相對于第一拍攝裝置20的相對位置。進(jìn)一步，能夠基于通過第二拍
11攝裝置21 (拍攝裝置21a、21b)拍攝到的圖像，檢測帶狀負(fù)極13的涂布部13a的邊緣13f、 13g相對于第二拍攝裝置21的相對位置。并且，由于第一拍攝裝置20和第二拍攝裝置21 被固定在電極卷繞裝置100的預(yù)定位置，因此如圖3所示，能夠基于這些邊緣IlfUlg和邊 緣13f、13g的相對的位置關(guān)系，算出在寬度方向上的兩側(cè)帶狀負(fù)極13的涂布部13a超出帶 狀正極11的涂布部Ila的s5、s6。并且，在本實(shí)施方式中，控制部400將對該s5和s6中的某一方預(yù)先確定了的預(yù)定 值作為基準(zhǔn)值s50、s60預(yù)先進(jìn)行存儲(chǔ)，算出差(s5-s50)或(s6-s60)來作為帶狀正極11與 帶狀負(fù)極13之間的偏移量。并且，基于該偏移量來控制第一校正機(jī)構(gòu)301、302和第二校正 機(jī)構(gòu)303、304以校正帶狀正極11與帶狀負(fù)極13之間的偏移(第三控制)。通過執(zhí)行該第 三控制，能夠校正帶狀正極11與帶狀負(fù)極13之間的偏移。由此，能夠校正帶狀正極11與 帶狀負(fù)極13之間的偏移，使得帶狀正極11的涂布部Ila不超出帶狀負(fù)極13的涂布部13a。 由此，能夠防止由于帶狀正極11的涂布部Ila和帶狀負(fù)極13的涂布部13a各自超出帶狀 隔離物12、14而導(dǎo)致的內(nèi)部短路。根據(jù)該電極卷繞裝置100，如圖5所示，帶狀隔離物14是半透明的，在帶狀電極13 和帶狀隔離物14被重疊并被卷繞的部分具有拍攝裝置21，該拍攝裝置21拍攝帶狀隔離物 14并透過帶狀隔離物14拍攝帶狀電極13。根據(jù)該拍攝裝置21，由于帶狀隔離物14是半透 明的，因此能夠在重疊了帶狀電極13和帶狀隔離物14的位置透過帶狀隔離物14拍攝帶狀 電極13。例如，在該圖像上，透過帶狀隔離物14拍攝出帶狀電極13的涂布部13a，能夠基 于該圖像直接地檢測該涂布部13a的邊緣13f、13g的位置。根據(jù)該電極卷繞裝置100，如圖7所示，依次重疊卷繞第一帶狀電極11、第一帶狀 隔離物12、第二帶狀電極13、第二帶狀隔離物14。在該情況下，第一拍攝裝置20可以在第 一帶狀電極11和第一帶狀隔離物12被重疊卷繞的部分設(shè)置在第一帶狀電極11的上方。并 且，第二拍攝裝置21可以在第二帶狀電極13和第二帶狀隔離物14被重疊卷繞的部分設(shè)置 在第二帶狀隔離物14的下方。即，即使在依次重疊卷繞第一帶狀電極11、第一帶狀隔離物 12、第二帶狀電極13、第二帶狀隔離物14的結(jié)構(gòu)中，也可以朝向第一帶狀電極11和第一帶 狀隔離物12被重疊卷繞的部分q3來設(shè)置第一拍攝裝置20。另外，可以朝向第二帶狀電極 13和第二帶狀隔離物14被重疊卷繞的部分q4來設(shè)置第二拍攝裝置21。這樣，能夠通過在 設(shè)備方面也簡單的結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)該電極卷繞裝置100。另外，根據(jù)該電極卷繞裝置100，如圖2和圖7所示，帶狀隔離物14是半透明的。 因此，能夠通過拍攝裝置21在重疊、卷繞帶狀電極13和帶狀隔離物14的部分，拍攝帶狀隔 離物14，并且透過帶狀隔離物14拍攝帶狀電極13。另外，根據(jù)該電極卷繞裝置100，能夠在 第一帶狀電極11和第一帶狀隔離物12被重疊卷繞的部分q3、以及第二帶狀電極13和第二 帶狀隔離物14被重疊卷繞的部分q4進(jìn)行檢測。這些部分q3、q4處的檢測是無法通過邊緣 檢測單元來實(shí)現(xiàn)的。另外，根據(jù)該電極卷繞裝置100，能夠直接且高精度地檢測如上述那樣 被重疊的帶狀電極11、13的涂布部11a、13a的寬度方向上的兩側(cè)的邊緣Ilf、llg、13f、13g 和帶狀隔離物12、14的寬度方向上的兩側(cè)的邊緣12a、12b、14a、14b。因此，該電極卷繞裝置 100能夠更可靠地防止帶狀電極11、13與帶狀隔離物12、14的卷繞偏移。由此，如圖1所 示，能夠縮小差(b-a)、差((cl、c2)_b)。進(jìn)一步，由于能夠縮小差(b-a)、差((cl、c2)_b)， 因此相應(yīng)地能夠降低制造成本(特別是帶狀電極和帶狀隔離物的材料成本)。
以上說明了本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的電極卷繞裝置、帶狀電極與帶狀隔離物之間 的偏移檢測方法、該偏移量測定方法、該偏移量校正方法、以及電極卷繞方法，但是本發(fā)明 不限于上述實(shí)施方式。例如，電極卷繞裝置不限于如上述實(shí)施方式那樣依次重疊卷繞第一帶狀電極、第 一帶狀隔離物、第二帶狀電極、以及第二帶狀隔離物的裝置。本發(fā)明可以適用于重疊卷繞帶 狀電極和帶狀隔離物的各種電極卷繞裝置。在該情況下，可以為使帶狀隔離物為半透明， 具備在重疊、卷繞帶狀電極和帶狀隔離物的部分拍攝帶狀隔離物并透過帶狀隔離物來拍攝 帶狀電極的拍攝裝置。另外，在上述實(shí)施方式中，例示了依次重疊卷繞第一帶狀電極11、第一帶狀隔離物 12、第二帶狀電極13、以及第二帶狀隔離物14的裝置。雖然省略了圖示，但是在本實(shí)施方式 中，可以交換帶狀正極11和帶狀負(fù)極13。在該情況下，可以為透過帶狀隔離物拍攝帶狀正 極。另外，在上述拍攝步驟中，在以能夠透過帶狀隔離物14拍攝到帶狀電極13的程度 使帶狀隔離物14與帶狀電極13重疊的狀態(tài)下進(jìn)行拍攝。雖然如上所述可以在帶狀電極 13與帶狀隔離物14完全重疊的狀態(tài)下進(jìn)行拍攝，但是只要能夠透過帶狀隔離物14拍攝到 帶狀電極13，也可以在帶狀電極13與帶狀隔離物14之間存在間隙的狀態(tài)下進(jìn)行拍攝。另 外，可以適當(dāng)?shù)剡x擇所需要的背景、半透明的帶狀隔離物14的顏色、照明的顏色和/或亮度 等，使得在背景、半透明的帶狀隔離物14的顏色、以及透過帶狀隔離物14拍攝到的帶狀電 極13的顏色產(chǎn)生差異。以上例示了各種變形例，但是本發(fā)明的變形例不限于在此所例示的 變形例。產(chǎn)業(yè)上的可利用性根據(jù)本發(fā)明的結(jié)構(gòu)，能夠提供重疊卷繞帶狀電極和帶狀隔離物的電極卷繞裝置。
權(quán)利要求
一種電極卷繞裝置，該電極卷繞裝置重疊并卷繞帶狀電極和帶狀隔離物，所述帶狀隔離物是半透明的，所述電極卷繞裝置包括拍攝裝置，該拍攝裝置在重疊并卷繞所述帶狀電極和所述帶狀隔離物的部分，拍攝所述帶狀隔離物并透過所述帶狀隔離物拍攝所述帶狀電極。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電極卷繞裝置，其中，所述帶狀電極具有偏向帶狀片材的寬度方向上的一側(cè)而涂布了電極材料的涂布部，并 且在所述帶狀片材的寬度方向上的相反側(cè)的邊緣部具有未涂布電極材料的未涂布部，所述拍攝裝置被配置成拍攝出所述帶狀隔離物的邊緣和所述帶狀電極的涂布部的邊緣。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電極卷繞裝置，其中，包括 校正所述帶狀電極與所述帶狀隔離物之間的偏移的校正機(jī)構(gòu)；和 控制所述校正機(jī)構(gòu)的控制部，所述控制部基于通過所述拍攝裝置拍攝到的圖像來檢測所述帶狀隔離物與所述帶狀 電極之間的偏移量，并基于該檢測出的偏移量來控制所述校正機(jī)構(gòu)以校正所述帶狀隔離物 與所述帶狀電極之間的偏移。
4.一種電極卷繞裝置，該電極卷繞裝置依次重疊并卷繞第一帶狀電極、第一帶狀隔離 物、第二帶狀電極、以及第二帶狀隔離物，所述電極卷繞裝置包括第一拍攝裝置，在重疊并卷繞所述第一帶狀電極和所述第一帶狀隔離物的部分，拍攝 所述第一帶狀電極與所述第一帶狀隔離物之間的寬度方向上的偏移；和第二拍攝裝置，在重疊并卷繞所述第二帶狀電極和所述第二帶狀隔離物的部分，拍攝 所述第二帶狀隔離物并透過所述第二帶狀隔離物拍攝所述第二帶狀電極，所述第二帶狀隔 離物是半透明的。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電極卷繞裝置，其中，所述第一帶狀電極和第二帶狀電極分別具有偏向帶狀片材的寬度方向上的一側(cè)而涂 布了電極材料的涂布部，并且分別在所述帶狀片材的寬度方向上的相反側(cè)的邊緣部具有未 涂布電極材料的未涂布部，所述第一拍攝裝置被配置成拍攝出所述第一帶狀隔離物的邊緣和所述第一帶狀電極 的涂布部的邊緣，所述第二拍攝裝置被配置成拍攝出所述第二帶狀隔離物的邊緣和所述第二帶狀電極 的涂布部的邊緣。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的電極卷繞裝置，其中，包括校正所述第一帶狀電極與所述第一帶狀隔離物之間的偏移的第一校正機(jī)構(gòu)； 校正所述第二帶狀電極與所述第二帶狀隔離物之間的偏移的第二校正機(jī)構(gòu)；以及 控制所述第一校正機(jī)構(gòu)和所述第二校正機(jī)構(gòu)的控制部， 所述控制部執(zhí)行第一控制和第二控制，所述第一控制是指基于通過所述第一拍攝裝置拍攝到的圖像來檢測所述第一帶狀電 極與所述第一帶狀隔離物之間的偏移量，并基于該偏移量來控制所述第一校正機(jī)構(gòu)以校正 所述第一帶狀電極與所述第一帶狀隔離物之間的偏移，所述第二控制是指基于通過所述第二拍攝裝置拍攝到的圖像來檢測所述第二帶狀電極與所述第二帶狀隔離物之間的偏移量，并基于該偏移量來控制所述第二校正機(jī)構(gòu)以校正 所述第二帶狀隔離物與所述第二帶狀電極之間的偏移。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電極卷繞裝置，其中，所述控制部執(zhí)行第三控制，所述第三控制是指基于通過所述第一拍攝裝置和第二拍 攝裝置拍攝到的圖像來檢測所述第一帶狀電極與第二帶狀電極之間的偏移量，并基于該檢 測出的偏移量來控制所述第一校正機(jī)構(gòu)和所述第二校正機(jī)構(gòu)以校正所述第一帶狀電極與 所述第二帶狀電極之間的偏移。
8.一種偏移檢測方法，在重疊并卷繞帶狀電極和帶狀隔離物時(shí)檢測帶狀電極與帶狀隔 離物之間的偏移，所述偏移檢測方法包括拍攝步驟，在重疊了所述帶狀電極和所述帶狀隔離物的位置，透過所述帶狀隔離物拍 攝所述帶狀電極，所述帶狀隔離物是半透明的；以及偏移檢測步驟，基于通過所述拍攝步驟拍攝到的圖像來檢測帶狀電極與帶狀隔離物之 間的偏移。
9.一種偏移量測定方法，在重疊并卷繞帶狀電極和帶狀隔離物時(shí)測定帶狀電極與帶狀 隔離物之間的偏移量，所述偏移量測定方法包括拍攝步驟，在重疊了所述帶狀電極和所述帶狀隔離物的位置，透過所述帶狀隔離物拍 攝所述帶狀電極，所述帶狀隔離物是半透明的；以及算出步驟，基于通過所述拍攝步驟拍攝到的圖像來算出帶狀電極與帶狀隔離物之間的 偏移量。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的偏移量測定方法，其中，所述帶狀電極具有偏向帶狀片材的寬度方向上的一側(cè)而涂布了電極材料的涂布部，并 且在所述帶狀片材的寬度方向上的相反側(cè)的邊緣部具有未涂布電極材料的未涂布部，在所述拍攝步驟中，在重疊了所述帶狀電極和所述帶狀隔離物的位置，拍攝所述帶狀 隔離物的邊緣和所述帶狀電極的涂布部的邊緣，在所述算出步驟中，基于通過所述拍攝步驟拍攝到的圖像來算出所述帶狀隔離物的邊 緣與所述帶狀電極的涂布部的邊緣之間的偏移量。
11.一種偏移量校正方法，包括下述校正步驟，即，基于通過權(quán)利要求9或10所述的偏 移量測定方法算出的偏移量，在重疊并卷繞帶狀電極和帶狀隔離物時(shí)，校正所述帶狀電極 與所述帶狀隔離物之間的偏移。
12.一種電極卷繞方法，一邊通過權(quán)利要求11所述的偏移量校正方法校正所述帶狀電 極與所述帶狀隔離物之間的偏移，一邊重疊并卷繞所述帶狀電極和帶狀隔離物。
全文摘要
本發(fā)明提供的偏移檢測方法檢測帶狀電極(13)與帶狀隔離物(14)之間的偏移。在此，帶狀隔離物(14)是半透明的。在該方法中，首先，在重疊了帶狀電極(13)和帶狀隔離物(14)的位置，透過帶狀隔離物(14)拍攝帶狀電極(13)(拍攝步驟)。然后，基于通過該拍攝步驟拍攝到的圖像來檢測帶狀電極(13)與帶狀隔離物(14)之間的偏移(偏移檢測步驟)。另外，測定該偏移量的偏移量測定方法基于通過上述拍攝步驟拍攝到的圖像來算出帶狀電極(13)與帶狀隔離物(14)之間的偏移量。
文檔編號H01M10/04GK101911365SQ200880124369
公開日2010年12月8日 申請日期2008年12月12日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月11日
發(fā)明者土屋憲司, 堀秀樹, 竹田政貴 申請人:豐田自動(dòng)車株式會(huì)社