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      晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置的制作方法

      文檔序號(hào):6947309閱讀:247來源:國知局
      專利名稱:晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置,尤其涉及一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單且精度高的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置。
      背景技術(shù)
      目前,在芯片封裝工序中晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)大都存在著檢測(cè)誤差大,調(diào)整的機(jī)構(gòu)比較單一,檢測(cè)手段簡(jiǎn)單,造成檢測(cè)不準(zhǔn)確,或檢測(cè)準(zhǔn)確而讀取數(shù)值不準(zhǔn)確等等的問題。從而導(dǎo)致封裝成品合格率降低,生產(chǎn)成本大大提高,資源浪費(fèi)嚴(yán)重。并且現(xiàn)有的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置大多價(jià)格昂貴。

      發(fā)明內(nèi)容
      為了解決現(xiàn)有技術(shù)中的上述問題,本發(fā)明提供了一種晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置,其包括大理石平臺(tái)、設(shè)置在大理石平臺(tái)之上的XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)、安裝在XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)之上的視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu)、圖像放大顯示單元和讀數(shù)顯示單元,其中,所述大理石平臺(tái)為基準(zhǔn)平臺(tái),被測(cè)晶圓在基準(zhǔn)平臺(tái)上順滑地移動(dòng);所述XY移動(dòng)機(jī)構(gòu),設(shè)置在大理石平臺(tái)上,所述XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)安裝有光柵尺;所述視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu),其安裝在XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)上并沿X方向和Y方向移動(dòng),所述視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括具有鏡頭的攝像頭,通過所述XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)移動(dòng)攝像頭,將攝像頭的鏡頭對(duì)準(zhǔn)被測(cè)晶圓的檢測(cè)凸點(diǎn);以及所述讀數(shù)顯示單元為光柵尺的讀數(shù)顯示表。根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案,可以在顯示器上直觀地觀察晶圓存在的缺陷,并且用光柵尺直接顯示讀數(shù),可以更準(zhǔn)確、更迅速地讀出正確數(shù)值,大大提高檢測(cè)效率和質(zhì)量,而且與現(xiàn)有產(chǎn)品相比,本發(fā)明的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作簡(jiǎn)便、維護(hù)和調(diào)試方便。


      圖1示意性示出了根據(jù)本發(fā)明的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置的原理圖;圖2是根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置的立體圖;圖3是根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置的主視圖;圖4是根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置的俯視圖。
      具體實(shí)施例方式下面,結(jié)合附圖詳細(xì)描述根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。參照?qǐng)D1-4,根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置包括大理石平臺(tái)1,大理石平臺(tái)1提供支撐和作為被測(cè)物放置面,其上表面具有研磨級(jí)的精度,被測(cè)物在基準(zhǔn)平臺(tái)上可以順滑地移動(dòng),而不會(huì)被劃傷。XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)包括x方向?qū)к?,實(shí)現(xiàn)左右X方向移動(dòng);Y方向?qū)к?和4,實(shí)現(xiàn)前后Y方向移動(dòng);Y方向螺旋微調(diào)單元9,可實(shí)現(xiàn)Y方向微小距離的調(diào)整,這種調(diào)整使機(jī)器的檢測(cè)的精度大大提高;X方向螺旋微調(diào)單元8,可實(shí)現(xiàn)X方向微小距離的調(diào)整,從而使左右X方向檢測(cè)精度大大提高。視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu)可以通過上下微調(diào)單元13來調(diào)節(jié)攝像頭12成像的清晰度,使被測(cè)點(diǎn)清晰地顯示在顯示器上面,鏡頭14上有放大倍率調(diào)整旋鈕,可連續(xù)調(diào)節(jié)放大倍率。根據(jù)本實(shí)施例的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置用光柵尺6和 7來精確測(cè)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)的移動(dòng)量,讀出的數(shù)值顯示在數(shù)字顯示屏2上。檢測(cè)時(shí),把被測(cè)物放置到大理石平臺(tái)上,通過X方向?qū)к?以及Y方向?qū)к?和4 來粗調(diào)移動(dòng)攝像頭12,把攝像頭12移動(dòng)到需要檢測(cè)的區(qū)域,讓攝像頭12的鏡頭14對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)凸點(diǎn)。攝像頭12讀取的圖像可以直接實(shí)時(shí)地在顯示器2上顯示出來,可以實(shí)現(xiàn)最大250 倍(對(duì)于17寸顯示器)的放大,而且顯示器2是測(cè)量專用顯示器,圖像中心顯示細(xì)十字線, 方便用十字線對(duì)準(zhǔn)被測(cè)位置。鏡頭14帶有手動(dòng)調(diào)焦功能,可以連續(xù)順滑調(diào)整0. 7-4. 5倍的放大倍率,可以在大范圍觀察與細(xì)微測(cè)量之間平緩轉(zhuǎn)換。鏡頭可以手動(dòng)上下粗調(diào)和微調(diào),其中粗調(diào)便于對(duì)應(yīng)不同高度的被測(cè)物,微調(diào)用于對(duì)準(zhǔn)焦距,使被測(cè)物清晰顯現(xiàn)。根據(jù)本實(shí)施例的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置可以放大觀察也可以精密測(cè)量。需要觀察時(shí), 首先把攝像頭12大致移動(dòng)到需要觀察的區(qū)域,可以在顯示器2上觀察物體。首先把鏡頭14 的倍率調(diào)到較低倍率,這樣可以擴(kuò)大觀察范圍,變動(dòng)倍率的同時(shí),上下微調(diào)鏡頭14的高度, 使圖像達(dá)到最清晰的程度。然后,需要放大觀察局部微小之處時(shí),首先微動(dòng)調(diào)整鏡頭14沿 XY方向移動(dòng),使顯示器上的十字線對(duì)準(zhǔn)被測(cè)點(diǎn),把鏡頭倍率變大的同時(shí)調(diào)節(jié)鏡頭14上下移動(dòng),使圖像清晰。就可以清晰的觀察放大250倍的特征了。需要測(cè)量時(shí),同樣,先用小的倍率找到需要測(cè)量的點(diǎn),再放大倍率調(diào)清圖像,通過微調(diào)機(jī)構(gòu)讓攝像頭對(duì)準(zhǔn)需要檢測(cè)的位置, 即通過觀察顯示器2,讓十字線對(duì)準(zhǔn)被測(cè)特征起始位置。這時(shí),把光柵尺讀數(shù)清零,再移動(dòng)攝像頭12,讓其對(duì)準(zhǔn)被測(cè)特征的終了位置,鏡頭的移動(dòng)準(zhǔn)確的反映到了微米級(jí)光柵尺上,所以兩點(diǎn)的相對(duì)距離就可以直觀地顯示在光柵尺顯示表上。通過整套系統(tǒng),可以方便地測(cè)量特征的精確尺寸,兩點(diǎn)間的精確距離等。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn)1)檢測(cè)直觀,準(zhǔn)確可以通過攝像頭把圖像清晰準(zhǔn)確地呈現(xiàn)在顯示器上,測(cè)量的數(shù)據(jù)可以通過光柵尺準(zhǔn)確地呈現(xiàn)在顯示表上,方便觀察,有利于減小檢測(cè)誤差。2)操作簡(jiǎn)單方便實(shí)現(xiàn)對(duì)準(zhǔn)位置只需要調(diào)整精密滑動(dòng)平臺(tái)的微分頭,鏡頭上的手動(dòng)旋鈕可以連續(xù)調(diào)整放大倍率以及對(duì)準(zhǔn)焦距使物象清晰。3)調(diào)試簡(jiǎn)便機(jī)構(gòu)比較簡(jiǎn)單,調(diào)試起來非常簡(jiǎn)單。4)檢測(cè)范圍廣攝像頭移動(dòng)范圍400*400mm,完全可以對(duì)應(yīng)12寸晶圓。5)性價(jià)比高根據(jù)本發(fā)明的裝置成本要比同類產(chǎn)品低,實(shí)現(xiàn)的功能卻是一樣的。6)檢測(cè)穩(wěn)定使用大理石平臺(tái),減少震動(dòng),提高檢測(cè)的精度。7)結(jié)構(gòu)新穎攝像頭移動(dòng)機(jī)構(gòu)采用導(dǎo)軌和精密滑動(dòng)平臺(tái)2級(jí)機(jī)構(gòu),既可以方便地大范圍移動(dòng),又可以微細(xì)調(diào)整。本說明書中所述的只是本發(fā)明的幾種較佳具體實(shí)施例,以上實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非對(duì)本發(fā)明的限制。凡本領(lǐng)域技術(shù)人員依本發(fā)明的構(gòu)思通過邏輯分析、 推理或者有限的實(shí)驗(yàn)可以得到的技術(shù)方案,皆應(yīng)在本發(fā)明的范圍之內(nèi)。
      權(quán)利要求
      1.一種晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置,其特征在于,包括大理石平臺(tái)、設(shè)置在大理石平臺(tái)之上的 XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)、安裝在XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)之上的視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu)、圖像放大顯示單元和讀數(shù)顯示單元,其中,所述大理石平臺(tái)為基準(zhǔn)平臺(tái),被測(cè)晶圓在基準(zhǔn)平臺(tái)上順滑地移動(dòng);所述XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)置在大理石平臺(tái)上,所述XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)安裝有光柵尺;所述視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu),其安裝在XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)上并沿X方向和Y方向移動(dòng),所述視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括具有鏡頭的攝像頭,通過所述XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)移動(dòng)攝像頭,將攝像頭的鏡頭對(duì)準(zhǔn)被測(cè)晶圓的檢測(cè)凸點(diǎn);所述讀數(shù)顯示單元為光柵尺的讀數(shù)顯示表。
      2.如權(quán)利要求1所述的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)包括進(jìn)行粗調(diào)的直線導(dǎo)軌和進(jìn)行微調(diào)的精密直線移動(dòng)單元。
      3.如權(quán)利要求2所述的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述進(jìn)行粗調(diào)的直線導(dǎo)軌包括X方向直線導(dǎo)軌和Y方向直線導(dǎo)軌。
      4.如權(quán)利要求2所述的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述進(jìn)行微調(diào)的精密直線移動(dòng)單元包括X方向螺旋微調(diào)單元和Y方向螺旋微調(diào)單元。
      5.如權(quán)利要求1所述的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述讀數(shù)顯示單元是光柵尺的讀數(shù)顯示表。
      6.如權(quán)利要求1所述的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述圖像放大顯示單元是檢測(cè)用顯示器。
      7.如權(quán)利要求1所述的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述鏡頭具有手動(dòng)調(diào)焦功能。
      8.如權(quán)利要求7所述的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述鏡頭能夠連續(xù)順滑調(diào)整 0. 7-4. 5倍的放大倍率。
      9.如權(quán)利要求1所述的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述光柵尺為微米級(jí)的。
      全文摘要
      本發(fā)明公開了一種晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置,包括大理石平臺(tái)、設(shè)置在大理石平臺(tái)之上的XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)、安裝在XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)之上的視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu)、圖像放大顯示單元和讀數(shù)顯示單元,其中大理石平臺(tái)為基準(zhǔn)平臺(tái),其上表面具有研磨級(jí)的精度,被測(cè)晶圓在基準(zhǔn)平臺(tái)上順滑地移動(dòng),而不會(huì)劃傷被測(cè)晶圓的表面;XY移動(dòng)機(jī)構(gòu)包括進(jìn)行粗調(diào)的直線導(dǎo)軌和進(jìn)行微調(diào)的精密直線移動(dòng)單元;視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括攝像頭和照明單元,攝像頭的鏡頭具有手動(dòng)調(diào)焦功能。根據(jù)本發(fā)明,可在顯示器上直觀地觀察晶圓存在的缺陷,而用光柵尺直接顯示讀數(shù),則可更準(zhǔn)確、更迅速地讀出正確數(shù)值,大大提高檢測(cè)效率和質(zhì)量,而且與現(xiàn)有產(chǎn)品相比,本發(fā)明的晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作簡(jiǎn)便、維護(hù)和調(diào)試方便。
      文檔編號(hào)H01L21/66GK102299087SQ20101021001
      公開日2011年12月28日 申請(qǐng)日期2010年6月25日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月25日
      發(fā)明者劉勁松, 徐光宇, 李小平 申請(qǐng)人:上海微松工業(yè)自動(dòng)化有限公司, 上海微電子裝備有限公司
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