專利名稱：卷繞有金屬箔的屏蔽電線的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種卷繞有金屬箔的屏蔽電線，其中使用圍著被覆導(dǎo)線(coated conductive wire)卷繞的金屬箔材和沿著該被覆導(dǎo)線的長度設(shè)置的加蔽線(drain wire) 來作為屏蔽層。
背景技術(shù)：
對于汽車內(nèi)的電氣布線，特別是容易受噪聲影響或容易產(chǎn)生噪聲的設(shè)備的電氣布線，使用一種在進(jìn)行信號傳送的內(nèi)部導(dǎo)體周圍具有電屏蔽層的屏蔽電線。市面上可得的屏蔽電線通常包含進(jìn)行信號傳送的內(nèi)部導(dǎo)體、圍繞該內(nèi)部導(dǎo)體而包裹的絕緣層、起到包裹該絕緣層外周的屏蔽層的作用的外部導(dǎo)體以及覆蓋該外部導(dǎo)體的外周的絕緣外套。通常，通過擠壓模塑來形成所述絕緣層和絕緣外套。相比于不具有屏蔽層的普通被覆導(dǎo)線，市面上可得的屏蔽電線是昂貴的。由于該屏蔽電線具有高的彎曲強(qiáng)度，所以其裝配可用性是差的。代替市面上可得的昂貴的屏蔽電線，已經(jīng)制造出車載線束等的制造者已經(jīng)引進(jìn)了卷繞有金屬箔的屏蔽電線，其中，作為裸露導(dǎo)體的加蔽線沿著一般的被覆導(dǎo)線的長度而設(shè)置，并且金屬箔材卷繞在該被覆導(dǎo)線和加蔽線周圍，使得所卷繞的金屬箔材用作為屏蔽層 (例如，參見專利文獻(xiàn)1和2)。在卷繞有金屬箔的屏蔽電線中，例如使用在絕緣膜的一個側(cè)表面上形成金屬箔層的一種金屬箔膜來作為金屬箔材。該金屬箔膜在使金屬箔層指向內(nèi)側(cè)的同時圍著被覆導(dǎo)線和加蔽線的外周而卷繞，使得該金屬箔層與加蔽線相接觸，并且該金屬箔層與加蔽線處于電連接狀態(tài)。通過使從被覆導(dǎo)線的端部延伸的加蔽線的端部接地，能夠使屏蔽層容易地接地。由于卷繞有金屬箔的屏蔽電線具有高的可彎性，所以與市面上可得的屏蔽電線相比，提升了其裝配可用性。由于能夠容易地改變芯線的數(shù)量，所以卷繞有金屬箔的屏蔽電線適合于待安裝在車輛中的線束的屏蔽布線，其中所要包含的芯線的數(shù)量根據(jù)要安裝在車輛中的設(shè)備而改變。引用列表專利文獻(xiàn)[專利文獻(xiàn) l]JP-A-2009-93934[專利文獻(xiàn) 2]JP-A-2007-31104
發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)問題然而，在其中的被覆導(dǎo)線和加蔽線的外周被金屬箔膜簡單卷繞的所述卷繞有金屬箔的屏蔽電線中，金屬箔膜的卷繞可能因裝配電線時的彎曲或其它原因而局部松弛。因此， 金屬箔層的一部分可能會容易地從加蔽線分離。如果該金屬箔層從加蔽線局部分離，那么金屬箔層有效地起到屏蔽層作用的長度會發(fā)生變化。因此，與市面上可得的屏蔽電線相比， 所述屏蔽電線具有屏蔽性能變差或者發(fā)生屏蔽性能變化的問題。為了克服所述問題，例如，可以通過在完成用金屬箔膜卷繞的工序之后，檢查在金屬箔層與加蔽線之間是否存在未接觸部分并且利用導(dǎo)電粘膠來填充金屬箔層從加蔽線分離所在的部分，使金屬箔層與加蔽線的電連接狀態(tài)穩(wěn)定。然而，進(jìn)行粘接改善工序增加了所述卷繞有金屬箔的屏蔽電線的制造工序。因此，導(dǎo)體粘膠的使用量增多，制造成本上升。本發(fā)明的一個目的是，為了解決所述問題，提供一種卷繞有金屬箔的屏蔽電線，其展現(xiàn)出優(yōu)異的屏蔽性能并且通過簡單的制造工序來制造從而降低了制造成本。解決問題的手段通過下述構(gòu)造來實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的。(1) 一種卷繞有金屬箔的屏蔽電線，包括被覆導(dǎo)線；加蔽線，該加蔽線沿著所述被覆導(dǎo)線的長度設(shè)置，并且在該被覆導(dǎo)線的端部處接地；以及金屬箔材，該金屬箔材卷繞在所述被覆導(dǎo)線和加蔽線周圍，并且形成了覆蓋所述被覆導(dǎo)線和加蔽線的外周的屏蔽層，其中，所述金屬箔材的位于所述被覆導(dǎo)線兩端附近的兩端或兩端附近的位置是電連接于所述加蔽線的箔電連接部。所述(1)中描述的卷繞有金屬箔的屏蔽電線，其中所述加蔽線設(shè)置在所述被覆導(dǎo)線的兩端的規(guī)定長度處。根據(jù)上面(1)所述的構(gòu)造，卷繞在被覆導(dǎo)線和加蔽線的外周周圍的金屬箔材的兩端或兩端附近的位置電連接于加蔽線。在該狀態(tài)下，即使在被覆導(dǎo)線的長度方向上的中部處金屬箔材沒有與加蔽線接觸，卷繞有金屬箔的屏蔽電線也能夠展現(xiàn)出與金屬箔材在被覆導(dǎo)線的大致整個長度上與加蔽線接觸的情況下相同的優(yōu)異屏蔽性能。因此，可以穩(wěn)定地制造高質(zhì)量的卷繞有金屬箔的屏蔽電線，而不會引起屏蔽性能的改變。在利用金屬箔材來卷繞被覆導(dǎo)線和加蔽線的外周的工序之后，不需要進(jìn)行用于檢查在電線的縱向的中部中所述金屬箔材與加蔽線之間是否存在未接觸部分的工序，或者利用導(dǎo)電粘膠來填充未接觸部分的工序。因此，簡化了制造工序，使得制造成本能夠減少。根據(jù)上面(2)所述的構(gòu)造，與加蔽線在被覆導(dǎo)線的整個長度上延伸的情況相比， 由于金屬箔層和加蔽線的導(dǎo)體剖面積減小，屏蔽性能略微變差。然而，所實(shí)現(xiàn)的屏蔽性能是相對令人滿意的，并且在使用范圍內(nèi)是足夠的。如果加蔽線所設(shè)置的范圍被限定在被覆導(dǎo)線的兩端處的規(guī)定長度，那么減少了加蔽線的使用量。由于使用材料的減少，能夠?qū)崿F(xiàn)成本降低、重量降低以及排布性(可彎性)提尚。


圖1是根據(jù)本發(fā)明的卷繞有金屬箔的屏蔽電線的一個實(shí)施例的透視圖。圖2是用于評價本發(fā)明效果的所述卷繞有金屬箔的屏蔽電線的模擬模型的水平剖視圖。
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圖3是示出了在被覆導(dǎo)線的長度是IOcm并且存在金屬箔材被剝離的被剝離部分的情況下，通過改變加蔽線與金屬箔材之間的接觸程度而由測量屏蔽性能得到的測量結(jié)果的圖表。圖4是示出了在圖3所示的兩端的兩個點(diǎn)處接觸的情況下，通過測量各個接觸點(diǎn)處的接觸電阻值對屏蔽性能的影響而得到的測量結(jié)果的圖表。圖5是示出了在圖3的各個模擬中，通過利用筒狀導(dǎo)體覆蓋被剝離部分的周圍而測量不存在被剝離部分的狀態(tài)下屏蔽性能，以查明存在被剝離部分的情況下和不存在被剝離部分的情況下的影響而獲得的結(jié)果的圖表。圖6是示出了在圖5的其中金屬箔材的兩端與加蔽線接觸的模擬中，通過增加該加蔽線與金屬箔材之間的接觸點(diǎn)而由測量屏蔽性能獲得的測量結(jié)果的圖表。圖7是示出了在圖2所示的剖面構(gòu)造中，在被覆導(dǎo)線的電線長度是50cm并且末端具有金屬箔材被剝離的被剝離部分的情況下，通過改變加蔽線與金屬箔材之間的接觸程度 (接觸點(diǎn)位置)而由測量屏蔽性能而獲得的測量結(jié)果的圖表。圖8是在圖7所示的各個模擬中，通過利用筒狀導(dǎo)體覆蓋被剝離部分的周圍來測量在不存在被剝離部分的狀態(tài)下的屏蔽性能而獲得的圖表，以查明存在被剝離部分的情況下和不存在被剝離部分的情況下的影響。圖9是在圖8的不存在被剝離部分的模擬中，測量將設(shè)置加蔽線的范圍限制在金屬箔材兩端的情況下的影響而獲得的圖表。圖IOA是在金屬箔與加蔽線沒有彼此接觸的狀態(tài)下屏蔽電線的剖視圖，而圖IOB 是在金屬箔與加蔽線彼此接觸的狀態(tài)下屏蔽電線的剖視圖。參考標(biāo)記列表1卷繞有金屬箔的屏蔽電線IA卷繞有金屬箔的屏蔽電線3被覆導(dǎo)線3a 芯線3b絕緣覆蓋層4被覆導(dǎo)線6加蔽線8金屬箔材聚乙烯膜8b鋁箔層(金屬箔層)9連接端子11箔電連接部13粘接帶B1、B2被剝離部分
具體實(shí)施例方式下文中，將參照附圖來詳細(xì)說明本發(fā)明的卷繞有金屬箔的屏蔽電線的優(yōu)選實(shí)施例。
圖1是根據(jù)本發(fā)明的卷繞有金屬箔的屏蔽電線的一個實(shí)施例的透視圖。在該實(shí)施例中，卷繞有金屬箔的屏蔽電線1通過沒有屏蔽層的兩根被覆導(dǎo)線3和 4、沿著該被覆導(dǎo)線3和4的長度設(shè)置的加蔽線6以及圍著該被覆導(dǎo)線3和4以及加蔽線6 卷繞并且形成覆蓋所述被覆導(dǎo)線3和4以及加蔽線6的周圍的屏蔽層(導(dǎo)電層)的金屬箔材構(gòu)造而成。加蔽線6是具有與所述被覆電線3和4的芯線(導(dǎo)體)大致相等的剖面積的裸線。 該加蔽線6的長度與被覆導(dǎo)線3和4的長度大致相等。連接端子9連接于被覆導(dǎo)線3和4 以及加蔽線6的各個端部。加蔽線6在位于被覆導(dǎo)線3和4的端部處的設(shè)備等的接地部處接地。通過在聚乙烯膜的一側(cè)表面上設(shè)置具有20 μ m厚度的鋁箔層而形成金屬箔材8。 該鋁箔層起到屏蔽層的作用。金屬箔材8卷繞在被覆導(dǎo)線3和4以及加蔽線6的外周周圍， 同時該鋁箔層指向內(nèi)側(cè)。該鋁箔層與加蔽線6接觸，使得所卷繞的金屬箔材8電連接于加蔽線6。在該實(shí)施例中，被金屬箔材8卷繞的范圍被設(shè)定為比各個被覆導(dǎo)線3和4的長度略短。如此，被金屬箔卷繞的屏蔽電線1的末端具有被剝離部分Bl和B2，其中各個被覆導(dǎo)線3和4沒有被金屬箔8覆蓋。在該實(shí)施例中，金屬箔材8的位于被覆導(dǎo)線3和4兩端附近的兩端是電連接于加蔽線6的箔電連接部11。該箔電連接部11維持金屬箔材8的金屬箔層(鋁箔層)確定地與加蔽線6接觸的狀態(tài)。在該實(shí)施例中，經(jīng)由粘接帶13的接合與固定使金屬箔層與加蔽線 6接觸。然而，用于使金屬箔層與加蔽線接觸的手段不限于利用粘接帶13的接合與固定。 例如，可是使用利用導(dǎo)電粘膠的粘接固定。在卷繞有金屬箔的屏蔽電線1中，卷繞在被覆導(dǎo)線3和4的外周周圍的金屬箔材 8的兩個端部電連接于加蔽線6。在該狀態(tài)下，即使金屬箔材8在被覆導(dǎo)線3和4的縱向上的中部處沒有與加蔽線6接觸，該卷繞有金屬箔的屏蔽電線1也展現(xiàn)出與金屬箔材8在被覆導(dǎo)線3和4的幾乎整個長度上與加蔽線6接觸的情況同樣的優(yōu)異屏蔽性能。因此，可以穩(wěn)定地制造高質(zhì)量的卷繞有金屬箔的屏蔽電線，而不會引起屏蔽性能的改變。在用于將被覆導(dǎo)線3和4以及加蔽線6的外周用金屬箔材8卷繞的工序之后，不需要進(jìn)行用于檢查金屬箔材8與加蔽線6之間在電線的縱向中部處是否存在未接觸部分的工序，以及利用導(dǎo)電粘膠填充未接觸部分的工序。因此，制造工序簡化，使得能夠降低制造成本。下文中，將描述由本發(fā)明的發(fā)明人已經(jīng)進(jìn)行的多種屏蔽效果評價實(shí)驗(yàn)(模擬)，以確認(rèn)上述作用和效果的結(jié)果。在各實(shí)驗(yàn)中，替代卷繞有金屬箔的屏蔽電線1，使用圖2的水平剖面圖中的卷繞有金屬箔的屏蔽電線IA來作為用于評價的基本模型。通過從圖1所示的卷繞有金屬箔的屏蔽電線1去除被覆導(dǎo)線4，圖2中所示的卷繞有金屬箔的屏蔽電線IA具有單芯。在圖2的卷繞有金屬箔的屏蔽電線IA中，被覆電線3是無鹵素電線，其中，具有 0. 35mm2標(biāo)稱截面積的芯線3a的周圍被具有2. 9相對介電常數(shù)的絕緣覆蓋層北所覆蓋。在卷繞有金屬箔的屏蔽電線IA中，加蔽線6具有與芯線3a相同的標(biāo)稱截面積并且是未施加有絕緣覆蓋層的裸露導(dǎo)體。在加蔽線6的兩端接地的狀態(tài)下進(jìn)行評估實(shí)驗(yàn)。在卷繞有金屬箔的屏蔽電線IA中，通過在聚乙烯膜8a的一側(cè)表面上設(shè)置具有 20 μ m厚度的鋁箔層8b而形成金屬箔材8。由于金屬箔材8圍著被覆導(dǎo)線3和加蔽線6的外周而卷繞，所以在大多數(shù)情況下并不是實(shí)際形成圖2所示的正圓形。圖3是示出了在被覆導(dǎo)線3的導(dǎo)線長度是IOcm并且末端具有剝離了金屬箔材8 的被剝離部分Bl和B2(參見圖1)的基本條件下，通過改變加蔽線6與金屬箔材8之間的接觸程度，由測量屏蔽性能得到的六個測量結(jié)果fl至f6的圖表。在圖3中，在圍著被覆導(dǎo)線3和加蔽線6卷繞的金屬箔材8在由該金屬箔材8所卷繞的范圍的整個長度上電連接于加蔽線6的情況下，得到了測量結(jié)果fl。在該情況下，實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)異的屏蔽效果。在從其得到了測量結(jié)果fl的所述由金屬箔8卷繞的屏蔽電線的情況下，為了確保金屬箔材8的整個長度與加蔽線6接觸的狀態(tài)，在用金屬箔材8卷繞的工序之后，進(jìn)行粘接改善工序，即，檢查在金屬箔層與加蔽線之間是否存在未接觸部分，并且利用導(dǎo)電粘膠填充金屬箔層從加蔽線分離所在的部分。在圍著被覆導(dǎo)線3和加蔽線6卷繞的金屬箔材8的兩端的兩個點(diǎn)電連接于加蔽線 6的情況下，得到了圖3中的測量結(jié)果f2。不進(jìn)行將所卷繞的金屬箔材8的整個范圍電連接到加蔽線6的粘接改善工序。在將金屬箔材8的兩端電連接到加蔽線6時，使用圖1中所示的利用粘接帶13的接合與固定。在測量結(jié)果f2中，相比于測量結(jié)果1，屏蔽效果的降低是極為細(xì)微的。該測量結(jié)果 f2展現(xiàn)出與測量結(jié)果Π幾乎相等的屏蔽效果。測量結(jié)果f3和f4與測量結(jié)果f2的類似之處在于金屬箔材8的兩端的兩個點(diǎn)電連接于加蔽線6。然而，金屬箔材8與加蔽線6之間的接觸位置不是金屬箔材8的兩端。在測量結(jié)果f3中，接觸位置是從端部朝著內(nèi)側(cè)移動了 IOmm的位置。在測量結(jié)果f4中，接觸位置是從端部朝著內(nèi)側(cè)移動了 20mm的位置。測量結(jié)果f3的屏蔽效果低于測量結(jié)果f2的屏蔽效果。測量結(jié)果f4的屏蔽效果低于測量結(jié)果f3的屏蔽效果。即，隨著金屬箔材8與加蔽線6之間的接觸位置從金屬箔材 8的兩端朝著內(nèi)側(cè)移動，屏蔽效果降低。確認(rèn)了金屬箔材8與加蔽線6之間的最優(yōu)接觸位置是卷繞在被覆導(dǎo)線3和加蔽線6周圍的金屬箔材8的兩端。測量結(jié)果f5和f6是由根據(jù)是否設(shè)置金屬箔材8來測量對屏蔽效果的影響而得到的。在測量結(jié)果f5中，金屬箔材8僅僅卷繞在被覆導(dǎo)線3和加蔽線6的外周周圍。沒有進(jìn)行通過粘接帶13的接合等來確定地使金屬箔材8與加蔽線6接觸。測量結(jié)果f5的屏蔽效果明顯低于測量結(jié)果f4的屏蔽效果。確認(rèn)了單純地用金屬箔材8卷繞并不能實(shí)現(xiàn)足夠的屏蔽效果。在不具有鋁箔層8b的聚乙烯膜8a卷繞在被覆導(dǎo)線3和加蔽線6的外周周圍的情況下，得到了測量結(jié)果f6。測量結(jié)果f6的屏蔽效果相比于測量結(jié)果f5進(jìn)一步降低。圖3中所示的模擬確認(rèn)了當(dāng)卷繞在被覆導(dǎo)線3和加蔽線6周圍的金屬箔材8的兩端與加蔽線6接觸(導(dǎo)電)時，即使其中部沒有與加蔽線6接觸，也能夠?qū)崿F(xiàn)與整個長度與加蔽線6接觸的情況大致相等的屏蔽效果。隨著金屬箔材8與加蔽線6之間的接觸位置從
7兩端朝著內(nèi)側(cè)移動，屏蔽效果降低。然而，如果從兩端朝著內(nèi)側(cè)的移動量小，屏蔽效果的降低是微弱的。嚴(yán)格來說，不需要將金屬箔材8與加蔽線6之間的接觸位置限制于卷繞在被覆導(dǎo)線3和加蔽線6周圍的金屬箔材8的兩端。例如，即使將接觸位置設(shè)定在該金屬箔材8兩端附近的位置(例如，距兩端IOmm之內(nèi))，金屬箔材8也能展現(xiàn)出優(yōu)異的屏蔽性能。確認(rèn)了能夠在不導(dǎo)致屏蔽性能的改變的情況下得到高質(zhì)量的卷繞有金屬箔的屏蔽電線。當(dāng)金屬箔材8的兩端或兩端附近的位置與加蔽線6接觸時，即使金屬箔材8的中部沒有與加蔽線6接觸，屏蔽效果也是相同的。還確認(rèn)了 能夠通過不進(jìn)行粘接改善工序， 即，檢查在金屬箔材8的中部處該金屬箔層8與加蔽線6之間是否存在未接觸部分，或者利用導(dǎo)電粘膠填充該未接觸部分，而簡化了制造工序從而降低了制造成本。圖4是除了對于圖3中的兩端的兩個點(diǎn)處的接觸的測量結(jié)果f2之外，還通過改變各個接觸點(diǎn)處的接觸電阻值來測量屏蔽性能而獲得的圖表，以查明各個接觸點(diǎn)處的接觸電阻值對屏蔽性能的影響。圖4示出了當(dāng)接觸電阻值被設(shè)定為ΙπιΩ時的測量結(jié)果fll，當(dāng)接觸電阻被設(shè)定為 IOmQ時的測量結(jié)果fl2，當(dāng)接觸電阻被設(shè)定為ΙΟΟπιΩ時的測量結(jié)果f 13，以及當(dāng)接觸電阻被設(shè)定為1 Ω時的測量結(jié)果f 14。嚴(yán)格來說，屏蔽效果趨于隨著接觸電阻值的增大而降低。然而，在接觸電阻值的模擬變化范圍內(nèi)(ΙπιΩ至1 Ω)，不存在實(shí)質(zhì)的屏蔽性能降低。因此，當(dāng)金屬箔材8的兩端經(jīng)由利用粘接帶13的接合等而與加蔽線6接觸時，不會發(fā)生由接觸電阻值導(dǎo)致的屏蔽性能的改變。確認(rèn)了在本發(fā)明的金屬箔卷繞的屏蔽線中實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的屏蔽性能。圖5是通過利用筒狀導(dǎo)體(覆蓋物)覆蓋被剝離部分(圖1中的部分Bl和Β2) 的周圍，測量在沒有被剝離部分的狀態(tài)下的屏蔽性能而獲得的圖表，以查明在有被剝離部分的情況下和沒有被剝離部分的情況下的影響。在圖5中，測量結(jié)果f21是在所卷繞的金屬箔材8的整個長度電連接于加蔽線6的情況下而得到的，并且對應(yīng)于圖3的測量結(jié)果Π。測量結(jié)果f22是在所卷繞的金屬箔材8 的兩端的兩個點(diǎn)電連接于加蔽線6的情況下而得到的，并且對應(yīng)于圖3的測量結(jié)果f2。測量結(jié)果f23是在從所卷繞的金屬箔材8的兩端朝著內(nèi)側(cè)移動了 IOmm的兩個點(diǎn)電連接于加蔽線6的情況下而得到的，并且對應(yīng)于圖3的測量結(jié)果f3。測量結(jié)果 4是在從所卷繞的金屬箔材8的兩端朝著內(nèi)側(cè)移動了 20mm的兩個點(diǎn)電連接于加蔽線6的情況下而得到的，并且對應(yīng)于圖3的測量結(jié)果f4。測量結(jié)果f25是在所卷繞的金屬箔材8沒有電連接于加蔽線 6的情況下而得到的，并且對應(yīng)于圖3的測量結(jié)果f5。從測量結(jié)果f21、f22、f23、f24等，確認(rèn)了在不存在被剝離部分的情況下，屏蔽效果略微提高。如果需要更優(yōu)異的屏蔽性能，優(yōu)選利用筒狀導(dǎo)體覆蓋卷繞有金屬箔的屏蔽電線的兩端處的被剝離部分。此外，圖5示出了在金屬箔材8的端部沒有經(jīng)由加蔽線6接地而是直接接地的情況下所得到的測量結(jié)果f20。與其中電連接于金屬箔材8的整個長度的加蔽線6的兩端接地的測量結(jié)果f21相比，測量結(jié)果f20展現(xiàn)出顯著優(yōu)異的屏蔽效果。
因此，如果可能，優(yōu)選將卷繞有金屬箔的屏蔽電線中所設(shè)置在金屬箔材8的兩端直接接地。圖6相對于圖5的測量結(jié)果f22增加了模擬，其中接觸點(diǎn)的數(shù)量增加。圖6中的測量結(jié)果f22(3)是通過在金屬箔材8和加蔽線6之間的接觸位置是三個點(diǎn)，即，金屬箔材8的兩端和中部的情況下測量屏蔽效果而得到的。測量結(jié)果f22(5)是通過在金屬箔材8和加蔽線6之間的接觸位置是五個點(diǎn)，即，金屬箔材8的兩端和中間的三個部分的情況下測量屏蔽效果而得到的。在測量結(jié)果f22 (3)和f22 (5)與測量結(jié)果f22之間沒有發(fā)現(xiàn)差異。該測量結(jié)果確認(rèn)了只要金屬箔材8和加蔽線6之間的接觸位置是兩個點(diǎn)，即，金屬箔材8的兩端，就足夠了。圖7是示出了在圖2所示的剖面構(gòu)造中，在被覆導(dǎo)線的電線長度是50cm并且末端具有金屬箔材被剝離的被剝離部分(5mm)的情況下，通過改變加蔽線與金屬箔材之間的接觸程度(接觸點(diǎn)位置)而測量屏蔽性能所獲得的測量結(jié)果f51至f55的圖表。從圖7中的測量結(jié)果與圖3中的測量結(jié)果的比較，能夠評估電線長度的影響。在圖7中，測量結(jié)果f41是在卷繞在被覆導(dǎo)線3和加蔽線6周圍的金屬箔材8在該金屬箔材 8所卷繞的整個長度上電連接于加蔽線6的情況下得到的。該測量結(jié)果f41在圖7所示的模擬中展現(xiàn)出最優(yōu)異的屏蔽效果。圖7中的測量結(jié)果f42是在卷繞在被覆導(dǎo)線3和加蔽線6周圍的金屬箔材8的兩端的兩個點(diǎn)電連接于加蔽線6的情況下得到的。測量結(jié)果f42如圖3的模擬中那樣，展現(xiàn)出與其中金屬箔材8的整個長度與加蔽線6接觸的測量結(jié)果f41大致相等的屏蔽效果。測量結(jié)果f43和f44與測量結(jié)果f42的相同之處在于，金屬箔材8的兩端的兩個點(diǎn)連接于加蔽線6。然而，在測量結(jié)果f43和f44中，金屬箔材8與加蔽線6之間的接觸位置不是金屬箔材8的兩端。在測量結(jié)果f43中，接觸位置是從端部朝內(nèi)側(cè)移動了 20mm的位置。在測量結(jié)果f44中，接觸位置是從端部朝內(nèi)側(cè)移動了 50mm的位置。測量結(jié)果f43中的屏蔽效果低于測量結(jié)果f42中的屏蔽效果。測量結(jié)果f44中的屏蔽效果低于測量結(jié)果f43中的屏蔽效果。隨著金屬箔材8與加蔽線6之間的接觸位置從金屬箔材8的兩端朝著內(nèi)側(cè)移動，屏蔽效果降低。這種趨勢等同于圖3的模擬中的趨勢。確認(rèn)了金屬箔材8與加蔽線6之間的最優(yōu)接觸位置是卷繞在被覆導(dǎo)線3和加蔽線6周圍的金屬箔材8的兩端。測量結(jié)果f45是通過根據(jù)是否設(shè)置金屬箔材8而測量對屏蔽性能的影響而得到的。在測量結(jié)果f45中，金屬箔材8僅僅卷繞在被覆導(dǎo)線3和加蔽線6的外周周圍，并且沒有進(jìn)行通過粘接帶13的接合等來使金屬箔材8與加蔽線6彼此確定地接觸。測量結(jié)果f45中的屏蔽效果明顯低于測量結(jié)果f44中的屏蔽效果。確認(rèn)了通過單純地利用金屬箔材8卷繞不能實(shí)現(xiàn)足夠的屏蔽效果。從圖7中的測量結(jié)果與圖3中的測量結(jié)果的比較，確認(rèn)了當(dāng)金屬箔材8的兩端與加蔽線6接觸時，無論電線長度為何，都能夠?qū)崿F(xiàn)優(yōu)異的屏蔽效果，該效果大致等于在金屬箔材8的整個長度與加蔽線6接觸的情況下的屏蔽效果。圖8是在圖7的各個模擬中，通過利用筒狀導(dǎo)體(覆蓋物)覆蓋被剝離部分(圖1中的部分Bl和B2)的周圍來測量在不存在被剝離部分的狀態(tài)下的屏蔽性能而獲得的圖表， 以查明存在被剝離部分的情況下和不存在被剝離部分的情況下的影響。換言之，通過將圖5中所示的各個模擬的電線長度改變?yōu)?0cm來制備圖8中的各個模擬。圖8中的測量結(jié)果f51是在所卷繞的金屬箔材8的整個長度電連接于加蔽線6的情況下而得到的，并且對應(yīng)于圖7的測量結(jié)果f41。測量結(jié)果f52是在所卷繞的金屬箔材8 的兩端的兩個點(diǎn)電連接于加蔽線6的情況下而得到的，并且對應(yīng)于圖7的測量結(jié)果f42。測量結(jié)果f53是在從所卷繞的金屬箔材8的兩端朝著內(nèi)側(cè)移動了 20mm的兩個點(diǎn)電連接于加蔽線6的情況下而得到的，并且對應(yīng)于圖7的測量結(jié)果f43。測量結(jié)果K4是在從所卷繞的金屬箔材8的兩端朝著內(nèi)側(cè)移動了 50mm的兩個點(diǎn)電連接于加蔽線6的情況下得到的，并且對應(yīng)于圖7的測量結(jié)果f44。測量結(jié)果f55是在所卷繞的金屬箔材8沒有電連接于加蔽線 6的情況下而得到的，并且對應(yīng)于圖7的測量結(jié)果f45。圖8中的測量結(jié)果f51、f52、f53、K4等確認(rèn)了在不存在被剝離部分的情況下，屏蔽效果略微提高。如果需要更優(yōu)異的屏蔽性能，優(yōu)選利用筒狀導(dǎo)體覆蓋卷繞有金屬箔的屏蔽電線的兩端的被剝離部分。此外，圖8示出了在金屬箔材8的端部沒有經(jīng)由加蔽線6接地而是直接接地的情況下所得到的測量結(jié)果f50。與其中電連接于金屬箔材8的整個長度的加蔽線6的兩端接地的測量結(jié)果f51相比，測量結(jié)果f50展現(xiàn)出顯著優(yōu)異的屏蔽效果。因此，如果可能，優(yōu)選將卷繞有金屬箔的屏蔽電線中所設(shè)置在金屬箔材8的兩端直接接地。圖9示出了在不存在被剝離部分的圖8的模擬中，進(jìn)一步測量在將設(shè)置加蔽線的范圍限制在金屬箔材兩端的情況下的影響而獲得的測量結(jié)果。圖9中的測量結(jié)果f51是在加蔽線6沿著被覆導(dǎo)線3的整個長度而設(shè)置使得金屬箔材8的整個長度與該加蔽線6接觸情況下所得到的，并且復(fù)制了圖8的測量結(jié)果f51。在圖9的測量結(jié)果f61至f63中，將加蔽線6所設(shè)置的范圍限制在圍著被覆導(dǎo)線 3卷繞的金屬箔材8的兩端的1cm。測量結(jié)果f61是在設(shè)置于兩端部的Icm處的加蔽線6的整個長度電連接于金屬箔材8的情況下所得到的。相比于其中沿著被覆導(dǎo)線3的整個范圍設(shè)置的加蔽線6的整個長度電連接于金屬箔材8的測量結(jié)果f51，測量結(jié)果f61的屏蔽效果降低了大約2dB。然而， 在測量結(jié)果f61中實(shí)現(xiàn)的屏蔽效果是足夠的。在該情況下，屏蔽效果降低的原因是在加蔽線僅僅設(shè)置在兩端處的所述卷繞有金屬箔的屏蔽電線中，與該加蔽線在被覆導(dǎo)線的整個長度上延伸的通常情況相比，金屬箔層和加蔽線的導(dǎo)體剖面積減小。測量結(jié)果f62是在設(shè)置于兩端的Icm處的加蔽線6的最內(nèi)端電連接于金屬箔材8 的情況下所得到的。與測量結(jié)果f61中屏蔽效果的相比，測量結(jié)果f62中的屏蔽效果進(jìn)一步減小了大約4dB。然而，測量結(jié)果f62中的屏蔽效果足夠具有使用價值。測量結(jié)果f63是在設(shè)置于兩端的Icm處的加蔽線6沒有與金屬箔材8接觸的情況下所得到的。在該情況下，屏蔽效果顯著降低并且不足。
從圖9中的模擬，確認(rèn)了在加蔽線6所設(shè)置的范圍被限定在被覆導(dǎo)線的兩端的規(guī)定長度的范圍的情況下，當(dāng)兩端處的加蔽線6電連接于金屬箔材8時，實(shí)現(xiàn)了相對令人滿意的屏蔽效果。因此，在本發(fā)明的卷繞有金屬箔的屏蔽電線中，可以將加蔽線6所設(shè)置的范圍限定在被覆導(dǎo)線的兩端處的規(guī)定長度的范圍。如果加蔽線所設(shè)置的范圍被限定在被覆導(dǎo)線的兩端處的規(guī)定長度，那么減少了加蔽線的使用量，使得能夠?qū)崿F(xiàn)由于使用材料的減少而導(dǎo)致的成本降低、重量降低以及排布性(可彎性)提高。下文中，將描述為何加蔽線6與金屬箔材8之間的接觸影響屏蔽特性，以及加蔽線 6與金屬箔材8在兩端處接觸是有效的原因。在加蔽線6與金屬箔材8沒有彼此接觸的情況下，如圖IOA所示，與被覆導(dǎo)線3相反方向的電流流入加蔽線6。然而，由于電流路徑處于平行的兩條線的狀態(tài)，所以能夠防止磁場泄漏到加蔽線6的周圍。即使加蔽線6接地，也能阻斷電流。 然而，在加蔽線6與金屬箔材8彼此接觸的情況下，如圖IOB所示，與被覆導(dǎo)線3相反方向的電流流入加蔽線6和金屬箔材8中。隨著電流路徑靠近同軸線(金屬箔材8和加蔽線6的電流的中心靠近被覆導(dǎo)線3的上方)，阻斷磁場的效果提高。如果加蔽線6接地， 磁場也被阻斷。在屏蔽電線IA的情況下，金屬箔材8連接于屏蔽連接器的外殼、設(shè)備基板上的接地點(diǎn)、殼體等。在沒有接觸的情況下，實(shí)現(xiàn)不了阻斷電場和磁場的效果。在一端處接觸的情況下，僅僅能實(shí)現(xiàn)阻斷電場的效果。在兩端處接觸的情況下，能夠?qū)崿F(xiàn)阻斷電場和磁場的效^ ο在兩端處接觸的情況下，金屬箔材8是電流路徑。在非平行線路中，與在被覆導(dǎo)線3中流動的電流相反方向的電流流動，使得能夠阻斷所產(chǎn)生的磁場。而且，在例如差動傳送的平行線路中，與非平行線路中的電流相等的電流流入金屬箔材8，使得進(jìn)行了磁場的阻斷。在連接時，從電線IA延伸的加蔽線6連接到外部導(dǎo)體，使得電流首先流入加蔽線 6。然而，在電流流經(jīng)加蔽線6的情況下，電流以覆蓋被覆導(dǎo)線3的周圍的方式流動，使得阻斷效果提高。因此，如果電流流經(jīng)屏蔽電線IA的末端附近的部分處的金屬箔材8，則具有良好屏蔽特性的部分增多，使得線路之間的感應(yīng)量減少。結(jié)果，在屏蔽電線IA的兩個末端處，加蔽線6與金屬箔材8的積極接觸是更優(yōu)的。 到最后，優(yōu)選通過捆束帶或帶子在末端進(jìn)行固定等，使得金屬箔材8的內(nèi)側(cè)的金屬箔層(導(dǎo)體層)8b確定地與加蔽線6接觸。本發(fā)明不局限于已經(jīng)描述的實(shí)施例，而是可以適當(dāng)?shù)匦薷幕蚋淖?。已?jīng)描述的本實(shí)施例中的部件的材料、形狀、尺寸、數(shù)值、形式、數(shù)量、排布位置等不受限制，而是只要能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明的目的，就可以適當(dāng)?shù)夭捎?。例如，諸如芯線或加蔽線的數(shù)量、芯線或加蔽線的扭繞以及利用金屬箔材的卷繞 (疊繞法，縱向設(shè)置)等的構(gòu)造不受限制。已經(jīng)詳細(xì)地或者參照特定實(shí)施例描述了本發(fā)明，但是對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說顯而易見的是，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以對本發(fā)明添加各種修改或修正。
本申請基于2009年7月2日提交的日本專利申請(日本專利申請 No. 2009-157869)，其公開通過引用的方式結(jié)合于此。工業(yè)實(shí)用性本發(fā)明的卷繞有金屬箔的屏蔽電線能夠展現(xiàn)出與金屬箔材在被覆導(dǎo)線的大致整個長度上與加蔽線接觸的情況下相同的優(yōu)異屏蔽性能。因此，可以穩(wěn)定地制造高質(zhì)量的卷繞有金屬箔的屏蔽電線，而不會引起屏蔽性能的改變。在利用金屬箔材來卷繞被覆導(dǎo)線和加蔽線的外周的工序之后，不需要進(jìn)行用于檢查在電線的縱向的中部中所述金屬箔材與加蔽線之間是否存在未接觸部分的工序，或者利用導(dǎo)電粘膠來填充未接觸部分的工序。因此，簡化了制造工序，使得制造成本能夠減少。
權(quán)利要求
1.一種卷繞有金屬箔的屏蔽電線，包括 被覆導(dǎo)線；加蔽線，該加蔽線沿著所述被覆導(dǎo)線的長度設(shè)置，并且在該被覆導(dǎo)線的端部處接地；以及金屬箔材，該金屬箔材卷繞在所述被覆導(dǎo)線和加蔽線周圍，并且形成了覆蓋所述被覆導(dǎo)線和加蔽線的外周的屏蔽層，其中，所述金屬箔材的位于所述被覆導(dǎo)線兩端附近的兩端或兩端附近的位置是電連接于所述加蔽線的箔電連接部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的卷繞有金屬箔的屏蔽電線，其中所述加蔽線設(shè)置在所述被覆導(dǎo)線的兩端的規(guī)定長度處。
全文摘要
提供一種卷繞了金屬箔的屏蔽電線，其展現(xiàn)出優(yōu)異的屏蔽性能，并且通過使制造工序簡化而以低成本制造。該卷繞了金屬箔的屏蔽電線(1)具有被覆導(dǎo)線(3、4)，沿著該被覆導(dǎo)線(3、4)的長度設(shè)置并且在該被覆導(dǎo)線(3、4)的端部處接地的加蔽線(6)，以及卷繞在被覆導(dǎo)線(3、4)和加蔽線(6)周圍并且形成覆蓋該被覆導(dǎo)線(3、4)和加蔽線(6)的外周的屏蔽層的金屬箔材(8)。使得金屬箔材(8)電連接于加蔽線(6)的箔電連接部(11)設(shè)置在各個被覆導(dǎo)線(3、4)的兩端處或兩端附近。
文檔編號H01B7/17GK102473482SQ20108003012
公開日2012年5月23日 申請日期2010年6月3日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月2日
發(fā)明者八木大亮, 大山友里惠, 小倉広幸 申請人:矢崎總業(yè)株式會社