專利名稱：高壓高值電阻器端子結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種電阻器的端子結(jié)構(gòu)，具體的說(shuō)是一種高壓高值電阻器端子結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
高壓高阻電阻器常用于絕緣電阻表的檢驗(yàn)，其電阻值高達(dá)100GQ 10TQ，耐壓可達(dá)5000V甚至更高，一般為端鈕式結(jié)構(gòu)，即金屬端鈕設(shè)置在絕緣底座上，與高壓高阻電阻器內(nèi)的電連接。在使用中，流過(guò)這類電阻器的電流小到nA(10_9A)甚至pA(10_12A)級(jí)。為了防止電阻器的電壓變差和空氣濕度對(duì)其阻值的影響，其工作環(huán)境要求極嚴(yán)。高壓高阻電阻器的端鈕一般有比較尖銳(曲率很小)的結(jié)構(gòu)，當(dāng)測(cè)試電壓很高時(shí)，電阻端鈕比較尖銳的表面部分會(huì)使其周圍的空氣電離，空氣電離造成的微電流可從電阻器的一端經(jīng)空氣達(dá)到電阻器的另一端，造成測(cè)試值的不穩(wěn)定或者錯(cuò)誤，空氣濕度越大，空氣電離產(chǎn)生的電流就越大，造成的誤差就越大。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作簡(jiǎn)便，有效降低測(cè)試誤差的高壓高值電阻器端子結(jié)構(gòu)。技術(shù)方案包括安裝在絕緣底座上的金屬端鈕，所述金屬端鈕套裝在金屬均壓罩內(nèi)，所述金屬均壓罩上開有與金屬端鈕頂面連通的測(cè)試孔。所述金屬端鈕為圓柱形，其外表面與金屬均壓罩內(nèi)表面螺紋連接。本實(shí)用新型中優(yōu)選但不限于上述連接方式，其它方式如卡接、掛接等可拆式連接，或如焊接、粘接等不可拆式連接均可適用。所述金屬均壓罩表面曲率為15mm以上。所述金屬端鈕與測(cè)試孔位于金屬均壓罩的垂直中心線上。有益效果通過(guò)在金屬端鈕上加裝金屬均壓罩，同時(shí)在金屬均壓罩上設(shè)置測(cè)試孔，金屬均壓罩與金屬端鈕電位相等，這樣能保證測(cè)試時(shí)，金屬端鈕以及插入測(cè)試孔內(nèi)的測(cè)試線插頭中表面曲率較小的部分都被包裹在金屬均壓罩中，從而可有效降低高電壓尖端放電對(duì)測(cè)試的影響，提高高壓高阻電阻器的穩(wěn)定性和環(huán)境適應(yīng)性，降低測(cè)試誤差。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作簡(jiǎn)便，可適用于各式高壓高值環(huán)境下的電阻器端子。

圖I為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本實(shí)用新型安裝在高壓高阻電阻器上的安裝示意圖。其中，I-高壓高值電阻、2-金屬端鈕、3-絕緣底座、4-外殼、5-金屬均壓罩、6-測(cè)試孔、E-低壓電組器端子，L-高壓電阻器端子。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步解釋說(shuō)明金屬端鈕2安裝在絕緣底座3上，其上套有金屬均壓罩5，所述金屬端鈕2為為圓柱形，其外表面與金屬均壓罩5內(nèi)表面通過(guò)螺紋連接。所述金屬均壓罩5上開有與金屬端鈕2頂面連通的測(cè)試孔6，所述金屬端鈕2與測(cè)試孔6位于金屬均壓罩5的垂直中心線上。所述金屬均壓罩5表面曲率為15_以上。所述金屬均壓罩可以采用鋁或銅等金屬材料。安裝時(shí)，將絕緣底座3固定在高壓高阻電阻器的外殼4上，金屬端鈕2經(jīng)導(dǎo)線穿過(guò)絕緣底座3與外殼4內(nèi)的高壓高值電阻 I電連接。使用時(shí)，測(cè)試孔6內(nèi)可插入對(duì)應(yīng)的測(cè)試 線插頭。本實(shí)用新型高壓高值電阻器端子結(jié)構(gòu)不僅可用于高壓高阻電阻器的高壓電組器端子L上，還可適用于低壓電組器端子E上。
權(quán)利要求1.一種高壓高值電阻器端子結(jié)構(gòu)，包括安裝在絕緣底座上的金屬端鈕，其特征在于，所述金屬端鈕套裝在金屬均壓罩內(nèi)，所述金屬均壓罩上開有與金屬端鈕頂面連通的測(cè)試孔。
2.如權(quán)利要求I所述的高壓高值電阻器端子結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述金屬端鈕為圓柱形，其外表面與金屬均壓罩內(nèi)表面螺紋連接。
3.如權(quán)利要求I或2所述的高壓高值電阻器端子結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述金屬均壓罩表面曲率為15mm以上。
4.如權(quán)利要求I或2所述的高壓高值電阻器端子結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述金屬端鈕與測(cè)試孔位于金屬均壓罩的垂直中心線上。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種高壓高值電阻器端子結(jié)構(gòu)，解決了現(xiàn)有高壓高值電阻器端子受環(huán)境影響，測(cè)試誤差偏大的問(wèn)題。技術(shù)方案包括安裝在絕緣底座上的金屬端鈕，所述金屬端鈕套裝在金屬均壓罩內(nèi)，所述金屬均壓罩上開有與金屬端鈕頂面連通的測(cè)試孔。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作簡(jiǎn)便，有效降低測(cè)試誤差。
文檔編號(hào)H01C1/14GK202495312SQ20122011478
公開日2012年10月17日 申請(qǐng)日期2012年3月23日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月23日
發(fā)明者胡學(xué)軍, 胡曉暉 申請(qǐng)人:武漢市康達(dá)電氣有限公司