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      相控陣天線設(shè)備、其寬角阻抗匹配裝置和相控陣天線系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):7262459閱讀:304來(lái)源:國(guó)知局
      相控陣天線設(shè)備、其寬角阻抗匹配裝置和相控陣天線系統(tǒng)的制作方法
      【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明涉及一種相控陣天線設(shè)備、其寬角阻抗匹配裝置和相控陣天線系統(tǒng)。該相控陣天線設(shè)備包括天線裝置陣列和設(shè)置于天線裝置陣列上方的寬角阻抗匹配裝置,其中,寬角阻抗匹配裝置包括:第一基板;多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)水平地設(shè)置在第一基板的一表面上;以及多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)設(shè)置在多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)上方或下方且排列成大致垂直于第一基板。本發(fā)明的相控陣天線設(shè)備及其寬角阻抗匹配裝置能起到以下有益技術(shù)效果:減少掃描盲點(diǎn)對(duì)要求頻帶的影響,實(shí)現(xiàn)相控陣寬帶寬角掃描阻抗匹配,從而提高大角度掃描增益,擴(kuò)展掃描空域,提升天線掃描性能。
      【專(zhuān)利說(shuō)明】相控陣天線設(shè)備、其寬角阻抗匹配裝置和相控陣天線系統(tǒng)

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種相控陣天線設(shè)備以及一種用于該相控陣天線設(shè)備的寬角阻抗匹配裝置、相控陣天線系統(tǒng)。

      【背景技術(shù)】
      [0002]相控陣?yán)走_(dá)因其特有的快速波束掃描和波束形成等特性,成為目前雷達(dá)發(fā)展的主要趨勢(shì)。相控陣?yán)走_(dá)的天線設(shè)計(jì)也是一個(gè)很重要的領(lǐng)域?,F(xiàn)代雷達(dá)發(fā)展要求天線工作帶寬夠?qū)?,掃描范圍大,同時(shí)駐波要小。機(jī)載相控陣?yán)走_(dá)一般采用Vivaldi類(lèi)型寬帶天線,并且采用三角組陣方式。該天線存在幾類(lèi)掃描盲點(diǎn),某類(lèi)掃描盲點(diǎn)隨著天線掃描角度的增加,盲點(diǎn)向帶內(nèi)移動(dòng),從而影響帶寬和掃描性能。
      [0003]為了解決上述問(wèn)題,即為了減少掃描盲點(diǎn)對(duì)要求頻帶的影響,實(shí)現(xiàn)相控陣寬帶寬角掃描阻抗匹配,從而提高大角度掃描增益,擴(kuò)展掃描空域,提升天線掃描性能,現(xiàn)有技術(shù)中提出了若干種解決方案。
      [0004]一種解決方案是減小天線陣元之間的間距。然而,減小天線陣元之間的間距必然會(huì)導(dǎo)致成本增加。
      [0005]另一種解決方案是設(shè)計(jì)天線介質(zhì)板形狀,使其形狀與漸變槽線基本共形,從而將掃描盲點(diǎn)向高頻移動(dòng)。然而,設(shè)計(jì)天線介質(zhì)板形狀效果一般,且加工復(fù)雜。
      [0006]另一種解決方案是調(diào)節(jié)天線參數(shù),即增加天線深度。然而,增加天線深度不利于天線小型化。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0007]本發(fā)明的一個(gè)目的在于,針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中相控陣天線設(shè)備的上述缺陷,提供一種相控陣天線設(shè)備及其寬角阻抗匹配裝置,其能克服現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷,減少掃描盲點(diǎn)對(duì)要求頻帶的影響,實(shí)現(xiàn)相控陣寬帶寬角掃描阻抗匹配,從而提高大角度掃描增益,擴(kuò)展掃描空域,提升天線掃描性能。
      [0008]本發(fā)明的以上目的通過(guò)一種相控陣天線設(shè)備來(lái)實(shí)現(xiàn),所述相控陣天線設(shè)備包括天線裝置陣列和設(shè)置于所述天線裝置陣列上方的寬角阻抗匹配裝置,其中,所述寬角阻抗匹配裝置包括:
      [0009]第一基板;
      [0010]多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)水平地設(shè)置在所述第一基板的一表面上;以及
      [0011 ] 多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),所述多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)上方或下方且排列成大致垂直于所述第一基板。
      [0012]根據(jù)上述技術(shù)方案,本發(fā)明的相控陣天線設(shè)備能起到以下有益技術(shù)效果:減少掃描盲點(diǎn)對(duì)要求頻帶的影響,實(shí)現(xiàn)相控陣寬帶寬角掃描阻抗匹配,從而提高大角度掃描增益,擴(kuò)展掃描空域,提升天線掃描性能。
      [0013]較佳的是,每個(gè)所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的正上方或正下方分別對(duì)應(yīng)有一個(gè)所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)。
      [0014]較佳的是,所述寬角阻抗匹配裝置還包括第二基板和填充材料,所述填充材料填充于所述第一基板和所述第二基板之間,,所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)固定于所述填充材料上和/或內(nèi)。
      [0015]較佳的是,所述第一基板有多個(gè),每個(gè)第一基板一表面上設(shè)置有多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),并有對(duì)應(yīng)多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)大致垂直于所述第一基板地設(shè)置在所述第一基板表面上。
      [0016]較佳的是,所述一表面設(shè)有水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的第一基板、第二基板以及填充于所述第一基板和第二基板之間固定所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的填充材料共同構(gòu)成一個(gè)阻抗匹配層,所述寬角阻抗匹配裝置由多個(gè)所述阻抗匹配層堆疊而成。
      [0017]較佳的是,所述第一基板和第二基板有多個(gè),且以每?jī)蓚€(gè)所述第一基板之間設(shè)有一個(gè)所述第二基板、每?jī)蓚€(gè)所述第二基板之間設(shè)有一個(gè)所述第一基板地依次間隔排布,相鄰的第一基板和第二基板之間設(shè)有固定所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的填充材料。
      [0018]較佳的是,所述多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)鑲嵌、焊接或粘接于所述填充材料內(nèi)。
      [0019]較佳的是,所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)和所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)是由導(dǎo)電材料制成的具有一定幾何圖形的平面或立體結(jié)構(gòu)。
      [0020]較佳的是,每個(gè)所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)或所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)包括開(kāi)口對(duì)向設(shè)置的兩個(gè)C形結(jié)構(gòu)。
      [0021 ] 較佳的是,每個(gè)所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)或所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)包括口字型結(jié)構(gòu)和位于所述口字形結(jié)構(gòu)內(nèi)相向設(shè)置的兩個(gè)T形結(jié)構(gòu)。
      [0022]較佳的是,所述寬角阻抗匹配裝置為多個(gè)且層疊設(shè)置于所述天線裝置陣列上方。
      [0023]較佳的是,所述多個(gè)水平或豎直超材料微結(jié)構(gòu)單元按照矩形周期或三角形周期排列。
      [0024]較佳的是,所述天線裝置陣列中的每個(gè)天線裝置是Vivaldi天線裝置、偶極子天線裝置、波導(dǎo)天線裝置、縫隙天線裝置、或微帶天線裝置。
      [0025]較佳的是,所述天線裝置陣列包含多個(gè)并行排布的子陣列,每個(gè)子陣列可劃分為多個(gè)天線裝置,每個(gè)天線裝置包括:
      [0026]介質(zhì)板;
      [0027]兩個(gè)導(dǎo)電層,分別設(shè)置于所述介質(zhì)板的兩相對(duì)表面上,所述導(dǎo)電層上端呈漸變槽線形狀,且從所述導(dǎo)電層的上端開(kāi)設(shè)有與所述介質(zhì)板的側(cè)邊大致平行的矩形槽;
      [0028]饋電線,設(shè)置于所述介質(zhì)板中。
      [0029]較佳的是,每個(gè)所述子陣列上相鄰兩個(gè)所述天線裝置的距離與平行于所述介質(zhì)板表面的一列水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中連續(xù)N個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的總長(zhǎng)度相當(dāng),或者與平行于所述介質(zhì)板表面的一列豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中N’個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的總長(zhǎng)度相當(dāng),N、N’為大于等于2的自然數(shù)。
      [0030]較佳的是,相鄰兩個(gè)所述子陣列的距離與垂直于所述介質(zhì)板表面的一行水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中連續(xù)M個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的總長(zhǎng)度相當(dāng),或者與垂直于所述介質(zhì)板表面的一列豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中M,個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的總長(zhǎng)度相當(dāng),Μ、M,為大于等于2的自然數(shù)。
      [0031]較佳的是,每個(gè)天線裝置還包括反射板,所述反射板設(shè)置成與所述介質(zhì)板大致垂直且與所述介質(zhì)板的底邊大致平行。
      [0032]較佳的是,每個(gè)天線裝置還包括諧振腔,所述諧振腔位于所述漸變槽線的最窄處且與所述漸變槽線相連接。
      [0033]較佳的是,所述反射板設(shè)置于所述諧振腔和所述介質(zhì)板的底邊之間。
      [0034]較佳的是,所述矩形槽的寬度是0.15mm-2mm。
      [0035]較佳的是,所述矩形槽的長(zhǎng)度是10mm-14mm。
      [0036]較佳的是,所述矩形槽離開(kāi)所述介質(zhì)板的側(cè)邊的距離是Omm-1.5mm。
      [0037]較佳的是,所述矩形槽的寬度是1.4mm-2mm。
      [0038]根據(jù)上述技術(shù)方案,通過(guò)在天線裝置金屬覆層中開(kāi)設(shè)矩形槽并調(diào)節(jié)矩形槽的寬度、長(zhǎng)度和邊界距離,本發(fā)明的相控陣天線設(shè)備能起到以下有益技術(shù)效果:可將某兩類(lèi)掃描盲點(diǎn)A和B移向更高頻率,從而擴(kuò)展了頻帶和掃描范圍,同時(shí)減弱了帶外盲點(diǎn)對(duì)帶內(nèi)駐波的影響,提升陣列天線的掃描性能。
      [0039]尤其,全反射頻點(diǎn)(S卩,掃描盲點(diǎn))B隨著矩形槽寬度增加越來(lái)越向高頻移動(dòng);全反射頻點(diǎn)B隨著矩形槽長(zhǎng)度增加越來(lái)越向高頻移動(dòng);全反射頻點(diǎn)B的位置在取值范圍內(nèi)基本不隨著邊界距離改變而變化。
      [0040]較佳的是,所述反射板離所述介質(zhì)板底邊的距離為0_17mm。
      [0041]根據(jù)上述技術(shù)方案,本發(fā)明的相控陣天線設(shè)備能起到以下有益技術(shù)效果:隨著金屬反射板離天線底部(即,離介質(zhì)板底邊)距離LG增加,盲點(diǎn)A和B不斷向高頻移動(dòng),直至移出12GHz以外,從而擴(kuò)展了頻帶和掃描范圍,同時(shí)減弱了帶外盲點(diǎn)對(duì)帶內(nèi)駐波的影響,提升陣列天線的掃描性能。較佳的是,所述天線裝置還包括吸波材料,所述吸波材料設(shè)置在所述介質(zhì)板的底邊附近。
      [0042]根據(jù)上述技術(shù)方案,本發(fā)明的相控陣天線設(shè)備能起到以下有益技術(shù)效果:在對(duì)天線裝置開(kāi)槽及底部加設(shè)吸波材料之后,即對(duì)于設(shè)有矩形槽和吸波材料的天線裝置,A類(lèi)掃描盲點(diǎn)被很好地消除,B類(lèi)掃描盲點(diǎn)遠(yuǎn)離12GHz,尤其是60度掃描時(shí),B類(lèi)掃描盲點(diǎn)位于13GHz左右。在8-12GHZ全X波段,當(dāng)掃描到60度時(shí),帶內(nèi)都不存在掃描盲點(diǎn),極大地?cái)U(kuò)展了天線陣的掃描范圍。
      [0043]較佳的是,所述漸變槽線是雙指數(shù)漸變槽線。
      [0044]較佳的是,所述導(dǎo)電層為金屬層。
      [0045]較佳的是,所述反射板是金屬反射板。
      [0046]較佳的是,所述反射板由銅或鋁制成。
      [0047]較佳的是,所述矩形槽為至少一個(gè),開(kāi)設(shè)于所述介質(zhì)板的一個(gè)側(cè)邊附近或兩個(gè)側(cè)邊附近。
      [0048]本發(fā)明的以上目的還通過(guò)一種用于相控陣天線設(shè)備的寬角阻抗匹配裝置來(lái)實(shí)現(xiàn),所述寬角阻抗匹配裝置包括:
      [0049]第一基板;
      [0050]多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)水平地設(shè)置在所述第一基板的一表面上;以及[0051 ] 多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),所述多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)上方或下方且排列成大致垂直于所述第一基板。
      [0052]較佳的是,每個(gè)所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的正上方或正下方分別對(duì)應(yīng)有一個(gè)所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)。
      [0053]較佳的是,所述寬角阻抗匹配裝置還包括第二基板和填充材料,所述填充材料填充于所述第一基板和所述第二基板之間,所述多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)鑲嵌于所述填充材料內(nèi)。
      [0054]較佳的是,所述第一基板有多個(gè),每個(gè)第一基板一表面上設(shè)置有多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),并有對(duì)應(yīng)多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)大致垂直于所述第一基板地設(shè)置在所述第一基板表面上。
      [0055]較佳的是,所述一表面設(shè)有水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的第一基板、第二基板以及填充于所述第一基板和第二基板之間固定所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的填充材料共同構(gòu)成一個(gè)阻抗匹配層,所述寬角阻抗匹配裝置由多個(gè)所述阻抗匹配層堆疊而成。
      [0056]較佳的是,所述第一基板和第二基板有多個(gè),且以每?jī)蓚€(gè)所述第一基板之間設(shè)有一個(gè)所述第二基板、每?jī)蓚€(gè)所述第二基板之間設(shè)有一個(gè)所述第一基板地依次間隔排布,相鄰的第一基板和第二基板之間設(shè)有固定所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的填充材料。
      [0057]較佳的是,所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)和所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)是由導(dǎo)電材料制成的具有一定幾何圖形的平面或立體結(jié)構(gòu)。
      [0058]較佳的是,每個(gè)所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)或所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)包括開(kāi)口對(duì)向設(shè)置的兩個(gè)C形結(jié)構(gòu)。
      [0059]較佳的是,每個(gè)所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)或所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)包括口字型結(jié)構(gòu)和位于所述口字形結(jié)構(gòu)內(nèi)相向設(shè)置的兩個(gè)T形結(jié)構(gòu)。
      [0060]較佳的是,所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)和所述多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)周期性排列。
      [0061]本發(fā)明還涉及一種相控陣天線系統(tǒng),包括天線裝置陣列、設(shè)置于所述天線裝置陣列上方的寬角阻抗匹配裝置和饋電系統(tǒng),其中,所述寬角阻抗匹配裝置包括第一基板、多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)以及多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)水平地設(shè)置在所述第一基板的一表面上,所述多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)上方或下方且大致垂直于所述第一基板;所述饋電系統(tǒng)與所述天線裝置陣列連接。
      [0062]較佳的是,所述天線裝置陣列包含多個(gè)并行排布的子陣列,每個(gè)子陣列可劃分為多個(gè)天線裝置,每個(gè)天線裝置包括介質(zhì)板、兩個(gè)導(dǎo)電層以及饋電線,所述兩個(gè)導(dǎo)電層分別設(shè)置于所述介質(zhì)板的兩相對(duì)表面上。
      [0063]較佳的是,所述導(dǎo)電層上端呈漸變槽線形狀,且從所述導(dǎo)電層的上端開(kāi)設(shè)有與所述介質(zhì)板的側(cè)邊大致平行的矩形槽,所述饋電線設(shè)置于所述介質(zhì)板中;所述饋電系統(tǒng)與所述饋電線連接。
      [0064]較佳的是,所述饋電系統(tǒng)包括功率分配/相加網(wǎng)絡(luò)、移相器和收發(fā)開(kāi)關(guān)。
      [0065]較佳的是,所述相控陣天線系統(tǒng)還包括外殼,所述天線裝置陣列和寬角阻抗匹配裝置均位于所述外殼內(nèi)。
      [0066]較佳的是,所述相控陣天線系統(tǒng)為飛行器、機(jī)動(dòng)車(chē)、船、雷達(dá)或衛(wèi)星。
      [0067]根據(jù)上述技術(shù)方案,本發(fā)明的寬角阻抗匹配裝置能起到以下有益技術(shù)效果:減少掃描盲點(diǎn)對(duì)要求頻帶的影響,實(shí)現(xiàn)相控陣寬帶寬角掃描阻抗匹配,從而提高大角度掃描增益,擴(kuò)展掃描空域,提升天線掃描性能。因此,具有該寬角阻抗匹配裝置的相控陣天線系統(tǒng)具有更好地掃描角度和增益。

      【專(zhuān)利附圖】

      【附圖說(shuō)明】
      [0068]圖1示出了本發(fā)明一實(shí)施方式的相控陣天線設(shè)備的立體示意圖。
      [0069]圖2示出了用于本發(fā)明一實(shí)施方式的相控陣天線設(shè)備的寬角阻抗匹配裝置的放大立體示意圖。
      [0070]圖3 (a)示出了水平超材料微結(jié)構(gòu)單元的示意圖。
      [0071]圖3 (b)示出了豎直超材料微結(jié)構(gòu)單元的示意圖。
      [0072]圖4 (a)示出了未設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的相控陣天線設(shè)備的E面掃描駐波比與掃描角度關(guān)系曲線圖。
      [0073]圖4 (b)示出了未設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的相控陣天線設(shè)備的H面掃描駐波比與掃描角度關(guān)系曲線圖。
      [0074]圖5 (a)示出了設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的相控陣天線設(shè)備的E面掃描駐波比與掃描角度關(guān)系曲線圖。
      [0075]圖5 (b)示出了設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的相控陣天線設(shè)備的H面掃描駐波比與掃描角度關(guān)系曲線圖。
      [0076]圖6示出了本發(fā)明一實(shí)施方式的相控陣天線設(shè)備的天線裝置的分解立體圖。
      [0077]圖7 (a)示出了具有各種矩形槽寬度LW的天線裝置與未設(shè)有矩形槽的天線裝置、在E面60度掃描時(shí)反射系數(shù)與頻率的關(guān)系曲線圖。
      [0078]圖7 (b)示出了具有各種矩形槽長(zhǎng)度LS的天線裝置與未設(shè)有矩形槽的天線裝置、在E面60度掃描時(shí)反射系數(shù)與頻率的關(guān)系曲線圖。
      [0079]圖7 (c)示出了具有各種矩形槽邊界距離LD的天線裝置與未設(shè)有矩形槽的天線裝置、在E面60度掃描時(shí)反射系數(shù)與頻率的關(guān)系曲線圖。
      [0080]圖8示出了本發(fā)明一實(shí)施方式的相控陣天線設(shè)備的天線裝置的分解立體圖,其中,反射板離天線底部的距離為L(zhǎng)G。
      [0081]圖9 Ca)示出了 LG = Omm時(shí)的開(kāi)槽天線裝置與未設(shè)有矩形槽且反射板在天線底部的天線裝置、在E面60度掃描時(shí)反射系數(shù)與頻率的關(guān)系曲線圖。
      [0082]圖9 (b)示出了 LG = 5mm時(shí)的開(kāi)槽天線裝置與未設(shè)有矩形槽且反射板在天線底部的天線裝置、在E面60度掃描時(shí)反射系數(shù)與頻率的關(guān)系曲線圖。
      [0083]圖9 (C)示出了 LG = 1mm時(shí)的開(kāi)槽天線裝置與未設(shè)有矩形槽且反射板在天線底部的天線裝置、在E面60度掃描時(shí)反射系數(shù)與頻率的關(guān)系曲線圖。
      [0084]圖9 (d)示出了 LG = 14mm時(shí)的開(kāi)槽天線裝置與未設(shè)有矩形槽且反射板在天線底部的天線裝置、在E面60度掃描時(shí)反射系數(shù)與頻率的關(guān)系曲線圖。
      [0085]圖9 (e)示出了 LG = 17mm時(shí)的開(kāi)槽天線裝置與未設(shè)有矩形槽且反射板在天線底部的天線裝置、在E面60度掃描時(shí)反射系數(shù)與頻率的關(guān)系曲線圖。
      [0086]圖10示出了本發(fā)明一實(shí)施方式的相控陣天線設(shè)備的天線裝置的分解立體圖,其中,在天線裝置的介質(zhì)板的底邊附近設(shè)置吸波材料。
      [0087]圖11 (a)示出了設(shè)有矩形槽和吸波材料的天線裝置與未設(shè)有矩形槽和吸波材料的天線裝置的、在E面45度掃描時(shí)反射系數(shù)與頻率的關(guān)系曲線圖。
      [0088]圖11 (b)示出了設(shè)有矩形槽和吸波材料的天線裝置與未設(shè)有矩形槽和吸波材料的天線裝置的、在E面60度掃描時(shí)反射系數(shù)與頻率的關(guān)系曲線圖。

      【具體實(shí)施方式】
      [0089]下面,參照附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行詳細(xì)描述。
      [0090]圖1示出了本發(fā)明一實(shí)施方式的相控陣天線設(shè)備的立體示意圖。該相控陣天線設(shè)備包括天線裝置陣列201和設(shè)置于天線裝置陣列201上方的寬角阻抗匹配裝置。為了更清楚地看到相控陣天線設(shè)備的內(nèi)部構(gòu)成,在圖1中僅示出了部分的天線裝置陣列201和寬角阻抗匹配裝置,從而避免設(shè)置于天線裝置陣列201上方的寬角阻抗匹配裝置蓋住天線裝置陣列201而無(wú)法看到天線裝置陣列201。當(dāng)然,本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)能理解,寬角阻抗匹配裝置設(shè)置于天線裝置陣列201上方,較佳地設(shè)置于天線裝置陣列201正上方。此外,天線裝置陣列201可以設(shè)置在母板202上。該母板202較佳地是金屬母板。
      [0091]圖2示出了用于本發(fā)明一實(shí)施方式的相控陣天線設(shè)備的寬角阻抗匹配裝置的放大立體示意圖,其中,省略了寬角阻抗匹配裝置中的上基板的左側(cè)部分以及覆蓋在豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)104下面的水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)102,從而更清楚地顯示位于上基板左側(cè)部分下方的各個(gè)部件,尤其是豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)104。該寬角阻抗匹配裝置包括:上基板105,也稱(chēng)第二基板;下基板101,也稱(chēng)第一基板;填充材料103,該填充材料填充于上基板105和下基板101之間;多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)102,多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)水平地設(shè)置(例如通過(guò)刻蝕等加工方式)在下基板101的上表面上;以及多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)104,多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)104鑲嵌、焊接或粘接于填充材料103內(nèi)且排列成大致垂直于上基板105和下基板101。每個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的正上方或正下方分別對(duì)應(yīng)有一個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)。
      [0092]雖然在圖2所示的寬角阻抗匹配裝置中,多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)設(shè)置在多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)上方,但本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解,多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)也可以設(shè)置在多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)下方。
      [0093]較佳的是,填充材料103與上基板105和下基板101緊密接觸。填充材料103例如可以是泡沫填充材料。
      [0094]雖然在圖2所示的寬角阻抗匹配裝置中,示出了上基板105和下基板101,但本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解,上基板105主要起到保護(hù)導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的作用,也可省略上基板105。
      [0095]雖然在圖2所示的寬角阻抗匹配裝置中,示出了填充材料103,但本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解,也可省略填充材料103,而將多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)直接設(shè)置在多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)上方或下方。
      [0096]另外,下基板101可以有多個(gè),多個(gè)下基板101依次從下往上以一定間距地堆疊,每個(gè)下基板101 —表面上設(shè)置有多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),并有對(duì)應(yīng)多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)大致垂直于下基板101地設(shè)置在下基板101表面上。
      [0097]當(dāng)然,也可有多個(gè)下基板101和多個(gè)上基板105,且以每?jī)蓚€(gè)下基板101之間設(shè)有一個(gè)上基板105、每?jī)蓚€(gè)上基板105之間設(shè)有一個(gè)下基板101地依次平行地間隔排布,相鄰的上基板105和下基板101之間設(shè)有固定豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的填充材料。
      [0098]進(jìn)一步地,也可將上基板105、下基板101以及填充于上基板105和下基板101之間的填充材料共同構(gòu)成一個(gè)阻抗匹配層,本發(fā)明的寬角阻抗匹配裝置由多個(gè)這樣的阻抗匹配層堆疊而成。
      [0099]導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)(水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)102和豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)104)是由導(dǎo)電材料制成的具有一定幾何圖形的平面或立體結(jié)構(gòu)。水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)102和豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)104都可以根據(jù)需要設(shè)計(jì)成特定形狀。例如,水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)102的形狀可如圖3 (a)所示,即,呈開(kāi)口對(duì)向設(shè)置的雙C形結(jié)構(gòu);豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)104的形狀可如圖3 (b)所示,即,包括外圍口字形結(jié)構(gòu)和中央橫邊對(duì)向設(shè)置的雙T形結(jié)構(gòu)。
      [0100]雖然在圖2所示的寬角阻抗匹配裝置中,水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)102和豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)104都是單層導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),但本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解,水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)102或豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)104可以是多層導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)。
      [0101]較佳的是,多個(gè)水平或豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)可以按照矩形周期或三角形周期排列。所謂“矩形周期排列”是指某列導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中的每個(gè)導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)與相鄰列導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中的每個(gè)導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)相互對(duì)齊。所謂“三角形周期排列”是指某列導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中的每個(gè)導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)與相鄰列導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中的每個(gè)導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)相互錯(cuò)開(kāi)一定距離,“三角形周期排列”也可稱(chēng)為“平行四邊形周界排列”。
      [0102]以上描述了寬角阻抗匹配裝置的基本結(jié)構(gòu),當(dāng)然,本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)能理解,該基本結(jié)構(gòu)也可組合疊加成多層,層疊設(shè)置于天線裝置陣列201上方,使得天線的掃描性能會(huì)有更大提升,只是需要犧牲寬角阻抗匹配裝置的厚度和重量。
      [0103]由于寬角阻抗匹配裝置既包含水平排列的導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),又包含豎直排列的導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),經(jīng)過(guò)設(shè)計(jì)的微結(jié)構(gòu)可以等效為很多電容電感,可以從三維方向?qū)﹄姶挪ㄏ辔贿M(jìn)行很好的調(diào)制,可以減小因?yàn)閽呙杞嵌仍黾佣鴮?dǎo)致的阻抗失配,從而達(dá)到寬角阻抗匹配的目的。
      [0104]相控陣天線設(shè)備中的天線裝置陣列中的每個(gè)天線裝置可以是Vivaldi天線裝置、偶極子天線裝置、波導(dǎo)天線裝置、縫隙天線裝置、或微帶天線裝置。
      [0105]實(shí)施例1
      [0106]對(duì)未設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的相控陣天線設(shè)備和設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的相控陣天線設(shè)備進(jìn)行了比較測(cè)試。具體地說(shuō),圖4(a)示出了未設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的相控陣天線設(shè)備的E面掃描駐波比與掃描角度關(guān)系曲線圖。圖4 (b)示出了未設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的相控陣天線設(shè)備的H面掃描駐波比與掃描角度關(guān)系曲線圖。圖5 (a)示出了設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的相控陣天線設(shè)備的E面掃描駐波比與掃描角度關(guān)系曲線圖。圖5 (b)示出了設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的相控陣天線設(shè)備的H面掃描駐波比與掃描角度關(guān)系曲線圖。
      [0107]需要注意的是,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解,E面通常是指與電場(chǎng)方向平行的切面,H面通常是指與電場(chǎng)方向垂直的切面。
      [0108]實(shí)施例1采用vivaldi天線裝置,按特定間距組成陣列,工作于8GHz_12GHz波段,其相控陣天線設(shè)備示意圖可如圖1所示。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解,圖1中的寬角阻抗匹配裝置可根據(jù)以下測(cè)試要求而設(shè)置或不設(shè)置。
      [0109]在未設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的情況下,其E面掃描駐波比與掃描角度關(guān)系曲線圖如圖4 (a)所示,可以看出,隨著掃描角度增加,駐波比變大,掃描到60度時(shí),在大于約9.8GHz的波段處,駐波比都在2以上,峰值駐波比甚至高達(dá)約200 ;掃描到70度時(shí),全部頻段駐波比都在2以上。其H面掃描駐波比與掃描角度關(guān)系曲線圖如圖4 (b)所示,可以看出,隨著掃描角度增加,駐波比變大,掃描到60度時(shí),全部頻段駐波比都在2以上;掃描到70度時(shí),全部頻段駐波比都在4以上。(注:為了清楚示出未設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的情況下的駐波比,圖4 Ca)和圖4 (b)中的縱坐標(biāo)均為對(duì)數(shù)坐標(biāo))。
      [0110]在設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的情況下,該用于相控陣天線設(shè)備的寬角阻抗匹配裝置的具體尺寸參數(shù)和設(shè)置情況如下,寬角阻抗匹配裝置的上基板和下基板的尺寸為6.4mm*6.4mm*0.5mm。豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)垂直于E面排列,位于E面兩相鄰天線中間附近,和天線陣面按照相同的間距和周期排布,寬角阻抗匹配裝置緊靠天線陣面。其E面掃描駐波比與掃描角度關(guān)系曲線圖如圖5 (a)所示,可以看出,掃描到60度時(shí),大部分頻段駐波比都在2以下,只有高頻處(接近約12GHz處)駐波比超過(guò)2 ;掃描到70度時(shí),大部分頻段駐波比仍都在2以下,只有高頻處(大于約11.4GHz處)駐波比超過(guò)2。其H面掃描駐波比與掃描角度關(guān)系曲線圖如圖5 (b)所示,可以看出,掃描到60度時(shí),大部分頻段駐波比都在2以下,只有高頻處(大于約11.5GHz處)駐波比超過(guò)2 ;掃描到70度時(shí),大部分頻段駐波比仍都在2以下,只有高頻處(大于約11.6GHz處)駐波比超過(guò)2。
      [0111]因此,設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的相控陣天線設(shè)備與未設(shè)有寬角阻抗匹配裝置的相控陣天線設(shè)備相比,擴(kuò)展了掃描范圍,提升了掃描性能。
      [0112]通過(guò)在相控陣天線設(shè)備中加載(設(shè)置)寬角阻抗匹配裝置,實(shí)現(xiàn)寬帶寬角匹配,在8GHz-12GHz的整個(gè)波段基本實(shí)現(xiàn)E面和H面±70度掃描。
      [0113]用于相控陣天線設(shè)備的天線裝置陣列201包含多個(gè)并行排布的子陣列,每個(gè)子陣列可劃分為多個(gè)天線裝置。天線裝置子陣列在制作時(shí)是整片制作的,因此在物理上通常不分離,如圖1所示,一列列子陣列平行放置。若對(duì)天線裝置子陣列進(jìn)行人為劃分,則可得到若干個(gè)如圖6、8或10所示的天線裝置。
      [0114]本實(shí)施例中,水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)和豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)均為矩形陣列排布。每個(gè)子陣列上相鄰兩個(gè)天線裝置的距離與平行于介質(zhì)板表面的一列水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中連續(xù)N個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的總長(zhǎng)度相當(dāng),或者與平行于所述介質(zhì)板表面的一列豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中N’個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的總長(zhǎng)度相當(dāng),N、N’為大于等于2的自然數(shù)。
      [0115]類(lèi)似地,相鄰兩個(gè)子陣列的距離與垂直于介質(zhì)板表面的一行水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中連續(xù)M個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的總長(zhǎng)度相當(dāng),或者與垂直于介質(zhì)板表面的一列豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中M’個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的總長(zhǎng)度相當(dāng),M、M’為大于等于2的自然數(shù)。
      [0116]每個(gè)天線裝置的具體結(jié)構(gòu)可如圖6所示。為了更清楚的說(shuō)明天線裝置的結(jié)構(gòu),這里用爆炸圖進(jìn)行示意。天線裝置包括:介質(zhì)板10 ;兩個(gè)導(dǎo)電層11、11,兩個(gè)導(dǎo)電層分別設(shè)置于介質(zhì)板10的正面和背面(即,介質(zhì)板10的兩相對(duì)表面)上,導(dǎo)電層11上端呈漸變槽線形狀,且從導(dǎo)電層11、11的上端開(kāi)設(shè)(例如通過(guò)刻蝕等加工方式)有與介質(zhì)板10的側(cè)邊大致平行的矩形槽14 ;饋電線12,該饋電線設(shè)置于介質(zhì)板10中;以及反射板13,該反射板13設(shè)置成與介質(zhì)板10大致垂直且與介質(zhì)板10的底邊大致平行。
      [0117]每個(gè)天線裝置還包括諧振腔,諧振腔位于漸變槽線的最窄處且與所述漸變槽線相連接(圖6、8、10導(dǎo)電層的圓形區(qū)域)。反射板13能離開(kāi)介質(zhì)板10的底邊上移,且反射板13的上移位置不超過(guò)諧振腔。
      [0118]還需注意的是,倘若圖1中用于支承天線裝置陣列201的母板202是金屬板,那么已經(jīng)保證了天線裝置之間的電連接,反射板13就無(wú)需將天線裝置電連接,也即無(wú)需充滿各個(gè)天線裝置之間的間隙;倘若母板202未實(shí)現(xiàn)天線裝置之間的電連接,則需反射板13來(lái)實(shí)現(xiàn),即反射板13需充滿各個(gè)天線裝置之間的間隙。
      [0119]較佳的是,所述漸變槽線是雙指數(shù)漸變槽線。
      [0120]矩形槽14具有長(zhǎng)度LS和寬度LW。矩形槽14離開(kāi)介質(zhì)板10的側(cè)邊的距離為L(zhǎng)D,下文中為了簡(jiǎn)便起見(jiàn),也可將矩形槽14離開(kāi)介質(zhì)板10的側(cè)邊的距離稱(chēng)為邊界距離LD。
      [0121]當(dāng)該天線裝置按某種方式組成陣列天線時(shí),漸變槽線導(dǎo)電層上開(kāi)設(shè)的矩形槽可將某兩類(lèi)掃描盲點(diǎn)A和B移向更高頻率,從而擴(kuò)展了頻帶和掃描范圍,同時(shí)減弱了帶外盲點(diǎn)對(duì)帶內(nèi)駐波的影響,提升陣列天線的掃描性能。
      [0122]由于對(duì)導(dǎo)電層開(kāi)槽,改變了天線表面電流分布,同時(shí)相當(dāng)于附加了個(gè)電容,影響了諧振頻率,使得隨掃描角度增加而向帶內(nèi)移動(dòng)的全反射點(diǎn)向高頻移動(dòng),進(jìn)而擴(kuò)展了帶寬和掃描范圍。
      [0123]較佳的是,介質(zhì)板10的厚度例如可以為1.5mm ;介質(zhì)板10的介電常數(shù)例如可以為2-3。
      [0124]較佳的是,導(dǎo)電層11為金屬層,例如為銅覆層或鋁覆層。
      [0125]較佳的是,饋電線12由銅或鋁制成。
      [0126]較佳的是,矩形槽14開(kāi)設(shè)于介質(zhì)板10的一個(gè)側(cè)邊附近或兩個(gè)側(cè)邊附近。
      [0127]發(fā)明人對(duì)具備各種矩形槽長(zhǎng)度LS、寬度LW和邊界距離LD的天線裝置進(jìn)行了性能測(cè)試。
      [0128]實(shí)施例2 (a):
      [0129]天線裝置的兩層導(dǎo)電層上端,分別對(duì)稱(chēng)地開(kāi)設(shè)了兩條矩形槽14,矩形槽長(zhǎng)度為L(zhǎng)S=12mm,矩形槽邊界距離為L(zhǎng)D=0.5mm,改變矩形槽寬度LW,即矩形槽寬度LW分別為0.15mm、0.2mm、0.5mm、1.4mm和2mm,并將具有各種矩形槽寬度LW的天線裝置與未設(shè)有矩形槽的天線裝置(即,LS = Omm7Lff = Omm)進(jìn)行對(duì)比。當(dāng)該天線裝置按特定方式組成陣列時(shí),用CST軟件(可從德國(guó)CST公司購(gòu)得)周期邊界條件仿真,E面60度掃描時(shí)其有源反射系數(shù)如圖7 (a)所示,觀察兩個(gè)全反射頻點(diǎn)A和B的位置。全反射頻點(diǎn)A基本不隨著矩形槽寬度變化,全反射頻點(diǎn)B隨著矩形槽寬度增加向高頻移動(dòng)。尤其相對(duì)于未設(shè)有矩形槽的天線裝置,當(dāng)矩形槽寬度增大到1.4mm時(shí),全反射頻點(diǎn)B向高頻移動(dòng)了約0.9GHz,當(dāng)矩形槽寬度增大到2mm時(shí),全反射頻點(diǎn)B向高頻移動(dòng)了約1GHz。
      [0130]根據(jù)以上可知,矩形槽的寬度可以是0.15mm-2mm。為了獲得更好的技術(shù)效果,進(jìn)一步擴(kuò)展帶寬和掃描范圍,矩形槽的寬度較佳地是1.4mm-2mm。
      [0131]實(shí)施例2(b):
      [0132]天線裝置的兩層導(dǎo)電層上端,分別對(duì)稱(chēng)地開(kāi)設(shè)了兩條矩形槽14,矩形槽寬度為L(zhǎng)ff=0.8mm,矩形槽邊界距離為L(zhǎng)D=0.5mm,改變矩形槽長(zhǎng)度LS,即矩形槽長(zhǎng)度LS分別為10mm、12mm和14mm,并將具有各種矩形槽長(zhǎng)度LS的天線裝置與未設(shè)有矩形槽的天線裝置(即,LS=0mm, Lff = Omm)進(jìn)行對(duì)比。當(dāng)該天線裝置按特定方式組成陣列時(shí),用CST軟件周期邊界條件仿真,E面60度掃描時(shí)其有源反射系數(shù)如圖7 (b)所示,觀察兩個(gè)全反射頻點(diǎn)A和B的位置。全反射頻點(diǎn)A基本不隨著矩形槽長(zhǎng)度變化,全反射頻點(diǎn)B隨著矩形槽長(zhǎng)度增加向高頻移動(dòng)。尤其相對(duì)于未設(shè)有矩形槽的天線裝置,具有各種矩形槽長(zhǎng)度LS的天線裝置的全反射頻點(diǎn)B普遍向高頻移動(dòng)了 0.3GHz以上。
      [0133]根據(jù)以上可知,矩形槽的長(zhǎng)度可以是I Omm-14mm。
      [0134]實(shí)施例2 (c):
      [0135]天線裝置的兩層導(dǎo)電層上端,分別對(duì)稱(chēng)地開(kāi)設(shè)了兩條矩形槽14,矩形槽長(zhǎng)度為L(zhǎng)S=12mm,矩形槽寬度為L(zhǎng)W=0.8mm,改變矩形槽邊界距離LD即矩形槽邊界距離LD分別為0mm、0.2mm和0.5mm,并將具有各種矩形槽邊界距離LD的天線裝置與未設(shè)有矩形槽的天線裝置(B卩,LS = 0mm,Lff = Omm)進(jìn)行對(duì)比。當(dāng)該天線裝置按特定方式組成陣列時(shí),用CST軟件周期邊界條件仿真,E面60度掃描時(shí)其有源反射系數(shù)如圖7 (c)所示,觀察兩個(gè)全反射頻點(diǎn)A和B的位置。全反射頻點(diǎn)A位置基本不隨著矩形槽邊界距離變化,相比于未設(shè)有矩形槽的天線裝置,全反射頻點(diǎn)B向高頻移動(dòng)了約0.5GHz,但全反射頻點(diǎn)B的位置在邊界距離為0-0.5mm的取值范圍內(nèi)基本不隨著邊界距離改變而變化。因此,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解,即使將矩形槽邊界距離LD增大至大于0.5mm,仍能取得較好的技術(shù)效果。當(dāng)然,考慮到通常的天線裝置及其介質(zhì)板的尺寸,矩形槽邊界距離LD —般不大于1.5_。
      [0136]根據(jù)以上可知,矩形槽離開(kāi)介質(zhì)板的側(cè)邊的距離可以是Omm-1.5mm。
      [0137]本發(fā)明還研究了天線裝置中的反射板13的位置對(duì)于天線掃描性能的影響。保持導(dǎo)電層的矩形槽的形狀和尺寸不變,調(diào)整反射板位置,即調(diào)整反射板離天線底部的距離LG,如圖8所示。較佳的是,反射板13是金屬反射板,例如由銅或鋁制成。反射板13可以是整片金屬反射板,也可以是部分區(qū)域設(shè)有金屬的反射板。
      [0138]隨著金屬反射板離天線底部(即,離介質(zhì)板底邊)距離LG增加,盲點(diǎn)A和B不斷向高頻移動(dòng),直至移出12GHz以外,從而擴(kuò)展了頻帶和掃描范圍,同時(shí)減弱了帶外盲點(diǎn)對(duì)帶內(nèi)駐波的影響,提升陣列天線的掃描性能。
      [0139]實(shí)施例3 (a):
      [0140]天線裝置的兩層導(dǎo)電層上端,分別對(duì)稱(chēng)地開(kāi)設(shè)了兩條矩形槽14,其矩形槽尺寸為矩形槽寬度LW=0.8mm,矩形槽長(zhǎng)度LS=12mm,矩形槽邊界距離為L(zhǎng)D=0.5mm。反射板離天線底部距離LG為0_。當(dāng)該天線裝置按特定方式組成陣列時(shí),用CST軟件周期邊界條件仿真,其E面60度掃描組陣后仿真結(jié)果,與未開(kāi)設(shè)矩形槽、反射板在天線底部(即,Lff = 0mm, LG= Omm)的天線組陣仿真反射系數(shù)結(jié)果比較如圖9 (a)所示。有矩形槽天線陣列的兩個(gè)全反射頻點(diǎn)A和B,比沒(méi)有矩形槽天線陣列的兩個(gè)全反射頻點(diǎn)向高頻移動(dòng)了。全反射頻點(diǎn)A移動(dòng)了大約0.15GHz,全反射頻點(diǎn)B移動(dòng)了大約0.62GHz。
      [0141]實(shí)施例3(b):
      [0142]天線裝置的兩層導(dǎo)電層上端左側(cè),分別對(duì)稱(chēng)地開(kāi)設(shè)了兩條矩形槽14,其矩形槽尺寸為矩形槽寬度LW=0.8mm,矩形槽長(zhǎng)度LS=12mm,矩形槽邊界距離為L(zhǎng)D=0.5mm。反射板離天線底部距離LG為5_。當(dāng)該天線裝置按特定方式組成陣列時(shí),用CST軟件周期邊界條件仿真,其E面60度掃描組陣后仿真結(jié)果,與未開(kāi)設(shè)矩形槽、反射板在天線底部(即,Lff = Omm,LG = Omm)的天線組陣仿真反射系數(shù)結(jié)果比較如圖9 (b)所示。有矩形槽天線陣列的兩個(gè)全反射頻點(diǎn)A和B,比沒(méi)有矩形槽天線陣列的兩個(gè)全反射頻點(diǎn)向高頻移動(dòng)了。全反射頻點(diǎn)A移動(dòng)了大約0.59GHz,全反射頻點(diǎn)B移動(dòng)了大約0.70GHz。
      [0143]實(shí)施例3 (c):
      [0144]天線裝置的兩層導(dǎo)電層上端左側(cè),分別對(duì)稱(chēng)地開(kāi)設(shè)了兩條矩形槽14,其矩形槽尺寸為矩形槽寬度LW=0.8mm,矩形槽長(zhǎng)度LS=12mm,矩形槽邊界距離為L(zhǎng)D=0.5mm。反射板離天線底部距離LG為10mm。當(dāng)該天線裝置按特定方式組成陣列時(shí),用CST軟件周期邊界條件仿真,其E面60度掃描組陣后仿真結(jié)果,與未開(kāi)設(shè)矩形槽、反射板在天線底部(即,Lff = Omm,LG = Omm)的天線組陣仿真反射系數(shù)結(jié)果比較如圖9 (c)所示。有矩形槽天線陣列的兩個(gè)全反射頻點(diǎn)A和B,比沒(méi)有矩形槽天線陣列的兩個(gè)全反射頻點(diǎn)向高頻移動(dòng)了。全反射頻點(diǎn)A移動(dòng)了大約1.33GHz,全反射頻點(diǎn)B移動(dòng)了大約1.0lGHz0
      [0145]實(shí)施例3(d):
      [0146]天線裝置的兩層導(dǎo)電層上端左側(cè),分別對(duì)稱(chēng)地開(kāi)設(shè)了兩條矩形槽14,其矩形槽尺寸為矩形槽寬度LW=0.8mm,矩形槽長(zhǎng)度LS=12mm,矩形槽邊界距離為L(zhǎng)D=0.5mm。反射板離天線底部距離LG為14_。當(dāng)該天線裝置按特定方式組成陣列時(shí),用CST軟件周期邊界條件仿真,其E面60度掃描組陣后仿真結(jié)果,與未開(kāi)設(shè)矩形槽、反射板在天線底部(即,Lff = Omm,LG = Omm)的天線組陣仿真反射系數(shù)結(jié)果比較如圖9 (d)所示。有矩形槽天線陣列的兩個(gè)全反射頻點(diǎn)A和B,比沒(méi)有矩形槽天線陣列的兩個(gè)全反射頻點(diǎn)向高頻移動(dòng)了。全反射頻點(diǎn)A移動(dòng)了大約1.90GHz,全反射頻點(diǎn)B移動(dòng)了大約1.45GHz。
      [0147]實(shí)施例3(e):
      [0148]天線裝置的兩層導(dǎo)電層上端左側(cè),分別對(duì)稱(chēng)地開(kāi)設(shè)了兩條矩形槽14,其矩形槽尺寸為矩形槽寬度LW=0.8mm,矩形槽長(zhǎng)度LS=12mm,矩形槽邊界距離為L(zhǎng)D=0.5mm。反射板離天線底部距離LG為17_。當(dāng)該天線裝置按特定方式組成陣列時(shí),用CST軟件周期邊界條件仿真,其E面60度掃描組陣后仿真結(jié)果,與未開(kāi)設(shè)矩形槽、反射板在天線底部(即,Lff = Omm,LG = Omm)的天線組陣仿真反射系數(shù)結(jié)果比較如圖9 (e)所示。有矩形槽天線陣列的兩個(gè)全反射頻點(diǎn)A和B,比沒(méi)有矩形槽天線陣列的兩個(gè)全反射頻點(diǎn)向高頻移動(dòng)了。全反射頻點(diǎn)A移動(dòng)了大約2.10GHz,全反射頻點(diǎn)B移動(dòng)了至少2GHz以上,盲點(diǎn)不再可以清晰辨識(shí)。
      [0149]根據(jù)以上可知,反射板離介質(zhì)板底邊的距離LG可以為0_17mm。隨著反射板離介質(zhì)板底邊的距離LG的增加,天線E面掃描時(shí),高頻盲點(diǎn)向更高頻率移動(dòng)。
      [0150]為了進(jìn)一步改進(jìn)天線掃描性能,還可考慮在天線裝置的介質(zhì)板11的底邊附近設(shè)置吸波材料15,如圖10所示。
      [0151]本發(fā)明還研究了天線裝置中設(shè)置吸波材料對(duì)于天線掃描性能的影響。
      [0152]實(shí)施例4
      [0153]如圖10所示,天線裝置導(dǎo)電層上端左側(cè),前后對(duì)稱(chēng)地開(kāi)設(shè)了兩條矩形槽14,其矩形槽尺寸為矩形槽寬度LW=0.8mm,矩形槽長(zhǎng)度LS=12mm,矩形槽邊界距離為L(zhǎng)D=0.5mm。吸波材料15設(shè)置在天線裝置的介質(zhì)板11的底邊附近。吸波材料15的厚度為10_。反射板的厚度為2_。該天線裝置按照三角方式組陣。仿真方法為周期邊界仿真。仿真結(jié)果如圖11(a)和11 (b)所示,且將設(shè)有矩形槽和吸波材料的天線裝置與未設(shè)有矩形槽和吸波材料的天線裝置作比較。
      [0154]對(duì)于未設(shè)有矩形槽和吸波材料的天線裝置,當(dāng)掃描到45度時(shí),如圖11 (a)所示,在11.7GHz左右的波段處出現(xiàn)一個(gè)全反射點(diǎn),標(biāo)為A類(lèi)掃描盲點(diǎn)。同時(shí)在約13GHz左右的波段處存在另一個(gè)全反射點(diǎn),標(biāo)為B類(lèi)掃描盲點(diǎn)。當(dāng)掃描到60度時(shí),如圖11(b)所示,A類(lèi)和B類(lèi)掃描盲點(diǎn)都向低頻移動(dòng)了約IGHz。
      [0155]在對(duì)天線裝置開(kāi)槽及底部加設(shè)吸波材料之后,即對(duì)于設(shè)有矩形槽和吸波材料的天線裝置,如圖11 (a)和11 (b)所示,可以很明顯發(fā)現(xiàn),A類(lèi)掃描盲點(diǎn)被很好地消除,B類(lèi)掃描盲點(diǎn)遠(yuǎn)離12GHz,尤其是60度掃描時(shí),B類(lèi)掃描盲點(diǎn)位于13GHz左右??梢悦黠@看到,在8-12GHZ全X波段,當(dāng)掃描到60度時(shí),帶內(nèi)都不存在掃描盲點(diǎn),極大地?cái)U(kuò)展了天線陣的掃描范圍。這里的8-12GHZ頻段僅為示例,采用本發(fā)明的技術(shù)思路,還可以適用于其它頻段,本發(fā)明對(duì)此不作限制。
      [0156]最后,本發(fā)明還保護(hù)一種相控陣天線系統(tǒng),例如飛行器、機(jī)動(dòng)車(chē)、船、雷達(dá)或衛(wèi)星等,該系統(tǒng)包括上述的天線裝置陣列、設(shè)置于上述天線裝置陣列上方的寬角阻抗匹配裝置、饋電系統(tǒng),其中,已知饋電線設(shè)置于所述介質(zhì)板中并與兩個(gè)導(dǎo)電層電連接,饋電系統(tǒng)則與饋電線連接。這里的饋電系統(tǒng)包括功率分配/相加網(wǎng)絡(luò)、移相器、收發(fā)開(kāi)關(guān)以及其他用來(lái)調(diào)制天線裝置陣列的各個(gè)天線裝置的角度、相位的器件。相控陣天線系統(tǒng)還可包括外殼,所述天線裝置陣列和寬角阻抗匹配裝置均位于所述外殼內(nèi)。
      [0157]以上對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行了描述,但本領(lǐng)域技術(shù)人員將會(huì)理解,上述【具體實(shí)施方式】并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在以上公開(kāi)內(nèi)容的基礎(chǔ)上進(jìn)行多種修改,而不超出本發(fā)明的范圍。
      【權(quán)利要求】
      1.一種相控陣天線設(shè)備,其特征在于,包括天線裝置陣列和設(shè)置于所述天線裝置陣列上方的寬角阻抗匹配裝置,其中,所述寬角阻抗匹配裝置包括: 第一基板; 多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)水平地設(shè)置在所述第一基板的一表面上;以及 多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),所述多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)上方或下方且大致垂直于所述第一基板。
      2.如權(quán)利要求1所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,每個(gè)所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的正上方或正下方分別對(duì)應(yīng)有一個(gè)所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)。
      3.如權(quán)利要求1所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述寬角阻抗匹配裝置還包括第二基板和填充材料,所述填充材料填充于所述第一基板和所述第二基板之間,所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)固定于所述填充材料上和/或內(nèi)。
      4.如權(quán)利要求1所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述第一基板有多個(gè),每個(gè)第一基板一表面上設(shè)置有多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),并有對(duì)應(yīng)多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)大致垂直于所述第一基板地設(shè)置在所述第一基板表面上。
      5.如權(quán)利要求3所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述一表面設(shè)有水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的第一基板、第二基板以及填充于所述第一基板和第二基板之間固定所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的填充材料共同構(gòu)成一個(gè)阻抗匹配層,所述寬角阻抗匹配裝置由多個(gè)所述阻抗匹配層堆疊而成。
      6.如權(quán)利要求3所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述第一基板和第二基板有多個(gè),且以每?jī)蓚€(gè)所述第一基板之間設(shè)有一個(gè)所述第二基板、每?jī)蓚€(gè)所述第二基板之間設(shè)有一個(gè)所述第一基板地依次間隔排布,相鄰的第一基板和第二基板之間設(shè)有固定所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的填充材料。
      7.如權(quán)利要求3所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)鑲嵌、焊接或粘接于所述填充材料內(nèi)。
      8.如權(quán)利要求1所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)和所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)是由導(dǎo)電材料制成的具有一定幾何圖形的平面或立體結(jié)構(gòu)。
      9.如權(quán)利要求8所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,每個(gè)所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)或所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)包括開(kāi)口對(duì)向設(shè)置的兩個(gè)C形結(jié)構(gòu)。
      10.如權(quán)利要求8所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,每個(gè)所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)或所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)包括口字型結(jié)構(gòu)和位于所述口字形結(jié)構(gòu)內(nèi)相向設(shè)置的兩個(gè)T形結(jié)構(gòu)。
      11.如權(quán)利要求1所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述寬角阻抗匹配裝置為多個(gè)且層疊設(shè)置于所述天線裝置陣列上方。
      12.如權(quán)利要求1所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述多個(gè)水平或豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)周期性排列。
      13.如權(quán)利要求1所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述天線裝置陣列中的每個(gè)天線裝置是Vivaldi天線裝置、偶極子天線裝置、波導(dǎo)天線裝置、縫隙天線裝置、或微帶天線>J-U ρ?α裝直。
      14.如權(quán)利要求1?13任一項(xiàng)所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述天線裝置陣列包含多個(gè)并行排布的子陣列,每個(gè)子陣列可劃分為多個(gè)天線裝置,每個(gè)天線裝置包括: 介質(zhì)板; 兩個(gè)導(dǎo)電層,分別設(shè)置于所述介質(zhì)板的兩相對(duì)表面上,所述導(dǎo)電層上端呈漸變槽線形狀,且從所述導(dǎo)電層的上端開(kāi)設(shè)有與所述介質(zhì)板的側(cè)邊大致平行的矩形槽; 饋電線,設(shè)置于所述介質(zhì)板中。
      15.如權(quán)利要求14所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,每個(gè)所述子陣列上相鄰兩個(gè)所述天線裝置的距離與平行于所述介質(zhì)板表面的一列水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中連續(xù)N個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的總長(zhǎng)度相當(dāng),或者與平行于所述介質(zhì)板表面的一列豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中N’個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的總長(zhǎng)度相當(dāng),N、N’為大于等于2的自然數(shù)。
      16.如權(quán)利要求14所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,相鄰兩個(gè)所述子陣列的距離與垂直于所述介質(zhì)板表面的一行水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中連續(xù)M個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的總長(zhǎng)度相當(dāng),或者與垂直于所述介質(zhì)板表面的一列豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)中M’個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的總長(zhǎng)度相當(dāng),M、M’為大于等于2的自然數(shù)。
      17.如權(quán)利要求14所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,每個(gè)天線裝置還包括反射板,所述反射板設(shè)置成與所述介質(zhì)板大致垂直且與所述介質(zhì)板的底邊大致平行。
      18.如權(quán)利要求14所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,每個(gè)天線裝置還包括諧振腔,所述諧振腔位于所述漸變槽線的最窄處且與所述漸變槽線相連接。
      19.如權(quán)利要求17所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述反射板設(shè)置于所述諧振腔和所述介質(zhì)板的底邊之間。
      20.如權(quán)利要求14所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述天線裝置還包括吸波材料,所述吸波材料設(shè)置在所述介質(zhì)板的底邊附近。
      21.如權(quán)利要求14所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述漸變槽線是雙指數(shù)漸變槽線。
      22.如權(quán)利要求14所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述導(dǎo)電層為金屬層。
      23.如權(quán)利要求14?19任一項(xiàng)所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述反射板是金屬反射板。
      24.如權(quán)利要求14所述的相控陣天線設(shè)備,其特征在于,所述矩形槽為至少一個(gè),開(kāi)設(shè)于所述介質(zhì)板的一個(gè)側(cè)邊附近或兩個(gè)側(cè)邊附近。
      25.一種用于相控陣天線設(shè)備的寬角阻抗匹配裝置,包括: 第一基板; 多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)水平地設(shè)置在所述第一基板的一表面上;以及 多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),所述多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)上方或下方且排列成大致垂直于所述第一基板。
      26.如權(quán)利要求25所述的寬角阻抗匹配裝置,其特征在于,每個(gè)所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的正上方或正下方分別對(duì)應(yīng)有一個(gè)所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)。
      27.如權(quán)利要求25所述的寬角阻抗匹配裝置,其特征在于,所述寬角阻抗匹配裝置還包括第二基板和填充材料,所述填充材料填充于所述第一基板和所述第二基板之間,所述多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)固定于所述填充材料內(nèi)。
      28.如權(quán)利要求25所述的寬角阻抗匹配裝置,其特征在于,所述第一基板有多個(gè),每個(gè)第一基板一表面上設(shè)置有多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),并有對(duì)應(yīng)多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)大致垂直于所述第一基板地設(shè)置在所述第一基板表面上。
      29.如權(quán)利要求27所述的寬角阻抗匹配裝置,其特征在于,所述一表面設(shè)有水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的第一基板、第二基板以及填充于所述第一基板和第二基板之間固定所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的填充材料共同構(gòu)成一個(gè)阻抗匹配層,所述寬角阻抗匹配裝置由多個(gè)所述阻抗匹配層堆疊而成。
      30.如權(quán)利要求27所述的寬角阻抗匹配裝置,其特征在于,所述第一基板和第二基板有多個(gè),且以每?jī)蓚€(gè)所述第一基板之間設(shè)有一個(gè)所述第二基板、每?jī)蓚€(gè)所述第二基板之間設(shè)有一個(gè)所述第一基板地依次間隔排布,相鄰的第一基板和第二基板之間設(shè)有固定所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)的填充材料。
      31.如權(quán)利要求25所述的寬角阻抗匹配裝置,其特征在于,所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)和所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)是由導(dǎo)電材料制成的具有一定幾何圖形的平面或立體結(jié)構(gòu)。
      32.如權(quán)利要求31所述的寬角阻抗匹配裝置,其特征在于,每個(gè)所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)或所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)包括開(kāi)口對(duì)向設(shè)置的兩個(gè)C形結(jié)構(gòu)。
      33.如權(quán)利要求31所述的寬角阻抗匹配裝置,其特征在于,每個(gè)所述水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)或所述豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)包括口字型結(jié)構(gòu)和位于所述口字形結(jié)構(gòu)內(nèi)相向設(shè)置的兩個(gè)T形結(jié)構(gòu)。
      34.如權(quán)利要求25所述的寬角阻抗匹配裝置,其特征在于,所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)和所述多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)周期性排列。
      35.一種相控陣天線系統(tǒng),其特征在于,包括天線裝置陣列、設(shè)置于所述天線裝置陣列上方的寬角阻抗匹配裝置和饋電系統(tǒng),其中, 所述寬角阻抗匹配裝置包括第一基板、多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)以及多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu),所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)水平地設(shè)置在所述第一基板的一表面上,所述多個(gè)豎直導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述多個(gè)水平導(dǎo)電幾何結(jié)構(gòu)上方或下方且大致垂直于所述第一基板;所述饋電系統(tǒng)與所述天線裝置陣列連接。
      36.如權(quán)利要求35所述的相控陣天線系統(tǒng),其特征在于,所述天線裝置陣列包含多個(gè)并行排布的子陣列,每個(gè)子陣列可劃分為多個(gè)天線裝置,每個(gè)天線裝置包括介質(zhì)板、兩個(gè)導(dǎo)電層以及饋電線,所述兩個(gè)導(dǎo)電層分別設(shè)置于所述介質(zhì)板的兩相對(duì)表面上。
      37.如權(quán)利要求36所述的相控陣天線系統(tǒng),其特征在于,所述導(dǎo)電層上端呈漸變槽線形狀,且從所述導(dǎo)電層的上端開(kāi)設(shè)有與所述介質(zhì)板的側(cè)邊大致平行的矩形槽,所述饋電線設(shè)置于所述介質(zhì)板中;所述饋電系統(tǒng)與所述饋電線連接。
      38.如權(quán)利要求35所述的相控陣天線系統(tǒng),其特征在于,所述饋電系統(tǒng)包括功率分配/相加網(wǎng)絡(luò)、移相器和收發(fā)開(kāi)關(guān)。
      39.如權(quán)利要求35所述的相控陣天線系統(tǒng),其特征在于,所述相控陣天線系統(tǒng)還包括外殼,所述天線裝置陣列和寬角阻抗匹配裝置均位于所述外殼內(nèi)。
      40.如權(quán)利要求35所述的相控陣天線系統(tǒng),其特征在于,所述相控陣天線系統(tǒng)為飛行器、機(jī)動(dòng)車(chē)、船、雷達(dá)或衛(wèi)星。
      【文檔編號(hào)】H01Q1/36GK104377431SQ201310356398
      【公開(kāi)日】2015年2月25日 申請(qǐng)日期:2013年8月15日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月15日
      【發(fā)明者】不公告發(fā)明人 申請(qǐng)人:深圳光啟創(chuàng)新技術(shù)有限公司
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