檢測(cè)及分類led圓片的檢測(cè)總成及方法
【專利摘要】本發(fā)明是關(guān)于一種用以檢測(cè)及分類多個(gè)LED圓片的檢測(cè)總成及方法，該總成包含多個(gè)卡匣、一光學(xué)檢測(cè)裝置、一第一輸送單元及一第二輸送單元。多個(gè)卡匣分別設(shè)置于一待測(cè)區(qū)及一測(cè)定區(qū)中，用以承載這些LED圓片。光學(xué)檢測(cè)裝置是設(shè)置于待測(cè)區(qū)及測(cè)定區(qū)之間，以檢測(cè)這些LED圓片。第一輸送單元適于自待測(cè)區(qū)的這些卡匣中移動(dòng)這些LED圓片至光學(xué)檢測(cè)裝置，且第二輸送單元適于自光學(xué)檢測(cè)裝置移動(dòng)這些LED圓片至測(cè)定區(qū)的這些卡匣中。
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明是關(guān)于一種檢測(cè)LED圓片的檢測(cè)總成及方法，特別指一種可以快速檢測(cè)并 分類多個(gè)LED圓片的檢測(cè)總成及方法。 檢測(cè)及分類LED圓片的檢測(cè)總成及方法

【背景技術(shù)】
[0002] 隨著節(jié)能省電意識(shí)的興起，以及3C產(chǎn)品薄型化、輕量化的需求，將LED (發(fā)光二極 管）做為光源來取代傳統(tǒng)燈泡，以降低功耗并提升發(fā)光效率，已經(jīng)是不可避免的趨勢(shì)。也因 此，對(duì)于制作LED基材-LED圓片的成品率要求也越趨嚴(yán)格。
[0003] 在分割LED圓片上的芯片單位（die)以進(jìn)行后續(xù)的封裝作業(yè)之前，為了降低封裝 缺陷并提升整體成品率，一般會(huì)先針對(duì)圓片上的芯片單位進(jìn)行成品率檢測(cè)，再接續(xù)后續(xù)的 封裝作業(yè)。
[0004] 在現(xiàn)有的檢測(cè)作業(yè)中，多是先采用人工操作的方式將圓片載入光學(xué)檢測(cè)儀器后， 再同樣以人工的方式檢視光學(xué)檢測(cè)儀器上的圓片內(nèi)的芯片單元。因此，由于此種方式皆是 依據(jù)人工的方式判別并記錄圓片上的缺陷，故具有較慢的檢測(cè)速度。
[0005] 另一方面，考量到成本因素，在進(jìn)行前述檢測(cè)作業(yè)時(shí)，大多會(huì)采用抽樣檢測(cè)的方式 為之。如此一來，此種檢測(cè)方式將具有以下的缺點(diǎn)：其一為人工檢測(cè)并無法有效分析圓片缺 陷的形成原因，在缺乏數(shù)據(jù)化分析的情況下，對(duì)于改善工序以提高整體成品率的助益其實(shí) 相當(dāng)有限；另一方面，以人工方式進(jìn)行的檢測(cè)，難免會(huì)因檢測(cè)人員身心狀態(tài)的不穩(wěn)定，而出 現(xiàn)疏漏現(xiàn)象；再者，人工檢測(cè)的效率較為低下，故將提高整體的制造成本。
[0006] 此外，現(xiàn)有的檢測(cè)方式大多是將可容許的最高缺陷作為測(cè)量基準(zhǔn)，故在分類上僅 會(huì)將測(cè)量后的圓片粗略的分類為良品及不良品，若欲針對(duì)這些良品及不良品各自做進(jìn)一步 等級(jí)的區(qū)隔，則需再次地進(jìn)行相關(guān)檢測(cè)，實(shí)乃非經(jīng)濟(jì)的做法。
[0007] 有鑒于此，如何提高并改善上述缺失，以提供一種可以快速檢測(cè)并分類多個(gè)LED 圓片的裝置及方法，乃為此業(yè)界亟待解決的問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0008] 本發(fā)明的一目的在于提供一種LED圓片的檢測(cè)總成及方法，其可用以快速地進(jìn)行 多個(gè)LED圓片的檢測(cè)及分類。
[0009] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種LED圓片的檢測(cè)總成及方法，其可進(jìn)一步針對(duì)被 區(qū)分為良品及不良品的LED圓片做進(jìn)一步等級(jí)的篩選及分類。
[0010] 為達(dá)上述目的，本發(fā)明所揭示的一種檢測(cè)總成，適于用以檢測(cè)及分類多個(gè)LED圓 片，該檢測(cè)總成包含：多個(gè)卡匣、一光學(xué)檢測(cè)裝置、一第一輸送單兀及一第二輸送單兀。多個(gè) 卡匣分別設(shè)置于一待測(cè)區(qū)及一測(cè)定區(qū)中，用以承載這些LED圓片。光學(xué)檢測(cè)裝置設(shè)置于待 測(cè)區(qū)及測(cè)定區(qū)之間，以檢測(cè)這些LED圓片。第一輸送單元適于自待測(cè)區(qū)的這些卡匣中移動(dòng) 這些LED圓片至光學(xué)檢測(cè)裝置，且第二輸送單元適于自光學(xué)檢測(cè)裝置移動(dòng)這些LED圓片至 測(cè)定區(qū)的這些卡匣中。其中，第一輸送單元將這些LED圓片自待測(cè)區(qū)的這些卡匣移動(dòng)至光 學(xué)檢測(cè)裝置后，光學(xué)檢測(cè)裝置適于針對(duì)這些LED圓片進(jìn)行一檢測(cè)作業(yè)，第二輸送單元接著 依據(jù)檢測(cè)作業(yè)所獲得的一檢測(cè)數(shù)據(jù)，將這些LED圓片移動(dòng)至測(cè)定區(qū)的這些卡匣中。
[0011] 本發(fā)明亦包含一種檢測(cè)方法，可搭配上述檢測(cè)總成進(jìn)行檢測(cè)，該方法的步驟如下 所述。將欲檢測(cè)的多個(gè)LED圓片設(shè)置于一待測(cè)區(qū)后，這些LED圓片自待測(cè)區(qū)移動(dòng)至一光學(xué) 檢測(cè)裝置。將移至光學(xué)檢測(cè)裝置的這些LED圓片適于進(jìn)行一檢測(cè)作業(yè)，并依據(jù)檢測(cè)作業(yè)所 測(cè)量的一檢測(cè)數(shù)據(jù)，將這些LED圓片移動(dòng)至一測(cè)定區(qū)。將這些LED圓片依據(jù)不同的檢測(cè)數(shù) 據(jù)被置放于測(cè)定區(qū)內(nèi)的不同卡匣內(nèi)，因此可以同時(shí)完成篩選及分類檢測(cè)的動(dòng)作。
[0012] 為了讓上述的目的、技術(shù)特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更為本領(lǐng)域的人士所知悉并應(yīng)用，下文 以本發(fā)明的數(shù)個(gè)較佳實(shí)施例以及附圖進(jìn)行詳細(xì)的說明。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0013] 圖1為用以容置本發(fā)明的檢測(cè)總成的機(jī)臺(tái)外觀示意圖；
[0014] 圖2為本發(fā)明的檢測(cè)總成裝設(shè)于機(jī)臺(tái)上的示意圖；
[0015] 圖3為本發(fā)明的檢測(cè)總成的第一實(shí)施例俯視圖；
[0016] 圖4為本發(fā)明的檢測(cè)總成的第一實(shí)施例側(cè)視圖；
[0017] 圖5為本發(fā)明檢測(cè)總成的光學(xué)檢測(cè)裝置所具有的影像投射總成與多個(gè)光學(xué)鏡頭 的不意圖；
[0018] 圖6為本發(fā)明檢測(cè)總成的檢測(cè)平臺(tái)的示意圖；
[0019] 圖7為本發(fā)明檢測(cè)總成的頂持元件的示意圖
[0020] 圖8為本發(fā)明檢測(cè)總成的吸附總成的示意圖；
[0021] 圖9為本發(fā)明的檢測(cè)總成的第二實(shí)施例俯視圖；
[0022] 圖10為本發(fā)明的檢測(cè)總成的第三實(shí)施例俯視圖；及
[0023] 圖11、12為本發(fā)明檢測(cè)及分類多個(gè)LED圓片的步驟方塊圖。

【具體實(shí)施方式】
[0024] 如圖1所示，其為用以容置本發(fā)明的一檢測(cè)總成100的一機(jī)臺(tái)10的外觀示意圖， 而圖2則為本發(fā)明的檢測(cè)總成100裝設(shè)于機(jī)臺(tái)10上的示意圖。
[0025] 如圖1及圖2所示，機(jī)臺(tái)10是用以容置檢測(cè)總成100,使檢測(cè)總成100在進(jìn)行檢 測(cè)多個(gè)LED圓片700的過程中，可與外界環(huán)境隔絕，以避免外物的不當(dāng)侵入，導(dǎo)致檢測(cè)總成 100與多個(gè)LED圓片700的損害。
[0026] 請(qǐng)接著參閱圖3及圖4,本發(fā)明的檢測(cè)總成100是用以檢測(cè)及分類多個(gè)LED圓片 700。檢測(cè)總成100包含多個(gè)卡匣200、一光學(xué)檢測(cè)裝置300、一第一輸送單元400及一第 二輸送單元500。其中，多個(gè)卡匣200分別設(shè)置于一待測(cè)區(qū)210及一測(cè)定區(qū)220中，用以承 載多個(gè)LED圓片700。光學(xué)檢測(cè)裝置300則是設(shè)置于待測(cè)區(qū)210及測(cè)定區(qū)220之間的一檢 測(cè)區(qū)230,用以檢測(cè)多個(gè)LED圓片700。較佳地，待測(cè)區(qū)210與測(cè)定區(qū)220是以光學(xué)檢測(cè)裝 置300為中心，環(huán)狀設(shè)置于光學(xué)檢測(cè)裝置300的外側(cè)，且第一輸送單元400是設(shè)置于待測(cè)區(qū) 210與光學(xué)檢測(cè)裝置300間，而第二輸送單元500是設(shè)置于測(cè)定區(qū)220與光學(xué)檢測(cè)裝置300 間。
[0027] 當(dāng)欲進(jìn)行前述LED圓片700的檢測(cè)作業(yè)時(shí)，第一輸送單元400適于自待測(cè)區(qū)210的 這些卡匣200中移動(dòng)LED圓片700至檢測(cè)區(qū)230的光學(xué)檢測(cè)裝置300中，且第二輸送單元 500適于自檢測(cè)區(qū)230的光學(xué)檢測(cè)裝置300中移動(dòng)檢測(cè)完畢的LED圓片700至測(cè)定區(qū)220 的這些卡匣200中。
[0028] 進(jìn)一步說明，當(dāng)?shù)谝惠斔蛦卧?00將LED圓片700自待測(cè)區(qū)210的這些卡匣200 移動(dòng)至檢測(cè)區(qū)230的光學(xué)檢測(cè)裝置300后，光學(xué)檢測(cè)裝置300適于針對(duì)LED圓片700進(jìn)行 一檢測(cè)作業(yè)；而后，第二輸送單元500便會(huì)依據(jù)檢測(cè)作業(yè)所獲得的一檢測(cè)數(shù)據(jù)，將LED圓片 700自檢測(cè)區(qū)230的光學(xué)檢測(cè)裝置300移動(dòng)至測(cè)定區(qū)220的這些卡匣200的適當(dāng)位置中，而 完成LED圓片700的篩選及分類。
[0029] 在本實(shí)施例中，光學(xué)檢測(cè)裝置300包含一檢測(cè)平臺(tái)310、一吸附總成320、一影像投 射總成330、多個(gè)光學(xué)鏡頭340及一運(yùn)算單元（圖未示出）。請(qǐng)一并參閱如圖5所示的本發(fā)明 檢測(cè)總成100的光學(xué)檢測(cè)裝置300所具有的影像投射總成330與多個(gè)光學(xué)鏡頭340的示意 圖，以及如圖6所示的本發(fā)明檢測(cè)總成100的吸附總成320的示意圖。其中，檢測(cè)平臺(tái)310 是用以置放待檢測(cè)的LED圓片700;吸附總成320是嵌設(shè)于檢測(cè)平臺(tái)310中，以吸附固定LED 圓片700 ;影像投射總成330適于依序投射多個(gè)影像于檢測(cè)平臺(tái)310上的LED圓片700 ;最 后，多個(gè)光學(xué)鏡頭340適于接收LED圓片700所反射的這些影像，使運(yùn)算單元可將這些光學(xué) 鏡頭340所接收的這些影像進(jìn)行處理及分析，以完成相關(guān)檢測(cè)作業(yè)。
[0030] 需理解的是，前述的多個(gè)影像可為可見光影像或不可見光影像，其是依據(jù)不同的 圓片測(cè)試需求進(jìn)行選擇，且多個(gè)光學(xué)鏡頭340亦可相應(yīng)于該可見光影像或不可見光影像， 進(jìn)行挑選。
[0031] 詳細(xì)而言，在圖5所示的實(shí)施例中，多個(gè)光學(xué)鏡頭340為兩個(gè)光學(xué)鏡頭340,兩個(gè)光 學(xué)鏡頭340其中之一是正向于LED圓片700設(shè)置，以接收LED圓片700所反射的這些影像， 而兩個(gè)光學(xué)鏡頭340其中的另一個(gè)是偏置于LED圓片700,且同樣用以接收LED圓片700所 反射的這些影像。如此一來，因 LED圓片700所反射的影像會(huì)同時(shí)被正向設(shè)置的光學(xué)鏡頭 340與偏置的光學(xué)鏡頭340所接收，故有助于提高影像解析的品質(zhì)。如此一來，經(jīng)過運(yùn)算單 元的運(yùn)算后，便可得出適當(dāng)?shù)臄?shù)據(jù)資料來判斷檢測(cè)結(jié)果。
[0032] 承上，在圖5所示的一較佳實(shí)施例中，兩個(gè)光學(xué)鏡頭340的偏置角度約為45度，但 并不以此做為限制。因此，使用者亦可依據(jù)其他需求，增減光學(xué)鏡頭340的設(shè)置數(shù)量，以及 多個(gè)光學(xué)鏡頭340間的偏置角度。
[0033] 如圖6所示，吸附總成320是嵌設(shè)于檢測(cè)平臺(tái)310中。且如圖7所示，檢測(cè)平臺(tái) 310可進(jìn)一步包含多個(gè)頂持元件312,使多個(gè)頂持元件312被容置于檢測(cè)平臺(tái)310內(nèi)部，用 以升降地頂持欲置放于檢測(cè)平臺(tái)310上的LED圓片700。
[0034] 如此一來，當(dāng)?shù)谝惠斔蛦卧?00將待測(cè)試的LED圓片700自待測(cè)區(qū)210輸送至檢測(cè) 平臺(tái)310時(shí)，多個(gè)頂持元件312將會(huì)先升起，使第一輸送單元400可輕易地將LED圓片700 置放于多個(gè)頂持元件312上，同時(shí)使多個(gè)頂持元件312可承載LED圓片700 ;待第一輸送單 元400卸下LED圓片700并歸位后，多個(gè)頂持元件312將下降，使LED圓片700被置放于檢 測(cè)平臺(tái)310上方，并為吸附總成320所吸附固定以進(jìn)行檢測(cè)；最后，在完成相關(guān)檢測(cè)作業(yè)后， LED圓片700將重新被多個(gè)頂持元件312向上頂持，以供第二輸送單元500依據(jù)檢測(cè)結(jié)果， 將LED圓片700輸送至測(cè)定區(qū)220所具有的一良品區(qū)222或一不良品區(qū)224。
[0035] 如圖8所示，吸附總成320上設(shè)置有多個(gè)吸附槽322,其可相應(yīng)于不同LED圓片700 的尺寸(如2吋、4吋、6吋及8吋的LED圓片700)，進(jìn)行吸附固定的動(dòng)作。并且，雖然圖示中 的部分吸附槽322間具有相互重疊的區(qū)域，然而這些重復(fù)區(qū)域是經(jīng)過精密計(jì)算所形成，故 多個(gè)吸附槽322的設(shè)置，可確實(shí)地將不同尺寸的LED圓片700吸附固定于吸附總成320上。
[0036] 如圖8所不，在一較佳實(shí)施例中，吸附總成320被設(shè)置成可用以同時(shí)吸附兩個(gè)2吋 LED圓片700或同時(shí)吸附兩個(gè)4吋LED圓片700,也可僅用以吸附單一 6吋LED圓片700或 僅用以吸附單一 8吋LED圓片700,但并不以此為限。
[0037] 另一方面，吸附總成320可為一真空吸附裝置，以確保LED圓片700可被確實(shí)地固 定于檢測(cè)平臺(tái)310上，但并不以此做為限制。換言之，吸附總成320亦可具有其他形態(tài)，以 協(xié)助進(jìn)行LED圓片700的吸附作業(yè)。
[0038] 除圖3及圖8所示的檢測(cè)總成100的第一實(shí)施例外，在圖9所示的檢測(cè)總成100的 第二實(shí)施例中，也可使吸附總成320在每次檢測(cè)時(shí)，僅用以同時(shí)吸附兩個(gè)2吋LED圓片700 或僅用以同時(shí)吸附兩個(gè)4吋LED圓片700。而在圖10所示的檢測(cè)總成100的第三實(shí)施例 中，則可使吸附總成320在每次檢測(cè)時(shí)，僅用以吸附單一 6吋LED圓片700或僅用以吸附單 一 8吋LED圓片700。
[0039] 在圖9與圖10所示的檢測(cè)總成100的第二實(shí)施例及第三實(shí)施例中，其與圖8所 示的檢測(cè)總成100的第一實(shí)施例的區(qū)別在于，圖8所示的第一實(shí)施例可在不更換檢測(cè)總成 100的情況下，吸附并檢測(cè)4種尺寸的LED圓片700 (即2吋、4吋、6吋及8吋的LED圓片 700)，而圖9與圖10所示的第二實(shí)施例及第三實(shí)施例，則各僅分別用以吸附并檢測(cè)2種尺 寸的LED圓片700 (即2吋、4吋LED圓片700,或6吋、8吋LED圓片700)，以達(dá)到降低建置 檢測(cè)總成100的成本的目的。
[0040] 另一方面，在本案所揭示的各實(shí)施例中，第一輸送單元400及第二輸送單元500系 皆為一機(jī)械手臂，且該機(jī)械手臂各具有兩個(gè)第一次手臂410及兩個(gè)第二次手臂510,以交替 地將LED圓片700自待測(cè)區(qū)210輸送至檢測(cè)區(qū)230,及將LED圓片700自檢測(cè)區(qū)230輸送至 測(cè)定區(qū)220,從而有效地提升LED圓片700的檢測(cè)速度，避免閑置時(shí)間的發(fā)生。
[0041] 本發(fā)明的檢測(cè)總成100可進(jìn)一步包含多個(gè)卡扣元件600,其分別設(shè)置于待測(cè)區(qū)210 及測(cè)定區(qū)220中，以固定這些卡匣200。
[0042] 又，為提升批次檢測(cè)LED圓片700的效率，在圖2所示的實(shí)施例中，待測(cè)區(qū)210可 具有一第一次待測(cè)區(qū)210a及一第二次待測(cè)區(qū)210b，且第一次待測(cè)區(qū)210a及第二次待測(cè)區(qū) 210b是具有上下疊置的關(guān)系；相似地，測(cè)定區(qū)具220有一第一次測(cè)定區(qū)220a及一第二次測(cè) 定區(qū)220b，且第一次測(cè)定區(qū)220a及第二次測(cè)定區(qū)220b是具有上下疊置的關(guān)系。
[0043] 如此一來，當(dāng)設(shè)置在上層的第一次待測(cè)區(qū)210a中的多個(gè)LED圓片700皆完成檢測(cè) 作業(yè)后，第一輸送單元400將可立即地移動(dòng)至下層，并自下層的第二次待測(cè)區(qū)210b中，繼續(xù) 抓取并傳送待測(cè)的多個(gè)LED圓片700至檢測(cè)區(qū)230。此時(shí)，作業(yè)人員便可趁著第一輸送單元 400在抓取下層的第二次待測(cè)區(qū)210b的LED圓片700的空檔，將上層不再承載有多個(gè)LED 圓片700的空的多個(gè)卡匣200移出，重新填充承載有待測(cè)LED圓片700的多個(gè)卡匣200,使 當(dāng)下層的LED圓片700皆完成檢測(cè)后，第一輸送單元400可重新移動(dòng)至上層，繼續(xù)抓取并傳 送待測(cè)的多個(gè)LED圓片700,而供作業(yè)人員更換下層的空的多個(gè)卡匣200。也就是說，通過 此種上下層的設(shè)置關(guān)系，第一輸送單元400可持續(xù)不間斷地在上層第一次待測(cè)區(qū)210a與下 層第二次待測(cè)區(qū)210b間抓取LED圓片700,避免光學(xué)檢測(cè)裝置300處于閑置狀態(tài)。
[0044] 相似地，第二輸送單元500將可依據(jù)不同的檢測(cè)結(jié)果，把檢測(cè)完畢的LED圓片700 傳送至第一次測(cè)定區(qū)220a或第二次測(cè)定區(qū)220b的多個(gè)卡匣200中。
[0045] 藉由前述的設(shè)置，平均而言，本發(fā)明的檢測(cè)總成100每小時(shí)將可完成360片LED圓 片700的檢測(cè)及篩選作業(yè)。
[0046] 如圖11所示，本發(fā)明同時(shí)揭示一種檢測(cè)及分類多個(gè)LED圓片700的方法，其包含 下列步驟：
[0047] 首先，如步驟801所示，將多個(gè)LED圓片700設(shè)置于一待測(cè)區(qū)210中；如步驟802 所示，依序?qū)⒍鄠€(gè)LED圓片700自待測(cè)區(qū)210移動(dòng)至一檢測(cè)區(qū)230 ;如步驟803所示，對(duì)多 個(gè)LED圓片700進(jìn)行一檢測(cè)作業(yè)；最后，如步驟804所示，依據(jù)檢測(cè)作業(yè)所測(cè)量的一檢測(cè)數(shù) 據(jù)，將多個(gè)LED圓片700移動(dòng)至測(cè)定區(qū)220。
[0048] 其中，前述的步驟803還包含下列步驟：
[0049] 如步驟803a所示，將LED圓片700置放于檢測(cè)區(qū)230的一檢測(cè)平臺(tái)310 ;如步驟 803b所示，將LED圓片700吸附于檢測(cè)平臺(tái)310上；如步驟803c所示，將多個(gè)影像依序投 射于LED圓片700 ;如步驟803d所示，利用多個(gè)光學(xué)鏡頭340接收LED圓片700所反射的 這些影像；最后，如步驟803e所示，利用一運(yùn)算單元處理及分析這些影像，以完成LED圓片 700的檢測(cè)作業(yè)。
[0050] 綜上所述，藉由本發(fā)明的檢測(cè)總成100的設(shè)置，將得以快速地進(jìn)行多個(gè)LED圓片 700的檢測(cè)，并有效地提升LED圓片700的檢測(cè)效率，縮短所需的等待時(shí)間。
[0051] 另一方面，因完成檢測(cè)后的LED圓片700可依使用者的需求與定義，而進(jìn)一步被區(qū) 分為一良品LED圓片700與一不良品LED圓片700,故本發(fā)明的檢測(cè)總成100將可在完成多 個(gè)LED圓片700的檢測(cè)后，同步依不同需求，進(jìn)行LED圓片700的篩選及分類，并被第二輸 送單元500傳送至特定的良品區(qū)222與不良品區(qū)224中，免除后續(xù)再進(jìn)行篩選的時(shí)間，進(jìn)一 步提升檢測(cè)分類效率。
[0052] 上述的實(shí)施例僅用來例舉本發(fā)明的實(shí)施方式，以及闡釋本發(fā)明的技術(shù)特征，并非 用來限制本發(fā)明的保護(hù)范疇。任何熟悉此技術(shù)者可輕易完成的改變或均等性的安排均屬于 本發(fā)明所主張的范圍，本發(fā)明的權(quán)利保護(hù)范圍應(yīng)以申請(qǐng)專利范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1. 一種檢測(cè)總成，用以檢測(cè)及分類多個(gè)發(fā)光二極管LED圓片，其特征在于，包含： 多個(gè)卡匣，分別設(shè)置于一待測(cè)區(qū)及一測(cè)定區(qū)中，用以承載所述LED圓片； 一光學(xué)檢測(cè)裝置，設(shè)置于該待測(cè)區(qū)及該測(cè)定區(qū)之間，以檢測(cè)所述LED圓片； 一第一輸送單元，適于自該待測(cè)區(qū)的所述卡匣中移動(dòng)所述LED圓片至該光學(xué)檢測(cè)裝 置；以及 一第二輸送單元，適于自該光學(xué)檢測(cè)裝置移動(dòng)所述LED圓片至該測(cè)定區(qū)的所述卡匣 中； 其中，該第一輸送單元將所述LED圓片自該待測(cè)區(qū)的所述卡匣移動(dòng)至該光學(xué)檢測(cè)裝置 后，該光學(xué)檢測(cè)裝置適于針對(duì)所述LED圓片進(jìn)行一檢測(cè)作業(yè)，該第二輸送單元接著依據(jù)該 檢測(cè)作業(yè)所獲得的一檢測(cè)數(shù)據(jù)，將所述LED圓片移動(dòng)至該測(cè)定區(qū)的所述卡匣。
2. 如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)總成，其特征在于，該光學(xué)檢測(cè)裝置包含： 一檢測(cè)平臺(tái)，用以置放所述LED圓片； 一吸附總成，嵌設(shè)于該檢測(cè)平臺(tái)中，以吸附所述LED圓片； 一影像投射總成，用以依序投射多個(gè)影像于該檢測(cè)平臺(tái)上的所述LED圓片； 多個(gè)光學(xué)鏡頭，適于接收所述LED圓片所反射的所述影像；以及 一運(yùn)算單元，適于將所述光學(xué)鏡頭所接收的該影像進(jìn)行處理及分析，以完成該檢測(cè)作 業(yè)。
3. 如權(quán)利要求2所述的檢測(cè)總成，其特征在于，該檢測(cè)平臺(tái)還包含多個(gè)頂持元件，用以 可升降地頂持所述LED圓片。
4. 如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)總成，其特征在于，該待測(cè)區(qū)與該測(cè)定區(qū)是以該光學(xué)檢測(cè) 裝置為中心，環(huán)狀設(shè)置于該光學(xué)檢測(cè)裝置的外側(cè)，且該第一輸送單元設(shè)置于該待測(cè)區(qū)與該 光學(xué)檢測(cè)裝置間，而該第二輸送單元設(shè)置于該測(cè)定區(qū)與該光學(xué)檢測(cè)裝置間。
5. 如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)總成，其特征在于，該第一輸送單元及該第二輸送單元皆 為一機(jī)械手臂。
6. 如權(quán)利要求5所述的檢測(cè)總成，其特征在于，所述機(jī)械手臂各具有兩個(gè)第一次手臂 及兩個(gè)第二次手臂。
7. 如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)總成，其特征在于，該測(cè)定區(qū)還包含一良品區(qū)及一不良品 區(qū)。
8. 如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)總成，其特征在于，該待測(cè)區(qū)及該測(cè)定區(qū)為上下疊置的雙 層區(qū)域。
9. 如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)總成，其特征在于，還包含多個(gè)卡扣元件，分別設(shè)置于該待 測(cè)區(qū)及該測(cè)定區(qū)中，以固定所述卡匣。
10. 如權(quán)利要求2所述的檢測(cè)總成，其特征在于，該吸附總成設(shè)置有多個(gè)吸附槽，以吸 附并固定所述LED圓片。
11. 一種檢測(cè)及分類多個(gè)LED圓片的方法，其特征在于，包含下列步驟： (a) 將所述LED圓片設(shè)置于一待測(cè)區(qū)； (b) 將所述LED圓片自該待測(cè)區(qū)移動(dòng)至一檢測(cè)區(qū)； (c) 在該檢測(cè)區(qū)對(duì)所述LED圓片進(jìn)行一檢測(cè)作業(yè)；以及 (d) 依據(jù)該檢測(cè)作業(yè)所測(cè)量的一檢測(cè)數(shù)據(jù)，將所述LED圓片自該檢測(cè)區(qū)移動(dòng)至一測(cè)定 區(qū)。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其特征在于，步驟（c)還包含： (cl)將所述LED圓片置放于該檢測(cè)區(qū)的一檢測(cè)平臺(tái)； (c2)利用該檢測(cè)平臺(tái)吸附所述LED圓片； (c3)將多個(gè)影像依序投射于所述LED圓片的一表面； (c4)利用多個(gè)光學(xué)鏡頭接收所述LED圓片的該表面所反射的所述影像；及 (c5)利用一運(yùn)算單元處理及分析所述影像，以完成所述LED圓片的檢測(cè)作業(yè)。
【文檔編號(hào)】H01L21/677GK104112686SQ201410158691
【公開日】2014年10月22日 申請(qǐng)日期:2014年4月18日 優(yōu)先權(quán)日:2013年4月18日
【發(fā)明者】蔡政道 申請(qǐng)人:政美應(yīng)用股份有限公司