本發(fā)明涉及芯片技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種用于芯片加工的刻蝕機。
背景技術(shù):
目前,用于對芯片的去層方法包括化學(xué)刻蝕法、等離子刻蝕法和機械研磨法。其中,最常用的是采用rie反應(yīng)離子刻蝕和濕法酸液腐蝕相結(jié)合的方法,通過光學(xué)顯微鏡或者能譜儀獲得芯片的成分,根據(jù)鍵合區(qū)與周圍區(qū)域的顏色和反光差異,獲得各層材料的厚度,并根據(jù)芯片的成分對芯片進行相應(yīng)的處理。但是,這種干法和濕法相結(jié)合的技術(shù),rie反應(yīng)離子的條件比較高,處理過程比較耗時,且酸液腐蝕危害人體健康。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的在于提供一種用于芯片加工的刻蝕機,以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:一種用于芯片加工的刻蝕機,包括機體、激光器和光譜分析儀,所述機體的上端面架設(shè)有傳送帶,所述機體前端上側(cè)固定安裝有入料箱,所述入料箱的一側(cè)固定安裝有第一機架,所述光譜分析儀設(shè)置在第一機架的上端,所述光譜分析儀的上端電性連接有控制器,所述第一機架的一側(cè)固定安裝有第二機架,所述激光器固定安裝在第二機架的前端,所述激光器的正下方固定安裝有載片臺,所述機體的末端安裝有驅(qū)動腔,所述驅(qū)動腔的一側(cè)固定安裝有傳送電機,所述驅(qū)動腔的上端面設(shè)置有檢測臺。
優(yōu)選的,所述載片臺的底端安裝有紅外線檢測裝置。
優(yōu)選的,所述激光器、傳送電機和紅外線檢測裝置均通過數(shù)據(jù)線與控制器電性連接。
優(yōu)選的,所述入料箱的底端設(shè)置有入料口,所述入料口的尺寸略大于所加工芯片的規(guī)格。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:該裝置結(jié)構(gòu)合理,通過激光進行刻蝕作業(yè),能夠?qū)崿F(xiàn)對芯片的待刻蝕層進行自動刻蝕,且不損傷同層其他材料或下層材料,精度更高,而且取消傳統(tǒng)一體機式的裝備,采用傳送帶式的流水線設(shè)備,能對各道工序進行實時人工監(jiān)控,不良率低,不僅提高了工作效率而且使維修更加方便。
附圖說明
圖1為本發(fā)明整體結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明載片臺結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中:1機體、2第一機架、3傳送帶、4入料箱、5控制器、6光譜分析儀、7激光器、8第二機架、9檢測臺、10驅(qū)動腔、11傳送電機、12載片臺、13紅外線檢測裝置、14數(shù)據(jù)線、15入料口。
具體實施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒景l(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。
本實用的描述中,需要說明的是,術(shù)語“豎直”、“上”、“下”、“水平”等指示的方位或者位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或者位置關(guān)系,僅是為了便于描述本實用和簡化描述,而不是指示或者暗示所指的裝置或者元件必須具有特定的方位,以特定的方位構(gòu)造和操作,因此不能理解為對本實用的限制。
本實用的描述中,還需要說明的是,除非另有明確的規(guī)定和限制,術(shù)語“設(shè)置”、“安裝”、“相連”、“連接”應(yīng)做廣義理解,例如,可以是固定連接,也可以是可拆卸連接,或一體地連接,可以是機械連接,也可以是電連接,可以是直接連接,也可以是通過中間媒介相連,可以是兩個元件內(nèi)部的連通。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言,可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語在本實用中的具體含義。
請參閱圖1-2,本發(fā)明提供一種技術(shù)方案:一種用于芯片加工的刻蝕機,包括機體1、激光器7和光譜分析儀6,所述機體1的上端面架設(shè)有傳送帶3,用于傳輸,所述機體1前端上側(cè)固定安裝有入料箱4,所述入料箱4的底端設(shè)置有入料口15,所述入料口15的尺寸略大于所加工芯片的規(guī)格,用于方便進料,所述入料箱4的一側(cè)固定安裝有第一機架2,用于安裝,所述光譜分析儀6設(shè)置在第一機架2的上端,所述光譜分析儀6的上端電性連接有控制器5,實現(xiàn)自動化和智能化,所述第一機架2的一側(cè)固定安裝有第二機架8,所述激光器7固定安裝在第二機架8的前端,所述激光器7的正下方固定安裝有載片臺12,提供工作平臺,所述載片臺12的底端安裝有紅外線檢測裝置13,所述機體1的末端安裝有驅(qū)動腔10,所述驅(qū)動腔10的一側(cè)固定安裝有傳送電機11,用于提供動力,所述激光器7、傳送電機11和紅外線檢測裝置13均通過數(shù)據(jù)線14與控制器5電性連接,實現(xiàn)自動化,所述驅(qū)動腔10的上端面設(shè)置有檢測臺9,方便人工抽檢并包裝。
工作原理:使用時,芯片通過入料箱4依次進入傳送帶3,首先經(jīng)過光譜分析儀6檢測芯片的待刻蝕層信息,然后進入激光器7下的載片臺12,紅外線檢測裝置13檢測到,控制器5控制傳送電機11暫停,并且激光器7在控制器5的調(diào)控下根據(jù)待刻蝕層信息對芯片的待刻蝕層進行刻蝕,工序結(jié)束后傳送電機11繼續(xù)啟動,直到第二個芯片進入載片臺12。
盡管已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實施例,對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言,可以理解在不脫離本發(fā)明的原理和精神的情況下可以對這些實施例進行多種變化、修改、替換和變型,本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求及其等同物限定。