本申請屬于晶片加工,具體涉及一種襯底片加工方法。
背景技術(shù):
1、碲鋅鎘晶體是一種新型三元化合物半導(dǎo)體,由于其性能優(yōu)異,具有較高的電阻率、較大的禁帶寬度(隨著摻雜鋅含量的變化,禁帶寬度從1.4ev至2.26ev連續(xù)變化),對x射線及γ射線具有非常好的分辨率,可用于天文、醫(yī)學(xué)、軍事等領(lǐng)域的各類探測器等器材中。同時(shí),由于其結(jié)構(gòu)與碲鎘汞(mct)及其匹配,因此是mct最佳的襯底材料。
2、目前襯底片通常是采用化學(xué)機(jī)械拋光進(jìn)行表面處理,但是在化學(xué)機(jī)械拋光后,還是容易出現(xiàn)襯底片表面缺陷多以及粗糙度滿足不了要求的情況,導(dǎo)致襯底片的合格率低,同時(shí),為了改善襯底片的表面缺陷,后續(xù)需要花費(fèi)大量的時(shí)間以及額外的費(fèi)用,導(dǎo)致效益也比較低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請要解決的技術(shù)問題在于:現(xiàn)有的襯底片加工過程中,襯底片表面容易出現(xiàn)表面缺陷多以及粗糙度滿足不了要求的情況,提供一種能夠減少表面缺陷,確保表面粗糙度滿足要求的襯底片加工方法。
2、本申請?zhí)岢龅募夹g(shù)方案為:
3、一種襯底片加工方法,包括步驟:
4、s110,對襯底片的上下兩個(gè)表面進(jìn)行研磨;
5、s120,對襯底片的上下兩個(gè)表面中每一表面的邊緣進(jìn)行倒角處理;
6、s130,對襯底片的上下兩個(gè)表面進(jìn)行化學(xué)機(jī)械拋光;
7、s140,采用氨水溶液對襯底片進(jìn)行化學(xué)腐蝕;
8、其中,所述氨水溶液的質(zhì)量濃度為2.2~3.3%。
9、進(jìn)一步地,在步驟s140中,化學(xué)腐蝕的時(shí)間為10~20s。
10、進(jìn)一步地,所述襯底片加工方法還包括步驟:
11、s150,對襯底片進(jìn)行清洗。
12、進(jìn)一步地,在步驟s150中,采用甲醇溶液或乙二醇溶液對襯底片進(jìn)行清洗。
13、進(jìn)一步地,在步驟s150中,對襯底片清洗5~8次。
14、進(jìn)一步地,在步驟s110中,采用研磨盤和研磨液對襯底片進(jìn)行研磨。
15、進(jìn)一步地,所述研磨液中磨料和純水的體積比為2~5∶8~12,磨料為氧化鋁和金剛石中的一種,且粒徑為3~5μm。
16、進(jìn)一步地,在步驟s130中,采用次氯酸鈉拋光液進(jìn)行拋光。
17、進(jìn)一步地,所述次氯酸鈉拋光液中的磨料為氧化鈰,所述氧化鈰的粒徑為0.1~0.3μm。
18、采用上述的襯底片加工方法,通過化學(xué)機(jī)械拋光去除研磨過程中襯底片表面的機(jī)械損傷及缺陷,減少襯底片表面的劃傷、凹坑和橘皮,然后通過氨水溶液對襯底片進(jìn)行化學(xué)腐蝕,以去除化學(xué)機(jī)械拋光過程中產(chǎn)生的損傷層以及表面殘留的應(yīng)力,使得表面無劃傷、凹坑和橘皮,改善襯底片的表面缺陷多的問題,確保襯底片的表面粗糙度滿足要求,提高襯底片的合格率。同時(shí)也無需后續(xù)花費(fèi)大量的時(shí)間以及額外的費(fèi)用對表面進(jìn)行改善,增加了襯底片加工的經(jīng)濟(jì)效益。
1.一種襯底片加工方法,其特征在于,包括步驟:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的襯底片加工方法,其特征在于,在步驟s140中,化學(xué)腐蝕的時(shí)間為10~20s。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的襯底片加工方法,其特征在于,所述襯底片加工方法還包括步驟:
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的襯底片加工方法,其特征在于,在步驟s150中,采用甲醇溶液或乙二醇溶液對襯底片進(jìn)行清洗。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的襯底片加工方法,其特征在于,在步驟s150中,對襯底片清洗5~8次。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的襯底片加工方法,其特征在于,在步驟s110中,采用研磨盤和研磨液對襯底片進(jìn)行研磨。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的襯底片加工方法,其特征在于,所述研磨液中磨料和純水的體積比為2~5∶8~12;所述磨料為氧化鋁和金剛石中的至少一種;所述磨料的粒徑為3~5μm。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的襯底片加工方法,其特征在于,在步驟s130中,采用次氯酸鈉拋光液進(jìn)行拋光。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的襯底片加工方法,其特征在于,所述次氯酸鈉拋光液中的磨料為氧化鈰;所述氧化鈰的粒徑為0.1~0.3μm。