本申請(qǐng)涉及半導(dǎo)體激光器,尤其涉及一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片及其制備方法。
背景技術(shù):
1、垂直腔面發(fā)射激光器(vcsel)具有光束質(zhì)量好、閾值電流低、高頻調(diào)節(jié)、易于二維列陣集成和制造成本低廉等優(yōu)點(diǎn)。近年來(lái),隨著vcsel在激光雷達(dá)、3d傳感等方面的大規(guī)模應(yīng)用,vcsel受到人們?cè)絹?lái)越多的關(guān)注。
2、電流注入孔是vcsel器件提高電流密度、實(shí)現(xiàn)激光發(fā)射的重要結(jié)構(gòu)。在algaas基vcsel的工藝制程中,通常通過(guò)高溫氧化工藝,將結(jié)構(gòu)中高al組分的半導(dǎo)體材料部分氧化為絕緣的al2o3材料,與未氧化部分的半導(dǎo)體材料形成電流注入路徑。
3、氧化工藝在器件結(jié)構(gòu)內(nèi)形成電流注入路徑的同時(shí),也會(huì)改變器件材料的物理性質(zhì)。絕緣al2o3材料與高al組分半導(dǎo)體材料的晶格常數(shù)不同,晶格失配導(dǎo)致氧化層尖端存在晶格應(yīng)力,應(yīng)力下的晶格形變?nèi)菀自谄骷ぷ鳁l件下形成漏電通道,降低器件的工作壽命和可靠性。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、為了解決以上問(wèn)題的一個(gè)或多個(gè),本申請(qǐng)?zhí)岢鲆环N釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片及其制備方法。
2、根據(jù)本申請(qǐng)的一個(gè)方面,提供了一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片,包括:
3、襯底;
4、位于襯底一側(cè)依次生長(zhǎng)的緩沖層、n-dbr層、n型摻雜層、有源區(qū)層、p型摻雜層、p-dbr層和歐姆接觸層;
5、其中,p型摻雜層包括依次層疊的第一摻雜層、第一超晶格結(jié)構(gòu)層、氧化層、第二超晶格結(jié)構(gòu)層和第二摻雜層,第一超晶格結(jié)構(gòu)層和第二超晶格結(jié)構(gòu)層分別包括交替生長(zhǎng)的兩種或多種材料層。
6、在一些實(shí)施方式中,氧化層的材料為alxgaas或alas,其中x的取值范圍為x大于0.9且x小于1。
7、在一些實(shí)施方式中,第一超晶格結(jié)構(gòu)層和第二超晶格結(jié)構(gòu)層分別包括兩層以上的材料層,材料層的材料為alygaas,第一超晶格結(jié)構(gòu)層和第二超晶格結(jié)構(gòu)層中相鄰的兩個(gè)材料層中的y取值不相等,y的取值范圍是大于0且小于0.9。
8、在一些實(shí)施方式中,在第一超晶格結(jié)構(gòu)層和第二超晶格結(jié)構(gòu)層中交替生長(zhǎng)的兩種或多種材料層,每一種材料層的數(shù)量大于等于1且小于等于10。
9、在一些實(shí)施方式中,在第一超晶格結(jié)構(gòu)層和第二超晶格結(jié)構(gòu)層中交替生長(zhǎng)的兩種或多種材料層,每一種材料層的層厚取值范圍為1nm-10nm。
10、在一些實(shí)施方式中,第一超晶格結(jié)構(gòu)層和第二超晶格結(jié)構(gòu)層的摻雜類型為非故意摻雜或p型摻雜。
11、在一些實(shí)施方式中,第一超晶格結(jié)構(gòu)層和第二超晶格結(jié)構(gòu)層的摻雜濃度范圍為1×1016cm-3到1×1021cm-3。
12、在一些實(shí)施方式中,氧化層的摻雜濃度范圍為1e16cm-3到1e21cm-3。
13、在一些實(shí)施方式中,當(dāng)設(shè)置有一個(gè)以上的有源區(qū)層時(shí),則n型摻雜層、有源區(qū)層和p型摻雜層周期性設(shè)置,各周期之間設(shè)置有隧穿結(jié)層。
14、根據(jù)本申請(qǐng)的另一個(gè)方面,提供了一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片的制備方法,用于制備以上任意一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片,包括以下步驟:
15、提供襯底;
16、在襯底上依次生長(zhǎng)緩沖層、n-dbr層、n型摻雜層、有源區(qū)層、p型摻雜層、p-dbr層和歐姆接觸層;
17、其中,p型摻雜層包括依次層疊的第一摻雜層、第一超晶格結(jié)構(gòu)層、氧化層、第二超晶格結(jié)構(gòu)層和第二摻雜層,第一超晶格結(jié)構(gòu)層和第二超晶格結(jié)構(gòu)層分別包括交替生長(zhǎng)的兩種或多種材料層。
18、本申請(qǐng)公開(kāi)的一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片及其制備方法,在不改變器件工藝條件下,有效緩解器件中氧化層的應(yīng)力,無(wú)需采用后工藝處理等應(yīng)力釋放手段,簡(jiǎn)化工藝步驟,提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品良率;第一超晶格結(jié)構(gòu)層和第二超晶格結(jié)構(gòu)層的隧穿效應(yīng)能夠避免高al組分半導(dǎo)體材料導(dǎo)致的串阻增大,有效提高器件的性能;芯片結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,能夠兼容通用的半導(dǎo)體激光器件的工藝制程,能廣泛應(yīng)用于所有氧化物限制激光器制造領(lǐng)域。
1.一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片,其特征在于,所述氧化層的材料為alxgaas或alas,其中x的取值范圍為x大于0.9且x小于1。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片,其特征在于,所述第一超晶格結(jié)構(gòu)層和所述第二超晶格結(jié)構(gòu)層分別包括兩層以上的材料層,所述材料層的材料為alygaas,所述第一超晶格結(jié)構(gòu)層和所述第二超晶格結(jié)構(gòu)層中相鄰的兩個(gè)材料層中的y取值不相等,y的取值范圍是大于0且小于0.9。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片,其特征在于,在所述第一超晶格結(jié)構(gòu)層和第二超晶格結(jié)構(gòu)層中交替生長(zhǎng)的兩種或多種材料層,每一種材料層的數(shù)量大于等于1且小于等于10。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片,其特征在于,在所述第一超晶格結(jié)構(gòu)層和第二超晶格結(jié)構(gòu)層中交替生長(zhǎng)的兩種或多種材料層,每一種材料層的層厚取值范圍為1nm-10nm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片,其特征在于,所述第一超晶格結(jié)構(gòu)層和第二超晶格結(jié)構(gòu)層的摻雜類型為非故意摻雜或p型摻雜。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片,其特征在于,所述第一超晶格結(jié)構(gòu)層和第二超晶格結(jié)構(gòu)層的摻雜濃度范圍為1e16cm-3到1e21cm-3。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片,其特征在于,所述氧化層的摻雜濃度范圍為1e16cm-3到1e21cm-3。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片,其特征在于,當(dāng)設(shè)置有一個(gè)以上的有源區(qū)層時(shí),則n型摻雜層、有源區(qū)層和p型摻雜層周期性設(shè)置,各周期之間設(shè)置有隧穿結(jié)層。
10.一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片的制備方法,用于制備權(quán)利要求1-9任一所述的一種釋放氧化應(yīng)力的vcsel芯片,其特征在于,包括以下步驟: