本發(fā)明涉及半導(dǎo)體材料的,尤其涉及一種具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu)及其制備方法。
背景技術(shù):
1、gan材料具有熱產(chǎn)生效率低、抗輻射、擊穿電壓高、電子飽、漂移速度大和介電常數(shù)小的優(yōu)點(diǎn),已被廣泛應(yīng)用在高頻、高溫、高壓電子器件領(lǐng)域,其中g(shù)an材料在發(fā)光二極管(led)和半導(dǎo)體激光器(ld)等方面的應(yīng)用,成為了當(dāng)前研究的熱點(diǎn)。
2、隨著gan基半導(dǎo)體材料質(zhì)量的提升和器件制造的改進(jìn),gan基的多量子阱發(fā)光二極管已逐漸取代傳統(tǒng)的白熾燈和熒光燈,然而,對(duì)于多量子阱結(jié)構(gòu)的led來說,由于p型摻雜的困難,難以獲得高空穴濃度的p型gan基材料,以及電子和空穴傳輸性能的差異,空穴的遷移率偏低,使得電子和空穴濃度在多量子阱中的分布都極為不匹配,從而制約了大功率、高光效led的開發(fā)和應(yīng)用。
3、高光效led需要同時(shí)具有高的發(fā)光效率和低的工作電壓,而理想的n型和p型材料是高光效led得以應(yīng)用的前提,是高光效led發(fā)揮良好性能的基礎(chǔ)。對(duì)于已經(jīng)進(jìn)入市場(chǎng)化生產(chǎn)的gan基led器件,n型摻雜已經(jīng)具備較成熟的技術(shù),mg是p型gan基材料的主要摻雜劑,而p型gan基材料中受主(mg)摻雜效率低、激活效率低,故p型摻雜仍是目前阻礙高光效led進(jìn)一步發(fā)展的障礙,而p型gan基材料的空穴濃度和空穴遷移率是直接影響器件的發(fā)光效率的重要參數(shù),因此,有必要深入研究如何提高p型gan基材料中的空穴濃度和空穴遷移率,從而提高led的發(fā)光效率。
4、目前gan基藍(lán)綠光led外延結(jié)構(gòu)中的p型層通常為mg摻雜的gan,這種常規(guī)的p型gan由于mg的摻雜效率低、激活效率低、空穴遷移率低,導(dǎo)致在多量子阱中的空穴濃度低,難以滿足高光效led的應(yīng)用。提高量子阱中的空穴濃度方法有:1.增加mg的摻雜濃度,通常是直接增加mg的摻雜流量,而mg的摻雜濃度過高,會(huì)導(dǎo)致晶體質(zhì)量嚴(yán)重下降;2.提高mg的激活效率,由于mg的激活能較高,常用的激活方法為爐內(nèi)退火和爐外退火,激活效率均只有1~2%左右,目前方法mg的激活效率低且暫未發(fā)現(xiàn)更高效率的激活方式;3.增加空穴的遷移率,提高空穴的遷移率研究比較少,通常利用降低電子阻擋層的勢(shì)壘高度來提高空穴的遷移率,電子阻擋層的勢(shì)壘高度降低同時(shí)會(huì)導(dǎo)致更多的電子溢流至p型層,導(dǎo)致量子阱內(nèi)電子空穴重疊率降低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于,提供一種具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu)及其制備方法,可以提高空穴的遷移率,增加空穴在量子阱的注入效率,從而提高led的發(fā)光效率。
2、為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明第一方面提供了一種具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu),其特征在于,包括襯底,于所述襯底上依次層疊設(shè)置的緩沖層,未摻雜的gan層,n型摻雜gan層,多量子阱層,電子阻擋層,p型摻雜gan層和空穴隧穿層;
3、其中,所述空穴隧穿層包括由下至上依次層疊設(shè)置的p型摻雜的ingan層,insb層和n型摻雜的ingan層。
4、作為上述方案的改進(jìn),所述p型摻雜的ingan層中的摻雜濃度大于所述p型摻雜gan層中的摻雜濃度。
5、作為上述方案的改進(jìn),所述p型摻雜的ingan層中摻雜元素為mg,摻雜濃度為1×1020cm-3~5×1021cm-3。
6、作為上述方案的改進(jìn),所述p型摻雜的ingan層中in組分占0.1~0.3。
7、作為上述方案的改進(jìn),所述n型摻雜的ingan層中in組分占0.2~0.6。
8、作為上述方案的改進(jìn),所述p型摻雜的ingan層中in組分占比小于所述n型摻雜的ingan層中in組分占比。
9、作為上述方案的改進(jìn),所述p型摻雜的ingan層厚度為10nn~50nm;
10、所述insb層的厚度為1nm~5nm;
11、所述n型摻雜的ingan層的厚度為5nm~20nm。
12、作為上述方案的改進(jìn),所述n型摻雜的ingan層中摻雜元素為si,摻雜濃度為1×1020cm-3~5×1021cm-3。
13、作為上述方案的改進(jìn),所述p型摻雜的ingan層的生長(zhǎng)溫度為800℃~900℃,壓力為100torr~200torr;
14、所述insb層的生長(zhǎng)溫度為400℃~600℃,生長(zhǎng)壓力為100torr~200torr;
15、所述n型摻雜的ingan層的生長(zhǎng)溫度為800℃~900℃,生長(zhǎng)壓力為100torr~200torr。
16、本發(fā)明第二方面還提供了一種所述的具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu)的制備方法,包括:
17、提供一襯底;
18、在襯底上生長(zhǎng)緩沖層;
19、在緩沖層上生長(zhǎng)未摻雜的gan層;
20、在未摻雜的gan層上生長(zhǎng)n型摻雜gan層;
21、在n型摻雜gan層上生長(zhǎng)多量子阱層;
22、在多量子阱層上生長(zhǎng)電子阻擋層;
23、在電子阻擋層上生長(zhǎng)p型摻雜gan層;
24、在p型摻雜gan層上生長(zhǎng)空穴隧穿層;
25、其中,所述空穴隧穿層包括由下至上依次層疊設(shè)置的p型摻雜的ingan層,insb層和n型摻雜的ingan層。
26、實(shí)施本發(fā)明,具有如下有益效果:
27、本發(fā)明中在p型摻雜gan層上設(shè)置空穴隧穿層,該空穴隧穿層包括由下至上依次層疊設(shè)置的p型摻雜的ingan層,insb層和n型摻雜的ingan層,在空穴隧穿層內(nèi)形成了pn結(jié),進(jìn)而能夠形成內(nèi)建電池,insb層則可以大幅提高隧穿結(jié)區(qū)的電場(chǎng)強(qiáng)度,提高載流子的隧穿幾率,進(jìn)而有效地提高了電流擴(kuò)展效應(yīng),可以明顯提高空穴的隧穿幾率,提高led的發(fā)光效率同時(shí)能降低工作電壓。
1.一種具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu),其特征在于,包括襯底,于所述襯底上依次層疊設(shè)置的緩沖層,未摻雜的gan層,n型摻雜gan層,多量子阱層,電子阻擋層,p型摻雜gan層和空穴隧穿層;
2.如權(quán)利要求1所述的具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu),其特征在于,所述p型摻雜的ingan層中的摻雜濃度大于所述p型摻雜gan層中的摻雜濃度。
3.如權(quán)利要求2所述的具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu),其特征在于,所述p型摻雜的ingan層中摻雜元素為mg,摻雜濃度為1×1020cm-3~5×1021cm-3。
4.如權(quán)利要求1所述的具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu),其特征在于,所述p型摻雜的ingan層中in組分占0.1~0.3。
5.如權(quán)利要求1所述的具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu),其特征在于,所述n型摻雜的ingan層中in組分占0.2~0.6。
6.如權(quán)利要求4或5所述的具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu),其特征在于,所述p型摻雜的ingan層中in組分占比小于所述n型摻雜的ingan層中in組分占比。
7.如權(quán)利要求1或6所述的具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu),其特征在于,所述p型摻雜的ingan層厚度為10nn~50nm;
8.如權(quán)利要求1所述的具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu),其特征在于,所述n型摻雜的ingan層中摻雜元素為si,摻雜濃度為1×1020cm-3~5×1021cm-3。
9.如權(quán)利要求1所述的具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu),其特征在于,所述p型摻雜的ingan層的生長(zhǎng)溫度為800℃~900℃,壓力為100torr~200torr;
10.一種如權(quán)利要求1~9任一項(xiàng)所述的具有高發(fā)光效率的led外延結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,包括: