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      一種ic集成電路檢測裝置的制造方法

      文檔序號:10770504閱讀:676來源:國知局
      一種ic集成電路檢測裝置的制造方法
      【專利摘要】本實用新型提供一種IC集成電路檢測裝置,它包括有檢測主體、電流控制器,其中,電流控制器安裝在檢測主體頂部,電流控制器頂部通過導線安裝有測試筆,其中一個測試筆的筆頭為金屬檢測針,另一個測試筆筆頭為金屬夾;電流控制器一端的檢測主體上設有顯示屏,另一端延伸形成有尖錐狀的固定塊,固定塊一側(cè)設有壓板,壓板中部鉸接在檢測主體內(nèi),其一端與固定塊配合,另一端穿過檢測主體形成扳機,扳機內(nèi)側(cè)設有切面,檢測主體內(nèi)設有復位槽,復位槽內(nèi)設有復位彈簧。采用本方案后具有結(jié)構(gòu)簡單、檢測方便的優(yōu)點。
      【專利說明】
      一種IC集成電路檢測裝置
      技術(shù)領域
      [0001]本實用新型涉及集成電路技術(shù)領域,尤其是指一種IC集成電路檢測裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]集成電路是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝,把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質(zhì)基片上,然后封裝在一個管殼內(nèi),成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu);其中所有元件在結(jié)構(gòu)上已組成一個整體,使電子元件向著微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面邁進了一大步。集成電路在生產(chǎn)時往往需要經(jīng)過抽檢、成檢等檢測,現(xiàn)有抽檢都是測試筆一個個點測,這種方式抽檢速度慢、效率低。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種結(jié)構(gòu)簡單、檢測方便的IC集成電路檢測裝置。
      [0004]為實現(xiàn)上述目的,本實用新型所提供的技術(shù)方案為:一種IC集成電路檢測裝置,它包括有檢測主體、電流控制器,其中,電流控制器安裝在檢測主體頂部,電流控制器頂部通過導線安裝有測試筆,其中一個測試筆的筆頭為金屬檢測針,另一個測試筆筆頭為金屬夾;電流控制器一端的檢測主體上設有顯示屏,另一端延伸形成有尖錐狀的固定塊,固定塊一側(cè)設有壓板,壓板中部鉸接在檢測主體內(nèi),其一端與固定塊配合,另一端穿過檢測主體形成扳機,扳機內(nèi)側(cè)設有切面,檢測主體內(nèi)設有復位槽,復位槽內(nèi)設有復位彈簧,復位彈簧外端與扳機內(nèi)側(cè)的切面相抵觸。
      [0005]所述的電流控制器頂部設有旋扭式調(diào)節(jié)鈕。
      [0006]所述的檢測主體一端端部設有掛繩。
      [0007]本實用新型在采用上述方案后,壓下扳機,將待檢電路一側(cè)的極腳放入壓板與固定塊之間,松開扳機將待檢電路夾住,將測試筆夾住或點另一極腳,進行檢測,同時還可以根據(jù)實際需要采用兩條測試筆進行單獨檢測;同時檢測電流可以通過控制旋扭進行調(diào)節(jié);采用本方案后具有結(jié)構(gòu)簡單、檢測方便的優(yōu)點。
      【附圖說明】
      [0008]圖1為本實用新型的整體結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0009]圖2為本實用新型的復位槽結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實施方式】
      [0010]下面結(jié)合所有附圖對本實用新型作進一步說明,本實用新型的較佳實施例為:參見附圖1和附圖2,本實施例所述的一種IC集成電路檢測裝置包括有檢測主體1、電流控制器2,其中,電流控制器2安裝在檢測主體I頂部,所述的電流控制器2頂部設有旋扭式調(diào)節(jié)鈕10,電流控制器2頂部通過導線安裝有測試筆5,其中一個測試筆5的筆頭為金屬檢測針,另一個測試筆5筆頭為金屬夾;電流控制器2—端的檢測主體I上設有顯示屏3,另一端延伸形成有尖錐狀的固定塊4,固定塊4一側(cè)設有壓板6,壓板6中部鉸接在檢測主體I內(nèi),其一端與固定塊4配合,另一端穿過檢測主體I形成扳機7,扳機7內(nèi)側(cè)設有切面,檢測主體I內(nèi)設有復位槽8,所述的檢測主體I 一端端部設有掛繩11,復位槽8內(nèi)設有復位彈簧9,復位彈簧9外端與扳機7內(nèi)側(cè)的切面相抵觸。本實施例壓下扳機,將待檢電路一側(cè)的極腳放入壓板與固定塊之間,松開扳機將待檢電路夾住,將測試筆夾住或點另一極腳,進行檢測,同時還可以根據(jù)實際需要采用兩條測試筆進行單獨檢測;同時檢測電流可以通過控制旋扭進行調(diào)節(jié)。
      [0011]以上所述之實施例只為本實用新型之較佳實施例,并非以此限制本實用新型的實施范圍,故凡依本實用新型之形狀、原理所作的變化,均應涵蓋在本實用新型的保護范圍內(nèi)。
      【主權(quán)項】
      1.一種IC集成電路檢測裝置,其特征在于:它包括有檢測主體(I)、電流控制器(2),其中,電流控制器(2)安裝在檢測主體(I)頂部,電流控制器(2)頂部通過導線安裝有測試筆(5),其中一個測試筆(5)的筆頭為金屬檢測針,另一個測試筆(5)筆頭為金屬夾;電流控制器(2)—端的檢測主體(I)上設有顯示屏(3),另一端延伸形成有尖錐狀的固定塊(4),固定塊(4)一側(cè)設有壓板(6),壓板(6)中部鉸接在檢測主體(I)內(nèi),其一端與固定塊(4)配合,另一端穿過檢測主體(I)形成扳機(7 ),扳機(7 )內(nèi)側(cè)設有切面,檢測主體(I)內(nèi)設有復位槽(8),復位槽(8)內(nèi)設有復位彈簧(9),復位彈簧(9)外端與扳機(7)內(nèi)側(cè)的切面相抵觸。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種IC集成電路檢測裝置,其特征在于:電流控制器(2)頂部設有旋扭式調(diào)節(jié)鈕(10)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種IC集成電路檢測裝置,其特征在于:檢測主體(I)一端端部設有掛繩(11)。
      【文檔編號】H01L21/66GK205452238SQ201620135358
      【公開日】2016年8月10日
      【申請日】2016年2月23日
      【發(fā)明人】徐銀森
      【申請人】四川遂寧市利普芯微電子有限公司
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