一種量產(chǎn)測(cè)試設(shè)備及其短路過流保護(hù)電路的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明屬于短路過流保護(hù)【技術(shù)領(lǐng)域】，提供了一種量產(chǎn)測(cè)試設(shè)備及其短路過流保護(hù)電路。本發(fā)明通過采用包括開關(guān)模塊、微處理器、短路保護(hù)模塊及電流檢測(cè)模塊的短路過流保護(hù)電路，當(dāng)被測(cè)單元出現(xiàn)短路時(shí)，短路保護(hù)模塊根據(jù)電流檢測(cè)模塊的回路輸出端的電壓相應(yīng)地將開關(guān)模塊的輸出電流引至直流電源的接地端，當(dāng)被測(cè)單元的測(cè)試回路出現(xiàn)過流時(shí)，電流檢測(cè)模塊根據(jù)被測(cè)單元的輸入端和/或回路端的電流相應(yīng)地輸出輸入端異常信號(hào)和/或回路端異常信號(hào)驅(qū)動(dòng)微處理器發(fā)出關(guān)斷信號(hào)控制開關(guān)模塊快速切斷電流通路，從而在測(cè)試過程中對(duì)被測(cè)單元和測(cè)試電路實(shí)現(xiàn)了快速的短路過流保護(hù)，保證被測(cè)單元和測(cè)試電路不受損壞并進(jìn)一步提升了生產(chǎn)效率。
【專利說明】一種量產(chǎn)測(cè)試設(shè)備及其短路過流保護(hù)電路
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于短路過流保護(hù)【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種量產(chǎn)測(cè)試設(shè)備及其短路過流保護(hù)電路。
【背景技術(shù)】
[0002]在對(duì)IC芯片或電源系統(tǒng)進(jìn)行批量生產(chǎn)過程中，需要采用測(cè)試設(shè)備對(duì)IC芯片或電源系統(tǒng)等被測(cè)單元進(jìn)行測(cè)試以確定是否達(dá)到各項(xiàng)指標(biāo)，現(xiàn)有的測(cè)試設(shè)備經(jīng)常缺少短路過流保護(hù)功能或者僅具備單一的硬件保護(hù)功能或軟件保護(hù)功能，當(dāng)遇到被測(cè)單元出現(xiàn)短路或過流時(shí)會(huì)出現(xiàn)因響應(yīng)速度慢而無法快速對(duì)測(cè)試電路和被測(cè)單元實(shí)施短路過流保護(hù)，從而使測(cè)試電路和被測(cè)單元受到損壞，并降低了生產(chǎn)效率。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]本發(fā)明的目的在于提供一種短路過流保護(hù)電路，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)在被測(cè)單元出現(xiàn)短路或過流時(shí)因響應(yīng)速度慢而無法對(duì)測(cè)試電路和被測(cè)單元實(shí)施快速短路過流保護(hù)，從而使測(cè)試電路和被測(cè)單元受到損壞并降低生產(chǎn)效率的問題。
[0004]本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種短路過流保護(hù)電路，與直流電源、被測(cè)單元及測(cè)試電路連接，所述被測(cè)單元的輸入端和回路端與測(cè)試電路連接以進(jìn)行測(cè)試；
[0005]所述短路過流保護(hù)電路包括:
[0006]開關(guān)模塊、微處理器、短路保護(hù)模塊及電流檢測(cè)模塊；
[0007]所述開關(guān)模塊的輸入端連接所述直流電源的輸出端，所述短路保護(hù)模塊的輸入端與所述電流檢測(cè)模塊的輸入端共接于所述開關(guān)模塊的輸出端，所述電流檢測(cè)模塊的輸出端和回路輸入端分別連接所述被測(cè)單元的輸入端和回路端，所述短路保護(hù)模塊的電壓采樣端連接所述電流檢測(cè)模塊的回路輸出端，所述短路保護(hù)模塊的回路端連接所述直流電源的接地端，所述微處理器連接所述電流檢測(cè)模塊的第一過流反饋端和第二過流反饋端，所述微處理器還與所述測(cè)試電路及所述開關(guān)模塊的控制端連接；
[0008]在所述測(cè)試電路開始對(duì)所述被測(cè)單元進(jìn)行測(cè)試時(shí)，由所述微處理器根據(jù)所述測(cè)試電路的工作狀態(tài)發(fā)出導(dǎo)通信號(hào)控制所述開關(guān)模塊保持導(dǎo)通狀態(tài)，當(dāng)所述被測(cè)單元出現(xiàn)短路時(shí)，所述短路保護(hù)模塊根據(jù)所述電流檢測(cè)模塊的回路輸出端的電壓相應(yīng)地將所述開關(guān)模塊的輸出端的輸出電流引至所述直流電源的接地端；當(dāng)所述被測(cè)單元的測(cè)試回路出現(xiàn)過流時(shí)，所述電流檢測(cè)模塊根據(jù)所述被測(cè)單元的輸入端和/或回路端的電流相應(yīng)地輸出輸入端異常信號(hào)和/或回路端異常信號(hào)至所述微處理器，再由所述微處理器發(fā)出關(guān)斷信號(hào)控制所述開關(guān)模塊切斷電流通路。
[0009]本發(fā)明的另一目的還在于提供一種量產(chǎn)測(cè)試設(shè)備，所述量產(chǎn)測(cè)試設(shè)備包括測(cè)試電路和上述的短路過流保護(hù)電路。
[0010]本發(fā)明通過采用包括開關(guān)模塊、微處理器、短路保護(hù)模塊及電流檢測(cè)模塊的短路過流保護(hù)電路，當(dāng)被測(cè)單元出現(xiàn)短路時(shí)，短路保護(hù)模塊根據(jù)電流檢測(cè)模塊的回路輸出端的電壓相應(yīng)地將開關(guān)模塊的輸出電流引至直流電源的接地端，當(dāng)被測(cè)單元的測(cè)試回路出現(xiàn)過流時(shí)，電流檢測(cè)模塊根據(jù)被測(cè)單元的輸入端和/或回路端的電流相應(yīng)地輸出輸入端異常信號(hào)和/或回路端異常信號(hào)驅(qū)動(dòng)微處理器發(fā)出關(guān)斷信號(hào)控制開關(guān)模塊快速切斷電流通路，從而在測(cè)試過程中對(duì)被測(cè)單元和測(cè)試電路實(shí)現(xiàn)了快速的短路過流保護(hù)，保證被測(cè)單元和測(cè)試電路不受損壞并進(jìn)一步提升了生產(chǎn)效率。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0011]圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的短路過流保護(hù)電路的模塊結(jié)構(gòu)圖；
[0012]圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的短路過流保護(hù)電路的示例電路結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0014]本發(fā)明通過采用包括開關(guān)模塊、微處理器、短路保護(hù)模塊及電流檢測(cè)模塊的短路過流保護(hù)電路，在測(cè)試過程中對(duì)測(cè)試電路和被測(cè)單元實(shí)現(xiàn)了快速的短路過流保護(hù)，保證測(cè)試電路和被測(cè)單元不受損壞并進(jìn)一步提升了生產(chǎn)效率。
[0015]圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例提供的短路過流保護(hù)電路的模塊結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分，詳述如下:
[0016]短路過流保護(hù)電路100與直流電源200、被測(cè)單元300及測(cè)試電路400連接，被測(cè)單元300的輸入端和回路端與測(cè)試電路400連接以進(jìn)行測(cè)試。
[0017]短路過流保護(hù)電路100包括開關(guān)模塊101、微處理器102、短路保護(hù)模塊103及電流檢測(cè)模塊104。
[0018]開關(guān)模塊101的輸入端連接直流電源200的輸出端，短路保護(hù)模塊103的輸入端與電流檢測(cè)模塊104的輸入端共接于開關(guān)模塊101的輸出端，電流檢測(cè)模塊104的輸出端和回路輸入端分別連接被測(cè)單元300的輸入端和回路端，短路保護(hù)模塊103的電壓采樣端連接電流檢測(cè)模塊104的回路輸出端，短路保護(hù)模塊103的回路端連接直流電源200的接地端，微處理器102連接電流檢測(cè)模塊104的第一過流反饋端和第二過流反饋端，微處理器102還與測(cè)試電路400以及開關(guān)模塊101的控制端連接。
[0019]在測(cè)試電路400開始對(duì)被測(cè)單元300進(jìn)行測(cè)試時(shí)，由微處理器102根據(jù)測(cè)試電路400的工作狀態(tài)發(fā)出導(dǎo)通信號(hào)控制開關(guān)模塊101保持導(dǎo)通狀態(tài)，當(dāng)被測(cè)單元300出現(xiàn)短路時(shí)，短路保護(hù)模塊103根據(jù)電流檢測(cè)模塊104的回路輸出端的電壓相應(yīng)地將開關(guān)模塊101的輸出端的輸出電流引至直流電源200的接地端，當(dāng)被測(cè)單元300的測(cè)試回路出現(xiàn)過流時(shí)，電流檢測(cè)模塊104根據(jù)被測(cè)單元300的輸入端和/或回路端的電流相應(yīng)地輸出輸入端異常信號(hào)和/或回路端異常信號(hào)至微處理器102，再由微處理器102發(fā)出關(guān)斷信號(hào)控制開關(guān)模塊101切斷電流通路。
[0020]因此，在上述的短路過流保護(hù)電路100中，短路保護(hù)模塊103可以在被測(cè)單元300出現(xiàn)短路時(shí)根據(jù)電流檢測(cè)模塊104的回路輸出端的電壓將開關(guān)模塊101的輸出電流強(qiáng)行拉至直流電源200的接地端(直流電源200的接地端接地)以實(shí)現(xiàn)短路異常保護(hù)；另外，由開關(guān)模塊101、微處理器102及電流檢測(cè)模塊104組成的過流保護(hù)電路也可以在被測(cè)單元300的測(cè)試回路出現(xiàn)過流時(shí)，根據(jù)被測(cè)單元300的輸入端和/或回路端的電流，通過微處理器102(其內(nèi)部嵌入有軟件程序)發(fā)出關(guān)斷信號(hào)控制開關(guān)模塊101切斷其內(nèi)部的電流通路以實(shí)現(xiàn)過流保護(hù)，從而能夠在測(cè)試過程中對(duì)被測(cè)單元300和測(cè)試電路400實(shí)現(xiàn)軟硬件相結(jié)合的短路過流保護(hù)，且響應(yīng)速度快，有利于快速實(shí)現(xiàn)短路過流保護(hù)動(dòng)作，從而保證被測(cè)單元300和測(cè)試電路400和不受損壞。
[0021]圖2示出了本發(fā)明實(shí)施例提供的短路過流保護(hù)電路的示例電路結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分，詳述如下:
[0022]作為本發(fā)明一實(shí)施例，開關(guān)模塊101包括第一二極管Dl和繼電器K1，第一二極管Dl的陽極與繼電器Kl的第一控制觸點(diǎn)的共接點(diǎn)為開關(guān)模塊101的控制端，第一二極管Dl的陰極與繼電器Kl的第二控制觸點(diǎn)共接并接入+5V電壓，繼電器Kl的開關(guān)觸點(diǎn)和常開觸點(diǎn)分別為開關(guān)模塊101的輸入端和輸出端，或者繼電器Kl的常開觸點(diǎn)和開關(guān)觸點(diǎn)分別為開關(guān)模塊101的輸入端和輸出端(圖2中未不出)。
[0023]作為本發(fā)明一實(shí)施例，微處理器102為單片機(jī)、ARM處理器或者其他具備數(shù)據(jù)邏輯處理能力的可編程控制器件。
[0024]作為本發(fā)明一實(shí)施例，短路保護(hù)模塊103包括:
[0025]第一電阻R1、第二電阻R2、第二二極管D2、第三電阻R3、第一開關(guān)管1031、第四電阻R4、第一穩(wěn)壓二極管ZD1、第二穩(wěn)壓二極管ZD2、第五電阻R5以及第二開關(guān)管1032 ；
[0026]第一電阻Rl的第一端為短路保護(hù)模塊103的輸入端，第一電阻Rl的第二端與第二電阻R2的第一端及第二二極管D2的陰極共接于第一開關(guān)管1031的輸入端，第一開關(guān)管1031的輸出端為短路保護(hù)模塊103的回路端，第一開關(guān)管1031的控制端與第四電阻R4的第一端、第一穩(wěn)壓二極管ZDl的陰極共接于第三電阻R3的第一端，第二電阻R2的第二端與第二二極管D2的陽極、第二穩(wěn)壓二極管ZD2的陰極以及第五電阻R5的第一端共接于第二開關(guān)管1032的控制端，第三電阻R3的第二端為短路保護(hù)模塊103的電壓采樣端，第二開關(guān)管1032的輸入端連接第三電阻R3的第二端，第四電阻R4的第二端、第一穩(wěn)壓二極管ZDl的陽極、第二穩(wěn)壓二極管ZD2的陽極、第五電阻R5的第二端以及第二開關(guān)管1032的輸出端共接于第一開關(guān)管1031的輸出端。
[0027]其中，第一電阻Rl與第三電阻R3優(yōu)選為相等的阻值，則第一電阻Rl與第二電阻R2的阻值之和大于第三電阻R3的阻值；第一開關(guān)管1031和第二開關(guān)管1032可以是三極管、MOS管或者其他具備開關(guān)特性的半導(dǎo)體器件，且第一開關(guān)管1031和第二開關(guān)管1032為同一類型的開關(guān)管，如圖2所示，當(dāng)?shù)谝婚_關(guān)管1031和第二開關(guān)管1032分別為第一 NMOS管Ql和第二 NMOS管Q2時(shí)，第一 NMOS管Ql的漏極、源極和柵極分別為第一開關(guān)管1031的輸入端、輸出端和控制端，第二 NMOS管Q2的漏極、源極和柵極分別為第二開關(guān)管1032的輸入端、輸出端和控制端。
[0028]另外，第一穩(wěn)壓二極管ZDl和第二穩(wěn)壓二極管ZD2分別為第一開關(guān)管1031和第二開關(guān)管1032提供穩(wěn)壓保護(hù)功能，第四電阻R4和第五電阻R5分別是為第一穩(wěn)壓二極管ZDl和第二穩(wěn)壓二極管ZD2提供過流保護(hù)的分流電阻。
[0029]作為本發(fā)明一實(shí)施例，電流檢測(cè)模塊104包括:
[0030]第六電阻R6、第七電阻R7、第八電阻R8、第九電阻R9、第一電容Cl、第一光稱Ul、第十電阻R10、第十一電阻R11、第十二電阻R12、第十三電阻R13、第二電容C2以及第二光耦U2 ；
[0031]第六電阻R6的第一端、第八電阻R8的第一端及第一電容Cl的第一端所形成的共接點(diǎn)為電流檢測(cè)模塊104的輸入端，第八電阻R8的第二端和第一電容Cl的第二端共接于第一光耦Ul的發(fā)光二極管的陽極，第六電阻R6的第二端和第一光耦Ul的發(fā)光二極管的陰極共接于第七電阻R7的第一端，第七電阻R7的第二端為電流檢測(cè)模塊104的輸出端，第一光耦Ul的光敏三極管的漏極與第九電阻R9的第一端的共接點(diǎn)為電流檢測(cè)模塊104的第一過流反饋端，第九電阻R9的第二端接入+5V電壓，第一光耦Ul的光敏三極管的源極接信號(hào)地(信號(hào)地是指與微處理器102的低電平信號(hào)相同的低電位)，第十一電阻Rll的第一端為電流檢測(cè)模塊104的回路輸入端，第十電阻RlO的第一端與第十一電阻Rll的第二端共接于第二光耦U2的發(fā)光二極管的陽極，第十電阻RlO的第二端、第十二電阻R12的第一端及第二電容C2的第一端所形成的共接點(diǎn)為電流檢測(cè)模塊104的回路輸出端，第十二電阻R12的第二端和第二電容C2的第二端共接于第二光耦U2的發(fā)光二極管的陰極，第二光耦U2的光敏三極管的漏極與第十三電阻R13的第一端的共接點(diǎn)為電流檢測(cè)模塊104的第二過流反饋端，第十三電阻R13的第二端接入+5V電壓，第二光耦U2的光敏三極管的源極接信號(hào)地。
[0032]以下結(jié)合工作原理對(duì)上述的短路過流保護(hù)電路100作進(jìn)一步說明:
[0033]對(duì)于短路保護(hù)模塊103，在正常情況下，當(dāng)電路上電時(shí)，繼電器Kl在微處理器102的控制下閉合導(dǎo)通，由于被測(cè)單元300處于啟動(dòng)階段(等效于開路狀態(tài))，此時(shí)在直流電源200的輸出電壓的作用下，通過第一電阻Rl和第二電阻R2后對(duì)第二 NMOS管Q2的柵源極寄生電容進(jìn)行充電，使第二 NMOS管Q2的柵極電壓快速上升至其導(dǎo)通電壓，則第二 NMOS管Q2導(dǎo)通，且其漏極電壓被拉低，并通過第三電阻R3控制第一 NMOS管Ql保持關(guān)斷狀態(tài)。所以，此時(shí)測(cè)試電路400正常工作直至測(cè)試工作完成，然后由微處理器102發(fā)出關(guān)斷信號(hào)斷開繼電器K1，并等待進(jìn)行下一次測(cè)試。在被測(cè)單元300出現(xiàn)短路異常狀況時(shí)，當(dāng)電路上電時(shí)，繼電器Kl在微處理器102的 控制下閉合導(dǎo)通，由于被測(cè)單元300處于短路狀態(tài)，由于短路時(shí)，被測(cè)單元300的輸入端和回路端幾乎短接，則電流采樣模塊104的回路輸出端輸出的電壓會(huì)快速升高，由于第一電阻Rl與第二電阻R2的阻值之和大于第三電阻R3的阻值，第三電阻R3采樣的電壓升高，先使第一 NMOS管Ql的柵極電壓升高，從而使第一 NMOS管Ql導(dǎo)通(主電流回路變?yōu)閺牡谝浑娮鑂l通過第一 NMOS管Ql回流至直流電源200的接地端)，則第一 NMOS管Ql的漏極電壓被強(qiáng)制拉低至地(與直流電源200的接地端連接)，進(jìn)而通過第二二極管D2將第二 NMOS管Q2的柵極快速拉低以關(guān)閉測(cè)試回路中第二 NMOS管Q2處的電流通路，從而起到快速保護(hù)測(cè)試電路的目的。
[0034]對(duì)于由開關(guān)模塊101、微處理器102及電流檢測(cè)模塊104構(gòu)成的過流保護(hù)電路，將第七電阻R7和第十一電阻Rll作為功率電阻串接到測(cè)試回路中進(jìn)行電流采樣，當(dāng)流經(jīng)第六電阻R6和/或第十電阻RlO的電流大于設(shè)定電流時(shí)，第一光稱Ul的發(fā)光二極管和/或第二光稱U2的發(fā)光二極管會(huì)導(dǎo)通,則第一光稱Ul的光敏三極管和/或第二光稱U2的光敏三極管也會(huì)隨之導(dǎo)通，相應(yīng)地，第一光耦Ul的光敏三極管的漏極電壓和/或第二光耦U2的光敏三極管的漏極電壓會(huì)被拉低，所以電流檢測(cè)模塊104的第一過流反饋端和/或第二過流反饋端會(huì)從高電平變?yōu)榈碗娖?即第一過流反饋端的低電平為前述的輸入端異常信號(hào)，第二過流反饋端的低電平為前述的回路端異常信號(hào))，微處理器102對(duì)電流檢測(cè)模塊104的第一過流反饋端和第二過流反饋端進(jìn)行實(shí)時(shí)采樣，當(dāng)所采樣到的信號(hào)為低電平時(shí)，則判定被測(cè)單元的測(cè)試回路出現(xiàn)過流異常，此時(shí)微處理器102發(fā)出5V電平信號(hào)(即為關(guān)斷信號(hào))控制繼電器Kl關(guān)斷以切斷電流通路，從而達(dá)到保護(hù)被測(cè)單元300和測(cè)試電路400的目的。
[0035]本發(fā)明實(shí)施例的另一目的還在于提供一種包括上述短路過流保護(hù)電路100的量產(chǎn)測(cè)試設(shè)備，其包括上述的測(cè)試電路。
[0036]本發(fā)明實(shí)施例通過采用包括開關(guān)模塊101、微處理器102、短路保護(hù)模塊103及電流檢測(cè)模塊104的短路過流保護(hù)電路100，當(dāng)被測(cè)單元300出現(xiàn)短路時(shí)，短路保護(hù)模塊103根據(jù)電流檢測(cè)模塊104的回路輸出端的電壓相應(yīng)地將開關(guān)模塊101的輸出電流引至直流電源200的接地端，當(dāng)被測(cè)單元300的測(cè)試回路出現(xiàn)過流時(shí)，電流檢測(cè)模塊104根據(jù)被測(cè)單元300的輸入端和/或回路端的電流相應(yīng)地輸出輸入端異常信號(hào)和/或回路端異常信號(hào)驅(qū)動(dòng)微處理器102發(fā)出關(guān)斷信號(hào)控制開關(guān)模塊101快速切斷電流通路，從而在測(cè)試過程中對(duì)被測(cè)單元300和測(cè)試電路400實(shí)現(xiàn)了快速的短路過流保護(hù)，保證被測(cè)單元300和測(cè)試電路400不受損壞并進(jìn)一步提升了生產(chǎn)效率。
[0037]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種短路過流保護(hù)電路，與直流電源、被測(cè)單元及測(cè)試電路連接，所述被測(cè)單元的輸入端和回路端與測(cè)試電路連接以進(jìn)行測(cè)試；其特征在于，所述短路過流保護(hù)電路包括: 開關(guān)模塊、微處理器、短路保護(hù)模塊及電流檢測(cè)模塊； 所述開關(guān)模塊的輸入端連接所述直流電源的輸出端，所述短路保護(hù)模塊的輸入端與所述電流檢測(cè)模塊的輸入端共接于所述開關(guān)模塊的輸出端，所述電流檢測(cè)模塊的輸出端和回路輸入端分別連接所述被測(cè)單元的輸入端和回路端，所述短路保護(hù)模塊的電壓采樣端連接所述電流檢測(cè)模塊的回路輸出端，所述短路保護(hù)模塊的回路端連接所述直流電源的接地端，所述微處理器連接所述電流檢測(cè)模塊的第一過流反饋端和第二過流反饋端，所述微處理器還與所述測(cè)試電路及所述開關(guān)模塊的控制端連接； 在所述測(cè)試電路開始對(duì)所述被測(cè)單元進(jìn)行測(cè)試時(shí)，由所述微處理器根據(jù)所述測(cè)試電路的工作狀態(tài)發(fā)出導(dǎo)通信號(hào)控制所述開關(guān)模塊保持導(dǎo)通狀態(tài)，當(dāng)所述被測(cè)單元出現(xiàn)短路時(shí)，所述短路保護(hù)模塊根據(jù)所述電流檢測(cè)模塊的回路輸出端的電壓相應(yīng)地將所述開關(guān)模塊的輸出端的輸出電流引至所述直流電源的接地端；當(dāng)所述被測(cè)單元的測(cè)試回路出現(xiàn)過流時(shí)，所述電流檢測(cè)模塊根據(jù)所述被測(cè)單元的輸入端和/或回路端的電流相應(yīng)地輸出輸入端異常信號(hào)和/或回路端異常信號(hào)至所述微處理器，再由所述微處理器發(fā)出關(guān)斷信號(hào)控制所述開關(guān)模塊切斷電流通路。
2.如權(quán)利要求1所述的短路過流保護(hù)電路，其特征在于，所述開關(guān)模塊包括第一二極管Dl和繼電器，所述第一二極管Dl的陽極與所述繼電器Kl的第一控制觸點(diǎn)的共接點(diǎn)為所述開關(guān)模塊的控制端，所述第一二極管Dl的陰極與所述繼電器的第二控制觸點(diǎn)共接并接入+5V電壓，所述繼電器的開關(guān)觸點(diǎn)和常開觸點(diǎn)分別為所述開關(guān)模塊的輸入端和輸出端，或者所述繼電器的常開觸點(diǎn)和開關(guān)觸點(diǎn)分別為所述開關(guān)模塊的輸入端和輸出端。
3.如權(quán)利要求1所述的短路過流保護(hù)電路，其特征在于，所述短路保護(hù)模塊包括: 第一電阻R1、第二電阻R2、第二二極管D2、第三電阻R3、第一開關(guān)管、第四電阻R4、第一穩(wěn)壓二極管ZD1、第二穩(wěn)壓二極 管ZD2、第五電阻R5以及第二開關(guān)管； 所述第一電阻Rl的第一端為所述短路保護(hù)模塊的輸入端，所述第一電阻Rl的第二端與所述第二電阻R2的第一端及所述第二二極管D2的陰極共接于所述第一開關(guān)管的輸入端，所述第一開關(guān)管的輸出端為所述短路保護(hù)模塊的回路端，所述第一開關(guān)管的控制端與所述第四電阻R4的第一端、所述第一穩(wěn)壓二極管ZDl的陰極共接于所述第三電阻R3的第一端，所述第二電阻R2的第二端與所述第二二極管D2的陽極、所述第二穩(wěn)壓二極管ZD2的陰極以及所述第五電阻R5的第一端共接于所述第二開關(guān)管的控制端，所述第三電阻R3的第二端為所述短路保護(hù)模塊的電壓采樣端，所述第二開關(guān)管的輸入端連接所述第三電阻R3的第二端，所述第四電阻R4的第二端、所述第一穩(wěn)壓二極管ZDl的陽極、所述第二穩(wěn)壓二極管ZD2的陽極、所述第五電阻R5的第二端以及所述第二開關(guān)管的輸出端共接于所述第一開關(guān)管的輸出端。
4.如權(quán)利要求3所述的短路過流保護(hù)電路，其特征在于，所述第一開關(guān)管和第二開關(guān)管分別為第一 NMOS管和第二 NMOS管，所述第一 NMOS管的漏極、源極和柵極分別為所述第一開關(guān)管的輸入端、輸出端和控制端，所述第二 NMOS管的漏極、源極和柵極分別為所述第二開關(guān)管的輸入端、輸出端和控制端。
5.如權(quán)利要求1所述的短路過流保護(hù)電路，其特征在于，所述電流檢測(cè)模塊包括:第六電阻R6、第七電阻R7、第八電阻R8、第九電阻R9、第一電容Cl、第一光稱、第十電阻R10、第十一電阻R11、第十二電阻R12、第十三電阻R13、第二電容C2以及第二光耦； 所述第六電阻R6的第一端、所述第八電阻R8的第一端及所述第一電容Cl的第一端所形成的共接點(diǎn)為所述電流檢測(cè)模塊的輸入端，所述第八電阻R8的第二端和所述第一電容Cl的第二端共接于所述第一光耦的發(fā)光二極管的陽極，所述第六電阻R6的第二端和所述第一光耦的發(fā)光二極管的陰極共接于所述第七電阻R7的第一端，所述第七電阻R7的第二端為所述電流檢測(cè)模塊的輸出端，所述第一光耦的光敏三極管的漏極與所述第九電阻R9的第一端的共接點(diǎn)為所述電流檢測(cè)模塊的第一過流反饋端，所述第九電阻R9的第二端接A+5V電壓，所述第一光耦的光敏三極管的源極接信號(hào)地，所述第十一電阻Rll的第一端為所述電流檢測(cè)模塊的回路輸入端，所述第十電阻RlO的第一端與所述第十一電阻Rll的第二端共接于所述第二光耦的發(fā)光二極管的陽極，所述第十電阻RlO的第二端、所述第十二電阻R12的第一端及所述第二電容C2的第一端所形成的共接點(diǎn)為所述電流檢測(cè)模塊的回路輸出端，所述第十二電阻R12的第二端和所述第二電容C2的第二端共接于所述第二光耦的發(fā)光二極管的陰極，所述第二光耦的光敏三極管的漏極與所述第十三電阻R13的第一端的共接點(diǎn)為所述電流檢測(cè)模塊的第二過流反饋端，所述第十三電阻R13的第二端接入+5V電壓，所述第二光耦的光敏三極管的源極接信號(hào)地。
6.一種量產(chǎn)測(cè)試設(shè)備，包括測(cè)試電路，其特征在于，所述量產(chǎn)測(cè)試設(shè)備還包括如權(quán)利要求I至5任一項(xiàng)所述的短路過流保`護(hù)電路。
【文檔編號(hào)】H02H3/08GK103490374SQ201310443351
【公開日】2014年1月1日 申請(qǐng)日期:2013年9月25日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月25日
【發(fā)明者】粟繁忠, 鐘永輝, 宋湘南, 古力, 何焦, 肖海蓮, 鄒勇 申請(qǐng)人:山東貞明光電科技有限公司