高壓sic器件過(guò)流的檢測(cè)電路、保護(hù)電路及檢測(cè)與保護(hù)電路的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路、保護(hù)電路及檢測(cè)與保護(hù)電路,高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路包括與待檢測(cè)SIC器件相連的漏極過(guò)流檢測(cè)元件,與待檢測(cè)SIC器件的驅(qū)動(dòng)電路的輸出端相連的第一限流元件;第二限流元件的一端依次連接有第三限流元件、阻斷元件及三極管集電極,第二限流元件的一端依次連接有穩(wěn)壓管、第四限流元件及三極管基極;高壓SIC器件過(guò)流的保護(hù)電路包括與高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路相連的開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元,開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元通過(guò)驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)SIC器件的導(dǎo)通及關(guān)斷;高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)與保護(hù)電路,包括高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路及高壓SIC器件過(guò)流的保護(hù)電路。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)清晰,實(shí)現(xiàn)容易。
【專利說(shuō)明】
高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路、保護(hù)電路及檢測(cè)與保護(hù)電路
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及電力電子開(kāi)關(guān)器件驅(qū)動(dòng)保護(hù)領(lǐng)域,具體涉及高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路、保護(hù)電路及檢測(cè)與保護(hù)電路。
【背景技術(shù)】
[0002]碳化硅(SIC)MOSFET/IGBT具有高壓高溫特性,隨著近幾年商業(yè)化速度的加快,碳化硅器件越來(lái)越受到產(chǎn)業(yè)界的廣泛關(guān)注。SIC M0SFET/IGBT相比傳統(tǒng)硅基器件具有理想的柵極絕緣特性,具有更快的開(kāi)關(guān)性能,更低的開(kāi)關(guān)損耗,更高的穩(wěn)定性,更高的耐壓耐高溫特性。SIC M0SFET/IGBT與傳統(tǒng)的硅基M0SFET/IGBT驅(qū)動(dòng)特性上存在差異,在使用中對(duì)其驅(qū)動(dòng)具有特殊的要求。SIC M0SFET/IGBT推薦的開(kāi)通電壓為+18V以上從而保證通態(tài)電阻最小;為保證其可靠關(guān)斷,關(guān)斷電壓為-2?-5V。現(xiàn)有的驅(qū)動(dòng)電路通過(guò)輔助電源已能較好地解決驅(qū)動(dòng)電壓?jiǎn)栴}。
[0003]目前商業(yè)化的碳化硅器件價(jià)格較高,在實(shí)際中由于器件老化損壞、控制與驅(qū)動(dòng)電路故障或干擾等引起誤動(dòng)、輸出線接錯(cuò)或絕緣損壞等形成短路、輸出端對(duì)地短路、橋臂短路等導(dǎo)致流過(guò)SIC M0SFET/IGBT的電流遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于其安全閾值,如果沒(méi)有有效的保護(hù)或者保護(hù)過(guò)慢將會(huì)影響碳化硅器件使用壽命甚至燒壞器件。因此無(wú)論是從成本上還是從安全性上考慮,都需要一種動(dòng)作迅速的保護(hù)電路,在SIC M0SFET/IGBT過(guò)流/短路時(shí)能及時(shí)保護(hù)。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]為解決現(xiàn)有技術(shù)存在的不足,本實(shí)用新型公開(kāi)了高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路、保護(hù)電路及檢測(cè)與保護(hù)電路,能夠快速檢測(cè)到碳化硅器件發(fā)生過(guò)流情況,檢測(cè)速度快,并能對(duì)其進(jìn)行快速保護(hù),滿足在過(guò)流時(shí)保護(hù)電路能對(duì)SIC器件進(jìn)行快速保護(hù)的要求。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型的具體方案如下:
[0006]—種高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路,包括與待檢測(cè)SIC器件相連的漏極過(guò)流檢測(cè)元件,與待檢測(cè)SIC器件的驅(qū)動(dòng)電路的輸出端相連的第一限流元件;
[0007]第二限流元件的一端依次連接有第三限流元件、阻斷元件及三極管集電極,第二限流元件的一端依次連接有穩(wěn)壓管、第四限流元件及三極管基極;
[0008]所述三極管基極與三極管發(fā)射極之間設(shè)置有儲(chǔ)電兀件。
[0009]進(jìn)一步的,所述漏極過(guò)流檢測(cè)元件為高壓快恢復(fù)二極管,所述第二限流元件、第三限流元件及第四限流元件分別為限流電阻,所述儲(chǔ)電元件為無(wú)極性電容,阻斷元件為阻斷二極管。
[0010]—種高壓SIC器件的過(guò)流檢測(cè)電路的檢測(cè)方法,包括:
[0011]待檢測(cè)SIC器件過(guò)流或短路故障時(shí),待檢測(cè)SIC器件漏源間電壓升高超過(guò)穩(wěn)壓管的齊納電壓,漏極過(guò)流檢測(cè)元件由正向偏置變?yōu)榉聪蚱?,電流由?qū)動(dòng)電路的輸出流經(jīng)穩(wěn)壓管和第四限流元件給儲(chǔ)電元件充電,同時(shí)三極管導(dǎo)通,將三極管輸出電平拉低,實(shí)現(xiàn)過(guò)流狀態(tài)的快速檢測(cè)。
[0012]進(jìn)一步的,待檢測(cè)SIC器件正常導(dǎo)通時(shí),電流從驅(qū)動(dòng)電路的輸出端依次從第二限流元件、漏極過(guò)流檢測(cè)元件流入待檢測(cè)SIC器件,穩(wěn)壓管所在支路沒(méi)導(dǎo)通,三極管截止?fàn)顟B(tài),三極管輸出為高電平;
[0013]待檢測(cè)SIC器件正常關(guān)斷時(shí),漏極過(guò)流檢測(cè)元件反向偏置,穩(wěn)壓管正向偏置,三極管截止,三極管輸出為高電平。
[0014]—種高壓SIC器件的過(guò)流保護(hù)電路,包括與高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路相連的開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元,所述開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元通過(guò)驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)SIC器件的導(dǎo)通及關(guān)斷;
[0015]其中,高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路,包括與待檢測(cè)SIC器件相連的漏極過(guò)流檢測(cè)元件,與待檢測(cè)Sic器件的驅(qū)動(dòng)電路的輸出端相連的第一限流元件;
[0016]第二限流元件的一端依次連接有第三限流元件、阻斷元件及三極管集電極,第二限流元件的一端依次連接有穩(wěn)壓管、第四限流元件及三極管基極;
[0017]所述三極管基極與三極管發(fā)射極之間設(shè)置有儲(chǔ)電元件。
[0018]所述開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元包括與高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路輸出端相連的光耦,經(jīng)過(guò)光耦隔離后的過(guò)流信號(hào)及控制器發(fā)出的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)均傳輸至鎖存器進(jìn)行鎖存,經(jīng)過(guò)鎖存器鎖定的過(guò)流信號(hào)及控制器發(fā)出的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)傳輸至與門進(jìn)行運(yùn)算,與門的輸出信號(hào)為SIC器件的開(kāi)關(guān)信號(hào)。
[0019]進(jìn)一步的,所述SIC器件的開(kāi)關(guān)信號(hào)經(jīng)過(guò)驅(qū)動(dòng)電路產(chǎn)生兩種電平的驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào),分別用于驅(qū)動(dòng)SIC器件導(dǎo)通及SIC器件關(guān)斷。
[0020]進(jìn)一步的,所述驅(qū)動(dòng)電路與SIC器件的柵極之間連接有驅(qū)動(dòng)電阻,驅(qū)動(dòng)電阻與SIC器件的源極之間連接有放電電阻,保證當(dāng)驅(qū)動(dòng)電路處于高阻輸出狀態(tài)時(shí)防止SIC器件柵極的電容被意外充電,該放電電阻提供一個(gè)泄放回路。
[0021]進(jìn)一步的,所述驅(qū)動(dòng)電路由隔離輔助電源輸出V+和V-為其提供正負(fù)驅(qū)動(dòng)電壓。
[0022]—種高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)與保護(hù)電路,包括高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路及高壓SIC器件過(guò)流的保護(hù)電路;
[0023]其中,高壓SIC器件過(guò)流的保護(hù)電路,包括與高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路相連的開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元,所述開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元通過(guò)驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)SIC器件的導(dǎo)通及關(guān)斷;
[0024]高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路,包括與待檢測(cè)SIC器件相連的漏極過(guò)流檢測(cè)元件,與待檢測(cè)SIC器件的驅(qū)動(dòng)電路的輸出端相連的第一限流元件;
[0025]第二限流元件的一端依次連接有第三限流元件、阻斷元件及三極管集電極,第二限流元件的一端依次連接有穩(wěn)壓管、第四限流元件及三極管基極;
[0026]所述三極管基極與三極管發(fā)射極之間設(shè)置有儲(chǔ)電元件。
[0027]—種高壓SIC器件的過(guò)流檢測(cè)與保護(hù)電路的工作方法,包括:
[0028]高壓SIC器件過(guò)流檢測(cè)電路檢測(cè)過(guò)流狀態(tài)為低電平,光耦輸出為低電平,控制器發(fā)出的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)為高電平,鎖存器輸出為低電平,開(kāi)關(guān)控制信號(hào)鎖存器輸出信號(hào)傳輸至與門,與門輸出為從高電平變?yōu)榈碗娖剑?br>[0029]高壓SIC器件過(guò)流檢測(cè)電路中電容放電,三極管截止,高壓SIC器件過(guò)流檢測(cè)電路輸出恢復(fù)高電平,光親輸出恢復(fù)為高電平,控制器發(fā)出的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)為高電平,鎖存器輸出在當(dāng)前開(kāi)關(guān)周期保持為低電平,實(shí)現(xiàn)了過(guò)流信號(hào)鎖定,與門輸出也保持為低電平,SIC器件保持關(guān)斷狀態(tài),確保了在過(guò)流時(shí)SIC器件有效可靠關(guān)斷。
[0030]—種高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)與保護(hù)電路,包括SIC器件及與該SIC器件相連的高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路及高壓SIC器件過(guò)流的保護(hù)電路。
[0031]所述SIC器件為SICMOSFET或SIC IGBT。
[0032]本實(shí)用新型的有益效果:
[0033]本實(shí)用新型SIC器件過(guò)流的檢測(cè)及保護(hù)電路結(jié)構(gòu)清晰,實(shí)現(xiàn)容易。不發(fā)生過(guò)流/短路時(shí)SIC器件可以正常開(kāi)關(guān),但在發(fā)生過(guò)流/短路時(shí)可以通過(guò)電容Cl充電實(shí)現(xiàn)對(duì)過(guò)流情況的快速檢測(cè),使過(guò)流信號(hào)Faultl變低,同時(shí)經(jīng)過(guò)光電隔離和鎖存器后對(duì)該過(guò)流信號(hào)進(jìn)行鎖定,開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元能夠在當(dāng)前開(kāi)關(guān)周期內(nèi)對(duì)開(kāi)關(guān)信號(hào)進(jìn)行快速封鎖,提高了整個(gè)過(guò)流/短路保護(hù)電路的保護(hù)速度,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)SIC器件快速而可靠的保護(hù)。
【附圖說(shuō)明】
[0034]圖1是本實(shí)用新型所述一種新型高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)及保護(hù)電路的具體電路圖;
[0035]圖2是本實(shí)用新型提供的SIC器件過(guò)流保護(hù)系統(tǒng)的一種工作時(shí)序示意圖。
【具體實(shí)施方式】
:
[0036]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明:
[0037]—種新型高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)及保護(hù)電路,它由驅(qū)動(dòng)電路、過(guò)流檢測(cè)電路和開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元等組成。
[0038]在本實(shí)施例中,所述開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元由光耦0PT01、鎖存器RSl和高速邏輯與門ANDl等組成。
[0039]在本實(shí)施例中所述的過(guò)流檢測(cè)電路,電阻Rl的第一端與驅(qū)動(dòng)電路的輸出端Bufferout相連,電阻Rl的第二端分別與SIC器件Ml的柵極和所述電阻R5的第一端相連,電阻R5的第二端與所述Ml的源極相連,所述Ml接入主電路中;
[0040]Rl及R5都不包括在過(guò)流檢測(cè)電路內(nèi),R1屬于驅(qū)動(dòng)電路,R5屬于SIC器件自身的附屬保護(hù)元件,一般來(lái)說(shuō)M0S/IGBT的GS極間都有這個(gè)電阻。
[0041]二極管Dl的陰極與所述Ml的漏極相連,所述二極管Dl的陽(yáng)極分別與所述穩(wěn)壓管ZDl的陰極和所述電阻R2的第一端相連,所述電阻R2的第二端分別與所述驅(qū)動(dòng)電路的輸出端Buffer out和所述電阻R3的第一端相連,所述電阻R3的第二端與所述二極管D2的陽(yáng)極相連;所述穩(wěn)壓管ZDl的陽(yáng)極與所述電阻R4的第一端相連,所述電阻R4的第二端分別與所述電容Cl的第一端和所述三極管Ql的基極相連,所述電容Cl的第二端與所述三極管Ql的發(fā)射極相連并同時(shí)接地;所述二極管D2的陰極與所述三極管Ql的集電極相連同時(shí)接光耦0PT01的輸入端Faultl。
[0042]在本實(shí)施例中,SIC器件Ml是SIC M0SFET。
[0043]在本實(shí)施例中的開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元,鎖存器RSl的第一輸入端與所述光耦0PT01的輸出端Fault2相連,高速邏輯與門ANDl的第一輸入端與鎖存器RSl的輸出端Fault3相連。鎖存器RSl的第二輸入端和所述與門ANDl的第二輸入端inputPmi是控制器發(fā)出的開(kāi)關(guān)控制信號(hào);
[0044]光耦0PT01的輸入端Faultl是過(guò)流信號(hào),所述光耦0PT01的輸出端Fault2是經(jīng)過(guò)隔離的過(guò)流信號(hào),所述鎖存器RSl的輸出端Fault3是經(jīng)過(guò)鎖存器鎖定的過(guò)流信號(hào)。
[0045]在本實(shí)施例中,驅(qū)動(dòng)電路由隔離輔助電源輸出+20V和-5V為其提供正負(fù)驅(qū)動(dòng)電壓;所述與門ANDl輸出的Drive signal是SIC MOSFET的開(kāi)關(guān)信號(hào),經(jīng)過(guò)驅(qū)動(dòng)電路產(chǎn)生+20¥和-5V兩種電平的驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào),其中+20V電平驅(qū)動(dòng)SIC MOSFET導(dǎo)通、-5V電平驅(qū)動(dòng)SIC MOSFET關(guān)斷。
[0046]在本實(shí)施例中,穩(wěn)壓管ZDl是過(guò)流保護(hù)動(dòng)作閾值穩(wěn)壓管,穩(wěn)壓管ZDl的齊納電壓決定了過(guò)流保護(hù)電路的動(dòng)作閾值,其中,閾值根據(jù)所用SIC MOSFET的具體輸出特性和安全工作區(qū)域設(shè)定為10V。
[0047]工作原理:
[0048]圖1為本實(shí)施方式的具體電路圖,Drive signal經(jīng)過(guò)驅(qū)動(dòng)電路產(chǎn)生+20V、_5V的驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào),在驅(qū)動(dòng)信號(hào)Drive signal為高電平時(shí),Buffer out輸出為+20V,通過(guò)Rl驅(qū)動(dòng)Ml導(dǎo)通;Drive signal為低電平時(shí),Buffer out輸出為_(kāi)5V,M1通過(guò)Rl迅速放電,從而保證Ml快速關(guān)斷。
[0049]R2、R3、R4是限流電阻,Rl是驅(qū)動(dòng)電阻。
[0050]D1、D2、R2、R3、R4、ZD1、C1和Ql構(gòu)成過(guò)流檢測(cè)電路。其中Dl是檢測(cè)二極管,用于檢測(cè)過(guò)流情況,二極管D2是阻斷二極管;穩(wěn)壓管ZDl的齊納電壓決定了保護(hù)電路的動(dòng)作閾值(穩(wěn)壓管ZDl是10V),過(guò)流信號(hào)Faultl接至后續(xù)開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元。
[0051 ] 結(jié)合圖2:
[°°52] 在O?tl期間,M1未出現(xiàn)過(guò)流或短路故障,信號(hào)inputPWM和Drive signal的波形相同,M1正常開(kāi)關(guān),原理解釋如下:Drive signal為高電平時(shí),M1導(dǎo)通,此時(shí)Ml的漏源極間壓降小,不會(huì)超過(guò)安全閾值,二極管Dl正向偏置,電流從Buffer out通過(guò)R2、D1流入Ml,由于R2阻值較大,該電流對(duì)Ml電流所產(chǎn)生的影響可以忽略。此時(shí)穩(wěn)壓管ZDl上的電壓不會(huì)超過(guò)其齊納電壓,沒(méi)有電流流過(guò)ZDl,三極管Ql處于截止?fàn)顟B(tài),F(xiàn)aultl為高電平,光耦輸出Fault2為高電平,而inputPWM信號(hào)為高電平,鎖存器輸出Fault3保持為高電平,因此Fault3與inputPWM信號(hào)經(jīng)過(guò)與門作用后輸出Drive signal為高電平信號(hào),Ml正常導(dǎo)通。Drive signal為低電平時(shí),Ml關(guān)斷,Ml漏源間電壓為主電路電壓,二極管Dl反向偏置,ZDl正向偏置,三極管Ql依然截止,F(xiàn)aultl為高電平,光耦輸出Fault2為高電平,而inputPmi信號(hào)為低電平,鎖存器輸出Fault3置為高電平,因此與門輸出Drive signal為低電平信號(hào),Ml正常關(guān)斷。
[0053]其中,阻斷二極管D2作用:當(dāng)Drive signal為低電平時(shí),Buffer out為驅(qū)動(dòng)負(fù)電壓-5V,若沒(méi)有D2,此時(shí)光耦0PT01原邊與Buf fer out之間構(gòu)成回路,S卩光耦0PT01原邊二極管導(dǎo)通,光耦0PT01副邊輸出Fault2為低電平,從而Fault3置低,造成過(guò)流誤動(dòng)作。D2可以阻止在Drive signal為低電平時(shí)光親0PT01原邊與Buffer out之間構(gòu)成回路。
[0054]當(dāng)在tl時(shí)刻,Ml在導(dǎo)通期間出現(xiàn)過(guò)流或短路故障時(shí),Ml的漏源間電壓升高,若超過(guò)穩(wěn)壓管ZDl的齊納電壓10V,二極管Dl由正向偏置變?yōu)榉聪蚱?,電流由Buffer out流經(jīng)ZDl和R4給Cl充電,同時(shí)三極管Ql導(dǎo)通,將Fault I電平拉低,實(shí)現(xiàn)過(guò)流狀態(tài)的快速檢測(cè)。
[0055]同時(shí)在開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元:Faultl電平拉低,光耦輸出Fault2也為低電平,而inputP麗信號(hào)為高電平,鎖存器輸出Fault3置為低電平,與門輸出Drive signal從高電平變?yōu)榈碗娖剑娙軨l通過(guò)R4、ZD1、R2、R1放電,同時(shí)Ql不再導(dǎo)通,F(xiàn)aultl又恢復(fù)高電平,光耦輸出Fault2恢復(fù)為高電平,而inputPWM信號(hào)仍為高電平,因此鎖存器輸出Fault3在當(dāng)前開(kāi)關(guān)周期保持為低電平,實(shí)現(xiàn)了過(guò)流信號(hào)鎖定,與門輸出Drive signal也保持為低電平,Ml保持關(guān)斷狀態(tài),確保了在過(guò)流時(shí)Ml有效可靠關(guān)斷。光耦、鎖存器和與門的延遲很小,因而整個(gè)檢測(cè)與保護(hù)執(zhí)行電路延遲小,過(guò)流時(shí)可以快速而有效地保護(hù)碳化硅器件。
[0056]當(dāng)過(guò)流保護(hù)動(dòng)作之后,在t2時(shí)刻,控制信號(hào)inputPWM為低電平,而光耦輸出Fault2為高電平,因此鎖存器輸出Fault3置為高電平,過(guò)流信號(hào)不再影響控制器發(fā)出的控制信號(hào)。如果下一個(gè)開(kāi)關(guān)周期過(guò)流故障排除,電路會(huì)恢復(fù)到正常工作狀態(tài)。如果下一個(gè)開(kāi)關(guān)周期Ml仍然處于過(guò)流狀態(tài),則電路繼續(xù)對(duì)Ml進(jìn)行保護(hù)。
[0057]因此,當(dāng)電路正常工作不出現(xiàn)過(guò)流/短路故障時(shí),該過(guò)流檢測(cè)及保護(hù)電路可以保證控制器發(fā)出的控制驅(qū)動(dòng)信號(hào)正常驅(qū)動(dòng)SIC器件;而當(dāng)出現(xiàn)過(guò)流/短路故障時(shí),該電路可以及時(shí)檢測(cè)出過(guò)流信號(hào),并在當(dāng)前開(kāi)關(guān)周期內(nèi)快速關(guān)斷SIC器件,從而保護(hù)器件不致?lián)p壞。
[0058]上述雖然結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行了描述,但并非對(duì)本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限制,所屬領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該明白,在本實(shí)用新型的技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,本領(lǐng)域技術(shù)人員不需要付出創(chuàng)造性勞動(dòng)即可做出的各種修改或變形仍在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍以內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路,其特征是,包括與待檢測(cè)SIC器件相連的漏極過(guò)流檢測(cè)元件,與待檢測(cè)SIC器件的驅(qū)動(dòng)電路的輸出端相連的第一限流元件; 第二限流元件的一端依次連接有第三限流元件、阻斷元件及三極管集電極,第二限流元件的一端依次連接有穩(wěn)壓管、第四限流元件及三極管基極; 所述三極管基極與三極管發(fā)射極之間設(shè)置有儲(chǔ)電元件。2.如權(quán)利要求1所述的一種高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路,其特征是,所述漏極過(guò)流檢測(cè)元件為高壓快恢復(fù)二極管,所述第二限流元件、第三限流元件及第四限流元件分別為限流電阻,所述儲(chǔ)電元件為無(wú)極性電容,阻斷元件為阻斷二極管。3.—種高壓SIC器件過(guò)流的保護(hù)電路,其特征是,包括與權(quán)利要求1所述的高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路相連的開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元,所述開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元通過(guò)驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)SIC器件的導(dǎo)通及關(guān)斷。4.如權(quán)利要求3所述的一種高壓SIC器件過(guò)流的保護(hù)電路,其特征是,所述開(kāi)關(guān)邏輯信號(hào)產(chǎn)生單元包括與高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路輸出端相連的光耦,經(jīng)過(guò)光耦隔離后的過(guò)流信號(hào)及控制器發(fā)出的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)均傳輸至鎖存器進(jìn)行鎖存,經(jīng)過(guò)鎖存器鎖定的過(guò)流信號(hào)及控制器發(fā)出的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)傳輸至與門進(jìn)行運(yùn)算,與門的輸出信號(hào)為SIC器件的開(kāi)關(guān)信號(hào)。5.如權(quán)利要求4所述的一種高壓SIC器件過(guò)流的保護(hù)電路,其特征是,所述SIC器件的開(kāi)關(guān)信號(hào)經(jīng)過(guò)驅(qū)動(dòng)電路產(chǎn)生兩種電平的驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào),分別用于驅(qū)動(dòng)SIC器件導(dǎo)通及SIC器件關(guān)斷。6.如權(quán)利要求3或5所述的一種高壓SIC器件過(guò)流的保護(hù)電路,其特征是,所述驅(qū)動(dòng)電路與SIC器件的柵極之間連接有驅(qū)動(dòng)電阻,驅(qū)動(dòng)電阻與SIC器件的源極之間連接有放電電阻; 所述驅(qū)動(dòng)電路由隔離輔助電源輸出V+和V-為其提供正負(fù)驅(qū)動(dòng)電壓。7.一種高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)與保護(hù)電路,其特征是,包括根據(jù)權(quán)利要求1所述高壓SIC器件過(guò)流的檢測(cè)電路及權(quán)利要求3所述的高壓SIC器件過(guò)流的保護(hù)電路。
【文檔編號(hào)】G01R19/165GK205693341SQ201620544955
【公開(kāi)日】2016年11月16日
【申請(qǐng)日】2016年6月3日 公開(kāi)號(hào)201620544955.8, CN 201620544955, CN 205693341 U, CN 205693341U, CN-U-205693341, CN201620544955, CN201620544955.8, CN205693341 U, CN205693341U
【發(fā)明人】王玉斌, 于程皓, 李厚芝
【申請(qǐng)人】山東大學(xué)