專(zhuān)利名稱(chēng)：解碼裝置、數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置和解碼方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及對(duì)從被稱(chēng)為CD(光盤(pán))或MD(小型盤(pán))或使用RLL(有限行程)碼存儲(chǔ)信息的其它信息存儲(chǔ)介質(zhì)讀取的RF信號(hào)解碼，并輸出信道比特?cái)?shù)據(jù)的解碼裝置和數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置及其方法。
當(dāng)傳輸數(shù)據(jù)或在例如磁盤(pán)、光盤(pán)、磁光盤(pán)、或其它存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)數(shù)據(jù)時(shí)，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行調(diào)制以使其適合于傳輸或存儲(chǔ)。
分組(block)碼是這種調(diào)制碼中已知的一種。
分組碼根據(jù)適當(dāng)?shù)木幋a規(guī)則將一個(gè)數(shù)據(jù)串分成由m×i位組成的單元塊，并將數(shù)據(jù)字轉(zhuǎn)換成由n×i位組成的代碼。
當(dāng)i＝1時(shí)，該分組碼變成固定長(zhǎng)度碼。當(dāng)可選擇多個(gè)i時(shí)，就是說(shuō)，當(dāng)i是2或更大并由i的最大值imax＝r轉(zhuǎn)換時(shí)，分組碼變成可變長(zhǎng)度碼。
將分組編碼的代碼表示為可變長(zhǎng)度碼(d，k；m，n；r)。
在此，i表示約束長(zhǎng)度，r表示最大約束長(zhǎng)度，d和k是代碼串中連續(xù)的“1”之間插入的“0”的最少連續(xù)個(gè)數(shù)和“0”的最多連續(xù)個(gè)數(shù)。
下面說(shuō)明數(shù)字音頻盤(pán)的調(diào)制格式作為具體實(shí)例。
在數(shù)字音頻盤(pán)中，例如，在CD格式的盤(pán)中，采用被稱(chēng)為EFM(八到十四調(diào)制)的調(diào)制系統(tǒng)。
CD上記錄的數(shù)據(jù)包括16位以44.1kHz取樣，然后分成兩部分的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，即經(jīng)過(guò)交織后上側(cè)的8位和下側(cè)的8位，以及與C1和C2序列一起給出的奇偶校驗(yàn)位。
將碼型(pattem)中將8位數(shù)據(jù)字轉(zhuǎn)換成預(yù)定的14位碼字(信道位)(EFM調(diào)制)，然后在數(shù)據(jù)之間加入3位的連接位，以便減少EFM調(diào)制后的直流分量，并按NRZI(不歸零反轉(zhuǎn)記錄)將該結(jié)果寫(xiě)在盤(pán)上。
為了滿(mǎn)足在代碼序列中連續(xù)的“1”之間插入的“0”的最小連續(xù)數(shù)量為2和“0”的最大連續(xù)數(shù)量為10的條件，將8位轉(zhuǎn)換成16位并加入連接位。
因此，該調(diào)制系統(tǒng)的參數(shù)(d，k；m，n；r)是(2，10；8，17；1)當(dāng)信道位序列(存儲(chǔ)波形序列)的位間隔是T時(shí)，最小反轉(zhuǎn)間隔Tmin變成3(＝2+1)T。另外，最大反轉(zhuǎn)間隔Tmax變成11(＝10+1)T。
就是說(shuō)，從8位轉(zhuǎn)換成16位并給出連接位的數(shù)據(jù)最終減小到從3T到11T(1/T＝4.318MHz，一倍)的長(zhǎng)度。
對(duì)該EFM信號(hào)解調(diào)時(shí)，根據(jù)通過(guò)對(duì)從盤(pán)上讀取的RF信號(hào)的波形整形獲得的二進(jìn)制脈中序列信號(hào)來(lái)產(chǎn)生時(shí)鐘(下文稱(chēng)之為回放時(shí)鐘)，并將該回放時(shí)鐘用于解調(diào)。在產(chǎn)生回放時(shí)鐘時(shí)，一般使用PLL(鎖相環(huán))電路。
播放時(shí)鐘PCK的頻率是4.3218MHz。當(dāng)通過(guò)PWM按CD格式調(diào)制EFM信號(hào)時(shí)，該4.3218MHz是信道時(shí)鐘頻率。從第3周期到第11周期，以一個(gè)周期的步長(zhǎng)用PWM方式調(diào)制EFM信號(hào)。
通過(guò)波形整形把從盤(pán)上讀取的RF信號(hào)轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制格式獲得的二進(jìn)制(binary)信號(hào)是在nT中改變的信號(hào)，其中T是信道時(shí)鐘的一個(gè)周期(n是從3到11的整數(shù))。
然而，在CD系統(tǒng)中，當(dāng)輸入的RF信號(hào)轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制格式并通過(guò)EFM解調(diào)時(shí)，由于比較電平的損壞或偏差，有時(shí)將EFM信號(hào)的3T檢測(cè)為1T或2T。
在相關(guān)領(lǐng)域的CD系統(tǒng)的解碼裝置中，無(wú)任何辦法對(duì)此進(jìn)行校正。在3T到11T之外的EFM信號(hào)被作為本來(lái)不可能的信號(hào)作為差錯(cuò)處理并用內(nèi)部糾錯(cuò)電路校正。
然而，糾錯(cuò)電路的糾錯(cuò)能力存在局限，以致當(dāng)隨機(jī)包括的1T和2T超過(guò)特定量時(shí)，用上述相關(guān)領(lǐng)域的CD系統(tǒng)的解碼裝置中的糾錯(cuò)電路不能將其校正并使可播放性劣化。
考慮到這種情況做出了本發(fā)明，并且其目的是提供一種能校正本來(lái)不可能的1T和2T、能減少糾錯(cuò)電路的處理、并能改善播放性的解碼裝置和數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置及其解碼方法。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種用于對(duì)具有連續(xù)長(zhǎng)度的代碼解碼的解碼裝置，該長(zhǎng)度是由兩種符號(hào)形成的代碼序列的相同的一種符號(hào)之間連續(xù)排列的另一種符號(hào)的長(zhǎng)度，定義為預(yù)定定義長(zhǎng)度并且最小反轉(zhuǎn)間隔為3T，其中T是一個(gè)信道比特序列的比特間隔，該解碼裝置包括一個(gè)檢測(cè)裝置，用于從代碼序列檢測(cè)最小反轉(zhuǎn)間隔小于3T并且在正常情況下本來(lái)不存在的T的碼型；和校正裝置，用于將檢測(cè)裝置檢測(cè)的本來(lái)不存在的T的任何碼型校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
另外，本發(fā)明提供一種用于再現(xiàn)具有連續(xù)長(zhǎng)度的代碼數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，該長(zhǎng)度是由兩種符號(hào)形成的代碼序列的相同的一符號(hào)之間連續(xù)排列的另一種符號(hào)的長(zhǎng)度，定義為預(yù)定定義長(zhǎng)度并且最小反轉(zhuǎn)間隔為3T，其中T是預(yù)定存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)的一個(gè)信道比特序列(存儲(chǔ)波形序列)的比特間隔，該數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置包括用于從存儲(chǔ)介質(zhì)再現(xiàn)RF信號(hào)的裝置；檢測(cè)裝置，用于從重放的RF信號(hào)檢測(cè)最小反轉(zhuǎn)間隔小于3T并且在正常情況下本來(lái)不存在的T的碼型；和校正裝置，用于將檢測(cè)裝置檢測(cè)的本來(lái)不存在的T的任何碼型校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)；糾錯(cuò)電路，用于校正由校正裝置校正的信號(hào)中的差錯(cuò)。
另外，在本發(fā)明中，檢測(cè)裝置檢測(cè)包括1T的連續(xù)的T的碼型，校正裝置去除1T部分以便將任何檢測(cè)的包括1T的連續(xù)的T的碼型校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
作為替換，在本發(fā)明中，檢測(cè)裝置檢測(cè)包括1T的連續(xù)的T的碼型，校正裝置校正任何檢測(cè)的包括1T到3T的連續(xù)的T的碼型的1T部分。
作為替換，在本發(fā)明中，檢測(cè)裝置檢測(cè)包括1T的連續(xù)碼型，校正裝置將任何檢測(cè)的包括1T的連續(xù)碼型校正成3T或更大的任何格式的信號(hào)。
作為替換，在本發(fā)明中，檢測(cè)裝置檢測(cè)包括1T和2T的連續(xù)的T的碼型，校正裝置將任何檢測(cè)的包括1T和2T的連續(xù)的T的碼型校正成3T或更大的任何格式的信號(hào)。
作為替換，在本發(fā)明中，檢測(cè)裝置檢測(cè)包括2T的連續(xù)的T的碼型，校正裝置去除2T部分以便將任何檢測(cè)的包括2T的連續(xù)的T的碼型校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
作為替換，在本發(fā)明中，檢測(cè)裝置檢測(cè)包括2T的連續(xù)的T的碼型，校正裝置校正任何檢測(cè)的包括2T到3T的連續(xù)的T的碼型的2T部分。
作為替換，在本發(fā)明中，檢測(cè)裝置檢測(cè)包括2T的連續(xù)碼型，校正裝置將任何檢測(cè)的包括2T的連續(xù)碼型校正成3T的任何格式的信號(hào)。
作為替換，在本發(fā)明中，校正裝置比較任何檢測(cè)的2T部分的2T部分前面和后面的T的長(zhǎng)度并將2T校正為較長(zhǎng)一側(cè)。
作為替換，在本發(fā)明中，校正裝置比較2T的二進(jìn)制信號(hào)邊緣的相位差錯(cuò)，根據(jù)比較結(jié)果確定在2T部分前面或后面的哪個(gè)方向校正該部分，向確定的方向校正2T到3T。
作為替換，在本發(fā)明中，校正裝置強(qiáng)制任何檢測(cè)的2T部分在其前面或后面延長(zhǎng)1T，以便將其校正成3T。
作為替換，在本發(fā)明中，校正裝置強(qiáng)制每個(gè)檢測(cè)的2T在其前面和后面的方向交替延長(zhǎng)1T。
作為替換，在本發(fā)明中，校正裝置強(qiáng)制任何檢測(cè)的1T在其前面和后面延長(zhǎng)1T，以便將其校正到3T。
作為替換，在本發(fā)明中，校正裝置包括第一校正電路，用于去除任何檢測(cè)的1T，以便將1T部分校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)；第二校正電路，用于把從第一校正電路的輸出信號(hào)檢測(cè)的任何2T部分校正成3T；第三校正電路，用于比較任何檢測(cè)的2T的二進(jìn)制信號(hào)邊緣的相位差錯(cuò)，根據(jù)比較結(jié)果確定在2T部分前面或后面的哪個(gè)方向?qū)⑵湫Ｕ?，和在所確定的方向?qū)?T校正成3T；和第四校正電路，用于把從第三校正電路的輸出信號(hào)檢測(cè)的任何1T部分校正成3T。
作為替換，在本發(fā)明中，進(jìn)一步包括能在第二校正電路的輸出端和校正裝置的輸出端之間切換第三校正電路和第四校正電路的信號(hào)線(xiàn)的連接位置的裝置。
另外，本發(fā)明提供一種用于對(duì)具有連續(xù)長(zhǎng)度的代碼解碼的解碼方法，該長(zhǎng)度是由兩個(gè)符號(hào)形成的代碼序列的相同的一種符號(hào)之間連續(xù)排列的另一種符號(hào)的長(zhǎng)度，定義為預(yù)定定義長(zhǎng)度并且最小反轉(zhuǎn)間隔為3T，其中T是一個(gè)信道比特序列的比特間隔，該解碼方法包括從代碼序列檢測(cè)最小反轉(zhuǎn)間隔小于3T并且在正常情況下本來(lái)不存在的T的碼型；和將任何檢測(cè)的本來(lái)不存在的T的碼型校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
根據(jù)本發(fā)明，在檢測(cè)裝置中從代碼序列檢測(cè)至少1T或2T之一，1T或2T是最小反轉(zhuǎn)間隔小于3T并且在正常情況下本來(lái)不存在的T的碼型。
另外，當(dāng)檢測(cè)裝置檢測(cè)到本來(lái)不可能存在的T的碼型時(shí)，在校正裝置中將該碼型校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
另外，根據(jù)本發(fā)明，從存儲(chǔ)介質(zhì)重放RF信號(hào)。
然后，由檢測(cè)裝置從重放的RF信號(hào)檢測(cè)至少1T或2T之一，1T或2T是最小反轉(zhuǎn)間隔小于3T并且在正常情況下本來(lái)不存在的T的碼型。
另外，當(dāng)檢測(cè)裝置檢測(cè)到本來(lái)不可能的T的碼型時(shí)，在校正裝置中將該碼型校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
校正的信號(hào)輸入到糾錯(cuò)電路，在此進(jìn)行糾錯(cuò)。
通過(guò)用上述方式校正產(chǎn)生的1T和2T信號(hào)，可恢復(fù)以前已被認(rèn)為是差錯(cuò)的信號(hào)。因此，在糾錯(cuò)電路中校正的信號(hào)被校正成從3T到11T的格式，因此其結(jié)果是改善了差錯(cuò)率并改善了可播放性。
此外，可去除作為RF信號(hào)的幅度電平下降以及因盤(pán)表面上的細(xì)劃痕而造成未正確輸入RF信號(hào)或信號(hào)未準(zhǔn)確地轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制格式的結(jié)果產(chǎn)生的1T和2T信號(hào)。
從下面參考附圖給出的優(yōu)選實(shí)施例的描述將使本發(fā)明的這些和其它目的和特性變得更清楚，其中圖1是應(yīng)用了根據(jù)本發(fā)明的解碼裝置的CD播放機(jī)的控制系統(tǒng)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明的EFM塊的結(jié)構(gòu)方框圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明的EFM塊的校正電路結(jié)構(gòu)實(shí)例的方框圖；圖4是圖3中第一校正電路結(jié)構(gòu)實(shí)例的電路圖；圖5是說(shuō)明圖4的操作的時(shí)序圖；圖6是圖3中第二校正電路結(jié)構(gòu)實(shí)例的電路圖；圖7是說(shuō)明圖6的操作的時(shí)序圖；圖8是圖3中第三校正電路結(jié)構(gòu)實(shí)例的電路圖；圖9是使用來(lái)自圖8中的數(shù)字PLL電路的相位差錯(cuò)校正的時(shí)序圖；圖10是通過(guò)比較圖8中前面和后面的T的長(zhǎng)度校正的時(shí)序圖；圖11是通過(guò)相位差錯(cuò)確定校正方向的條件的示意圖；圖12是圖3中第四校正電路結(jié)構(gòu)實(shí)例的電路圖；圖13是說(shuō)明圖12的操作的時(shí)序圖。
下面參考附圖詳細(xì)說(shuō)明應(yīng)用到例如CD播放機(jī)的本發(fā)明的實(shí)施例。應(yīng)指出，本發(fā)明不限于應(yīng)用到CD播放機(jī)，并可應(yīng)用到MD播放機(jī)和其余的盤(pán)播放機(jī)的整個(gè)范圍。
圖1是應(yīng)用了根據(jù)本發(fā)明的解碼裝置的CD播放機(jī)的控制系統(tǒng)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
如圖1所示，本控制系統(tǒng)作為主要部分包括的有一個(gè)盤(pán)1(CD；一種使用代碼調(diào)制的信息盤(pán))，一個(gè)主軸電機(jī)2，一個(gè)光拾取器3(下文簡(jiǎn)稱(chēng)為拾取器)，一個(gè)I/V放大器8，一個(gè)RF均衡器9，一個(gè)DSP(數(shù)字信號(hào)處理器)10，一個(gè)控制器20，和一個(gè)光系統(tǒng)伺服信號(hào)處理電路22。
在圖1中，由主軸電機(jī)2驅(qū)動(dòng)盤(pán)1，即使用代碼調(diào)制的信息盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng)。由光拾取器3讀取盤(pán)1上存儲(chǔ)的信息。
拾取器3包括一個(gè)激光二極管4，一個(gè)把從激光二極管4發(fā)射的激光束作為信息讀取激光斑聚焦在盤(pán)1的信號(hào)記錄表面上的物鏡5，一個(gè)用于改變來(lái)自盤(pán)1的反射光束的前進(jìn)方向的偏振分束器6，一個(gè)用于接收反射光束的光檢測(cè)器7等，并使用滑動(dòng)(sled-feed)電機(jī)(未示出)作為驅(qū)動(dòng)器使拾取器可在盤(pán)的徑向移動(dòng)。
此外，雖然未示出，拾取器3中內(nèi)置有一個(gè)跟蹤致動(dòng)器，用于在盤(pán)的徑向相對(duì)于盤(pán)1的記錄軌跡移動(dòng)信息讀取激光斑，和一個(gè)聚焦致動(dòng)器，用于在其光軸方向移動(dòng)物鏡5。
在I(電流)/V(電壓)放大器8中把拾取器3的輸出信號(hào)從電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)，在RF均衡電路對(duì)其進(jìn)行波形整形，然后提供給DSP(數(shù)字信號(hào)處理器)10作為RF信號(hào)。
DSP電路10包括一個(gè)PLL不對(duì)稱(chēng)校正電路11，一個(gè)EFM塊12，一個(gè)子碼處理信號(hào)13，一個(gè)RAM 14，一個(gè)糾錯(cuò)電路15，一個(gè)去交織電路16，和時(shí)鐘發(fā)生器17。后面將說(shuō)明該信號(hào)處理系統(tǒng)。
DSP電路10進(jìn)一步設(shè)置有用于控制主軸電機(jī)2旋轉(zhuǎn)的主軸伺服信號(hào)處理電路18。DSP電路內(nèi)置有用于根據(jù)晶體振蕩器21的高精度振蕩輸出產(chǎn)生各種時(shí)鐘的時(shí)鐘發(fā)生器17，并根據(jù)每個(gè)時(shí)鐘進(jìn)行各種信號(hào)處理。
應(yīng)指出，光學(xué)系統(tǒng)伺服信號(hào)處理電路22用于控制與拾取器3的操作有關(guān)的伺服系統(tǒng)，即用于使信息讀取激光斑跟蹤盤(pán)1上的記錄軌跡的跟蹤伺服系統(tǒng)，用于把激光斑聚焦在盤(pán)1的信號(hào)記錄表面的聚焦伺服系統(tǒng)，和用于在盤(pán)的徑向控制拾取器3的位置的滑動(dòng)伺服系統(tǒng)。
接下來(lái)說(shuō)明DSP電路10的信號(hào)處理系統(tǒng)。
PLL不對(duì)稱(chēng)校正電路11從RF均衡器9接收RF信號(hào)，校正不對(duì)稱(chēng)，和向EFM塊12輸出二進(jìn)制RF信號(hào)(EFM信號(hào))。
應(yīng)指出，“不對(duì)稱(chēng)”是指RF信號(hào)的眼圖中心偏離幅度中心的狀態(tài)。
另外，PLL不對(duì)稱(chēng)校正電路11內(nèi)置有用于根據(jù)二進(jìn)制信號(hào)邊緣(二進(jìn)制脈沖序列信號(hào))產(chǎn)生回放時(shí)鐘PCK的數(shù)字PLL電路111。
回放時(shí)鐘PCK的頻率是4.3218MHz。
數(shù)字PLL電路111根據(jù)二進(jìn)制EFM信號(hào)產(chǎn)生由播放時(shí)鐘PCK的整數(shù)倍組成的參考時(shí)鐘HIF，在使EFM信號(hào)與播放時(shí)鐘PCK同步時(shí)使用參考時(shí)鐘HIF檢測(cè)相位差錯(cuò)量，并把RF信號(hào)的相位差錯(cuò)作為3比特相位差錯(cuò)信息S111提供給EFM塊12的校正部分121，如后面將要說(shuō)明的。
應(yīng)指出，作為回放時(shí)鐘PCK的整數(shù)倍的參考時(shí)鐘HIF在正常速度操作時(shí)是4.3218MHz×8(＝34.5744MHz)，而在雙倍速度操作時(shí)是4.3218MHz×6(＝25.9308MHz)。
下面給出從數(shù)字PLL電路111獲得的相位差錯(cuò)與這些值之間的關(guān)系。應(yīng)指出，加括號(hào)的值是從數(shù)字PLL電路111輸出的3比特?cái)?shù)據(jù)。
正常速度 雙倍速度操作操作相位超前+4(100)相位超前+3(011)+3(101)相位超前+2(010)+1(001)相位超前+1(001)+1(001)無(wú)相差 0(000) 0(000)相位延遲-1(111)-1(111)相位延遲-2(110)-2(110)相位延遲-3(101)如圖2所示，EFM塊12包括校正部分121和解調(diào)電路122，校正部分121用于檢測(cè)由PLL不對(duì)稱(chēng)校正電路11轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制格式的RF信號(hào)的邊緣以便NRZ(不歸零)轉(zhuǎn)換，使用數(shù)字PLL電路111中產(chǎn)生的時(shí)鐘以便同步，檢測(cè)在同步時(shí)產(chǎn)生的本來(lái)在作為EFM信號(hào)的格式中不能存在的1T和2T(T是一個(gè)信道時(shí)鐘周期)，根據(jù)預(yù)定條件把所檢測(cè)的1T和2T信號(hào)校正成(后面詳細(xì)說(shuō)明校正)0或3T，以便從RF信號(hào)去除1T和2T，和調(diào)制已由EFM從中去除1T和2T的RF信號(hào)；解調(diào)電路122用于對(duì)按EFM調(diào)制后的信號(hào)按EFM解調(diào)。
在EFM塊12中解調(diào)的EFM信號(hào)變成數(shù)字音頻數(shù)據(jù)以及糾錯(cuò)和檢錯(cuò)奇偶校驗(yàn)位。對(duì)緊跟在幀同步信號(hào)后面的子碼解調(diào)。經(jīng)子碼處理電路13將子碼提供給控制器20。
把通過(guò)EFM解調(diào)后的數(shù)據(jù)暫時(shí)存儲(chǔ)在RAM(隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)14中，并根據(jù)糾錯(cuò)和檢錯(cuò)奇偶校驗(yàn)位在糾錯(cuò)電路15中進(jìn)行糾錯(cuò)。
在去交織電路16中從CIRC(交叉交織Reed-Solomon碼)對(duì)糾錯(cuò)后的數(shù)據(jù)去交織并作為L(zhǎng)/R聲道的音頻信號(hào)輸出。
下面按順序說(shuō)明以本發(fā)明的特性為特征的EFM塊12中的校正部分121的操作和結(jié)構(gòu)。
校正部分121例如根據(jù)下面給出的模式將EFM信號(hào)中包括的1T和2T信號(hào)校正成0或3T，1T和2T信號(hào)是本來(lái)不能存在的并因CD、MD、DVD或使用代碼調(diào)制的其它信息盤(pán)表面上的細(xì)劃痕或因例如RF均衡器9中比較電平的偏差而被認(rèn)為是格式中的差錯(cuò)。
校正模式包括碼型檢測(cè)模式，邊緣檢測(cè)模式，和強(qiáng)制校正模式。這些校正模式如下面所說(shuō)明的將1T或2T信號(hào)校正成0或3T信號(hào)。
1.碼型檢測(cè)模式-檢測(cè)包括1T的連續(xù)的T的碼型并將其校正成0或3T。
-檢測(cè)包括1T的連續(xù)碼型并將其校正成任何T。
-檢測(cè)包括1T和2T的連續(xù)碼型并將其校正成任何T。
-檢測(cè)包括2T的連續(xù)的T的碼型并將其校正成0或3T。
-檢測(cè)包括2T的連續(xù)碼型并將其校正成任何T。
2.邊緣比較模式-當(dāng)檢測(cè)到2T時(shí)，比較其前面和后面的T的長(zhǎng)度并將其校正成更長(zhǎng)的長(zhǎng)度。
-比較2T的EFM信號(hào)邊緣的相位差錯(cuò)并將其校正成3T。
3.強(qiáng)制校正模式-當(dāng)檢測(cè)到2T時(shí)，在2T的前面或后面強(qiáng)制其延長(zhǎng)1T以便將其校正成3T。
-當(dāng)檢測(cè)到1T時(shí)，在1T的前面和后面強(qiáng)制其延長(zhǎng)1T以便將其校正成3T。
如圖3所示，校正部分121由NRZ轉(zhuǎn)換/邊緣檢測(cè)電路1211；用于將檢測(cè)的1T校正成0T的第一校正電路1212；用于將檢測(cè)的2T校正成3T或0T的第二校正電路1213；用于將檢測(cè)的2T校正成3T的第三校正電路1214；用于將檢測(cè)的1T校正成3T的第四校正電路1215；選擇器1216；和EFM調(diào)制電路1217組成。
應(yīng)指出，在校正模式期間，選擇器1216把第四校正電路1215的輸出輸入到EFM調(diào)制電路1217，而在不執(zhí)行校正時(shí)，將NRZ轉(zhuǎn)換/邊緣檢測(cè)電路1211的輸出信號(hào)直接輸入到EFM調(diào)制電路1217。
在具有上述結(jié)構(gòu)的校正部分121中，由NRZ轉(zhuǎn)換在不對(duì)稱(chēng)校正電路中轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制格式的RF信號(hào)(EFM信號(hào))并在NRZ轉(zhuǎn)換/邊緣檢測(cè)電路1211中檢測(cè)邊緣，然后在第一校正電路1212(A)→第二校正電路1213(B)→第三校正電路1214(C)→第四校正電路1215(D)中校正，在EFM調(diào)制電路1217中再次轉(zhuǎn)換成EFM信號(hào)，并發(fā)送到后面的EFM解調(diào)電路122。
在校正部分121中，在連續(xù)的T中考慮包括1T的任何碼型進(jìn)行校正。這種情況下，可靠地校正低頻出現(xiàn)的碼型和在其前面和后面包括1T和2T的T的長(zhǎng)度與特定碼型一起輸入的碼型。在此校正后，進(jìn)行最有效的校正。
通過(guò)從1T的短信號(hào)校正成更長(zhǎng)的信號(hào)可有效地進(jìn)行校正。
另外，通過(guò)只校正1T和2T信號(hào)，可在不破壞正確輸入的EFM信號(hào)的3T至11T的情況下進(jìn)行該校正。
下面參考


第一至第四校正電路的具體電路結(jié)構(gòu)。
圖4是第一校正電路1212結(jié)構(gòu)實(shí)例的電路圖，而圖5是圖4的時(shí)序圖。
應(yīng)指出，在此說(shuō)明校正包括1T的連續(xù)碼型3T-1T-3T的實(shí)例。
如圖4所示，第一校正電路1212包括D型觸發(fā)器FF1至FF10，雙輸入端的“與”門(mén)AD1和AD2，后向1T、2T、3T、和4T檢測(cè)器201，1T檢測(cè)器202，前向1T、2T、3T、和4T檢測(cè)器203，和判斷電路204。
把PLL不對(duì)稱(chēng)電路11的數(shù)字PLL電路111中產(chǎn)生的回放時(shí)鐘(1T的信道時(shí)鐘)提供給觸發(fā)器FF1至FF10的時(shí)鐘CK端。
然后，以級(jí)聯(lián)方式連接觸發(fā)器FF1至FF5的Q輸出端和D輸入端，把在NRZ轉(zhuǎn)換/邊緣檢測(cè)電路1211中邊緣檢測(cè)的信號(hào)S1211輸入到觸發(fā)器FF1的D輸入端，而將觸發(fā)器FF1至FF4的Q輸出輸入到檢測(cè)器201，觸發(fā)器FF5的Q輸出連接到“與”門(mén)AD1的一個(gè)輸入端。
“與”門(mén)AD1的另一個(gè)輸入端(負(fù)輸入端)連接到判斷電路204的1T校正信號(hào)S204的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF6的D輸入端。觸發(fā)器FF6的Q輸出連接到“與”門(mén)AD2的一個(gè)輸入端。
“與”門(mén)AD2的另一個(gè)輸入端(負(fù)輸入端)連接到1T校正信號(hào)S204的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF7的D輸入端。
此外，以級(jí)聯(lián)方式連接觸發(fā)器FF7至FF10的Q輸出端和D輸入端，觸發(fā)器FF1至FF4的Q輸出輸入到檢測(cè)器203，觸發(fā)器FF10的Q輸出作為校正的信號(hào)輸出到后面的第二校正電路1213。
檢測(cè)器201從觸發(fā)器FF1至FF4的Q輸出檢測(cè)后向1T、2T、3T、和4T并將檢測(cè)結(jié)果作為信號(hào)S201輸出到判斷電路204。例如，當(dāng)檢測(cè)到1T、2T、3T、或4T時(shí)，例如向判斷電路204輸出高電平信號(hào)S201。
1T檢測(cè)器202從觸發(fā)器FF1至FF4的Q輸出檢測(cè)后向1T并將檢測(cè)結(jié)果作為信號(hào)S201輸出到判斷電路204。當(dāng)檢測(cè)到1T時(shí)，例如向判斷電路204輸出高電平信號(hào)S202。
檢測(cè)器203從觸發(fā)器FF7至FF10的Q輸出檢測(cè)前向1T、2T、3T、或4T并將檢測(cè)結(jié)果作為信號(hào)S203輸出到判斷電路204。例如，當(dāng)檢測(cè)到1T、2T、3T、或4T時(shí)，例如輸出高電平信號(hào)S203。
當(dāng)判斷電路204從檢測(cè)器201、202、和203接收輸入的檢測(cè)信號(hào)S201、S202、S203全部為高電平時(shí)，則判斷應(yīng)從連續(xù)的信號(hào)碼型去除1T，并向“與”門(mén)AD1和AD2的另一個(gè)輸入端(負(fù)輸入端)輸出1T校正信號(hào)。
在此，用校正包括1T的連續(xù)碼型3T-1T-3T為例說(shuō)明具有上面結(jié)構(gòu)的第一校正電路1212的校正操作。
轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制格式并在此后如圖5B所示同步的EFM信號(hào)在NRZ轉(zhuǎn)換/邊緣檢測(cè)電路1211中進(jìn)行NRZ轉(zhuǎn)換然后進(jìn)行邊緣檢測(cè)，以給出圖5C所示的信號(hào)。
此后，把進(jìn)行了邊緣檢測(cè)后的信號(hào)輸入到第一校正電路1212，在第一校正電路1212中從用于檢測(cè)1T后面的T的寄存器將該信號(hào)偏移回放時(shí)鐘PCK的時(shí)鐘周期。
在用檢測(cè)器202檢測(cè)要校正的1T時(shí)，具體地說(shuō)，在觸發(fā)器FF6和FF5的輸出變成邏輯“1，1”時(shí)，在檢測(cè)器202的輸出信號(hào)S202變成高電平的定時(shí)在后向檢測(cè)器201中檢測(cè)3T，將檢測(cè)器201的輸出信號(hào)S201設(shè)定在如圖5D所示的高電平，在前向檢測(cè)器203中檢測(cè)3T，并將檢測(cè)器203的輸出信號(hào)S203設(shè)定在如圖5F所示的高電平，判斷電路204判斷應(yīng)去除1T并將校正信號(hào)S204設(shè)定在如圖5E所示的高電平并輸出。
結(jié)果是，如圖5H所示，從經(jīng)邊緣檢測(cè)的信號(hào)去除了1T部分。
通過(guò)對(duì)在后面的EFM調(diào)制電路1217已從其去除1T部分的信號(hào)進(jìn)行調(diào)制所獲得的經(jīng)校正的EFM信號(hào)變成如圖5I所示的7T信號(hào)。
就是說(shuō)，通過(guò)用第一校正電路1212去除1T將包括1T的連續(xù)碼型3T-1T-3T的EFM信號(hào)校正成7T信號(hào)。
當(dāng)碼型與下面包括1T的碼型匹配時(shí)，第一校正電路1212使用上面的操作進(jìn)行相同的校正通過(guò)檢測(cè)1T的典型連續(xù)外形校正(1)校正內(nèi)容(2T-1T-2T→5T)(2)校正內(nèi)容(3T-1T-3T→7T)(3)校正內(nèi)容(4T-1T-3T→8T)(4)校正內(nèi)容(3T-1T-4T→8T)刪除連續(xù)的1T(5)校正內(nèi)容(1T-1T-1T→3T)(6)校正內(nèi)容(2T-1T-1T→4T)(7)校正內(nèi)容(1T-1T-2T→4T)另外，可針對(duì)這些校正向判斷電路204給出校正選擇信號(hào)，以便選擇任何校正內(nèi)容。
下面說(shuō)明第二校正電路1213的結(jié)構(gòu)和功能。
圖6是第二校正電路1213結(jié)構(gòu)實(shí)例的電路圖，圖7是圖6的時(shí)序圖。
在該電路中，當(dāng)從第一校正電路1212的輸出信號(hào)檢測(cè)到在其前面或后面有包括3T的2T時(shí)，在不破壞其前面和后面現(xiàn)有的3T的情況下進(jìn)行校正。
應(yīng)指出，圖7B示出邊緣檢測(cè)前的EFM信號(hào)，圖7B示出邊緣檢測(cè)后的信號(hào)。
如圖6所示，第二校正電路1213包括D型觸發(fā)器FF1至FF20，雙輸入端的“與”門(mén)AD11至AD12，雙輸入“或”門(mén)OR11至OR13，后向1T、2T、和3T檢測(cè)器211，2T檢測(cè)器212，前向1T、2T、和3T檢測(cè)器213，和2T去除判斷電路214。
將PLL不對(duì)稱(chēng)電路11的數(shù)字PLL電路111中產(chǎn)生的回放時(shí)鐘(1T的信道時(shí)鐘)PCK提供給觸發(fā)器FF11至FF20的時(shí)鐘CK端。
然后，以級(jí)聯(lián)方式連接觸發(fā)器FF11至FF13的Q輸出端和D輸入端，把在NRZ轉(zhuǎn)換/邊緣檢測(cè)電路1211中邊緣檢測(cè)的信號(hào)S1211輸入到觸發(fā)器FF11的D輸入端，而將觸發(fā)器FF11至FF13的Q輸出輸入到檢測(cè)器211。觸發(fā)器FF13的Q輸出連接到“或”門(mén)OR11的一個(gè)輸入端。
“或”門(mén)OR11的另一個(gè)輸入端連接到判斷電路214的校正信號(hào)S214-1的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF14的D輸入端。觸發(fā)器FF14的Q輸出端連接到“與”門(mén)AD11的一個(gè)輸入端。
“與”門(mén)AD11的另一個(gè)輸入端(負(fù)輸入端)連接到判斷電路214的校正信號(hào)S214-2的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到“或”門(mén)OR12的一個(gè)輸入端。
“或”門(mén)OR12的另一個(gè)輸入端連接到判斷電路214的校正信號(hào)S214-3的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF15的D輸入端。觸發(fā)器FF15的Q輸出端連接到“與”門(mén)AD12的一個(gè)輸入端。
“與”門(mén)AD12的另一個(gè)輸入端(負(fù)輸入端)連接到判斷電路214的校正信號(hào)S214-4的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF16的D輸入端。觸發(fā)器FF16的Q輸出端連接到“與”門(mén)AD13的一個(gè)輸入端。
“與”門(mén)AD13的另一個(gè)輸入端(負(fù)輸入端)連接到判斷電路214的校正信號(hào)S214-5的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF17的D輸入端。觸發(fā)器FF17的Q輸出端連接到“與”門(mén)OR13的一個(gè)輸入端。
“或”門(mén)OR13的另一個(gè)輸入端連接到判斷電路214的校正信號(hào)S214-6的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF18的D輸入端。
觸發(fā)器FF14、FF15、和FF16的Q輸出被輸入到檢測(cè)器212。
此外，以級(jí)聯(lián)方式連接觸發(fā)器FF18至FF20的Q輸出端和D輸入端，觸發(fā)器FF18至FF20的Q輸出輸入到檢測(cè)器213，觸發(fā)器FF20的Q輸出作為已校正的信號(hào)輸出到下一個(gè)第三校正電路1214。
檢測(cè)器211從觸發(fā)器FF11至FF13的Q輸出檢測(cè)后向1T、2T、或3T并將檢測(cè)結(jié)果作為信號(hào)S211輸出到判斷電路214。例如，當(dāng)檢測(cè)到1T、2T、或3T時(shí)，例如向判斷電路214輸出高電平信號(hào)S211。
當(dāng)從觸發(fā)器FF14、FF15、和FF16的Q輸出檢測(cè)到2T時(shí)，2T檢測(cè)器212向判斷電路214輸出例如高電平的信號(hào)S212。
檢測(cè)器213從觸發(fā)器FF18、FF19、和FF20的Q輸出檢測(cè)前向1T、2T、或3T，并將檢測(cè)結(jié)果作為信號(hào)S213輸出到判斷電路214。例如，當(dāng)檢測(cè)到1T、2T、或3T時(shí)輸出例如高電平的信號(hào)S213。
當(dāng)判斷電路214從檢測(cè)器212和213接收例如輸入的檢測(cè)信號(hào)S212和S213為高電平時(shí)，則判斷應(yīng)從連續(xù)的信號(hào)碼型去除2T，并以預(yù)定電平輸出校正信號(hào)S214-1至S214-6，以便校正前向側(cè)。
具體地說(shuō)，當(dāng)檢測(cè)器212中檢測(cè)到校正的2T時(shí)，如果檢測(cè)到后向3T，2T校正信號(hào)則變?yōu)橛行?。判斷電?14根據(jù)檢測(cè)的信號(hào)確定2T至3T的校正方向并根據(jù)該判決輸出校正信號(hào)S214-1至S214-6。
下面用包括2T的連續(xù)碼型3T(前向)-2T-5T(后向)的校正為例說(shuō)明具有上面結(jié)構(gòu)的第二校正電路1213的校正操作。
把通過(guò)第一校正電路1212的信號(hào)輸入到第二校正電路1213，第二校正電路1213從用于檢測(cè)2T后的3T的寄存器將該信號(hào)偏移播放時(shí)鐘PCK的一個(gè)時(shí)鐘周期。
當(dāng)檢測(cè)器212檢測(cè)到要校正的2T并將檢測(cè)信號(hào)S212設(shè)定在如圖7E所示的高電平時(shí)，在檢測(cè)器213檢測(cè)前向3T。如果將檢測(cè)信號(hào)S213設(shè)定在如圖7F所示的高電平，2T校正信號(hào)變?yōu)橛行?圖7F)。
然后，在判斷電路214中根據(jù)檢測(cè)的信號(hào)確定2T至3T的校正方向，并按照該確定輸出校正信號(hào)S214-1至S214-6。
用判決信號(hào)校正2T。在圖7的例子中，做出判決校正后側(cè)并執(zhí)行使后面的5T變?yōu)?T的校正。
這種情況下，以高電平輸出校正信號(hào)S214-1、S214-2、和S214-4，和以低電平輸出校正信號(hào)S214-3、S214-5、和S214-6。
結(jié)果是，如圖7G所示，在邊緣檢測(cè)后，將信號(hào)中的2T部分校正成3T。
通過(guò)在后面的EFM調(diào)制電路1217中調(diào)制獲得的校正EFM信號(hào)變成如圖7H所示的信號(hào)。
就是說(shuō)，用第二校正電路1213將包括2T的連續(xù)碼型3T-2T-5T的EFM信號(hào)校正成3T-3T-4T。
在上面的說(shuō)明中，說(shuō)明了后向校正的情況。在例如前向校正的情況下，把從判斷電路214輸出的校正信號(hào)S214-3、S214-4、S214-5和S214-6設(shè)定在高電平，而把信號(hào)S214-1和S214-2設(shè)定在低電平。
另外，在去除2T時(shí)，把從判斷電路214輸出的校正信號(hào)S214-2和S214-5設(shè)定在高電平，而把信號(hào)S214-1、S214-3、S214-4、和S214-6設(shè)定在低電平。
另外，第二校正電路1213以碼型與后面包括2T的碼型匹配的相同方式進(jìn)行校正。
當(dāng)在下面(1)至(3)的校正中用1T和2T對(duì)包含的2T加括號(hào)時(shí)，檢測(cè)前向和后向中的1T和2T以便不損壞除因錯(cuò)誤校正所涉及的T之外的部分。
典型的2T碼型校正(1)校正內(nèi)容(3T-2T-nT→3T-3T-(n-1)T)，其中n＞4(2)校正內(nèi)容(nT-2T-3T→(n-1)T-3T-3T)在2T兩側(cè)出現(xiàn)3T時(shí)校正到8T(1)校正內(nèi)容(3T-2T-3T→8T)另外，第二校正電路1213的判斷電路214通過(guò)對(duì)這些校正給出校正選擇信號(hào)可以與第一校正電路1212中的判斷電路204相同的方式自由選擇校正內(nèi)容。
下面說(shuō)明第三校正電路的結(jié)構(gòu)和功能。
圖8是第三校正電路1214結(jié)構(gòu)實(shí)例的電路圖，圖9和圖10是圖8的時(shí)序圖。
可在三種主要校正方式中切換使用該電路。
這三種方式是第一，利用來(lái)自數(shù)字PLL電路11的相位差錯(cuò)的校正，第二，通過(guò)比較前面或后面的T的長(zhǎng)度進(jìn)行校正，和第三，當(dāng)出現(xiàn)2T時(shí)強(qiáng)制校正到3T。
應(yīng)指出，圖9是利用來(lái)自數(shù)字PLL電路11的相位差錯(cuò)進(jìn)行校正的時(shí)序圖，圖10是通過(guò)比較前面或后面的T的長(zhǎng)度進(jìn)行校正的定時(shí)圖。
如圖8所示，第三校正電路1214包括D型觸發(fā)器FF21至FF48，雙輸入“與”門(mén)AD21至AD23，雙輸入“或”門(mén)OR21至OR23，后向3T至11T檢測(cè)器221，2T檢測(cè)器222，前向3T至11T檢測(cè)器223，用于2T的EFM邊緣的相位差錯(cuò)操作電路224，和2T去除/2T-3T判斷電路225。
將PLL不對(duì)稱(chēng)電路11的數(shù)字PLL電路111中產(chǎn)生的回放時(shí)鐘(1T的信道時(shí)鐘)PCK提供給觸發(fā)器FF21至FF48的時(shí)鐘CK端。
然后，以級(jí)聯(lián)方式連接觸發(fā)器FF21至FF32的Q輸出和D輸入，把在NRZ轉(zhuǎn)換/邊緣檢測(cè)電路1211邊緣檢測(cè)的信號(hào)S1211(第二校正電路1213的輸出信號(hào))輸入到觸發(fā)器FF21的D輸入端，而觸發(fā)器FF21至FF32的Q輸出輸入到檢測(cè)器221。觸發(fā)器FF32的Q輸出端連接到“或”門(mén)OR21的一個(gè)輸入端。
“或”門(mén)OR21的另一個(gè)輸入端連接到判斷電路225的校正信號(hào)S225-1的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF33的D輸入端。觸發(fā)器FF33的Q輸出端連接到“與”門(mén)AD21的一個(gè)輸入端。
“與”門(mén)AD21的另一個(gè)輸入端(負(fù)輸入端)連接到判斷電路225的校正信號(hào)S225-2的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到“或”門(mén)OR22的一個(gè)輸入端。
“或”門(mén)OR22的另一個(gè)輸入端連接到判斷電路225的校正信號(hào)S225-3的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF34的D輸入端。觸發(fā)器FF34的Q輸出端連接到“與”門(mén)AD22的一個(gè)輸入端。
“與”門(mén)AD22的另一個(gè)輸入端(負(fù)輸入端)連接到判斷電路225的校正信號(hào)S225-4的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF35的D輸入端。觸發(fā)器FF35的Q輸出端連接到“與”門(mén)AD23的一個(gè)輸入端。
“與”門(mén)AD23的另一個(gè)輸入端(負(fù)輸入端)連接到判斷電路225的校正信號(hào)S225-5的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF36的D輸入端。觸發(fā)器FF36的Q輸出端連接到“或”門(mén)OR23的一個(gè)輸入端。
“或”門(mén)OR23的另一個(gè)輸入端連接到判斷電路225的校正信號(hào)S225-6的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF37的D輸入端。
觸發(fā)器FF33、FF34、和FF35的Q輸出輸入到檢測(cè)器212。
此外，以級(jí)聯(lián)方式連接觸發(fā)器FF37至FF48的Q輸出端和D輸入端，觸發(fā)器FF36至FF48的Q輸出輸入到檢測(cè)器233，觸發(fā)器FF48的Q輸出作為已校正的信號(hào)輸出到下一個(gè)第四校正電路1215。
檢測(cè)器221從觸發(fā)器FF21至FF32的Q輸出檢測(cè)后向3T至11T，并將檢測(cè)結(jié)果作為信號(hào)S211輸出到判斷電路225。例如，當(dāng)檢測(cè)到3T至11T時(shí)，輸出例如高電平的信號(hào)S221。
當(dāng)從觸發(fā)器FF33、FF34、和FF35的Q輸出檢測(cè)到后向2T時(shí)，2T檢測(cè)器222向判斷電路225輸出例如高電平的信號(hào)S222。
檢測(cè)器223從觸發(fā)器FF37至FF48的Q輸出檢測(cè)前面的3T至11T，并將檢測(cè)結(jié)果作為信號(hào)S223輸出的判斷電路225。例如，當(dāng)檢測(cè)到3T至11T時(shí)，輸出例如高電平的信號(hào)S223。
相位差錯(cuò)運(yùn)算電路224根據(jù)數(shù)字PLL電路111檢測(cè)的結(jié)果，即3比特的相位差錯(cuò)信息S111，在正常速度操作期間利用4.3218MHz×8(＝34.5744MHz)的參考時(shí)鐘HIF和在雙倍速度操作期間利用4.3218MHz×6(＝25.9308MHz)的參考時(shí)鐘HIF將A和B的值大小進(jìn)行比較，其中當(dāng)由2T檢測(cè)器222檢測(cè)到2T時(shí)A是EFM信號(hào)的后向邊緣，B是前向邊緣，當(dāng)邊緣A和B存在相位差錯(cuò)時(shí)，利用運(yùn)算結(jié)果向判斷電路225輸出信號(hào)S224，以便根據(jù)圖11所示的條件確定2T至3T的校正方向。
例如，如圖11所示，當(dāng)前邊緣具有+4(100)的相位超前和后邊緣具有+2(010)的相位超前時(shí)，將信號(hào)在前面延長(zhǎng)1T。
另外，當(dāng)前邊緣具有+2(010)的相位超前和后邊緣具有-3(101)的相位延遲時(shí)，將信號(hào)在后面延長(zhǎng)1T。
以此方式，如圖11所示根據(jù)相位差錯(cuò)信息S111的內(nèi)容決定在前面還是在后面將信號(hào)延長(zhǎng)1T。
另外，圖11右側(cè)帶有圓圈的部分表明了能夠前或后方向選擇的條件。
應(yīng)指出，由于校正方向依據(jù)某些情況下的變形狀態(tài)而改變，當(dāng)A＝B時(shí)，本電路能選擇在前向或后向校正。
判斷電路225根據(jù)來(lái)自檢測(cè)器221、222、和223的檢測(cè)信號(hào)S221、S222、和S223的輸入電平以及來(lái)自相位差錯(cuò)運(yùn)算電路224的2T→3T的校正方向指示信號(hào)S224，以預(yù)定電平輸出校正信號(hào)S225-1至S225-6，以便根據(jù)指令信號(hào)去除2T或校正前向或后向。
例如，當(dāng)在前向校正時(shí)，以高電平輸出校正信號(hào)S225-3、S225-4、S225-5、和S225-6，和以低電平輸出校正信號(hào)S225-1和S225-2。
另外，當(dāng)在后向校正時(shí)，以高電平輸出校正信號(hào)S225-1、S225-2、和S225-4，和以低電平輸出校正信號(hào)S225-3，S225-5和S225-6。
當(dāng)去除2T時(shí)，以高電平輸出校正信號(hào)S225-2和S225-5，和以低電平輸出校正信號(hào)S225-1、S225-3、S225-4、和S225-6。
接下來(lái)，按順序說(shuō)明具有上述結(jié)構(gòu)的第三校正電路1214的第一、第二、和第三校正操作。
(1)使用來(lái)自PLL的相位差錯(cuò)進(jìn)行校正在DSP電路10中，由數(shù)字PLL電路111根據(jù)在PLL不對(duì)稱(chēng)校正電路11中轉(zhuǎn)換成圖9D所示的二進(jìn)制格式的EFM信號(hào)產(chǎn)生圖9A所示的參考時(shí)鐘HIF，該參考時(shí)鐘HIF是通過(guò)根據(jù)操作模式倍頻圖9C所示的回放時(shí)鐘PCK獲得的。
應(yīng)指出，在圖9的例子中，示出了按8倍于回放時(shí)鐘PCK(正常速度操作期間，4.3218MHz×8)的時(shí)鐘產(chǎn)生參考時(shí)鐘HIF的情況。
在數(shù)字PLL電路111中，在將EFM信號(hào)與回放時(shí)鐘PCK同步時(shí)，利用參考時(shí)鐘HIF檢測(cè)相位差錯(cuò)量。
圖9B示出EFM信號(hào)與播放時(shí)鐘PCK的相位的關(guān)系。
當(dāng)輸入圖9D所示的EFM信號(hào)用于同步時(shí)，檢測(cè)到如圖9E所示的2T。
當(dāng)檢測(cè)到2T時(shí)，假設(shè)后邊緣是EFM信號(hào)中的A而前邊緣是EFM信號(hào)中的B。
然后，相位差錯(cuò)與從數(shù)字PLL電路111獲得的值的關(guān)系如下。將加括號(hào)的3比特信息作為相位差錯(cuò)信息S111輸出到校正部分12。
正常速度操作期間相位超前 +4(100)相位超前 +3(011)相位超前 +2(010)相位超前 +1(001)無(wú)相差 0(000)相位延遲 -1(111)相位延遲 -2(110)相位延遲 -3(101)把從數(shù)字PLL電路111獲得的相位差錯(cuò)信息S111輸入到2T EFM邊緣操作電路224并執(zhí)行如下操作就是說(shuō)，當(dāng)在2T檢測(cè)器222中檢測(cè)到2T時(shí)，前邊緣的相差值出現(xiàn)在圖9G針對(duì)邊緣的時(shí)刻。圖9I示出圖9G所示的信號(hào)延遲2個(gè)回放時(shí)鐘PCK。
在存在邊緣A和B的相位差錯(cuò)的時(shí)刻比較A和B的值。
然后，利用圖9J所示的操作結(jié)果，根據(jù)圖11所示的條件確定2T至3T的校正方向。
根據(jù)圖11的結(jié)果，將校正方向信號(hào)發(fā)送到2T-3T判斷電路225并將2T校正成圖9D所示的EFM信號(hào)中的3T。
(2)通過(guò)比較前面和后面T的長(zhǎng)度進(jìn)行校正下面參考圖10的時(shí)序圖說(shuō)明當(dāng)2T出現(xiàn)時(shí)除上面校正外的校正。
在此，說(shuō)明當(dāng)輸入包括2T的連續(xù)碼型mT-2T-nT時(shí)的校正(m和n是3和11之間的整數(shù))。
圖10B所示的EFM信號(hào)的邊緣檢測(cè)前的信號(hào)變成圖10G所示的邊緣檢測(cè)后的信號(hào)。
該信號(hào)輸入到第三校正電路1214，在此將其與用于檢測(cè)2T后面的3T至11T的寄存器偏移回放時(shí)鐘PCK的時(shí)鐘周期。
然后，如圖10D所示，當(dāng)檢測(cè)到要校正的2T時(shí)，如果檢測(cè)到后面或前面的3T至11T，比較后面的mT和前面的nT的幅值，并根據(jù)下面的條件將2T校正成3T校正內(nèi)容m＞n(mT-2T-nT→(m-1)T-3T-nT)校正內(nèi)容m＜n(mT-2T-nT→mT-3T-(n-1)T)在圖10的例子中，當(dāng)m＝5T和n＝6T時(shí)，m＞n，并且圖10E所示的后向校正信號(hào)在2T去除判斷電路225中變?yōu)橛行А?br> 結(jié)果是，獲得如圖10F所示的校正結(jié)果。
在后面的EFM調(diào)制電路1217中調(diào)制后的已校正信號(hào)變成圖10G所示的5T-3T-5T信號(hào)。
就是說(shuō)，由第三校正電路1214將包括2T的連續(xù)碼型6T-2T-5T的EFM信號(hào)校正成5T-3T-5T信號(hào)。
應(yīng)指出，在本電路中，由于其中出現(xiàn)m＝n的情況，當(dāng)m＝n時(shí)可設(shè)定前向或后向校正。
(3)當(dāng)出現(xiàn)2T時(shí)強(qiáng)制校正成3T當(dāng)2T檢測(cè)器222檢測(cè)到通過(guò)第一校正電路1212和第二校正電路1213的信號(hào)時(shí)，執(zhí)行從2T到3T的強(qiáng)制校正如下(3-1)將2T強(qiáng)制校正成3T。應(yīng)指出，可選擇校正方向，即前向或后向。
(3-2)將2T強(qiáng)制校正成3T。通過(guò)在每檢測(cè)到2T時(shí)在前向和后向交替切換來(lái)重復(fù)校正。
下面將說(shuō)明第四校正電路1215的結(jié)構(gòu)和功能。
圖12是第四校正電路1215結(jié)構(gòu)實(shí)例的電路圖，圖13是圖12的時(shí)序圖。
第四校正電路1215把通過(guò)第一校正電路1212、第二校正電路1213、第三校正電路1214的信號(hào)中任何檢測(cè)到的剩余1T在前向和后向延長(zhǎng)1T，以便將1T校正成3T。
如圖12所示，第四校正電路1215包括D型觸發(fā)器FF51至FF55，雙輸入“與”門(mén)AD51和AD52，雙輸入“或”門(mén)OR51至OR52，1T檢測(cè)器231，和1T-3T校正判斷電路232。
將PLL不對(duì)稱(chēng)電路11的數(shù)字PLL電路111中產(chǎn)生的回放時(shí)鐘(1T的信道時(shí)鐘)PCK提供給觸發(fā)器FF51至FF55的時(shí)鐘CK端。
然后，把在NRZ轉(zhuǎn)換/邊緣檢測(cè)電路1211邊緣檢測(cè)的信號(hào)S1211(第三校正電路12114的輸出信號(hào))輸入到觸發(fā)器FF51的D輸入端，而觸發(fā)器FF51的Q輸出端連接到“或”門(mén)OR51的一個(gè)輸入端。
“或”門(mén)OR51的另一個(gè)輸入端連接到判斷電路232的校正信號(hào)S232的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF52的D輸入端。觸發(fā)器FF52的Q輸出端連接到“與”門(mén)AD51的一個(gè)輸入端。
“與”門(mén)AD51的另一個(gè)輸入端(負(fù)輸入端)連接到判斷電路232的校正信號(hào)S232的輸出線(xiàn)并連接到觸發(fā)器FF53的D輸入端。觸發(fā)器FF53的Q輸出端連接到“與”門(mén)AD52的一個(gè)輸入端。
“與”門(mén)AD52的另一個(gè)輸入端(負(fù)輸入端)連接到判斷電路232的校正信號(hào)S232的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF54的D輸入。觸發(fā)器FF54的Q輸出連接到“或”門(mén)OR52的一個(gè)輸入端。
“或”門(mén)OR52的另一個(gè)輸入端連接到判斷電路232的校正信號(hào)S232的輸出線(xiàn)，而輸出端連接到觸發(fā)器FF55的D輸入端。
觸發(fā)器FF55的Q輸出作為已校正的信號(hào)經(jīng)選擇器1216輸出到EFM調(diào)制電路1217。
觸發(fā)器FF52和FF53的Q輸出輸入到1T檢測(cè)器231。
1T檢測(cè)器231從觸發(fā)器FF52和FF53的Q輸出檢測(cè)1T并將檢測(cè)結(jié)果作為信號(hào)S231輸出到判斷電路232。例如，當(dāng)檢測(cè)到1T時(shí)，輸出高電平的信號(hào)S231。
當(dāng)以高電平輸入來(lái)自檢測(cè)器231的檢測(cè)信號(hào)S231時(shí)，判斷電路232向“或”門(mén)OR51和OR52的另一個(gè)輸入端和“與”門(mén)AD51和AD52的另一個(gè)輸入端(負(fù)輸入端)輸出1T→3T校正信號(hào)S232，以便將1T校正成3T。
下面說(shuō)明具有上述結(jié)構(gòu)的第四校正電路1215的校正操作。
圖13B所示的EFM信號(hào)的邊緣檢測(cè)之前的信號(hào)在邊緣檢測(cè)之后變成如圖13C所示。
該信號(hào)輸入到第四校正電路1215，在此將其根據(jù)寄存器偏移回放時(shí)鐘PCK的時(shí)鐘周期。
當(dāng)檢測(cè)到要校正的1T時(shí)，如圖13D所示，執(zhí)行從1T到3T的校正。
在后面的EFM調(diào)制電路1217中調(diào)制后的已校正EFM信號(hào)變成如圖13D所示的3T-3T-3T。
就是說(shuō)，由第四校正電路1215將包括1T的連續(xù)碼型4T-1T-4T的EFM信號(hào)校正成3T-3T-3T的信號(hào)。
應(yīng)指出，通過(guò)給出功能選擇信號(hào)可在第四校正電路1215中接通和關(guān)閉校正。
下面說(shuō)明圖1的電路的操作。
由主軸電機(jī)2驅(qū)動(dòng)使用代碼調(diào)制存儲(chǔ)信息的盤(pán)1旋轉(zhuǎn)，并由光拾取器3讀取盤(pán)1上存儲(chǔ)的信息。
由I(電流)/V(電壓)放大器8將光拾取器3的輸出信號(hào)從電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)，由RF均衡電路9進(jìn)行波形整形，并作為RF信號(hào)提供給DSP電路10。
在DSP電路10中，把來(lái)自RF均衡器9的RF信號(hào)輸入到PLL不對(duì)稱(chēng)校正電路11，在此校正RF信號(hào)的不對(duì)稱(chēng)，然后作為二進(jìn)制RF信號(hào)(EFM信號(hào))輸出到EFM塊12。
此外，在PLL不對(duì)稱(chēng)校正電路11中，根據(jù)二進(jìn)制信號(hào)邊緣(二進(jìn)制脈沖序列信號(hào))產(chǎn)生具有4.3218MHz頻率的回放時(shí)鐘PCK。然后，在數(shù)字PLL電路111中，根據(jù)二進(jìn)制信號(hào)產(chǎn)生回放時(shí)鐘PCK整數(shù)倍的參考時(shí)鐘HIF。在使EFM信號(hào)與PCK信號(hào)同步時(shí)，利用參考時(shí)鐘HIF檢測(cè)相位差錯(cuò)量。RF信號(hào)的相位差錯(cuò)作為3比特相位差錯(cuò)信息S111提供給EFM塊12的校正部分121。
校正部分121按照預(yù)定模式將EFM信號(hào)中包括的1T或2T信號(hào)校正成0或3T信號(hào)，1T或2T信號(hào)本來(lái)不能存在并因使用代碼調(diào)制的盤(pán)1表面上的細(xì)劃痕或因例如RF均衡器9中比較電平的偏差而被認(rèn)為是格式中的差錯(cuò)。
具體地說(shuō)，在PLL不對(duì)稱(chēng)轉(zhuǎn)換電路11對(duì)轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制格式的RF信號(hào)進(jìn)行邊緣檢測(cè)并進(jìn)行NRZ轉(zhuǎn)換。然后，利用數(shù)字PLL電路111中產(chǎn)生的時(shí)鐘同步該信號(hào)，第一至第四校正電路1212至1215檢測(cè)作為在同步時(shí)產(chǎn)生的格式中本來(lái)不能存在的EFM信號(hào)的1T或2T(T是一個(gè)信道時(shí)鐘周期)，并按照預(yù)定條件將檢測(cè)的1T或2T信號(hào)校正成0或3T。
把在校正部分12的第一至第四校正電路1212至1215中校正的信號(hào)經(jīng)選擇器1216輸入到EFM調(diào)制電路1217并由EFM調(diào)制。在EFM解調(diào)電路122中對(duì)EFM調(diào)制后的信號(hào)解調(diào)。
此后，解調(diào)的EFM信號(hào)變成數(shù)字音頻信號(hào)和糾錯(cuò)及檢錯(cuò)奇偶校驗(yàn)位。對(duì)緊接幀同步信號(hào)的子碼解調(diào)。將子碼經(jīng)子碼處理電路13提供給控制器20。
另外，把EFM解調(diào)后的數(shù)據(jù)臨時(shí)存儲(chǔ)在RAM 14中，并由糾錯(cuò)電路15根據(jù)糾錯(cuò)/檢錯(cuò)奇偶校驗(yàn)位執(zhí)行糾錯(cuò)。
在去交織電路16中以CIRC(交叉交織Reed-Solomon碼)對(duì)糾錯(cuò)后的數(shù)據(jù)去交織，并作為L(zhǎng)/R聲道的音頻信號(hào)輸出。
如上所述，根據(jù)本實(shí)施例，由于提供了包含校正部分121和解調(diào)電路122的EFM塊12，該校正部分121用于檢測(cè)由PLL不對(duì)稱(chēng)校正電路11轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制格式的RF信號(hào)的邊緣以便NRZ轉(zhuǎn)換，使用數(shù)字PLL電路11中產(chǎn)生的時(shí)鐘以便同步，檢測(cè)同步時(shí)產(chǎn)生的本來(lái)不能在格式中作為EFM信號(hào)存在的1T和2T(T是一個(gè)信道時(shí)鐘周期)，按照預(yù)定條件將檢測(cè)的1T和2T信號(hào)校正成0或3T以便從RF信號(hào)去除1T和2T，和調(diào)制已由EFM從其去除1T和2T的RF信號(hào)；解調(diào)電路122用于對(duì)按EFM調(diào)制后的信號(hào)按EFM解調(diào)，由此可恢復(fù)至此一直作為差錯(cuò)處理的信號(hào)。由于將已在糾錯(cuò)電路15中校正的信號(hào)校正成從3T至11T的格式，改善了C1和C2的差錯(cuò)率并改善了可播放性。
因此，具有可改善差錯(cuò)率和改善可播放性的優(yōu)點(diǎn)。
此外，可改善作為RF信號(hào)的幅度電平下降和因盤(pán)表面上的細(xì)劃痕造成RF信號(hào)輸入不正確的結(jié)果，或作為因不對(duì)稱(chēng)中的偏移造成限制電平一直向上偏移到正或負(fù)側(cè)和信號(hào)未正確地轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制格式的結(jié)果產(chǎn)生的1T和2T信號(hào)。
因此，具有能夠改善諸如具有不對(duì)稱(chēng)偏移的盤(pán)和劃傷的盤(pán)之類(lèi)的低質(zhì)量盤(pán)的可播放性的優(yōu)點(diǎn)。
應(yīng)指出，在本實(shí)施例中，構(gòu)成校正部分121以便輸入通過(guò)用于2T-3T校正的第三校正電路1214到用于1T-3T校正的第四校正電路1215的信號(hào)。然而，也可將其構(gòu)成輸入通過(guò)第二校正電路1213至第四校正電路1215的信號(hào)以及輸入通過(guò)第四校正電路1215至用于2T-3T校正的第三校正電路1214的信號(hào)。
這種情況下，也可使用未示出的切換電路，以便通過(guò)控制信號(hào)在第二校正電路1213→第三校正電路1214→第四校正電路1215的連接模式與第二校正電路1213→第四校正電路1215→第三校正電路1214的連接模式之間切換。
通過(guò)以這種方式提供用于切換校正順序的功能，具有在因盤(pán)的回放狀態(tài)造成1T和2T的外形狀態(tài)改變時(shí)可減少校正結(jié)果劣化的優(yōu)點(diǎn)。
如上所述，概括本發(fā)明的效果，根據(jù)本發(fā)明，通過(guò)校正產(chǎn)生的1T和2T信號(hào)具有可恢復(fù)以前已被認(rèn)為是差錯(cuò)的信號(hào)的優(yōu)點(diǎn)。因此，可將已在糾錯(cuò)電路中校正的信號(hào)校正成3T和11T之間的格式，因而具有可改善差錯(cuò)率和可播放性的優(yōu)點(diǎn)。
此外，可改善作為RF信號(hào)幅度電平下降和因盤(pán)表面上的細(xì)劃痕造成RF信號(hào)輸入不正確的結(jié)果，或作為因不對(duì)稱(chēng)中的偏移造成限制電平一直向上偏移到正或負(fù)側(cè)和信號(hào)未正確地轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制格式的結(jié)果產(chǎn)生的1T和2T信號(hào)。
因此，具有能夠改善諸如具有不對(duì)稱(chēng)偏移的盤(pán)和劃傷的盤(pán)之類(lèi)的低質(zhì)量盤(pán)的可播放性的優(yōu)點(diǎn)。
另外，通過(guò)提供用于切換校正順序的功能和用于選擇校正功能的裝置，具有在因盤(pán)的播放狀態(tài)造成1T和2T的外形狀態(tài)改變時(shí)可減少校正結(jié)果劣化的優(yōu)點(diǎn)。
雖然已參考為說(shuō)明目的而選出的具體實(shí)施例描述了本發(fā)明，很顯然，本領(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的基本概念和范圍的情況下可做出各種改進(jìn)。
權(quán)利要求
1.一種用于對(duì)具有連續(xù)長(zhǎng)度的代碼進(jìn)行解碼的解碼裝置，所述長(zhǎng)度是由兩種符號(hào)形成的代碼序列的相同的一種符號(hào)之間連續(xù)排列的另一種符號(hào)的長(zhǎng)度，其定義為預(yù)定定義長(zhǎng)度并且最小反轉(zhuǎn)間隔為3T，其中T是一個(gè)信道比特序列的比特間隔，該解碼裝置包括檢測(cè)裝置，用于從代碼序列檢測(cè)最小反轉(zhuǎn)間隔小于3T并且在正常情況下本來(lái)不存在的T的碼型；和校正裝置，用于將所述檢測(cè)裝置檢測(cè)的本來(lái)不存在的T的任何碼型校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解碼裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括1T的連續(xù)的T的碼型，和所述校正裝置去除1T部分以便將任何檢測(cè)的包括1T的連續(xù)的T的碼型校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解碼裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括1T的連續(xù)的T的碼型，和所述校正裝置校正任何檢測(cè)的包括1T到3T的連續(xù)的T的碼型的1T部分。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解碼裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括1T的連續(xù)碼型，和所述校正裝置將任何檢測(cè)的包括1T的連續(xù)碼型校正成3T或更大的任何格式的信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解碼裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括1T和2T的連續(xù)的T的碼型，和所述校正裝置將任何檢測(cè)的包括1T和2T的連續(xù)的T的碼型校正成3T或更大的任何格式的信號(hào)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解碼裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括2T的連續(xù)的T的碼型，和所述校正裝置去除2T部分以便將任何檢測(cè)的包括2T的連續(xù)的T的碼型校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解碼裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括2T的連續(xù)的T的碼型，和所述校正裝置校正任何檢測(cè)的包括2T到3T的連續(xù)的T的碼型的2T部分。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解碼裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括2T的連續(xù)碼型，和所述校正裝置將任何檢測(cè)的包括2T的連續(xù)碼型校正成3T的任何格式的信號(hào)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解碼裝置，其中所述校正裝置比較任何檢測(cè)的2T部分的2T部分前面和后面的T的長(zhǎng)度并將2T校正到較長(zhǎng)的一側(cè)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解碼裝置，其中所述校正裝置比較2T的二進(jìn)制信號(hào)邊緣的相位差錯(cuò)，根據(jù)比較結(jié)果確定在2T部分前面或后面的哪個(gè)方向校正該部分，在確定的方向?qū)?T校正到3T。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解碼裝置，其中所述校正裝置強(qiáng)制任何檢測(cè)的2T部分在其前面和后面延長(zhǎng)1T，以便將其校正成3T。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的解碼裝置，其中所述校正裝置強(qiáng)制每個(gè)檢測(cè)的2T在其前面和后面的方向交替延長(zhǎng)1T。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解碼裝置，其中所述校正裝置強(qiáng)制任何檢測(cè)的1T在其前面和后面延長(zhǎng)1T，以便將其校正到3T。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的解碼裝置，其中所述校正裝置包括第一校正電路，用于去除任何檢測(cè)的1T，以便將1T部分校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)；第二校正電路，用于把從所述第一校正電路的輸出信號(hào)檢測(cè)的任何2T部分校正成3T；第三校正電路，用于比較任何檢測(cè)的2T的二進(jìn)制信號(hào)邊緣的相位差錯(cuò)，根據(jù)比較結(jié)果確定在2T部分前面或后面的哪個(gè)方向?qū)⑵湫Ｕ驮谒_定的方向?qū)?T校正成3T；和第四校正電路，用于把從所述第三校正電路的輸出信號(hào)檢測(cè)的任何1T部分校正成3T。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的解碼裝置，包括能在所述第二校正電路的輸出端和校正裝置的輸出端之間切換所述第三校正電路和所述第四校正電路的信號(hào)線(xiàn)的連接位置的裝置。
16.一種用于再現(xiàn)具有連續(xù)長(zhǎng)度的代碼數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，所述長(zhǎng)度是由兩種符號(hào)形成的代碼序列的相同的一種符號(hào)之間連續(xù)排列的另一種符號(hào)的長(zhǎng)度，定義為預(yù)定定義長(zhǎng)度并且最小反轉(zhuǎn)間隔為3T，其中T是預(yù)定存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)的一個(gè)信道比特序列(存儲(chǔ)波形序列)的比特間隔，該數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置包括用于從所述存儲(chǔ)介質(zhì)再現(xiàn)RF信號(hào)的裝置；檢測(cè)裝置，用于從再現(xiàn)的RF信號(hào)檢測(cè)最小反轉(zhuǎn)間隔小于3T并且在正常情況下本來(lái)不存在的T的碼型；校正裝置，用于將所述檢測(cè)裝置檢測(cè)的本來(lái)不存在的T的任何碼型校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)；和糾錯(cuò)電路，用于校正由所述校正裝置校正的信號(hào)中的差錯(cuò)。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括1T的連續(xù)的T的碼型，和所述校正裝置去除任何檢測(cè)的包括1T的連續(xù)的T的碼型的1T部分以便將其校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
18.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)重放裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括1T的連續(xù)的T的碼型，和所述校正裝置校正任何檢測(cè)的包括1T到3T的連續(xù)的T的碼型的1T部分。
19.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括1T的連續(xù)碼型，和所述校正裝置將任何檢測(cè)的包括1T的連續(xù)碼型校正成3T或更大的任何格式的信號(hào)。
20.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括1T和2T的連續(xù)的T的碼型，和所述校正裝置將任何檢測(cè)的包括1T和2T的連續(xù)的T的碼型校正成3T或更大的任何格式的信號(hào)。
21.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括2T的連續(xù)的T的碼型，和所述校正裝置去除任何檢測(cè)的包括2T的連續(xù)的T的碼型的2T部分以便將其校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
22.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括2T的連續(xù)的T的碼型，和所述校正裝置校正任何檢測(cè)的包括2T到3T的連續(xù)的T的碼型的2T部分。
23.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，其中所述檢測(cè)裝置檢測(cè)包括2T的連續(xù)碼型，和所述校正裝置將任何檢測(cè)的包括2T的連續(xù)碼型校正成3T或更大的任何格式的信號(hào)。
24.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，其中所述校正裝置比較任何檢測(cè)的2T部分的2T部分前面和后面的T的長(zhǎng)度并將2T校正到較長(zhǎng)一側(cè)。
25.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，其中所述校正裝置比較2T的二進(jìn)制信號(hào)邊緣的相位差錯(cuò)，根據(jù)比較結(jié)果確定在2T部分前面或后面的哪個(gè)方向校正該部分，并在確定的方向?qū)?T校正到3T。
26.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，其中所述校正裝置強(qiáng)制任何檢測(cè)的2T部分在其前面和后面延長(zhǎng)1T，以便將其校正成3T。
27.根據(jù)權(quán)利要求26所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，其中所述校正裝置強(qiáng)制每個(gè)檢測(cè)的2T在其前面和后面的方向交替延長(zhǎng)1T。
28.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，其中所述校正裝置強(qiáng)制任何檢測(cè)的1T在其前面和后面延長(zhǎng)1T，以便將其校正到3T。
29.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，其中所述校正裝置包括第一校正電路，用于去除任何檢測(cè)的1T，以便將1T部分校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)；第二校正電路，用于把從所述第一校正電路的輸出信號(hào)檢測(cè)的任何2T部分校正成3T；第三校正電路，用于比較任何檢測(cè)的2T的二進(jìn)制信號(hào)邊緣的相位差錯(cuò)，根據(jù)比較結(jié)果確定在2T部分前面或后面的哪個(gè)方向?qū)⑵湫Ｕ?，和在所確定的方向?qū)?T校正成3T；和第四校正電路，用于把從所述第三校正電路的輸出信號(hào)檢測(cè)的任何1T部分校正成3T。
30.根據(jù)權(quán)利要求29所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置，包括能在所述第二校正電路的輸出端和校正裝置的輸出端之間切換所輸?shù)谌Ｕ娐泛退龅谒男Ｕ娐返男盘?hào)線(xiàn)的連接位置的裝置。
31.一種用于對(duì)具有連續(xù)長(zhǎng)度的代碼解碼的解碼方法，所述長(zhǎng)度是由兩種符號(hào)形成的代碼序列的相同的一種符號(hào)之間連續(xù)排列的另一種符號(hào)的長(zhǎng)度，其定義為預(yù)定定義長(zhǎng)度并且最小反轉(zhuǎn)間隔為3T，其中T是一個(gè)信道比特序列的比特間隔，該方法包括從代碼序列檢測(cè)最小反轉(zhuǎn)間隔小于3T并且在正常情況下本來(lái)不存在的T的碼型；和將任何檢測(cè)的本來(lái)不存在的T的碼型校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
32.根據(jù)權(quán)利要求31所述的解碼方法，進(jìn)一步包括去除任何檢測(cè)的包括1T的連續(xù)的T的碼型的1T部分以便將其校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
33.根據(jù)權(quán)利要求31所述的解碼方法，進(jìn)一步包括校正任何檢測(cè)的包括1T到3T的連續(xù)的T的碼型的1T部分。
34.根據(jù)權(quán)利要求31所述的解碼方法，進(jìn)一步包括將任何檢測(cè)的包括1T的連續(xù)碼型校正成3T或更大的任何格式的信號(hào)。
35.根據(jù)權(quán)利要求31所述的解碼方法，進(jìn)一步包括將任何檢測(cè)的包括1T和2T的連續(xù)的T的碼型校正成3T或更大的任何格式的信號(hào)。
36.根據(jù)權(quán)利要求31所述的解碼方法，進(jìn)一步包括去除任何檢測(cè)的包括2T的連續(xù)的T的碼型的2T部分以便將其校正成3T或更大的正常格式的信號(hào)。
37.根據(jù)權(quán)利要求31所述的解碼方法，進(jìn)一步包括校正任何檢測(cè)的包括2T到3T的連續(xù)的T的碼型2T部分。
38.根據(jù)權(quán)利要求31所述的解碼方法，進(jìn)一步包括將任何檢測(cè)的包括2T的連續(xù)碼型校正成3T或更大的任何格式的信號(hào)。
39.根據(jù)權(quán)利要求31所述的解碼方法，進(jìn)一步包括比較任何檢測(cè)的2T部分的2T部分前面和后面的T的長(zhǎng)度并將2T校正到更長(zhǎng)一側(cè)。
40.根據(jù)權(quán)利要求31所述的解碼方法，進(jìn)一步包括比較2T的二進(jìn)制信號(hào)邊緣的相位差錯(cuò)，根據(jù)比較結(jié)果確定在2T部分前面或后面的哪個(gè)方向校正該部分，并在確定的方向校正2T到3T。
41.根據(jù)權(quán)利要求31所述的解碼方法，進(jìn)一步包括強(qiáng)制任何檢測(cè)的2T部分在其前面和后面延長(zhǎng)1T，以便將其校正成3T。
42.根據(jù)權(quán)利要求41所述的解碼方法，進(jìn)一步包括強(qiáng)制每個(gè)檢測(cè)的2T在其前面和后面的方向交替延長(zhǎng)1T。
43.根據(jù)權(quán)利要求31所述的解碼方法，進(jìn)一步包括強(qiáng)制任何檢測(cè)的1T在其前面和后面延長(zhǎng)1T，以便將其校正到3T。
全文摘要
能對(duì)作為EFM信號(hào)本來(lái)不能存在的1T和2T進(jìn)行校正,減少糾錯(cuò)電路的處理,并改善可播放性的解碼裝置和數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置。提供包括校正部分和解調(diào)電路的EFM塊,校正部分檢測(cè)由PLL不對(duì)稱(chēng)校正電路轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制格式的RF信號(hào)的邊緣以便NRZ轉(zhuǎn)換,使用數(shù)字PLL電路中產(chǎn)生的時(shí)鐘以便同步,檢測(cè)在同步時(shí)產(chǎn)生的1T和2T,根據(jù)預(yù)定條件把所檢測(cè)的1T和2T信號(hào)校正成0或3T,從RF信號(hào)去除1T和2T,和調(diào)制已由EFM從其去除1T和2T的RF信號(hào);解調(diào)電路用于通過(guò)EFM對(duì)EFM調(diào)制后的信號(hào)解調(diào)。
文檔編號(hào)H03M5/14GK1264123SQ0010417
公開(kāi)日2000年8月23日 申請(qǐng)日期2000年1月19日 優(yōu)先權(quán)日1999年1月19日
發(fā)明者三町宣雅, 橋本稔, 木村宏正 申請(qǐng)人:索尼公司