專利名稱：最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法及其裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于一種鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法及其裝置，特別是指一種可有效校準(zhǔn)鎖相回路內(nèi)部電路的特性偏差，而使鎖相回路具有最大抖動容許偏差的校準(zhǔn)方法及其裝置。
背景技術(shù)：
如圖1所示，是一典型鎖相回路系統(tǒng)1，其包括依序串連成一回路的一相位檢測器11、一電荷汲取器12、一回路濾波器13、一壓控振蕩器(VCO)14及一分頻器15。該鎖相回路系統(tǒng)1的工作方式是相位檢測器11檢測一輸入信號IN與一由壓控振蕩器14產(chǎn)生并經(jīng)分頻器15適當(dāng)分頻的時(shí)鐘信號CLK的間的相位差，并根據(jù)兩者的相位差產(chǎn)生一上升脈沖UP及一下降脈沖DN至電荷汲取器12中進(jìn)行運(yùn)算后，輸出一電流Icp，電流Icp再經(jīng)由回路濾波器13積分(取平均值)轉(zhuǎn)換成一控制電壓Vct控制壓控振蕩器14對應(yīng)輸出一壓控信號，使該壓控信號經(jīng)分頻器15分頻后產(chǎn)生的時(shí)鐘信號CLK的頻率能趨近于輸入信號IN的頻率而鎖定該輸入信號IN。因此，當(dāng)時(shí)鐘信號CLK的相位超前輸入信號IN時(shí)(即時(shí)鐘信號CLK的頻率大于輸入信號IN)，該相位檢測器11即產(chǎn)生一寬度較窄的上升脈沖UP或?qū)挾容^寬的下降脈沖DN給電荷汲取器12，使產(chǎn)生的電流Icp的凈電流(平均值)為正，并經(jīng)回路濾波器12積分相對產(chǎn)生一下降的電壓Vct，而控制壓控振蕩器14將時(shí)鐘信號CLK的頻率降低。而當(dāng)時(shí)鐘信號CLK的相位落后輸入信號IN時(shí)(即時(shí)鐘信號CLK的頻率小于輸入信號IN)，則該相位檢測器11會產(chǎn)生一寬度較寬的上升脈沖UP或?qū)挾容^窄的下降脈沖DN控制該電荷汲取器12，使產(chǎn)生的凈電流為負(fù)值，而令回路濾波器13輸出上升的電壓Vct，以驅(qū)使壓控振蕩器14將時(shí)鐘信號CLK的頻率拉高，藉此，當(dāng)凈電流趨近于零時(shí)，時(shí)鐘信號CLK的頻率會逐漸接近輸入信號IN，并于凈電流等于零時(shí)，輸出電壓Vct成為一定值，并使時(shí)鐘信號CLK的頻率與相位和輸入信號IN達(dá)到一致而鎖定。
然而，由于一般鎖相回路系統(tǒng)1中，相位檢測器11及電荷汲取器12的轉(zhuǎn)換曲線通常是不理想的，以致于相位鎖定點(diǎn)在轉(zhuǎn)換曲線上偏移，導(dǎo)致抖動容許偏差降低，并產(chǎn)生如圖2所示的情況，其相位鎖定點(diǎn)為圖示的A點(diǎn)，亦即相位差為零的點(diǎn)，而A點(diǎn)的正相位抖動容忍誤差雖大于1T，但其負(fù)相位抖動容忍誤差最大僅為-0.625T，但是，在理想的情況下，相位鎖定點(diǎn)應(yīng)該是在圖示中的B點(diǎn)，其正負(fù)相位抖動容忍誤差將分別為1T及-1T。因此，相位檢測器11及電荷汲取器12的轉(zhuǎn)換曲線若是不理想，將造成最大抖動容許偏差的降低，導(dǎo)致鎖相回路鎖相能力變差。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的，即在提供一種鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法及其裝置，其可有效校準(zhǔn)鎖相回路系統(tǒng)內(nèi)部電路的特性偏差，使鎖相回路系統(tǒng)具有最大抖動容許偏差范圍。
于是，本發(fā)明鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法，其中該鎖相回路包括依序串連成一回路的一相位檢測器、一電荷汲取器、一回路濾波器及一壓控振蕩器。該方法包括(a)令該回路濾波器與電荷汲取器及壓控振蕩器呈暫時(shí)開路狀態(tài)。(b)提供一第一校正信號及一第二校正信號至該相位檢測器進(jìn)行相位檢測，使根據(jù)兩者的相位差產(chǎn)生一上升脈沖及一下降脈沖至該電荷汲取器，使該電荷汲取器據(jù)，以產(chǎn)生一凈電流。(c)根據(jù)該凈電流調(diào)整該上升脈沖及下降脈沖的脈沖寬度，直到該電荷汲取器輸出的凈電流達(dá)到一目標(biāo)值。藉此，有效校準(zhǔn)該鎖相回路的相位檢測器及電荷汲取器的特性偏差，使具有最大的抖動容許偏差范圍。
因此，本發(fā)明實(shí)施上述方法的鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)裝置，其中該鎖相回路包括依序串連成一回路的一相位檢測器、一電荷汲取器、一回路濾波器及一壓控振蕩器，且于該裝置進(jìn)行校準(zhǔn)程序時(shí)，該回路濾波器系與該電荷汲取器及壓控振蕩器呈暫時(shí)開路狀態(tài)，且該裝置包括一信號產(chǎn)生單元及一校正單元。該信號產(chǎn)生單元，用以提供一第一校正信號及一第二校正信號至該相位檢測器，使對該二信號進(jìn)行相位檢測，并根據(jù)測得的相位差產(chǎn)生一上升脈沖及一下降脈沖至該電荷汲取器，令該電荷汲取器據(jù)以產(chǎn)生一凈電流。該校正單元根據(jù)上述凈電流調(diào)整該上升脈沖及下降脈沖的脈沖寬度，直到該電荷汲取器輸出的凈電流達(dá)到一目標(biāo)值。


本發(fā)明的其它特征及優(yōu)點(diǎn)，在以下配合參考圖式的優(yōu)選實(shí)施例的詳細(xì)說明中，將可清楚的明白，在圖式中圖1是一典型鎖相回路系統(tǒng)的電路方塊圖；圖2是典型鎖相回路系統(tǒng)中的相位檢測器的輸出脈沖寬度與相位差的轉(zhuǎn)換曲線；圖3是本發(fā)明鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法及其裝置的一優(yōu)選組件標(biāo)號對照2鎖相回路3鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)裝置21 相位檢測器 22 電荷汲取器23 回路濾波器 24 壓控振蕩器25 分頻器 31 信號產(chǎn)生單元32 校正單元 33 脈沖產(chǎn)生電路34 積分器 35 模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器36 決策電路 37 上升脈沖擴(kuò)展器38 下降脈沖擴(kuò)展器 210 第一多路轉(zhuǎn)換器240 第二多路轉(zhuǎn)換器 341 運(yùn)算放大器ICP電流 VR 電壓源Verr校正電壓 C1 電容器Vct控制電壓 CAL1 第一校正信號CAL2 第二校正信號 IN 輸入信號CLK 時(shí)鐘信號
具體實(shí)施例方式
參閱圖3所示，是本發(fā)明鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法及其裝置的一優(yōu)選實(shí)施例的電路方塊圖，其中鎖相回路2包括依序串連成一回路的一相位檢測器21、一電荷汲取器22、一回路濾波器23、一壓控振蕩器(VCO)24及一分頻器25，且該鎖相回路2的工作方式已于前述公知技術(shù)中說明，于此不再重述。
而本發(fā)明鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)裝置3包括一信號產(chǎn)生單元31及一校正單元32，且本發(fā)明鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法包括下列步驟首先，信號產(chǎn)生單元31提供頻率不相同的一第一校正信號CAL1及一第二校正信號CAL2給該相位檢測器21。信號產(chǎn)生單元31在本實(shí)施例中包括一用以產(chǎn)生該第一校正信號CAL1的脈沖產(chǎn)生器33，并提供一電壓源VR給壓控振蕩器24使產(chǎn)生該第二校正信號CAL2，且由于一般相位檢測器21是根據(jù)輸入信號IN的中心頻率去設(shè)計(jì)上升脈沖UP與下降脈沖DN的初始寬度，因此為能量測到最大且最佳的相位差變化，第一校正信號CAL1通常是取輸入信號IN的平均頻率，例如，輸入信號IN的頻率變動范圍是從1MHz-10MHz時(shí)，則第一校正信號CAL1的頻率則取5.5MHz，而第二校正信號CAL2則是根據(jù)系統(tǒng)對于取樣時(shí)鐘信號的需求而定，例如，系統(tǒng)將取樣時(shí)鐘信號的工作頻率定為100MHz，則第二校正信號就取100MHz為其校正頻率。此外，為了控制鎖相回路2是在校正模式或正常工作模式下操作，在相位檢測器21的輸入信號端INX設(shè)有一第一多路轉(zhuǎn)換器210，且令該第一多路轉(zhuǎn)換器210的輸入端分別連接至一輸入信號IN及該脈沖產(chǎn)生器33的第一校正信號CAL1輸出端，另外在壓控振蕩器24的輸入端設(shè)有一第二多路轉(zhuǎn)換器240，該第二多路轉(zhuǎn)換器240的輸入端分別連接回路濾波器23的控制電壓Vct輸出端及電壓源VR。因此，當(dāng)進(jìn)行校正模式時(shí)，第一多路轉(zhuǎn)換器210被控制并選擇連接脈沖產(chǎn)生器33與相位檢測器21，第二多路轉(zhuǎn)換器240選擇連接定電壓源VR與壓控振蕩器24，而使回路濾波器23與電荷汲取器22及壓控振蕩器24呈暫時(shí)開路狀態(tài)。此時(shí)，第一校正信號CAL1及第二校正信號CAL2被送進(jìn)相位檢測器21中進(jìn)行相位檢測，使相位檢測器21根據(jù)兩者的相位差輸出一上升脈沖UP及一下降脈沖DN，該上升脈沖UP與下降脈沖DN被送入電荷汲取器22中經(jīng)過相減后產(chǎn)生一電流Icp。該電流Icp代表第二校正信號CAL2與第一校正信號CAL1間的相位差，且由于第二校正信號CLK2與第一校正信號CAL1的間的相位差隨著時(shí)間不斷地在改變，使得電流Icp的大小及極性亦隨的不斷變化，且在鎖相回路2為理想的情況下，這些變化的電流Icp的平均值(即凈電流值)應(yīng)該為零(或趨近于零)，但是，由于鎖相回路2的相位檢測器21與電荷汲取器22的轉(zhuǎn)換曲線的非理想特性，造成相位檢測器21輸出的上升脈沖UP及下降脈沖DN具有一偏差量，以及電荷汲取器22產(chǎn)生的電流Icp具有一偏差值，以致凈電流(平均值)不為零，因而產(chǎn)生上述相位鎖定點(diǎn)偏移的情況。所以，若能使凈電流為零，即可校正相位鎖定點(diǎn)，因此，凈電流被送入校正電路32中，針對上述的非理相情況進(jìn)行校正。
如圖3所示，校正電路32包括一與該電荷汲取器22連接的積分器34、一與該積分器34連接的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器35、一與該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器35連接的決策電路36、以及一上升脈沖擴(kuò)展器37及一下降脈沖擴(kuò)展器38，其受該決策電路36控制并連接在該相位檢測器21與電荷汲取器22的間，用以分別調(diào)整該上升脈沖UP與下降脈沖DN的脈沖寬度。當(dāng)電荷汲取器22輸出的電流ICP被送入積分器34時(shí)，如圖4所示，該積分器34是由一運(yùn)算放大器341及一連接在運(yùn)算放大器341的負(fù)端及輸出端的電容C1所組成，因此由運(yùn)算放大器341負(fù)端流入的正或負(fù)的電流ICP會開始對電容C1進(jìn)行充放電，而得到一凈電流值(即電流ICP的平均值)，并于該運(yùn)算放大器341的輸出端產(chǎn)生一相對的校正電壓Verr(假設(shè)校正電壓Verr的初始值為零)。然后校正電壓Verr被送入該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器35進(jìn)行數(shù)字化后送至該決策電路36中，該決策電路36即根據(jù)該數(shù)字化的校正電壓Verr的大小及正、負(fù)極性選擇調(diào)整上升脈沖UP或下降脈沖DN的脈沖寬度。例如，當(dāng)電荷汲取器22輸出至積分器34的凈電流為正值時(shí)，積分器34會相對產(chǎn)生一負(fù)的校正電壓Verr，并令決策電路36控制下降脈沖擴(kuò)展器38，使將該下降脈沖DN的寬度擴(kuò)展，以驅(qū)使電荷汲取器22產(chǎn)生負(fù)的電流ICP，而當(dāng)電荷汲取器22輸出的電流ICP的平均值(凈電流)為負(fù)值時(shí)，積分器34則相對產(chǎn)生一正的校正電壓Verr，決策電路36即根據(jù)該正的校正電壓Verr控制該上升脈沖擴(kuò)展器37將該上升脈沖UP的寬度擴(kuò)展一定幅度，而驅(qū)使電荷汲取器22產(chǎn)生一正的凈電流，借著重復(fù)上述回授控制的過程，電荷汲取器22輸出的凈電流值會逐漸變小并使校正電壓Verr趨于零，同時(shí)上升脈沖UP及下降脈沖DN的寬度亦經(jīng)由上升脈沖擴(kuò)展器37及下降脈沖擴(kuò)展器38的適當(dāng)擴(kuò)展，而補(bǔ)償了相位檢測器21及電荷汲取器22的特性曲線所造成輸出脈沖寬度及電流ICP的偏差，并于凈電流達(dá)到一目標(biāo)值(在此該目標(biāo)值是指最小的凈電流值)時(shí)，達(dá)到最佳的校準(zhǔn)狀態(tài)，此時(shí)，校正電壓Verr幾乎為零，并使上升脈沖擴(kuò)展器37及下降脈沖擴(kuò)展器38保持最終擴(kuò)展幅度(即校正幅度)，因此，藉由此一擴(kuò)展幅度，如圖5所示，將使得上升脈沖UP曲線的平均值位置與下降脈沖DN曲線的平均值位置相同，而由于在本實(shí)施例中，下降脈沖DN的寬度為固定，僅調(diào)整上升脈沖UP的寬度，所以上升脈沖UP曲線的平均值位置將等于下降脈沖DN曲線的位置，因此校正后的相位鎖定點(diǎn)為圖示的B點(diǎn)，其正負(fù)相位抖動容許誤差分別為1T及-1T，因此，其最大抖動容許偏差因而提升。
因此，于上述校準(zhǔn)程序完成后，當(dāng)鎖相回路2切換至正常模式下工作時(shí)，如圖6所示，第一多路轉(zhuǎn)換器210使輸入信號IN與相位檢測器21連接，第二多路轉(zhuǎn)換器240使回路濾波器23與壓控振蕩器24連接，壓控振蕩器24即根據(jù)電荷汲取器22經(jīng)由回路濾波器23產(chǎn)生的控制電壓Vct對應(yīng)輸出一時(shí)鐘信號CLK與輸入信號IN同時(shí)送入該相位檢測器21中進(jìn)行相位檢測，相位檢測器21根據(jù)兩者的相位差對應(yīng)輸出的上升脈沖UP及下降脈沖DN會分別經(jīng)由該上升脈沖擴(kuò)展器37及下降脈沖擴(kuò)展器38根據(jù)其最終擴(kuò)展幅度適當(dāng)擴(kuò)展后，再送入該電荷汲取器22中，因而消除相位檢測器21的特性曲線所造成的上升脈沖UP與下降脈沖DN的偏差，以及電荷汲取器22的非理想所造成凈電流ICP的偏差，使當(dāng)時(shí)鐘信號CLK與輸入信號IN的間突然產(chǎn)生很大的正相位差(1T，0-180度)或負(fù)相位差(-1T，0--180度)時(shí)，鎖相回路2仍然能追蹤到并對應(yīng)產(chǎn)生一負(fù)的凈電流或正的凈電流給回路濾波器23產(chǎn)生相對的控制電壓Vct控制壓控振蕩器24將時(shí)鐘信號CLK與輸入信號IN間的相位差逐漸縮小而鎖定，因而提升鎖相回路2的相位鎖定的能力，并使鎖相回路2能夠追蹤鎖定的相位偏差范圍達(dá)到最大。
綜上所述，本發(fā)明藉由使鎖相回路2在一校正模式下，提供具有特定頻率的第一校正信號CAL1及第二校正信號CAL2輸入相位檢測器21中，使根據(jù)兩者的相位差產(chǎn)生上升脈沖UP及下降脈沖DN輸入電荷汲取器22中，而對應(yīng)產(chǎn)生電流ICP，并由電流ICP中獲得因?yàn)橄辔粰z測器21與電荷汲取器22的非理想特性而產(chǎn)生的不為零的凈電流值，并藉由將該凈電流值輸入校正電路32的積分器34及模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器35中，進(jìn)行積分及數(shù)字化產(chǎn)生一校正電壓Verr，而由決策電路36根據(jù)該校正電壓Verr的極性選擇控制上升脈沖擴(kuò)展器37及下降脈沖擴(kuò)展器38對該上升脈沖UP及下降脈沖DN的脈沖寬度進(jìn)行適當(dāng)幅度的擴(kuò)展，趨使電荷汲取器22輸出的凈電流達(dá)到最小，進(jìn)而校正及補(bǔ)償相位檢測器21及電荷汲取器22的非理想特性，并修正其相位鎖定點(diǎn)，藉此，使鎖相回路2在正常模式下工作時(shí)，具有最大的相位抖動容許偏差范圍，進(jìn)而提升鎖相回路2的鎖相能力。
以上所述，僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，當(dāng)不能以此限定本發(fā)明實(shí)施的范圍，即依本發(fā)明權(quán)利要求范圍及發(fā)明說明書內(nèi)容所作的簡單的等效變化與改進(jìn)，皆應(yīng)仍屬本發(fā)明涵蓋的范圍。
權(quán)利要求
1.一種鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法，其中該鎖相回路包括依序串連成一回路的一相位檢測器、一電荷汲取器、一回路濾波器及一壓控振蕩器，該方法包括(a)令該回路濾波器與電荷汲取器及壓控振蕩器呈暫時(shí)開路狀態(tài)；(b)提供一第一校正信號及一第二校正信號至該相位檢測器，以進(jìn)行相位檢測，并根據(jù)兩者的相位差產(chǎn)生一上升脈沖及一下降脈沖，以控制該電荷汲取器產(chǎn)生一凈電流；(c)根據(jù)該凈電流調(diào)整該上升脈沖與該下降脈沖的脈沖寬度，直到該電荷汲取器輸出的該凈電流達(dá)到一目標(biāo)值。
2.如權(quán)利要求1所述的鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法，在步驟(b)中，更對該凈電流進(jìn)行積分，以獲得一校正電壓，且在步驟(c)中，根據(jù)該校正電壓調(diào)整該上升脈沖及下降脈沖的脈沖擴(kuò)展幅度，藉以改變該電荷汲取器輸出的該凈電流的大小及極性，并于該凈電流達(dá)到該目標(biāo)值時(shí)，保持該上升脈沖及該下降脈沖的最終擴(kuò)展幅度。
3.如權(quán)利要求2所述的鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法，在步驟(c)中，該目標(biāo)值是指最小的該凈電流。
4.如權(quán)利要求2所述的鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法，在步驟(c)中，該目標(biāo)值是指最小的該凈電流加上一偏移量。
5.如權(quán)利要求1所述的鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法，其中該第一校正信號的頻率是輸入該鎖相回路的一輸入信號的平均頻率。
6.如權(quán)利要求1所述的鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法，其中該第二校正信號的頻率是該鎖相回路的時(shí)鐘信號的工作頻率。
7.一種鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)裝置，其中該鎖相回路包括依序串連成一回路的一相位檢測器、一電荷汲取器、一回路濾波器及一壓控振蕩器，且于該裝置進(jìn)行校準(zhǔn)程序時(shí)，該回路濾波器系與該電荷汲取器及壓控振蕩器呈暫時(shí)開路狀態(tài)；該裝置包括一信號產(chǎn)生單元，用以提供一第一校正信號及一第二校正信號至該相位檢測器，以進(jìn)行相位檢測，并根據(jù)兩者的相位差產(chǎn)生一上升脈沖及一下降脈沖，以控制該電荷汲取器產(chǎn)生一凈電流；及一校正單元，其根據(jù)上述凈電流調(diào)整該上升脈沖及該下降脈沖的脈沖寬度，直到該電荷汲取器輸出的該凈電流達(dá)到一目標(biāo)值。
8.如權(quán)利要求7所述的鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)裝置，其中該信號產(chǎn)生單元包括一用以產(chǎn)生該第一校正信號的脈沖產(chǎn)生器，以及一用以使該鎖相回路的該壓控振蕩器產(chǎn)生該第二校正信號的電壓源。
9.如權(quán)利要求7所述的鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)裝置，其中該校正單元包括一積分器、一模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器、一決策電路、一上升脈沖擴(kuò)展器及一下降脈沖擴(kuò)展器，該積分器系用以對該電荷汲取器輸出的該凈電流進(jìn)行積分，以獲得一校正電壓，該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器系將該校正電壓數(shù)字化后輸出至該決策電路，該決策電路系根據(jù)該數(shù)字化的校正電壓的大小及正、負(fù)極性選擇控制該上升脈沖擴(kuò)展器或該下降脈沖擴(kuò)展器，以選擇性調(diào)整該上升脈沖及下降脈沖的脈沖擴(kuò)展幅度，該上升脈沖擴(kuò)展器系連接在該相位檢測器與該電荷汲取器的間，以對該上升脈沖進(jìn)行脈沖寬度調(diào)整，且該下降脈沖擴(kuò)展器系連接在該相位檢測器與該電荷汲取器的間，以對該下降脈沖進(jìn)行脈沖寬度調(diào)整。
10.如權(quán)利要求9所述的鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)裝置，其中當(dāng)該電荷汲取器根據(jù)該上升脈沖及該下降脈沖的脈沖擴(kuò)展幅度來改變輸出的該凈電流的大小及極性而使該凈電流達(dá)到該目標(biāo)值時(shí)，該上升脈沖擴(kuò)展器及下降脈沖擴(kuò)展器即分別保持該上升脈沖及下降脈沖的最終擴(kuò)展幅度。
11.如權(quán)利要求7或9所述的鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)裝置，其中該目標(biāo)值是指最小的該凈電流。
12.如權(quán)利要求7或9所述的鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)裝置，其中該目標(biāo)值是指最小的該凈電流加上一偏移量。
13.如權(quán)利要求7所述的鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)裝置，其中該第一校正信號的頻率是輸入該鎖相回路的一輸入信號的平均頻率。
14.如權(quán)利要求7所述的鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)裝置，其中該第二校正信號的頻率是該鎖相回路的時(shí)鐘信號的工作頻率。
全文摘要
本發(fā)明提供一種鎖相回路的最大抖動容許偏差校準(zhǔn)方法及其裝置，該鎖相回路包括串連的一相位檢測器及一電荷汲取器，該方法為提供一第一校正信號及一第二校正信號至該相位檢測器中進(jìn)行相位檢測，以根據(jù)兩者的相位差產(chǎn)生一上升脈沖及一下降脈沖控制該電荷汲取器產(chǎn)生一凈電流，并利用一校正單元根據(jù)該凈電流，選擇性調(diào)整該上升或下降脈沖的脈沖寬度，直到該凈電流達(dá)到一目標(biāo)值，藉此校準(zhǔn)該相位檢測器及電荷汲取器的特性曲線所造成的抖動偏差。
文檔編號H03L7/08GK1485987SQ0213235
公開日2004年3月31日 申請日期2002年9月24日 優(yōu)先權(quán)日2002年9月24日
發(fā)明者徐哲祥, 劉丁仁, 汪盈宗, 郭弘政, 陳志成 申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司