專利名稱:提高電阻電容振蕩器精度的方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種提高精度的方法,且特別涉及一種以編程器來提高電阻電容振蕩器精度的方法。
背景技術(shù):
隨著集成電路工藝的蓬勃發(fā)展,科技研發(fā)人員將越來越多的電路設(shè)計于集成電路內(nèi),以減少電子裝置的空間及成本。而在以往電子裝置中,并非所有的電子器件的操作頻率都相同,所以當科技研發(fā)人員將電路設(shè)計于集成電路中時,同樣的也必須在集成電路內(nèi)設(shè)計能供給集成電路所需的振蕩頻率的電阻電容振蕩器。而為了不浪費集成電路的資源,如何提高電阻電容振蕩器的精度,則成了目前需要改善的目標之一。
請參照圖2,其是公知的一種調(diào)整電阻電容振蕩器精度的方法的步驟流程圖。此方法為當微控制器在封裝以及測試完成,并完成微控制器編程后才開始以軟件進行電阻電容振蕩器的振蕩頻率的調(diào)整。此方法的步驟為開始(s202)時首先測量微控制器內(nèi)的任一個電阻電容振蕩器的振蕩頻率,然后再對其進行調(diào)整,使其振蕩頻率能達到希望的振蕩頻率,在調(diào)整完一個之后,再對下一個電阻電容振蕩器進行振蕩頻率的調(diào)整(s204)。最后,在調(diào)整完所有微控制器內(nèi)的電阻電容振蕩器的振蕩頻率后,才結(jié)束此微控制器內(nèi)電阻電容振蕩器的振蕩頻率調(diào)整程序(s206)。其中,由于電阻電容振蕩器的振蕩頻率漂移的不確定性,因此必須對微控制器內(nèi)所有電阻電容振蕩器一一進行調(diào)整。
請參照圖3,是公知的另一種調(diào)整電阻電容振蕩器精度的方法的步驟流程圖。此方法為當微控制器已封裝完畢,在以集成電路測試機臺對微控制器進行測試時,同時調(diào)整微控制器內(nèi)的電阻電容振蕩器的振蕩頻率。此方法的步驟為開始(s302)時先以集成電路測試機臺測試微控制器的各項功能與封裝,接著再調(diào)整電阻電容振蕩器的振蕩頻率(s304)。最后,結(jié)束整個微控制器的測試與電阻電容振蕩器的頻率調(diào)整(s306)。
綜合以上所述,公知的調(diào)整電阻電容振蕩器精度的方法,具有下列缺點(1)公知的電阻電容振蕩器,如不采取任何方法調(diào)整振蕩頻率,其振蕩頻率的精度只有15%左右。
(2)公知的整電阻電容振蕩器精度的方法,當采用軟件來調(diào)整振蕩頻率時,必須一一對微控制器內(nèi)的電阻電容振蕩器進行調(diào)整,不適合于工廠的大量量產(chǎn)。
(3)公知的調(diào)整電阻電容振蕩器精度的方法,當采用集成電路測試機臺來調(diào)整振蕩頻率時,會提高生產(chǎn)成本,而使得電阻電容振蕩器不符合成本低的優(yōu)勢。
發(fā)明內(nèi)容
因此本發(fā)明的目的在于提供一種提高電阻電容振蕩器精度的方法,其是利用編程器來測試微控制器內(nèi)電阻電容振蕩器的振蕩頻率,并對其進行調(diào)整。
本發(fā)明的目的在于提供另一種提高電阻電容振蕩器精度的方法,當微控制器以非揮發(fā)性內(nèi)存為編程程序的儲存單元時,在微控制器進行編程時,亦可同時調(diào)整電阻電容振蕩器的振蕩頻率。
本發(fā)明提出一種提高電阻電容振蕩器精度的方法,此方法是在微控制器已完成封裝與最終測試后,才進行電阻電容振蕩器的振蕩頻率的調(diào)整。
依照本發(fā)明的較佳實施例所述,上述的方法首先為以微控制器的編程器測試電阻電容振蕩器的振蕩頻率,接著判斷電阻電容振蕩器的振蕩頻率是否達到此電阻電容振蕩器的希望頻率。當判斷得知電阻電容振蕩器的振蕩頻率達到希望頻率時,即結(jié)束此電阻電容振蕩器的振蕩頻率的調(diào)整;反之,當判斷得知電阻電容振蕩器的振蕩頻率還未達到希望頻率時,即以編程器調(diào)整電阻電容振蕩器的振蕩頻率,使其達到希望頻率。最后,在調(diào)整完所有的電阻電容振蕩器后,結(jié)束此微控制器的電阻電容振蕩器的振蕩頻率的調(diào)整程序。
依照本發(fā)明的較佳實施例所述,上述的方法更包括當微控制器的編程程序為儲存于非揮發(fā)性內(nèi)存時,可將調(diào)整電阻電容振蕩器的振蕩頻率的步驟安排在微控制器的編程程序內(nèi)。
本發(fā)明因采用編程器來調(diào)整電阻電容振蕩器的振蕩頻率,因此不但可以節(jié)省為調(diào)整電阻電容振蕩器的振蕩頻率所增加的軟件或硬件成本,還可大大提高電阻電容振蕩器的振蕩頻率的精度。
為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂,下文特舉較佳實施例,并配合附圖,作詳細說明
圖1是本發(fā)明一較佳實施例的一種提高電阻電容振蕩器精度的方法的步驟流程圖。
圖2是公知的一種調(diào)整電阻電容振蕩器精度的方法的步驟流程圖。
圖3是公知的另一種調(diào)整電阻電容振蕩器精度的方法的步驟流程圖。
s102~s110各個步驟流程s202~s206各個步驟流程s302~s306各個步驟流程具體實施方式
請參照圖1,其是本發(fā)明一較佳實施例的一種提高電阻電容振蕩器精度的方法的步驟流程圖。其中,在此首先解說電阻電容振蕩器與微控制器的關(guān)系,此電阻電容振蕩器包括于微控制器內(nèi),且微控制器內(nèi)可能包括有多個電阻電容振蕩器。而此電阻電容振蕩器所產(chǎn)生的振蕩頻率一般為提供給集成電路作為時鐘所用。
請繼續(xù)參考圖1,在本實施例中,此提高電阻電容振蕩器精度的方法開始(s102)首先為當微控制器在完成封裝與最終測試后,以微控制器的編程器來測試微控制器內(nèi)電阻電容振蕩器的振蕩頻率(s104)。其中,如熟悉此技術(shù)的可輕易知曉,編程器可以為通用編程器或?qū)S镁幊唐?,但不以此為限?br>
接著,判斷電阻電容振蕩器的振蕩頻率是否達到電阻電容振蕩器的希望頻率(s106)。其中,希望頻率為電阻電容振蕩器要提供給微控制器的電路區(qū)塊的最佳振蕩頻率,亦即為電路區(qū)塊的操作頻率。
在實施例中,當判斷得知電阻電容振蕩器的振蕩頻率達到希望頻率時,即結(jié)束此電阻電容振蕩器的振蕩頻率的調(diào)整,跳至步驟s110;反之,當判斷得知電阻電容振蕩器的振蕩頻率還未達到希望頻率時,即以編程器調(diào)整電阻電容振蕩器的振蕩頻率,使其達到希望頻率(s108)。最后,在調(diào)整完所有的電阻電容振蕩器后,結(jié)束此微控制器的電阻電容振蕩器的振蕩頻率的調(diào)整(s110)。
在本實施例中,當微控制器的編程程序儲存在一非揮發(fā)性內(nèi)存時,則可將調(diào)整電阻電容振蕩器的振蕩頻率的步驟安排在微控制器的編程程序內(nèi)。
依照本發(fā)明的較佳實施例所述,電阻電容振蕩器的振蕩頻率的調(diào)整時間遠小于微控制器編程的時間。
依照本發(fā)明的較佳實施例所述,電阻電容振蕩器的振蕩頻率的精度可以達到2%以上。
綜合以上所述,本發(fā)明的提高電阻電容振蕩器精度的方法,具有下列優(yōu)點(1)本發(fā)明的提高電阻電容振蕩器精度的方法,可使得電阻電容振蕩器的振蕩頻率的精度可以達到2%以上。
(2)本發(fā)明的提高電阻電容振蕩器精度的方法,可將調(diào)整電阻電容振蕩器的振蕩頻率的步驟安排在微控制器編程程序中。
(3)本發(fā)明的提高電阻電容振蕩器精度的方法,可節(jié)省調(diào)整調(diào)整電阻電容振蕩器的振蕩頻率所需的時間以及所花費的成本。
雖然本發(fā)明已以較佳實施例公開如上,但其并非用以限定本發(fā)明,任何熟悉該項技術(shù)者,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),所作的些許更動與潤飾,均屬于本發(fā)明的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種提高電阻電容振蕩器精度的方法,其中該電阻電容振蕩器包括在一微控制器中,其特征在于該方法包括下列步驟以一編程器測試該電阻電容振蕩器的一振蕩頻率;判斷該振蕩頻率達到一希望頻率與否;當該振蕩頻率落在該希望頻率之外時,以該編程器調(diào)整該電阻電容振蕩器的該振蕩頻率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高電阻電容振蕩器精度的方法,其特征在于更包括當該微控制器的編程程序儲存于非揮發(fā)性內(nèi)存時,該微控制器的編程程序包括調(diào)整該電阻電容振蕩器至該振蕩頻率。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高電阻電容振蕩器精度的方法,其特征在于該微控制器已經(jīng)完成封裝與最終測試。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高電阻電容振蕩器精度的方法,其特征在于該編程器為通用編程器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高電阻電容振蕩器精度的方法,其特征在于該編程器為專用編程器。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種提高電阻電容振蕩器精度的方法,此方法是當微控制器在封裝與最終測試完畢后,利用微控制器的編程器來測試并調(diào)整電阻電容振蕩器所產(chǎn)生的振蕩頻率,不但提高了電阻電容振蕩器的振蕩頻率的精度,還可節(jié)省調(diào)整振蕩頻率所耗費的時間與成本。
文檔編號H03B5/00GK1567712SQ0314836
公開日2005年1月19日 申請日期2003年6月30日 優(yōu)先權(quán)日2003年6月30日
發(fā)明者程君健 申請人:中穎電子(上海)有限公司