專利名稱：表晶素子對(duì)稱側(cè)磨調(diào)頻方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種表晶生產(chǎn)過(guò)程中表晶素子的調(diào)頻方法。
背景技術(shù)：
目前，在表晶行業(yè)所使用的石英晶體都是呈音叉狀，見圖l，因 石英晶體在切割時(shí)不可避免的誤差，造成音叉兩端質(zhì)量不等，因此會(huì) 使表晶產(chǎn)生許多雜波，不易起振等故障。表晶的固有頻率取決于音叉 兩端的長(zhǎng)度等因素，傳統(tǒng)的調(diào)頻方法只是將頻率點(diǎn)調(diào)到中心頻率上
(如32768Hz)，卻忽視了音叉兩端質(zhì)量的對(duì)稱性。另外，傳統(tǒng)的方 法是直接讀取頻率值，這種調(diào)整方法的最小誤差為lHz，調(diào)頻誤差過(guò) 大，影響成品的品質(zhì)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于針對(duì)現(xiàn)有表晶素子調(diào)頻方法的缺陷，提供一種 能有效抑制雜波的產(chǎn)生，提高成品品質(zhì)的表晶素子對(duì)稱側(cè)磨調(diào)頻方法。
本發(fā)明的技術(shù)方案如下 一種表晶素子對(duì)稱側(cè)磨調(diào)頻方法，包括 如下步驟
(1) 將表晶素子插在調(diào)頻機(jī)臺(tái)的調(diào)頻棒中，記錄調(diào)頻棒的銅嘴 與表晶素子外殼接觸與不接觸的調(diào)頻機(jī)臺(tái)讀數(shù)差異；
(2) 先試磨表晶素子石英音叉的單邊，如果調(diào)頻機(jī)臺(tái)電流表指 針上升，讀數(shù)差異變小，則確定此邊為大邊；(3) 側(cè)磨大邊，使調(diào)頻機(jī)臺(tái)電流表指針上升到不能再上升為止， 此時(shí)調(diào)頻機(jī)臺(tái)讀數(shù)差異最小，將該讀數(shù)定為初始讀數(shù)；
(4) 計(jì)算初始讀數(shù)與所要達(dá)到的中心讀數(shù)的差值，任磨一邊， 使讀數(shù)達(dá)到此差值的1/2，再改磨另一邊，使讀數(shù)達(dá)到中心讀數(shù)即完
成調(diào)頻過(guò)程。
如上所述的表晶素子對(duì)稱側(cè)磨調(diào)頻方法，其中，調(diào)頻機(jī)臺(tái)讀數(shù)的 檢測(cè)值由下面公式確定，
基準(zhǔn)頻率 ^W皿-表晶頻率/分頻數(shù)°
本發(fā)明采用對(duì)稱側(cè)磨的方法分別側(cè)磨素子石英音叉的兩端，使其 兩端質(zhì)量一致，減小諧振時(shí)每周期內(nèi)損耗的機(jī)械能，使兩端平衡諧振， 從而有效抑制雜波的產(chǎn)生，提高了成品的品質(zhì)。


圖1為表晶素子的結(jié)構(gòu)示意圖。 圖2為調(diào)頻棒的結(jié)構(gòu)示意圖。 圖3為調(diào)頻機(jī)臺(tái)原理結(jié)構(gòu)框圖。
圖中，l.石英音叉2.基座3.引腳4.外蓋5.內(nèi)蓋6.銅嘴
具體實(shí)施例方式
根據(jù)表晶素子機(jī)械品質(zhì)因數(shù)的定義 諧振時(shí)晶體貯存的機(jī)械能
Q=2lT x諧振時(shí)每周期內(nèi)損耗的機(jī)械能
可知，由于兩端質(zhì)量不一致，造成諧振時(shí)每周期內(nèi)損耗的機(jī)械能 增大，使晶體起振則需要更多能量，即晶體阻抗增大。
本發(fā)明采用對(duì)稱側(cè)磨的方法分別側(cè)磨素子的A端和B端，使其 兩端質(zhì)量一致，減小諧振時(shí)每周期內(nèi)損耗的機(jī)械能，使兩端平衡諧振。 具體步驟如下
(1) 將表晶素子插在調(diào)頻機(jī)臺(tái)的調(diào)頻棒中，記錄調(diào)頻棒的銅嘴 與表晶素子外殼接觸與不接觸的調(diào)頻基臺(tái)讀數(shù)差異；
(2) 先試磨表晶素子石英音叉的單邊，如果調(diào)頻機(jī)臺(tái)電流表指 針上升，讀數(shù)差異變小，則確定此邊為大邊；
(3) 側(cè)磨大邊，使調(diào)頻機(jī)臺(tái)電流表指針上升到不能再上升為止， 此時(shí)調(diào)頻機(jī)臺(tái)讀數(shù)差異最小，將該讀數(shù)定為初始讀數(shù)；
(4) 計(jì)算初始讀數(shù)與所要達(dá)到的中心讀數(shù)的差值，任磨一邊， 使讀數(shù)達(dá)到此差值的1/2，再改磨另一邊，使讀數(shù)達(dá)到中心讀數(shù)即完 成調(diào)頻過(guò)程。
在對(duì)頻率進(jìn)行放大運(yùn)算時(shí)，為使調(diào)頻機(jī)臺(tái)輸出的頻率讀數(shù)(不同 于頻率)放大若千倍，以方便調(diào)頻時(shí)精確度的控制，本發(fā)明調(diào)頻機(jī)臺(tái) 讀數(shù)的檢測(cè)值由下面公式確定
例如，現(xiàn)有一只已知頻率為32767.4200Hz的表晶，用傳統(tǒng)方法 (計(jì)數(shù)器只能取得整數(shù)部分的讀數(shù))得到的檢測(cè)數(shù)是32767Hz，有 0.42Hz誤差；如果采用10MHz的基準(zhǔn)頻率，分頻數(shù)為212，則用分頻
整數(shù)部分的讀數(shù))，將測(cè)量出的間接讀數(shù)1250022通過(guò)以上公式，還 原為頻率值為32767.4233 Hz，誤差為0.0033Hz，因此使用間接測(cè)量
基準(zhǔn)頻率
間接測(cè)量技術(shù)測(cè)出讀數(shù)為1250022:
32767.42/2
Tl (同樣計(jì)數(shù)器只取得
技術(shù)使測(cè)量誤差更小了，保證了檢測(cè)數(shù)據(jù)的可靠性。
表晶素子的結(jié)構(gòu)如圖1所示，由石英音叉l、基座2和引腳3構(gòu)
成。調(diào)頻棒的結(jié)構(gòu)如圖2所示，包括外蓋4和內(nèi)蓋5，外蓋4端部設(shè) 有銅嘴6。將表晶素子的引腳插入調(diào)頻棒中，通過(guò)內(nèi)蓋固定，調(diào)頻棒 通過(guò)引線與調(diào)頻機(jī)臺(tái)保持良好的接觸。調(diào)頻機(jī)臺(tái)的原理結(jié)構(gòu)如圖3所示。
本發(fā)明應(yīng)用于表晶的生產(chǎn)過(guò)程，對(duì)表晶素子進(jìn)行有效的調(diào)頻，與 現(xiàn)有技術(shù)相比能夠更加有效的抑制雜波的產(chǎn)生，提高表晶素子的成品品質(zhì)。
權(quán)利要求
1.一種表晶素子對(duì)稱側(cè)磨調(diào)頻方法，包括如下步驟(1)將表晶素子插在調(diào)頻機(jī)臺(tái)的調(diào)頻棒中，記錄調(diào)頻棒的銅嘴與表晶素子外殼接觸與不接觸的調(diào)頻機(jī)臺(tái)讀數(shù)差異；(2)先試磨表晶素子石英音叉的單邊，如果調(diào)頻機(jī)臺(tái)電流表指針上升，讀數(shù)差異變小，則確定此邊為大邊；(3)側(cè)磨大邊，使調(diào)頻機(jī)臺(tái)電流表指針上升到不能再上升為止，此時(shí)調(diào)頻機(jī)臺(tái)讀數(shù)差異最小，將該讀數(shù)定為初始讀數(shù)；(4)計(jì)算初始讀數(shù)與所要達(dá)到的中心讀數(shù)的差值，任磨一邊，使讀數(shù)達(dá)到此差值的1/2，再改磨另一邊，使讀數(shù)達(dá)到中心讀數(shù)即完成調(diào)頻過(guò)程。
2. 如權(quán)利要求1所述的表晶素子對(duì)稱側(cè)磨調(diào)頻方法，其特征在 于在上述方法中，調(diào)頻機(jī)臺(tái)讀數(shù)的檢測(cè)值由下面公式確定，檢測(cè)值＝基準(zhǔn)頻率/表晶頻率/分頻數(shù)
全文摘要
本發(fā)明涉及一種表晶生產(chǎn)過(guò)程中表晶素子的調(diào)頻方法。該方法采用對(duì)稱側(cè)磨的形式分別側(cè)磨素子石英音叉的兩端，使其兩端質(zhì)量一致，減小諧振時(shí)每周期內(nèi)損耗的機(jī)械能，使兩端平衡諧振，從而有效抑制雜波的產(chǎn)生，提高了成品的品質(zhì)。
文檔編號(hào)H03H3/02GK101192814SQ20061016070
公開日2008年6月4日 申請(qǐng)日期2006年11月29日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月29日
發(fā)明者喻信東 申請(qǐng)人:喻信東