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      應(yīng)用于鎖相回路的電流裝置及其方法

      文檔序號:7513251閱讀:324來源:國知局
      專利名稱:應(yīng)用于鎖相回路的電流裝置及其方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明關(guān)于電流裝置,特別是關(guān)于一種應(yīng)用于鎖相回路的電流裝置。
      背景技術(shù)
      圖1為習(xí)知鎖相回路的架構(gòu)方塊圖。參考圖1,鎖相回路100包含一 相位檢觀'J器(phase detector) 102 、 一電荷泵(charge pump) 104 、 一低通濾波 器(low-pass filter,. LPF) 106、 一壓控震蕩器(voltage-controlled oscillator, VCO) 110以及一除頻器(frequency divider) 108。鎖相回路100于初始狀態(tài)時, 相位檢測器102先比較參考時鐘與反饋時鐘的相位差(phase error),然后將 兩者的相位差關(guān)系轉(zhuǎn)換成UP和DN兩個信號后,分別送至電荷泵104,而電 荷泵104依據(jù)UP和DN兩信號以輸出 一控制電壓V加至壓控震蕩器110的輸 入端。電荷泵104經(jīng)由UP和DN兩個信號的控制而對低通濾波器106的電 阻電容(圖未示)作充電(charge)或力文電(discharge)的動作,接著,壓控震 蕩器110藉由電荷泵104對低通濾波器106充電或放電所產(chǎn)生的控制電壓VctH 以產(chǎn)生一輸出時鐘。接著,除頻器108將此輸出時鐘進(jìn)行除頻,以產(chǎn)生反饋 時鐘提供給相位檢測器102作相位差的比較,如此一直循環(huán)運作,直到反饋 時鐘與參考時鐘的頻率與相位差實質(zhì)上相同時,鎖相回路即完成鎖相的動作。
      在鎖相回路相關(guān)的應(yīng)用上,例如頻率合成器(frequency synthesizer)以及 時鐘與資料恢復(fù)(clock and data recovery, CDR)等,壓控震蕩器與電荷泵為 鎖相回中,較容易受到外在環(huán)境所影響,例如處理、電壓與溫度的影響。 而壓控震蕩器的增益(gain): =dco/dv=df/dv (其中,co是角頻率,f是工 作頻率,v是電壓),是一個參考的指標(biāo)值,較大的^(:。值可以涵蓋處理、電 壓與溫度(process、 voltage、 temperature,以下簡稱PVT)的變化,相反地, 較小的尺"'。值則可以減少對噪聲的^:感度。
      美國專利第5,064,907號與第6,326,855號所提出的壓控震蕩器屬于開回 路(open loop)架構(gòu)的補償方式,其針對電壓電流轉(zhuǎn)換器(voltage-to-current converter)來做補償,其中的補償電流基本上是一個與絕對溫度成正比(proportional to absolute temperature, PTAT)的電流。另夕卜,于2005年11月, Hyung-Rok Lee等人("A 1.2-V-only 900mW 10gb Ethernet transceiver and XAUI interface with robust VCO tuning technique," JSSC, Nov.,2005)亦提出 一種具有 具有溫度補償功能的壓控震蕩器。
      另一方面,由于高^c"值的單一頻率電壓特性曲線的壓控震蕩器對噪聲 較敏感,因此具有低^"M直的多段式(multi-range或multi-band)頻率電壓特 性曲線的壓控震蕩器也陸續(xù)被發(fā)展出來,如圖2A所示是具有兩組輸入信號 的多段式壓控震蕩器的頻率電壓特性曲線圖。在2005年6月,Nonis等人 ("Modeling, Design and Characterization of a New Low-Jitter Analog Dual Tuning LC-VCO PLL Architecture," IEEE Journal of Solid-state Circuits)提出一 種連續(xù)時間雙回圈調(diào)整(continuous time dual-loop tuning)方法,采用具有兩 組輸入信號的壓控震蕩器,該壓控震蕩器的^"",如圖2A所示,遠(yuǎn)小于習(xí) 知具有 一組輸入信號的壓控震蕩器的A'""。具有兩組輸入信號的壓控震蕩器 先利用電壓Vc做粗調(diào)(coase),使該壓控震蕩器工作于其中一條最佳的頻率 電壓特性曲線,再作微調(diào)(fine)控制,使(Vfinep - Vfinen)盡量接近參考電壓 (Vrefp - V,.efn),結(jié)果使得壓控震蕩器工作于線性區(qū)(其中的幾乎等于 定值),并使壓控震蕩器的頻率電壓特性曲線可以維持在相同的頻率輸出范 圍。
      圖2B所示是另 一習(xí)知離散時間雙回圈調(diào)整(discrete time dual loop)多段
      式壓控震蕩器的頻率電壓特性曲線圖,其中,VL為最小控制電壓,VH為最大
      控制電壓,圖中的各頻率電壓特性曲線是在同 一參數(shù)才莫型(at the same process comer)下量測的,而且,各頻率電壓特性曲線之間的頻率必須相互重迭 (overlap),在電路運作時,鎖相回路的粗調(diào)是利用壓控震蕩器工作于其中一條 最佳的頻率電壓特性曲線,而微調(diào)是沿著上述最佳的頻率電壓特性曲線中, 使壓控震蕩器在一個最佳點工作。
      圖2C所示是在不同的參數(shù)模型與不同的溫度下,單段式(single-band)壓 控震蕩器的頻率電壓特性曲線圖,如圖2C所示,低溫所量測的頻率電壓特性 曲線,《'""值較大(或斜率較大),而高溫所量測的頻率電壓特性曲線,~('" 值較小(或斜率較小)。因此,對單段式壓控震蕩器而言,在相同的工作頻率 下,較大&'('。值的頻率電壓特性曲線會對應(yīng)到較小的控制電壓,而較小^c。值 的頻率電壓特性曲線會對應(yīng)到較大的控制電壓。在2002年12月,Dally等人("A Low-Power Multiplying DLL for Low-Jitter Multigigahertz Clock Generation in Highly Integrated Digital Chips," IEEE Journal of Solid-state Circuits)才是出 一種適應(yīng)偏壓型(adaptive-biased)電荷泵(圖
      未示),用來在鎖相回路中對于不同處理模型以補償^r:o的變化,該電荷泵是
      根據(jù)壓控震蕩器的控制電壓Vcntl以產(chǎn)生相對應(yīng)的電荷泵電流1^,使得 x Icp較不亦隨著而漂移。這是因為壓控震蕩器為維持相同的輸出工 作頻率,較小^c。值(或斜率較小)的頻率電壓特性曲線需要較大的控制電 壓(如圖2C所示),反之亦然,所以電荷泵會根據(jù)控制電壓V加,產(chǎn)生相對應(yīng)的 電荷泵電流以4卜償?shù)淖兓?br>
      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明的目的之一在于提供一種應(yīng)用于鎖相回路的電流裝置,可以主動 依據(jù)《"('"的變化,產(chǎn)生相對應(yīng)的補償電壓或補償電流。
      本發(fā)明公開一種電流裝置,包含 一補償電壓產(chǎn)生電路以及一電流輸出 單元。該補償電壓產(chǎn)生電路,用來產(chǎn)生一補償電壓,該補償電壓產(chǎn)生電路包
      含 一第一電晶體,接收一參考電流以產(chǎn)生該補償電壓;以及一補償單元,
      并聯(lián)耦接至該第一電晶體,用來補償該補償電壓。電流輸出單元包含至少一
      第二電晶體,該電晶體用來依據(jù)該補償電壓以輸出一第一輸出電流;其中, 該第二電晶體與該第 一 電晶體形成 一 電流鏡結(jié)構(gòu)。
      結(jié)合下列圖示、實施例的詳細(xì)說明及權(quán)利要求,將上述及本發(fā)明的其他 目的與優(yōu)點詳述于后。


      圖1是一習(xí)知鎖相回路的架構(gòu)方塊圖。
      圖2A所示是習(xí)知具有兩組輸入信號的多段式壓控震蕩器,其頻率電壓 特性曲線圖。
      圖2B所示是另一習(xí)知離散時間雙回圈調(diào)整多段式壓控震蕩器的頻率電 壓特性曲線圖。
      圖2C所示是在不同的參數(shù)模型與不同的溫度下,單段式壓控震蕩器的頻 率電壓特性曲線圖。
      圖3是壓控震蕩器應(yīng)用本發(fā)明的電流裝置的 一 實施例的架構(gòu)示意圖。圖4A是偏壓與補償電壓產(chǎn)生電路應(yīng)用本發(fā)明的電流裝置的一實施例的
      架構(gòu)圖。
      圖4B是延遲元件(delay cell)應(yīng)用本發(fā)明的電流裝置的一實施例的架構(gòu)圖。
      圖5是壓控震蕩器應(yīng)用本發(fā)明的電流裝置的架構(gòu),在不同參數(shù)模型與控 制電壓下,所測得的頻率電壓特性曲線關(guān)系圖。
      圖6是電荷泵應(yīng)用本發(fā)明的電流裝置的一實施例的架構(gòu)示意圖。
      圖號說明
      100鎖相回^各
      102相位檢測器
      104、 600電荷泵
      106低通濾波器
      108除頻器
      110、 300壓控震蕩器
      300壓控震蕩器
      310偏壓與補償電壓產(chǎn)生電路
      320環(huán)型震蕩器
      321~32N延遲元件
      321a 32Na、 421、 425延遲單元
      321b 32Nb壓控電流源
      410補償電壓產(chǎn)生電路
      420半復(fù)制偏壓產(chǎn)生電^各
      423、 630電壓電流轉(zhuǎn)換器
      620電流鏡
      m Ms、 ^'6 nmos電晶體
      M6、 M7、 Ml3、 M,4、 M,5 pMQS電晶體
      具體實施例方式
      圖3是本發(fā)明壓控震蕩器的一實施例的架構(gòu)示意圖。參考圖3,壓控震 蕩器300包含一偏壓與補償電壓產(chǎn)生電^各310以及一個N (N為大于1的正整數(shù))階環(huán)型震蕩器(ring oscillator) 320。環(huán)型震蕩器320包含N個延遲元 件 (delay cell) 321 32N , 每 一 延遲元件又包含 一 電流控制型 (current-controlled)延遲單元(321 a 32Na)以及 一 壓控電流源(current source) (321b 32Nb)。
      偏壓與補償電壓產(chǎn)生電路用來產(chǎn)生一偏壓、以提供給所有的延遲元件
      (321a 32Na),同時還產(chǎn)生一補償電壓以提供給所有的壓控電流源 (321b 32Nb)。電路設(shè)計者根據(jù)每一個延遲元件的延遲時間T以及預(yù)設(shè)的震蕩
      頁率/"、T:,來串接N階的環(huán)型震蕩器,也就是^'^E/^xr,其中環(huán)型震蕩器
      的階數(shù)N越大或延遲時間T越長,震蕩頻率入說'就越低。在本實施例中的環(huán) 型震蕩器因為是差動型(differential),所以N可為奇數(shù)或偶數(shù),當(dāng)N為偶數(shù) 時,其中一階的延遲元件的正負(fù)輸出端A+、 A-必須要反轉(zhuǎn)(inverted),在圖 中以虛線表示,而當(dāng)N為奇數(shù)時,正負(fù)輸出端A+、 A-不必反轉(zhuǎn),在圖中以 實線表示。
      請參考圖4A,圖4A是偏壓與補償電壓產(chǎn)生電路應(yīng)用本發(fā)明的電流裝置 的一實施例的架構(gòu)圖,偏壓與補償電壓產(chǎn)生電路310包含一補償電壓產(chǎn)生電 路410以及一半復(fù)制偏壓產(chǎn)生電路(halfreplicabias generator) 420。補償電壓
      產(chǎn)生電路410,用來產(chǎn)生一補償電壓""""。偏壓產(chǎn)生電路420包含一半復(fù)制延 遲單元421以及一電壓電流轉(zhuǎn)換器(V-to-I converter) 423。而補償電壓產(chǎn)生電 路410與電壓電流轉(zhuǎn)換器423構(gòu)成本發(fā)明的電流裝置的一實施例。其中,電
      壓電流轉(zhuǎn)換器423包含兩個NMOS電晶體風(fēng)、M2 ,用來分別依據(jù)控制電壓"'"
      (由電荷泵所提供)與該補償電壓 以嚴(yán)生一控制電流 (=It+Ic),而半 復(fù)制延遲單元421則包含兩個PMOS電晶體7^6、似?以及一個NMOS電晶體
      Ms,根據(jù)控制電流^'""來產(chǎn)生一偏壓^。
      假設(shè)電壓^以及電流"'都是固定的量,不會隨PVT而改變,本發(fā)明利 用 一個補償電晶體M4并聯(lián)耦接至電晶體A來追蹤電晶體M'因周遭環(huán)境PVT
      變動而產(chǎn)生的變化。當(dāng)電晶體^的調(diào)整電流'因PVT變動而變小(^";變小、
      g"變小)時,流經(jīng)電晶體M4的電流4 (圖未示)也隨之變小(g'"4變小),
      此時,因電流 '是固定的,所以流經(jīng)電晶體^的電流3 (圖未示)會增加,
      9進(jìn)而使得補償電壓,上升,由于補償電壓"上升的結(jié)果,使得電晶體A所
      產(chǎn)生的補償電流亦會隨之上升(電晶體^、禮是電流鏡(current mirror)
      架構(gòu)),最后得到整體控制電流""(^c+It)不變的結(jié)果。因此,周遭環(huán)境PVT
      /(, /, 變動時,補償電流'會主動根據(jù)電晶體^的電流變化(或g'",變化)而產(chǎn)
      生變化。電流鏡A、^將電流S與電晶體牦的輸出電流之間的電流差放
      々 々. 大,以產(chǎn)生補償電流,也就是電晶體M2的補償電流 =Ibg -
      Vbg*g'"4*g'"2/g'"3,其中,(g"',g'"2/g"'3)這個變量會追蹤電晶體M'的g'",變化
      (由于周遭環(huán)境PVT變動)。附帶一^t是,本發(fā)明補償電流的產(chǎn)生方式是屬 于開回路(叩en loop)架構(gòu)的設(shè)計。
      另一方面,若將所有隨PVT變動而發(fā)生變化的信號都視為一個固定值 (constant)信號與一個變量(variable)信號的組合,例如
      電晶體M'的電流=Ic。nstl+ Ivarl= Ic。nstl+g"',* ; 電晶體A^的電流=ICMSt2- 1,2=1畫12+&'2* ;

      ^2制電》化 = += (Iconstl+ Iconst2)十(Ivarl — Ivar2 )
      =(1畫"+ I薩t2)十(g"' i - a*2 ) *
      K [77,/
      ,, a>"." 加/
      其中,假設(shè) =a* 。
      本發(fā)明利用能隙電壓參考電路(bandgap voltage reference circuit)所產(chǎn)生
      的電流""當(dāng)作I,st2,電壓化當(dāng)作■"。經(jīng)由適當(dāng)?shù)倪x擇參數(shù)a,可使變動的 量彼此消掉(也就是(Ivarl- Ivar2) =0 ),只剩下固定的量(=(Iconstl+ Iconst2)),因
      此,在電壓^=電壓^"時,控制電流"'"都是一個固定值。從另一個角度來
      看,電晶體M4的輸出電流會追蹤電流的變化,都是朝同一方向變動(也
      就是電流A變大時,電流^亦變大),此時因為電流"g為定值,所以電晶體^
      /,' /4 的輸出電流—會與電晶體^4的輸出電流呈反方向變動,接著,又因電流
      鏡M、〃2的關(guān)系,也使得補償電流與電流亦呈同方向變動(當(dāng)電晶體,, 73 A: 々 ,,
      M、屹完全相同時,=),因此,結(jié)果是補償電流與電流朝反方
      向變動。
      請參考圖4B,圖4B是延遲元件應(yīng)用本發(fā)明的電流裝置的一實施例的架 構(gòu)圖,每一延遲元件(321 32N)包含一電流控制型延遲單元425以及一電壓
      電流轉(zhuǎn)換器423。電壓電流轉(zhuǎn)換器423同樣接收電荷泵所提供的控制電壓^'"
      與補償電壓產(chǎn)生電路410所提供的該補償電壓 以產(chǎn)生控制電流 (=IC+It)。與圖4A的延遲單元423比較,延遲單元423只是延遲單元425的半
      邊電路,延遲單元425依據(jù)該控制電流^"'與偏壓、,將兩個正負(fù)輸入端F"、 ^所輸入的時鐘信號反向后于正負(fù)輸出端匕、^-產(chǎn)生延遲時鐘信號。而電 壓電流轉(zhuǎn)換器423與補償電壓產(chǎn)生電路410構(gòu)成本發(fā)明的電流裝置的一實施 例,其操作原理與補償原理已于前述說明,因此再此不另贅述。
      圖5是根據(jù)本發(fā)明壓控震蕩器的架構(gòu),在不同參數(shù)模型與控制電壓下, 所測得的頻率電壓特性曲線關(guān)系圖。依據(jù)本發(fā)明的實施例中,壓控震蕩器 300利用補償電壓產(chǎn)生電路410的架構(gòu),以電壓電流轉(zhuǎn)換器423與電流控制
      型延遲單元425為補償對象,在電源啟動后先將電壓與電流分別預(yù)設(shè)一
      固定值(例如6S=0.45V,化-7(HiA), 在不同參數(shù)模型中與不同PVT狀況
      下,補償電壓產(chǎn)生電路410都會產(chǎn)生相對應(yīng)的補償電壓"'""'、電晶體」仏-產(chǎn)生

      相對應(yīng)的補償電流,進(jìn)而調(diào)整各頻率電壓特性曲線的中心震蕩頻率,使各
      頻率電壓特性曲線的中心震蕩頻率幾乎交會于一點,約在 =二0.45V的 附近(如圖5所示)。與圖2C比較,可以看到圖5的三條頻率電壓特性曲
      線的中心震蕩頻率的確都被調(diào)整或移動了。當(dāng)控制電壓"'"等于電壓"時,
      控制電流4""也幾乎等于定值,使得三條特性曲線的中心震蕩頻率幾乎交會在
      同一點(=",中心震蕩頻率不易隨PVT的改變而產(chǎn)生變化,因此壓控 震蕩器300可以用較小的^,值(或斜率較小)來涵蓋相同的工作頻率
      ^
      (operating frequency)或主要的震蕩范圍。然而, 及 的實際值可4衣照
      電路設(shè)計者對于中心頻率的要求進(jìn)行改變,并不以 =0.45V, =70(iA為限。請參考圖6,圖6是電荷泵應(yīng)用本發(fā)明的電流裝置的一實施例的架構(gòu)示 意圖。電荷泵電流"大小可以根據(jù)不同《,作調(diào)整,使、《罰乘積是一個定
      值,并進(jìn)而調(diào)整控制電壓""'的大小。電荷泵600包含一補償電壓產(chǎn)生電路 410、 一電壓電流轉(zhuǎn)換器630、兩個電晶體M'5、仏6以及一電流鏡620。其中, 電晶體^|5、 Mw當(dāng)作兩個分別由控制信號UP、 DN所控制的開關(guān),用以控制
      充電電流"及放電電流'i (流經(jīng)電晶體^"的電流)對電荷泵的輸出端的 充方文電狀態(tài)。
      當(dāng)周遭環(huán)境PVT變動(假設(shè)溫度上升,^c"值變小,g、變小)時,流
      經(jīng)電晶體M4'的電流^ (圖未示)隨之變小,此時,因電流^'是固定的,所以
      厶 ,.,
      」經(jīng)電晶體札的電流
      流經(jīng)電晶體A的電流"(圖未示)會增力口,使得補償電壓'"'"'"上升,而電流°
      也隨之上升(因為電晶體^3、 M2、 ^是電流鏡架構(gòu)),最后,流經(jīng)電晶體 M'3、 ^4的電流7'3、 7"(圖未示)同步上升,因此' ^'('"乘積(也就是鎖
      相回路的開回路增益)幾乎不變。不同于習(xí)知技術(shù)是根據(jù)控制電壓(vcnU)來
      產(chǎn)生相對應(yīng)的電荷泵電流,本發(fā)明的電荷泵是根據(jù)《W'"(或g"'4)的變動來調(diào) 整電荷泵電流進(jìn)而調(diào)整控制電壓"'",因此,本發(fā)明電荷泵不但適用于具
      有單段式頻率電壓特性曲線(single band)的壓控震蕩器,亦適合具有多段式 頻率電壓特性曲線(multi band at the same corner)的壓控震蕩器。若以lt學(xué)式 子來推導(dǎo)
      <formula>formula see original document page 12</formula>
      因為g"' 4會追蹤的變化,(* △- △ KfTO * )幾乎等于
      <formula>formula see original document page 12</formula>
      零,再者,A^'"^A的乘積值,相對上遠(yuǎn)小于 *A' ("."'"'、'的乘積值,故
      八"*的乘積值可視為常數(shù)。
      依據(jù)本發(fā)明的實施例所提供的電流裝置及方法,可依照設(shè)計者的需求擇 一應(yīng)用于壓控震蕩器或是電荷泵中,或者二者同時使用亦可。若應(yīng)用于壓控 震蕩器,則可補償壓控震蕩器的中心震蕩頻率,若應(yīng)用于電荷泵中,則可補
      償壓電流;,若同時應(yīng)用二者,則可補償使得"'*《,乘積為一個定值。本發(fā)明利用簡單的電路設(shè)計、低廉的硬體成本,就能達(dá)到良好、可靠的補償效果。
      以上說明僅是本發(fā)明的實施例,并非用來限定本發(fā)明的實施范圍,本領(lǐng)域技術(shù)人員可在不脫離本發(fā)明的要旨下,進(jìn)行各種實施方式的變形或變更,亦即凡依本發(fā)明權(quán)利要求所做的均等變化與修飾,皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
      權(quán)利要求
      1.一種電流裝置,包含一補償電壓產(chǎn)生電路,用來產(chǎn)生一補償電壓,該補償電壓產(chǎn)生電路包含一第一電晶體,接收一參考電流以產(chǎn)生該補償電壓;以及一補償單元,并聯(lián)耦接至該第一電晶體,用來補償該補償電壓;以及一電流輸出單元,包含至少一第二電晶體,該第二電晶體用來依據(jù)該補償電壓以輸出一第一輸出電流;其中,該第二電晶體與該第一電晶體形成一電流鏡結(jié)構(gòu)。
      2. 如權(quán)利要求1所述的電流裝置,其中該補償單元,包含 一補償電晶體,接收一參考電壓且與該第一電晶體形成一并聯(lián)結(jié)構(gòu)。
      3. 如權(quán)利要求1所述的電流裝置,其中該電流輸出單元還包含 一第三電晶體,與該第一電晶體形成電流鏡結(jié)構(gòu),用來依據(jù)該補償電壓以輸出一第二輸出電流。
      4. 如權(quán)利要求3所述的電流裝置,應(yīng)用于一電荷泵電路。
      5. 如權(quán)利要求4所述的電流裝置,其中該第一輸出電流作為該電荷泵電 路的充電電流;以及該第二輸出電流作為該電荷泵電3各的力i:電電流。
      6. 如權(quán)利要求1所述的電流裝置,其中該電流輸出單元,包含 一第三電晶體,接收一控制電壓,用來輸出一第二輸出電流。
      7. 如權(quán)利要求6所述的電流裝置,其中該補償單元,包含 一補償電晶體,接收一參考電壓且與該第一電晶體形成一并聯(lián)結(jié)構(gòu)。
      8. 如權(quán)利要求7所述的電流裝置,應(yīng)用于一壓控震蕩器。
      9. 如權(quán)利要求8所述的電流裝置,其中該第一輸出電流與第二輸出電流 用來控制該壓控震蕩器所輸出的 一時鐘信號的震蕩頻率。
      10. 如權(quán)利要求9所述的電流裝置,其中當(dāng)該控制電壓實質(zhì)上等于該參 考電壓時,該時鐘信號的中心震蕩頻率不受處理、電壓、以及溫度的改變所
      11. 如權(quán)利要求1所述的電流裝置,應(yīng)用于一鎖相回路中。
      12. —種壓控震蕩器,包含一補償電壓產(chǎn)生電路,用來產(chǎn)生一補償電壓,該補償電壓產(chǎn)生電路包含一第一電晶體,接收一參考電流以產(chǎn)生該補償電壓;以及 一補償單元,并聯(lián)耦接至該第一電晶體,用來補償該補償電壓; 一壓控電流源,用來依據(jù)該補償電壓與 一控制電壓以產(chǎn)生一控制電流;以及一延遲單元,用來依據(jù)該控制電流以延遲一時鐘信號并輸出一延遲時鐘信號。
      13. 如權(quán)利要求12所述的壓控震蕩器,其中該補償單元,包含 一補償電晶體,接收一參考電壓且與該第 一電晶體形成一并聯(lián)結(jié)構(gòu)。
      14. 如權(quán)利要求12所述的壓控震蕩器,其中該壓控電流源,包含 一第二電晶體,該第二電晶體與該第一電晶體形成一并聯(lián)結(jié)構(gòu),用來依據(jù)該補償電壓以輸出一補償電流;以及一控制電晶體,用來依據(jù)該控制電壓以輸出 一調(diào)整電流;其中,該補償電流與該調(diào)整電流的電流和實質(zhì)上等于該控制電流。
      15. 如權(quán)利要求12所述的壓控震蕩器,其中當(dāng)該控制電壓實質(zhì)上等于該 參考電壓時,該時鐘信號的中心震蕩頻率不受處理、電壓、以及溫度的改變 所影響。
      16. 如權(quán)利要求12所述的壓控震蕩器,其中該延遲單元為一差動模式的 延遲單元。
      17. 如權(quán)利要求12所述的壓控震蕩器,設(shè)置于一鎖相回路之中。
      18. —種電荷泵,包含一補償電壓產(chǎn)生電路,用來產(chǎn)生一補償電壓,該補償電壓產(chǎn)生電路,包一第一電晶體,接收一參考電流以產(chǎn)生該補償電壓;以及 一補償單元,并聯(lián)耦接至該第一電晶體,用來補償該補償電壓; 一電流輸出單元,與該第一電晶體形成電流鏡結(jié)構(gòu),用來依據(jù)該補償電壓輸出 一充電電流及一》文電電流;以及一開關(guān)單元,耦接至該電流輸出單元,用來依據(jù)一輸入控制信號控制該充電電流及該;改電電流對電荷泵的輸出端的充》文電狀態(tài)。
      19. 如權(quán)利要求18所述的電荷泵,其中該補償單元,包含一補償電晶體,接收一參考電壓且與該第一電晶體形成一并聯(lián)結(jié)構(gòu)。
      20.如權(quán)利要求18所述的電荷泵,設(shè)置于一鎖相回路之中。
      全文摘要
      本發(fā)明提供一種應(yīng)用于鎖相回路中的電流裝置及其方法,該電流裝置可以調(diào)整壓控震蕩器的中心震蕩頻率,使補償后的中心震蕩頻率實質(zhì)上不受處理、電壓與溫度的影響,亦可用較小的K<sub>VCO</sub>值來涵蓋主要的頻率震蕩范圍。另外,本發(fā)明的電流裝置還可應(yīng)用于電荷泵中,使得電荷泵電流I<sub>cp</sub>可依據(jù)壓控震蕩器的增益值K<sub>VCO</sub>來進(jìn)行調(diào)整,以降低I<sub>cp</sub>*K<sub>VCO</sub>受到處理、電壓與溫度的影響。
      文檔編號H03L7/089GK101527566SQ20081008208
      公開日2009年9月9日 申請日期2008年3月6日 優(yōu)先權(quán)日2008年3月6日
      發(fā)明者陳奕光 申請人:瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司
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