專(zhuān)利名稱(chēng):對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)濾波器的非線(xiàn)性進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒ê脱b置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明屬于數(shù)字信號(hào)處理領(lǐng)域,特別涉及一種對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)濾波器的非線(xiàn)性進(jìn)
行補(bǔ)償?shù)姆椒ê脱b置。
背景技術(shù):
在信號(hào)處理中經(jīng)常碰到濾波器的應(yīng)用,隨著互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)器件
和數(shù)字信號(hào)處理(DSP)技術(shù)的飛速發(fā)展,數(shù)字濾波器得到了廣泛的應(yīng)用。 數(shù)字濾波器從實(shí)現(xiàn)方法上可分為無(wú)限沖激響應(yīng)(IIR)濾波器和有限沖激響應(yīng)
(FIR)濾波器兩種,其中,F(xiàn)IR濾波器沒(méi)有極點(diǎn),只有零點(diǎn),因此系統(tǒng)比較穩(wěn)定,而且能保證
很好的線(xiàn)性相位,但是很難做到較好的通帶特性和阻帶衰減特性,為了達(dá)到好的特性通常
階數(shù)非常高,這使得計(jì)算量和系統(tǒng)復(fù)雜度特別高。 IIR濾波器很容易實(shí)現(xiàn)通帶特性和帶外的衰減特性,并且通常階數(shù)很低,節(jié)省系統(tǒng) 資源,但是,IIR濾波器的穩(wěn)定性不好,而且?guī)?nèi)相位是非線(xiàn)性的。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)濾波器的非線(xiàn)性進(jìn)行補(bǔ) 償?shù)姆椒ê脱b置,使得在基本上不增加系統(tǒng)復(fù)雜度的前提下,實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定且無(wú)相位偏移的濾 波過(guò)程。 為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供技術(shù)方案如下 —種對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)濾波器的非線(xiàn)性進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒?,包?在IIR濾波器的輸入序列中增加線(xiàn)性預(yù)畸變分量,實(shí)現(xiàn)對(duì)所述輸入序列的線(xiàn)性預(yù) 畸變; 從所述IIR濾波器的輸出序列中去除所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量,得到去線(xiàn)性畸變后的 序列; 對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移,以消除所述IIR濾波器的小數(shù)倍相位 偏移。 上述的方法,其中,所述在IIR濾波器的輸入序列中增加線(xiàn)性預(yù)畸變分量為
xd(n) = x(n)-d(n) 其中,x(n)為所述輸入序列,d(n)為所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量,xd(n)為線(xiàn)性預(yù)畸變后
的輸入序列,n = 1, . . . , N, N為輸入序列的長(zhǎng)度; 并且,所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量d(n)為如下的斜坡函數(shù)
4
攀)
Ux(1)4
41)>4"1)<_4
x(A0>4,x(A0<—4
,)—
x(w — l) 其中,A^為門(mén)限電平。 上述的方法,其中,所述門(mén)限電平Athr根據(jù)對(duì)所述斜坡函數(shù)的譜泄漏對(duì)濾波性能的
影響,以及所述IIR濾波器的暫態(tài)振蕩對(duì)濾波性能的影響進(jìn)行折中得到。 上述的方法,其中,所述從所述IIR濾波器的輸出序列中去除所述線(xiàn)性預(yù)畸變分
xo (n) = xf (n) +d (n)
其中,xf(n)為所述IIR濾波器的輸出序列,xo(n)為所述去線(xiàn)性畸變后的序列。 上述的方法,其中,所述對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移包括 估計(jì)所述IIR濾波器的相位偏移值;
根據(jù)所述相位偏移值對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移。 上述的方法,其中,所述估計(jì)所述IIR濾波器的相位偏移值包括 Al :選取長(zhǎng)度為Np的數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練序列,由所述IIR濾波器對(duì)所述訓(xùn)練序列進(jìn) 行濾波后得到第一濾波序列xl (n),對(duì)所述訓(xùn)練序列進(jìn)行理想濾波后得到第二濾波序列 xref (n) 5 A2 :按照如下公式對(duì)所述第一濾波序列xl (n)進(jìn)行相位偏移
'; ( ) = i5 x xl(") + (1 -尸)x xl(w + 1) = 1,…, _ 1
j xr(Wp) = (2 -尸)x xl(Ag — (1 —尸)x xl(乂 一 1)
P = _Pre/+w/2M —M<w<M 其中,xt (n)為相位偏移后序列,P為相位偏移因子,Pref為初始相位偏差,(-M, M) 為相位偏移掃描區(qū)間; A3 :計(jì)算相位偏移后序列xt(n)與第二濾波序列xref (n)的均方誤差,并獲取其中 的最小值; A4:判斷所述最小值是否小于誤差門(mén)限,若是,將對(duì)應(yīng)的相位偏移因子作為所述相 位偏移值,否則,增加M的值后返回步驟A2。 上述的方法,其中,所述根據(jù)所述相位偏移值對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相 位偏移為
fxp( ) = ; x xo(") + (1 _尸剛)x 1) " = I,...,tV _1
^(AO = (2 -尸剛)x xo(AO - (1 -尸剛)x xo(TV -1)
其中,P。Pt為相位偏移值,xp(n)為對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移后的
序列。
一種對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)IIR濾波器的非線(xiàn)性進(jìn)行補(bǔ)償?shù)难b置,包括 線(xiàn)性預(yù)畸變單元,用于在IIR濾波器的輸入序列中增加線(xiàn)性預(yù)畸變分量,實(shí)現(xiàn)對(duì)
5所述輸入序列的線(xiàn)性預(yù)畸變; 去線(xiàn)性畸變單元,用于從所述IIR濾波器的輸出序列中去除所述線(xiàn)性預(yù)畸變分 量,得到去線(xiàn)性畸變后的序列; 相位偏移單元,用于對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移,以消除所述IIR 濾波器的小數(shù)倍相位偏移。 上述的裝置,其中,所述在IIR濾波器的輸入序列中增加線(xiàn)性預(yù)畸變分量為
xd (n) = x (n) _d (n) 其中,x(n)為所述輸入序列,d(n)為所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量,xd(n)為線(xiàn)性預(yù)畸變后
的輸入序列,n = 1, . . . , N, N為輸入序列的長(zhǎng)度; 并且,所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量d(n)為如下的斜坡函數(shù) 其中,A^為門(mén)限電平。 上述的裝置,其中,所述從所述IIR濾波器的輸出序列中去除所述線(xiàn)性預(yù)畸變分 xo (n) = xf (n) +d (n) 其中,xf (n)為所述IIR濾波器的輸出序列,xo (n)為所述去線(xiàn)性畸變后的序列。 上述的裝置,其中,所述相位偏移單元進(jìn)一步用于 估計(jì)所述IIR濾波器的相位偏移值; 根據(jù)所述相位偏移值對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移。 本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)濾波器的暫態(tài)振蕩和相位偏移進(jìn)行補(bǔ)償,能夠
在基本上不增加系統(tǒng)復(fù)雜度的前提下,實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定且無(wú)相位偏移的濾波過(guò)程。
圖1為本發(fā)明實(shí)施例的對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)濾波器的非線(xiàn)性進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒鞒虉D; 圖2為本發(fā)明實(shí)施例中對(duì)輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行線(xiàn)性畸變前后的序列示意圖; 圖3為本發(fā)明實(shí)施例中相位補(bǔ)償?shù)脑硎疽鈭D; 圖4為本發(fā)明實(shí)施例中估計(jì)IIR濾波器的相位偏移值的方法流程圖; 圖5為本發(fā)明實(shí)施例中對(duì)訓(xùn)練序列的均方誤差計(jì)算結(jié)果示意圖; 圖6為本發(fā)明實(shí)施例的對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)濾波器的非線(xiàn)性進(jìn)行補(bǔ)償?shù)难b置結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施例方式
為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì) 本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述。
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參照?qǐng)Dl,本發(fā)明實(shí)施例的對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)(IIR)濾波器的非線(xiàn)性進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆?法,主要包括如下步驟 步驟101 :在IIR濾波器的輸入序列中增加線(xiàn)性預(yù)畸變分量,實(shí)現(xiàn)對(duì)所述輸入序列 的線(xiàn)性預(yù)畸變; 具體地,采用如下公式在IIR濾波器的輸入序列中增加線(xiàn)性預(yù)畸變分量
xd(n) = x(n)-d(n) 其中,x(n)為所述輸入序列,d(n)為所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量,xd(n)為線(xiàn)性預(yù)畸變后
的輸入序列,n = 1, . . . , N, N為輸入序列的長(zhǎng)度; 并且,所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量d(n)采用如下的斜坡函數(shù) 其中,A^為門(mén)限電平。 所述門(mén)限電平A*根據(jù)對(duì)所述斜坡函數(shù)的譜泄漏對(duì)濾波性能的影響,以及所述 IIR濾波器的暫態(tài)振蕩對(duì)濾波性能的影響進(jìn)行折中得到 若所述斜坡函數(shù)的譜泄漏對(duì)濾波性能影響較為明顯,則降低所述門(mén)限電平,直到 其影響接近IIR濾波器的暫態(tài)振蕩對(duì)濾波性能的影響; 若IIR濾波器的暫態(tài)振蕩對(duì)濾波性能的影響較為明顯,則提高所述門(mén)限電平,直 到其影響接近斜坡函數(shù)的譜泄漏對(duì)濾波性能的影響。 以長(zhǎng)期演進(jìn)(LTE)系統(tǒng)中信道估計(jì)(CHE)頻域插值(6X)過(guò)程中的抗鏡像濾波為 例,線(xiàn)性預(yù)畸變結(jié)果如圖2所示。 所述線(xiàn)性預(yù)畸變過(guò)程完成后,將xd(n)輸入到所述IIR濾波器中進(jìn)行濾波,并且, 濾波過(guò)程包括去除整數(shù)倍相位偏移。也就是說(shuō),IIR濾波器的輸出序列為已經(jīng)消除了整數(shù) 倍相位偏移的序列。 步驟102 :從所述IIR濾波器的輸出序列中去除所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量,得到去線(xiàn)性 畸變后的序列; 具體地,采用如下公式從所述IIR濾波器的輸出序列中去除所述線(xiàn)性預(yù)畸變分
xo (n) = xf (n) +d (n) 其中,xf (n)為所述IIR濾波器的輸出序列,xo (n)為所述去線(xiàn)性畸變后的序列。
通過(guò)上述步驟,消除了 IIR濾波器的暫態(tài)響應(yīng)帶來(lái)的非理想振蕩。經(jīng)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,暫 態(tài)響應(yīng)補(bǔ)償后的CHE性能跟補(bǔ)償前的性能相比,均方誤差從0. 36%降低到了 0. 0046%。
步驟103 :對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移,以消除所述IIR濾波器的小 數(shù)倍相位偏移。 本步驟中,可以采用公知的方法進(jìn)行所述相位偏移。
7
另外,本發(fā)明實(shí)施例還提供如下的優(yōu)選方法來(lái)進(jìn)行所述相位偏移
首先,估計(jì)所述IIR濾波器的相位偏移值; 然后,根據(jù)所述相位偏移值對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移。
其中,該優(yōu)選方法進(jìn)行相位補(bǔ)償?shù)脑砣鐖D3所示利用序列相鄰采樣點(diǎn)的相關(guān)
性來(lái)計(jì)算無(wú)偏值。 參照?qǐng)D4,所述估計(jì)所述IIR濾波器的相位偏移值包括如下步驟
步驟401 :選取長(zhǎng)度為Np的數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練序列,由所述IIR濾波器對(duì)所述訓(xùn)練序列進(jìn)行濾波后得到第一濾波序列xl (n),對(duì)所述訓(xùn)練序列進(jìn)行理想濾波后得到第二濾波序列xref (n) 5 步驟402 :按照如下公式對(duì)所述第一濾波序列xl (n)進(jìn)行相位偏移<formula>formula see original document page 8</formula>
其中,xt(n)為相位偏移后序列,P為相位偏移因子,Prrf為初始相位偏差,(-M,M)為相位偏移掃描區(qū)間; 步驟403 :計(jì)算相位偏移后序列xt(n)與第二濾波序列xref (n)的均方誤差,并獲取其中的最小值; 具體地,均方誤差的計(jì)算公式為 ^&ror(W)= 參照?qǐng)D5,不同的m對(duì)應(yīng)不同的均方誤差值,掃描所有的均方誤差值,從中找出最小的均方誤差值,并記錄此時(shí)m的取值Ma。 步驟404 406 :判斷所述最小值是否小于誤差門(mén)限,若是,將對(duì)應(yīng)的相位偏移因子作為所述相位偏移值,否則,增加M的值后返回步驟402。 當(dāng)所述最小值小于誤差門(mén)限時(shí),將對(duì)應(yīng)的相位偏移因子作為所述相位偏移值乾<formula>formula see original document page 8</formula> 在得到所述相位偏移值后,就可以采用如下的公式對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移<formula>formula see original document page 8</formula>
其中,xp(n)為對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移后的序列。 經(jīng)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,進(jìn)行相位補(bǔ)償后的CHE性能跟補(bǔ)償前的性能相比,均方誤差進(jìn)一步
降低到了 0. 00099% 參照?qǐng)D6,本發(fā)明實(shí)施例的對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)濾波器的非線(xiàn)性進(jìn)行補(bǔ)償?shù)难b置,包括,線(xiàn)性預(yù)畸變單元、去線(xiàn)性畸變單元和相位偏移單元。其中 線(xiàn)性預(yù)畸變單元,用于在IIR濾波器的輸入序列中增加線(xiàn)性預(yù)畸變分量,實(shí)現(xiàn)對(duì)所述輸入序列的線(xiàn)性預(yù)畸變。
具體地,采用如下公式在IIR濾波器的輸入序列中增加線(xiàn)性預(yù)畸變分量
xd(n) = x(n)-d(n) 其中,x(n)為所述輸入序列,d(n)為所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量,xd(n)為線(xiàn)性預(yù)畸變后
的輸入序列,n = 1, . . . , N, N為輸入序列的長(zhǎng)度; 并且,所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量d(n)采用如下的斜坡函數(shù) 其中,A^為門(mén)限電平。 所述門(mén)限電平Athr根據(jù)對(duì)所述斜坡函數(shù)的譜泄漏對(duì)濾波性能的影響,以及所述IIR濾波器的暫態(tài)振蕩對(duì)濾波性能的影響進(jìn)行折中得到 若所述斜坡函數(shù)的譜泄漏對(duì)濾波性能影響較為明顯,則降低所述門(mén)限電平,直到其影響接近IIR濾波器的暫態(tài)振蕩對(duì)濾波性能的影響; 若IIR濾波器的暫態(tài)振蕩對(duì)濾波性能的影響較為明顯,則提高所述門(mén)限電平,直到其影響接近斜坡函數(shù)的譜泄漏對(duì)濾波性能的影響。 去線(xiàn)性畸變單元,用于從所述IIR濾波器的輸出序列中去除所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量,得到去線(xiàn)性畸變后的序列。 具體地,采用如下公式從所述IIR濾波器的輸出序列中去除所述線(xiàn)性預(yù)畸變分
xo(n) = xf (n)+d(n) 其中,xf (n)為所述IIR濾波器的輸出序列,xo(n)為所述去線(xiàn)性畸變后的序列。
相位偏移單元,用于對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移,以消除所述IIR濾波器的小數(shù)倍相位偏移。 所述相位偏移單元可以采用公知的方法進(jìn)行所述相位偏移。
另外,本發(fā)明實(shí)施例還提供如下的優(yōu)選方法來(lái)進(jìn)行所述相位偏移
首先,估計(jì)所述IIR濾波器的相位偏移值; 然后,根據(jù)所述相位偏移值對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移。 其中,相位偏移值的估計(jì)方法可以參照上文方法實(shí)施例中的描述以及圖4所示。
在得到所述相位偏移值后,就可以采用如下的公式對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏
移
fxp(") = P x xo(打)+ (1 — _P ) x + 1) " = 1,…,iV _ 1
<{
l= (2 - 4,) x xo(iV) - (1 - 4,) x xo(JV -1) 其中,xp(n)為對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移后的序列。 綜上所述,本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)濾波器的暫態(tài)振蕩和相位偏移進(jìn)行
補(bǔ)償,能夠在基本上不增加系統(tǒng)復(fù)雜度的前提下,實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定且無(wú)相位偏移的濾波過(guò)程。
柳=
x(l)〉4,x(l)〈一4
最后應(yīng)當(dāng)說(shuō)明的是,以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換,而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神范圍,其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
權(quán)利要求
一種對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)IIR濾波器的非線(xiàn)性進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒ǎ涮卣髟谟?,包括在IIR濾波器的輸入序列中增加線(xiàn)性預(yù)畸變分量,實(shí)現(xiàn)對(duì)所述輸入序列的線(xiàn)性預(yù)畸變;從所述IIR濾波器的輸出序列中去除所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量,得到去線(xiàn)性畸變后的序列;對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移,以消除所述IIR濾波器的小數(shù)倍相位偏移。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述在IIR濾波器的輸入序列中增加線(xiàn)性預(yù) 畸變分量為其中,x(n)為所述輸入序列,d(n)為所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量,xd(n)為線(xiàn)性預(yù)畸變后的輸 入序列,n = 1, . . . , N, N為輸入序列的長(zhǎng)度;并且,所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量d(n)為如下的斜坡函數(shù)其中,Athr為門(mén)限電平。
3. 如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于所述門(mén)限電平Athr根據(jù)對(duì)所述斜坡函數(shù)的譜泄漏對(duì)濾波性能的影響,以及所述IIR濾 波器的暫態(tài)振蕩對(duì)濾波性能的影響進(jìn)行折中得到。
4. 如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述從所述IIR濾波器的輸出序列中去除所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量為 xo (n) = xf (n) +d (n)其中,xf(n)為所述IIR濾波器的輸出序列,xo(n)為所述去線(xiàn)性畸變后的序列。
5. 如權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位 偏移包括估計(jì)所述IIR濾波器的相位偏移值;根據(jù)所述相位偏移值對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移。
6. 如權(quán)利要求5所述的方法,所述估計(jì)所述IIR濾波器的相位偏移值包括Al :選取長(zhǎng)度為Np的數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練序列,由所述IIR濾波器對(duì)所述訓(xùn)練序列進(jìn)行濾波 后得到第一濾波序列xl (n),對(duì)所述訓(xùn)練序列進(jìn)行理想濾波后得到第二濾波序列xref (n); A2 :按照如下公式對(duì)所述第一濾波序列xl(n)進(jìn)行相位偏移<formula>formula see original document page 2</formula>其中,xt(n)為相位偏移后序列,P為相位偏移因子,P^為初始相位偏差,(-M,M)為相 位偏移掃描區(qū)間;A3 :計(jì)算相位偏移后序列xt(n)與第二濾波序列xref (n)的均方誤差,并獲取其中的最 小值;A4:判斷所述最小值是否小于誤差門(mén)限,若是,將對(duì)應(yīng)的相位偏移因子作為所述相位偏 移值,否則,增加M的值后返回步驟A2。
7. 如權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述相位偏移值對(duì)所述去線(xiàn)性畸 變后的序列進(jìn)行相位偏移為<formula>formula see original document page 3</formula>其中,P。Pt為相位偏移值,xp (n)為對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移后的序列。
8. —種對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)IIR濾波器的非線(xiàn)性進(jìn)行補(bǔ)償?shù)难b置,其特征在于,包括 線(xiàn)性預(yù)畸變單元,用于在IIR濾波器的輸入序列中增加線(xiàn)性預(yù)畸變分量,實(shí)現(xiàn)對(duì)所述輸入序列的線(xiàn)性預(yù)畸變;去線(xiàn)性畸變單元,用于從所述IIR濾波器的輸出序列中去除所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量,得 到去線(xiàn)性畸變后的序列;相位偏移單元,用于對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移,以消除所述IIR濾波 器的小數(shù)倍相位偏移。
9. 如權(quán)利要求8所述的裝置,其特征在于,所述在IIR濾波器的輸入序列中增加線(xiàn)性預(yù) 畸變分量為<formula>formula see original document page 3</formula>其中,x(n)為所述輸入序列,d(n)為所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量,xd(n)為線(xiàn)性預(yù)畸變后的輸 入序列,n = 1, . . . , N, N為輸入序列的長(zhǎng)度;并且,所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量d(n)為如下的斜坡函數(shù)<formula>formula see original document page 3</formula>其中,Athr為門(mén)限電平。
10. 如權(quán)利要求9所述的裝置,其特征在于,所述從所述IIR濾波器的輸出序列中去除 所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量為<formula>formula see original document page 3</formula>其中,xf(n)為所述IIR濾波器的輸出序列,xo(n)為所述去線(xiàn)性畸變后的序列。
11. 如權(quán)利要求10所述的裝置,其特征在于,所述相位偏移單元進(jìn)一步用于 估計(jì)所述IIR濾波器的相位偏移值;根據(jù)所述相位偏移值對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移。
全文摘要
本發(fā)明提供一種對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)濾波器的非線(xiàn)性進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒ê脱b置。所述方法包括在無(wú)限沖激響應(yīng)(IIR)濾波器的輸入序列中增加線(xiàn)性預(yù)畸變分量,實(shí)現(xiàn)對(duì)所述輸入序列的線(xiàn)性預(yù)畸變;從所述IIR濾波器的輸出序列中去除所述線(xiàn)性預(yù)畸變分量,得到去線(xiàn)性畸變后的序列;對(duì)所述去線(xiàn)性畸變后的序列進(jìn)行相位偏移,以消除所述IIR濾波器的小數(shù)倍相位偏移。本發(fā)明通過(guò)對(duì)無(wú)限沖激響應(yīng)濾波器的暫態(tài)振蕩和相位偏移進(jìn)行補(bǔ)償,能夠在基本上不增加系統(tǒng)復(fù)雜度的前提下,實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定且無(wú)相位偏移的濾波過(guò)程。
文檔編號(hào)H03H17/02GK101741350SQ20091024182
公開(kāi)日2010年6月16日 申請(qǐng)日期2009年12月9日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月9日
發(fā)明者李玉寶 申請(qǐng)人:北京天碁科技有限公司