專利名稱：校準采樣相位的方法及其裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)的采樣相位的技術，特別涉及一種利用周期性數(shù)字信號之間的移動數(shù)據(jù)數(shù)作為采樣相位的校準依據(jù)的技術。
背景技術：
模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)(ADC-PLL)在進行采樣時會受到頻率抖動(clock jitter) 的干擾，進而影響采樣所得的數(shù)字信號的質量。因此，便需對模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)的采樣相位進行校準，以正確地對模擬信號進行采樣。圖1是現(xiàn)有的頻率抖動對于ADC-PLL的采樣影響的示意圖，請參照圖1，ADC-PLL 于圖1中對模擬信號S進行采樣，假設ADC-PLL每經過一個時區(qū)TO Tl便對模擬信號S 采樣一次，而ADC-PLL在該實施例中具有4個采樣相位phl、ph2、ph3與ph4。如果ADC-PLL 處于理想狀態(tài)時(即不具有頻率抖動)，ADC-PLL便可依據(jù)其中一個采樣相位phl、ph2、ph3 或ph4而準確地依據(jù)點DAI、DA2、DA3或DA4進行采樣。但實際上由于頻率抖動的干擾，以采樣相位Phl為例，ADC-PLL將可能會在范圍Dl的最高采樣點DAlH與最低采樣點DAlL之間取得一點而進行采樣。依此類推，當ADC-PLL依據(jù)采樣相位ph2、ph3或ph4對模擬信號 S采樣時，便可能取得在范圍D2、D3或D4中任一個點來進行采樣。由于范圍Dl當中的信息差異較小，采樣后的數(shù)字信息差異應較小，但是范圍D2、D3或D4當中取得的信息差異相差可能過大，導致采樣后的數(shù)字信息差異應過大而無法對模擬信號S進行較佳的采樣。由此，采樣相位的校準技術應將ADC-PLL的采樣相位校準至最佳的采樣相位phl，從而在采樣時將頻率抖動的影響降到最低?，F(xiàn)有的采樣相位的校準技術利用每一個采樣相位進行采樣，并將采樣結果之間的絕對誤差和(sum of absolute difference，簡稱SAD)為最大的采樣相位作為最佳采樣相位。但以此法取得的最佳采樣相位如果具有較大的頻率抖動時，將會造成采樣不正確，或因而造成采樣質量的不穩(wěn)定。

發(fā)明內容
本發(fā)明提供一種校準采樣相位的方法，其可校準模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)的采樣相位，此方法依據(jù)周期性數(shù)字信號之間計算求得的移動數(shù)據(jù)數(shù)，從而找出其最佳采樣相位，并依據(jù)此最佳采樣相位進行采樣相位的校準。于另一觀點而言，本發(fā)明提供校準采樣相位的裝置，其可依據(jù)周期性數(shù)字信號之間計算求得的移動數(shù)據(jù)數(shù)，而找出其最佳采樣相位，并由此設定模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)以進行采樣。本發(fā)明提出一種校準采樣相位的方法，此方法適用于模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)中，此校準采樣相位的方法包括下列步驟。首先先將采樣相位設定為第一預設相位值，并且依據(jù)此采樣相位對靜態(tài)且為高頻的周期性模擬信號進行采樣，由此產生多個數(shù)字信號，每一個數(shù)字信號皆包括有多個像素數(shù)據(jù)。之后，計算在上述數(shù)字信號中具有相同相對位置的像素數(shù)據(jù)且其差異大于第一閾值的數(shù)量，因而獲得對應采樣相位的移動數(shù)據(jù)數(shù)。接著便改變上述采樣相位，來取得對應每一個采樣相位的移動數(shù)據(jù)數(shù)。最后，本方法將移動數(shù)據(jù)數(shù)最小、 或者移動數(shù)據(jù)數(shù)小于第二閾值所對應的眾多采樣相位其中之一設定為最佳的采樣相位。從另一角度來看，本發(fā)明提出一種校準采樣相位的裝置，此裝置與模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)耦接，而此模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)會依據(jù)采樣相位來對周期性的靜態(tài)高頻模擬信號采樣，并由此產生多個數(shù)字信號，其中每一個數(shù)字信號包括多個像素數(shù)據(jù)。校準采樣相位的裝置包括存儲單元、移動檢測單元與控制單元。存儲單元接收并存儲上述像素數(shù)據(jù)。移動檢測單元則耦接至存儲單元，用以計算在數(shù)字信號之中具有相同相對位置的像素數(shù)據(jù)的差異大于第一閾值的數(shù)量，從而取得對應采樣相位的移動數(shù)據(jù)數(shù)?？刂茊卧獎t耦接至移動檢測單元，用以改變采樣相位從而取得對應每一個采樣相位的移動數(shù)據(jù)數(shù)，并且將移動數(shù)據(jù)數(shù)為最小、或者移動數(shù)據(jù)數(shù)小于第二閾值所對應的采樣相位其中之一設定為最佳采樣相位?；谏鲜觯景l(fā)明的實施例利用同一個采樣相位對靜態(tài)且高頻的模擬信號進行多次采樣以產生多個周期性數(shù)字信號，并利用移動控制單元來計算這些周期性數(shù)字信號中具有相同位置且像素數(shù)據(jù)具相當差異的移動數(shù)據(jù)數(shù)。控制單元利用改變采樣相位以取得每一個采樣相位對應的移動數(shù)據(jù)數(shù)，并將移動數(shù)據(jù)數(shù)最小或移動數(shù)據(jù)數(shù)小于某一閾值的采樣相位其中之一設定為最佳采樣相位，使得模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)可通過最佳采樣相位來對模擬信號進行正確地采樣，以使頻率抖動的影響降到最低。


為使本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文結合附圖對實施例進行了詳細說明。圖1是現(xiàn)有的頻率抖動對于ADC-PLL的采樣影響的示意圖。圖2是依照本發(fā)明一實施例說明一種校準采樣相位的裝置方塊圖。圖3是依照本發(fā)明一實施例說明一種校準采樣相位的方法流程圖。圖4是圖3的步驟S311的方法流程圖。圖5是依照本發(fā)明一實施例說明絕對誤差和的示意圖。圖6是依照本發(fā)明一實施例說明576i模擬圖像信號所取得對應采樣相位的移動像素數(shù)的曲線圖。圖7是依照本發(fā)明一實施例說明IOSOi模擬圖像信號所取得對應采樣相位的移動像素數(shù)的曲線圖。主要元件符號說明20:校準采樣相位的裝置210 模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)(ADC-PLL)220:存儲單元230 移動檢測單元240 控制單元250 模擬信號檢測單元AS 模擬信號
AIS 模擬圖像信號Dl D4 采樣范圍Dl 1 D15 數(shù)字采樣結果DAl DA4、DAlH DA4H、DAlL DA4L 采樣點Ll 采樣相位phi的采樣結果phi ph4:采樣相位S310 S440 步驟S 模擬信號TO Tl:時區(qū)
具體實施例方式現(xiàn)將詳細參考本發(fā)明的示范性實施例，在附圖中說明所述示范性實施例的實例。 另外，凡可能之處，在圖式及實施方式中使用相同附圖標記的元件/構件/符號代表相同或類似部分。請參考圖2，圖2是依照本發(fā)明一實施例說明一種校準采樣相位的裝置20的方塊圖。校準采樣相位的裝置20與模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)(ADC-PLL) 210相互耦接。ADC-PLL 210 依據(jù)由控制單元240所控制的采樣相位對周期性的模擬信號AS進行采樣，從而產生多個數(shù)字信號DS(未顯示)，而每一個數(shù)字信號DS皆包括多個像素數(shù)據(jù)。并且，本實施例的周期性的模擬信號AS為靜態(tài)(即每一周期的模擬信號之間的差異較小)且高頻(即模擬信號中承載的數(shù)據(jù)變動頻率較高)的周期性模擬信號。此外，應用本實施例者可以視其需求將 ADC-PLL 210設計為具有多個采樣相位以增加采樣質量，在本實施例中，ADC-PLL210具有 32個采樣相位，而在其它實施例中ADC-PLL 210也可以具有8個或者64個采樣相位，因此本發(fā)明不應以此為限。校準采樣相位的裝置20可包括存儲單元220、移動檢測單元230與控制單元M0。存儲單元220接收并存儲由ADC-PLL 210采樣所得的數(shù)字信號DS。移動檢測單元230耦接至存儲單元220，其可將兩個采樣時間相鄰的輸入圖像的數(shù)字信號DS中相對位置相同的像素數(shù)據(jù)相減，并且計算這些像素數(shù)據(jù)的差異大于第一閾值THl的數(shù)量，從而取得對應采樣相位的移動數(shù)據(jù)數(shù)。請繼續(xù)參照圖2，控制單元240耦接至移動檢測單元230與ADC-PLL 210，其可通過改變采樣相位來取得對應每一個采樣相位的移動數(shù)據(jù)數(shù)。當已經取得對應所有采樣相位的移動數(shù)據(jù)數(shù)后，控制單元240將移動數(shù)據(jù)數(shù)為最小、或者移動數(shù)據(jù)數(shù)小于第二閾值TH2所對應的采樣相位其中之一設定為最佳采樣相位，以使ADC-PLL 210可通過該最佳采樣相位來對模擬信號AS進行采樣，且讓頻率抖動的影響降到最低。此外，校準采樣相位的裝置20在本實施例中可以進一步包括模擬信號檢測單元 250，其耦接至存儲單元220、移動檢測單元230以及控制單元M0。模擬信號檢測單元250 用以檢測模擬信號AS，當模擬信號AS為高頻，并且兩個采樣時間相鄰的場(Field)(或可稱為畫面(Frame))的輸入模擬信號AS之間的差異小于評估值時，即模擬信號AS為本實施例所符合的靜態(tài)且高頻的周期性模擬圖像，控制單元便可開始對采樣相位進行校準。此實施例包括了模擬信號檢測單元250，但不用來限定本發(fā)明，如果送入的模擬信號AS本來就是一個合格的校準用模擬輸入信號，則應可省略該模擬信號檢測單元250。
為了使本領域技術人員能更加了解本發(fā)明，在此將周期性的模擬信號AS以模擬圖像信號AIS作為舉例，從而詳細說明本實施例。因此，數(shù)字信號DS便是數(shù)字圖像信號DIS， 每一周期的圖像信號便為一個圖像場/畫面，而在數(shù)字信號DS中相對位置相同的像素數(shù)據(jù)便為數(shù)字圖像信號DIS中具有相同水平與垂直位置的像素數(shù)據(jù)。但本發(fā)明所述的周期性的模擬信號AS不應限于模擬圖像信號，在其它實施例中，周期性的模擬信號AS也可以是聲音模擬信號或者其它受到頻率抖動干擾的周期性模擬信號。由此，本實施例的操作流程請同時參照圖2與圖3，圖3是依照本發(fā)明一實施例說明校準采樣相位的方法流程圖。首先進入步驟S310，模擬信號檢測單元250檢測周期性的模擬圖像信號AIS (即模擬信號AS的一例)，當模擬圖像信號AIS為高頻，并且模擬圖像信號AIS中每一個模擬圖像畫面之間的像素數(shù)據(jù)差異小于評估值時(即兩個采樣時間相鄰的場/畫面的輸入模擬信號之間的差異小于評估值的一例)，便進入步驟S320以開始對采樣相位進行校準。在此請注意，本發(fā)明可以應用任何可能的方法來檢測周期性的模擬圖像信號AIS，由此開始對采樣相位進行校準。在此詳細描述本實施例的步驟S310的方法流程，請繼續(xù)參考圖2與圖3，模擬信號檢測單元250在步驟S311時找出一個最大高頻相位phM，其中ADC-PLL 210可依據(jù)該最大高頻相位PhM對模擬圖像信號AIS采樣，且由此獲得的采樣結果之間的絕對誤差和(SAD) 為最大，M為整數(shù)且1 < M < 32。詳言之，步驟S311的詳細流程請參照圖4，圖4是圖3的步驟S311的方法流程圖。首先在步驟S410中控制單元240將采樣相位設定為第二預設相位值(本實施例的第二預設相位值為采樣相位Phl)，接著進入步驟S420，ADC-PLL 210依據(jù)采樣相位Phl對模擬圖像信號AIS采樣，并且模擬信號檢測單元250計算采樣結果之間的絕對誤差和，而絕對誤差和的計算方式請參照圖5，圖5是依照本發(fā)明一實施例說明絕對誤差和的示意圖。由于ADC-PLL 210將獲得的采樣結果(參照圖5的曲線Li)傳送至模擬信號檢測單元250。模擬信號檢測單元250將采樣結果Dll D15相減，且將相減結果取絕對值相加，以求得對應此采樣相位的絕對誤差和SADphl，其算式請參照式(1)SADphl = I D11-D12| + |D12-D13| + |D13-D14| + |D14-D15|+. · · |· · · (1)接著在圖4的步驟S430中，控制單元便依序改變采樣相位，以利用模擬信號檢測單元250依序求得對應每個采樣相位的絕對誤差和。在步驟S440時，控制單元240找出具有最大值的絕對誤差和SADpha，并將其所對應的采樣相位設定為最大高頻相位phM。請繼續(xù)參照圖3，取得最大高頻相位phM后便進入步驟S312，控制單元240利用移動檢測單元230取得對應最大高頻相位phM的移動像素數(shù)MPC_(即移動數(shù)據(jù)數(shù)MDCpm的一例)。在本實施例中，ADC-PLL 210首先依據(jù)最大高頻相位phM對模擬圖像信號AIS進行采樣以求得第一數(shù)字圖像IMl與第二數(shù)字圖像IM2。模擬信號檢測單元250將第一數(shù)字圖像 IMl存儲于存儲單元220中，并且將第二數(shù)字圖像IM2傳送至移動檢測單元230。移動檢測單元230將第一數(shù)字圖像IMl與第二數(shù)字圖像IM2中具有相同水平與垂直位置的像素數(shù)據(jù)兩兩相減，以計算這兩個數(shù)字圖像間的像素數(shù)據(jù)的差異大于第一閾值THl的數(shù)量(即計算像素的移動數(shù)量)，而求得對應最大高頻相位PhM的移動像素數(shù)MPC_。接著，控制單元240在步驟S315中判斷最大的絕對誤差和SADpha大于第三閾值 TH3 (即判斷模擬圖像信號AIS是否為高頻)，并且最大高頻相位phM的移動像素數(shù)MPCpm小于第四閾值TH4時(即判斷模擬信號AS每一周期之間的差異小于評估值)，則可開始對采樣相位進行校準，否則便回到步驟S311繼續(xù)檢測合適的模擬圖像信號AIS，以作為校準采樣相位的依據(jù)。請繼續(xù)參照圖2與圖3，當步驟S310已檢測取得合適的模擬圖像信號AIS后，便進入步驟S320，控制單元240將采樣相位設定為第一預設相位值，本實施例中的第一預設相位值為預設相位phi。接著，步驟S330的ADC-PLL 210依據(jù)采樣相位phi對模擬圖像信號 AIS進行采樣，從而產生多個數(shù)字圖像。在本實施例中，ADC-PLL 210依據(jù)采樣相位phi對模擬圖像信號AIS采樣兩次，以產生第一數(shù)字圖像IMl與第二數(shù)字圖像IM2，其中將第一數(shù)字圖像IMl存于存儲單元220內，并且把第二數(shù)字圖像IM2傳送至移動檢測單元230，而每一個數(shù)字圖像皆包括有多個像素數(shù)據(jù)。在其它實施例中，ADC-PLL 210也可依據(jù)采樣相位 Phl對模擬圖像信號AIS進行多次采樣，從而更加明確地得知頻率抖動對于采樣的影響，在此不多加贅述。取得第一數(shù)字圖像IMl與第二數(shù)字圖像IM2后便進入步驟S340，移動檢測單元 230將第一數(shù)字圖像IMl與第二數(shù)字圖像IM2中具有相同水平與垂直位置的像素數(shù)據(jù)兩兩相減，以計算數(shù)字圖像IMl與IM2之間像素數(shù)據(jù)的差異大于第一閾值THl的數(shù)量(即計算像素的移動數(shù)量)，而求得對應采樣相位Phl的移動像素數(shù)MPCphl。接著在圖3中，控制單元240在步驟S350時改變ADC-PLL 210中的采樣相位， 并通過步驟S330與S340取得對應每一個采樣相位phi的移動像素數(shù)MPCphi，i為整數(shù)且 1 < i < 32。接著，進入步驟S360，控制單元240將移動像素數(shù)MPCphi為最小、或者移動像素數(shù)MPCphi小于第二閾值TH2所對應的采樣相位phi設定為最佳的采樣相位，使得ADC-PLL 210可通過最佳采樣相位來對模擬圖像信號AIS進行正確地采樣，并使頻率抖動的影響降到最低。如果有許多的采樣相位phi符合最佳采樣相位的條件，控制單元240便會從上述符合條件的采樣相位Phi取其中間相位，并將此中間相位設定為最佳采樣相位。在此提出實例數(shù)據(jù)以說明本實施例的步驟S350與S360，假設模擬圖像信號AIS 為576i的圖像信號格式，其中“576”表示垂直方向有576條水平掃描線，而“i”則表示采用隔行掃描視頻顯示方式(interlacedscan)，因此依據(jù)本實施例所求得的對應每一個采樣相位Phi的移動像素數(shù)MPCphi如圖6所示，圖6是依照本發(fā)明實施例說明通過576i的模擬圖像信號AIS所取得對應采樣相位的移動像素數(shù)MPCphi的曲線圖，圖6的橫軸為采樣相位i 的值，i為整數(shù)且1 < i < 32。此外，圖6的縱軸則為對應每個采樣相位phi的移動像素數(shù) MPCphi0由圖6可知，移動像素數(shù)MPCphi最小所對應的采樣相位phi應為采樣相位ph21 ph32，因此在步驟S360中便可將位于中間的采樣相位pM6 (或采樣相位ph27)設定為最佳采樣相位。而在另一實施例中，假設模擬圖像信號AIS為IOSOi的高清晰度圖像信號格式，因此本實施例的對應每一個采樣相位phi的移動像素數(shù)MPCphi便如圖7所示，圖7是依照本發(fā)明實施例說明通過IOSOi的模擬圖像信號AIS所取得對應采樣相位的移動像素數(shù)的曲線圖。由圖7可知，移動像素數(shù)MPCphi小于第二閾值TH2所對應的采樣相位phi應為采樣相位 phll ph21，因此在步驟S360中便可將位于中間的采樣相位phl6設定為最佳采樣相位， 從而取得最佳的采樣質量。綜上所述，本發(fā)明的實施例利用同一個采樣相位對靜態(tài)且高頻的模擬信號進行多次采樣以產生多個周期性數(shù)字信號，并通過移動檢測單元來計算這些周期性數(shù)字信號中具有相同位置且像素數(shù)據(jù)具相當差異的移動數(shù)據(jù)數(shù)。接著，控制單元改變采樣相位以使每一個采樣相位均具有移動數(shù)據(jù)數(shù)，并將移動數(shù)據(jù)數(shù)最小或移動數(shù)據(jù)數(shù)小于某一閾值的采樣相位其中之一設定為最佳采樣相位，使得模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)可通過最佳采樣相位來對模擬信號進行正確地采樣，讓頻率抖動的影響降到最低。 雖然本發(fā)明已描述了上述實施例，但是其并非用以限定本發(fā)明，任何本領域技術人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可進行更動與修改，因此本發(fā)明的保護范圍應當以權利要求所限定的為準。
權利要求
1.一種校準采樣相位的方法，用于模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)中，該校準采樣相位的方法包括設定該采樣相位為第一預設相位值；依據(jù)該采樣相位，對周期性的模擬信號采樣而產生多個數(shù)字信號，每一數(shù)字信號包括多個像素數(shù)據(jù)；計算在所述數(shù)字信號之中相對位置相同的像素數(shù)據(jù)的差異大于第一閾值的數(shù)量，以取得對應該采樣相位的移動數(shù)據(jù)數(shù)；改變該采樣相位，以取得對應每一采樣相位的所述移動數(shù)據(jù)數(shù)；以及將該移動數(shù)據(jù)數(shù)為最小或該移動數(shù)據(jù)數(shù)小于第二閾值所對應的所述采樣相位其中之一設定為最佳采樣相位。
2.根據(jù)權利要求1所述的校準采樣相位的方法，進一步包括檢測該模擬信號，當該模擬信號為高頻且該模擬信號的每一周期之間的差異小于評估值時，開始對該采樣相位進行校準。
3.根據(jù)權利要求2所述的校準采樣相位的方法，其中檢測該模擬信號的步驟包括找出最大高頻相位，其中依據(jù)該最大高頻相位對該模擬信號采樣，并使所獲得的采樣結果之間的絕對誤差和為最大；取得對應該最大高頻相位的該移動數(shù)據(jù)數(shù)；以及當最大的該絕對誤差和大于第三閾值且該移動數(shù)據(jù)數(shù)小于第四閾值時，則開始對該采樣相位進行校準。
4.根據(jù)權利要求3所述的校準采樣相位的方法，其中找出該最大高頻相位的步驟包括設定該采樣相位為第二預設相位值；依據(jù)該采樣相位對該模擬信號采樣，并計算采樣結果之間的該絕對誤差和； 改變該采樣相位，以取得對應每一采樣相位的該絕對誤差和；以及將該絕對誤差和為最大所對應的該采樣相位設定為該最大高頻相位。
5.根據(jù)權利要求1所述的校準采樣相位的方法，其中該模擬信號為模擬圖像信號，則該數(shù)字信號為數(shù)字圖像信號，而所述數(shù)字信號之中相對位置相同的所述像素數(shù)據(jù)為所述數(shù)字圖像信號中在水平與垂直位置相同的像素數(shù)據(jù)。
6.一種校準采樣相位的裝置，耦接至模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)，該模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)依據(jù)該采樣相位對周期性輸入的模擬信號采樣而產生多個數(shù)字信號，每一數(shù)字信號包括多個像素數(shù)據(jù)，該校準采樣相位的裝置包括存儲單元，用以接收并存儲所述像素數(shù)據(jù)；移動檢測單元，耦接至該存儲單元，用以計算在所述數(shù)字信號之中相對位置相同的像素數(shù)據(jù)的差異大于第一閾值的數(shù)量，以取得對應該采樣相位的移動數(shù)據(jù)數(shù)；以及控制單元，耦接至該移動檢測單元，用以改變該采樣相位，以取得對應每一采樣相位的該移動數(shù)據(jù)數(shù)，將該移動數(shù)據(jù)數(shù)為最小或該移動數(shù)據(jù)數(shù)小于第二閾值所對應的所述采樣相位其中之一設定為最佳采樣相位。
7.根據(jù)權利要求6所述的校準采樣相位的裝置，進一步包括模擬信號檢測單元，耦接至該存儲單元、該移動檢測單元與該控制單元，用以檢測該模擬信號，當該模擬信號為高頻且該模擬信號的每一周期之間的差異小于評估值時，該控制單元開始對采樣相位進行校準。
8.根據(jù)權利要求7所述的校準采樣相位的裝置，該模擬信號檢測單元找出最大高頻相位，以依據(jù)該最大高頻相位對該模擬信號采樣，使獲得的采樣結果之間的絕對誤差和為最大，該校準采樣相位的裝置取得對應該最大高頻相位的該移動數(shù)據(jù)數(shù)，當最大的該絕對誤差和大于第三閾值且該移動數(shù)據(jù)數(shù)小于第四閾值時，該控制單元開始對該采樣相位進行校準。
9.根據(jù)權利要求8所述的校準采樣相位的裝置，其中該校準采樣相位的裝置設定該采樣相位為第二預設相位值，以依據(jù)該采樣相位對該模擬信號采樣來計算采樣結果之間的該絕對誤差和，并改變該采樣相位以取得對應每一采樣相位的該絕對誤差和，以把該絕對誤差和為最大所對應的該采樣相位設定為該最大高頻相位。
10.根據(jù)權利要求6所述的校準采樣相位的裝置，其中該模擬信號為模擬圖像信號，則該數(shù)字信號為數(shù)字圖像信號，而所述數(shù)字信號之中相對位置相同的所述像素數(shù)據(jù)為所述數(shù)字圖像信號中在水平與垂直位置相同的像素數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種校準采樣相位的方法及其裝置，適用于模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)。模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)依據(jù)采樣相位對周期性的模擬信號采樣以產生多個數(shù)字信號。校準采樣相位的裝置包括存儲單元、移動檢測單元與控制單元。移動檢測單元用以計算取得對應采樣相位的移動數(shù)據(jù)數(shù)?？刂茊卧罱又烈苿訖z測單元，其可改變采樣相位以取得對應每個采樣相位的移動數(shù)據(jù)數(shù)，并且將移動數(shù)據(jù)數(shù)最小所對應的采樣相位設定為最佳采樣相位。模數(shù)轉換器-鎖相環(huán)可通過最佳采樣相位來對模擬信號進行正確地采樣，并使頻率抖動的影響降到最低。
文檔編號H03M1/12GK102299708SQ201010213578
公開日2011年12月28日 申請日期2010年6月23日 優(yōu)先權日2010年6月23日
發(fā)明者呂威龍, 李瑞耀, 陳謙文 申請人:凌陽科技股份有限公司