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      一種實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號:7510085閱讀:879來源:國知局
      專利名稱:一種實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng)的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及CMOS數(shù)字電路設(shè)計技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng)。
      背景技術(shù)
      模數(shù)轉(zhuǎn)換器(Analog-to-Digital Converter,ADC)是現(xiàn)代通信系統(tǒng)中極其重要的模塊,同時也是限制整個通信系統(tǒng)數(shù)據(jù)處理能力的瓶頸所在。傳統(tǒng)的Nyquist模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其元器件的匹配程度決定了 ADC所能達(dá)到的精度。隨著集成電路的特征尺寸不斷減小,MOS晶體管的二階效應(yīng)愈加顯著,設(shè)計高性能模擬電路所遇到的困難和挑戰(zhàn)越來越大。當(dāng)前的工藝水平可以達(dá)到O. 1% (IObit)的器件匹配精度,然而對于精度為16bit以上的ADC來說,其匹配精度至少為O. 0015%,采用普通MOS工藝無法實(shí)現(xiàn)。 Sigma-Delta ADC 米用過米樣(Over-Sampling)和噪聲整形(Noise-Shaping)技術(shù),有效衰減輸出信號的帶內(nèi)量化噪聲(quantized noise),提高了信號帶內(nèi)信噪比,使得利用粗轉(zhuǎn)換器實(shí)現(xiàn)高精度的模數(shù)轉(zhuǎn)換成為可能。與傳統(tǒng)的Nyquist轉(zhuǎn)換器相比,Sigma-DeltaA/D轉(zhuǎn)換器將提高精度的壓力盡量轉(zhuǎn)移到數(shù)字環(huán)節(jié),充分利用了數(shù)字電路規(guī)模越來越大,速度越來越高而成本日益下降的發(fā)展趨勢,在模擬電路部分降低了對性能指標(biāo)和元器件匹配精度的要求,提高了電路設(shè)計的可行性。Sigma-Delta ADC由Sigma-Delta調(diào)制器和數(shù)字濾波器構(gòu)成,后者為全數(shù)字電路實(shí)現(xiàn),可靠性較高;而調(diào)制器部分大多為模擬電路,其電路的性能決定了整個ADC的性能。評價ADC動態(tài)性能的主要指標(biāo)為信噪比(Signal-to-Noise Ratio, SNR), Sigma-Delta調(diào)制器的理想峰值信噪比(Peak SNR, PSNR)如下式所示PSNR(dB) = IO Iog^ 22Ai j - 20 log^ + 20〔《 + Iog(OSTi)式中OSR為過采樣比(采樣頻率與信號Nyquist率的比值),n為調(diào)制器的階數(shù),N為量化器的位數(shù)。從上述公式可以看到,Sigma-Delta調(diào)制器的信噪比與0SR、n和N有關(guān)。提高調(diào)制器的信噪比,需要提高0SR、η或者N。提高過采樣比0SR,意味著在信號帶寬的一定的條件下提高采樣頻率,當(dāng)信號帶寬達(dá)到MHz數(shù)量級時,一味的提高時鐘的采樣頻率,一方面電路功耗會急劇的增加,另一方面由于工藝條件限制而無法實(shí)現(xiàn);提高調(diào)制器的階數(shù)η,由于Sigma-Delta調(diào)制器是一個非線性的負(fù)反饋閉環(huán)系統(tǒng),調(diào)制器階數(shù)大于2會造成系統(tǒng)不穩(wěn)定,使量化器過載進(jìn)而使得調(diào)制器的性能急速下降。較為合適的方式是通過提高量化器的位數(shù)N來提高調(diào)制器的性能,而且提高N還會使得高階調(diào)制器的穩(wěn)定性增強(qiáng),量化器的穩(wěn)定輸入范圍增大,而對調(diào)制器不會造成影響。然而采用多位量化器,在反饋回路中就會用到多位DAC,而DAC的精度對調(diào)制器的影響很大,以一階調(diào)制器多位量化器為例,X(Z)輸入信號,Eq(z)為多位量化器的量化噪聲,Ed(Z)為反饋DAC的非線性誤差引入的噪聲,下式為傳輸函數(shù)Y(z) = z_1X (Z)+ (K1)Eq (Z)-Z-1Ed (Z)
      由上式可以看出,由多位DAC產(chǎn)生的非線性誤差并沒有像量化噪聲那樣受到反饋環(huán)路的調(diào)制作用,因此,整個調(diào)制器的精度受限于多位反饋DAC的精度。

      發(fā)明內(nèi)容
      (一 )要解決的技術(shù)問題為了解決多位量化Sigma-Delta調(diào)制器中多位DAC的非線性問題,本發(fā)明提出了一種實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均(DWA)算法的系統(tǒng)。(二)技術(shù)方案為達(dá)到上述目的,本發(fā)明提供了一種實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng),該系統(tǒng)包括編碼電路10、全加器電路11、循環(huán)對數(shù)移位電路12、寄存器組電路13和時序調(diào)整驅(qū)動電路14,其中編碼電路10,用于接收輸入的溫度計碼,輸出二進(jìn)制碼至全加器電路11 ;全加器電路,用于對當(dāng)前時鐘周期與前一時鐘周期產(chǎn)生的二進(jìn)制碼求和,將輸出進(jìn)位信號作為輸入進(jìn)位信號進(jìn)行累加,并將所得數(shù)據(jù)輸出至循環(huán)對數(shù)移位電路12 ;循環(huán)對數(shù)移位電路12,用于根據(jù)存入寄存器組電路13的數(shù)據(jù)對輸入的溫度計碼進(jìn)行相應(yīng)的移位操作,最后將移位后的數(shù)據(jù)輸出至?xí)r序調(diào)整驅(qū)動電路14 ;時序調(diào)整驅(qū)動電路14,用于將循環(huán)對數(shù)移位電路12輸入的移位后的數(shù)據(jù)按照正確的時序輸出。上述方案中,所述編碼電路10包括溫度計碼轉(zhuǎn)獨(dú)熱碼電路和獨(dú)熱碼轉(zhuǎn)二進(jìn)制碼電路兩個部分,其中溫度計碼轉(zhuǎn)獨(dú)熱碼電路的輸入端接收輸入的溫度計碼,輸出相應(yīng)的獨(dú)熱碼至獨(dú)熱碼轉(zhuǎn)二進(jìn)制碼電路,最后獨(dú)熱碼轉(zhuǎn)二進(jìn)制碼電路輸出對應(yīng)的傳統(tǒng)二進(jìn)制碼至全加器電路11。上述方案中,所述全加器電路11采用延遲路徑較小的傳輸門結(jié)構(gòu),其兩個加數(shù)的輸入端分別為當(dāng)前時鐘周期的二進(jìn)制輸出信號以及前一時鐘周期的二進(jìn)制輸出信號,全加器電路11的進(jìn)位輸入信號為當(dāng)前時鐘周期的全加器進(jìn)位輸出信號;加法完成后,將數(shù)據(jù)輸入至寄存器組電路13。上述方案中,所述循環(huán)對數(shù)移位電路12采用NMOS管作為移位電路的主體,根據(jù)全加器的求和輸出信號(S11-S13、S11Q-S13Q)對輸入的溫度計碼分別進(jìn)行I位、2位和4位的移位操作,將移位后的數(shù)據(jù)輸出至?xí)r序調(diào)整和驅(qū)動電路。上述方案中,所述寄存器組電路13采用電平觸發(fā)的鎖存器電路結(jié)構(gòu),共六個鎖存器,分成三組,每組兩個級聯(lián)構(gòu)成D型觸發(fā)器。所述全加器電路11的輸出在兩相不交疊時鐘clkl時,輸入至寄存器組電路13,鎖定前一時鐘周期的全加器電路11輸出信號;在兩項(xiàng)不交疊時鐘clk2時,鎖定當(dāng)前時鐘周期的全加器電路11輸出信號,并輸出信號S11-S13、 S11Q-S13Q控制循環(huán)對數(shù)移位電路12。上述方案中,所述時序調(diào)整和驅(qū)動電路14的輸入來自循環(huán)對數(shù)移位電路12,由于循環(huán)對數(shù)移位電路12采用NMOS開關(guān),高電平信號在傳輸過程中存在閾值損失,所以首先對輸入信號進(jìn)行電平恢復(fù),然后進(jìn)入時序調(diào)整電路14,使得信號在正確的時鐘信號下在通路上傳輸,最后經(jīng)過時序調(diào)整驅(qū)動電路14將信號輸出。(三)有益效果
      本發(fā)明提供的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng),采用新型的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)以及雙鎖存器、對數(shù)移位電路方法來實(shí)現(xiàn)DWA算法,在算法實(shí)現(xiàn)過程中,輸入溫度計碼的數(shù)據(jù)通路只采用NMOS開關(guān)和驅(qū)動電路,而控制通路采用鎖存器控制,相對于傳統(tǒng)的數(shù)據(jù)選擇和觸發(fā)器控制,有效的減少了所用元器件的數(shù)量,進(jìn)而降低了輸出數(shù)據(jù)的傳輸和延遲時間,非常適用于寬帶高精度高采樣率的多位量化Sigma-Delta調(diào)制器電路。


      圖I是依照本發(fā)明實(shí)施例的采用的DWA算法的示意圖;圖2是依照本發(fā)明實(shí)施例的用于高精度多位量化Sigma-Delta調(diào)制器的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;圖3是依照本發(fā)明實(shí)施例的編碼電路示意圖;圖4是傳統(tǒng)的基于傳輸門的全加器電路不意圖;圖5是依照本發(fā)明實(shí)施例的寄存器組電路示意圖;圖6是依照本發(fā)明實(shí)施例的循環(huán)對數(shù)移位電路示意圖;圖7是依照本發(fā)明實(shí)施例的時序調(diào)整和驅(qū)動電路不意圖; 圖8是依照本發(fā)明實(shí)施例的在時鐘頻率200MHz情況下的波形圖;圖9是依照本發(fā)明實(shí)施例的DWA算法電路關(guān)閉、DAC失配5%。時Sigma-Delta調(diào)制器的輸出功率譜密度圖;圖10是依照本發(fā)明實(shí)施例的DWA算法電路開啟、DAC失配5%。時Sigma-Delta調(diào)制器的輸出功率譜密度圖。
      具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合具體實(shí)施例,并參照附圖,對本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說明。為了解決多位DAC的非線性問題,人們提出了許多DAC的線性化技術(shù)和方法,其中比較實(shí)用和簡單的是數(shù)據(jù)加權(quán)平均(DWA)算法。此算法的基本思想是使每一個數(shù)據(jù)(Element)用到的次數(shù)基本相等,將各個數(shù)據(jù)的差值進(jìn)行平均,其基本原理是使用一個單元指針用來定位,每一次轉(zhuǎn)換后把單元指針定位到本次使用單元序列的結(jié)尾,因此在下一次選取序列時是按照單元序列的擺放順序繼續(xù)選取的。圖I以3bit的DAC為例來說明,橫向數(shù)字代表DAC的編號(共7個),縱向數(shù)字代表每次選擇DAC的個數(shù)(共6次),每行的黑色陰影區(qū)域則代表被選取的DAC的編號。參見圖2,圖2是依照本發(fā)明實(shí)施例的用于高精度多位量化Sigma-Delta調(diào)制 器的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖,該系統(tǒng)包括編碼電路(Encoder) 10、全力口器電路(Full Adder) 11、循環(huán)對數(shù)移位電路(Cycle Log-Shifter) 12、寄存器組電路(Registers) 13 和時序調(diào)整驅(qū)動電路(Timing Adjustment and Drivers) 14 五大部分。編碼電路將輸入的溫度計碼轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制碼輸出,并輸入至全加器電路。全加器電路將當(dāng)前時鐘周期產(chǎn)生的二進(jìn)制數(shù)據(jù)與前一時鐘周期的二進(jìn)制數(shù)據(jù)進(jìn)行相加,然后再與當(dāng)前時鐘周期全加器產(chǎn)生的進(jìn)位輸出信號累加,得到當(dāng)前時鐘周期的最后數(shù)據(jù)(S3,S2,S1)。循環(huán)對數(shù)移位電路,將輸入的溫度計碼根據(jù)當(dāng)前時鐘周期全加器的輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行相應(yīng)的移位。寄存器組電路,用于存儲當(dāng)前的旋轉(zhuǎn)指針。時序調(diào)整驅(qū)動電路,采用CMOS開關(guān)控制電路時序,另外加入緩沖器驅(qū)動后級電路。其中,所述編碼電路10接收輸入的溫度計碼,輸出響應(yīng)的二進(jìn)制碼至全加器電路11,全加器電路將當(dāng)前時鐘周期和前一時鐘周期產(chǎn)生的二進(jìn)制碼求和,并將輸出進(jìn)位信號作為輸入進(jìn)位信號進(jìn)行累加,所得數(shù)據(jù)輸出至循環(huán)對數(shù)移位電路12,循環(huán)對數(shù)移位電路根據(jù)存入寄存器組13的數(shù)據(jù)對輸入的溫度計碼進(jìn)行相應(yīng)的移位操作,最后將移位后的數(shù)據(jù)經(jīng)過時序調(diào)整驅(qū)動電路14,按照正確的時序輸出。
      參見圖3,編碼電路10包括兩個部分,溫度計碼轉(zhuǎn)獨(dú)熱碼電路和獨(dú)熱碼轉(zhuǎn)二進(jìn)制碼電路。溫度計碼轉(zhuǎn)獨(dú)熱碼電路的輸入端接收輸入的溫度計碼,輸出相應(yīng)的代碼至獨(dú)熱碼轉(zhuǎn)二進(jìn)制碼電路,最后輸出對應(yīng)的傳統(tǒng)二進(jìn)制碼至全加器電路11。本發(fā)明采用傳統(tǒng)的級聯(lián)3bit全加器電路11,其電路如圖4所示,由于內(nèi)部信號通路均采用CMOS傳輸門,相對于采用普通門級電路搭建的電路,信號的延遲時間有較大的降低。另外,本發(fā)明的系統(tǒng)要求全加器的進(jìn)位輸出信號與進(jìn)位輸入信號相連形成累加器,所以要求全加器的進(jìn)位輸出信號的延遲時間盡可能小,采用基于傳輸門的加法器電路是比較合適的選擇。由于本發(fā)明設(shè)計的量化器為3bit,因此,全加器、寄存器組和循環(huán)對數(shù)移位電路的控制端均為3bit。圖5所示的是3bit的寄存器組電路,用于存儲移位指針。輸入數(shù)據(jù)(S3,S2, SI)接收全加器的輸出求和信號,Clkl和Clk2為兩相不交疊時鐘信號,用于對鎖存器的控制,輸出信號包括兩組,分別為(S11-S13)和(S10-S30)。其中S1-S10,S2-S20和S3-S30可以認(rèn)為是3組觸發(fā)器,由Clkl的上升沿觸發(fā)。當(dāng)Clkl為低電平,Clk2為高電平時,信號Sll = SI,而SlO鎖存前一時鐘Clkl的數(shù)據(jù);當(dāng)Clkl為高電平,Clk2為低電平時,SlO =S11,而Sll鎖存前一時鐘Clk2的數(shù)據(jù)。輸出數(shù)據(jù)SI 1-S13用于控制循環(huán)移位電路,而另外一組數(shù)據(jù)S10-S30輸出至全加器。3bit循環(huán)移位電路如圖6所示,輸入信號依次經(jīng)過Ibit移位(Log-Shifterlbit),2bit 移位(Log-Shifter 2bit)和 4bit 移位(Log-Shi f ter4b i t)三個模塊,其主要作用是將輸入的溫度計碼In[6:0]根據(jù)控制信號(S11-S31,S11Q-S31Q)進(jìn)行循環(huán)移位,然后至輸出端Out [6:0]。循環(huán)移位電路接收輸入的溫度計碼In [6:0],先經(jīng)過Log-ShifterIbit模塊,當(dāng)Clkl為高電平,Sll為高電平,SllQ為低電平時,模塊中晶體管M11-M17開啟,而晶體管Ml 1B-M17B截止,輸出信號為輸入信號In [6:0]向左移動一位,并且最高位移至最低位,完成Ibit循環(huán)移位操作。當(dāng)Clkl為高電平,Sll為低電平,SllQ為高電平時,則晶體管Ml 1-M17截止,而晶體管Ml 1B-M17B開啟,Log-Shifter Ibit模塊不對輸入信號進(jìn)行移位操作,輸出信號與輸入信號相同。同理,在信號通過Log-Shifter 2bit、Log_Shifter 4bit模塊時,根據(jù)控制信號S21、S21Q和S31、S31Q來決定是否對輸入信號進(jìn)行2bit和4bit循環(huán)移位操作。所以,根據(jù)控制信號S11-S13,S11Q-S13Q的電平狀態(tài),對輸入信號分別進(jìn)行l(wèi)bit-7bit的移位操作。圖7所示的時序調(diào)整和驅(qū)動電路,包括緩沖器(Buffer),開關(guān)電路(Switches)和驅(qū)動電路(Drivers)三大部分,每部分電路包含結(jié)構(gòu)相同的7個部分,實(shí)現(xiàn)相同的功能。緩沖器電路包含兩個級聯(lián)的反相器,用于恢復(fù)損失的CMOS邏輯電平。由于前端的循環(huán)移位電路信號通路采用NMOS開關(guān),高電平通過時存在閾值損失,在低電源電壓工作條件下會造成延遲時間過長,甚至?xí)斐蛇壿嬪e誤。加入緩沖器電路有助于提高電路的工作速度和穩(wěn)定性。信號經(jīng)過Buffer電路整形后進(jìn)入開關(guān)電路,被時鐘Clkl采樣、保持,開關(guān)電路由7個相同的CMOS開關(guān)構(gòu)成,隨即信號進(jìn)入驅(qū)動電路,驅(qū)動電路同樣包括7組相同的子電路,每組子電路包括2個反相器和一個與門。信號經(jīng)過驅(qū)動電路后,先經(jīng)過I個反相器(INV1-INV7)以增加驅(qū)動能力,然后進(jìn)入與門,與時鐘信號進(jìn)行‘與’操作,最后在經(jīng)過后級驅(qū)動反相器(INV8-INV14)后輸出 Out[6:0]。在整個系統(tǒng)中,輸出數(shù)據(jù)0ut[6:0]與輸入溫度計碼In[6:0]相比有如下特點(diǎn)I.數(shù)據(jù)被循環(huán)移位。舉例如下如圖I所示,第一個時鐘周期的輸入溫度計碼為1100000,那么本時鐘周期結(jié)束時指針為2,即最后被選中的DAC編號為2 ;接著第二個時鐘周期輸入的溫度計碼為1111100,則輸入數(shù)據(jù)被向右移動2位,輸出數(shù)據(jù)為0011111,本時鐘周期結(jié)束時指針為7,即最后被選中的DAC編號為7 ;第三個時鐘周期輸入數(shù)據(jù)為1111000,則輸入數(shù)據(jù)被向右移動7位(2位+5位),輸出數(shù)據(jù)為1111000,則依次類推。2.輸出數(shù)據(jù)受Clk2信號的控制,這是由Sigma-Delta調(diào)制器的需要決定的,只有在Clk2為高電平的半個時鐘周期內(nèi),輸出數(shù)據(jù)Out[6:0]才有效。
      圖8是DWA算法電路工作在200MHz時鐘頻率時的波形圖,圖中顯示電路工作正常。圖9和圖10分別為Sigma-Delta調(diào)制器的電容匹配精度為5%。時,DffA算法電路關(guān)閉和開啟時的功率譜密度圖。從圖9可以看到,當(dāng)DWA算法電路關(guān)閉時,由于存在電容的失配,所以輸出信號的頻譜圖出現(xiàn)較多的諧波,并且諧波的功率較大,造成整個調(diào)制器的動態(tài)范圍和信噪比很低;圖10是存在同樣的電容失配時,實(shí)現(xiàn)的DWA算法電路開啟時的頻譜圖,圖中由于使用提出的DWA算法電路,電容的失配被平均化,諧波被明顯抑制,獲得了較高的動態(tài)范圍和信噪比,技術(shù)效果明顯。綜上所述,本發(fā)明有如下技術(shù)特征(I)提出了一種用于高精度多位量化Sigma-Delta調(diào)制器的數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的新型實(shí)現(xiàn)方法,采用合理的時鐘分配方案,有效的提高了電路的工作頻率,(2)在控制通路采用鎖存器,在數(shù)據(jù)通路選擇循環(huán)對數(shù)移位電路,相對于傳統(tǒng)的數(shù)據(jù)選擇和觸發(fā)器控制,有效的減少了所用元器件的數(shù)量,進(jìn)而減少了輸出數(shù)據(jù)的傳輸和延遲時間,⑶本發(fā)明采用的電路均為3bit結(jié)構(gòu),增加輸出信號的位數(shù)只需要增加編碼器、全加器、循環(huán)移位器、寄存器組和時序調(diào)整和驅(qū)動電路的輸入輸出端口數(shù)量,即可實(shí)現(xiàn)2n-l的輸出位數(shù)(η為編碼器的輸出位數(shù)),拓展性好。以上所述的具體實(shí)施例,對本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明,所應(yīng)理解的是,以上所述僅為本發(fā)明的具體實(shí)施例而已,并不用于限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
      權(quán)利要求
      1.一種實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng),其特征在于,該系統(tǒng)包括編碼電路(10)、全加器電路(11)、循環(huán)對數(shù)移位電路(12)、寄存器組電路(13)和時序調(diào)整驅(qū)動電路(14),其中 編碼電路(10),用于接收輸入的溫度計碼,輸出二進(jìn)制碼至全加器電路(11); 全加器電路,用于對當(dāng)前時鐘周期與前一時鐘周期產(chǎn)生的二進(jìn)制碼求和,將輸出進(jìn)位信號作為輸入進(jìn)位信號進(jìn)行累加,并將所得數(shù)據(jù)輸出至循環(huán)對數(shù)移位電路(12); 循環(huán)對數(shù)移位電路(12),用于根據(jù)存入寄存器組電路(13)的數(shù)據(jù) 對輸入的溫度計碼進(jìn)行相應(yīng)的移位操作,最后將移位后的數(shù)據(jù)輸出至?xí)r序調(diào)整驅(qū)動電路(14); 時序調(diào)整驅(qū)動電路(14),用于將循環(huán)對數(shù)移位電路(12)輸入的移位后的數(shù)據(jù)按照正確的時序輸出。
      2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng),其特征在于,所述編碼電路(10)包括溫度計碼轉(zhuǎn)獨(dú)熱碼電路和獨(dú)熱碼轉(zhuǎn)二進(jìn)制碼電路兩個部分,其中溫度計碼轉(zhuǎn)獨(dú)熱碼電路的輸入端接收輸入的溫度計碼,輸出相應(yīng)的獨(dú)熱碼至獨(dú)熱碼轉(zhuǎn)二進(jìn)制碼電路,最后獨(dú)熱碼轉(zhuǎn)二進(jìn)制碼電路輸出對應(yīng)的傳統(tǒng)二進(jìn)制碼至全加器電路(11)。
      3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng),其特征在于,所述全加器電路(11)采用延遲路徑較小的傳輸門結(jié)構(gòu),其兩個加數(shù)的輸入端分別為當(dāng)前時鐘周期的二進(jìn)制輸出信號以及前一時鐘周期的二進(jìn)制輸出信號,全加器電路(11)的進(jìn)位輸入信號為當(dāng)前時鐘周期的全加器進(jìn)位輸出信號;加法完成后,將數(shù)據(jù)輸入至寄存器組電路(13)。
      4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng),其特征在于,所述循環(huán)對數(shù)移位電路(12)采用NMOS管作為移位電路的主體,根據(jù)全加器的求和輸出信號(S11-S13、S11Q-S13Q)對輸入的溫度計碼分別進(jìn)行I位、2位和4位的移位操作,將移位后的數(shù)據(jù)輸出至?xí)r序調(diào)整和驅(qū)動電路。
      5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng),其特征在于,所述寄存器組電路(13)采用電平觸發(fā)的鎖存器電路結(jié)構(gòu),共六個鎖存器,分成三組,每組兩個級聯(lián)構(gòu)成D型觸發(fā)器。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng),其特征在于,所述全加器電路(11)的輸出在兩相不交疊時鐘clkl時,輸入至寄存器組電路(13),鎖定前一時鐘周期的全加器電路(11)輸出信號;在兩項(xiàng)不交疊時鐘clk2時,鎖定當(dāng)前時鐘周期的全加器電路(11)輸出信號,并輸出信號S11-S13、S11Q-S13Q控制循環(huán)對數(shù)移位電路(12)。
      7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng),其特征在于,所述時序調(diào)整和驅(qū)動電路(14)的輸入來自循環(huán)對數(shù)移位電路(12),由于循環(huán)對數(shù)移位電路(12)采用NMOS開關(guān),高電平信號在傳輸過程中存在閾值損失,所以首先對輸入信號進(jìn)行電平恢復(fù),然后進(jìn)入時序調(diào)整電路(14),使得信號在正確的時鐘信號下在通路上傳輸,最后經(jīng)過時序調(diào)整驅(qū)動電路(14)將信號輸出。
      全文摘要
      本發(fā)明公開了一種實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加權(quán)平均算法的系統(tǒng),包括編碼電路,用于接收輸入的溫度計碼,輸出二進(jìn)制碼至全加器電路;全加器電路,用于對當(dāng)前時鐘周期與前一時鐘周期產(chǎn)生的二進(jìn)制碼求和,將輸出進(jìn)位信號作為輸入進(jìn)位信號進(jìn)行累加;循環(huán)對數(shù)移位電路,用于根據(jù)存入寄存器組電路的數(shù)據(jù)對輸入的溫度計碼進(jìn)行相應(yīng)的移位操作,最后將移位后的數(shù)據(jù)輸出至?xí)r序調(diào)整驅(qū)動電路;時序調(diào)整驅(qū)動電路,用于將循環(huán)對數(shù)移位電路輸入的移位后的數(shù)據(jù)按照正確的時序輸出。本發(fā)明電路結(jié)構(gòu)簡單,總體延遲時間小,使用晶體管的數(shù)量少,工作速度快,可使算法電路工作在百兆赫茲的時鐘頻率上,適用于高精度多位量化的高采樣率開關(guān)電容Sigma-Delta調(diào)制器中。
      文檔編號H03M1/12GK102638264SQ20121012611
      公開日2012年8月15日 申請日期2012年4月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月26日
      發(fā)明者范軍, 黑勇 申請人:中國科學(xué)院微電子研究所
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