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      一種遲滯可控的同步比較器的制造方法

      文檔序號:7542030閱讀:279來源:國知局
      一種遲滯可控的同步比較器的制造方法
      【專利摘要】本發(fā)明提出一種遲滯可控的同步比較器,包括同步比較器模塊、鎖存單元和反饋回路;反饋回路對稱設(shè)置在同步比較器模塊兩邊,并根據(jù)控制要求,增設(shè)所述反饋模塊的數(shù)量,實現(xiàn)遲滯可調(diào)的同步比較器。本發(fā)明的遲滯可控的同步比較器和傳統(tǒng)的同步比較器相比,增加了至少一組的反饋回路,實現(xiàn)了遲滯數(shù)字可控,并且有效避免了輸入信號的干擾造成的輸出波動,避免了輸出過于敏感,解決了傳統(tǒng)的同步比較器的穩(wěn)定性問題。
      【專利說明】—種遲滯可控的同步比較器
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明屬于模擬集成電路領(lǐng)域,具體涉及一種遲滯可控的同步比較器。
      【背景技術(shù)】
      [0002]傳統(tǒng)的同步比較器在控制系統(tǒng)中有著廣泛的應(yīng)用,其主要應(yīng)用在控制系統(tǒng),進行數(shù)據(jù)控制。傳統(tǒng)的帶有輸出鎖存的同步比較器如圖1所示,包括同步比較器模塊和鎖存模塊。
      [0003]圖1所示的同步比較器是在基本的同步比較器電路中加上了鎖存功能。然而,這種同步比較器不包含遲滯,在控制系統(tǒng)中如果待比較信號幅度接近,在噪聲的影響下,比較器的輸出將會高速反轉(zhuǎn),從而使得整個系統(tǒng)處于不穩(wěn)定的狀態(tài)。傳統(tǒng)的方法如加入數(shù)字濾波器等手段,系統(tǒng)復(fù)雜度和功耗都會很高。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明提出一種遲滯可控的同步比較器,通過引入一組反饋回路,使得遲滯數(shù)字可控,避免了輸出過于敏感,有效的解決了傳統(tǒng)的同步比較器的穩(wěn)定性問題。
      [0005]本發(fā)明提供的一種遲滯可控的同步比較器,包括同步比較器模塊和鎖存單元;所述同步比較器模塊中,第一晶體管M1的柵極接偏置電壓Φ,源極接地;第二晶體管M2的柵極接輸入端Cp,源極接所述第一晶體管M1的漏極;第三晶體管M3的柵極接輸入端Cn,源極接所述第一晶體管M1的漏極;第四晶體管M4的源極和所述第二晶體管M2的漏極相連;第五晶體管M5的源極與所述第三晶體管M3的漏極相連;第六晶體管M6的柵極接接偏置電壓Φ,其源極接工作電壓VDD,其漏極與所述第四晶體管M4的漏極相連;第七晶體管M7的柵極接接偏置電壓Φ,其源極接工作電壓VDD,其漏極與所述第五晶體管M5的漏極相連;第八晶體管隊的柵極與所述第五晶體管M5的漏極相連,其源極接工作電壓VDD,其漏極與所述第四晶體管M4的漏極和所述第六晶體管M6的漏極相連;第九晶體管M9的柵極與所述第四晶體管M4的漏極相連,其源極接工作電壓VDD,其漏極與所述第五晶體管M5的漏極和所述第七晶體管M7的漏極相連;
      [0006]所述鎖存單元中,與非門G1的第一輸入口與所述第八晶體管M8的柵極相連,其第二輸入口與輸出端子Op相連;與非門G2的第一輸入口與所述第九晶體管M9的柵極相連,其第二輸入口與輸出端子On相連;
      [0007]其改進之處在于,所述同步比較器包括至少兩路的反饋模塊,其對稱設(shè)置在所述同步比較器模塊兩邊,并根據(jù)控制要求,增設(shè)所述反饋模塊的數(shù)量,實現(xiàn)遲滯可調(diào)的同步比較器。
      [0008]其中,所述反饋模塊包括第十晶體管Mn、第十一晶體管M31、第十二晶體管M41和與門A1 ;
      [0009]所述第十晶體管M11的源極與所述第二晶體管M2的源極相連;[0010]所述第十一晶體管M31的柵極與所述第二晶體管M2的柵極相連,其源極與所述第十晶體管M11的漏極相連,其漏極與所述第四晶體管M4的源極相連;
      [0011]所述第十二晶體管M41的柵極接接偏置電壓Φ,其源極接工作電壓VDD,其漏極與所述第十一晶體管M31的漏極相連;
      [0012]所述與門A1的第一輸入口與控制信號Hcl相連,其第二輸入口與所述輸出端子Op相連,其輸出口與所述第十晶體管M11的柵極相連。
      [0013]其中,所述第一晶體管M1、第二晶體管M2、第三晶體管M3、第四晶體管M4、第五晶體管M5、第十晶體管M11和第 一晶體管M31均為NMOS晶體管。
      [0014]其中,所述第六晶體管M6、第七晶體管M7、第八晶體管M8、第九晶體管M9和第十二晶體管M41均為PMOS晶體管。
      [0015]其中,反饋模塊中,所述與門A1作為反饋開關(guān),由所述第十晶體管M11和第十二晶體管M41提供偏置電平,第十一晶體管M31控制遲滯閾值。
      [0016]其中,當反饋模塊為兩個以上時,每組反饋模塊中:
      [0017]與所述第十晶體管M11同作用的晶體管,其源極與所述第十晶體管M11的源極相連;
      [0018]與所述第十一晶體管M31同作用的晶體管,其柵極與所述第二晶體管M2的柵極相連,其漏極與所述第四晶體管M4的源極相連。
      [0019]其中,所述第二晶體管M2的柵極通過電阻與所述反饋模塊中的晶體管連接;
      [0020]所述第三晶體管M3的柵極通過電阻與所述反饋模塊中的晶體管連接。
      [0021]與現(xiàn)有技術(shù)比,本發(fā)明的有益效果為:
      [0022]本發(fā)明的遲滯可控的同步比較器和傳統(tǒng)的同步比較器相比,增加了至少一組的反饋回路,實現(xiàn)了遲滯數(shù)字可控,并且有效避免了輸入信號的干擾造成的輸出波動,避免了輸出過于敏感,解決了傳統(tǒng)的同步比較器的穩(wěn)定性問題。
      [0023]本發(fā)明解決傳統(tǒng)的同步比較器穩(wěn)定性問題的方法,相比傳統(tǒng)的加入數(shù)字濾波器等解決手段,降低系統(tǒng)復(fù)雜度,也節(jié)省了功耗。
      [0024]本發(fā)明在同步比較器鎖定的時候,同步比較器模塊和反饋模塊不消耗電流,節(jié)省了功耗。
      [0025]本發(fā)明完全兼容CMOS工藝,可以在芯片上集成,系統(tǒng)簡單,功耗低。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0026]圖1是現(xiàn)有的含輸出鎖存的同步比較器的具體實現(xiàn)電路;
      [0027]圖2是本發(fā)明遲滯可控的同步比較器的具體實現(xiàn)電路。
      [0028]圖中=M1-M41分別為第一晶體管至第十二晶體管;0ρ、0η為輸出端子而、62為非門;Hcl-Hci為控制信號;Cp、Cn為輸入信號;Φ為偏置電壓;VDD為工作電壓。
      【具體實施方式】
      [0029]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】作進一步的詳細說明。
      [0030]本實施例提出的一種遲滯可控的同步比較器,包括同步比較器模塊、鎖存單元和反饋模塊。[0031]現(xiàn)有技術(shù)中,同步比較器模塊和鎖存單元的結(jié)構(gòu)如圖1所示,其中:
      [0032]同步比較器模塊的結(jié)構(gòu)為:第一晶體管M1的柵極接偏置電壓Φ,源極接地;第二晶體管M2的柵極接輸入端Cp,源極接第一晶體管M1的漏極;第三晶體管M3的柵極接輸入端Cn,源極接第一晶體管M1的漏極;第四晶體管M4的源極和第二晶體管M2的漏極相連;第五晶體管M5的源極與第三晶體管M3的漏極相連;第六晶體管M6的柵極接接偏置電壓Φ,源極接工作電壓VDD,第六晶體管M6的漏極與第四晶體管M4的漏極相連;第七晶體管M7的柵極接接偏置電壓Φ,源極接工作電壓VDD,第七晶體管M7的漏極與第五晶體管M5的漏極相連;第八晶體管M8的柵極與第五晶體管M5的漏極相連,第八晶體管M8的源極接工作電壓VDD,第八晶體管M8的漏極與第四晶體管M4的漏極和第六晶體管M6的漏極相連;第九晶體管M9的柵極與第四晶體管M4的漏極相連,第九晶體管M9的源極接工作電壓VDD,第九晶體管M9的漏極與第五晶體管M5的漏極和第七晶體管M7的漏極相連;第十晶體管M11的源極與第二晶體管M2的源極相連;第十一晶體管M31的柵極與第二晶體管M2的柵極相連,第十一晶體管M31的源極與第十晶體管M11的漏極相連,第十一晶體管M31的漏極與第四晶體管M4的源極相連;第十二晶體管M41的柵極接接偏置電壓Φ,源極接工作電壓VDD,第十二晶體管M41漏極與第十一晶體管M31的漏極相連;
      [0033]鎖存單元的結(jié)構(gòu)為:與非門G1的輸入1與晶體管八M8的柵極相連,與非門G1的輸入2與輸出端子Op相連;與非門G2的輸入1與晶體管九M9的柵極相連,與非門G2的輸入2與輸出端子On相連。
      [0034]在此之上,本實施例在同步比較器模塊兩邊對稱設(shè)置至少一組的反饋模塊,其根據(jù)控制要求,增設(shè)所述反饋模塊的數(shù)量,實現(xiàn)遲滯可調(diào)的同步比較器,從而增大了控制范圍。其結(jié)構(gòu)如圖2所示。每個反饋模塊的結(jié)構(gòu)均相同,本實施例以設(shè)置在同步比較器模塊左邊的反饋模塊為例說明。
      [0035]反饋模塊包括第十晶體管M11、第十一晶體管M31、第十二晶體管M41和與門A1 ;第十晶體管M11的源極與第二晶體管M2的源極相連;第十一晶體管M31的柵極與第二晶體管M2的柵極相連,第十一晶體管M31的源極與第十晶體管M11的漏極相連,第十一晶體管M31的漏極與第四晶體管M4的源極相連;第十二晶體管M41的柵極接接偏置電壓Φ,源極接工作電壓,第十二晶體管M41漏極與第十一晶體管的漏極相連;與門Al的第一輸入口1與控制信號Hcl相連,與門Al的第二輸入口 2與輸出端子Op相連,與門Al的輸出口與第十晶體管M11的柵極相連。
      [0036]以第一組反饋回路為例,第一組反饋回路從輸出端子On和Op連接到同步比較器模塊的輸入。反饋回路中與門A1作為反饋開關(guān),晶體管十M11和晶體管十二 M41提供偏置電平,晶體管十一 M31控制遲滯閾值。當控制信號Hcl為高電平時,與門A1輸出為高電平,使得晶體管十Mn、晶體管十一 M31和晶體管十二 M41處于導(dǎo)通狀態(tài),反饋模塊的輸出信號順利輸入到同步比較器模塊中。
      [0037]當同步比較器模塊鎖定時,如反饋模塊中晶體管十Mn、晶體管十一M31和晶體管十二 M41導(dǎo)通后,由于偏置電壓Φ為低電平,使得晶體管一 M1截止,這就使得同步比較器模塊和反饋回路截止,從而節(jié)省了電路的功耗。
      [0038]根據(jù)控制要求,例如控制范圍大時,當反饋模塊為兩個以上時,每組反饋模塊中:與第十晶體管M11同作用的晶體管(圖中為與M11并排的,如Mli,其余用省略號代替),其源極與第十晶體管M11的源極相連;與第十一晶體管M31同作用的晶體管(圖中為與M31并排的,如M3i,其余用省略號代替),其柵極與第二晶體管M2的柵極相連,其漏極與第四晶體管M4的源極相連。
      [0039]值得注意的是,每個與第二晶體管M2的柵極連接的晶體管,其均通過電阻與第二晶體管M2的柵極連接,該電阻用于防止電流過大擊穿晶體管。每個與第三晶體管M3的柵極連接的晶體管,均通過電阻與第三晶體管M3的柵極連接。
      [0040]本實施例的同步比較器,實現(xiàn)遲滯可控的工作原理如下:
      [0041]鎖存模塊包含一對與非門G1和G2將輸出端子On和Op上的輸出信號進行鎖存,一組反饋回路從輸出端子On和Op連接到同步比較器模塊中的輸入。
      [0042]第一個反饋回路(圖中標為I)包含一個與門A1作為反饋開關(guān),第二個反饋回路(圖中與I同在一邊,未畫出)包含一個與門A2作為反饋開關(guān),以此類推,第i個反饋回路包含一個與門Ai作為反饋開關(guān)。第一個反饋回路中由第十晶體管M11和第十二晶體管M41提供偏置電平,第十一晶體管M31控制遲滯閾值。第十一晶體管M31門極偏置設(shè)置為比較器輸入的均值,從而避免了遲滯被輸入的變化所影響。反饋回路可以被控制信號Hcl打開或關(guān)斷。
      [0043]第二個反饋回路包含一個與門A2作為反饋開關(guān),第二個反饋回路中由晶體管M12和晶體管M42提供偏置電平,晶體管M32控制遲滯閾值。晶體管M32門極偏置設(shè)置為比較器輸入的均值,從而避免了遲滯被輸入的變化所影響。反饋回路可以被控制信號Hc2打開或關(guān)斷。
      [0044]以此類推,第i個反饋回路包含一個與門Ai作為反饋開關(guān)。第i個反饋回路中由晶體管Mli和晶體管M4i提供偏置電平,晶體管M3i控制遲滯閾值。晶體管M3i門極偏置設(shè)置為比較器輸入的均值,從而避免了遲滯被輸入的變化所影響。反饋回路可以被控制信號Hci打開或關(guān)斷。整個電路的遲滯是各組反饋回路的遲滯的總和。
      [0045]反饋回路組每一路均可被控制信號打開或關(guān)斷,整個電路的遲滯是各組反饋回路的遲滯的總和。然后通過控制反饋模塊的投入與退出,實現(xiàn)遲滯可調(diào)的效果,進而調(diào)整控制的范圍。
      [0046]本實施例的第一晶體管M1、第二晶體管M2、第三晶體管M3、第四晶體管M4、第五晶體管M5、第十晶體管M11和第 一晶體管M31均為NMOS晶體管;第六晶體管凡、第七晶體管M7'第八晶體管M8、第九晶體管M9和第十二晶體管M41均為PMOS晶體管。
      [0047]最后應(yīng)當說明的是:以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非對其限制,盡管參照上述實施例對本發(fā)明進行了詳細的說明,所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當理解:依然可以對本發(fā)明的【具體實施方式】進行修改或者等同替換,而未脫離本發(fā)明精神和范圍的任何修改或者等同替換,其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當中。
      【權(quán)利要求】
      1.一種遲滯可控的同步比較器,包括同步比較器模塊和鎖存單元;所述同步比較器模塊中,第一晶體管M1的柵極接偏置電壓Φ,源極接地;第二晶體管M2的柵極接輸入端Cp,源極接所述第一晶體管M1的漏極;第三晶體管M3的柵極接輸入端Cn,源極接所述第一晶體管M1的漏極;第四晶體管M4的源極和所述第二晶體管M2的漏極相連;第五晶體管M5的源極與所述第三晶體管M3的漏極相連;第六晶體管M6的柵極接接偏置電壓Φ,其源極接工作電壓VDD,其漏極與所述第四晶體管M4的漏極相連;第七晶體管M7的柵極接接偏置電壓Φ,其源極接工作電壓VDD,其漏極與所述第五晶體管M5的漏極相連;第八晶體管M8的柵極與所述第五晶體管M5的漏極相連,其源極接工作電壓VDD,其漏極與所述第四晶體管M4的漏極和所述第六晶體管M6的漏極相連;第九晶體管M9的柵極與所述第四晶體管M4的漏極相連,其源極接工作電壓VDD,其漏極與所述第五晶體管M5的漏極和所述第七晶體管M7的漏極相連; 所述鎖存單元中,與非門G1的第一輸入口與所述第八晶體管M8的柵極相連,其第二輸入口與輸出端子Op相連;與非門G2的第一輸入口與所述第九晶體管M9的柵極相連,其第二輸入口與輸出端子On相連; 其特征在于,所述同步比較器包括至少兩路的反饋模塊,其對稱設(shè)置在所述同步比較器模塊兩邊,并根據(jù)控制要求,增設(shè)所述反饋模塊的數(shù)量,實現(xiàn)遲滯可調(diào)的同步比較器。
      2.如權(quán)利要求1所述的同步比較器,其特征在于,所述反饋模塊包括第十晶體管Mn、第i 一晶體管M31、第十二晶體管M41和與門A1 ; 所述第十晶體管M11的源極與所述第二晶體管M2的源極相連; 所述第十一晶體管M31的柵極與所述第二晶體管M2的柵極相連,其源極與所述第十晶體管M11的漏極相連,其漏極與所述第四晶體管M4的源極相連; 所述第十二晶體管M41的柵極接接偏置電壓Φ,其源極接工作電壓VDD,其漏極與所述第十一晶體管M31的漏極相連; 所述與門A1的第一輸入口與控制信號Hcl相連,其第二輸入口與所述輸出端子Op相連,其輸出口與所述第十晶體管M11的柵極相連。
      3.如權(quán)利要求2所述的同步比較器,其特征在于,所述第一晶體管M1、第二晶體管M2、第三晶體管M3、第四晶體管M4、第五晶體管M5、第十晶體管M11和第 一晶體管M31均為NMOS晶體管。
      4.如權(quán)利要求2所述的同步比較器,其特征在于,所述第六晶體管M6、第七晶體管M7、第八晶體管M8、第九晶體管M9和第十二晶體管M41均為PMOS晶體管。
      5.如權(quán)利要求1-4所述的同步比較器,其特征在于,反饋模塊中,所述與門A1作為反饋開關(guān),由所述第十晶體管M11和第十二晶體管M41提供偏置電平,第十一晶體管M31控制遲滯閾值。
      6.如權(quán)利要求5所述的同步比較器,其特征在于,當反饋模塊為兩個以上時,每組反饋模塊中: 與所述第十晶體管M11同作用的晶體管,其源極與所述第十晶體管M11的源極相連; 與所述第十一晶體管M31同作用的晶體管,其柵極與所述第二晶體管M2的柵極相連,其漏極與所述第四晶體管M4的源極相連。
      7.如權(quán)利要求6所述的同步比較器,其特征在于,所述第二晶體管M2的柵極通過電阻與所述反饋模塊中的晶體管連接;所述第三晶體管M3的柵極·通過電阻與所述反饋模塊中的晶體管連接。
      【文檔編號】H03K5/22GK103441749SQ201310314235
      【公開日】2013年12月11日 申請日期:2013年7月24日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月24日
      【發(fā)明者】袁玉湘, 盧慧慧, 姜學平, 于坤山 申請人:國家電網(wǎng)公司, 國網(wǎng)智能電網(wǎng)研究院, 國網(wǎng)河南省電力公司
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