鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法模塊的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提出的一種鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法模塊，旨在提供一種測試流程簡單，測量精度高的鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法模塊。本發(fā)明通過下述技術(shù)方案予以實現(xiàn)：控制模塊輸出端分別相連數(shù)字直接信號合成器和相位監(jiān)視及帶寬計算模塊，組成鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法電路，測試時，被測試鎖相環(huán)串聯(lián)在所述數(shù)字直接信號合成器和相位監(jiān)視及帶寬計算模塊之間，被測試鎖相環(huán)的誤差相位輸出由相位檢測和帶寬計算模塊進行監(jiān)視，數(shù)字直接信號合成模塊產(chǎn)生帶有相位階躍的單頻正弦信號，輸入到被測試鎖相環(huán)，測量相位階躍開始到第二個過零點時刻之間的時間差，并依據(jù)該時間差計算測量環(huán)路帶寬。本發(fā)明通過對誤差相位的監(jiān)視，測試環(huán)路帶寬，解決了窄帶環(huán)路帶寬的測試問題。
【專利說明】鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法模塊
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及基于數(shù)字電路的鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試的算法模塊。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，基于數(shù)字電路的鎖相環(huán)設(shè)計的環(huán)路帶寬測試主要采用頻域測量的方法，通過對鎖相環(huán)輸入輸出的頻譜進行分析比較來達到環(huán)路帶寬測量的目的。
[0003]在工程應(yīng)用中，通過調(diào)相和調(diào)頻的測試方法，都是從頻域?qū)︽i相環(huán)帶寬進行測試，基本原理都是通過調(diào)頻或調(diào)相生成調(diào)制諧波，將調(diào)制后的信號輸入鎖相環(huán)濾波，對濾波后殘留的諧波進行幅度測量來測試環(huán)路帶寬。這種基于頻域的測試方式的不足之處在于:測試過程復(fù)雜，需要重復(fù)進行頻譜分析；測試時間長；測試精度低，對于窄帶鎖相環(huán)難以適用。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了克服頻域測量法測試鎖相環(huán)環(huán)路帶寬過程中所出現(xiàn)的上述問題，本發(fā)明提供一種電路簡單，能夠提高測量精度和縮短測量時間的鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法模塊。
[0005]本發(fā)明所采用的具體技術(shù)方案是:一種鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法模塊，包括控制模塊，其特征在于，控制模塊輸出端分別相連數(shù)字直接信號合成器和相位監(jiān)視及帶寬計算模塊，組成鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法電路，測試時，被測試鎖相環(huán)串聯(lián)在所述數(shù)字直接信號合成器和相位監(jiān)視及帶寬計算模塊之間，被測試鎖相環(huán)的誤差相位輸出由相位檢測和帶寬計算模塊進行監(jiān)視，數(shù)字直接信號合成器產(chǎn)生帶有相位階躍的單頻正弦信號，輸入到被測試鎖相環(huán)，測量相位階躍開始到第二個過零點時刻之間的時間差，并依據(jù)該時間差計算測量環(huán)路帶寬。
[0006]本發(fā)明的有益效果是:測試流程簡單測量精度高
本發(fā)明一改傳統(tǒng)鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測量方法，采用頻域測量的方式，利用數(shù)字直接信號合成器產(chǎn)生帶有相位階躍的單頻正弦信號作為離散數(shù)字信號輸入到被測試鎖相環(huán)，被測試鎖相環(huán)的誤差相位輸出由相位檢測和計算模塊進行監(jiān)視，測量相位階躍開始到第二個過零點的時刻之間的時間差，并依據(jù)該時間差計算測量環(huán)路帶寬，通過在輸入加相位階躍，對誤差相位輸出測量過零時刻的方法來計算環(huán)路帶寬，大大簡化了測試流程，節(jié)省了采用現(xiàn)有技術(shù)所需要的硬件資源，提高了測量精度，縮短了測量所需要的時間。
[0007]本發(fā)明通過數(shù)字直接信號合成器模塊生成被測試鎖相環(huán)模塊激勵信號，并通過相位監(jiān)視及環(huán)路帶寬計算模塊對誤差相位的監(jiān)視，測試鎖相環(huán)環(huán)路帶寬，解決了窄帶環(huán)路帶寬的測試問題，并適用于寬帶鎖相環(huán)的測試。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1是本發(fā)明基于數(shù)字電路的鎖相環(huán)路環(huán)路帶寬測試模塊示意圖。
[0009]圖2是是本發(fā)明的測試流程圖。【具體實施方式】
[0010]在圖1中，鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法模塊包括控制模塊。控制模塊輸出分別相連數(shù)字直接信號合成器和相位監(jiān)視及帶寬計算模塊組成鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法電路。測試時，被測試鎖相環(huán)串聯(lián)在所述數(shù)字直接信號合成器和相位監(jiān)視及帶寬計算模塊之間，被測試鎖相環(huán)的誤差相位輸出由相位檢測和計算模塊進行監(jiān)視。控制模塊輸出控制信號到數(shù)字直接信號合成器和相位監(jiān)視和帶寬計算模塊上，數(shù)字直接信號合成器的輸出輸入到被測試鎖相環(huán)路的輸入端，被測試鎖相環(huán)路的誤差相位輸出Ph信號連接到相位監(jiān)視和帶寬計算模塊上。利用數(shù)字直接信號合成器產(chǎn)生帶有相位階躍的單頻正弦信號作為離散數(shù)字信號輸入到被測試鎖相環(huán)，被測試鎖相環(huán)的誤差相位輸出由相位檢測和計算模塊進行監(jiān)視。數(shù)字直接信號合成器產(chǎn)生帶有相位階躍的單頻正弦信號，輸入到被測試鎖相環(huán)，測量相位階躍開始到第二個過零點的時刻之間的時間差，并依據(jù)該時間差計算測量環(huán)路帶寬。
[0011]在如圖2所示測試流程中，控制模塊控制數(shù)字直接信號合成器產(chǎn)生的信號的相位開始階躍，控制相位監(jiān)視及帶寬計算模塊的計時器開始計時，監(jiān)視被測試鎖相環(huán)輸出誤差相位。當相位監(jiān)視及帶寬計算模塊檢測到如圖2所示第二個過零點第二個過零點誤差相位，停止計時，并記錄過零點時間to。相位監(jiān)視和帶寬計算模塊計算環(huán)路帶寬4，按計算公式Bl=3.541689/tO,計算得到環(huán)路帶寬Bl輸出測試結(jié)果Bl。
【權(quán)利要求】
1.一種鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法模塊，包括控制模塊，其特征在于:控制模塊輸出端分別相連數(shù)字直接信號合成器和相位監(jiān)視及帶寬計算模塊，組成鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法電路，測試時，被測試鎖相環(huán)串聯(lián)在所述數(shù)字直接信號合成器和相位監(jiān)視及帶寬計算模塊之間，被測試鎖相環(huán)的誤差相位輸出由相位檢測和帶寬計算模塊進行監(jiān)視，數(shù)字直接信號合成模塊產(chǎn)生帶有相位階躍的單頻正弦信號，輸入到被測試鎖相環(huán)，測量相位階躍開始到第二個過零點時刻之間的時間差，并依據(jù)該時間差計算測量環(huán)路帶寬。
2.按權(quán)利要求1所述的鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法模塊，其特征在于:在測試流程中，控制模塊控制數(shù)字直接信號合成器產(chǎn)生的信號的相位開始階躍，控制相位監(jiān)視及帶寬計算模塊的計時器開始計時，監(jiān)視被測試鎖相環(huán)輸出誤差相位。
3.按權(quán)利要求1所述的鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法模塊，其特征在于:利用數(shù)字直接信號合成器產(chǎn)生帶有相位階躍的單頻正弦信號作為離散數(shù)字信號輸入到被測試鎖相環(huán)，被測試鎖相環(huán)的誤差相位輸出由相位檢測和計算模塊進行監(jiān)視。
4.按權(quán)利要求1所述的鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法模塊，其特征在于:當相位監(jiān)視及帶寬計算模塊檢測到誤差相位第二個過零點，停止計時，并記錄過零點時間to。
5.按權(quán)利要求1所述的鎖相環(huán)環(huán)路帶寬測試算法模塊，其特征在于:相位監(jiān)視和帶寬計算模塊計算環(huán)路帶寬按計算公式3.541689/tO,計算得到環(huán)路帶寬輸出測試結(jié)果ο
【文檔編號】H03L7/08GK103441758SQ201310401525
【公開日】2013年12月11日 申請日期:2013年9月5日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月5日
【發(fā)明者】曾富華 申請人:中國電子科技集團公司第十研究所