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      一種用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正方法

      文檔序號(hào):7527307閱讀:418來源:國知局
      一種用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正方法,該方法通過FPGA芯片、DSP芯片和DAC芯片的硬件支持來完成三種通道失配誤差估計(jì)的處理。首先,在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中產(chǎn)生用于自標(biāo)定的測試信號(hào),對(duì)各個(gè)ADC通道進(jìn)行誤差估計(jì);得到時(shí)間誤差估計(jì)值后,若時(shí)間誤差較大,則直接通過FPGA控制時(shí)鐘管理芯片精確調(diào)節(jié)各通道ADC芯片的采樣時(shí)鐘的相位差進(jìn)行校正,若時(shí)間誤差小于時(shí)鐘管理芯片的調(diào)節(jié)精度,使用DSP上的高速誤差校正算法處理;軟硬一體化的自適應(yīng)誤差校正技術(shù)提高了誤差校正的精度和可靠性。
      【專利說明】一種用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正方法

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)采集及數(shù)字通信領(lǐng)域,特別涉及一種用于高速高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的基于軟硬件結(jié)合的綜合誤差校正方法。

      【背景技術(shù)】
      [0002]時(shí)間交錯(cuò)采樣技術(shù)的出現(xiàn),突破了單片ADC芯片(ADC驅(qū)動(dòng)放大器)的限制,使得數(shù)據(jù)采樣速率和采樣精度得到了提升,推動(dòng)了高速高精度數(shù)據(jù)采集技術(shù)的發(fā)展。ADC驅(qū)動(dòng)放大器具有許多重要功能,包括緩沖、幅度調(diào)整、單端至差分和差分至單端轉(zhuǎn)換、共模失調(diào)調(diào)節(jié)以及濾波功能。ADC驅(qū)動(dòng)器已經(jīng)成為數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換級(jí)中必不可少的信號(hào)調(diào)理元件,也是ADC實(shí)現(xiàn)其額定性能的關(guān)鍵因素。
      [0003]但是利用時(shí)間交錯(cuò)采樣技術(shù),搭建的多片ADC并行采樣系統(tǒng),在提高采樣速率和精度的同時(shí),由于多個(gè)并行采樣通道之間的不一致性會(huì)引入三種通道失配誤差(包括時(shí)間誤差、增益誤差、偏置誤差),降低系統(tǒng)的整體性能,這是高速高精度數(shù)據(jù)采樣系統(tǒng)共同面臨的問題。對(duì)通道失配誤差的校正技術(shù)是當(dāng)前高速高精度數(shù)據(jù)采樣研究領(lǐng)域的一項(xiàng)技術(shù)熱點(diǎn)。當(dāng)前的誤差校正技術(shù)主要存在以下問題:
      [0004](I)硬件校正技術(shù):通過嚴(yán)格精確的電路設(shè)計(jì)來消除通道失配誤差,包括選用高精度時(shí)鐘芯片,嚴(yán)格等長的電路布線,高精度高一致性的ADC芯片等。但是由于當(dāng)前芯片和電路板制造技術(shù)的限制,這種嚴(yán)格精確的電路設(shè)計(jì)是無法完全實(shí)現(xiàn)的,同時(shí)相應(yīng)的成本代價(jià)太高,只能應(yīng)用于極少數(shù)的高速高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),無法廣泛的推廣和應(yīng)用。
      [0005](2)軟件校正技術(shù):在FPGA或DSP等數(shù)字信號(hào)處理芯片上,通過數(shù)字處理算法來完成對(duì)通道失配誤差的校正。由于軟件校正方法靈活方便,同時(shí)不會(huì)增加額外的硬件成本,成為當(dāng)前誤差校正技術(shù)的研究熱點(diǎn)。但是當(dāng)前的軟件校正算法,都不同程度上存在著算法復(fù)雜,實(shí)時(shí)性差,無法隨著系統(tǒng)誤差的改變而靈活調(diào)整等問題。
      [0006]因此,針對(duì)以上問題,本發(fā)明提出一種基于軟硬件結(jié)合,同時(shí)兼顧設(shè)計(jì)成本的綜合誤差校正方法。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0007]本發(fā)明用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正方法是利用了一定的硬件支持,結(jié)合軟件處理算法來完成對(duì)時(shí)間交錯(cuò)并行采樣數(shù)據(jù)的失配誤差的估計(jì)和校正,通用性強(qiáng),可廣泛應(yīng)用于各種采用時(shí)間交錯(cuò)采樣技術(shù)的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
      [0008]本發(fā)明采用的硬件支持包括有DAC芯片、FPGA芯片和DSP芯片。
      [0009]對(duì)于各個(gè)ADC芯片的時(shí)鐘管理(即采樣輸入時(shí)鐘)由FPGA可編程控制,可適當(dāng)調(diào)整不同ADC芯片采樣時(shí)鐘的相位。
      [0010]FPGA控制芯片,完成對(duì)各個(gè)ADC芯片的時(shí)鐘管理的可編程控制,并接受高速采樣數(shù)據(jù)流,適當(dāng)緩存后,傳遞給DSP數(shù)字信號(hào)處理芯片。
      [0011]DSP數(shù)字信號(hào)處理芯片,接收到FPGA傳遞過來的高速采樣數(shù)據(jù)流后,通過綜合數(shù)字校正算法,抑制并消除各并行通道采樣數(shù)據(jù)間的失配誤差,從而得到精確的采樣數(shù)據(jù)。同時(shí),控制DAC芯片產(chǎn)生用于自標(biāo)定的測試信號(hào)。
      [0012]本發(fā)明用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正方法,包括利用DSP與DAC芯片結(jié)合產(chǎn)生給定的通道測試信號(hào);測試信號(hào)經(jīng)過信號(hào)調(diào)理進(jìn)入各ADC轉(zhuǎn)換通道,DSP獲得已知測試信號(hào)的采樣結(jié)果,通過誤差估計(jì)算法,獲得三種通道失配誤差值。而后根據(jù)誤差估計(jì)的結(jié)果,對(duì)采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償修正,從而得到準(zhǔn)確的采樣數(shù)據(jù)。同時(shí),再通過高性能的濾波算法,可實(shí)現(xiàn)采樣數(shù)據(jù)信噪比的增強(qiáng)。
      [0013]本發(fā)明基于軟硬件結(jié)合的綜合誤差校正方法特點(diǎn)在于:
      [0014]I)高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)自動(dòng)產(chǎn)生通道測試信號(hào):在系統(tǒng)初始化時(shí),用于獲取當(dāng)前系統(tǒng)通道失配誤差,結(jié)合誤差較正算法,可實(shí)現(xiàn)對(duì)系統(tǒng)誤差的隨時(shí)準(zhǔn)確的校正。
      [0015]2)自標(biāo)定的時(shí)間誤差校正方法:時(shí)間誤差是時(shí)間交錯(cuò)采樣技術(shù)最重要的誤差來源之一。本發(fā)明方法針對(duì)時(shí)間誤差校正問題,提出了一種結(jié)合軟件校正和硬件控制的自標(biāo)定的誤差校正技術(shù)。首先,在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中產(chǎn)生用于自標(biāo)定的測試信號(hào),對(duì)各個(gè)ADC通道進(jìn)行誤差估計(jì);得到時(shí)間誤差估計(jì)值后,若時(shí)間誤差較大,則直接通過FPGA控制時(shí)鐘管理芯片精確調(diào)節(jié)各通道ADC芯片的采樣時(shí)鐘的相位差進(jìn)行校正,若時(shí)間誤差小于時(shí)鐘管理芯片的調(diào)節(jié)精度,使用DSP上的高速誤差校正算法處理;軟硬一體化的自適應(yīng)誤差校正技術(shù)提高了誤差校正的精度和可靠性。
      [0016]3)基于噪聲整形的信噪比增強(qiáng)方法:針對(duì)高速高精度ADC轉(zhuǎn)換中不可避免的噪聲問題,提出基于噪聲整形的信號(hào)信噪比增強(qiáng)技術(shù),將硬件功能軟件化。利用過采樣技術(shù)對(duì)噪聲做頻域分布擴(kuò)展的預(yù)處理,設(shè)計(jì)噪聲整形算法以分割有用信號(hào)和噪聲頻譜,加強(qiáng)數(shù)字濾波的效果,形成一個(gè)高效的信噪比增強(qiáng)結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)可以利用線性/非線性信號(hào)處理方法,從根本上提高采集信號(hào)的信噪比,同時(shí),保持了針對(duì)不同應(yīng)用時(shí)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的一致性。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0017]圖1是本發(fā)明所需的硬件支持結(jié)構(gòu)圖。
      [0018]圖2是本發(fā)明三種通道失配誤差估計(jì)過程圖。
      [0019]圖3是本發(fā)明綜合誤差校正流程圖。

      【具體實(shí)施方式】
      [0020]下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明方法作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
      [0021]參見圖1所示的支持本發(fā)明用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正方法的硬件結(jié)構(gòu)為:包括FPGA芯片1、DSP芯片2和DAC芯片3。所述的DAC芯片3為D/A轉(zhuǎn)換集成芯片。所述的DSP芯片2即數(shù)字信號(hào)處理器,是將信號(hào)以數(shù)字方式表示并處理的理論和技術(shù);DSP, Digital Signal Process。DSP芯片的內(nèi)部采用程序和數(shù)據(jù)分開的哈佛結(jié)構(gòu),具有專門的硬件乘法器,廣泛采用流水線操作,提供特殊的DSP指令,可以用來快速的實(shí)現(xiàn)各種數(shù)字信號(hào)處理算法。所述的FPGA芯片I即現(xiàn)場可編程門陣列,它是在PAL、GAL、CPLD等可編程器件的基礎(chǔ)上進(jìn)一步發(fā)展的產(chǎn)物。FPGA,Field Programmable Gate Array。它是作為專用集成電路(ASIC)領(lǐng)域中的一種半定制電路而出現(xiàn)的,既解決了定制電路的不足,又克服了原有可編程器件門電路數(shù)有限的缺點(diǎn)。
      [0022]在本發(fā)明中,DSP芯片2用于產(chǎn)生自測試數(shù)字信號(hào)D2,DAC芯片3用于將接收到的D2進(jìn)行處理后,輸出模擬測試信號(hào)M_out ;FPGA芯片I用于將接收到的數(shù)字采樣信號(hào)M_in進(jìn)行處理后,輸出數(shù)字采樣信號(hào)Dl ;DSP芯片2將接收到的數(shù)字信號(hào)Dl經(jīng)過數(shù)字算法處理,輸出采集數(shù)字信號(hào)D_out。
      [0023]參見圖2所示,適用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正的三種通道失配誤差估計(jì)過程如下:
      [0024]當(dāng)高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)啟動(dòng)后,系統(tǒng)會(huì)產(chǎn)生自測試信號(hào)D2,該自測試信號(hào)D2為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)正弦信號(hào),頻率為10?100MHz,幅值為IV,且周期幅值之和為零。高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)接收到自測試信號(hào)D2后,經(jīng)ADC轉(zhuǎn)換獲得不同通道的采樣序列。假設(shè)有M(M= 1,2,3,…,
      i,…,i代表M路通道中的任意一通道,也是通道的標(biāo)識(shí)號(hào))路采樣通道,以第i通道為基準(zhǔn)來估算三種通道失配誤差。對(duì)不同通道采樣序列分別進(jìn)行傅里葉變換,得到各自的幅度譜,不同通道采樣譜的幅度比就是不同通道間的增益誤差比,以第i通道為基準(zhǔn),則可獲得其他各通道的增益誤差;由于輸入的自測試信號(hào)D2的周期幅值之和是零,所以可對(duì)不同通道的采樣序列進(jìn)行幅值求和,而后再求各自的平均值,就可獲得各自通道的偏置誤差值;對(duì)時(shí)基誤差的估算時(shí),首先以第i通道為基準(zhǔn),計(jì)算其采樣序列中前后采樣點(diǎn)的偏差,再求不同通道與第i通道對(duì)應(yīng)采樣點(diǎn)的偏差,從而獲取偏差函數(shù),對(duì)其進(jìn)行最小均方差迭代,利用最速下降法加速迭代過程,從而獲得不同通道相對(duì)第i通道的時(shí)基誤差;至此完成了對(duì)三種通道失配誤差的估算,將其記錄在DSP芯片2中,用于后續(xù)采樣數(shù)據(jù)的補(bǔ)償校正。
      [0025]參見圖3所示,本發(fā)明適用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正方法的工作流程如下:
      [0026]當(dāng)高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)啟動(dòng)后,DSP芯片2首先產(chǎn)生自測試信號(hào)D2,并啟動(dòng)DAC芯片3,檢測DAC芯片3是否產(chǎn)生模擬測試信號(hào)M_out,若沒有,則返回重新運(yùn)行;若檢測到模擬測試信號(hào)M_out,則等待FPGA芯片I接收測試采樣數(shù)據(jù);當(dāng)接受到測試采樣數(shù)據(jù)后,啟動(dòng)DSP芯片2,并傳輸數(shù)據(jù)至DSP ;DSP芯片接受到數(shù)據(jù),立即進(jìn)行誤差估計(jì),若時(shí)間誤差較大則調(diào)節(jié)采樣時(shí)鐘;若時(shí)間誤差小于采樣時(shí)鐘的最小調(diào)節(jié)步長,則記錄誤差值用于后續(xù)補(bǔ)償校正,從而完成自標(biāo)定過程;當(dāng)有外部觸發(fā)信號(hào)來時(shí),若有接收采集數(shù)據(jù)并在DSP芯片2中,按之前自標(biāo)定過程中測定的系統(tǒng)誤差,進(jìn)行數(shù)據(jù)校正;校正完成后,在通過基于噪聲整形的信噪比增強(qiáng)方法,提高采樣數(shù)據(jù)的信噪比,最后輸出采集數(shù)據(jù)。該采集數(shù)據(jù)輸出通過觸發(fā)DSP芯片2中的采集數(shù)字信號(hào)D_out來完成。
      【權(quán)利要求】
      1.一種用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正方法,支持該方法的硬件由FPGA芯片(1)、DSP芯片(2)和DAC芯片(3)組成;其特征在于:適用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正的三種通道失配誤差估計(jì)過程如下; 當(dāng)高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)啟動(dòng)后,系統(tǒng)會(huì)產(chǎn)生自測試信號(hào)D2,高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)接收到自測試信號(hào)D2后,經(jīng)DAC芯片(3)轉(zhuǎn)換獲得不同通道的采樣序列; 假設(shè)有M路采樣通道,以第i通道為基準(zhǔn)來估算三種通道失配誤差。M=l,2,3,…,i,…,i代表M路通道中的任意一通道。 對(duì)不同通道采樣序列分別進(jìn)行傅里葉變換,得到各自的幅度譜; 對(duì)不同通道采樣譜的幅度比就是不同通道間的增益誤差比,以第i通道為基準(zhǔn),則可獲得其他各通道的增益誤差; 由于輸入的自測試信號(hào)D2的周期幅值之和是零,所以可對(duì)不同通道的采樣序列進(jìn)行幅值求和,而后再求各自的平均值,就可獲得各自通道的偏置誤差值; 對(duì)時(shí)基誤差的估算時(shí),首先以第i通道為基準(zhǔn),計(jì)算其采樣序列中前后采樣點(diǎn)的偏差,再求不同通道與第i通道對(duì)應(yīng)采樣點(diǎn)的偏差,從而獲取偏差函數(shù),對(duì)其進(jìn)行最小均方差迭代,利用最速下降法加速迭代過程,從而獲得不同通道相對(duì)第i通道的時(shí)基誤差; 至此完成了對(duì)三種通道失配誤差的估算,將其記錄在DSP芯片(2)中,用于后續(xù)采樣數(shù)據(jù)的補(bǔ)償校正。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正方法,其特征在于:該自測試信號(hào)D2為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)正弦信號(hào),頻率為10?100MHz,幅值為IV,且周期幅值之和為零。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正方法,其特征在于:DSP芯片(2)用于產(chǎn)生自測試數(shù)字信號(hào)D2,DAC芯片(3)用于將接收到的D2進(jìn)行處理后,輸出模擬測試信號(hào)M_out ;FPGA芯片(I)用于將接收到的數(shù)字采樣信號(hào)M_in進(jìn)行處理后,輸出數(shù)字采樣信號(hào)Dl ;DSP芯片(2)將接收到的數(shù)字信號(hào)Dl經(jīng)過數(shù)字算法處理,輸出采集數(shù)字信號(hào)0_01^。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的綜合誤差校正方法,其特征在于:能夠?qū)崿F(xiàn)高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的自標(biāo)定的時(shí)間誤差校正。
      【文檔編號(hào)】H03M1/10GK104467843SQ201410653451
      【公開日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年11月18日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月18日
      【發(fā)明者】鄭晨 申請(qǐng)人:鄭晨
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