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      一種利用fpga構(gòu)成逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的裝置制造方法

      文檔序號:7528900閱讀:273來源:國知局
      一種利用fpga構(gòu)成逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的裝置制造方法
      【專利摘要】本實用新型公開了一種利用FPGA構(gòu)成逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的裝置。使用本實用新型能夠?qū)教炱魃系亩嗦窚囟取㈦妷?、電流等變化緩慢的遙測量進行采集,并且可以很方便地降低成本、減輕電路重量,尤其是對多路監(jiān)測量進行遙測可以小型化、輕量化,也減輕電路的復(fù)雜程度,低功耗、重量輕。
      【專利說明】—種利用FPGA構(gòu)成逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的裝置

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實用新型涉及數(shù)據(jù)采集【技術(shù)領(lǐng)域】,具體涉及一種利用FPGA構(gòu)成逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的裝置。

      【背景技術(shù)】
      [0002]在數(shù)據(jù)采集技術(shù)中,對信號采樣一般有實時采樣和等效采樣兩種大的采樣方式,其采樣準(zhǔn)則都必須滿足香農(nóng)的采樣定理。作為實時采樣而言,隨信號頻率增大,其采樣率自然要求高,尤其是在工程應(yīng)用中,過采樣更多。而等效采樣則是利用了信號的(準(zhǔn))周期性特點,采用低速采樣率方法來采集高頻信號,其效率相對較低。這些采樣方法都需要通過硬件電路模數(shù)轉(zhuǎn)換器(縮寫為ADC)將模擬信號轉(zhuǎn)換為離散的數(shù)字信號,其中ADC是必不可少的一個電路器件。
      [0003]然而在實際應(yīng)用中,尤其是航天應(yīng)用的數(shù)據(jù)采集領(lǐng)域,面臨多種因素的限制,如系統(tǒng)的設(shè)備重量、功耗、性能指標(biāo)、采購渠道等因素而影響實際設(shè)計方案的可行性。
      [0004]目前對于航天應(yīng)用的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)而言,有一項必備的功能則是對系統(tǒng)狀態(tài)的遙測,主要包括溫度、電壓、電流等信號的遙測,并且這些遙測信號均有相似的特征:為緩慢變化信號或可認為是近似直流信號。對于這些信號的采集,以往絕大多數(shù)的做法則是利用多通道低速ADC或多路器+低速ADC的方案來完成遙測信號的采集任務(wù),那么這里的低速ADC必不可少。然而低速ADC應(yīng)用于航天領(lǐng)域的型號相對不難獲取,但同樣面臨重量和功耗的問題。
      [0005]逐次逼近(縮寫為SAR)型ADC是一種較為理想的中速模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其結(jié)構(gòu)簡單,易于集成實現(xiàn)。目前該類型轉(zhuǎn)換器實現(xiàn)方法主要是兩大類:
      [0006]第一類采用現(xiàn)有的工藝條件,先進的半導(dǎo)體工藝來改進傳統(tǒng)型的SAR的ADC,著手改進的方向主要集中在精度、速度、功耗三大方面。如專利申請?zhí)枮镃N102158231A,主要是從芯片設(shè)計角度考慮改善精度;專利申請?zhí)枮镃N103166644 A,從集成電路設(shè)計角度考慮通過改善芯片面積來降低功耗;專利申請?zhí)枮镃N103152050 A及CN102832941 A,均從集成電路設(shè)計角度考慮來提升速度。前者是直接從結(jié)構(gòu)實現(xiàn)上來提升,而后者主要是利用可預(yù)檢測法來降低復(fù)位時間,從而提升速度。這類改進均為實現(xiàn)單片集成SAR型ADC而努力,探索三方面性能指標(biāo)的提升。
      [0007]第二類則是利用現(xiàn)有的器件來實現(xiàn)無集成ADC形式的模數(shù)轉(zhuǎn)換功能電路,其思路同樣借助于逐次逼近型ADC方式,此方式相對靈活。比較適用于對重量、功耗有限制要求的場合。如專利申請?zhí)枮镃N 102457280A,是利用MCU的10 口,結(jié)合PWM技術(shù)實現(xiàn)A/D轉(zhuǎn)換,解決現(xiàn)場監(jiān)控模擬信號的不采用集成ADC或V/F變換的數(shù)字化過程。很顯然MCU的10驅(qū)動能力有限,且形成PWM波的頻率和精度不高,不易調(diào)整,而且多路擴展能力十分有限。
      [0008]本實用新型是為克服上述第二類缺陷,更好地解決了數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中對重量和功耗限制的應(yīng)用難題。從而提出了利用FPGA構(gòu)成逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的裝置。
      [0009]本實用新型的目的是利用通用器件來解決模擬信號的無ADC的數(shù)字化過程,從而滿足重量、功耗的限制,降低設(shè)計成本,尤其是較為苛刻的應(yīng)用環(huán)境下,不易獲得相應(yīng)集成器件時更為有利。
      實用新型內(nèi)容
      [0010]有鑒于此,本實用新型提供了一種利用FPGA構(gòu)成逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的裝置,能夠?qū)教炱魃系亩嗦窚囟?、電壓、電流等變化緩慢的遙測量進行采集,且重量輕、功耗小,拓展能力好。
      [0011]本實用新型的利用FPGA構(gòu)成逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的裝置,包括單片F(xiàn)PGA和濾波器,其中,單片F(xiàn)PGA中包含高速差分比較器電路、定時器電路、單比特數(shù)字采樣電路、邏輯判斷電路、參考比較電壓設(shè)置電路、Delta-Sigma型DAC電路;其中,邏輯判斷電路包括求和器和比較判斷器;所述參考比較電壓設(shè)置電路為移位寄存器;
      [0012]其中,高速差分比較器電路的同向端接待遙測信號,其反向端接濾波器輸出的參考比較電壓,其輸出端與單比特數(shù)字采樣電路的輸入端連接;單比特數(shù)字采樣電路的輸入端還與定時器電路連接,其輸出端與邏輯判斷電路的求和器的輸入端連接;求和器的輸出端與比較判斷器的輸入端連接,比較判斷器的輸出端與參考比較電壓設(shè)置電路的輸入端連接;參考比較電壓設(shè)置電路的輸出端與Delta-Sigma型DAC電路的輸入端、FPGA的輸出端連接;Delta-Sigma型DAC電路的輸出端與濾波器的輸入端連接。
      [0013]有益效果:
      [0014]本實用新型可以很方便地降低成本、減輕電路重量,尤其是對多路監(jiān)測量進行遙測可以小型化、輕量化,也減輕電路的復(fù)雜程度,并且低功耗、重量輕。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0015]圖1為本實用新型的電路框圖。
      [0016]圖2為本實用新型裝置中FPGA內(nèi)部構(gòu)建Delta-Sigma型DAC的結(jié)構(gòu)框圖。
      [0017]其中,101-高速差分比較器電路,102-定時器電路,103-單比特數(shù)字采樣電路,104-邏輯判斷電路,105-參考比較電壓設(shè)置電路,106-Delta-Sigma型DAC電路,107-濾波器。

      【具體實施方式】
      [0018]下面結(jié)合附圖并舉實施例,對本實用新型進行詳細描述。
      [0019]本實用新型提供了一種利用FPGA構(gòu)成逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的裝置,如圖1所示,由單片F(xiàn)PGA、濾波器107組成,其中,單片F(xiàn)PGA中包含高速差分比較器電路101、定時器電路102、單比特數(shù)字采樣電路103、邏輯判斷電路104、參考比較電壓設(shè)置電路105、Delta-Sigma 型 DAC 電路 106。
      [0020]待遙測的溫度、電壓、電流等信號連接到單片F(xiàn)PGA的高速差分比較器電路101的同向端,濾波器107為RC濾波電路,其濾波輸出的參考比較電壓連接到高速差分比較器電路101的反向端。待遙測信號與參考比較電壓在高速差分比較器電路101上進行比較,形成單比特的數(shù)據(jù)流輸出至單比特數(shù)字采樣電路103。
      [0021]單比特數(shù)字采樣電路103的輸入端與高速差分比較器電路101的輸出端、定時器電路102的輸出端連接,單比特數(shù)字采樣電路103在定時器電路102定時溢出時采樣一次高速差分比較器電路101的輸出值,并將輸出值傳輸至邏輯判斷電路104。
      [0022]其中,邏輯判斷電路104包括求和器和比較判斷器,其中求和器的輸入端與單比特數(shù)字采樣電路103的輸出端連接,對單比特采樣電路103的輸出值做多次采集并將采集結(jié)果累積起來,將累計和輸出至比較判斷器,比較判斷器將累計和與自身存儲的設(shè)定閾值進行比較判斷,確定本次量化結(jié)果是0還是1:當(dāng)累積和超過設(shè)定閾值,如200,則確定本次單比特轉(zhuǎn)換結(jié)果為1,否則為0,并將量化結(jié)果輸出至參考比較電壓設(shè)置電路105。
      [0023]參考比較電壓值設(shè)置電路105的輸入端與邏輯判斷電路104的比較判斷器的輸出端連接,通過本次量化結(jié)果,逐次逼近下一個比較電壓值大小,將比較電壓值輸出至Delta-Sigma型DAC,同時,比較電壓值也作為FPGA的量化結(jié)果輸出。參考比較電壓值設(shè)置電路105的設(shè)置規(guī)則為:假設(shè)N位寬度寄存器用于保存轉(zhuǎn)換結(jié)果,初始設(shè)定N位寬度寄存器值為參考電壓值滿量程的一半,即N位寬度寄存器的最高位為1,其他位為0,若最高位量化值為0,則認為信號輸入幅度小于參考比較電壓,用于保存N位寬度結(jié)果的寄存器對應(yīng)最高位應(yīng)設(shè)置為0,而不能取1 ;若最高位量化值為1,則認為信號輸入幅度大于參考比較電壓,用于保存N結(jié)果的寄存器對應(yīng)最高位預(yù)設(shè)為1的結(jié)果可以保留。然后換到次高位做量化,先設(shè)N位寄存器的次高位為1,重復(fù)一輪采集及比較。以此反復(fù),將全部位均量化完成。
      [0024]Delta-Sigma型DAC電路106的輸入端與參考比較電壓設(shè)置電路105的輸出端連接,將參考比較電壓設(shè)置電路105的輸出值轉(zhuǎn)換為模擬量輸出至濾波器107,濾波器107濾波后形成所需參考比較電壓輸出至高速差分比較器電路101的反向端。Delta-sigma型DAC電路106實現(xiàn)參考比較電壓模擬值輸出,其結(jié)構(gòu)框圖如圖2所示。對輸入的N位無符號的DAC數(shù)據(jù)與N+2位Λ輸出的有符號數(shù)據(jù)進行Λ累積,形成Ν+2位有符號累積和。該和再與Ν+2位Σ寄存器輸出的有符號數(shù)據(jù)做Σ累積,輸出Ν+2位有符號累積和。隨后,Σ累積和被寄存器進行一級寄存后輸出。最終DAC取該級寄存器數(shù)據(jù)最高位輸出,并經(jīng)過濾波器電路107獲得所需模擬電壓,將其回饋到FPGA高速差分比較器電路101的反向端,從而形成參考比較電壓。通過設(shè)置Ν次參考比較電壓就可獲得待測信號的Ν位量化結(jié)果。
      [0025]在xilinx公司宇航級FPGA XQR2V3000上實現(xiàn)了 6路8位無ADC數(shù)字化遙測方案,針對電壓、溫度和電流可進行數(shù)字化。
      [0026]該方案可較為容易地移植到其他FPGA內(nèi)實現(xiàn),其內(nèi)部的Delta-Sigma型DAC可直接采用PWM方式來實現(xiàn)。
      [0027]本實用新型拓展方便,可以利用FPGA多個高速差分比較端口,外圍加入多組RC模擬濾波器,通過分時檢測即可完成多路擴展要求;或者在FPGA內(nèi)部實現(xiàn)多路器結(jié)構(gòu),復(fù)用FPGA內(nèi)部其他邏輯電路來構(gòu)成多路擴展。
      [0028]綜上所述,以上僅為本實用新型的較佳實施例而已,并非用于限定本實用新型的保護范圍。凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進等,均應(yīng)包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
      【權(quán)利要求】
      1.一種利用FPGA構(gòu)成逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的裝置,其特征在于,包括單片F(xiàn)PGA和濾波器(107),其中,單片F(xiàn)PGA中包含高速差分比較器電路(101)、定時器電路(102)、單比特數(shù)字采樣電路(103)、邏輯判斷電路(104)、參考比較電壓設(shè)置電路(105)、Delta-Sigma型DAC電路(106);其中,邏輯判斷電路(104)包括求和器和比較判斷器;所述參考比較電壓設(shè)置電路為移位寄存器; 其中,高速差分比較器電路(101)的同向端接待遙測信號,其反向端接濾波器(107)輸出的參考比較電壓,其輸出端與單比特數(shù)字采樣電路(103)的輸入端連接;單比特數(shù)字采樣電路(103)的輸入端還與定時器電路(102)連接,其輸出端與邏輯判斷電路(104)的求和器的輸入端連接;求和器的輸出端與比較判斷器的輸入端連接,比較判斷器的輸出端與參考比較電壓設(shè)置電路(105)的輸入端連接;參考比較電壓設(shè)置電路(105)的輸出端與Delta-Sigma型DAC電路(106)的輸入端、FPGA的輸出端連接;Delta_Sigma型DAC電路(106)的輸出端與濾波器的輸入端連接。
      【文檔編號】H03M1/38GK204216884SQ201420570064
      【公開日】2015年3月18日 申請日期:2014年9月29日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月29日
      【發(fā)明者】沈紹祥, 周斌, 方廣有, 李玉喜, 花小磊 申請人:中國科學(xué)院電子學(xué)研究所
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