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      一種比較器電路的制作方法

      文檔序號(hào):11388681閱讀:405來(lái)源:國(guó)知局
      一種比較器電路的制造方法與工藝

      本發(fā)明屬于半導(dǎo)體集成電路技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種比較器電路。



      背景技術(shù):

      比較器是將兩個(gè)模擬電壓信號(hào)相比較的電路。比較器的兩路輸入為模擬信號(hào),輸出則為二進(jìn)制信號(hào)0或1,當(dāng)輸入電壓的差值增大或減小且正負(fù)符號(hào)不變時(shí),其輸出保持恒定。

      傳統(tǒng)的比較器電路如圖1所示,包括第一nmos晶體管n1、第二nmos晶體管n2、第三nmos晶體管n3、第四nmos晶體管n4、第一pmos晶體管p1、第二pmos晶體管p2、第三pmos晶體管p3;第一nmos晶體管n1的柵極接負(fù)輸入端uin,源極接第二nmos晶體管n2的源極和第三nmos晶體管n3的漏極,漏極接第一pmos晶體管p1的柵極和漏極;第二nmos晶體管n2的柵極接正輸入端uip,漏極接第二pmos晶體管p2的漏極和第三pmos晶體管p3的柵極;第一pmos晶體管p1的源極接電源;第二pmos晶體管p2的源極接電源;第一pmos晶體管p1的柵極與第二pmos晶體管p2的柵極相連;第三nmos晶體管n3的柵極接偏置電流輸入端bias,源極接地;第三pmos晶體管p3的源極接電源,漏極接輸出端uout;第四nmos晶體管n4的柵極接偏置電流輸入端bias,源極接地,漏極接輸出端uout。

      傳統(tǒng)的比較器電路由于缺乏必要的電平反饋技術(shù),從而在兩輸入電壓變化迅速的情況下,不能得到正確的結(jié)果,從而限制了比較器應(yīng)用的電平轉(zhuǎn)換速率。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      為解決現(xiàn)有比較器電路應(yīng)用電平轉(zhuǎn)換速率低的技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明對(duì)傳統(tǒng)的比較器電路進(jìn)行了改進(jìn),提供了一種電平轉(zhuǎn)換速率高的比較器電路。

      本發(fā)明的比較器電路包括:第一pmos晶體管p1、第二pmos晶體管p2、第一nmos晶體管n1、第二nmos晶體管n2、第三nmos晶體管n3、第四nmos晶體管n4、第五nmos晶體管n5和第六nmos晶體管n6;第一nmos晶體管n1的柵極接負(fù)輸入端uin,源極接第二nmos晶體管n2的源極和第五nmos晶體管n5的漏極,漏極接第一pmos晶體管p1的柵極和漏極以及第三nmos晶體管n3的漏極;第一pmos晶體管p1的源極接電源;第五nmos晶體管n5的柵極接偏置電流輸入端bias,源極接地;第二nmos晶體管n2的柵極接正輸入端uip,漏極接輸出端uout;第三nmos晶體管n3的柵極接正輸入端uip,源極接第四nmos晶體管n4的源極和第六nmos晶體管n6的漏極;第四nmos晶體管n4的柵極接負(fù)輸入端uin,漏極接輸出端uout;第六nmos晶體管n6的柵極接偏置電流輸入端bias,源極接地;第二pmos晶體管p2的柵極和漏極都接輸出端uout,源極接電源。

      本發(fā)明的比較器電路在傳統(tǒng)的比較器電路的基礎(chǔ)上,引入了電平反饋技術(shù)。與現(xiàn)有的比較器電路相比,本發(fā)明的比較器電路的電平轉(zhuǎn)換速率得到了巨大的提升。

      附圖說(shuō)明

      圖1是傳統(tǒng)的比較器的電路結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖2是本發(fā)明的比較器的電路結(jié)構(gòu)示意圖。

      具體實(shí)施方式

      為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明了,下面結(jié)合具體實(shí)施方式并參照附圖,對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)該理解,這些描述只是示例性的,而并非要限制本發(fā)明的范圍。此外,在以下說(shuō)明中,省略了對(duì)公知結(jié)構(gòu)和技術(shù)的描述,以避免不必要地混淆本發(fā)明的概念。

      為了解決傳統(tǒng)比較器電路應(yīng)用電平轉(zhuǎn)換速率低的技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種比較器電路,如圖2所示,包括:第一pmos晶體管p1、第二pmos晶體管p2、第一nmos晶體管n1、第二nmos晶體管n2、第三nmos晶體管n3、第四nmos晶體管n4、第五nmos晶體管n5和第六nmos晶體管n6;第一nmos晶體管n1的柵極接負(fù)輸入端uin,源極接第二nmos晶體管n2的源極和第五nmos晶體管n5的漏極,漏極接第一pmos晶體管p1的柵極和漏極以及第三nmos晶體管n3的漏極;第一pmos晶體管p1的源極接電源;第五nmos晶體管n5的柵極接偏置電流輸入端bias,源極接地;第二nmos晶體管n2的柵極接正輸入端uip,漏極接輸出端uout;第三nmos晶體管n3的柵極接正輸入端uip,源極接第四nmos晶體管n4的源極和第六nmos晶體管n6的漏極;第四nmos晶體管n4的柵極接負(fù)輸入端uin,漏極接輸出端uout;第六nmos晶體管n6的柵極接偏置電流輸入端bias,源極接地;第二pmos晶體管p2的柵極和漏極都接輸出端uout,源極接電源。

      本發(fā)明的比較器電路在傳統(tǒng)的比較器電路的基礎(chǔ)上,引入了電平反饋技術(shù)。與現(xiàn)有的比較器電路相比,本發(fā)明的比較器電路的電平轉(zhuǎn)換速率得到了巨大的提升。

      應(yīng)當(dāng)理解的是,本發(fā)明的上述具體實(shí)施方式僅僅用于示例性說(shuō)明或解釋本發(fā)明的原理,而不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。因此,在不偏離本發(fā)明的精神和范圍的情況下所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。此外,本發(fā)明所附權(quán)利要求旨在涵蓋落入所附權(quán)利要求范圍和邊界、或者這種范圍和邊界的等同形式內(nèi)的全部變化和修改例。



      技術(shù)特征:

      技術(shù)總結(jié)
      一種比較器電路,屬于半導(dǎo)體集成電路技術(shù)領(lǐng)域。包括:第一NMOS管的柵極接負(fù)輸入端,源極接第二NMOS管的源極和第五NMOS管的漏極,漏極接第一PMOS管的柵極和漏極以及第三NMOS管的漏極;第一PMOS管的源極接電源;第五NMOS管的柵極接偏置電流輸入端,源極接地;第二NMOS管的柵極接正輸入端,漏極接輸出端;第三NMOS管的柵極接正輸入端,源極接第四NMOS管的源極和第六NMOS管的漏極;第四NMOS管的柵極接負(fù)輸入端,漏極接輸出;第六NMOS管的柵極接輸入,源極接地;第二PMOS管的柵極和漏極都接輸出端,源極接電源。該比較器電路引入了電平反饋技術(shù),從而提升了比較器電路的電平轉(zhuǎn)換速率。

      技術(shù)研發(fā)人員:不公告發(fā)明人
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:長(zhǎng)沙方星騰電子科技有限公司
      技術(shù)研發(fā)日:2017.05.30
      技術(shù)公布日:2017.09.05
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