本實(shí)用新型涉及PCB板技術(shù)領(lǐng)域,具體地說是一種V割PCB板。
背景技術(shù):
隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,電子產(chǎn)品日益普及,如電視機(jī)、VCD機(jī)、計(jì)算機(jī)等已進(jìn)入 千家萬戶。如此相對(duì)應(yīng),PCB板的生產(chǎn)也被帶動(dòng)起來。然而,在PCB板的大批量生產(chǎn)過程中,現(xiàn) 有的一些PCB板,由于外形尺寸很小,客戶指定拼版數(shù)量和方式,會(huì)導(dǎo)致出貨時(shí)面積很小,客戶加工使用時(shí)不好操作。
目前在PCB板上加工出V割槽位,采用跳刀V割,容易出現(xiàn)V割進(jìn)刀口和V割出刀口不能V割到位的情況,此缺陷,用人工目視檢查難以檢查出來。此類不良口落入到客戶端后,在PCB板上插裝好電子元器件后分板困難,容易損壞,導(dǎo)致報(bào)廢,從而增加了生產(chǎn)成本。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種檢測(cè)方便,提高良品率的V割PCB板。
為了解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型采取以下技術(shù)方案:
一種V割PCB板,包括板體,所述板體上設(shè)有有效區(qū)域和待折區(qū)域,待折區(qū)域由左待折區(qū)域和右待折區(qū)域構(gòu)成,左待折區(qū)域位于有效區(qū)域的左側(cè),右待折區(qū)域位于有效區(qū)域的右側(cè),左待折區(qū)域和有效區(qū)域之間及右待折區(qū)域和有效區(qū)域之間均設(shè)有V割位,該V割位上設(shè)有防漏測(cè)試線路和測(cè)試標(biāo)記位,沿著該V割位切割形成V割槽。
所述防漏測(cè)試線路與測(cè)試標(biāo)記位連接。
所述V割位上設(shè)有至少兩個(gè)測(cè)試標(biāo)記位,并且防漏測(cè)試線路與有效區(qū)域的側(cè)邊之間的距離為0.05-0.2mm。
所述板體上的有效區(qū)域的長度大于261mm。
所述兩個(gè)測(cè)試標(biāo)記及一段防漏測(cè)試線為一組V割防漏機(jī)構(gòu),在V割位上間隔設(shè)置有至少兩組V割防漏機(jī)構(gòu)。
本實(shí)用新型通過預(yù)先在V割位上設(shè)置防漏測(cè)試線路和測(cè)試標(biāo)記位,在切割形成V割槽后,能夠測(cè)試針可以方便的檢測(cè)出V割槽是否切割到位,從而確保良品率。
附圖說明
附圖1為本實(shí)用新型俯視結(jié)構(gòu)示意圖;
附圖2為附圖1中的A處放大結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為了便于本領(lǐng)域技術(shù)人員的理解,下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的描述。
如附圖1和2所示,本實(shí)用新型揭示了一種V割PCB板,包括板體,所述板體上設(shè)有有效區(qū)域2和待折區(qū)域,待折區(qū)域由左待折區(qū)域11和右待折區(qū)域12構(gòu)成,左待折區(qū)域11位于有效區(qū)域2的左側(cè),右待折區(qū)域12位于有效區(qū)域2的右側(cè),左待折區(qū)域和有效區(qū)域之間及右待折區(qū)域和有效區(qū)域之間均設(shè)有V割位,該V割位上設(shè)有防漏測(cè)試線路3和測(cè)試標(biāo)記位4,沿著該V割位切割形成V割槽5。防漏測(cè)試線路與測(cè)試標(biāo)記位連接。
所述V割位上設(shè)有至少兩個(gè)測(cè)試標(biāo)記位,并且防漏測(cè)試線路與有效區(qū)域的側(cè)邊之間的距離為0.05-0.2mm。兩個(gè)測(cè)試標(biāo)記及一段防漏測(cè)試線為一組V割防漏機(jī)構(gòu),在V割位上間隔設(shè)置有至少兩組V割防漏機(jī)構(gòu)。
所述板體上的有效區(qū)域的長度大于261mm。
通過完整的V割槽,可以方便的將左待折區(qū)域和右待折區(qū)域折斷,從而得到有效區(qū)域的PCB板。
本實(shí)用新型中,通過在待V割位設(shè)置防漏測(cè)試線路和測(cè)試標(biāo)記,可以準(zhǔn)確的進(jìn)行V割。而且,當(dāng)切割完成之后,可以準(zhǔn)確的查看到V割槽內(nèi)是否還保留有防漏測(cè)試線路,可通過測(cè)試導(dǎo)針測(cè)試。如果測(cè)試短路,則說明沒有完全切割到位,需要重新切割。如果是開路,則說明已經(jīng)切割到位,從而有效提高了良品率。
需要說明的是,以上所述并非是對(duì)本實(shí)用新型技術(shù)方案的限定,在不脫離本實(shí)用新型的創(chuàng)造構(gòu)思的前提下,任何顯而易見的替換均在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。