本申請涉及工業(yè)設(shè)備控制，尤其是涉及一種ad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、ad4114是一款低功耗、低噪聲、24位σ-δ型模數(shù)轉(zhuǎn)換器（analog-to-digitalconverter，adc），集成了模擬前端（afe），支持全差分或單端高阻抗（≥1?mω）、雙極性±10v電壓輸入。ad4114具有高精度、多通道、低功耗和靈活性等特點，被廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制、儀器儀表、傳感器信號處理等領(lǐng)域。

2、在涉及ad4114芯片（簡稱ad芯片）和單片機的系統(tǒng)中，ad芯片用于將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，而單片機則負責控制整個系統(tǒng)并處理數(shù)字信號。當單片機先上電，而ad芯片后上電時，可能出現(xiàn)上電不同步的問題，導致單片機在ad芯片未準備好時就開始讀取其狀態(tài)寄存器，從而無法獲取正確的ad芯片在上電后的數(shù)據(jù)。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、鑒于以上內(nèi)容，本申請?zhí)峁┮环Nad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法及系統(tǒng)，解決了單片機和ad芯片上電不一致導致的ad芯片上電數(shù)據(jù)采集不準確的技術(shù)問題。

2、本申請的第一方面提供一種ad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法，所述方法包括：

3、根據(jù)第一預設(shè)時間周期從ad芯片的id狀態(tài)寄存器中讀取所述ad芯片所對應(yīng)的初始id值；

4、當所述初始id值與所述ad芯片的標準id值不匹配時，對所述ad芯片執(zhí)行ad初始化的操作；

5、當所述ad初始化執(zhí)行完成后，控制所述ad芯片從所述id狀態(tài)寄存器中讀取所述初始id值；

6、當所述初始id值與所述標準id值匹配時，執(zhí)行所述控制所述ad芯片從所述id狀態(tài)寄存器中讀取所述初始id值的操作。

7、在一個可選的實施方式中，所述方法還包括：

8、獲取所述ad芯片的輸入電壓值，并根據(jù)所述輸入電壓值判斷所述ad芯片是否處于斷電狀態(tài)；

9、當檢測到所述ad芯片處于所述斷電狀態(tài)時，根據(jù)第二預設(shè)時間周期判斷所述ad芯片是否處于斷電狀態(tài)；

10、當檢測到所述ad芯片不處于所述斷電狀態(tài)時，對所述ad芯片執(zhí)行所述ad初始化的操作。

11、在一個可選的實施方式中，所述方法還包括：

12、當檢測到所述ad芯片處于所述斷電狀態(tài)時，執(zhí)行外部中斷服務(wù)程序，并獲取外部中斷標志位的標志位狀態(tài)；

13、當所述標志位狀態(tài)與預設(shè)狀態(tài)一致時，對所述ad芯片執(zhí)行所述ad初始化的操作。

14、在一個可選的實施方式中，所述方法還包括：

15、獲取所述ad芯片的第一上電時間，及主控制器對應(yīng)的第二上電時間；

16、當所述第一上電時間和所述第二上電時間不一致時，確定所述第一上電時間和所述第二上電時間的時間差值；

17、根據(jù)所述時間差值對所述ad芯片執(zhí)行所述ad初始化的操作，及對所述主控制器執(zhí)行主控制器初始化的操作；

18、重復執(zhí)行上述步驟，直至所述第一上電時間和所述第二上電時間一致。

19、在一個可選的實施方式中，根據(jù)所述時間差值對所述ad芯片執(zhí)行所述ad初始化的操作，及對所述主控制器執(zhí)行主控制器初始化的操作包括：

20、確定所述ad芯片所對應(yīng)的第一電源軌和所述主控制器所對應(yīng)的第二電源軌；

21、當所述第一電源軌和所述第二電源軌一致時，根據(jù)所述時間差值確定所述ad芯片的第一上電順序和所述主控制器的第二上電順序；

22、當所述第一上電順序大于所述第二上電順序時，根據(jù)所述時間差值增加延時執(zhí)行操作，待所述延時執(zhí)行操作完成后對所述主控制器執(zhí)行所述主控制器初始化的操作；

23、當所述第一上電順序小于所述第二上電順序時，對所述ad芯片執(zhí)行所述ad初始化的操作后，根據(jù)所述時間差值控制所述ad芯片進入等待模式。

24、在一個可選的實施方式中，所述方法還包括：

25、當所述第一電源軌和所述第二電源軌不一致時，根據(jù)所述時間差值確定所述第一電源軌的第三上電時間，及確定所述第二電源軌的第四上電時間；

26、控制所述第一電源軌根據(jù)所述第三上電時間進行上電處理，及控制所述第二電源軌根據(jù)所述第四上電時間進行上電處理。

27、在一個可選的實施方式中，所述方法還包括：

28、當檢測到所述ad芯片和所述主控制器均處于上電狀態(tài)時，對所述ad芯片執(zhí)行第一上電自檢測試，及對所述主控制器執(zhí)行第二上電自檢測試；

29、當所述第一上電自檢測試的第一測試結(jié)果和所述第二上電自檢測試的第二測試結(jié)果均為測試成功時，對所述ad芯片執(zhí)行所述ad初始化的操作；

30、當所述第一測試結(jié)果和所述第二測試結(jié)果均為測試失敗時，對所述ad芯片和所述主控制器均執(zhí)行重啟操作；

31、當所述第一測試結(jié)果為測試成功，且所述第二測試結(jié)果為測試失敗時，將所述主控制器切換為備用主控制器，及對所述備用控制器執(zhí)行第三上電自檢測試；

32、當所述第一測試結(jié)果為測試失敗，且所述第二測試結(jié)果為測試成功時，不執(zhí)行所述初始id值的采集操作。

33、本申請第二方面提供一種ad芯片上電數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：

34、上位機和下位機，所述上位機和所述下位機建立通訊連接；

35、所述上位機包括主控制器和備用控制器，所述主控制器用于發(fā)送控制指令至所述下位機以使得所述下位機執(zhí)行所述控制指令所對應(yīng)的操作；

36、所述備用控制器，用于當所述主控器處于異常狀態(tài)時，發(fā)送所述控制指令至所述下位機以使得所述下位機執(zhí)行所述控制指令所對應(yīng)的操作；

37、所述下位機包括ad芯片，所述ad芯片用于接收所述控制指令，及執(zhí)行所述控制指令所對應(yīng)的操作。

38、在一個可選的所述方式中，所述上位機包括存儲器、處理器以及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)所述的ad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法的步驟。

39、本申請第三方面提供一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述ad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法的步驟。

40、綜上所述，本申請?zhí)峁┑腶d芯片上電數(shù)據(jù)采集方法及系統(tǒng)，根據(jù)預設(shè)的時間周期（嘗試從ad芯片的id狀態(tài)寄存器中讀取初始id值，如果讀取到的初始id值與ad芯片的標準id值不匹配，說明ad芯片還未準備好或配置不正確，則對ad芯片執(zhí)行初始化操作，將其重置到已知的穩(wěn)定狀態(tài)，初始化完成后，再次從id狀態(tài)寄存器中讀取初始id值，如果此時id值與標準id值匹配，說明ad芯片已經(jīng)準備好，可以開始正常的數(shù)據(jù)采集工作。如果id值仍然不匹配，重復上述初始化和讀取id值的步驟，直到id值匹配為止，通過在上電后的一段時間內(nèi)反復讀取并驗證ad芯片的id值，確保ad芯片已經(jīng)準備好，并處于正確的工作狀態(tài)，從而解決了上電不同步導致的ad芯片上電數(shù)據(jù)采集不準確的問題。

技術(shù)特征：

1.一種ad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的ad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法，其特征在于，所述方法還包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的ad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法，其特征在于，所述方法還包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任意一項所述的ad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法，其特征在于，所述方法還包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的ad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法，其特征在于，根據(jù)所述時間差值對所述ad芯片執(zhí)行所述ad初始化的操作，及對所述主控制器執(zhí)行主控制器初始化的操作包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的ad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法，其特征在于，所述方法還包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的ad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法，其特征在于，所述方法還包括：

8.一種ad芯片上電數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的ad芯片上電數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，其特征在于，所述上位機包括存儲器、處理器以及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項所述的ad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項所述的ad芯片上電數(shù)據(jù)采集方法的步驟。

技術(shù)總結(jié)
本申請涉及工業(yè)設(shè)備控制技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種AD芯片上電數(shù)據(jù)采集方法及系統(tǒng)。本申請通過AD芯片上電數(shù)據(jù)采集方法及系統(tǒng)，根據(jù)第一預設(shè)時間周期從AD芯片的ID狀態(tài)寄存器中讀取AD芯片所對應(yīng)的初始ID值，如果初始ID值與標準ID值不匹配時，對AD芯片執(zhí)行AD初始化的操作，并AD初始化執(zhí)行完成后，控制所AD芯片從ID狀態(tài)寄存器中重新讀取ID值，如果初始ID值與標準ID值匹配時，直接控制AD芯片從ID狀態(tài)寄存器中讀取ID值，提高了AD芯片上電數(shù)據(jù)采集的準確性。

技術(shù)研發(fā)人員：羅宏
受保護的技術(shù)使用者：深圳市華茂歐特科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/10