本技術(shù)涉及芯片貼裝,尤其涉及到一種減少芯片焊接氣泡率的鋼網(wǎng)結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù):
1、在pcba的制程中,需要在pcb板上的焊點上進行植錫,在這個工序中,就需要鋼網(wǎng)來完成這項操作;但是,傳統(tǒng)的鋼網(wǎng)其植錫孔就是單純的通孔,焊點空洞或氣泡的出現(xiàn)是常見的問題,這些空洞和氣泡可能會影響焊點的強度和電氣連通性,從而降低電路板的性能和可靠性,因此,為了降低芯片焊接的氣泡率,我們需要設(shè)置一種新的結(jié)構(gòu),以克服上述缺陷。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供了一種減少芯片焊接氣泡率的鋼網(wǎng)結(jié)構(gòu)。
2、本實用新型是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的:
3、一種減少芯片焊接氣泡率的鋼網(wǎng)結(jié)構(gòu),包括:
4、鋼網(wǎng)主體,所述鋼網(wǎng)主體的表面設(shè)有若干植錫區(qū)域,所述植錫區(qū)域的表面開設(shè)有若干植錫網(wǎng)孔,所述植錫網(wǎng)孔的外部四個角處均設(shè)有定位孔組;
5、連接架橋,所述連接架橋設(shè)置于所述植錫網(wǎng)孔內(nèi),所述連接架橋為“一”字型結(jié)構(gòu)。
6、本技術(shù)方案的進一步設(shè)置為:所述連接架橋的表面與所述鋼網(wǎng)主體的表面齊平。
7、本技術(shù)方案的進一步設(shè)置為:所述連接架橋?qū)⑺鲋插a網(wǎng)孔一分為二。
8、本技術(shù)方案的進一步設(shè)置為:所述連接架橋的寬度與所述植錫網(wǎng)孔的直徑比為0.2-0.4。
9、本技術(shù)方案的進一步設(shè)置為:所述植錫網(wǎng)孔的直徑為0.6mm,所述連接架橋的寬度為0.13mm。
10、本技術(shù)方案的進一步設(shè)置為:所述定位孔組包括兩個平行設(shè)置的矩形通孔。
11、本實用新型公開了一種減少芯片焊接氣泡率的鋼網(wǎng)結(jié)構(gòu),與現(xiàn)有技術(shù)相比:
12、1、本技術(shù)方案通過在植錫網(wǎng)孔內(nèi)設(shè)置連接架橋,連接架橋可以使得在進行植錫時,作為排氣通道使用,其在很大程度上可以減少氣泡的產(chǎn)生,提高焊點的強度和電氣連通性,從而提高電路板的性能和可靠性;
13、2、本技術(shù)方案的連接架橋?qū)⒅插a網(wǎng)孔均分為二,便于在植錫過程中進行排氣。
1.一種減少芯片焊接氣泡率的鋼網(wǎng)結(jié)構(gòu),其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種減少芯片焊接氣泡率的鋼網(wǎng)結(jié)構(gòu),其特征在于:所述連接架橋(200)的表面與所述鋼網(wǎng)主體(100)的表面齊平。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種減少芯片焊接氣泡率的鋼網(wǎng)結(jié)構(gòu),其特征在于:所述連接架橋(200)將所述植錫網(wǎng)孔(101)一分為二。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種減少芯片焊接氣泡率的鋼網(wǎng)結(jié)構(gòu),其特征在于:所述連接架橋(200)的寬度與所述植錫網(wǎng)孔(101)的直徑比為0.2-0.4。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種減少芯片焊接氣泡率的鋼網(wǎng)結(jié)構(gòu),其特征在于:所述植錫網(wǎng)孔(101)的直徑為0.6mm,所述連接架橋(200)的寬度為0.13mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種減少芯片焊接氣泡率的鋼網(wǎng)結(jié)構(gòu),其特征在于:所述定位孔組(102)包括兩個平行設(shè)置的矩形通孔。