一種新型輸入檢測電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域,用于檢測1不同輸入狀態(tài)的電路。
【背景技術(shù)】
[0002]在集成電路設(shè)計(jì)中,經(jīng)常需要通過外部1來選擇不同的工作模式,常規(guī)的工作模式選擇電路有兩種:一種為數(shù)字輸入,另一種用ADC檢測模擬輸入;前者結(jié)構(gòu)簡單,但是在工作模式較多的時(shí)候所需1校多,后者結(jié)構(gòu)復(fù)雜。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]基于傳統(tǒng)檢測電路的缺陷,本發(fā)明公開一種簡單的檢測電路,可以識(shí)別1連接電源、地、上拉電阻、下拉電阻、懸空這5種狀態(tài),特別適合工作模式在3到5種的集成電路設(shè)計(jì),可以有效的節(jié)省1數(shù)量;大大提高1的使用效率。
【附圖說明】
[0004]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0005]圖1本發(fā)明的新型輸入檢測電路;
圖2本發(fā)明的新型輸入檢測電路的一種應(yīng)用;
圖3本發(fā)明的新型輸入檢測電路真值表。
【具體實(shí)施方式】
[0006]以下結(jié)合附圖,詳細(xì)說明發(fā)明公開的一種負(fù)電壓觸發(fā)的控制電路的結(jié)構(gòu)和工作過程。
[0007]圖1是本發(fā)明的一種可以識(shí)別5種輸入狀態(tài)的輸入檢測電路,可以有效的節(jié)省集成電路的1數(shù)量;具體電路由兩個(gè)偏置電流源、兩個(gè)開關(guān)以及兩個(gè)比較器構(gòu)成;偏置電流源Il的一端連接到電源VDD,另一端連接到開關(guān)SI的一端;開關(guān)SI的一端連接到偏置電流源Il的一端,另一端連接到輸入1端IN ;偏置電流源12的一端連接到地,另一端連接到開關(guān)S2的一端;開關(guān)S2的一端連接到偏置電流源12的一端,另一端連接到輸入1端IN ;比較器Xl的輸入正端連接到輸入IN,輸入負(fù)端連接到參考電壓VH,輸出端節(jié)點(diǎn)為OUTH ;比較器X2的輸入正端連接到輸入IN,輸入負(fù)端連接到參考電壓VL,輸出端節(jié)點(diǎn)為0UTL。
[0008]圖2是本發(fā)明的一種可能的應(yīng)用,下面結(jié)合圖2分析本發(fā)明的工作原理;其中Rl和R2電阻值相同為R,偏置電流源Il和12電流相等為I,參考電壓0〈VL〈R*1、VDD-R*I〈VH〈VDD,且VDD-R*I > R*I ;電路由本發(fā)明的檢測電路a和外圍電路b兩部份構(gòu)成,下面分別分析5種狀態(tài)。
[0009]外接上拉電阻:當(dāng)外圍電路S3閉合,S4、S5、S6斷開,則外圍輸入為上拉電阻R1,首先檢測電路SI閉合,S2斷開,此時(shí)IN電壓VIN=VDD,OUTH輸出高,OUTL輸出高;然后檢測電路SI斷開,S2閉合,此時(shí)偏置電流源12輸出電流上拉電阻Rl,Vin= VDD-R*I,OUTH輸出低,OUTL輸出高。
[0010]外接下拉電阻:當(dāng)外圍電路S4閉合,S3、S5、S6斷開,則外圍輸入為下拉電阻R2,首先檢測電路SI閉合,S2斷開,此時(shí)偏置電流源Il輸出電流流經(jīng)下拉電阻R4,Vin= R*I,OUTH輸出低,OUTL輸出高;然后檢測電路SI斷開,S2閉合,Vin= 0,OUTH輸出低,OUTL輸出低;
外接電源:當(dāng)外圍電路S5閉合,S4、S4、S6斷開,則外圍輸入接電源,首先檢測電路SI閉合,S2斷開,此時(shí)IN電壓Vin=VDD, OUTH輸出高,OUTL輸出高;然后檢測電路SI斷開,S2閉合,Vin= VDD, OUTH輸出高,OUTL輸出高。
[0011]外接地:當(dāng)外圍電路S6閉合,S4、S4、S5斷開,則外圍輸入接地,首先檢測電路SI閉合,S2斷開,此時(shí)IN電壓Vin=O,OUTH輸出低,OUTL輸出低;然后檢測電路SI斷開,S2閉合,Vin= 0,OUTH輸出低,OUTL輸出低。
[0012]懸空:當(dāng)外圍電路S4、S4、S5、S6均斷開,則外圍輸入懸空,首先檢測電路SI閉合,S2斷開,此時(shí)IN電壓Vin= VDD,OUTH輸出高,OUTL輸出高;然后檢測電路SI斷開,S2閉合,Vin= 0,OUTH輸出低,OUTL輸出低。
[0013]綜合以上分析得到本發(fā)明的新型輸入檢測電路的政治表如圖3。通過兩次比較可以區(qū)分5中不同的輸入狀態(tài),特別適合于工作模式在3到5種的集成電路設(shè)計(jì)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電路結(jié)構(gòu),包括: 一種可以識(shí)別5種輸入狀態(tài)的輸入檢測電路,可以有效的節(jié)省集成電路的1數(shù)量;具體電路由兩個(gè)偏置電流源、兩個(gè)開關(guān)以及兩個(gè)比較器構(gòu)成;偏置電流源Il的一端連接到電源VDD,另一端連接到開關(guān)SI的一端;開關(guān)SI的一端連接到偏置電流源Il的一端,另一端連接到輸入1端IN ;偏置電流源12的一端連接到地,另一端連接到開關(guān)S2的一端;開關(guān)S2的一端連接到偏置電流源12的一端,另一端連接到輸入1端IN ;比較器Xl的輸入正端連接到輸入IN,輸入負(fù)端連接到參考電壓VH,輸出端節(jié)點(diǎn)為OUTH ;比較器X2的輸入正端連接到輸入IN,輸入負(fù)端連接到參考電壓VL,輸出端節(jié)點(diǎn)為0UTL。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述輸入檢測電路,其特征在于通過檢測電流源流經(jīng)上拉或下拉電阻的壓降來檢測輸入的狀態(tài)。
【專利摘要】在集成電路設(shè)計(jì)中,經(jīng)常需要通過外部IO來選擇不同的工作模式,常規(guī)的工作模式選擇電路有兩種:一種為數(shù)字輸入,另一種用ADC檢測模擬輸入;前者結(jié)構(gòu)簡單,但是在工作模式較多的時(shí)候所需IO校多,后者結(jié)構(gòu)復(fù)雜;本發(fā)明公開一種簡單的檢測電路,可以識(shí)別IO連接電源、地、上拉電阻、下拉電阻、懸空這5種狀態(tài),特別適合工作模式在3到5種的集成電路設(shè)計(jì),可以有效的節(jié)省IO數(shù)量。
【IPC分類】H03K19/0175
【公開號(hào)】CN104901679
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510319997
【發(fā)明人】李亞
【申請(qǐng)人】長沙景嘉微電子股份有限公司
【公開日】2015年9月9日
【申請(qǐng)日】2015年6月12日