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      低噪聲放大器的制造方法

      文檔序號:10555256閱讀:683來源:國知局
      低噪聲放大器的制造方法
      【專利摘要】本發(fā)明涉及一種低噪聲放大器,包括:輸入級,與通信接收機的天線連接,用于接收所述天線傳輸?shù)男盘?;匹配級,與所述輸入級連接,所述天線傳輸?shù)男盘柾瑫r傳輸?shù)剿鲚斎爰壓退銎ヅ浼?,所述匹配級用于調(diào)節(jié)電路的輸入匹配;隔離級,與所述輸入級連接,用于防止輸出端的信號影響所述輸入級的信號;負載級,與所述隔離級連接,用于所述天線傳輸?shù)男盘柾ㄟ^所述負載級輸出到所述輸出端。本發(fā)明提供的低噪聲放大器,能夠?qū)崿F(xiàn)低電壓和低功耗應用,滿足增益變換的需求,減小電路版圖面積,節(jié)約芯片生產(chǎn)的成本。
      【專利說明】
      低噪聲放大器
      技術(shù)領(lǐng)域
      [0001]本發(fā)明涉及集成電路領(lǐng)域,尤其涉及一種低噪聲放大器。
      【背景技術(shù)】
      [0002]低噪聲放大器是通信接收機重要模塊之一,主要功能就是將接收到的信號進行放大,以便使后一級的模塊處理。低噪聲放大器一般位于天線之后,是整個接收系統(tǒng)的第一級,這就要求低噪聲放大器必須符合要求:自身必須低噪聲;輸入匹配比較好,具有盡量小的反射系數(shù)。
      [0003]隨著技術(shù)的發(fā)展,電容交叉耦合低噪聲放大器已經(jīng)成為常見的電路(如圖1所示),但是該電路需要四個電感。在集成電路中電感占有極大的面積,大大提高了芯片的生產(chǎn)成本。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]技術(shù)問題
      [0005]有鑒于此,本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是,如何提供一種生產(chǎn)成本低且占用面積小的低噪聲放大器。
      [0006]解決方案
      [0007]為解決以上技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種低噪聲放大器,包括:
      [0008]輸入級,與通信接收機的天線連接,用于接收所述天線傳輸?shù)男盘枺?br>[0009]匹配級,與所述輸入級連接,所述天線傳輸?shù)男盘柾瑫r傳輸?shù)剿鲚斎爰壓退銎ヅ浼?,所述匹配級用于調(diào)節(jié)電路的輸入匹配;
      [0010]隔離級,與所述輸入級連接,用于防止輸出端的信號影響所述輸入級的信號;
      [0011 ]負載級,與所述隔離級連接,用于所述天線傳輸?shù)男盘柾ㄟ^所述負載級輸出到所述輸出端。
      [0012]在一種可能的實現(xiàn)方式中,所述輸入級包括:第一晶體管Ml的柵極通過第二電容C2耦合到第二晶體管M2的源極,所述第一晶體管Ml的源極連接輸入正端VINP,所述第二晶體管M2的柵極通過第一電容Cl耦合到所述第一晶體管Ml的源極,所述第二晶體管M2的源極連接到輸入負端VINN。
      [0013]在一種可能的實現(xiàn)方式中,所述隔離級包括:第三晶體管M3的源極與所述第一晶體管Ml的漏極耦合,所述第三晶體管M3的漏極與第一輸出端VOUTP連接,第四晶體管M4的源極與所述第二晶體管M2的漏極耦合,所述第四晶體管M4的漏極與第二輸出端VOUTN連接。
      [0014]在一種可能的實現(xiàn)方式中,所述負載級包括:第五晶體管M5和第六晶體管M6的源極連接到電源VDD上,所述第五晶體管M5的漏極連接所述第一輸出端V0UTP,所述第六晶體管M6的漏極連接第二輸出端VOUTN,差分電感LI的中心抽頭連接到電源VDD上,一端連接所述第一輸出端VOUTP,另一端連接所述第二輸出端VOUTN。
      [0015]在一種可能的實現(xiàn)方式中,所述匹配級包括:第七晶體管M7的漏極連接所述輸入正端VINP,所述第七晶體管M7的源極接地,第八晶體管M8的漏極連接所述輸入負端VINN,所述第八晶體管M8的源極接地。
      [0016]在一種可能的實現(xiàn)方式中,所述第一晶體管M1、所述第二晶體管M2、所述第三晶體管M3、所述第四晶體管M4、所述第七晶體管M7和所述第八晶體管M8為NMOS晶體管。
      [0017]在一種可能的實現(xiàn)方式中,所述第五晶體管M5和所述第六晶體管M6為PMOS晶體管。
      [0018]在一種可能的實現(xiàn)方式中,所述低噪聲放大器的電壓增益可以表達為:
      [0019]G3 = gml*(l+A)*RLoad
      [°02°]其中,G3代表所述低噪聲放大器的電壓增益,gml代表所述第一晶體管Ml的小信號跨導,RLoad由所述第三晶體管M3、所述第五晶體管M5和所述差分電感LI工作時的等效電阻值確定,A代表電容構(gòu)成的輔助放大器的放大倍數(shù)。
      [0021]有益效果
      [0022]本發(fā)明提供的低噪聲放大器,能夠?qū)崿F(xiàn)低電壓和低功耗應用,滿足增益變換的需求,減小電路版圖面積,節(jié)約芯片生產(chǎn)的成本。
      [0023]根據(jù)下面參考附圖對示例性實施例的詳細說明,本發(fā)明的其它特征及方面將變得清楚。
      【附圖說明】
      [0024]包含在說明書中并且構(gòu)成說明書的一部分的附圖與說明書一起示出了本發(fā)明的示例性實施例、特征和方面,并且用于解釋本發(fā)明的原理。
      [0025]圖1是現(xiàn)有的電容交叉耦合低噪聲放大器原理圖;
      [0026]圖2是本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器的原理圖;
      [0027]圖3是本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器的增益結(jié)果曲線;
      [0028]圖4是本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器的噪聲結(jié)果曲線。
      【具體實施方式】
      [0029]以下將參考附圖詳細說明本發(fā)明的各種示例性實施例、特征和方面。附圖中相同的附圖標記表示功能相同或相似的元件。盡管在附圖中示出了實施例的各種方面,但是除非特別指出,不必按比例繪制附圖。
      [0030]在這里專用的詞“示例性”意為“用作例子、實施例或說明性”。這里作為“示例性”所說明的任何實施例不必解釋為優(yōu)于或好于其它實施例。
      [0031]另外,為了更好的說明本發(fā)明,在下文的【具體實施方式】中給出了眾多的具體細節(jié)。本領(lǐng)域技術(shù)人員應當理解,沒有某些具體細節(jié),本發(fā)明同樣可以實施。在一些實例中,對于本領(lǐng)域技術(shù)人員熟知的方法、手段、元件未作詳細描述,以便于凸顯本發(fā)明的主旨。
      [0032]實施例1
      [0033]圖2是本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器的原理圖,如圖2所示,本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器,是一種電容交叉耦合低噪聲放大器,包括:輸入級、匹配級、隔離級、負載級。
      [0034]輸入級,包括第一晶體管Ml和第二晶體管M2,與通信接收機的天線連接,用于接收所述天線傳輸?shù)男盘?。匹配級,與所述輸入級連接,包括第七晶體管M7和第八晶體管M8,所述天線傳輸?shù)男盘柾瑫r傳輸?shù)剿鲚斎爰壓退銎ヅ浼?,所述匹配級用于調(diào)節(jié)電路的輸入匹配。隔離級,與所述輸入級連接,包括第三晶體管M3和第四晶體管M4,用于防止輸出端的信號影響所述輸入級的信號。負載級,與所述隔離級連接,包括第五晶體管M5、第六晶體管M6和差分電感LI,所述天線傳輸?shù)男盘柾ㄟ^所述負載級輸出到輸出端。
      [0035]本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器,與圖1所示的【背景技術(shù)】類似也屬于CG-CS結(jié)構(gòu),包括輸入級、負載級,但是本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器與圖1相比增加了隔離級和匹配級。一般的放大器只是包括了輸入級和負載級,信號經(jīng)過輸入級輸入,通過負載級輸出。本發(fā)明實施例增加了匹配級,主要原因是低噪聲放大器需要很高的輸入匹配,只是通過一個輸入級做簡單的匹配很難做到比較好的輸入匹配,通過匹配級可以容易地調(diào)節(jié)電路的輸入匹配。同時,本發(fā)明實施例增加了隔離級,主要原因是低噪聲放大器的輸出一般連接在混頻器電路,混頻器的本振信號比較強,如果混頻器的隔離度不好,混頻器的本振很容易影響混頻器的輸入信號,即低噪聲放大器的輸出信號,如果低噪聲放大器沒有隔離級,會影響低噪聲放大器的輸入信號。因此,通過設(shè)置隔離級可以防止低噪聲放大器輸出端的信號影響輸入端的信號。信號所經(jīng)過本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器的通路是:信號同時輸入輸入級和匹配級,然后再經(jīng)過隔離級,進而通過負載級輸出外部。
      [0036]發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器通過CMOS管代替原有的電感,節(jié)省了面積。并且,通過增加CMOS,增加負載,然后通過電壓控制來改變CMOS的工作狀態(tài)從而改變低噪聲放大器的放大倍數(shù)。具體包括:
      [0037]輸入級包括:第一晶體管Ml的柵極通過第二電容C2耦合到第二晶體管M2的源極,第一晶體管Ml的源極連接輸入正端VINP,第二晶體管M2的柵極通過第一電容Cl耦合到第一晶體管Ml的源極,第二晶體管M2的源極連接到輸入負端VINN。
      [O O3 8 ]隔離級具體包括:第三晶體管M 3的源極與第一晶體管MI的漏極親合,第三晶體管M3的漏極與第一輸出端VOUTP連接,第四晶體管M4的源極與第二晶體管M2的漏極耦合,第四晶體管M4的漏極與第二輸出端VOUTN連接。
      [0039]負載級具體包括:第五晶體管M5和第六晶體管M6的源極連接到電源VDD上,第五晶體管M5的漏極連接第一輸出端VOUTP,第六晶體管M6的漏極連接第二輸出端VOUTN,差分電感LI的中心抽頭連接到電源VDD上,一端連接第一輸出端VOUTP,另一端連接第二輸出端VOUTN0
      [0040]匹配級具體包括:第七晶體管M7的漏極連接所述輸入正端VINP,第七晶體管M7的源極接地,第八晶體管M8的漏極連接所述輸入負端VINN,第八晶體管M8的源極接地,可以通過Vb2調(diào)節(jié)柵極電壓靈活改變M7和M8的工作狀態(tài),可以避免實際偏差。
      [0041 ]在一種可能的實現(xiàn)方式中,第一晶體管Ml、第二晶體管M2、第三晶體管M3、第四晶體管M4、第七晶體管M7和第八晶體管M8為NMOS晶體管。
      [0042]在一種可能的實現(xiàn)方式中,第五晶體管M5和所述第六晶體管M6為PMOS晶體管。
      [0043]本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器具體的工作原理如下:
      [0044]假設(shè)低噪聲放大器所需匹配的電阻為50歐姆,那么低噪聲的輸入電阻也必須為50歐姆,即低噪聲放大器的阻抗為50歐姆,低噪聲放大器的阻抗由兩部分組成。Zini代表從射頻信號輸入正端VINP和射頻信號輸入負端VINN看進匪OS管M7和M8源端的阻抗,Zini可以表達為:
      [0045]ZlNl = I/gm7(I)
      [0046]gm7 是 NMOS 管 M7 的跨導;
      [0047]ZIN2代表從射頻信號輸入正端VINP和射頻信號輸入負端VINN看進NMOS管Ml和M2源端的阻抗,而ZIN2由于輔助放大器的反饋作用,阻抗會減小,ZIN2可以表達為:
      [0048]Zin2 = 1/(1+A)gmi(2)
      [0049]gml是NMOS管Ml的跨導;A代表電容構(gòu)成的輔助放大器的放大倍數(shù),由NMOS管Ml和M2和電容Cl和電容C2所組成的交叉耦合-共柵放大器的放大倍數(shù),其表達式:
      [0050]A = C1/(C1+Cgsi)(3)
      [0051 ] 0^是應05管Ml的柵極和源極之間的電容。
      [0052]綜合式(I)和式(2),從射頻信號輸入正端VINP和射頻信號輸入負端VINN看進去的總阻抗可以以導納的形式表達為:
      [0053]GIN=gm7+(l+A)*gmi(4)
      [0054]GIN代表從射頻信號輸入正端VINP和射頻信號輸入負端VINN看進去的總導納。
      [0055]通過VbJPVb2分別調(diào)節(jié)柵極電壓來改變匪OS管的Ml、M2和M7、M8的工作狀態(tài),進而改變輸入級的Ml和匹配級的M7的跨導,進而改變了低噪聲的輸入阻抗,從而能夠優(yōu)化電路的匹配狀態(tài)。
      [0056]¥町^2^3分別通過大的偏置電阻為匪03管祖、12、17、18和?105管15、16提供偏置電壓。
      [0057]通過Vb3調(diào)節(jié)柵極電壓來改變PMOS管的M5和M6的工作狀態(tài),調(diào)整電路的負載,改變放大器的電壓增益。
      [0058]在通信系統(tǒng)中,一般接收到的信號強弱會變化,為了保證系統(tǒng)的性能,低噪聲放大器的增益也必須可以變化,這就對低噪聲放大器提出新的要求。本發(fā)明通過一個電壓控制,可以改變低噪聲放大器的增益。
      [0059]電壓增益調(diào)解具體原理分析如下:本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器的增益可以分成兩個部分,從MOS管Ml和M2的源端輸入的射頻信號通過隔離級的NMOS管M3和M4和負載級的PMOS管M5和M6,以及差分電感LI所引起的電壓增益記為G1,從匪OS管MI和M2的柵端輸入的射頻信號所引起的電壓增益記為G2。表達為:
      [0060]Gl = gml*RLoad(5)
      [0061 ] gml代表NMOS管Ml或NMOS管M2的小信號跨導(它們的跨導相同),RLciad代表NMOS管M3和M4,PMOS管M5和M6,和差分電感LI工作時等效電阻值,其表達式:
      [0062]RLoad = Rli//Rm5+Rm3(6)
      [0063]Rli代表差分電感LI的等效電阻值,Rm5、Rm3分別是PMOS管M5和匪OS管M3的等效電阻。
      [0064]G2則可以表達為:
      [0065]G2 = A*Gi(7)
      [0066]A代表電容構(gòu)成的輔助放大器的放大倍數(shù),如公式(3);
      [0067 ]利用電路的疊加原則,電路的最終電壓增益G3可以表達為:
      [0068]G3 = gml*(l+A)*RLoad(5)
      [0069]NMOS管M3和M4對輸入和輸出有著隔離作用,同時也可以調(diào)整它們的柵極電壓;當柵極電壓為OV時即ro = 0V,使電路進入關(guān)閉P0WERD0WEN狀態(tài),低噪聲放大器電路不工作,整個的電路電流為零,避免消耗能量。
      [0070]本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器電路使用了55nm CMOS工藝,1.2V的電源供電。當¥81 = 67511^、¥82 = 1.2¥、¥83 = 1.2¥時晶體管機和]\12、]\17和]\18的偏置電流都為2.2511^。而]\15和M6的偏置電流為OA。
      [0071]提取本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器集成電路版圖的寄生參數(shù),進行仿真得到低噪聲放大器的增益曲線和噪聲指數(shù)曲線。圖3是本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器的增益結(jié)果曲線,曲線顯示在窄帶2.4GHZ-2.5GHz內(nèi)得到了24dB電壓增益。圖4是本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器的噪聲結(jié)果曲線,2.4GHz-2.5GHz的帶寬內(nèi),其最大噪聲指數(shù)NFmax為3.3dB,出現(xiàn)在2.5GHz,帶內(nèi)最小噪聲指數(shù)約為2.9dB。同時,如果改變VB3的電壓,從O V到1.2V,低噪聲放大器的增益可以從-1OdB到24dB變換。
      [0072]以上結(jié)果表明,本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器在1.2V供電條件下,工作電流為4.5mA,和現(xiàn)有的一般的共柵-共源結(jié)構(gòu)的低噪聲放大器相比,該低噪聲放大器容易實現(xiàn)低電壓和低功耗應用,同時可以滿足增益變換的需求,更接近實際需要,并且,本發(fā)明實施例提供的低噪聲放大器只使用了一個電感,版圖的面積為630UmX400Um,與一般的低噪聲放大器的面積做比較,面積大大的減少,同時節(jié)約了芯片生產(chǎn)的成本。
      [0073]以上所述,僅為本發(fā)明的【具體實施方式】,但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此,任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi),可輕易想到變化或替換,都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此,本發(fā)明的保護范圍應以所述權(quán)利要求的保護范圍為準。
      【主權(quán)項】
      1.一種低噪聲放大器,其特征在于,包括: 輸入級,與通信接收機的天線連接,用于接收所述天線傳輸?shù)男盘枺?匹配級,與所述輸入級連接,所述天線傳輸?shù)男盘柾瑫r傳輸?shù)剿鲚斎爰壓退銎ヅ浼墸銎ヅ浼売糜谡{(diào)節(jié)電路的輸入匹配; 隔離級,與所述輸入級連接,用于防止輸出端的信號影響所述輸入級的信號; 負載級,與所述隔離級連接,用于所述天線傳輸?shù)男盘柾ㄟ^所述負載級輸出到所述輸出端。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低噪聲放大器,其特征在于,所述輸入級包括:第一晶體管(Ml)的柵極通過第二電容(C2)耦合到第二晶體管(M2)的源極,所述第一晶體管(Ml)的源極連接輸入正端(VINP),所述第二晶體管(M2)的柵極通過第一電容(Cl)耦合到所述第一晶體管(Ml)的源極,所述第二晶體管(M2)的源極連接到輸入負端(VINN)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的低噪聲放大器,其特征在于,所述隔離級包括:第三晶體管(M3)的源極與所述第一晶體管(Ml)的漏極耦合,所述第三晶體管(M3)的漏極與第一輸出端(VOUTP)連接,第四晶體管(M4)的源極與所述第二晶體管(M2)的漏極耦合,所述第四晶體管(M4)的漏極與第二輸出端(VOUTN)連接。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的低噪聲放大器,其特征在于,所述負載級包括:第五晶體管(M5)和第六晶體管(M6)的源極連接到電源(VDD)上,所述第五晶體管(M5)的漏極連接所述第一輸出端(VOUTP),所述第六晶體管(M6)的漏極連接第二輸出端(VOUTN),差分電感(LI)的中心抽頭連接到電源(VDD)上,一端連接所述第一輸出端(VOUTP),另一端連接所述第二輸出端(VOUTN)。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的低噪聲放大器,其特征在于,所述匹配級包括:第七晶體管(M7)的漏極連接所述輸入正端(VINP),所述第七晶體管(M7)的源極接地,第八晶體管(M8)的漏極連接所述輸入負端(VINN),所述第八晶體管(M8)的源極接地。6.根據(jù)權(quán)利要求1至5所述的低噪聲放大器,其特征在于,包括:所述第一晶體管(Ml)、所述第二晶體管(M2)、所述第三晶體管(M3)、所述第四晶體管(M4)、所述第七晶體管(M7)和所述第八晶體管(M8)為NMOS晶體管。7.根據(jù)權(quán)利要求1至6所述的低噪聲放大器,其特征在于,包括:所述第五晶體管(M5)和所述第六晶體管(M6)為PMOS晶體管。8.根據(jù)權(quán)利要求1至7所述的低噪聲放大器,其特征在于,所述低噪聲放大器的電壓增益可以表達為:G3 = gml*(l+A)*RLoad 其中,G3代表所述低噪聲放大器的電壓增益,gml代表所述第一晶體管(Ml)的小信號跨導,Ruiad由所述第三晶體管(M3)、所述第五晶體管(M5)和所述差分電感(LI)工作時的等效電阻值確定,A代表電容構(gòu)成的輔助放大器的放大倍數(shù)。
      【文檔編號】H03G3/30GK105915181SQ201610141150
      【公開日】2016年8月31日
      【申請日】2016年3月14日
      【發(fā)明人】梅張雄, 程遠方
      【申請人】北京聯(lián)盛德微電子有限責任公司
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