專利名稱：監(jiān)控物理量的方法和電路布置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及監(jiān)控物理量的一種電路布置和方法，其中尤其是在電信設(shè)備上應(yīng)用的物理量，以及診斷按照本發(fā)明的電路布置的一種方法。
對于數(shù)字部件，電源電壓通過電壓監(jiān)控模塊來監(jiān)控。如果電源電壓理論值的偏差達到或超過一定的閾值，則電壓監(jiān)控模塊引發(fā)整個數(shù)字部件的復(fù)位，以下稱接通電源的復(fù)位，以便阻止不確定的邏輯-狀態(tài)。同樣，在接通電源電壓時，整個數(shù)字部件用一個接通電源的復(fù)位-信號負責，其作用是使數(shù)字部件只有在規(guī)定的時間之后或電源電壓達到穩(wěn)定狀態(tài)時才進入運行狀態(tài)。
對于對故障安全性有一定最低要求的系統(tǒng)，通常的是借助于內(nèi)置或外部的機構(gòu)、以規(guī)律性的時間間隔和/或按操作要求，在不斷的運行中進行診斷或自檢，一般稱為在線診斷。希望也將電壓監(jiān)控模塊納入到該在線診斷中，因為正是這些模塊有相對高的故障概率，即電壓監(jiān)控模塊有相對高的FIT Rate-Failure in Time Rate(故障率)。
如果在電壓監(jiān)控模塊的在線診斷范圍內(nèi)要測試具體功能的話，就是說通過在電壓監(jiān)控模塊相應(yīng)信號輸入端的輸入來模擬例如電源電壓波動，電壓監(jiān)控模塊何以產(chǎn)生一個激活的接通電源的復(fù)位-信號，則該接通電源的復(fù)位-信號同樣導(dǎo)致部件整個邏輯包括位于其上的處理器的復(fù)位。這些處理器之一，通常情況在整個診斷過程的范圍內(nèi)是作為一個測試步驟來引發(fā)電壓監(jiān)控測試。因為該測試如同例如接通電源電壓或電源電壓劇烈波動一樣被引發(fā)，對于處理器來說就很難區(qū)分是部件剛剛被接通-“真的”接通電源的復(fù)位-還是電壓監(jiān)控模塊的一個測試-“模擬的”接通電源的復(fù)位-對接通電源的復(fù)位負責。
其次，與部件啟動過程的接通電源的復(fù)位銜接。如果例如大的存儲范圍要格式化或大的數(shù)據(jù)量要從慢慢非易失存儲器加載到工作存儲器，該啟動過程或部件在接通電源的復(fù)位后啟動就需要有一個不小的時間間隔。
此問題的眾所周知的解決辦法是應(yīng)用一個存儲寄存器，例如靜態(tài)RAM存儲器，它不會因無斷電的純復(fù)位而被清除，以便在“真”和“模擬”接通電源的復(fù)位進行區(qū)分。該寄存器在每次接通電源的復(fù)位后被讀區(qū)。這區(qū)分為三種情況-在存儲寄存器中有“測試-數(shù)據(jù)模式”。
這是在此位置繼續(xù)下去的在線診斷范圍內(nèi)“模擬”接通電源復(fù)位的標志。
-在存儲寄存器中有“運行-數(shù)據(jù)模式”。
這是”真”復(fù)位的標志，它例如由于通過電壓監(jiān)控模塊的電壓波動或通過部件復(fù)位而引發(fā)。
-在存儲寄存器中既無“測試-數(shù)據(jù)模式”又無“運行-數(shù)據(jù)模式”。這是接通電源電壓后”真”接通電源復(fù)位的標志。處理器立即用“運行數(shù)據(jù)模式”寫滿寄存器，實現(xiàn)通常的部件-啟動。
然而這三種情況的區(qū)分，例如受物理效應(yīng)的限制，不是在所有情況都是明確唯一的。例如沒有規(guī)定靜態(tài)RAM存儲器在無工作電壓時還保持數(shù)據(jù)模式多久。能發(fā)生這種情況，即雖然部件已經(jīng)切斷了較長時間，甚至是數(shù)分鐘，存儲寄存器還保持著“運行-數(shù)據(jù)模式”。也能有這種情況，即“測試-數(shù)據(jù)模式”已經(jīng)寫入存儲寄存器，復(fù)位不是通過測試信號，而是通過一個偶然出現(xiàn)的電壓波動被引發(fā)，不能從這些情況中區(qū)分出復(fù)位是通過測試信號引發(fā)的。
本發(fā)明的任務(wù)是，改進已知的監(jiān)控物理量的方法和電路布置。
這些任務(wù)通過權(quán)利要求1以及9來解決。
優(yōu)選的實施型是與權(quán)利要求有關(guān)的對象。
按照本發(fā)明，通過電路布置來解決任務(wù)，其中包括-第一監(jiān)控模塊RG1去監(jiān)控至少一個物理量U1、U2，采用傳輸信號的措施在被監(jiān)控的物理量U1、U2從其預(yù)設(shè)的理論值范圍偏差時，經(jīng)第一輸出信號線路裝置PON_RES1_L_I向分析電路A和第一輸入信號線路裝置PON_TEST1_L_O去輸入第一測試信號，此時就像通過被監(jiān)控的物理量從其理論值范圍的偏離那樣，通過第一測試信號能產(chǎn)生第一監(jiān)控模塊RG1的相同的狀態(tài)交換，-至少一個另外的監(jiān)控模塊RG2去監(jiān)控至少一個物理量U1、U2，借助傳輸信號的措施在被監(jiān)控的物理量U1、U2從其預(yù)設(shè)的理論值范圍偏離時，經(jīng)另外輸出信號線路裝置PON_RES2_L_I向分析電路A和另外的輸入信號線路裝置PON_TEST2_L_O去輸入另外的測試信號，此時就像通過被監(jiān)控的物理量與其理論值范圍的偏差那樣，通過另外的測試信號能產(chǎn)生其它監(jiān)控模塊RG2的相同的狀態(tài)交換，-屬于分析電路A的連接元件V1，用于將經(jīng)第一輸出信號線路裝置PON_RES1_L_I和另外輸出信號線路裝置PON_RES2_L_I傳輸信號連接為由此產(chǎn)生的輸出信號PON_RES，-屬于分析電路A的第一寄存器裝置RTR，用于將在第一輸入信號線路裝置PON_TEST1_L_O上的第一測試信號和在另外輸入信號線路裝置PON_TEST2_L_O上的第二測試信號分開施加，此時第一寄存器裝置RTR包括從控制單元S接受控制信息(SI)的元件。
-屬于分析電路A的第二寄存器裝置RIR，它們連接到第一輸出信號線路裝置PON_RES1_L_I和另外輸出信號線路裝置PON_RES2_L_I并包括傳輸狀態(tài)信息ZI到控制單元S的元件。
-屬于分析電路A的控制單元S，包括用于分析第二寄存器裝置RIR狀態(tài)信息ZI的元件和發(fā)送控制信息SI到第一寄存器裝置RTR上的元件。
該改進后的電路布置的一個主要優(yōu)點在于，監(jiān)控通過至少兩個獨立的監(jiān)控模塊RG1、RG2進行，這樣通過適當選擇分析電路A的連接元件V1，與只用一個監(jiān)控模塊的電路布置相比，就達到了改進的結(jié)果。尤其有可能的是，對至少兩個獨立的監(jiān)控模塊RG1、RG2進行互不相關(guān)的測試。與已知的解決辦法相比，有了顯著優(yōu)點，即不用引發(fā)包括測試邏輯和診斷邏輯在內(nèi)的整個數(shù)字部件的復(fù)位或置零，就能測試監(jiān)控模塊RG1、RG2。
還有的優(yōu)點是，監(jiān)控模塊的信號借助于邏輯“與”功能來連接-權(quán)利要求2。這樣，只有一個通過至少兩個監(jiān)控模塊RG1、RG2同時確定的狀態(tài)，能為數(shù)字部件產(chǎn)生一個有效的復(fù)位-信號PON_RES。監(jiān)控模塊之一的單個復(fù)位-信號在該模塊的測試范圍內(nèi)，不引發(fā)整個數(shù)字部件的復(fù)位。
為了確保分析電路A的可靠性和檢測故障，將分析電路納入到高一級單元的自檢-或診斷策略-權(quán)利要求3和4。尤其是對于專門用途的集成的電路，所謂的ASICs，提供有以內(nèi)置自檢(Bilt-in SelfTest)形式的方法和電路技術(shù)的實現(xiàn)，這些都能以簡單的方式應(yīng)用到分析電路A或分析電路A的部分上-權(quán)利要求4。
電路布置適用于對所有物理量的監(jiān)控，對于這些物理量，例如出自安全原因或為了避免部件受損以及為了測試相應(yīng)的監(jiān)控模塊，偏離理論值范圍就要求復(fù)位-權(quán)利要求5。
監(jiān)控電壓、電流和溫度對于電子部有特殊的意義-權(quán)利要求6。在對電壓監(jiān)控的情況下就能避免不確定的邏輯狀態(tài)。如果監(jiān)控電流和/或溫度，能通過中斷運行避免由于過高的損耗功率造成的損壞。
在電子邏輯部件中，通常出現(xiàn)兩個給邏輯模塊供電的電壓U1、U2，按照權(quán)利要求7，這兩個電壓由相應(yīng)的兩個監(jiān)控模塊監(jiān)控。
對于用高脈沖頻率驅(qū)動的脈沖的電子邏輯部件，要求在激活電路邏輯之前達到穩(wěn)定的脈沖狀態(tài)。按照權(quán)利要求8，經(jīng)不同的輸出信號線路裝置設(shè)置帶各自時間特性曲線的復(fù)位-信號，這樣相對于取消為脈沖產(chǎn)生的電路部分的復(fù)位-信號，就有可能取消為電路邏輯的復(fù)位-信號。
對監(jiān)控模塊RG1、RG2進行測試，在這種情況下-第一步通過控制裝置S選擇第一監(jiān)控模塊RG1，-第二步將此選擇所代表的控制信息SI傳輸給第一寄存器裝置RTR，-第三步借助于第一輸入信號線路裝置PON_TEST1_L_O將測試信號傳輸給監(jiān)控模塊RG1，-第四步由第二寄存器裝置RIR產(chǎn)生的、代表輸出信號線路裝置PON_RES1_L_I、PON_RES2_L_I信號的狀態(tài)信息ZI，通過控制裝置S被接受并檢測第一輸出信號線路裝置PON_RES1_L_I的信號是否是一個有效的復(fù)位-信號和置零信號，另外的輸出信號線路裝置PON_RES2_L_I是否是任意一個有效的、不同于復(fù)位-信號的信號，-第五步可預(yù)置的時間間隔終結(jié)后隨著在第四步中有效復(fù)位-信號的確定而開始，終結(jié)之后通過控制裝置S查驗，第一輸出信號線路裝置PON_RES1_L_I的信號是否返回到任意有效的、不同于復(fù)位-信號的信號。
-對于所有其它監(jiān)控模塊RG2，將第一步至第五步相應(yīng)進行重復(fù)。
借助于此方法，就能有利地使用按照本發(fā)明的電路布置，以便互不相關(guān)地測試至少兩個獨立的RG1、RG2。由此與已知的解決辦法相比，主要的優(yōu)點達到了，即不用引發(fā)包括測試邏輯和診斷邏輯在內(nèi)的整個數(shù)字部件的復(fù)位，就能測試監(jiān)控模塊RG1、RG2。
以下將按照本發(fā)明的電路布置和按照本發(fā)明的方法以兩張圖作為

圖1是按照本發(fā)明的電路布置的示意圖，依據(jù)它闡明本發(fā)明用于監(jiān)控物理量的原理，在此涉及的物理量是電壓U1。
圖2是按照本發(fā)明的電路布置監(jiān)控兩個電壓U1、U2應(yīng)用的示意圖。
圖1中示出的是被監(jiān)控的電壓U1，它由第一接通電源的復(fù)位-發(fā)生器RG1(以下稱電壓監(jiān)控模塊RG1)和第二接通電源的復(fù)位-發(fā)生器RG2(以下稱電壓監(jiān)控模塊RG2)來監(jiān)控。在電壓U1與預(yù)設(shè)的理論值范圍有偏差時，例如額定值5V時允許偏差為額定值的±5％，第一電壓監(jiān)控模塊RG1在第一復(fù)位-線路PON_RES1_L_I(用于Power-on_Reset1_Low-active_Input)產(chǎn)生一個復(fù)位-信號，該線路是第一電壓監(jiān)控模塊RG1的輸出線路； 第二電壓監(jiān)控模塊RG2在第二復(fù)位-線路PON_RES2_L_I(用于Power-on_Reset2_Low-active_Input)產(chǎn)生一個復(fù)位-信號，該線路是第二電壓監(jiān)控模塊RG2的輸出線路。
第一電壓監(jiān)控模塊RG1包括一個輸入線路PON_TEST1_L_O(用于Power-on_Test1_Low-active_Output)，經(jīng)過它可將第一測試信號輸入到第一電壓監(jiān)控模塊RG1中。第一測試信號輸入到第一電壓監(jiān)控模塊RG1中，導(dǎo)致電壓監(jiān)控模塊RG1的自檢，通過該自檢將一個有效的復(fù)位-信號輸出到第一復(fù)位-線路PON_RES1_L_I上。
第二電壓監(jiān)控模塊RG2包括一個輸入線路PON_TEST2_L_O(用于Power-on_Test2_Low-active_Output)，經(jīng)過它可將第二測試信號輸入到第二電壓監(jiān)控模塊RG2中。第二測試信號輸入到第二電壓監(jiān)控模塊RG2中，導(dǎo)致電壓監(jiān)控模塊RG2的自檢，通過該自檢將一個有效的復(fù)位-信號輸出到第二復(fù)位-線路PON_RES2_L_I上。
在正常運行狀態(tài)，就是說被監(jiān)控的電壓U1在預(yù)設(shè)的理論值范圍之內(nèi)且沒有測試信號經(jīng)輸入線路PON_TEST1_L_O、PON_TEST2_L_O輸入到電壓監(jiān)控模塊RG1、RG2，輸出到復(fù)位線路PON_RES1_L_I、PON_RES2_L_I的是與復(fù)位-信號不同的信號。一個在復(fù)位-線路上不同于復(fù)位-信號的信號普通形式，是持續(xù)高電平代表的邏輯狀態(tài)“1”，而一個活性復(fù)位-信號是較低電平代表的邏輯狀態(tài)“0”。信號線路的這個特性也被稱作為“Low-Aktiv”。按照本發(fā)明的電路布置，可將復(fù)位-線路PON_RES1_L_I、PON_RES2_L_I上的信號毫無困難地應(yīng)用到其它形式上。
復(fù)位-線路PON_RES1_L_I、PON_RES2_L_I的信號是分析電路A上的輸入信號，而電壓監(jiān)控模塊RG1、RG2的輸入線路PON_TEST1_L_O、PON_TEST2_L_O的信號是分析電路A的輸出信號。
按照本發(fā)明，分析電路A包括至少四個元件，這四個元件能任意組合。這四個元件的具體情況如下-連接電路V1，將第一復(fù)位-線路PON_RES1_L_I和第二復(fù)位-線路PON_RES2_L_I的信號作為輸入信號，將一個借助于邏輯“與”功能形成的合成復(fù)位-信號PON_RES作為輸出信號，-復(fù)位-標記-寄存器RIR，中間存儲第一復(fù)位-線路PON_RES1_L_I和第二復(fù)位線路PON_RES2_L_I的信號，并包括用于此目的存儲單元的相應(yīng)個數(shù)，-復(fù)位-測試-寄存器RTR，將分離的信號施加到電壓監(jiān)控模塊RG1、RG2的入口線路PON_TEST1_L_O、PON_TEST2_L_O上，-控制S，將控制信息SI發(fā)送到復(fù)位-標記-寄存器RIR，從復(fù)位-標記-寄存器RIR讀出狀態(tài)信息并控制電壓監(jiān)控模塊RG1、RG2的診斷。
分析電路A在這種情況能是部件的組成部分-未示出。根據(jù)按本發(fā)明電路布置的有利擴展，能將分析電路A納入到部件的診斷中?？刂芐就同時控制另外的、控制部件其它功能單元診斷的診斷控制，或者控制S通過集中控制來控制-未示出。
分析電路A可以是現(xiàn)代化專用集成電路-application specificintegrated circuit ASIC-未示出。為了確保分析電路A的可靠性，從而尤其是連接電路V1的可靠性以及整個系統(tǒng)的高可實用性，就將分析電路A全部或部分包括到ASIC的內(nèi)置自檢方法BIST中，這在技術(shù)上是眾所周知的-未示出。
按照本發(fā)明監(jiān)控電壓U1的方法，以上面已經(jīng)說明的步驟在控制S中進行。
關(guān)于圖2，下面指明的是與圖1有關(guān)的、本發(fā)明對語音交換系統(tǒng)中處理器的存儲部件所闡明的學說的應(yīng)用。
圖2指出了第一要監(jiān)控的電壓U1和第二要監(jiān)控的電壓U2，兩者由第一電壓監(jiān)控模塊RG1和第二電壓監(jiān)控模塊RG2監(jiān)控。對于典型的邏輯部件，例如能用額定值為2.5伏和3.3伏以及相應(yīng)所屬的第一和第二理論值范圍監(jiān)控第一電壓U1和第二電壓U2。
不是每個只有一個復(fù)位-線路，而是兩個電壓監(jiān)控模塊RG1、RG2的每個都有兩個復(fù)位-線路。當?shù)谝浑妷篣1與所屬的第一理論值范圍或第二電壓U2與所屬的第二理論值范圍有偏差時以及在接通電源電壓時，第一電壓監(jiān)控模塊RG1在第一復(fù)位-線路PON_RES1_L_I和一條第三復(fù)位-線路PLL_Rest1_L_I(用于PLL_RESET1_Low-active_Input)上產(chǎn)生一個復(fù)位-信號，這兩個線路是電壓監(jiān)控模塊RG1的兩個出口線路。以同樣方式，第二電壓監(jiān)控模塊RG2在第一電壓U1與所屬的第一理論值范圍或第二電壓U2與所屬的第二理論值范圍有偏差時以及在接通電源電壓時，在第二復(fù)位-線路PON_RES2_L_I和一條另外的復(fù)位-線路上產(chǎn)生一個復(fù)位-信號，該另外的復(fù)位-線路總共供給三個復(fù)位-線路信號一條第四復(fù)位-線路PLL_RES2_HSA_L_I(用于PLL_Reset2_HighSpeedDlockDomainA_Low-active_Input)、一條第五復(fù)位-線路PLL_RES2_HSB_L_I(用于PLL_Rese2_HighSpeedClockDomainB_Low-active_Input)和一條第六個復(fù)位-線路PLL_RES2_75__L_I(用于PLL_Reset2_75MhzClockDomain_Low-active_Input)。
出自電路技術(shù)考慮，對于這個實施例要求將復(fù)位-信號就像下面闡述的那樣總共分配到六個復(fù)位-線路上。電壓監(jiān)控和產(chǎn)生接通電源的復(fù)位-信號是為一個模塊ACMY(ASIC forCommonMemory)而進行，ACMY是一個高度復(fù)雜的ASIC，它也有三個不同脈沖范圍，通過三個-未示出-單獨的相位調(diào)節(jié)環(huán)PLL(鎖相環(huán))控制。用于這些PLL的復(fù)位-信號通過下面的四個復(fù)位-線路來提供第三復(fù)位-線路PPL_RES1_L_I、第四復(fù)位-線路PLL_RES2_HSA_L_I、第五復(fù)位-線路PLL_RES2_HSB_L_I和第六個復(fù)位-線路PLL_RES1_75_L_I，而第一復(fù)位-線路PON_RES1_L_I和第二復(fù)位-線路PON_RES2_L_I提供用于通過三個PLL發(fā)出脈沖的電路邏輯的復(fù)位-信號。
一旦脈沖狀態(tài)穩(wěn)定，就要把電路邏輯置于它的運行狀態(tài)。為了達到這種情況，要使電路邏輯通過在第一復(fù)位-線路PON_RES1_L_I和第二復(fù)位-線路PON_RES2_L_I上延長了的復(fù)位-信號，與其它四個復(fù)位-線路的復(fù)位-信號相比，比三個PLL晚一些激活。
三個PLL要用不同的復(fù)位-信號照管。這對測試PLL提供了優(yōu)點，因為這樣就有可能使每個PLL以及由PLL照管的脈沖范圍單獨進行測試。在按照本發(fā)明電路布置上發(fā)生的作用也只是就此而言，第二電壓監(jiān)控模塊RG2的PLL-復(fù)位-信號總共供給復(fù)位-線路第四復(fù)位-線路PLL_RES2_HAS_L_I、第五復(fù)位-線路PLL_RES2_HAS_L_I和第六個復(fù)位-線路PLL_RES2_75_L_I。
第一電壓監(jiān)控模塊RG1，如已經(jīng)與圖1的關(guān)系中闡明的那樣，表明有第一入口線路PON_TEST1_L_O，經(jīng)此線路第一測試信號可輸入給第一電壓監(jiān)控模塊RG1。第一測試信號輸入到第一電壓監(jiān)控模塊RG1中，導(dǎo)致電壓監(jiān)控模塊RG1的自檢，通過它一個有效的復(fù)位-信號相應(yīng)地輸出到第一復(fù)位-線路PON_RES1_L_I和第二復(fù)位-線路PLL_RES1_L_I上。
此外第一電壓監(jiān)控模塊RG1還表明有第三入口線路，它與中央復(fù)位-線路MAN_RESET_L連接。該中央復(fù)位-線路，例如與一臺手動引發(fā)復(fù)位的設(shè)備相連接。經(jīng)與中央復(fù)位-線路連接的第三輸入線路向第一電壓監(jiān)控模塊RG1輸入一個有效的復(fù)位-信號，導(dǎo)致相應(yīng)的向第一復(fù)位-線路PON_RES1_L_I和第三復(fù)位-線路PLL_RES1_L_I上輸出有效復(fù)位信號。
第二電壓監(jiān)控模塊RG2，如已經(jīng)與圖1的關(guān)系中闡明的那樣，表明有第二入口線路PON_TEST2_L_O，經(jīng)此線路第二測試信號可輸入給第二電壓監(jiān)控模塊RG2。第二測試信號輸入到第二電壓監(jiān)控模塊RG2中，導(dǎo)致電壓監(jiān)控模塊RG2的自檢，通過它一個有效的復(fù)位-信號相應(yīng)地輸出到第二復(fù)位-線路PON_RES2_L_I、第四復(fù)位-線路PLL_RES2_HSA_L_I、第五復(fù)位-線路PLL_RES2_HSB_L_I和第六個復(fù)位-線路PLL_RES2_75_L_I上。
此外第二電壓監(jiān)控模塊RG2還表明有第四入口線路，它與中央復(fù)位-線路MAN_RESET_L連接。經(jīng)與中央復(fù)位-線路連接的第四輸入線路向第二電壓監(jiān)控模塊RG2輸入一個有效的復(fù)位-信號，導(dǎo)致相應(yīng)的向第二復(fù)位-線路PON_RES2_L_I、第四復(fù)位-線路PLL_RES2_HSA_L_I、第五復(fù)位-線路PLL_RES2_HSB_L_I和第六個復(fù)位-線路PLL_RES2_75_L_I上輸出有效復(fù)位信號。
所說的六個復(fù)位-線路是ASIC ACMY的入口線路，從它那里只表明了為電壓監(jiān)控和其測試所要求的元件。第一電壓監(jiān)控模塊RG1的第一入口線路PON_TEST1_L_I和第二電壓監(jiān)控模塊RG2的第二入口線路PON_TEST2_L_I是ASIC ACMY的出口線路。
這六個復(fù)位-線路，在ASIC ACMY之內(nèi)，與四個提供四個生成復(fù)位-信號的連接元件如下列方式連接-第一復(fù)位-線路PON_RES1_L_I的信號和第二復(fù)位-線路PON_RES2_L_I的信號，在第一連接元件V1中，連接成第一生成的復(fù)位-信號PON_RES。
-第三復(fù)位-線路PLL_RES1_L_I的信號和第四復(fù)位-線路PLL_RES2_HSA_L_I的信號，在第二連接元件V2中，連接成第二生成的復(fù)位-信號PLL_RES1。
-第三復(fù)位-線路PLL_RES1_L_I的信號和第五復(fù)位-線路PLL_RES2_HSB_L_I的信號，在第三連接元件V3中，連接成第三生成的復(fù)位-信號PLL_RES2。
-第三復(fù)位-線路PLL_RES1_L_I的信號和第六個復(fù)位-線路PLL_RES2_75_L_I的信號，在第四連接元件V4中，連接成第四生成的復(fù)位-信號PLL_RES3。
此外，六個復(fù)位-線路在ASIC ACMY之內(nèi)，與復(fù)位-標志-寄存器RIR的入口連接，它與圖1的區(qū)別在于有相應(yīng)的六個入口和較大數(shù)量的存儲單元供使用。這在圖2中用圖示給出。復(fù)位-標志-寄存器，如圖1所示，與控制S相連接，這在圖2中沒有詳細表示出。
ASIC ACMY的輸出線路(第一輸入線路PON_TEST1_L_O和第二輸入線路PON_TEST2_L_O)，在ASIC ACMY之內(nèi)與圖1的復(fù)位-測試-寄存器RTR相連接-未表示出。復(fù)位-測試-寄存器RTR與控制S相連接-未表示出。
按照圖2的電路布置的測試方法，與按照圖1所闡述的電路布置的測試方法相符合，在步驟四和五有修正。修正涉及的情況是，按照圖2的電路布置，對于第一電壓監(jiān)控模塊RG1表明有兩個復(fù)位-線路，對于第二電壓監(jiān)控模塊RG2表明有四個復(fù)位-線路。與此相應(yīng)的是，在方法的步驟四和五中要考慮兩個或四個復(fù)位-線路，它們在各種時間間隔過去之后又返回到任意有效的、與復(fù)位-信號有別的信號，即在步驟五中，要為相同模塊的不同復(fù)位-線路設(shè)置不同的時間間隔。
在優(yōu)先選擇的實施例中使用的連接元件V1、V2、V3和V4，使以有效復(fù)位-信號為基礎(chǔ)的邏輯“與”功能成為現(xiàn)實。因為有效復(fù)位-信號能用邏輯狀態(tài)“0”來代表，例如在低活性的信號線路情況，在電路設(shè)計時就必須選擇相應(yīng)于現(xiàn)有入口的信號和所希望的出口信號的電路技術(shù)現(xiàn)實。為了實現(xiàn)邏輯功能設(shè)計電路邏輯和電路布置的方法，例如對于低活性邏輯電路，在技術(shù)上是眾所周知，這能使本發(fā)明毫無困難地適應(yīng)相應(yīng)的具體顯示的情況。
權(quán)利要求
1.監(jiān)控物理量(U1、U2)的電路布置，包括-第一監(jiān)控模塊(RG1)去監(jiān)控至少一個物理量(U1、U2)，利用傳輸信號的手段在被監(jiān)控的物理量(U1、U2)從其預(yù)設(shè)的理論值范圍偏離時，經(jīng)第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)向分析電路(A)和第一輸入信號線路裝置(PON_TEST1_L_O)去輸入一個第一測試信號，此時就像通過被監(jiān)控的物理量從其理論值范圍的偏離那樣，通過另外的測試信號能產(chǎn)生第一監(jiān)控模塊(RG1)的相同的狀態(tài)交換，-至少一個另外的監(jiān)控模塊(RG2)去監(jiān)控同樣的物理量(U1、U2)，利用傳輸信號的手段在被監(jiān)控的物理量(U1、U2)從其預(yù)設(shè)的理論值范圍偏離時，經(jīng)另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)向分析電路(A)和另外輸入信號線路裝置(PON_TEST2_L_O)去輸入另外的測試信號，此時就像通過被監(jiān)控的物理量從其理論值范圍的偏離那樣，通過另外的測試信號能產(chǎn)生其它監(jiān)控模塊(RG2)的相同的狀態(tài)交換，-屬于分析電路(A)的連接單元(V1)，用于將經(jīng)第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)和另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)所傳輸?shù)男盘栠B接為由此產(chǎn)生的輸出信號(PON_RES)，-屬于分析電路(A)的第一寄存器裝置(RTR)，用于分別在第一輸入信號線路裝置(PON_TEST1_L_O)上施加第一測試信號和在第二輸入信號線路裝置(PON_TEST2_L_O)上施加第二測試信號，此時第一寄存器裝置(RTR)包括用于從控制裝置(S)接受控制信息(ZI)的裝置。-屬于分析電路(A)的第二寄存器裝置(RIR)，它們連接到第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)和另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)并包括用于傳輸狀態(tài)信息(ZI)到控制裝置(S)的裝置。-屬于分析電路A的控制裝置(S)，包括用于分析第二寄存器裝置(RIR)狀態(tài)信息(ZI)的裝置和發(fā)送控制信息(SI)到第一寄存器裝置(RTR)上的裝置。
2.如權(quán)利要求1的電路布置，其特征在于連接元件(V1)是一個邏輯“與”功能實現(xiàn)的門電路。
3.如權(quán)利要求1或2之一的電路布置，其特征在于分析電路(A)是部件的一部分，在這里分析電路(A)是部件診斷對策的組成部分。
4.如權(quán)利要求1或2之一的電路布置，其特征在于分析電路(A)是專用集成電路的部分Application SpecificIntegrated Circuit ASIC，其中，ASIC的集成自檢內(nèi)置自檢BIST，包括分析電路(A)。
5.如權(quán)利要求1至4之一的電路布置，其特征在于至少一個被監(jiān)控的物理量(U1、U2)是任意選擇的物理量，當它與預(yù)設(shè)的理論值范圍有偏差時可產(chǎn)生一個復(fù)位信號。
6.如權(quán)利要求1至5之一的電路布置，其特征在于至少一個被監(jiān)控的物理量(U1)是從電壓、電流和溫度中任意選擇的。
7.如權(quán)利要求1至6之一的電路布置，其特征在于至少一個被監(jiān)控的物理量是從至少兩個電壓(U1、U2)中任意選擇的，這兩個電壓分別由監(jiān)控模塊(RG1、RG2)監(jiān)控。
8.如權(quán)利要求1至7之一的電路布置，其特征在于監(jiān)控模塊(RG1、RG2)分別指出多個輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I、PLL_RES1_L_I、PON_RES2_L_I、PLL_RES2_HAS_L_I、PLL_RES2_HAS_L_I、PLL_RES2_75_L_I)，經(jīng)相同監(jiān)控模塊(RG1、RG2)多個輸出信號線路裝置傳輸?shù)男盘柗謩e有各自的時間特性曲線。
9.監(jiān)控至少一個物理量(U1)的方法，依此-物理量(U1)通過第一監(jiān)控模塊(RG1)監(jiān)控，當?shù)谝槐O(jiān)控模塊(RG1)監(jiān)控的物理量(U1)與預(yù)設(shè)的理論值范圍出現(xiàn)偏差時，提供一個經(jīng)第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L-I)到分析電路(A)的信號，-第一測試信號可經(jīng)第一輸入信號線路裝置(PON_TEST1_L_O)輸入到第一監(jiān)控模塊(RG1)，就像被監(jiān)控的物理量(U1)從其理論值范圍偏離那樣，第一測試信號引起第一監(jiān)控模塊(RG1)的相同狀態(tài)變化。-物理量(U1)通過至少一個另外的監(jiān)控模塊(RG2)監(jiān)控，通過監(jiān)控模塊(RG2)在被監(jiān)控的物理量(U1)與其預(yù)設(shè)的理論值范圍有偏差時，經(jīng)另外的輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)向分析電路(A)提供信號。-第二測試信號可經(jīng)另一個輸入信號線路裝置(PON_TEST2_L_O)輸入到另一個監(jiān)控模塊(RG2)，就像被監(jiān)控的物理量從其理論值范圍偏離那樣，第二測試信號引起另一個監(jiān)控模塊(RG2)的相同狀態(tài)變化。-經(jīng)分析電路(A)的第一輸出信號線路裝置(PON_RES！_L_I)和另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)輸送的信號，通過是分析電路(A)組成部分的連接元件(V1)，連接成產(chǎn)生的輸出信號(PON_RES)。-通過分析電路(A)，借助于第一寄存器裝置(RTR)，可將第一和第二測試信號分別施加到第一輸入信號線路裝置(PON_TEST1_L_O)和第二輸入信號線路裝置(PON_TEST2_L_O)上，此時通過第一寄存器裝置(RTR)分析控制單元(S)的控制信息(SI)。-通過分析電路(A)，借助于第二寄存器裝置(RIR)，將第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)和另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)的信號分接出來并將狀態(tài)信息(ZI)傳輸給控制單元(S)。-通過分析電路(A)，借助于控制單元(S)，分析第二寄存器裝置(RIR)的狀態(tài)信息(ZI)并將控制信息(SI)發(fā)送給第一寄存器裝置(RTR)。
10.如權(quán)利要求9的方法，其特征在于進行監(jiān)控模塊(RG1、RG2)測試，此時-第一步通過控制單元(S)選擇第一監(jiān)控模塊(RG1)，-第二步將該選擇代表的控制信息(SI)傳輸?shù)降谝患拇嫫餮b置(RTR)，-第三步借助于第一輸入信號線路裝置(PON_TEST1_L_O)將第一測試信號傳輸?shù)降谝槐O(jiān)控模塊(RG1)，-第四步通過控制單元(S)接受由第二寄存器裝置(RIR)產(chǎn)生的、代表輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I、PON_RES2_L_I)的信號并接著查驗，第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)的信號是否是一個有效的復(fù)位-信號或置零信號，另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)的信號是否是一個任意有效的、有別于復(fù)位-信號的信號，-第五步在一個可預(yù)設(shè)的時間間隔過去之后，其過程是隨著在第四步中確定有效復(fù)位-信號開始的，通過控制單元(S)查驗，第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)的信號是否回到任意有效的、有別于復(fù)位-信號的信號，-第一至第五步要為所有另外監(jiān)控模塊(RG2)相應(yīng)地重復(fù)一遍。
11.如權(quán)利要求9或10之一的方法，其特征在于在連接元件(V1)中，將經(jīng)第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)和另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)傳輸給分析電路(A)的信號按照邏輯與-功能連接。
12.如權(quán)利要求9至1之一的方法，其特征在于分析電路(A)被一個其組成部分是分析電路(A)的部件的診斷策略包括。
13.如權(quán)利要求9至11之一的方法，其特征在于用于專用集成電路專用集成電路ASIC的集成自檢內(nèi)置自檢BIST的方法包括分析電路(A)，所述集成電路的組成部分是分析電路(A)。
14.如權(quán)利要求9至13之一的方法其特征在于至少有一個被監(jiān)控的物理量(U1)要由任意選擇的物理量構(gòu)成，對于這些物理量當與預(yù)設(shè)的理論值范圍有偏差時可產(chǎn)生一個置零信號。
15.如權(quán)利要求9至14之一的方法，其特征在于至少有一個被監(jiān)控的物理量(U1)由電壓、電流和溫度中任意選擇的一個構(gòu)成。
16.如權(quán)利要求9至15之一的方法，其特征在于至少有一個被監(jiān)控的物理量要由至少兩個電壓(U1、U2)中選擇的一個構(gòu)成，這兩個電壓分別由兩個監(jiān)控模塊(RG1、RG2)監(jiān)控。
17.如權(quán)利要求9至16之一的方法，其特征在于通過監(jiān)控模塊(RG1、RG2)，輸出分別借助于多個輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I、PLL_RES1_L_I、PLL_RES2_L_I、PLL_RES2_HSA_L_I、PLL_RES2_HSB_L_I、PLL_RES2_75_L_I)的信號，此時經(jīng)多個相同監(jiān)控模塊(RG1、RG2)的輸出信號線路裝置傳輸?shù)男盘?，分別有一個自己的時間特性。
全文摘要
監(jiān)控物理量，尤其是在電信設(shè)備上應(yīng)用的方法和電路布置。對于數(shù)字部件，電源電壓(U1、U2)通過電壓監(jiān)控模塊(UR1、UR2)來監(jiān)控。電源電壓(U1、U2)與其預(yù)設(shè)的理論值范圍有偏差時，電壓監(jiān)控模塊(RG1、RG2)引發(fā)整個數(shù)字部件復(fù)位，以便阻止難下定義的邏輯－狀態(tài)。同樣，在接通電源電壓(U1、U2)時產(chǎn)生一個接通電源的復(fù)位－信號，這導(dǎo)致使數(shù)字部件在一個確定的時間之后才過渡到運行狀態(tài)。對于對其故障安全性有一定最低要求的系統(tǒng)，通常是進行在線診斷。所希望的是，將電壓監(jiān)控模塊(RG1、RG2)也納入到該在線診斷中。一個電壓監(jiān)控測試，像例如接通電源一樣，產(chǎn)生同樣的接通電源復(fù)位，一個“真”接通電源的復(fù)位是很難與一個“模擬”的區(qū)分的。按照本發(fā)明這就得到解決，此時監(jiān)控是通過至少兩個互不相關(guān)的監(jiān)控模塊(RG1、RG2)進行，其信號通過連接元件(V1、V2、V3、V4)連接。這就使兩個獨立的監(jiān)控模塊(RG1、RG2)互不相關(guān)地進行測試成為可能。
文檔編號H04B17/00GK1433115SQ02144398
公開日2003年7月30日 申請日期2002年10月14日 優(yōu)先權(quán)日2002年1月14日
發(fā)明者H·－J·賽茨 申請人:西門子公司