專利名稱：用于減小圖像偽像的設(shè)備和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于減小X射線檢測器的圖像偽像(artifacts)的設(shè)備和方法。
X射線檢測器是把X射線變換成可以被評估的典型的電子信號的設(shè)備。在一個時刻獲取的X射線信號被稱為X射線圖像。X射線圖像由至少一個X射線信號值構(gòu)成。X射線圖像的時間系列被稱為X射線圖像序列。
X射線檢測器尤其在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中的成像X射線設(shè)備中被使用。當代的檢測器例如利用變換層，它主要包含閃爍材料，所述閃爍材料吸收X射線和發(fā)射基本上正比于入射的X射線的總的能量的光量子。閃爍材料典型地通過光學(xué)透明的粘結(jié)劑被附著到光電二極管(它是基于諸如硅的半導(dǎo)體材料)或一維或二維構(gòu)建的光電二極管裝置，或被汽相沉積在其上。光電二極管裝置可以附加地包括電子裝置，用于讀出、放大和數(shù)字化光電二極管信號。光電二極管吸收光量子，并把這樣的量子變換成載荷子(charge carrier)。載荷子被讀出和被變換成電壓。X射線信號值也稱為像素值。像素典型地代表圖像點。
其他的X射線檢測器例如可以由直接變換材料制成。X射線檢測器能夠計數(shù)各個X射線量子或累計入射的X射線能量。
X射線檢測器的光電二極管或光電二極管裝置可以由硅制成，在這種情形下可以使用晶體的、多晶或非晶體的硅。當使用非晶體的硅(a-Si:H)時，可以制造具有特別大的表面積的X射線檢測器(例如在當代的X射線照相術(shù)中使用的)。當例如由閃爍材料發(fā)射的光量子被變換時，載荷子從a-Si:H的價帶上升到傳導(dǎo)帶。自由的載荷子可被讀出。然而，a-Si:H具有大量的、在能帶之間的本地俘獲狀態(tài)，在所述俘獲狀態(tài)中，載荷子在它們例如由于熱激發(fā)而再次被發(fā)射之前的一些時間內(nèi)被保持。在X射線圖像序列的情形下，上述的情形使得X射線檢測器呈現(xiàn)所謂的余輝，它取決于本地輻射歷史。結(jié)果，每個像素包含不屬于在瞬時照射期間內(nèi)直接生成的載荷子的信號分量。如果檢測器的一部分在先前的圖像中被強烈照射，以及在瞬時照射期間只被曝光于小量X射線量子，則余輝信號對于總的信號可以具有決定性影響。這引起部分不合用的圖像。X射線圖像的這樣的信號分量也被稱為圖像偽像。這樣的不正確的圖像是不能容忍的(即，尤其是在照射病人的情形下)，因為所施加的X射線劑量應(yīng)當盡可能好地被轉(zhuǎn)換成合用的醫(yī)學(xué)數(shù)據(jù)并且不能被不必要地施加。
X射線檢測器常常被使用來獲取X射線圖像的時間序列。該獲取參數(shù)的數(shù)值(諸如圖像獲取時間、檢測器分辨率和X射線曝光時間等)控制在其中獲取序列的獲取模式。在X射線圖像序列的過程中常常希望改變至少一個獲取參數(shù)，以便適配于改變要求，例如在介入檢查期間，這就是說，例如在對病人手術(shù)介入期間所獲取的X射線圖像的情形下。一個獲取參數(shù)的改變導(dǎo)致另一個檢測模式。
WO 98/01992公開了一種X射線設(shè)備，它不僅包括X射線和X射線源，而且還包括發(fā)射電磁輻射的附加的輻射源。這樣的附加輻射源(也稱為偏置光源)可被使用來在X射線曝光之前和/或在其期間，通過附加地施加均勻的光信號來填充a-Si:H中的俘獲狀態(tài)，這樣，通過X射線曝光生成的信號最終不能將載荷子丟失到已填充的俘獲狀態(tài)，其意思是X射線也被直接變換成可讀的載荷子。由已填充的俘獲狀態(tài)發(fā)射的附加信號是高度均勻的，并且不引起圖像的顯著的惡化。WO98/01992解釋了，獲取參數(shù)(例如，圖像獲取時間、檢測器分辨率等等)的改變(即，獲取模式的改變)可能會通過附加的光和由其發(fā)射的載荷子而導(dǎo)致被移到俘獲狀態(tài)的載荷子的動態(tài)平衡的改變。這必然導(dǎo)致圖像偽像，因為來自俘獲狀態(tài)的背景信號形成要被減去的偏移信號的一部分。然而，偏移信號的絕對值是在平衡狀態(tài)下確定的。為了避免圖像偽像，WO 98/01992提出不改變獲取參數(shù)；這意味著對設(shè)備的合用性和靈活性的明顯限制。
在給定的情況下(例如在介入的情形下)，可能必須從一個模式改變到另一個模式。這導(dǎo)致所俘獲的和所發(fā)射的載荷子的比值的不平衡，并從而導(dǎo)致在這樣的改變后的圖像偽像。
所以，本發(fā)明的一個目的是提供一種用于減小X射線檢測器的不想要的圖像偽像的設(shè)備和方法。
本目的是藉助于用于獲取X射線圖像的X射線設(shè)備達到的，該設(shè)備包括X射線檢測器，用于把X射線變換成電信號；檢測器曝光單元，用于根據(jù)第一和第二曝光參數(shù)發(fā)射電磁輻射，第一曝光參數(shù)的數(shù)值由獲取模式規(guī)定，而第二曝光參數(shù)不由獲取模式規(guī)定；以及控制單元，用于在獲取模式改變時改變和控制檢測器曝光單元的至少一個第二曝光參數(shù)。
為了得到盡可能好的圖像，在數(shù)字X射線檢測器的情形下，在獲取后執(zhí)行兩個重要的校正首先減去偏移信號以及隨后執(zhí)行增益標準化。偏移信號尤其由泄漏電流和從俘獲狀態(tài)發(fā)射的載荷子組成。而且，在閃爍材料中還有余輝效應(yīng)。偏移圖像(即在相關(guān)的獲取模式下每個像素的偏移信號)在穩(wěn)態(tài)下被測量以及被存儲，以使得在獲取序列期間它可被使用來從圖像信號中減去偏移信號。獲取模式由獲取參數(shù)確定。獲取參數(shù)例如是圖像獲取時間、檢測器分辨率和X射線曝光時間。X射線典型地以脈沖方式被加到X射線檢測器。在這種情形下，在脈沖之間具有用于讀出像素信號以及也用于以后的電子復(fù)位的時間，在該復(fù)位期間剩余的電荷從光電二極管流出。在復(fù)位操作期間，優(yōu)選地啟動發(fā)射偏置光的的附加檢測器曝光單元，以使得由檢測器曝光產(chǎn)生的、但不是在俘獲狀態(tài)下被激發(fā)的載荷子也流出。有可能利用某一波長的偏置光，以使得載荷子不上升到傳導(dǎo)帶。這樣的偏置光可以連續(xù)地被施加。
當俘獲狀態(tài)的狀態(tài)密度函數(shù)處在非穩(wěn)態(tài)時，在穩(wěn)態(tài)時測量的偏移信號不代表瞬時偏移值。當達到新的穩(wěn)態(tài)時，在減去偏移后將有信號背景，它導(dǎo)致附加噪聲和動態(tài)范圍減小。在許多情況下，圖像將不再適用于醫(yī)學(xué)評估。
增益歸一化確保受均勻照射的X射線檢測器產(chǎn)生均勻的輸出信號，而不管檢測器像素的性質(zhì)。增益歸一化的質(zhì)量也可能受到俘獲狀態(tài)的非穩(wěn)態(tài)的有害的影響。
獲取參數(shù)的改變典型地引起由附加照射從俘獲狀態(tài)中的價帶激發(fā)的載荷子與從俘獲狀態(tài)再次發(fā)射的載荷子的比值的非穩(wěn)態(tài)。當具有新的獲取參數(shù)的獲取序列持續(xù)足夠長時，將漸近地達到新的穩(wěn)態(tài)。
檢測器曝光單元的第一曝光參數(shù)的數(shù)值由獲取模式規(guī)定。例如，當偏置光脈沖要在復(fù)位階段出現(xiàn)時，偏置光脈沖間隔必須被改變成與圖像獲取時間一致。第二曝光參數(shù)的數(shù)值(諸如曝光強度或曝光時間)不是由獲取模式的改變規(guī)定的。另一個第二曝光參數(shù)是曝光波長組成。當不同的波長的至少兩個偏置光源或用于改變光源的波長的裝置是可提供時可以控制偏置光的波長組成。
在獲取模式改變后由圖像偽像的出現(xiàn)所造成的問題按照本發(fā)明被處理為如下在由曝光參數(shù)確定的獲取模式改變后檢測器曝光單元的至少一個第二曝光參數(shù)被改變和被控制，即使得要達到的新的穩(wěn)態(tài)盡可能小地偏離以前的穩(wěn)態(tài)，從而只產(chǎn)生小的偽像信號。
為了實行曝光參數(shù)的控制和改變，使用知道在模式改變之前和之后的曝光參數(shù)的控制單元，這樣，它可以在改變和控制曝光單元的曝光參數(shù)方面執(zhí)行適當?shù)目刂啤?br> 在核醫(yī)學(xué)檢查的情形下，放射性標記材料被注入到病人體內(nèi)，以使得病人自己成為X射線源。然而，X射線照相設(shè)備具有用于病人的X射線曝光的X射線源。這是在權(quán)利要求2中描述的。
控制單元優(yōu)選地也適用于控制X射線檢測器和可能形成X射線設(shè)備的一部分的X射線源。這提供以下優(yōu)點所有的系統(tǒng)部件的控制被合并在一個部件中以及相應(yīng)的參數(shù)可供使用于所有的控制和調(diào)整操作。X射線設(shè)備的部件的附加控制在權(quán)利要求3中公開。
控制獲取模式的獲取參數(shù)包括圖像獲取時間、X射線曝光時間、和檢測器分辨率。這是在權(quán)利要求4中涉及的。
曝光強度、曝光時間和曝光波長組成是特別具表示性的曝光參數(shù)。這是在權(quán)利要求5中公開的。
按照本發(fā)明，當諸如曝光時間那樣的第二曝光參數(shù)的改變和控制正比于獲取參數(shù)(例如圖像獲取時間)的改變發(fā)生時是有利的。這是因為當例如圖像獲取時間被延長時，整體偏置光強度被正比于延長減小。曝光時間的相應(yīng)的成比例的延長導(dǎo)致與獲取參數(shù)改變之前相同的整體偏置光強度，從而導(dǎo)致在新的曝光模式下俘獲狀態(tài)密度函數(shù)的基本上相同的穩(wěn)態(tài)。這個按比例的改變在權(quán)利要求6中涉及。
而且，按照本發(fā)明，當曝光參數(shù)的改變和控制在獲取模式改變后作為時間的函數(shù)發(fā)生時是有利的。正如已描述的，由于閃爍材料或其他檢測器元件，存在附加的影響。為了抵消這樣的影響或得到用于達到穩(wěn)態(tài)的特別有利的方法，曝光參數(shù)作為時間的函數(shù)被控制，即，從一個圖像到下一個圖像，第二曝光參數(shù)在至少一個獲取參數(shù)改變后被不同地調(diào)節(jié)。曝光時間上的相應(yīng)的改變可以例如藉助于在檢測器上形成的所規(guī)定的校準圖像而被實驗地確定。控制應(yīng)當收斂至恒定的最終數(shù)值。這是在權(quán)利要求7中公開的。
當事先已確定的曝光參數(shù)的改變和控制值被存儲在可由控制單元讀出的表格、以使得可以藉助于來自這個表格的數(shù)值對于獲取模式的給定的改變進行改變和控制時，是特別有利的。這在權(quán)利要求8中描述。
正如已描述的，X射線檢測器典型地在脈沖模式下工作，以及檢測器曝光單元只在復(fù)位階段時是工作的，因此確保排出所產(chǎn)生的載荷子。這個有利的實施例是在權(quán)利要求9中公開的。
權(quán)利要求10公開了按照本發(fā)明的、用于增強圖像質(zhì)量的方法。X射線檢測器以脈沖或連續(xù)方式由X射線照射。另外，X射線檢測器被曝光于來自檢測器曝光單元的偏置光。這個曝光可以在X射線檢測器沒有被曝光于X射線的階段內(nèi)(即，優(yōu)選地在復(fù)位階段內(nèi))在由X射線連續(xù)照射期間發(fā)生。在獲取模式改變的情形下，控制單元改變和控制至少一個第二曝光參數(shù)，以使得俘獲狀態(tài)的穩(wěn)態(tài)可以以盡可能小的改變被調(diào)節(jié)。在檢測器像素中生成的載荷子被讀出，以及被變換成例如電流信號或電壓信號。這樣荻取的信號也可被數(shù)字化。
此后將參照某些附圖詳細地描述本發(fā)明的實施例。其中

圖1是按照本發(fā)明的X射線設(shè)備的示意圖，圖2是二維光電二極管安排的一部分的示意圖，圖3是按照本發(fā)明的X射線設(shè)備的檢測器的截面圖，該檢測器配備有偏置光源，圖4顯示用于控制按照本發(fā)明的X射線設(shè)備的時序圖的一部分，圖5顯示在獲取參數(shù)改變之前和之后，暗圖像的藉助于偏移信號校正的平均值的方差，以及圖6顯示在按照本發(fā)明改變和控制曝光參數(shù)之后，圖5的平均值的方差。
圖1顯示X射線設(shè)備，它包括X射線源1，它通過X射線束3照射物體2(特別是要被放射性檢查的病人)。沒有被吸收的X射線由X射線檢測器4變換成電子圖像信號IS。圖像信號被加到圖像處理單元10，它輸出相應(yīng)于經(jīng)處理的X射線圖像的圖像信號電流PS。經(jīng)處理的X射線圖像可以被存儲在存儲媒體12和/或被顯示在顯示屏幕11上。偏置光源5被安排在檢測器4的后面，以及把檢測器曝光于與由控制單元13施加的曝光參數(shù)一致的偏置光下。在本實施例中的控制單元13不僅僅控制偏置光源5，而且也控制X射線檢測器4和X射線源1，即，經(jīng)由高壓生成器14控制后者。控制單元13還包括存儲器15，它被使用來存儲用于改變和控制X射線設(shè)備的參數(shù)(例如，X射線設(shè)備獲取參數(shù)和曝光參數(shù))的數(shù)據(jù)和表格以及用于在以后的階段再次讀出這樣的數(shù)據(jù)和表格。
偏置光源5可以以已知的方式被形成，例如，作為LED的矩陣。附加的散射片(未示出)確保曝光是非常均勻的。另一個實施例由包括兩種類型的LED的矩陣構(gòu)成，所述LED例如被安排成國際象棋盤的形式以及發(fā)射不同的各自波長的光。這能夠特別靈活地改變檢測器曝光，因此構(gòu)成抵消圖像偽像的有利的可能性。
圖2是二維檢測器安排的一部分的示意圖。圖2顯示3×3個光電二極管21。X射線檢測器可以具有100×200，1024×1024，2000×2000個光電二極管的矩陣尺寸或另外的尺寸。光電二極管21吸收入射光量子，以及把這些量子變換成載荷子。行驅(qū)動器電路25經(jīng)由地址引線24控制開關(guān)元件23(在本例中由開關(guān)晶體管形成)，以及當開關(guān)元件23接通時，一行光電二極管的所收集的載荷子經(jīng)由讀出引線22被加到累計放大器元件26；最后多路復(fù)用器電路27接連地切換各個呈現(xiàn)的電壓。在例如數(shù)字化的進一步步驟后可能得到圖像信號流IS。行驅(qū)動器電路被耦合到控制單元13，從而能夠控制行排序。
圖3是X射線檢測器4和被安排在檢測器后面的偏置光源5的部分A(圖1上由虛線表示)的詳細截面圖。閃爍器7吸收入射的X射線并發(fā)射光量子。圖上顯示由偏置光源5發(fā)射的光量子如何能直接或間接地經(jīng)由優(yōu)選地透明基片30(例如由玻璃制成的基片)而被入射到光電二極管結(jié)構(gòu)21。
圖4顯示X射線設(shè)備的時序圖的一部分。圖上的線A顯示圖像觸發(fā)；向上箭頭表示在本例中所涉及的是上升沿觸發(fā)。圖像獲取時間(即，在兩個圖像觸發(fā)脈沖之間過去的時間間隔)由符號TB表示。圖上的線B表示由檢測器曝光單元曝光的持續(xù)時間，該持續(xù)時間由數(shù)值TL表示。圖上的線C表示電子復(fù)位的持續(xù)時間(用參考符號TR表示)，在這個持續(xù)時間期間所有的載荷子都從光電二極管流出。圖上的線D顯示X射線曝光時間(用TX表示)；圖上的線E顯示圖像信號讀出階段，在該階段X射線圖像信號在讀出時間間隔TA期間被讀出；圖上的線F顯示圖像傳輸時間，在該傳輸時間期間圖像信號被加到圖像處理單元(傳輸時間TT)。假定，在偏置光脈沖之間的時間距離也是曝光參數(shù)。然而，因為在優(yōu)選實施例中的偏置光脈沖只在電子復(fù)位階段期間才發(fā)生，所以偏置光脈沖的時間的距離是其數(shù)值由獲取模式確定的曝光參數(shù)。當圖像獲取時間TB改變時，偏置光脈沖之間的時間距離數(shù)值也必須改變，以便確保偏置光脈沖在復(fù)位階段內(nèi)仍舊出現(xiàn)。在本例中，偏置光脈沖間隔被定義為圖像獲取時間TB。由獲取模式施加的這樣的曝光參數(shù)形成第一參數(shù)組的一部分，它們不可用于由控制單元的控制和調(diào)整。
序號模式檢測器 有效圖像最大圖像速率 最大Tx分辨率 尺寸[mm2] [圖像/s] [ms]1 全圖像，1×1176×1763019.5脈沖2 全圖像，2×2176×176608.0組合，脈沖3 全圖像，1×1176×17630連續(xù)連續(xù)4 變焦1×1110×110606.5表1用于心臟檢查的數(shù)字X射線檢測器的各種獲取模式表1顯示被專門配置成用于心臟檢查的數(shù)字X射線檢測器的各種獲取模式。該檢測器具有176×176mm2的有效表面積。列1包含當前選擇的獲取模式號。列2提供獲取模式的概略的描述。在“全圖像”的情形下，所有的像素都對圖像有貢獻；在“變焦”的情形下，只有有限的部分的光電二極管安排對圖像有貢獻。“脈沖”是指由X射線源1以脈沖方式發(fā)射X射線，而“連續(xù)”是指連續(xù)地發(fā)射X射線。“組合”描述其中多個像素被組合以便形成一個圖像點的獲取模式；在本例中，2×2像素被組合以便形成一個圖像點。在組合模式中，可以較快地讀出以及圖像點具有較好的信號噪聲比。列3表示檢測器分辨率，即，它規(guī)定如何進行組合。列4顯示有效的圖像尺寸，以mm2計。列5描述最大圖像速率，即，在序列獲取的情形下每秒可讀出的X射線圖像的最大數(shù)目。最后一列表示在最大圖像速率下的最大X射線曝光時間TX，以ms計。
在各種模式下調(diào)節(jié)不同的獲取參數(shù)。例如，有可能組合光電二極管，以便在光電二極管級別提供實際上更大的圖像點。這對于涉及到每個圖像較小的施加X射線速率的應(yīng)用提供特別的優(yōu)點；較大的圖像點又意味著不太好的分辨率，但也意味著較好的信號噪聲比。在具有組合像素的模式2下，因為要讀出的圖像信號值數(shù)目較少，因而得到更高的每秒最大圖像速率。根據(jù)讀出時間TA和復(fù)位時間TB，對于給定的圖像信號速率得到每個圖像的最大X射線曝光時間TX。表1要被理解為可以在其間進行切換的一組獲取模式的一個例子。該表不包括獲取參數(shù)，諸如X射線脈沖強度、X射線管的陽極電壓等等。
特別地是當圖像獲取時間TB被改變時，由于在新的模式中在俘獲狀態(tài)下由偏置光激發(fā)的載荷子對由俘獲狀態(tài)發(fā)射的載荷子的比值還沒有穩(wěn)定，因而出現(xiàn)圖像偽像。然后圖像獲取時間TB增加，在偏置光脈沖之間的距離也增加，以及平均地，較少的載荷子在俘獲狀態(tài)下被激發(fā)。因為所俘獲的載荷子的發(fā)射(像所有的衰變過程一樣)滿足指數(shù)規(guī)律(強度＝A.exp(-t/τ)，其中A是比例因子，以及t是自從該過程開始以來經(jīng)歷過的時間)，以及因為隨后出現(xiàn)的時間常數(shù)τ相對于圖像獲取時間TB較大，因此在新的模式開始時，比起穩(wěn)定化的狀態(tài)甚至有更多的載荷子被發(fā)射。在模式改變后，經(jīng)偏移校正的暗圖像隨后呈現(xiàn)附加的偽像信號，該偽像信號在理想情況下漸近地趨近于零。對按照本發(fā)明的檢測器曝光單元的至少一個第二曝光參數(shù)(例如，曝光時間TL)的改變和控制使得由曝光單元加到檢測器的整體光強度不改變，減小了偽像信號。
圖5顯示在沒有按照本發(fā)明的第二曝光參數(shù)的適配時偽像信號的示例的行為。已在檢測器上被平均的經(jīng)偏移校正的暗圖像信號的值在這里表示為相對于圖像號的數(shù)字檢測器值數(shù)單位(LSB)。對于兩個序列中的20個圖像顯示出從圖像9到圖像10發(fā)生模式改變。曲線K1顯示對于圖像獲取時間TB從135ms到565ms的改變的數(shù)值，以及曲線K2屬于其中進行像素尺寸改變的模式的改變，即，組合像素以形成圖像點。在2×2像素的組合的情形下，圖像荻取時間TB隨后被減小到約一半，因為列像素可以同時被讀出。作為第二曝光參數(shù)的偏置光脈沖持續(xù)時間TL并不隨模式改變而改變。
圖6顯示在與曲線K1和K2相同的情況下測量的曲線K3和K4；曲線K1和K3屬于像K2和K4那樣相同的模式改變。偏置光脈沖時間TL按照本發(fā)明正比于圖像獲取時間TB的改變而被改變；因此，在從2×2組合像素改變到非組合的像素后，選擇偏置光脈沖持續(xù)時間TL的兩倍?？磥硎窃趫D像獲取時間TB改變的情形下，可以達到使偽像信號減小到非常小的殘余的偽像，而在像素尺寸改變的情形下，達到偽像信號的較不顯著的減小。這是由于在像素尺寸改變的情形下其他效應(yīng)對偽像信號有附加貢獻。
具有與以前的模式相同的整體光量的偏置光的脈沖持續(xù)時間TL的正比例的延長典型地導(dǎo)致不完全相同的穩(wěn)態(tài)，這是因為因為在較長的時間間隔內(nèi)俘獲狀態(tài)的較大的部分被騰空，因此，由于在脈沖之間的改變的時間間隔也得到其他俘獲狀態(tài)密度函數(shù)。因此，下一個偏置光脈沖遇到自由的俘獲狀態(tài)的不同的布局。所以，動態(tài)穩(wěn)態(tài)對于相同的整體偏置光曝光是不完全相同的。為了改進該改變，可以進行不直接正比于圖像獲取時間TB改變的改變，或可以以這樣的方式控制該改變，以使得以最佳方式達到新的穩(wěn)態(tài)。當較長的或較短的偏置光脈沖持續(xù)時間TL在簡短的時間段內(nèi)被調(diào)節(jié)時，該持續(xù)時間緩慢地收斂到最終數(shù)值，或當偏置光脈沖持續(xù)時間TL被調(diào)節(jié)成以逐漸更小的距離從(和圍繞)最終數(shù)值起伏時，經(jīng)偏移校正的信號方差可被更精確地控制到零線。這樣控制的改變值導(dǎo)致甚至更好的偽像抑制。這樣控制的改變的精確的數(shù)值可以在檢測器校準過程中被確定。檢測器校準是在帶有和不帶有X射線曝光的情況下從所規(guī)定的測量確定檢測器的參數(shù)的必要的步驟，這些參數(shù)(即，對于每個像素的偏移值、對于每個像素的增益值等等)是在用于圖像信號的進一步處理的以后的階段中所需要的，總之，得到改進的X射線設(shè)備，包括具有檢測器曝光單元的X射線檢測器，檢測器曝光單元被控制單元控制成使得與現(xiàn)有技術(shù)相比較，在獲取模式改變后達到圖像偽像的減小。圖像質(zhì)量得到提高并且允許在沒有形成不再適用于醫(yī)學(xué)評估的X射線圖像的風(fēng)險下改變模式。
權(quán)利要求
1.用于形成X射線圖像的X射線設(shè)備，該設(shè)備包括X射線檢測器(4)，用于把X射線變換成電信號，檢測器曝光單元(5)，用于根據(jù)第一和第二曝光參數(shù)發(fā)射電磁輻射，第一曝光參數(shù)的數(shù)值由獲取模式規(guī)定，而第二曝光參數(shù)不由獲取模式規(guī)定，以及控制單元，用于在獲取模式改變后改變和控制檢測器曝光單元(5)的至少一個第二曝光參數(shù)。
2.如權(quán)利要求1中要求的X射線設(shè)備，其特征在于，X射線設(shè)備附加地包括X射線源(1)。
3.如權(quán)利要求1或2中要求的X射線設(shè)備，其特征在于，控制單元(13)被附加地安排成控制X射線設(shè)備的至少一個另外的部件(1，4)。
4.如權(quán)利要求1中要求的X射線設(shè)備，其特征在于，圖像獲取時間和/或X射線曝光時間和/或檢測器分辨率是確定獲取模式的獲取參數(shù)。
5.如權(quán)利要求1中要求的X射線設(shè)備，其特征在于，控制單元(13)被安排成改變和控制檢測器曝光單元(5)的曝光強度和/或曝光時間和/或曝光波長組成。
6.如權(quán)利要求1中要求的X射線設(shè)備，其特征在于，曝光參數(shù)正比于獲取參數(shù)的改變而被改變和控制。
7.如權(quán)利要求1中要求的X射線設(shè)備，其特征在于，曝光參數(shù)的改變和控制滿足一個函數(shù)，該函數(shù)從獲取模式改變向一個恒定的最終值收斂。
8.如權(quán)利要求1中要求的X射線設(shè)備，其特征在于，控制單元(13)被安排成從存儲媒體(15)中讀出用于改變和控制曝光參數(shù)的數(shù)值。
9.如權(quán)利要求1中要求的X射線設(shè)備，其特征在于，檢測器曝光單元(5)只在X射線檢測器(4)的電子復(fù)位階段內(nèi)是工作的。
10.藉助于用于形成X射線圖像的X射線設(shè)備把X射線變換成電信號的方法，該方法包括以下步驟用X射線照射X射線檢測器(4)，根據(jù)第一和第二曝光參數(shù)，利用發(fā)射電磁輻射的檢測器曝光單元(5)附加地照射X射線檢測器，該第一曝光參數(shù)的數(shù)值不由獲取模式規(guī)定，在獲取模式改變后，改變和控制檢測器曝光單元(5)的至少一個第二曝光參數(shù)，讀出由X射線檢測器(4)產(chǎn)生的電信號。
全文摘要
本發(fā)明涉及用于形成X射線圖像的X射線設(shè)備，該設(shè)備包括X射線檢測器(4)，用于把X射線變換成電信號；檢測器曝光單元(5)，用于根據(jù)第一和第二曝光參數(shù)發(fā)射電磁輻射，第一曝光參數(shù)的數(shù)值由獲取模式規(guī)定，而第二曝光參數(shù)不由獲取模式規(guī)定；以及控制單元(13)，用于在獲取模式改變后改變和控制檢測器曝光單元(5)的至少一個第二曝光參數(shù)。
文檔編號H04N5/321GK1649542SQ03810191
公開日2005年8月3日 申請日期2003年4月29日 優(yōu)先權(quán)日2002年5月7日
發(fā)明者T·吉普, H·-A·維施曼, F·布澤 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司