專利名稱：射線照相設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及醫(yī)療或工業(yè)使用的射線照相設(shè)備，根據(jù)輻射檢測信號(hào)獲取X射線照相圖像，當(dāng)輻射發(fā)射裝置發(fā)射輻射時(shí)，信號(hào)采樣裝置在預(yù)定采樣時(shí)間間隔從輻射檢測裝置取得該輻射檢測信號(hào)。更具體地說，本發(fā)明涉及一種用于完全消除由輻射檢測裝置引起的、來自輻射檢測裝置的輻射檢測信號(hào)的時(shí)間延遲的技術(shù)。
背景技術(shù)：
近年來，在作為典型射線照相設(shè)備示例的醫(yī)療熒光檢查設(shè)備中，已將平板X射線檢測器(下文中稱之為“FPD”)用作檢測由X射線管發(fā)射的X射線所產(chǎn)生的患者的X射線穿透圖像的X射線檢測裝置。FPD包括沿縱向和橫向設(shè)置在X射線檢測表面上的多個(gè)半導(dǎo)體或其它X射線檢測單元。
即，在熒光檢查設(shè)備中，當(dāng)患者受到來自X射線管的X射線照射時(shí)，由FPD按照采樣時(shí)間間隔獲得一幅X射線圖像的X射線檢測信號(hào)。構(gòu)造熒光檢查設(shè)備，用于根據(jù)X射線檢測信號(hào)，在采樣間隔之間的每一個(gè)周期得到與患者X射線穿透圖像相對(duì)應(yīng)的X射線圖像。由于與以前使用的圖像增強(qiáng)器相比，該FPD較輕且產(chǎn)生的復(fù)雜檢測失真較小，所以在設(shè)備結(jié)構(gòu)和圖像處理方面，F(xiàn)PD的使用具有優(yōu)勢。
不過，F(xiàn)PD具有引起時(shí)間滯后的缺點(diǎn)，這對(duì)X射線圖像有不利影響。具體地說，當(dāng)FPD以短采樣時(shí)間間隔得到X射線檢測信號(hào)時(shí)，把未被提取的信號(hào)殘余加到下一個(gè)X射線檢測信號(hào)上作為滯后部分。這樣，在FPD以每秒中30次的采樣間隔獲得一幅圖像的X射線檢測信號(hào)以創(chuàng)建用于動(dòng)態(tài)顯示的X射線圖像的情況下，滯后部分作為后圖像出現(xiàn)在先前的屏幕上而產(chǎn)生了重影。這將導(dǎo)致諸如動(dòng)態(tài)圖像模糊之類的不便。
美國專利No.5,249,123公開了一種解決在獲得計(jì)算機(jī)層析圖像(CT圖像)時(shí)由FPD引起的時(shí)間滯后問題的建議。這種建議技術(shù)使用了一種計(jì)算，用于從FPD以采樣時(shí)間間隔Δt獲得的每一個(gè)輻射檢測信號(hào)中消除滯后部分。
即在上述美國專利中，假設(shè)由多個(gè)指數(shù)函數(shù)形成的沖激響應(yīng)引起了包含于在采樣時(shí)間間隔取得的每一個(gè)輻射檢測信號(hào)中的滯后部分，下述方程用于產(chǎn)生具有從輻射檢測信號(hào)yk中去除的滯后部分的輻射檢測信號(hào)xkXk＝[yk-∑n＝1N{αn·[1-exp(Tn)]·exp(Tn)·Snk}]/∑n＝1Nβn其中Tn＝-Δt/τn，Snk＝Xk-1+exp(Tn)·Sn(k-1)，以及βn＝αn·[1-exp(Tn)]，其中Δt采樣間隔；k表示在采樣時(shí)間序列中時(shí)間的第k個(gè)點(diǎn)的下標(biāo)；N形成了沖激響應(yīng)的具有不同時(shí)間常數(shù)的指數(shù)函數(shù)的數(shù)目；n表示形成了沖激響應(yīng)的指數(shù)函數(shù)之一的下標(biāo)；αn指數(shù)函數(shù)n的強(qiáng)度；以及τn指數(shù)函數(shù)n的衰減時(shí)間常數(shù)。
本發(fā)明人嘗試過上述美國專利所給出的計(jì)算技術(shù)。但是，得到的結(jié)論卻是上述技術(shù)不能避免由時(shí)間滯后引起的偽像(artifact)，并且不能得到令人滿意的X射線圖像。已經(jīng)確定不能消除由于FPD而引起的時(shí)間滯后。
此外，美國專利No.5,517,544公開了另一種解決在獲得CT圖像時(shí)由FPD引起的時(shí)間滯后問題的建議。該技術(shù)假設(shè)FPD的時(shí)間滯后近似為一個(gè)指數(shù)函數(shù)，并且通過計(jì)算從輻射檢測信號(hào)中去除滯后部分。本發(fā)明人仔細(xì)地回顧了該美國專利所給出的計(jì)算技術(shù)。然而卻發(fā)現(xiàn)不可能用一個(gè)指數(shù)函數(shù)來近似FPD的時(shí)間滯后，也不能利用該技術(shù)消除FPD的時(shí)間滯后。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明考慮到上述指出的現(xiàn)有技術(shù)的狀態(tài)，且其目的是提供一種用于完全消除由輻射檢測裝置引起的、從輻射檢測裝置獲得的輻射檢測信號(hào)的時(shí)間滯后的射線照相設(shè)備。
認(rèn)為以下技術(shù)能夠解決以上問題。在處理FPD的時(shí)間滯后時(shí)，該技術(shù)根據(jù)以下遞歸方程A-C，去除了由于沖激響應(yīng)而引起的滯后部分Xk＝Y(jié)k-∑n＝1N{αn·[1-exp(Tn)]·exp(Tn)·Snk}…ATn＝-Δt/τn…BSnk＝Xk-1+exp(Tn)·Sn(k-1)…C其中Δt采樣時(shí)間間隔；k表示在采樣時(shí)間序列中時(shí)間的第k個(gè)點(diǎn)的下標(biāo)；Yk在第k個(gè)采樣時(shí)間得到的X射線檢測信號(hào)；Xk具有從信號(hào)Yk去除了滯后部分的已校正X射線檢測信號(hào)；Xk-1在前一個(gè)時(shí)間點(diǎn)得到的信號(hào)Xk；Sn(k-1)在前一個(gè)時(shí)間點(diǎn)的Snk；exp指數(shù)函數(shù)；N形成了沖激響應(yīng)的具有不同時(shí)間常數(shù)的指數(shù)函數(shù)的數(shù)目；n表示形成了沖激響應(yīng)的指數(shù)函數(shù)之一的下標(biāo)；αn指數(shù)函數(shù)n的強(qiáng)度；以及τn指數(shù)函數(shù)n的衰減時(shí)間常數(shù)。
在以上的遞歸計(jì)算中，預(yù)先確定FPD的沖激響應(yīng)的系數(shù)N、αn以及τn。利用固定的系數(shù)，將X射線檢測信號(hào)Yk應(yīng)用于方程A-C，由此獲得無滯后的X射線檢測信號(hào)Xk。
但是，在實(shí)際中，F(xiàn)PD的沖激響應(yīng)不是不變的。發(fā)明人獲得了以下發(fā)現(xiàn)，作為在不同的條件下進(jìn)行實(shí)驗(yàn)的結(jié)果，以確定可變沖激響應(yīng)的原因。在實(shí)驗(yàn)中，改變了FPD的傳感器溫度以改變沖激響應(yīng)。圖10是示意地示出了該實(shí)驗(yàn)的圖，其中橫軸表示傳感器溫度，而縱軸表示指數(shù)函數(shù)n的強(qiáng)度αn，其中其它的沖激響應(yīng)系數(shù)N和τn固定。
從圖10中可以看出，強(qiáng)度αn隨著傳感器溫度變化。當(dāng)傳感器溫度變化時(shí)，利用固定的αn和N，則τn也變化。當(dāng)傳感器溫度變化時(shí)，利用固定的αn和τn，則N也變化。該傳感器溫度隨著FPD的傳感器所處的室溫而變化。因此，即使是相同的FPD，沖激響應(yīng)系數(shù)N、αn和τn也會(huì)隨著時(shí)間而變化。因此，已經(jīng)發(fā)現(xiàn)沖激響應(yīng)隨著傳感器溫度變化。
結(jié)果，當(dāng)在檢測時(shí)的傳感器溫度條件下獲得的沖激響應(yīng)系數(shù)與之前得到的不同時(shí)，不能從以上所示的遞歸方程A-C中準(zhǔn)確地得到去除了滯后部分Yk的X射線檢測信號(hào)Xk。換句話說，通過根據(jù)在檢測時(shí)的傳感器溫度條件下獲得的沖激響應(yīng)系數(shù)來去除滯后部分，可以準(zhǔn)確地確定X射線檢測信號(hào)Yk。
根據(jù)以上發(fā)現(xiàn)，本發(fā)明提供了一種射線照相設(shè)備，具有輻射發(fā)射裝置，用于向受檢目標(biāo)發(fā)射輻射；輻射檢測裝置，用于檢測透射過受檢目標(biāo)的輻射；以及信號(hào)采樣裝置，用于當(dāng)向受檢目標(biāo)發(fā)射輻射時(shí)，以預(yù)定的采樣時(shí)間間隔從輻射檢測裝置獲得輻射檢測信號(hào)，并且根據(jù)以預(yù)定的采樣時(shí)間間隔從輻射檢測設(shè)備輸出的輻射檢測信號(hào)來獲得射線照相圖像，所述設(shè)備包括溫度測量裝置，用于測量輻射檢測裝置的溫度；以及時(shí)間滯后去除裝置，用于根據(jù)由一個(gè)或多個(gè)具有不同衰減時(shí)間常數(shù)的指數(shù)函數(shù)形成的沖激響應(yīng)引起了包含在以采樣時(shí)間間隔獲得的輻射檢測信號(hào)中的每一個(gè)中的滯后部分的假設(shè)，通過遞歸計(jì)算，從輻射檢測信號(hào)中去除滯后部分；其中設(shè)置時(shí)間滯后去除裝置，以根據(jù)由溫度測量裝置提供的結(jié)果來確定沖激響應(yīng)，并通過根據(jù)與結(jié)果相對(duì)應(yīng)的沖激響應(yīng)去除滯后部分來獲得已校正輻射檢測信號(hào)。
利用根據(jù)本發(fā)明的射線照相設(shè)備，當(dāng)輻射發(fā)射裝置向受檢目標(biāo)發(fā)射輻射時(shí)，以預(yù)定的采樣時(shí)間間隔從輻射檢測裝置輸出輻射檢測信號(hào)。認(rèn)為包含在每一個(gè)輻射檢測信號(hào)中的滯后部分是由于由一個(gè)或多個(gè)具有不同衰減時(shí)間常數(shù)的指數(shù)函數(shù)形成的沖激響應(yīng)所引起的。時(shí)間滯后去除裝置通過使用與輻射檢測設(shè)備的溫度變化相對(duì)應(yīng)的沖激響應(yīng)來去除這種滯后部分。根據(jù)這種去除了滯后部分的校正輻射檢測信號(hào)來獲得射線照相圖像。
因此，根據(jù)本發(fā)明的射線照相設(shè)備，當(dāng)時(shí)間滯后去除裝置通過從每一個(gè)輻射檢測信號(hào)中去除滯后部分來計(jì)算校正輻射檢測信號(hào)時(shí)，根據(jù)由溫度測量裝置提供的結(jié)果來確定沖激響應(yīng)。根據(jù)與溫度測量的結(jié)果相對(duì)應(yīng)的沖激響應(yīng)來執(zhí)行計(jì)算。由于輻射檢測裝置的溫度變化，按照這種方式計(jì)算的已校正輻射檢測信號(hào)沒有誤差，并且完全地從其中去除了滯后部分。即使在輻射檢測裝置的溫度變化的情況下，始終使用準(zhǔn)確的沖激響應(yīng)，以有效地去除由于輻射檢測裝置而引起的滯后部分，由此獲得了具有高準(zhǔn)確度的已校正輻射檢測信號(hào)。
在上述射線照相設(shè)備中，可以設(shè)置溫度測量裝置，以便每隔預(yù)定時(shí)間，或在收到操作員的溫度測量指令時(shí)，或在根據(jù)發(fā)射輻射的指令而執(zhí)行實(shí)際輻射發(fā)射之前，自動(dòng)地測量溫度。
利用自動(dòng)溫度測量，可以一直準(zhǔn)確地測量溫度，而不會(huì)存在操作員忘記測量溫度或引起錯(cuò)誤的可能性。
在前面的自動(dòng)溫度測量中，可以通過輸入用于測量溫度的時(shí)間點(diǎn)來設(shè)置預(yù)定時(shí)間。在自動(dòng)溫度測量的另一個(gè)示例中，可以按照具有固定值的時(shí)間間隔(例如，每隔30分鐘)來設(shè)置預(yù)定時(shí)間。在自動(dòng)溫度測量的另一個(gè)示例中，可以通過包含時(shí)間點(diǎn)信息的時(shí)間表信息來設(shè)置預(yù)定時(shí)間。在自動(dòng)溫度測量的另一個(gè)示例中，通過輸入從當(dāng)前時(shí)間點(diǎn)所經(jīng)過的時(shí)間來設(shè)置預(yù)定時(shí)間(例如，從現(xiàn)在起5分鐘)。
在射線照相設(shè)備中，例如，射線檢測裝置是具有沿縱向和橫向設(shè)置在X射線檢測表面上的多個(gè)X射線檢測單元的平板X射線檢測器。
在射線照相設(shè)備中，優(yōu)選地，根據(jù)輻射檢測裝置的溫度與沖激響應(yīng)系數(shù)之間的預(yù)定關(guān)系以及溫度測量裝置的測量結(jié)果來確定與溫度相對(duì)應(yīng)的沖激響應(yīng)系數(shù)。
在射線照相設(shè)備中，射線檢測裝置是具有沿縱向和橫向設(shè)置在輻射檢測表面上的多個(gè)X射線檢測單元的平板X射線檢測器，平板X射線檢測器包括半導(dǎo)體膜，所述半導(dǎo)體膜是用于響應(yīng)入射X射線來產(chǎn)生載流子的X射線感光膜；設(shè)置在半導(dǎo)體膜的X射線入射表面上的電壓施加電極；設(shè)置在半導(dǎo)體膜的非入射表面的載流子采集電極，充當(dāng)X射線檢測單元的一部分；以及使載流子采集電極氣相沉積在其上的玻璃板，溫度測量裝置包括位于玻璃板上的熱敏電阻器；以及用于讀取熱敏電阻器的電阻的控制器。
利用溫度測量裝置，傳感器溫度的變化改變了玻璃板的溫度，這依次改變了位于玻璃板表面的熱敏電阻器的電阻?？刂破髯x取在施加于熱敏電阻器的固定電壓下變化的電流值，以獲得熱敏電阻器的電阻變化，由此最終獲得傳感器溫度。
在以上的溫度測量裝置中，可以將熱敏電阻器設(shè)置在玻璃板的中央，或?qū)⒍鄠€(gè)熱敏電阻器設(shè)置在玻璃板上的多個(gè)位置。
在另一個(gè)示例中，射線檢測裝置是具有沿縱向和橫向設(shè)置在輻射檢測表面上的多個(gè)X射線檢測單元的平板X射線檢測器，溫度測量裝置包括分別針對(duì)X射線檢測單元而設(shè)置的阻性部件。
以上示例中的溫度測量裝置通過讀取為其設(shè)置的阻性部件來測量每一個(gè)檢測單元的溫度。
在射線照相設(shè)備中，優(yōu)選地，設(shè)置時(shí)間滯后去除裝置，以便根據(jù)以下的方程A-C，執(zhí)行用于從每一個(gè)輻射檢測信號(hào)中去除滯后部分的遞歸計(jì)算Xk＝Y(jié)k-∑n＝1N{αn·[1-exp(Tn)]·exp(Tn)·Snk}…ATn＝-Δt/τn…BSnk＝Xk-1+exp(Tn)·Sn(k-1)…C其中Δt采樣時(shí)間間隔；k表示在采樣時(shí)間序列中時(shí)間的第k個(gè)點(diǎn)的下標(biāo)；Yk在第k個(gè)采樣時(shí)間得到的X射線檢測信號(hào)；Xk從信號(hào)Yk去除了滯后部分的已校正X射線檢測信號(hào)；Xk-1在前一個(gè)時(shí)間點(diǎn)得到的信號(hào)Xk；Sn(k-1)在前一個(gè)時(shí)間點(diǎn)的Snk；exp指數(shù)函數(shù)；N形成了沖激響應(yīng)的具有不同時(shí)間常數(shù)的指數(shù)函數(shù)的數(shù)目；n表示形成了沖激響應(yīng)的指數(shù)函數(shù)之一的下標(biāo)；αn指數(shù)函數(shù)n的強(qiáng)度；以及
τn指數(shù)函數(shù)n的衰減時(shí)間常數(shù)。
利用這種結(jié)構(gòu)，方程A中的第二項(xiàng)“∑n＝1N{αn·[1-exp(Tn)]·exp(Tn)·Snk}”對(duì)應(yīng)于滯后部分。因此，可以從構(gòu)成緊遞推公式的方程A-C中迅速地得到校正的無滯后X射線檢測信號(hào)Xk。
可以將本發(fā)明應(yīng)用于醫(yī)療設(shè)備以及用于工業(yè)用途的設(shè)備。醫(yī)療設(shè)備的一個(gè)示例是熒光檢查設(shè)備。醫(yī)療設(shè)備的另一個(gè)示例是X射線CT設(shè)備。用于工業(yè)用途的一個(gè)示例是無損探傷設(shè)備。
輻射檢測設(shè)備并不局限于特定的安裝地點(diǎn)?？梢詫⑤椛錂z測設(shè)備設(shè)置在外殼內(nèi)，其中將樹脂澆注于外殼中，以對(duì)輻射檢測設(shè)備進(jìn)行塑模。然后，可以將輻射檢測設(shè)備裝入樹脂并嵌入外殼中。


為了說明本發(fā)明的目的，其中以附圖的形式給出了本發(fā)明的幾種優(yōu)選實(shí)施例，但是可以理解的是本發(fā)明并不限于所示的確切設(shè)計(jì)和裝置。
圖1是示出了本發(fā)明第一實(shí)施例中熒光檢查設(shè)備整體構(gòu)造的方框圖；圖2是第一實(shí)施例中使用的FPD的平面圖；圖3是示出了第一實(shí)施例中X射線照相期間對(duì)X射線檢測信號(hào)進(jìn)行采樣的狀態(tài)的示意圖；圖4是示出了第一實(shí)施例中使用的FPD的截面部分和傳感器溫度測量單元之間的位置關(guān)系的圖；圖5是示出了輻射檢測信號(hào)的時(shí)間滯后的圖；圖6是示出了第一實(shí)施例中X射線照相過程的流程圖；圖7是示出了第一實(shí)施例中用于時(shí)間滯后去除的遞歸計(jì)算的流程圖；圖8是示出了用于根據(jù)第一實(shí)施例的傳感器溫度來設(shè)置傳感器溫度測量以及沖激響應(yīng)系數(shù)的流程圖；圖9是示出了用于根據(jù)第二實(shí)施例的傳感器溫度來設(shè)置傳感器溫度測量以及沖激響應(yīng)系數(shù)的流程圖；
圖10是示出了傳感器溫度和沖激響應(yīng)系數(shù)之間的關(guān)系的示意圖；以及圖11是示出了傳感器溫度測量單元的修改位置的圖。
具體實(shí)施例方式
下面將參考附圖對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。
<第一實(shí)施例>
圖1是示出了第一實(shí)施例中熒光檢查設(shè)備整體構(gòu)造的方框圖。
如圖1所示，熒光檢查設(shè)備包括用于向患者M(jìn)發(fā)射X射線的X射線管(輻射發(fā)射裝置)1；用于檢測透射過患者M(jìn)的X射線的FPD2(輻射檢測設(shè)備)；模數(shù)轉(zhuǎn)換器(信號(hào)采樣裝置)3，用于以預(yù)定的采樣時(shí)間間隔Δt，將取自FPD(平板X射線檢測器)2的X射線檢測信號(hào)(輻射檢測信號(hào))數(shù)字化；傳感器溫度測量單元(溫度測量裝置)4，用于測量FPD 2的傳感器溫度；檢測信號(hào)處理器5，用于根據(jù)從模數(shù)轉(zhuǎn)換器3輸出的X射線檢測信號(hào)來創(chuàng)建X射線圖像；以及圖像監(jiān)視器6，用于顯示由檢測信號(hào)處理器4創(chuàng)建的X射線圖像。即，構(gòu)造本設(shè)備，以便當(dāng)患者M(jìn)被X射線照射時(shí)，通過模數(shù)轉(zhuǎn)換器3根據(jù)FPD 2所獲得的X射線檢測信號(hào)，來獲得X射線圖像，并將得到的X射線圖像顯示在圖像顯示器5的屏幕上。下面將對(duì)第一實(shí)施例中的設(shè)備的各個(gè)組件進(jìn)行具體說明。
X射線管1和FPD 2跨過患者M(jìn)彼此相對(duì)設(shè)置。當(dāng)進(jìn)行X射線照相時(shí)，X射線發(fā)射控制器7控制X射線管1以錐形束的形式向患者M(jìn)發(fā)射X射線。同時(shí)，將X射線發(fā)射所產(chǎn)生的患者M(jìn)穿透X射線圖像投射到FPD 2的X射線檢測表面。
分別通過X射線管移動(dòng)機(jī)構(gòu)8和X射線檢測器移動(dòng)機(jī)構(gòu)9，沿著患者M(jìn)來回地移動(dòng)X射線管1和FPD 2。在移動(dòng)X射線管1和FPD 2時(shí)，照射及檢測系統(tǒng)移動(dòng)控制器10控制X射線管移動(dòng)機(jī)構(gòu)8和X射線檢測器移動(dòng)機(jī)構(gòu)9，使X射線管1和FPD 2彼此相對(duì)地、恒定地以與FPD 2的X射線檢測表面一致的X射線發(fā)射中心為中心一起移動(dòng)。當(dāng)然，X射線管1和FPD 2的移動(dòng)引起X射線所照射的患者的位置的變化，因此導(dǎo)致X射線照相位置的移動(dòng)。
如圖2所示，F(xiàn)PD 2在向其投射病人M的穿透X射線圖像的X射線檢測表面上，具有多個(gè)沿著病人M身體軸的X方向和垂直于身體軸的Y方向而縱向以及橫向地設(shè)置的X射線檢測單元2a。例如，設(shè)置X射線檢測單元2a以在X射線檢測表面上形成大約30厘米長、30厘米寬的1536×1536的矩陣。FPD 2的每一個(gè)X射線檢測單元2a都與檢測信號(hào)處理器5所創(chuàng)建的一幅X射線圖像上的一個(gè)象素相對(duì)應(yīng)。根據(jù)由FPD 2獲得的X射線檢測信號(hào)，檢測信號(hào)處理器5創(chuàng)建與投射到X射線檢測表面上的穿透X射線圖像相對(duì)應(yīng)的X射線圖像。
FPD 2具有如圖4所示的橫截面。FPD 2包括半導(dǎo)體膜22，所述半導(dǎo)體膜是用于響應(yīng)入射X射線來產(chǎn)生載流子的X射線感光膜(例如無定形硒厚膜)；設(shè)置在半導(dǎo)體膜22的X射線入射表面上的電壓施加電極21；設(shè)置在半導(dǎo)體膜22的非入射表面上的載流子采集電極23，充當(dāng)FPD 2的X射線檢測單元2a的一部分；以及具有氣相沉積在其上的載流子采集電極23的玻璃板24。玻璃板24也具有設(shè)置于其上的熱敏電阻器25，充當(dāng)傳感器溫度測量單元4的一部分。
模數(shù)轉(zhuǎn)換器3按照采樣時(shí)間間隔Δt，連續(xù)地提取每一幅X射線圖像的X射線檢測信號(hào)，并將X射線圖像的X射線檢測信號(hào)存儲(chǔ)在位于轉(zhuǎn)換器3下游的存儲(chǔ)器11中。在X射線照射之前開始X射線檢測信號(hào)的采樣(提取)操作。
即，如圖3所示，在采樣間隔Δt之間的每一個(gè)時(shí)間段采集穿透X射線圖像的所有X射線檢測信號(hào)，并將其順序存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器11中。通過操作員手動(dòng)地或作為X射線發(fā)射命令互鎖自動(dòng)地開始進(jìn)行X射線發(fā)射之前的、由模數(shù)轉(zhuǎn)換器3執(zhí)行的X射線檢測信號(hào)的采樣。
根據(jù)來自操作員的指令或每隔預(yù)定的時(shí)間，傳感器溫度測量單元4獲得FPD 2的傳感器溫度，并將傳感器溫度數(shù)據(jù)發(fā)送到檢測信號(hào)處理器5。如圖4所示，傳感器溫度測量單元4包括熱敏電阻器25以及控制器26，用于讀取熱敏電阻器25的電阻。傳感器溫度的變化改變了玻璃板24的溫度，這依次改變了設(shè)置于玻璃板24表面的熱敏電阻器25的電阻?？刂破?6讀取在施加于熱敏電阻器25的固定電壓下變化的電流值，以獲得熱敏電阻器25的電阻變化，由此最終獲得傳感器溫度。
如圖1所示，第一實(shí)施例中的熒光檢查設(shè)備包括時(shí)間滯后去除器12，用于計(jì)算已校正的、無時(shí)間滯后的輻射檢測信號(hào)。根據(jù)具有不同衰減時(shí)間常數(shù)的單個(gè)指數(shù)函數(shù)或多個(gè)指數(shù)函數(shù)所形成的沖激響應(yīng)引起了包含在由FPD 2以采樣時(shí)間間隔獲得的每一個(gè)輻射檢測信號(hào)中的滯后部分的假設(shè)，通過遞歸計(jì)算，從每一個(gè)輻射檢測信號(hào)中去除時(shí)間滯后。
如圖5所示，利用FPD 2，在每一個(gè)時(shí)間點(diǎn)產(chǎn)生的X射線檢測信號(hào)包括與之前X射線發(fā)射相對(duì)應(yīng)并且作為滯后部分殘留的信號(hào)(陰影部分)。時(shí)間滯后去除器12去除該滯后部分以產(chǎn)生已校正的無滯后X射線檢測信號(hào)。根據(jù)這種無滯后X射線檢測信號(hào)，檢測信號(hào)處理器5創(chuàng)建與投射到X射線檢測表面上的穿透X射線圖像相對(duì)應(yīng)的X射線圖像。
具體地說，時(shí)間滯后去除器12利用下列方程A-C執(zhí)行用于從每一個(gè)X射線檢測信號(hào)中去除滯后部分的遞歸計(jì)算處理Xk＝Y(jié)k-∑n＝1N{αn·[1-exp(Tn)]·exp(Tn)·Snk}…ATn＝-Δt/τn…BSnk＝Xk-1+exp(Tn)·Sn(k-1)…C其中Δt采樣間隔；k表示在采樣時(shí)間序列中時(shí)間的第k個(gè)點(diǎn)的下標(biāo)；Yk在第k個(gè)采樣時(shí)刻得到的X射線檢測信號(hào)；Xk從信號(hào)Yk去除了滯后部分的已校正X射線檢測信號(hào)；Xk-1在前一個(gè)時(shí)刻點(diǎn)得到的信號(hào)Xk；Sn(k-1)在前一個(gè)時(shí)刻點(diǎn)的Snk；exp指數(shù)函數(shù)；N形成了沖激響應(yīng)的具有不同時(shí)間常數(shù)的指數(shù)函數(shù)的數(shù)目；n表示形成了沖激響應(yīng)的指數(shù)函數(shù)之一的下標(biāo)；αn指數(shù)函數(shù)n的強(qiáng)度；以及
τn指數(shù)函數(shù)n的衰減時(shí)間常數(shù)。
將N、αn和τn稱為“沖激響應(yīng)系數(shù)”。
方程A中的第二項(xiàng)“∑n＝1N{αn·[1-exp(Tn)]·exp(Tn)·Snk}”對(duì)應(yīng)于滯后部分。這樣，第一實(shí)施例中的設(shè)備從構(gòu)成緊遞歸公式的方程A-C中迅速得到無滯后X射線檢測信號(hào)Xk。
FPD 2的沖激響應(yīng)還會(huì)隨著FPD 2的傳感器溫度而變化。即，方程A和B中使用的沖激響應(yīng)系數(shù)N、αn和τn也會(huì)隨著傳感器溫度而變化。檢測信號(hào)處理器5預(yù)先存儲(chǔ)針對(duì)FPD 2而確定的傳感器溫度與沖激響應(yīng)系數(shù)之間的關(guān)系(例如，見圖10)。處理器5接收來自傳感器溫度測量單元4的測量結(jié)果，并使滯后去除器12通過使用與所測量的溫度相對(duì)應(yīng)的沖激響應(yīng)系數(shù)來去除時(shí)間滯后。
在第一實(shí)施例中，模數(shù)轉(zhuǎn)換器3、檢測信號(hào)處理器5、X射線發(fā)射控制器7、照射及檢測系統(tǒng)移動(dòng)控制器10以及時(shí)間滯后去除器12隨著X射線照相的進(jìn)程，根據(jù)指令、以及從操作單元13輸入的數(shù)據(jù)或從主控制器14輸出的各種命令控制進(jìn)行操作。
接下來，將參考附圖對(duì)利用第一實(shí)施例中的設(shè)備來執(zhí)行X射線照相的操作進(jìn)行具體說明。
圖6是示出了第一實(shí)施例中的X射線照相過程的流程圖。
根據(jù)操作員的指令或在每一個(gè)預(yù)定時(shí)間，傳感器溫度測量單元4在X射線發(fā)射之前測量FPD 2的溫度，并將傳感器溫度數(shù)據(jù)發(fā)送到檢測信號(hào)處理器5。檢測信號(hào)處理器5將與所接收的傳感器溫度相對(duì)應(yīng)的沖激響應(yīng)系數(shù)N、αn和τn提供給滯后去除器12。
在X射線發(fā)射之前，模數(shù)轉(zhuǎn)換器3開始在采樣時(shí)間間隔Δt(＝1/30秒)之間的每一個(gè)時(shí)間段，從FPD 2中提取一幅X射線圖像的X射線檢測信號(hào)Yk。將提取出的X射線檢測信號(hào)存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器11中。
在操作員發(fā)起向病人M發(fā)射連續(xù)或間歇X射線的同時(shí)，模數(shù)轉(zhuǎn)換器3在采樣時(shí)間間隔Δt之間的每一個(gè)時(shí)間段，連續(xù)提取一幅X射線圖像的X射線檢測信號(hào)Yk，并將其存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器11中。
當(dāng)X射線發(fā)射完成時(shí)，操作進(jìn)行到步驟S5。當(dāng)X射線發(fā)射未完成時(shí)，操作返回步驟S3。
從存儲(chǔ)器11中讀取在一個(gè)采樣序列中所采集到的一幅X射線圖像的X射線檢測信號(hào)Yk。
根據(jù)使用與從傳感器溫度測量單元4接收到的傳感器系數(shù)相對(duì)應(yīng)的沖激響應(yīng)系數(shù)N、αn和τn的方程A-C，時(shí)間滯后去除器12執(zhí)行遞歸計(jì)算，并得到已校正X射線檢測信號(hào)Xk，即象素值，從各個(gè)X射線檢測信號(hào)Yk中去除了滯后部分。
根據(jù)一個(gè)采樣序列(一幅X射線圖像)的已校正X射線檢測信號(hào)Xk，檢測信號(hào)處理器5創(chuàng)建一幅X射線圖像。
將所創(chuàng)建的X射線圖像顯示在圖像監(jiān)視器6上。
當(dāng)存儲(chǔ)器11中有剩余的未處理X射線檢測信號(hào)Yk時(shí)，操作返回步驟S5。當(dāng)沒有剩余未處理X射線檢測信號(hào)Yk時(shí)，X射線照相結(jié)束。
在第一實(shí)施例中，在采樣時(shí)間間隔Δt(＝1/30秒)之間的每一個(gè)時(shí)間段，時(shí)間滯后去除器12計(jì)算與一幅X射線圖像的X射線檢測信號(hào)Yk相對(duì)應(yīng)的已校正X射線檢測信號(hào)Xk，并且檢測信號(hào)處理器5創(chuàng)建X射線圖像。即，還可以構(gòu)造本設(shè)備，以近似每秒30幅圖像的速率接連地創(chuàng)建X射線圖像，并且連續(xù)地顯示所創(chuàng)建的X射線圖像。則這樣可以執(zhí)行X射線圖像的動(dòng)態(tài)顯示。
接下來，將對(duì)以上傳感器溫度測量單元4和檢測信號(hào)處理器5的步驟S1進(jìn)行具體地說明。圖8是示出了根據(jù)第一實(shí)施例的用于設(shè)置傳感器溫度測量和沖激響應(yīng)系數(shù)的操作的流程圖。
傳感器溫度測量單元4進(jìn)行等待，直到通過操作單元13和主控制器14接收到用于傳感器溫度測量的操作員指令。
當(dāng)接收到用于傳感器溫度測量的指令時(shí)，傳感器溫度測量單元4的控制器26測量熱敏電阻器25的電阻，將其轉(zhuǎn)換為溫度數(shù)據(jù)，并將該數(shù)據(jù)發(fā)送到檢測信號(hào)處理器5。
檢測信號(hào)處理器5將與從傳感器溫度測量單元4所接收到的傳感器溫度相對(duì)應(yīng)的FPD 2的沖激響應(yīng)系數(shù)N、αn和τn提供給時(shí)間滯后去除器12。然后，操作返回步驟R1并等待下一個(gè)指令。
之后，時(shí)間滯后去除器12使用與傳感器溫度測量單元4所測量到的最近的傳感器溫度相對(duì)應(yīng)的沖激響應(yīng)系數(shù)，執(zhí)行時(shí)間滯后去除。
接下來，將參考圖7對(duì)時(shí)間滯后去除器12所執(zhí)行的圖6中的步驟S6中的遞歸計(jì)算處理進(jìn)行具體地說明。圖7是示出了第一實(shí)施例中用于時(shí)間滯后去除的遞歸計(jì)算的流程圖。
在X射線發(fā)射之前，在方程A中設(shè)置k＝0、X0＝0，并在方程C中設(shè)置Sn0＝0，作為初始值。當(dāng)指數(shù)函數(shù)的數(shù)目是3(N＝3)時(shí)，將S10、S20和S30均設(shè)為0。
在方程A和C中，設(shè)置k＝1，從方程C中得到S11、S21和S31，即Sn1＝X0+exp(Tn)·Sn0。此外，通過將得到的S11、S21和S31和X射線檢測信號(hào)Y1代入方程A，得到已校正X射線檢測信號(hào)。
將方程A和C中k加1(k＝k+1)之后，將前一次得到的Xk-1代入方程C得到S1k、S2k和S3k。此外，通過將S1k、S2k和S3k和X射線檢測信號(hào)Yk代入方程A，得到已校正X射線檢測信號(hào)。
當(dāng)剩余有未處理X射線檢測信號(hào)Yk時(shí)，操作返回步驟Q3。當(dāng)沒有未處理X射線檢測信號(hào)Yk剩余時(shí)，操作前進(jìn)到步驟Q5。
得到一個(gè)采樣序列(一幅X射線圖像)的已校正X射線檢測信號(hào)Xk，以完成一個(gè)采樣序列的遞歸計(jì)算。
如上所述，根據(jù)第一實(shí)施例的熒光檢查設(shè)備，當(dāng)時(shí)間滯后去除器12通過遞歸計(jì)算從每一個(gè)X射線檢測信號(hào)中去除滯后部分而計(jì)算已校正X射線檢測信號(hào)時(shí)，使用了與傳感器溫度相對(duì)應(yīng)的沖激響應(yīng)系數(shù)。這樣，獲得了具有高準(zhǔn)確度的已校正X射線檢測信號(hào)。
在第一實(shí)施例中，根據(jù)來自操作員的指令，測量傳感器溫度。本發(fā)明并不局限于這種測量?？梢栽诟鶕?jù)來自操作員的指令以發(fā)射X射線時(shí)，在X射線的實(shí)際發(fā)射之前，自動(dòng)地測量傳感器溫度。
<第二實(shí)施例>
在第二實(shí)施例中，在每一個(gè)預(yù)定時(shí)間，自動(dòng)地測量傳感器溫度。
除了根據(jù)來自操作員的指令或在預(yù)定時(shí)間測量傳感器溫度之外，第二實(shí)施例與第一實(shí)施例具有相同的特點(diǎn)和功能。不再對(duì)與第一實(shí)施例共有的特征進(jìn)行說明，而是通過使用圖9，對(duì)與第一實(shí)施例的不同之處進(jìn)行說明。
圖9是示出了用于根據(jù)第二實(shí)施例的傳感器溫度來設(shè)置傳感器溫度測量以及沖激響應(yīng)系數(shù)的流程圖。
操作員通過傳感器溫度測量單元4、操作單元13以及主控制器14，輸入用于執(zhí)行傳感器溫度測量的時(shí)間點(diǎn)。
傳感器溫度測量單元4的控制器26檢查預(yù)定時(shí)間是否到來。
在預(yù)定時(shí)間，傳感器溫度測量單元4的控制器26測量熱敏電阻器25的電阻，將其轉(zhuǎn)換為溫度數(shù)據(jù)，并將該數(shù)據(jù)發(fā)送到檢測信號(hào)處理器5。
檢測信號(hào)處理器5將與從傳感器溫度測量單元4所接收到的傳感器溫度相對(duì)應(yīng)的FPD 2的沖激響應(yīng)系數(shù)N、αn和τn提供給時(shí)間滯后去除器12。然后，操作返回步驟P2，控制器26檢查下一個(gè)預(yù)定時(shí)間是否到來。
之后，并且直到下一個(gè)預(yù)定時(shí)間，時(shí)間滯后去除器12使用與傳感器溫度測量單元4所測量到的最近的傳感器溫度相對(duì)應(yīng)的沖激響應(yīng)系數(shù)，執(zhí)行時(shí)間滯后去除計(jì)算。
在第二實(shí)施例中，操作員輸入用于執(zhí)行傳感器溫度測量的時(shí)間點(diǎn)。代替地，可以根據(jù)時(shí)間表信息來執(zhí)行傳感器溫度測量，例如“9:00，10:15，13:00，等等”。此外，例如，操作員可以輸入“從現(xiàn)在起5分鐘之后”等。
如上所述，在第二實(shí)施例中，每隔預(yù)定時(shí)間，自動(dòng)地測量FPD 2的傳感器溫度?？梢砸恢睖?zhǔn)確地測量溫度，而不會(huì)出現(xiàn)操作員忘記測量或出錯(cuò)。結(jié)果，可以從沖激響應(yīng)中準(zhǔn)確地去除時(shí)間滯后，并且已校正輻射檢測信號(hào)以較高的準(zhǔn)確度去除了時(shí)間滯后。
在第一和第二實(shí)施例中，將操作員的多種指令輸入到操作單元13中，然后將其發(fā)送到主控制單元14。
本發(fā)明并不限于前述實(shí)施例，可以進(jìn)行如下修改(1)上述第一和第二實(shí)施例采用FPD作為輻射檢測裝置。還可以將本發(fā)明應(yīng)用于除引起了X射線檢測信號(hào)的時(shí)間滯后的FPD之外的其他具有輻射檢測裝置的設(shè)備中。
(2)盡管第一和第二實(shí)施例中的設(shè)備為熒光檢查設(shè)備，還可將本發(fā)明應(yīng)用于除熒光檢查設(shè)備之外的其他設(shè)備，例如X射線CT設(shè)備。
(3)第一和第二實(shí)施例中的設(shè)備被設(shè)計(jì)為醫(yī)用。本發(fā)明不僅可以應(yīng)用于這種醫(yī)療設(shè)備中，還可以用作如無損探傷設(shè)備之類的工業(yè)用設(shè)備。
(4)在第一和第二實(shí)施例中使用X射線作為輻射。本發(fā)明還可以應(yīng)用于使用除X射線之外的其他輻射的設(shè)備中。
(5)在第一和第二實(shí)施例中，將熱敏電阻器用于測量傳感器溫度，本發(fā)明并不局限于此。設(shè)置在玻璃板上的熱敏電阻器的數(shù)目也沒有限制?？梢詫蝹€(gè)熱敏電阻器設(shè)置在玻璃板的中央，或?qū)⒍鄠€(gè)熱敏電阻器設(shè)置在玻璃板上的多個(gè)位置。可以將阻性部件提供給FPD 2的每一個(gè)X射線檢測單元2a(圖2)，從而通過讀取阻性部件的電阻就可以測量每一個(gè)X射線檢測單元2a的溫度。
如圖11所示，F(xiàn)PD 2包括電壓施加電極21、半導(dǎo)體膜22、載流子采集電極23(圖11中未示出)和玻璃板24，可以將FPD 2設(shè)置在由如鋁等構(gòu)成的外殼27中，并且將樹脂28注入外殼27中，以利用樹脂28對(duì)FPD 2進(jìn)行塑模。在這種情況下，可以將溫度測量單元，典型地為熱敏電阻器25裝入樹脂28中，嵌入外殼27的側(cè)表面，并設(shè)置在玻璃板24上。
在不脫離本發(fā)明的實(shí)質(zhì)或本質(zhì)特點(diǎn)的前提下，可以以其他特定形式具體實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，因此，應(yīng)當(dāng)參照所附的權(quán)利要求，而不是前述說明書來表示本發(fā)明的范圍。
權(quán)利要求
1.一種射線照相設(shè)備，具有輻射發(fā)射裝置，用于向受檢目標(biāo)發(fā)射輻射；輻射檢測裝置，用于檢測透射過受檢目標(biāo)的輻射；以及信號(hào)采樣裝置，用于當(dāng)向受檢目標(biāo)發(fā)射輻射時(shí)，以預(yù)定的采樣時(shí)間間隔從輻射檢測裝置獲得輻射檢測信號(hào)，并且根據(jù)以預(yù)定的采樣時(shí)間間隔從輻射檢測設(shè)備輸出的輻射檢測信號(hào)來獲得射線照相圖像，所述設(shè)備包括溫度測量裝置，用于測量所述輻射檢測裝置的溫度；以及時(shí)間滯后去除裝置，用于根據(jù)由一個(gè)或多個(gè)具有不同衰減時(shí)間常數(shù)的指數(shù)函數(shù)形成的沖激響應(yīng)引起了包含在以采樣時(shí)間間隔獲得的所述輻射檢測信號(hào)中的每一個(gè)中的滯后部分的假設(shè)，通過遞歸計(jì)算，從輻射檢測信號(hào)中去除滯后部分；其中設(shè)置所述時(shí)間滯后去除裝置，以根據(jù)由所述溫度測量裝置提供的結(jié)果來確定所述沖激響應(yīng)，并通過根據(jù)與結(jié)果相對(duì)應(yīng)的所述沖激響應(yīng)去除滯后部分來獲得已校正輻射檢測信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線照相設(shè)備，其特征在于設(shè)置所述溫度測量裝置，以便每隔預(yù)定時(shí)間自動(dòng)地測量溫度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的射線照相設(shè)備，其特征在于通過輸入用于測量所述溫度的時(shí)間點(diǎn)來設(shè)置所述預(yù)定時(shí)間。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的射線照相設(shè)備，其特征在于以具有固定值的時(shí)間間隔設(shè)置所述預(yù)定時(shí)間。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的射線照相設(shè)備，其特征在于通過包含時(shí)間點(diǎn)的時(shí)間表信息來設(shè)置所述預(yù)定時(shí)間。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的射線照相設(shè)備，其特征在于通過輸入從當(dāng)前時(shí)間點(diǎn)所經(jīng)過的時(shí)間來設(shè)置所述預(yù)定時(shí)間。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線照相設(shè)備，其特征在于設(shè)置所述溫度測量裝置，以便根據(jù)溫度測量指令來測量溫度。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線照相設(shè)備，其特征在于設(shè)置所述溫度測量裝置，以便在根據(jù)發(fā)射輻射指令執(zhí)行輻射的實(shí)際發(fā)射之前自動(dòng)地測量溫度。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線照相設(shè)備，其特征在于所述輻射檢測裝置是具有沿縱向和橫向設(shè)置在X射線檢測表面上的多個(gè)X射線檢測單元的平板X射線檢測器。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線照相設(shè)備，其特征在于根據(jù)所述輻射檢測裝置的溫度與所述沖激響應(yīng)系數(shù)之間的預(yù)定關(guān)系以及所述溫度測量裝置的測量結(jié)果來確定與溫度相對(duì)應(yīng)的沖激響應(yīng)系數(shù)。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線照相設(shè)備，其特征在于所述輻射檢測裝置是具有沿縱向和橫向設(shè)置在輻射檢測表面上的多個(gè)X射線檢測單元的平板X射線檢測器，所述平板X射線檢測器包括半導(dǎo)體膜，所述半導(dǎo)體膜是用于響應(yīng)入射X射線來產(chǎn)生載流子的X射線感光膜；設(shè)置在所述半導(dǎo)體膜的X射線入射表面上的電壓施加電極；設(shè)置在所述半導(dǎo)體膜的非入射表面的載流子采集電極，充當(dāng)所述X射線檢測單元的一部分；以及使所述載流子采集電極氣相沉積在其上的玻璃板；所述溫度測量裝置包括位于所述玻璃板上的熱敏電阻器；以及用于讀取所述熱敏電阻器的電阻的控制器。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的射線照相設(shè)備，其特征在于將所述熱敏電阻器設(shè)置在所述玻璃板的中央。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的射線照相設(shè)備，其特征在于將多個(gè)熱敏電阻器設(shè)置在所述玻璃板上的多個(gè)位置。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線照相設(shè)備，其特征在于所述輻射檢測裝置是具有沿縱向和橫向設(shè)置在輻射檢測表面上的多個(gè)X射線檢測單元的平板X射線檢測器，所述溫度測量裝置包括分別針對(duì)所述X射線檢測單元而設(shè)置的阻性部件。
15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線照相設(shè)備，其特征在于設(shè)置所述時(shí)間滯后去除裝置，以便根據(jù)以下的方程A-C，執(zhí)行用于從每一個(gè)輻射檢測信號(hào)中去除滯后部分的遞歸計(jì)算Xk＝Y(jié)k-∑n＝1N{αn·[1-exp(Tn)]·exp(Tn)·Snk}...ATn＝-Δt/τn...BSnk＝Xk-1+exp(Tn)·Sn(k-1)...C其中Δt采樣時(shí)間間隔；k表示在采樣時(shí)間序列中時(shí)間的第k個(gè)點(diǎn)的下標(biāo)；Yk在第k個(gè)采樣時(shí)間得到的X射線檢測信號(hào)；Xk具有從信號(hào)Yk去除了滯后部分的已校正X射線檢測信號(hào)；Xk-1在前一個(gè)時(shí)間點(diǎn)得到的信號(hào)Xk；Sn(k-1)在前一個(gè)時(shí)間點(diǎn)的Snk；exp指數(shù)函數(shù)；N形成了沖激響應(yīng)的具有不同時(shí)間常數(shù)的指數(shù)函數(shù)的數(shù)目；n表示形成了沖激響應(yīng)的指數(shù)函數(shù)之一的下標(biāo)；αn指數(shù)函數(shù)n的強(qiáng)度；以及τn指數(shù)函數(shù)n的衰減時(shí)間常數(shù)。
16根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線照相設(shè)備，其特征在于所述設(shè)備是醫(yī)療設(shè)備。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的射線照相設(shè)備，其特征在于所述醫(yī)療設(shè)備是熒光檢查設(shè)備。
18.根據(jù)權(quán)利要求16所述的射線照相設(shè)備，其特征在于所述醫(yī)療設(shè)備是X射線CT設(shè)備。
19.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線照相設(shè)備，其特征在于所述設(shè)備用于工業(yè)用途。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的射線照相設(shè)備，其特征在于所述用于工業(yè)用途的設(shè)備是無損探傷設(shè)備。
21.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線照相設(shè)備，其特征在于還包括外殼，用于容納所述輻射檢測裝置；以及澆注在所述外殼中的樹脂，以對(duì)所述輻射檢測設(shè)備進(jìn)行塑模，將所述輻射檢測設(shè)備裝入所述樹脂并嵌入所述外殼中。
全文摘要
根據(jù)由N個(gè)具有不同衰減時(shí)間常數(shù)的指數(shù)函數(shù)形成的沖激響應(yīng)引起了包含在每個(gè)X射線檢測信號(hào)中的滯后部分的假設(shè)，當(dāng)X射線管發(fā)射X射線時(shí)，射線照相設(shè)備從得自FPD的輻射檢測信號(hào)中去除滯后部分。通過使用與FPD的傳感器溫度變化相對(duì)應(yīng)的沖激響應(yīng)來去除滯后部分，根據(jù)去除了滯后部分的已校正輻射檢測信號(hào)來創(chuàng)建X射線圖像。
文檔編號(hào)H04N5/357GK1572251SQ20041006002
公開日2005年2月2日 申請(qǐng)日期2004年6月21日 優(yōu)先權(quán)日2003年6月20日
發(fā)明者岡村升一, 吉牟田利典 申請(qǐng)人:株式會(huì)社島津制作所