專利名稱：抗抖動裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于攝影設(shè)備(裝置)的抗抖動裝置，特別涉及一種用于可移動單元的位置檢測裝置，所述可移動單元包括成像裝置等，并可以移動以便校正手抖動影響。
背景技術(shù)：
已經(jīng)提出用于攝影裝置的抗抖動裝置。所述抗抖動裝置通過在垂直于光軸的平面上、對應(yīng)于在成像期間手抖動量移動手抖動校正鏡頭或成像裝置來校正手抖動影響。
公開號為2002-229090的未審查的日本專利申請公開了用于攝影裝置的抗抖動裝置。所述抗抖動裝置通過使用永久磁體和線圈實現(xiàn)可移動單元的移動操作，所述可移動單元包括手抖動校正鏡頭，通過使用霍爾單元和永久磁體實現(xiàn)可移動單元的位置檢測操作。
然而，通過改變信號處理電路中的放大比率值執(zhí)行調(diào)整操作，調(diào)整操作根據(jù)磁場變化檢測元件的輸出信號調(diào)整位置檢測操作的輸出值?？梢酝ㄟ^改變信號處理電路中的電阻值改變放大比率值，改變電阻值需要機械調(diào)整，因此所述調(diào)整操作是一個問題。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的是提供一種裝置，能夠通過電子調(diào)整而不是通過機械調(diào)整來執(zhí)行調(diào)整抗抖動裝置的位置檢測操作輸出值的調(diào)整操作。
根據(jù)本發(fā)明，攝影裝置的抗抖動裝置包括可移動單元、固定單元、信號處理單元和控制單元。
可移動單元具有成像裝置和手抖動校正鏡頭之一，并可以在第一和第二方向移動。第一方向垂直于攝影裝置的照相鏡頭的光軸。第二方向垂直于光軸和第一方向。
固定單元在第一和第二兩個方向上可滑動地支撐可移動單元。
控制單元控制可移動單元、固定單元和信號處理單元，并具有第一和第二A/D轉(zhuǎn)換器。
可移動單元和固定單元之一具有磁場變化檢測單元，其具有檢測可移動單元在第一方向上位置(作為第一位置)的水平磁場變化檢測元件和檢測可移動單元在第二方向上位置(作為第二位置)的垂直磁場變化檢測元件。
可移動單元和固定單元中的另一個具有位置檢測磁體，用于檢測第一和第二位置，并對著磁場變化檢測單元。
信號處理單元向第一A/D轉(zhuǎn)換器輸出第一檢測位置信號，并向第二A/D轉(zhuǎn)換器輸出第二檢測位置信號，第一檢測位置信號根據(jù)水平磁場變化檢測元件的輸出信號表示第一位置，第二檢測位置信號根據(jù)垂直磁場變化檢測元件的輸出信號表示第二位置。
控制單元根據(jù)第一A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換操作計算第一位置，用于第一檢測位置信號，并根據(jù)第二A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換操作計算第二位置，用于第二檢測位置信號。
在第一初始調(diào)整操作中計算最佳的水平電流值，其中當(dāng)?shù)谝粰z測位置信號被第一A/D轉(zhuǎn)換器完成A/D轉(zhuǎn)換時，通過改變流過水平磁場變化檢測元件的輸入端的電流值調(diào)整第一檢測分辨率。
當(dāng)檢測可移動單元的位置時，具有最佳的水平電流值的電流流過水平磁場變化檢測元件的輸入端。
在第二初始調(diào)整操作中計算最佳的垂直電流值，其中當(dāng)?shù)诙z測位置信號被第二A/D轉(zhuǎn)換器完成A/D轉(zhuǎn)換時，通過改變流過垂直磁場變化檢測元件的輸入端的電流值調(diào)整第二檢測分辨率。
當(dāng)檢測可移動單元的位置時具有最佳的水平電流值的電流流過垂直磁場變化檢測元件的輸入端。


通過下面結(jié)合附圖的描述將能更好地理解本發(fā)明的目的和優(yōu)點，其中圖1是從攝影裝置的后面看第一實施例和第二實施例的攝影裝置的透視圖；圖2是第一實施例和第二實施例的攝影裝置的正視圖；
圖3是第一實施例的攝影裝置的電路結(jié)構(gòu)圖；圖4是第一實施例中抗抖動單元的結(jié)構(gòu)圖；圖5是沿著圖4中的A-A線剖開的截面圖；圖6是沿著圖4中的B-B線剖開的截面圖；圖7是示出可移動單元的移動范圍的平面圖；圖8是第一實施例中檢測可移動單元在第一方向上的第一位置的電路的部分電路結(jié)構(gòu)圖，具有兩個軸霍爾元件和霍爾元件信號處理電路；圖9是第一實施例中檢測可移動單元在第二方向上的第二位置的電路的部分電路結(jié)構(gòu)圖，具有兩個軸霍爾元件和霍爾元件信號處理電路；圖10示出當(dāng)可移動單元的中心接觸第一水平邊緣點時，以及當(dāng)調(diào)整流過第一和第二水平霍爾元件的輸入端的電流值(第一水平霍爾元件電流值)時，可移動單元在第一方向上的第一位置與第一檢測位置信號的輸出值之間的關(guān)系，其中第一檢測位置信號的輸出值與CPU的A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換范圍的最大值相同；圖11示出當(dāng)可移動單元的中心接觸第二水平邊緣點時，以及當(dāng)調(diào)整流過第一和第二水平霍爾元件的輸入端的電流值(第二水平霍爾元件電流值)時，可移動單元在第一方向上的第一位置與第一檢測位置信號的輸出值之間的關(guān)系，其中第一檢測位置信號的輸出值與CPU的A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換范圍的最小值相同；圖12是示出第一和第二初始調(diào)整操作的前半部分的流程圖；圖13是示出第一和第二初始調(diào)整操作的后半部分的流程圖；圖14是在每個預(yù)定時間間隔作為中斷程序執(zhí)行的抗抖動操作的流程圖；圖15是第二實施例的攝影裝置的電路結(jié)構(gòu)圖；圖16是第二實施例中抗抖動單元的結(jié)構(gòu)圖；圖17是沿著圖16中的C-C線剖開的截面圖；圖18是第二實施例中檢測可移動單元在單軸霍爾元件和霍爾元件信號處理電路的電路結(jié)構(gòu)圖；以及圖19是可移動單元和固定單元的透視圖。
具體實施例方式
下面結(jié)合附圖所示實施例描述本發(fā)明。在這些實施例中，攝影裝置1是數(shù)碼相機。攝影裝置1具有光軸LX。
為了解釋這些實施例中的方向，定義了第一方向x、第二方向y和第三方向z(見圖1)。第一方向x是垂直于光軸LX的水平方向。第二方向y是垂直于光軸LX和第一方向x的垂直方向。第三方向z是平行于光軸LX并垂直于第一方向x和第二方向y的水平方向。
利用附圖1至14和19描述第一實施例。利用附圖1、2、7和10至18描述第二實施例。
圖5是沿著圖4中的A-A線剖開的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖6是沿著圖4中的B-B線剖開的剖面結(jié)構(gòu)圖。
攝影裝置1的成像部分包括Pon按鈕11、Pon開關(guān)11a、測光開關(guān)12a、釋放按鈕13、釋放開關(guān)13a、LCD顯示器17、CPU 21、成像塊22、AE(自動曝光)單元23、AF(自動聚焦)單元24、和抗抖動單元30中的成像單元39a和照相鏡頭67(見圖1、2和3)。
Pon開關(guān)11a是處于ON狀態(tài)還是OFF狀態(tài)由Pon按鈕11的狀態(tài)確定，攝影裝置1的ON/OFF狀態(tài)對應(yīng)于Pon開關(guān)11a的ON/OFF狀態(tài)而變化。
照相鏡頭67通過成像塊22形成被攝像物體的光學(xué)像，所述成像塊22驅(qū)動成像單元39a，以便在LCD顯示器17上顯示所成的像?？梢酝ㄟ^光學(xué)取景器(未示出)觀察被攝物體的像。
當(dāng)操作者把釋放按鈕13按下一半時，測光開關(guān)12a變成ON狀態(tài)，以便完成測光操作、AF傳感操作和聚焦操作。
當(dāng)操作者把釋放按鈕13完全按下時，釋放開關(guān)13a變成ON狀態(tài)，以便完成成像操作，并存儲所成的像。
CPU單元21是控制裝置，控制攝影裝置1每部分與成像有關(guān)的操作，并控制攝影裝置1每部分與抗抖動有關(guān)的操作?？苟秳硬僮骺刂瓶梢苿訂卧?0a的移動并控制可移動單元30a的位置檢測。
成像塊22驅(qū)動成像單元39a。AE單元23執(zhí)行對被攝物體的測光操作，計算測光值，并對應(yīng)測光值計算成像所需要的孔徑值和曝光時間。AF單元24執(zhí)行AF傳感操作，并對應(yīng)于AF傳感操作的結(jié)果執(zhí)行成像所需要的聚焦操作。在聚焦操作中，照相鏡頭67的位置在光軸LX方向上移動。
攝影裝置1的抗抖動部分包括抗抖動按鈕14、抗抖動開關(guān)14a、CPU 21、角速度檢測單元25、驅(qū)動電路29、抗抖動單元30、霍爾元件信號處理單元45、照相鏡頭67、調(diào)整單元71和存儲單元72。
當(dāng)操作者把抗抖動按鈕14完全按下時，抗抖動開關(guān)14a變成ON狀態(tài)，以便在每一個預(yù)定時間間隔當(dāng)角速度檢測單元25和抗抖動單元30被驅(qū)動時完成抗抖動操作，而與其它操作無關(guān)，所述其它操作包括測光操作等。當(dāng)抗抖動開關(guān)14a處于ON狀態(tài)時，換句話說在抗抖動模式下，參數(shù)IS設(shè)定為1(IS＝1)。當(dāng)抗抖動開關(guān)14a未處于ON狀態(tài)時，換句話說在非抗抖動模式下，參數(shù)IS設(shè)定為0(IS＝0)。在第一實施例中，預(yù)定時間間隔為1ms。
對應(yīng)于這些開關(guān)的輸入信號的不同輸出命令由CPU 21控制。
關(guān)于測光開關(guān)12a處于ON狀態(tài)還是OFF狀態(tài)的信息被作為一位數(shù)字信號輸入到CPU 21的端口P12。關(guān)于釋放開關(guān)13a處于ON狀態(tài)還是OFF狀態(tài)的信息被作為一位數(shù)字信號輸入到CPU 21的端口P13。關(guān)于抗抖動開關(guān)14a處于ON狀態(tài)還是OFF狀態(tài)的信息被作為一位數(shù)字信號輸入到CPU 21的端口P14。
成像塊22與CPU 21的端口P3連接，用于輸入和輸出信號。AE單元23與CPU 21的端口P4連接，用于輸入和輸出信號。AF單元24與CPU 21的端口P5連接，用于輸入和輸出信號。
調(diào)整單元71是用于在正常模式和調(diào)整模式之間切換的模式開關(guān)。
在調(diào)整模式下，完成初始調(diào)整操作，所述初始調(diào)整操作調(diào)整第一和第二檢測位置信號px和py的A/D變換操作的檢測分辨率，所述第一和第二檢測位置信號px和py是模擬信號，并在利用霍爾元件單元44b檢測可移動單元30a的位置時獲得。初始調(diào)整操作具有第一和第二初始調(diào)整操作，后面將描述。
當(dāng)模式開關(guān)被設(shè)置成ON狀態(tài)時，攝影裝置1被設(shè)置成調(diào)整模式。當(dāng)模式開關(guān)被設(shè)置成OFF狀態(tài)時，調(diào)整模式被取消并且攝影裝置1被設(shè)置成正常模式。
存儲單元72是非易失性存儲器，諸如EEPROM等，存儲最佳的水平霍爾元件電流值xDi和最佳的垂直霍爾元件電流值和yDi。存儲單元72是電可重寫的，所以即使在存儲單元72被設(shè)置成OFF狀態(tài)時存儲在存儲單元72中的內(nèi)容也不被刪除。
調(diào)整單元71與CPU 21的端口P15連接，用于輸入和輸出信號。存儲單元72與CPU 21的端口P6連接，用于輸入和輸出信號。
下面，詳細(xì)描述角速度單元25、驅(qū)動電路29、抗抖動單元30和霍爾元件信號處理單元45與CPU 21之間的輸入輸出關(guān)系。
角速度單元25具有第一角速度傳感器26、第二角速度傳感器27以及組合合放大器和高通濾波器電路28。第一角速度傳感器26在每個預(yù)定時間間隔(1ms)檢測攝影裝置1的角速度在第一方向x的速度分量。第二角速度傳感器27在每個預(yù)定時間間隔(1ms)檢測攝影裝置1的角速度在第一方向y上的速度分量。
組合放大器和高通濾波器電路28放大關(guān)于第一方向x上角速度(角速度在第一方向x上的速度分量)的信號，降低零位電壓和第一角速度傳感器26的掃描(panning)，并將模擬信號輸出到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 0，作為第一角速度vx。
組合放大器和高通濾波器電路28放大關(guān)于第二方向y上角速度(角速度在第二方向y上的速度分量)的信號，降低零位電壓和第二角速度傳感器27的掃描(panning)，并將模擬信號輸出到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 1，作為第二角速度vy。
CPU 21把輸入到A/D轉(zhuǎn)換器A/D 0的第一角速度vx和輸入到A/D轉(zhuǎn)換器A/D 1的第二角速度vy轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(A/D轉(zhuǎn)換操作)，考慮焦距，根據(jù)轉(zhuǎn)換的數(shù)字信號和轉(zhuǎn)換系數(shù)計算在預(yù)定時間間隔(1ms)產(chǎn)生的手抖動量。因此，CPU 21和角速度檢測單元25具有計算手抖動量的功能。
CPU 21對應(yīng)于第一方向x第二方向y計算出的手抖動量，計算成像單元39a(可移動單元30a)應(yīng)該移動到的位置S。位置S在第一方向x的位置被定義為sx，位置S在第二方向y的位置被定義為sy。通過使用電磁力執(zhí)行包括成像單元39a的可移動單元30a的移動，在后面會描述。用于將可移動單元30a移動到位置S而驅(qū)動驅(qū)動電路29的驅(qū)動力D，具有第一PWM負(fù)載dx作為在第一方向x的驅(qū)動力分量，并具有第二PWM負(fù)載sy作為第二方向y的驅(qū)動力分量。
抗抖動單元30是通過將成像單元39a移動到位置S、通過消除攝影物體圖像在成像裝置39a1的成像表面上的滯后、并通過穩(wěn)定到達成像裝置39a1的成像表面的攝影物體圖像來校正手抖動影響的裝置。
抗抖動對于30具有可移動單元30a和固定單元30b，可移動單元30a包括成像單元39a?；蛘撸苟秳訂卧?0由通過電磁力把可移動單元30a移動到位置S的驅(qū)動部分和檢測可移動單元30a的位置(檢測位置P)的位置檢測部分構(gòu)成。
電磁力的大小和方向由流過線圈的電流的大小和方向及磁體磁場的大小和方向決定。
驅(qū)動電路29執(zhí)行抗抖動單元30的可移動單元30a的驅(qū)動，所述驅(qū)動電路29具有從CPU 21的PWM 0輸入的第一PWM負(fù)載dx和從CPU 21的PWM 1輸入的第二PWM負(fù)載dy。在可移動單元30a通過驅(qū)動電路29被驅(qū)動而移動之前或移動之后，用霍爾電源44a和霍爾元件信號處理單元45檢測可移動單元30a的檢測位置P。
檢測位置P在第一方向x上的第一位置信息，換句話說第一檢測位置信號px被輸入到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2。第一檢測位置信號px是模擬信號，并通過A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2被轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(A/D轉(zhuǎn)換操作)。檢測位置P在第一方向x上的第一位置在A/D轉(zhuǎn)換操作之后被定義為pdx，對應(yīng)于第一檢測位置信號px。
檢測位置P在第二方向y上的第二位置信息，換句話說第二檢測位置信號py被輸入到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3。第二檢測位置信號py是模擬信號，并通過A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3被轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(A/D轉(zhuǎn)換操作)。檢測位置P在第二方向y的第二位置在A/D轉(zhuǎn)換操作后被定義為pdy，對應(yīng)于第二檢測位置信號py。
根據(jù)檢測位置P(pdx，pdy)數(shù)據(jù)和應(yīng)該被移動到的位置S(sx，sy)數(shù)據(jù)執(zhí)行PID(比例積分微分)控制。
可移動單元30a具有第一驅(qū)動線圈31a、第二驅(qū)動線圈32a、成像單元39a、位置檢測磁體41a、可移動電路板49a、移動軸50a、第一水平移動軸承單元51a、第二水平移動軸承單元52a、第三水平移動軸承單元53a和片64a(見圖4、5和6)。
固定單元30b具有第一驅(qū)動磁體33b、第二驅(qū)動磁體34b、第一驅(qū)動磁軛35b、第二驅(qū)動磁軛36b、位置檢測磁軛43b、霍爾元件單元44b、第一垂直移動軸承單元54b、第二垂直移動軸承單元55b、第三垂直移動軸承單元56b、第四垂直移動軸承單元57b和基板65b。
可移動單元30a的移動軸50a從第三方向z看呈管形狀。第一垂直移動軸承單元54b、第二垂直移動軸承單元55b、第三垂直移動軸承單元56b和第四垂直移動軸承單元57b安裝在固定單元30b的基板65b。移動軸50a在垂直方向上(第二方向y)被第一垂直移動軸承單元54b、第二垂直移動軸承單元55b、第三垂直移動軸承單元56b和第四垂直移動軸承單元57b可滑地支撐。
第一垂直移動軸承單元54b和第二垂直移動軸承單元55b具有在第二方向y延伸的細(xì)長孔。
因此，可移動單元30a可以相對于固定單元30b在垂直方向上(第二方向y)移動。
移動軸50a在水平方向上(第一方向x)被可移動單元30a的第一水平移動軸承單元5 1a、第二水平移動軸承單元52a、第三水平移動軸承單元53a可滑地支撐。因此，除了移動軸50a之外，可移動單元30a可以相對于固定單元30b和移動軸50a在水平方向上(第一方向x)移動。
可移動單元30a的移動范圍是指可移動單元30a的中心的移動范圍?？梢苿訂卧?0a在第一方向x上移動范圍內(nèi)的一個邊緣點是第一水平邊緣點rx11，可移動單元30a在第一方向x上移動范圍內(nèi)的另一個邊緣點是第二水平邊緣點rx12，可移動單元30a在第二方向y上移動范圍內(nèi)的一個邊緣點是第一垂直邊緣點ry11，可移動單元30a在第二方向y上移動范圍內(nèi)的另一個邊緣點是第二垂直邊緣點ry12(見圖7)。在圖7中，可移動單元30a和固定單元30b的形式簡化了。
當(dāng)成像裝置39a1的中心區(qū)域位于照相鏡頭67的光軸LX上時，設(shè)定可移動單元30a和固定單元30b之間的位置關(guān)系以使可移動單元30a在第一方向x和第二方向y上均位于它的移動范圍的中心，以便利用成像裝置39a1的整個成像范圍。
形成成像裝置39a1的成像表面的長方形具有兩個對角線。在第一實施例中，成像裝置39a1的中心是兩個對角線的交點。
從照相鏡頭67一邊看，沿著光軸LX方向按照成像單元39a、片64a、和可移動電路板49a的順序安裝上述元件。成像單元39a具有成像裝置39a1(諸如CCD或者CMOS等)、臺架39a2、保持單元39a3和光學(xué)低通濾波器39a4。所述臺架39a2和片64a在光軸LX方向支撐并壓住成像裝置39a1、保持單元39a3和光學(xué)低通濾波器39a4。
第一水平移動軸承單元51a、第二水平移動軸承單元52a和第三水平移動軸承單元53a安裝到臺架39a2上。成像裝置39a1安裝在片64a上，以便當(dāng)成像裝置39a1垂直于照相鏡頭67的光軸LX時執(zhí)行成像裝置39a1的定位。在片64a由金屬材料制成情況下，通過與成像裝置39a1接觸，片64a具有從成像裝置39a1輻射熱量的作用。
第一驅(qū)動線圈31a、第二驅(qū)動線圈32a和位置檢測磁體41a安裝在可移動電路板49a上。
第一驅(qū)動線圈31a形成座和螺旋形線圈圖形。第一驅(qū)動線圈31a的線圈圖形是平行于第一方向x或第二方向y的線，其中包括第一驅(qū)動線圈31a的可移動單元30a通過第一電磁力在第一方向x移動。平行于第二方向y的線用于在第一方向x移動可移動單元30a。平行于第二方向y的線具有第一有效長度L1。
根據(jù)第一驅(qū)動線圈31a的電流方向和第一驅(qū)動磁體33b的磁場方向產(chǎn)生第一電磁力。
第二驅(qū)動線圈32a形成座和螺旋形線圈圖形。第二驅(qū)動線圈32a的線圈圖形是平行于第一方向x或第二方向y的線，其中包括第二驅(qū)動線圈32a的可移動單元30a通過第二電磁力在第二方向y移動。平行于第一方向x的線用于在第二方向y移動可移動單元30a。平行于第一方向x的線具有第二有效長度L2。
根據(jù)第二驅(qū)動線圈32a的電流方向和第二驅(qū)動磁體34b的磁場方向產(chǎn)生第二電磁力。
在第一實施例中，從第三方向z和照相鏡頭67的對面看，第一驅(qū)動線圈31a安裝在可移動電路板49a的右邊區(qū)域(可移動電路板49a在第一方向x上的一個邊緣區(qū)域)。
類似地，從第三方向z和照相鏡頭67的對面看，第二驅(qū)動線圈32a安裝在可移動電路板49a的上部區(qū)域(可移動電路板49a在第二方向y上的一個邊緣區(qū)域)。
而且，從第三方向z和照相鏡頭67的對面看，位置檢測磁體41a安裝在可移動電路板49a的左邊區(qū)域(可移動電路板49a在第一方向x上的另一個邊緣區(qū)域)。
成像裝置39a1在第一方向x上安裝在可移動電路板49a的中間區(qū)域，位于第一驅(qū)動線圈31a和位置檢測磁體41a之間。
第一驅(qū)動線圈31a、第二驅(qū)動線圈32a、成像裝置39a1和位置檢測磁體41a安裝在可移動電路板49a的同一側(cè)上。
第一驅(qū)動線圈31a、第二驅(qū)動線圈32a通過柔性電路板(未示出)與驅(qū)動第一驅(qū)動線圈31a和第二驅(qū)動線圈32a的驅(qū)動電路29連接。第一PWM負(fù)載dx從CPU 21的PWM 0輸入到驅(qū)動電路29，第二PWM負(fù)載dy從CPU 21的PWM 1輸入到驅(qū)動電路29。驅(qū)動電路29向第一驅(qū)動線圈31a提供與第一PWM負(fù)載dx的數(shù)值對應(yīng)的功率，向第二驅(qū)動線圈32a提供與第二PWM負(fù)載dy的數(shù)值對應(yīng)的功率，以便驅(qū)動可移動單元30a。
位置檢測磁體41a用于檢測可移動單元30a在第一方向x上的第一位置和可移動單元30a在第二方向y上的第二位置。
在N極和S極沿第三方向z設(shè)置的情況下，位置檢測磁體41a安裝在可移動電路板49a上。位置檢測磁體41a具有前面，該面對著固定單元30b，而且是周邊平行于第一方向x和第二方向y之一的正方形。
因為位置檢測磁體41a對著固定單元30b的前面是正方形，所以檢測可移動單元30a在第一方向x上的位置不受可移動單元30a在第二方向y上的移動的影響。而且，檢測可移動單元30a在第二方向y上的位置不受可移動單元30a在第一方向x上的移動的影響。
而且，利用同一位置檢測磁體41a可以執(zhí)行通過第一水平霍爾元件hh1和第二水平霍爾元件hh2在第一方向x上的位置檢測操作及通過第一垂直霍爾元件hv1和第二垂直霍爾元件hv2在第二方向y上的位置檢測操作。
第一驅(qū)動磁體33b安裝在固定單元30b的可移動單元一側(cè)，其中在第三方向z上第一驅(qū)動磁體33b對著第一驅(qū)動線圈31a。
第二驅(qū)動磁體34b安裝在固定單元30b的可移動單元一側(cè)，其中在第三方向z上第二驅(qū)動磁體33b對著第二驅(qū)動線圈32a。
霍爾元件單元44b安裝在固定單元30b的可移動單元一側(cè)，其中霍爾元件單元44b對著位置檢測磁體41a。
位置檢測磁軛43b安裝在固定單元30b的后面一側(cè)，是具有霍爾元件單元44b的面的反面。位置檢測磁軛43b由磁性材料制成，并在位置檢測磁體41a和霍爾元件單元44b之間產(chǎn)生磁通量。
在N極和S極沿第一方向x設(shè)置的情況下，第一驅(qū)動磁體33b安裝在第一驅(qū)動磁軛35b上。第一驅(qū)動磁軛35b安裝在固定單元30b的基板65b上，在第三方向z上位于可移動單元一側(cè)。
第一驅(qū)動磁體33b在第二方向y上的長度比第一驅(qū)動線圈31a的第一有效長度L1長。在可移動單元30a在第二方向y上運動期間不改變影響第一驅(qū)動線圈31a的磁場。
在N極和S極沿第二方向y設(shè)置的情況下，第二驅(qū)動磁體34b安裝在第二驅(qū)動磁軛36b上。第二驅(qū)動磁軛36b安裝在固定單元30b的基板65b上，在第三方向z上位于可移動單元30a一側(cè)。
第二驅(qū)動磁體34b在第一方向x上的長度比第二驅(qū)動線圈32a的第二有效長度L2長。在可移動單元30a在第一方向x上運動期間不該影響第二驅(qū)動線圈32a的磁場。
第一驅(qū)動磁軛35b由軟磁材料制成，而且形成從第二方向y看時呈正方形的U形管。第一驅(qū)動磁體33b和第一驅(qū)動線圈31a位于第一驅(qū)動磁軛35b的管內(nèi)。
第一驅(qū)動磁軛35b與第一驅(qū)動磁體33b接觸的一側(cè)防止了第一驅(qū)動磁體33b的磁場泄露到周圍。
第一驅(qū)動磁軛35b的另一側(cè)(對著第一驅(qū)動磁體33b、第一驅(qū)動線圈31a和可移動電路板49a)提高第一驅(qū)動磁體33b和第一驅(qū)動線圈31a之間的磁通量密度。
第二驅(qū)動磁軛36b由軟磁材料制成，而且形成從第一方向x看時呈正方形的U形管。第二驅(qū)動磁體34b和第二驅(qū)動線圈32a位于第二驅(qū)動磁軛36b的管內(nèi)。
第二驅(qū)動磁軛36b與第二驅(qū)動磁體34b接觸的一側(cè)防止了第二驅(qū)動磁體34b的磁場泄露到周圍。
第二驅(qū)動磁軛36b的另一側(cè)(對著第二驅(qū)動磁體34b、第二驅(qū)動線圈32a和可移動電路板49a)提高了第二驅(qū)動磁體34b和第二驅(qū)動線圈32a之間的磁通量密度。
霍爾元件單元44b是具四個霍爾元件的兩軸霍爾元件，所述霍爾元件是利霍爾效應(yīng)的電磁轉(zhuǎn)換元件(磁場變化檢測元件)(參見圖19)?；魻栐卧?4b檢測第一檢測位置信號px和第二檢測位置信號py，第一檢測位置信號px用于表示可移動單元30a的當(dāng)前位置P在第一方向x上的第一位置，第二檢測位置信號py用于表示可移動單元30a的當(dāng)前位置P在第二方向y上的第二位置。
四個霍爾元件的兩個是用于檢測第一方向x上的第一位置的第一水平霍爾元件hh1和第二水平霍爾元件hh2，所以其它的霍爾元件是用于檢測第二方向y上的第二位置的第一垂直霍爾元件hv1和第二垂直霍爾元件hv2。
第一水平霍爾元件hh1的輸入端和第二水平霍爾元件hh2的輸入端串聯(lián)，以便檢測可移動單元30a在第一方向x上的第一位置。在第三方向z上第一水平霍爾元件hh1和第二水平霍爾元件hh2對著可移動單元30a的位置檢測磁體41a的條件下，第一水平霍爾元件hh1和第二水平霍爾元件hh2安裝在固定單元30b的基板65b上。
當(dāng)成像裝置39a1的中心通過光軸LX時(見圖19)，希望第一水平霍爾元件hh1位于霍爾元件單元44b上的一個位置，該位置對著位置檢測磁體41a在第二方向y上正方形前面的一側(cè)的中間，第二水平霍爾元件hh2位于霍爾元件單元44b上的一個位置，該位置對著位置檢測磁體41a在第二方向y上正方形前面的另一側(cè)的中間(從第三方向z看所述正方形前面對著霍爾元件單元44b)，以便利用位置檢測磁體41a的整個正方形前面執(zhí)行位置檢測操作。
第一垂直霍爾元件hv1的輸入端和第二垂直霍爾元件hv2的輸入端串聯(lián)，以便檢測可移動單元30a在第二方向y上的第二位置。在第三方向z上第一垂直霍爾元件hv1和第二垂直霍爾元件hv2對著可移動單元30a的位置檢測磁體41a的情況下，第一垂直霍爾元件hv1和第二垂直霍爾元件hv2安裝在固定單元30b的基板65b上。
當(dāng)成像裝置39a1的中心通過光軸LX時，希望第一垂直霍爾元件hv1位于霍爾元件單元44b上的一個位置，該位置對著位置檢測磁體41 a在第一方向x上正方形前面的一側(cè)的中間，第二垂直霍爾元件hv2位于霍爾元件單元44b上的一個位置，該位置對著位置檢測磁體41a在第一方向x上正方形前面的另一側(cè)的中間(從第三方向z看所述正方形前面對著霍爾元件單元44b)，以便利用位置檢測磁體41a的整個正方形前面完成位置檢測操作。
基板65b是板狀元件，成為安裝霍爾元件單元44b等的底座，并設(shè)置成平行于成像裝置39a1的成像表面。
在第一實施例中，基板65b設(shè)置成在第三方向z上比可移動電路板49a更靠近照相鏡頭67的一側(cè)。然而，可移動電路板49a可以設(shè)置在比基板65b更靠近照相鏡頭67的一側(cè)。在這種情況下，第一驅(qū)動線圈31a和第二驅(qū)動線圈32a以及位置檢測磁體41a設(shè)置在移動電路板49a的與照相鏡頭67相反的一側(cè)，以便第一驅(qū)動磁體33b和第二驅(qū)動磁體34b以及霍爾元件單元44b與照相鏡頭67設(shè)置在移動電路板49a的同一側(cè)。
霍爾元件信號處理單元45根據(jù)第一水平霍爾元件hh1的輸出信號，檢測第一水平霍爾元件hh1的輸出端之間的第一水平電位差x1。
霍爾元件信號處理單元45根據(jù)第二水平霍爾元件hh2的輸出信號，檢測第二水平霍爾元件hh2的輸出端之間的第二水平電位差x2。
根據(jù)第一水平電位差x1和第二水平電位差x2，霍爾元件信號處理單元45把第一檢測位置信號px輸出到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2，所述信號px表示可移動單元30a在第一方向x上的第一位置。
霍爾元件信號處理單元45根據(jù)第一垂直霍爾元件hv1的輸出信號，檢測第一垂直霍爾元件hv1的輸出端之間的第一垂直電位差y1。
霍爾元件信號處理單元45根據(jù)第二垂直霍爾元件hv2的輸出信號，檢測第二垂直霍爾元件hv2的輸出端之間的第二垂直電位差y2。
根據(jù)第一垂直電位差y1和第二垂直電位差y2，霍爾元件信號處理單元45把第二檢測位置信號py輸出到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3，所述信號py表示可移動單元30a在第二方向y上的第二位置。
通過第一初始調(diào)整操作確定具有最佳的水平霍爾元件電流值xDi的電流，當(dāng)檢測可移動單元30a在第一方向x上的第一位置時，所述電流流過第一水平霍爾元件hh1和第二水平霍爾元件hh2的輸入端。
通過第二初始調(diào)整操作確定具有最佳的垂直霍爾元件電流值yDi的電流，當(dāng)檢測可移動單元30a在第二方向y上的第二位置時，所述電流流過第一垂直霍爾元件hv1和第二水平霍爾元件hv2的輸入端。
在第一初始調(diào)整操作中，調(diào)整和改善用于對第一檢測位置信號px進行A/D轉(zhuǎn)換的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2的第一檢測分辨率。或者，在可移動單元30a的移動范圍內(nèi)，在CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)，使第一檢測位置信號px的最小值和最大值之間的寬度最大。
在第二初始調(diào)整操作中，調(diào)整和改善用于對第二檢測位置信號py進行A/D轉(zhuǎn)換的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3的第二檢測分辨率?；蛘撸诳梢苿訂卧?0a的移動范圍內(nèi)，在CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)，使第二檢測位置信號py的最小值和最大值之間的寬度最大。
具體地，在第一初始調(diào)整操作中，計算第一水平霍爾元件hh1的電流值xDi1和第二水平霍爾元件hh2的電流值xDi2，以便確定最佳的水平霍爾元件電流值xDi并存儲在存儲單元72中，該所述最佳的水平霍爾元件電流值xDi是第一水平霍爾元件hh1的電流值xDi1和第二水平霍爾元件hh2的電流值xDi2中較小的值。
第一水平霍爾元件電流值xDi1是當(dāng)?shù)谝粰z測位置信號px的輸出值變成CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值時，以及當(dāng)可移動單元30a的中心接觸第一水平邊緣點rx11時，流過第一水平霍爾元件hh1(或第二水平霍爾元件hh2)的輸入端的電流值。
第二水平霍爾元件電流值xDi2是當(dāng)?shù)谝粰z測位置信號px的輸出值變成CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值時，以及當(dāng)可移動單元30a的中心接觸第二水平邊緣點rx12時，流過第一水平霍爾元件hh1(或第二水平霍爾元件hh2)的輸入端的電流值。
具體地，在第二初始調(diào)整操作中，計算第一垂直霍爾元件hv1的電流值yDi1和第二垂直霍爾元件hv2的電流值yDi2，以便確定最佳的垂直霍爾元件電流值yDi并存儲在存儲單元72中，該所述最佳的垂直霍爾元件電流值yDi是第一垂直霍爾元件hv1的電流值yDi1和第二水平霍爾元件hv2的電流值yDi2中較小的值。
第一垂直霍爾元件電流值yDi1是當(dāng)?shù)诙z測位置信號py的輸出值變成CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值時，以及當(dāng)可移動單元30a的中心接觸第一垂直邊緣點ry11時，流過第一垂直霍爾元件hv1(或第二垂直霍爾元件hv2)的輸入端的電流值。
第二垂直霍爾元件電流值yDi2是當(dāng)?shù)诙z測位置信號py的輸出值變成CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值時，和可移動單元30a的中心接觸第二垂直邊緣點ry12時，流過第一垂直霍爾元件hv1(或第二垂直霍爾元件hv2)的輸入端的電流值。
對應(yīng)于最佳的水平霍爾元件電流值xDi的第一電壓XVf從CPU 21的D/A轉(zhuǎn)換器D/A 0被施加在霍爾元件信號處理單元45的電路456上。
對應(yīng)于最佳的垂直霍爾元件電流值yDi的第二電壓YVf從CPU 21的D/A轉(zhuǎn)換器D/A 1被施加在霍爾元件信號處理單元45的電路466上。
利用圖8說明與霍爾元件信號處理單元45中第一水平霍爾元件hh1和第二水平霍爾元件hh2的輸入/輸出信號有關(guān)的電路結(jié)構(gòu)。圖8中省略了與第一垂直霍爾元件hv1和第二水平霍爾元件hv2有關(guān)的電路結(jié)構(gòu)，以便簡化說明。
利用圖9說明與霍爾元件信號處理單元45中第一垂直霍爾元件hv1和第二垂直霍爾元件hv2的輸入/輸出信號有關(guān)的電路結(jié)構(gòu)。圖9中省略了與第一水平霍爾元件hh1和第二水平霍爾元件hh2有關(guān)的電路結(jié)構(gòu)，以便簡化說明。
霍爾元件信號處理單元45具有電路451、電路452、電路453、電路454和電路455，用于控制第一水平霍爾元件hh1和第二水平霍爾元件hh2的輸出；并具有電路456，用于控制第一水平霍爾元件hh1和第二水平霍爾元件hh2的輸入。
霍爾元件信號處理單元45具有電路461、電路462、電路463、電路464和電路465，用于控制第一垂直霍爾元件hv1和第二垂直霍爾元件hv2的輸出；并具有電路466，用于控制第一垂直霍爾元件hv1和第二垂直霍爾元件hv2的輸入。
第一水平霍爾元件hh1的兩個輸出端連接到電路451，以便電路451與電路453連接。
第二水平霍爾元件hh2的兩個輸出端連接到電路452，以便電路452與電路454連接。
電路453和454與電路455連接。
電路451是差分放大器電路，該電路放大第一水平霍爾元件hh1的輸出端之間的信號差，電路452是差分放大器電路，該電路放大第二水平霍爾元件hh2的輸出端之間的信號差。
電路453是減法電路，該電路根據(jù)電路451的放大的信號差與參考電壓Vref之間的差值計算第一水平電位差x1。
電路454是減法電路，該電路根據(jù)電路452的放大的信號差與參考電壓Vref之間的差值計算第二水平電位差x2。
電路455是減法放大器電路，該電路通過第一水平電位差x1和第二水平電位差x2之間的差值乘以第一放大率AA1計算第一檢測位置信號px。
電路451具有電阻R1、電阻R2、電阻R3、運算放大器A1和運算放大器A2。運算放大器A1具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。運算放大器A2具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
第一水平霍爾元件hh1的一個輸出端與運算放大器A1非倒相輸入端連接，以便第一水平霍爾元件hh1的另一端與運算放大器A2非倒相輸入端連接。
運算放大器A1的倒相輸入端與電阻R1和R2連接，運算放大器A2的倒相輸入端與電阻R1和R3連接。
運算放大器A1的輸出端與電路453中的電阻R2和電阻R7連接。運算放大器A2的輸出端與電路453中的電阻R3和電阻R9連接。
電路452具有電阻R4、電阻R5、電阻R6、運算放大器A3和運算放大器A4。運算放大器A3具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。運算放大器A4具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
第二水平霍爾元件hh2的一個輸出端與運算放大器A3非倒相輸入端連接，以便第二水平霍爾元件hh2的另一端與運算放大器A4非倒相輸入端連接。
運算放大器A3的倒相輸入端與電阻R4和R5連接，運算放大器A4的倒相輸入端與電阻R4和R6連接。
運算放大器A3的輸出端與電路454中的電阻R5和電阻R11連接。運算放大器A4的輸出端與電路454中的電阻R6和電阻R13連接。
電路453具有電阻R7、電阻R8、電阻R9、電阻R10和運算放大器A5。運算放大器A5具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
運算放大器A5的倒相輸入端與電阻R7和R8連接。運算放大器A5的非倒相輸入端與電阻R9和R10連接。運算放大器A5的輸出端與電路455中的電阻R8和電阻R15連接。第一水平電位差x1從運算放大器A5的輸出端輸出。電阻R10的一端與電源連接，該電源的電壓為參考電壓Vref。
電路454具有電阻R11、電阻R12、電阻R13、電阻R14和運算放大器A6。運算放大器A6具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
運算放大器A6的倒相輸入端與電阻R11和R12連接。運算放大器A6的非倒相輸入端與電阻R13和R14連接。運算放大器A6的輸出端與電路455中的電阻R12和電阻R17連接。第二水平電位差x2從運算放大器A6的輸出端輸出。電阻R14的一端與電源連接，該電源的電壓為參考電壓Vref。
電路455具有電阻R15、電阻R16、電阻R17、電阻R18和運算放大器A7。運算放大器A7具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
運算放大器A7的倒相輸入端與電阻R15和R16連接。運算放大器A7的非倒相輸入端與電阻R17和R18連接。運算放大器A7的輸出端與電阻R16連接。通過第一水平電位差x1和第二水平電位差x2之間的差值乘以第一放大率AA1獲得的第一檢測位置信號px從運算放大器A7的輸出端被輸出。電阻R18的一端與電源連接，該電源的電壓為參考電壓Vref。
電阻R1和R4的值相同。電阻R2、R3、R5和R6的值相同。電阻R7～R14的值相同。電阻R15和R17的值相同。電阻R16和R18的值相同。
第一放大率AA1是根據(jù)電阻R15～R18的值(電阻R15的值與電阻R16的值之間的比值)。
運算放大器A1～A4是相同類型的放大器。運算放大器A5和A6是相同類型的放大器。
電路456具有電阻R19和運算放大器A8。運算放大器A8具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
運算放大器A8的倒相輸入端與電阻R19和第二水平霍爾元件hh2的一個輸入端連接。運算放大器A8的非倒相輸入端的電勢設(shè)定為與數(shù)值為最佳的水平霍爾元件電流值xDi對應(yīng)的第一電壓XVf，所述最佳的水平霍爾元件電流值xDi流過第一水平霍爾元件hh1和第二水平霍爾元件hh2的輸入端。第一電壓XVf的數(shù)值是通過把最佳的水平霍爾元件電流值xDi乘以電阻R19的值獲得的。
運算放大器A8的輸出端與第一水平霍爾元件hh1的一個輸入端連接。第一水平霍爾元件hh1的輸入端和第二水平霍爾元件hh2的輸入端串聯(lián)。電阻R19的一端接地。
第一垂直霍爾元件hv1的兩個輸出端與電路461連接，以便電路461與電路463連接。
第二垂直霍爾元件hv2的兩個輸出端與電路462連接，以便電路462與電路464連接。
電路463和464與電路465連接。
電路461是差分放大器電路，該電路放大第一垂直霍爾元件hv1的輸出端之間的信號差，電路462是差分放大器電路，該電路放大第二垂直霍爾元件hv2的輸出端之間的信號差。
電路463是減法電路，該電路根據(jù)電路461的放大的信號差與參考電壓Vref之間的差值計算第一垂直電位差y1。
電路464是減法電路，該電路根據(jù)電路462的放大的信號差與參考電壓Vref之間的差值計算第二垂直電位差y2。
電路465是減法放大器電路，該電路通過把第一垂直電位差y1和第二垂直電位差y2之間的差值乘以第二放大率AA2計算第二檢測位置信號py。
電路461具有電阻R21、電阻R22、電阻R23、運算放大器A21和運算放大器A22。運算放大器A2 1具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。運算放大器A22具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
第一垂直霍爾元件hv1的一個輸出端與運算放大器A21的非倒相輸入端連接，以便第一垂直霍爾元件hv1的另一端與運算放大器A22的非倒相輸入端連接。
運算放大器A21的倒相輸入端與電阻R21和R22連接，以便運算放大器A22的倒相輸入端與電阻R21和R23連接。
運算放大器A21的輸出端與電路463中的電阻R22和電阻R27連接。運算放大器A22的輸出端與電路463中的電阻R23和電阻R29連接。
電路462具有電阻R24、電阻R25、電阻R26、運算放大器A23和運算放大器A24。運算放大器A23具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。運算放大器A24具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
第二垂直霍爾元件hv2的一個輸出端與運算放大器A23的非倒相輸入端連接，以便第二垂直霍爾元件hv2的另一端與運算放大器A24的非倒相輸入端連接。
運算放大器A23的倒相輸入端與電阻R24和R25連接，以便運算放大器A24的倒相輸入端與電阻R24和R26連接。
運算放大器A23的輸出端與電路464中的電阻R25和電阻R31連接。運算放大器A24的輸出端與電路464中的電阻R26和電阻R33連接。
電路463具有電阻R27、電阻R28、電阻R29、電阻R30和運算放大器A25。運算放大器A25具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
運算放大器A25的倒相輸入端與電阻R27和R28連接。運算放大器A25的非倒相輸入端與電阻R29和R30連接。運算放大器A25的輸出端與電路465中的電阻R28和電阻R35連接。第一垂直電位差y1從運算放大器A25的輸出端輸出。電阻R30的一端與電源連接，該電源的電壓為參考電壓Vref。
電路464具有電阻R31、電阻R32、電阻R33、電阻R34和運算放大器A26。運算放大器A26具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
運算放大器A26的倒相輸入端與電阻R31和R32連接。運算放大器A26的非倒相輸入端與電阻R33和R34連接。運算放大器A26的輸出端與電路465中的電阻R32和電阻R37連接。第二垂直電位差y2從運算放大器A26的輸出端輸出。電阻R34的一端與電源連接，該電源的電壓為參考電壓Vref。
電路465具有電阻R35、電阻R36、電阻R37、電阻R38和運算放大器A27。運算放大器A27具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
運算放大器A27的倒相輸入端與電阻R35和R36連接。運算放大器A27的非倒相輸入端與電阻R37和R38連接。運算放大器A27的輸出端與電阻R36連接。通過第一垂直電位差y1和第二垂直電位差y2之間的差值乘以第二放大率AA2獲得的第二檢測位置信號py從運算放大器A27的輸出端被輸出。電阻R38的一端與電源連接，該電源的電壓為參考電壓Vref。
電阻R21和R24的值相同。電阻R22、R23、R25和R26的值相同。電阻R27～R34的值相同。電阻R35和R37的值相同。電阻R36和R38的值相同。
第二放大率AA2是根據(jù)電阻R35～R38的值(電阻R35的值與電阻R36的值之間的比值)。
運算放大器A21～A24是相同類型的放大器。運算放大器A25和A26是相同類型的放大器。
電路466具有電阻R39和運算放大器A28。運算放大器A28具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
運算放大器A28的倒相輸入端與電阻R39和第二垂直霍爾元件hv2的一個輸入端連接。運算放大器A28的非倒相輸入端的電勢壓設(shè)定為與數(shù)值為最佳的垂直霍爾元件電流值yDi對應(yīng)的第二電壓YVf，所述最佳的垂直霍爾元件電流值yDi流過第一垂直霍爾元件hv1和第二垂直霍爾元件hv2的輸入端。第二電壓YVf的數(shù)值是通過最佳的垂直霍爾元件電流值yDi乘以電阻R39的值獲得的。
運算放大器A28的輸出端與第一垂直霍爾元件hv1的一個輸入端連接。第一垂直霍爾元件hv1的輸入端和第二垂直霍爾元件hv2的輸入端串聯(lián)。電阻R39的一端接地。
所述初始調(diào)整操作調(diào)整第一和第二檢測位置信號px和py的A/D變換操作的檢測分辨率，也可以通過改變第一和第二放大率AA1和AA2的值來執(zhí)行。第一放大率的值A(chǔ)A1可以對應(yīng)于改變電路455中的電阻R16和R18而變化。第二放大率的值A(chǔ)A2可以對應(yīng)于改變電路465中的電阻R36和R38而變化。改變電阻值需要機械調(diào)節(jié)，因此，所述初始調(diào)整操作存在問題。
在第一實施例的初始調(diào)整操作中，第一和第二放大率AA1和AA2的值是固定的(不變化)，執(zhí)行改變流過第一和第二水平霍爾元件hh1和hh2輸入端電流值的第一初始調(diào)整操作和改變流過第一和第二垂直霍爾元件hv1和hv2輸入端電流值的第二初始調(diào)整操作。
具體地，利用附圖10和11說明第一初始調(diào)整操作。
圖10示出當(dāng)可移動單元30a的中心接觸第一水平邊緣點rx11時，以及當(dāng)流過第一和第二水平霍爾元件hh1和hh2輸入端的電流值(第一水平霍爾元件電流值xDi1)被調(diào)整時，可移動單元30a的在第一方向x的第一位置與第一檢測位置信號px的輸出值之間的關(guān)系，其中第一檢測位置信號px的輸出值與CPU 21中的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2的A/D轉(zhuǎn)換范圍中的最大值相同。
圖10中的第一線pfx(1)由粗實線和虛線構(gòu)成。第一線粗實線pfx(1)的虛線部分示出第一檢測位置信號px的輸出值小于CPU 21中的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2的A/D轉(zhuǎn)換范圍中的最小值的條件，所以當(dāng)可移動單元30a的中心接觸第二水平邊緣點rx12時，不能夠執(zhí)行精確位置檢測操作。
圖11示出當(dāng)可移動單元30a的中心接觸第二水平邊緣點rx12時，以及當(dāng)流過第一和第二水平霍爾元件hh1和hh2輸入端的電流值(第二水平霍爾元件電流值xDi2)被調(diào)整時，可移動單元30a的在第一方向x的第一位置與第一檢測位置信號px的輸出值之間的關(guān)系，其中第一檢測位置信號px的輸出值與CPU 21中的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2的A/D轉(zhuǎn)換范圍中的最小值相同。
圖11中的第二線pfx(2)由粗實線構(gòu)成。第二線粗實線pfx(2)示出第一檢測位置信號px的輸出值不超過CPU 21中的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2的A/D轉(zhuǎn)換范圍中的最大值的條件，因此當(dāng)可移動單元30a的中心接觸第一水平邊緣點rx11時，能夠執(zhí)行精確位置檢測操作。
因此，在可移動單元30a在第一方向x上的移動范圍內(nèi)可以執(zhí)行精確位置檢測操作。
第一檢測位置信號px是第一和第二水平霍爾元件hh1和hh2之間的第一磁通量密度B1及位置檢測磁體41a與流過第一和第二水平霍爾元件hh1和hh2的輸入端電流值的函數(shù)。
第二檢測位置信號py是第一和第二垂直霍爾元件hv1和hv2之間的第二磁通量密度B2及位置檢測磁體41a與流過第一和第二垂直霍爾元件hv1和hv2的輸入端電流值的函數(shù)。
判斷第一水平霍爾元件電流值xDi1是否小于第二水平霍爾元件電流值xDi2，以便將第一和第二水平霍爾元件電流值xDi1和xDi2中的較小值確定為最佳的水平霍爾元件電流值xDi。
在圖10和11所示的例子中，第二水平霍爾元件電流值xDi2小于第一水平霍爾元件電流值xDi1，所以第二水平霍爾元件電流值xDi2被確定為最佳的水平霍爾元件電流值xDi。
類似地，執(zhí)行第二初始調(diào)整操作，確定最佳的垂直霍爾元件電流值yDi(沒有描述)。
最佳的水平霍爾元件電流值xDi和最佳的垂直霍爾元件電流值yDi存儲在存儲單元72中。
當(dāng)可移動單元30a位于第一方向x和第二方向y的它的移動范圍中心時，當(dāng)?shù)谝粰z測位置信號px的輸出值與參考電壓Vref一致時，第一和第二水平霍爾元件電流值xDi1和xDi2相同?；蛘撸?dāng)流過第一和第二水平霍爾元件hh1和hh2的輸入端電流值設(shè)定為滿足條件第一檢測位置信號px的最大輸出值與CPU 21中的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值一致時，第一檢測位置信號px的最小輸出值與CPU 21中的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值一致。
然而，為了使第一檢測位置信號px的輸出值與參考電壓Vref嚴(yán)格一致，當(dāng)可移動單元30a位于它的移動范圍中心時，考慮抗抖動單元30的機械間隙與霍爾元件信號處理單元45的電阻值誤差，需要附加調(diào)整。第二檢測位置信號py與第一和第二垂直霍爾元件電流值yDi1和yDi2之間的關(guān)系與如上所述的第一檢測位置信號px與第一和第二水平霍爾元件電流值xDi1和xDi2之間的關(guān)系類似。
在第一實施例中，可以計算最佳的水平霍爾元件電流值xDi，而不需要第一檢測位置信號px的輸出值與參考電壓Vref嚴(yán)格一致。類似地，可以計算最佳的垂直霍爾元件電流值yDi，而不需要第二檢測位置信號py的輸出值與參考電壓Vref嚴(yán)格一致。
而且，第一初始調(diào)整操作包括調(diào)整流過第一和第二水平霍爾元件hh1和hh2的輸入端電流值的電調(diào)整(非機械調(diào)整)。類似地，第二初始調(diào)整操作包括調(diào)整流過第一和第二垂直霍爾元件hv1和hv2的輸入端電流值的電調(diào)整(非機械調(diào)整)。因此，與包括調(diào)整電阻值等機械調(diào)整的初始調(diào)整操作比較提高了實用性。
而且，因為最佳的水平和最佳的垂直霍爾元件電流值xDi與yDi被存儲在存儲單元72中，所以即使攝影裝置1(存儲單元72)設(shè)置成OFF狀態(tài)(切斷電源)這些數(shù)值也不會被刪除。因此，CPU 21讀取最佳的水平和最佳的垂直霍爾元件電流值xDi與yDi只進行一次第一和第二初始調(diào)整操作。
下面，利用圖12和13中的流程圖解釋第一和第二初始調(diào)整操作的流程。
在步驟S101，調(diào)整單元71設(shè)置成ON狀態(tài)，以便攝影裝置1設(shè)置成調(diào)整模式，開始第一和第二初始調(diào)整操作。
在步驟S102，第一PWM負(fù)載dx從CPU 21的PWM 0輸入到驅(qū)動電路29，以便將可移動單元30a移動到可移動單元30a的中心與第一水平邊緣點rx11接觸的位置。在步驟S103，此時第一檢測位置信號px被檢測并輸入到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2。
在步驟S104，判斷第一檢測位置信號px的輸出值是否與CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值一致。
當(dāng)判斷出第一檢測位置信號px的輸出值與CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D2的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值不一致時，在步驟S105，改變從CPU21的D/A轉(zhuǎn)換器D/A0輸出到霍爾元件信號處理單元45的輸出值，流程返回到步驟S103。
當(dāng)判斷出第一檢測位置信號px的輸出值與CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D2的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值一致時，在步驟S106中，把此時流過第一和第二水平霍爾元件hh1和hh2的輸入端的電流值(第一水平霍爾元件電流值xDi1)暫時CPU 21等中。
在步驟S107，第一PWM負(fù)載dx從CPU 21的PWM 0輸入到驅(qū)動電路29，以便將可移動單元30a移動到可移動單元30a的中心與第二水平邊緣點rx12接觸的位置。在步驟S108，此時檢測第一檢測位置信號px并將其輸入到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2。
在步驟S109，判斷第一檢測位置信號px的輸出值是否與CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值一致。
當(dāng)判斷出第一檢測位置信號px的輸出值與CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D2的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值不一致時，在步驟S110，改變從CPU21的D/A轉(zhuǎn)換器D/A 0輸出到霍爾元件信號處理單元45的輸出值，流程返回到步驟S108。
當(dāng)判斷出第一檢測位置信號px的輸出值與CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D2的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值一致時，在步驟S111中，把此時流過第一和第二水平霍爾元件hh1和hh2的輸入端的電流值(第二水平霍爾元件電流值xDi2)暫時存儲在CPU 21等中。
在步驟S112，第二PWM負(fù)載dy從CPU 21的PWM 1輸入到驅(qū)動電路29，以便將可移動單元30a移動到可移動單元30a的中心與第一垂直邊緣點ry11接觸的位置。在步驟S113，此時檢測第二檢測位置信號py并將其輸入到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3。
在步驟S114，判斷第二檢測位置信號py的輸出值是否與CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值一致。
當(dāng)判斷出第二檢測位置信號py的輸出值與CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值不一致時，在步驟S115，改變從CPU21的D/A轉(zhuǎn)換器D/A 1輸出到霍爾元件信號處理單元45的輸出值，流程返回到步驟S113。
當(dāng)判斷出第二檢測位置信號py的輸出值與CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值一致時，在步驟S116中，把此時流過第一和第二垂直霍爾元件hv1和hv2的輸入端的電流值(第一垂直霍爾元件電流值yDi1)暫時存儲在CPU 21等中。
在步驟S117，第二PWM負(fù)載dy從CPU 21的PWM 1輸入到驅(qū)動電路29，以便將可移動單元30a移動到可移動單元30a的中心與第二垂直邊緣點ry12接觸的位置。在步驟S118，此時檢測第二檢測位置信號py并將其輸入到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3。
在步驟S119，判斷第二檢測位置信號py的輸出值是否與CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D3的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值一致。
當(dāng)判斷出第二檢測位置信號py的輸出值與CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值不一致時，在步驟S120，改變從CPU21的D/A轉(zhuǎn)換器D/A 1輸出到霍爾元件信號處理單元45的輸出值，流程返回到步驟S118。
當(dāng)判斷出第二檢測位置信號py的輸出值與CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值一致時，在步驟S121中，把此時流過第一和第二垂直霍爾元件hv1和hv2的輸入端的電流值(第二垂直霍爾元件電流值yDi2)暫時存儲在CPU 21等中。
在步驟122，判斷第一水平霍爾元件電流值xDi1是否大于第二水平霍爾元件電流值xDi2。
當(dāng)判斷出第一水平霍爾元件電流值xDi1不大于第二水平霍爾元件電流值xDi2時，在步驟S123，把最佳的水平霍爾元件電流值xDi設(shè)定為第一水平霍爾元件電流值xDi1。
當(dāng)判斷出第一水平霍爾元件電流值xDi1大于第二水平霍爾元件電流值xDi2時，在步驟S124，把最佳的水平霍爾元件電流值xDi設(shè)定為第二水平霍爾元件電流值xDi2。
在步驟S125，把最佳的水平霍爾元件電流值xDi存儲在存儲單元72中，完成第一初始調(diào)整操作。
在步驟126，判斷第一垂直霍爾元件電流值yDi1是否大于第二垂直霍爾元件電流值yDi2。
當(dāng)判斷出第一垂直霍爾元件電流值yDi1不大于第二垂直霍爾元件電流值yDi2時，在步驟S127，把最佳的垂直霍爾元件電流值yDi設(shè)定為第一垂直霍爾元件電流值yDi1。
當(dāng)判斷出第一垂直霍爾元件電流值yDi1大于第二垂直霍爾元件電流值yDi2時，在步驟S128，把最佳的垂直霍爾元件電流值yDi設(shè)定為第二垂直霍爾元件電流值yDi2。
在步驟S129，把最佳的垂直霍爾元件電流值yDi存儲在存儲單元72中，完成第二初始調(diào)整操作。
下面，利用圖14所示流程圖說明抗抖動操作的程序，所述抗抖動操作在每個預(yù)定時間間隔(1ms)作為中斷程序獨立于其它操作而執(zhí)行。
在步驟S11，開始抗抖動操作的中斷程序。在步驟S12，從角速度檢測單元25輸出的第一角速度vx被輸入到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D0，并被轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。從角速度檢測單元25輸出的第二角速度vy被輸入到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 1，并被轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。
在步驟S13，通過霍爾元件單元44b檢測可移動單元30a的位置，以便將通過霍爾元件信號處理單元45計算的第一檢測位置信號px輸入到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2并轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，將通過霍爾元件信號處理單元45計算的第二檢測位置信號py輸入到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3并轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。因此，確定可移動單元30a的當(dāng)前位置P(pdx，pdy)。
此時，把第一電壓XVF從CPU 21的D/A轉(zhuǎn)換器D/A 0施加在霍爾元件信號處理單元45的電路456，其中最佳的水平霍爾元件電流值xDi流過霍爾元件單元44b的第一和第二水平霍爾元件hh1和hh2的輸入端，把第二電壓YVF從CPU 21的D/A轉(zhuǎn)換器D/A 1施加在霍爾元件信號處理單元45的電路466，其中最佳的垂直霍爾元件電流值yDi流過霍爾元件單元44b的第一和第二垂直霍爾元件hv1和hv2的輸入端。
在步驟S14，判斷IS的數(shù)值是否時0。當(dāng)判斷IS的數(shù)值為0時(IS＝0)，換句話說是處于非抗抖動模式，在步驟S15把可移動單元30a(成像單元39a)應(yīng)該被移到的位置S(sx，sy)設(shè)置在它的移動范圍中心。當(dāng)判斷IS的數(shù)值不為0時(IS＝1)，換句話說是處于抗抖動模式，在步驟S16根據(jù)第一和第二角速度vx和vy計算可移動單元30a(成像單元39a)應(yīng)該被移到的位置S(sx，sy)。
在步驟S17，根據(jù)在步驟S15或步驟S16確定的位置S(sx，sy)和當(dāng)前位置P(Pdx，Pdy)計算驅(qū)動力D，該驅(qū)動力D驅(qū)動驅(qū)動電路29以便把可移動單元30a移動到位置S。
在步驟S18，利用通過驅(qū)動電路29的第一PWM負(fù)載dx驅(qū)動第一驅(qū)動線圈31a，利用通過驅(qū)動電路29的第二PWM負(fù)載dy驅(qū)動第二驅(qū)動線圈32a，以便移動可移動單元30a。
步驟S17和步驟S18中的處理是自動控制計算，其利用執(zhí)行通常(標(biāo)準(zhǔn))比例、積分和微分計算的PID自動控制。
下面，說明第二實施例。在第二實施例中，霍爾元件單元是單軸霍爾元件，其具有用于檢測可移動單元30a在第一方向x上的第一位置的霍爾元件和用于檢測可移動單元30a在第二方向y上的第二位置的霍爾元件。
圖1、2、7和10-14示出第二實施例中攝影裝置1的結(jié)構(gòu)，與第一實施例中的結(jié)構(gòu)相同。然而，第二實施例中可移動單元300a的結(jié)構(gòu)與第一實施例中可移動單元30a的結(jié)構(gòu)不同，第二實施例中固定單元300b的結(jié)構(gòu)與第一實施例中可移動單元30b的結(jié)構(gòu)不同，第二實施例中霍爾元件信號處理單元450的結(jié)構(gòu)與第一實施例中霍爾元件信號處理單元45的結(jié)構(gòu)不同。
因此，利用圖15-18說明第二實施例，集中在第二實施例中攝影裝置1的結(jié)構(gòu)與第一實施例中攝影裝置1不同的結(jié)構(gòu)。第二實施例中與第一實施例相同的零件的標(biāo)號與第一實施例相同。
可移動單元300a具有第一驅(qū)動線圈31a、第二驅(qū)動線圈32a、成像單元39a、霍爾元件單元440a、可移動電路板490a、移動軸50a、第一水平移動軸承單元51a、第二水平移動軸承單元52a、第三水平移動軸承單元53a和片64a(見圖16和17)。
固定單元300b具有位置檢測磁體單元、第一位置檢測和驅(qū)動磁軛431b、第二位置檢測和驅(qū)動磁軛432b、第一垂直移動軸承單元54b、第二垂直移動軸承單元55b、第三垂直移動軸承單元56b、第四垂直移動軸承單元57b和基板65b。位置檢測磁體單元具有第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b以及第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b。
移動軸50a被第一垂直移動軸承單元54b至第四垂直移動軸承單元57b支撐，并被第一水平移動軸承單元51a至第三水平移動軸承單元53a支撐，該軸的結(jié)構(gòu)與第一實施例中相同。
可移動單元300a的移動范圍是指可移動單元300a的中心移動范圍。可移動單元300a在第一方向x上移動范圍內(nèi)的一個邊緣點是第一水平邊緣點rx11，可移動單元300a在第一方向x上移動范圍內(nèi)的另一個邊緣點是第二水平邊緣點rx12，可移動單元300a在第二方向y上移動范圍內(nèi)的一個邊緣點是第一垂直邊緣點ry11，可移動單元300a在第二方向y上移動范圍內(nèi)的另一個邊緣點是第二垂直邊緣點ry12。
當(dāng)成像裝置39a1的中心區(qū)域位于照相鏡頭67的光軸LX上時，設(shè)定可移動單元300a和固定單元300b之間的位置關(guān)系，使可移動單元300a在第一方向x和第二方向y上均位于它的移動范圍的中心，以便利用成像裝置39a1的整個成像范圍。
形成成像裝置39a1的成像表面的長方形具有兩個對角線。在第二實施例中，成像裝置39a1的中心是兩個對角線的交點。
從照相鏡頭67一邊看，沿著光軸LX方向按照成像單元39a、片64a、和可移動電路板490a的順序安裝上述元件。成像單元39a具有成像裝置39a1(諸如CCD或者CMOS等)、臺架39a2、保持單元39a3和光學(xué)低通濾波器39a4。臺架39a2和片64a在光軸LX方向支撐并壓住成像裝置39a1、保持單元39a3和光學(xué)低通濾波器39a4。
第一水平移動軸承單元51a、第二水平移動軸承單元52a和第三水平移動軸承單元53a安裝到臺架39a2上。成像裝置39a1安裝在片64a上，以便當(dāng)成像裝置39a1垂直于照相鏡頭67的光軸LX時執(zhí)行成像裝置39a1的定位。在片64a由金屬材料制成情況下，通過與成像裝置39a1接觸實現(xiàn)，片64a具有從成像裝置39a1輻射熱量的作用。
第一驅(qū)動線圈31a、第二驅(qū)動線圈32a和霍爾元件單元440a安裝在可移動電路板490a上。
第一驅(qū)動線圈31a形成座和螺旋形線圈圖形。第一驅(qū)動線圈31a的線圈圖形是平行于第一方向x或第二方向y的線，其中包括第一驅(qū)動線圈31a的可移動單元300a通過第一電磁力在第一方向x移動。平行于第二方向y的線用于在第一方向x移動可移動單元300a。平行于第二方向y的線具有第一有效長度L1。
根據(jù)第一驅(qū)動線圈31a的電流方向和第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b的磁場方向產(chǎn)生第一電磁力。
第二驅(qū)動線圈32a形成座和螺旋形線圈圖形。第二驅(qū)動線圈32a的線圈圖形是平行于第一方向x或第二方向y的線，其中包括第二驅(qū)動線圈32a的可移動單元300a通過第二電磁力在第二方向y移動。平行于第一方向x的線用于在第二方向y移動可移動單元300a。平行于第一方向x的線具有第二有效長度L2。
根據(jù)第二驅(qū)動線圈32a的電流方向和第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b的磁場方向產(chǎn)生第二電磁力。
第一驅(qū)動線圈31a、第二驅(qū)動線圈32a通過柔性電路板(未示出)與驅(qū)動第一驅(qū)動線圈31a和第二驅(qū)動線圈32a的驅(qū)動電路29連接。第一PWM負(fù)載dx從CPU 21的PWM 0輸入到驅(qū)動電路29，第二PWM負(fù)載dy從CPU 21的PWM 1輸入到驅(qū)動電路29。驅(qū)動電路29向第一驅(qū)動線圈31a提供與第一PWM負(fù)載dx的數(shù)值對應(yīng)的功率，向第二驅(qū)動線圈32a提供與第二PWM負(fù)載dy的數(shù)值對應(yīng)的功率，以便驅(qū)動可移動單元300a。
第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b安裝在固定單元300b的可移動單元一側(cè)，其中在第三方向z上第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b對著第一驅(qū)動線圈31a和水平霍爾元件hh10。
第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b安裝在固定單元300b的可移動單元一側(cè)，其中在第三方向z上第二位置檢測和驅(qū)動412b對著第二驅(qū)動線圈32a和垂直霍爾元件hv10。
在N極和S極沿第一方向x設(shè)置的情況下，第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b安裝在第一位置檢測和驅(qū)動磁軛431b上。第一位置檢測和驅(qū)動磁軛431b安裝在固定單元300b的基板65b上，在第三方向z上位于可移動單元300a一側(cè)。
第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b在第二方向y上的長度比第一驅(qū)動線圈31a的第一有效長度L1長。在可移動單元300a在第二方向y上運動期間不改變影響第一驅(qū)動線圈31a和水平霍爾元件hh10的磁場。
在N極和S極沿第二方向y設(shè)置的情況下，第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b安裝在第二位置檢測和驅(qū)動磁軛432b上。第二位置檢測和驅(qū)動磁軛432b安裝在固定單元300b的基板65b上，在第三方向z上位于可移動單元300a一側(cè)。
第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b在第一方向x上的長度比第二驅(qū)動線圈32a的第二有效長度L2長。在可移動單元300a在第一方向x上運動期間不改變影響第二驅(qū)動線圈32a和垂直霍爾元件hv10的磁場。
第一位置檢測和驅(qū)動磁軛431b由軟磁材料制成，而且形成從第二方向y看時呈正方形的U形管。第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b、第一驅(qū)動線圈31a和水平霍爾元件hh10位于第一位置檢測和驅(qū)動磁軛431b的管內(nèi)。
第一位置檢測和驅(qū)動磁軛431b與第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b接觸的一側(cè)防止了第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b的磁場泄露到周圍。
第一位置檢測和驅(qū)動磁軛431b的另一側(cè)(對著第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b、第一驅(qū)動線圈31a和可移動電路板490a)提高了第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b和第一驅(qū)動線圈31a之間以及第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b和水平霍爾元件hh10之間的磁通量密度。
第二位置檢測和驅(qū)動磁軛432b由軟磁材料制成，而且形成從第一方向x看時呈正方形的U形管。第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b、第二驅(qū)動線圈32a和垂直霍爾元件hv10位于第二位置檢測和驅(qū)動磁軛432b的管內(nèi)。
第二位置檢測和驅(qū)動磁軛432b與第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b接觸的一側(cè)防止了第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b的磁場泄露到周圍。
第二位置檢測和驅(qū)動磁軛432b的另一側(cè)(對著第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b、第二驅(qū)動線圈32a和可移動電路板490a)提高了第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b與第二驅(qū)動線圈32a之間以及第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b與垂直霍爾元件hv10之間的磁通量密度。
霍爾元件單元440a是具兩個霍爾元件的單軸霍爾元件，所述霍爾元件是利霍爾效應(yīng)的電磁轉(zhuǎn)換元件(磁場變化檢測元件)?；魻栐卧?40a檢測第一檢測位置信號px和第二檢測位置信號py，所述信號px用于表示可移動單元300a的當(dāng)前位置P在第一方向x上的第一位置，所述信號py用于表示可移動單元300a的當(dāng)前位置P在第二方向y上的第二位置。
兩個霍爾元件的一個是用于檢測可移動單元300a在第一方向x上的第一位置px的水平霍爾元件hh10，另一個霍爾元件是用于檢測可移動單元300a在第二方向y上的第二位置的垂直霍爾元件hv10(見圖16)。
在第三方向z上水平霍爾元件hh10對著固定單元300b的第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b的條件下，水平霍爾元件hh10安裝在可移動單元300a的可移動電路板490a上。
在第三方向z上垂直霍爾元件hv10對著固定單元300b的第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b的條件下，垂直霍爾元件hv10安裝在可移動單元300a的可移動電路板490a上。
基板65b是板狀部件，成為安裝第一位置檢測和驅(qū)動磁軛431b等的底座，并設(shè)置成平行于成像裝置39a1的成像表面。
在第二實施例中，基板65b設(shè)置成在第三方向z上比可移動電路板490a更靠近照相鏡頭67的一側(cè)。然而，可移動電路板490a可以設(shè)置在比基板65b更靠近照相鏡頭67的一側(cè)。在這種情況下，第一驅(qū)動線圈31a、第二驅(qū)動線圈32a和霍爾元件單元440a設(shè)置在移動電路板490a的與照相鏡頭67相反的一側(cè)，以便第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b和第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b與照相鏡頭67設(shè)置在基板65b的同一側(cè)。
霍爾元件信號處理單元450具有第一霍爾元件信號處理電路4501和第二霍爾元件信號處理電路4502。
第一霍爾元件信號處理電路4501根據(jù)水平霍爾元件hh10的輸出信號，檢測水平霍爾元件hh10的輸出端之間的水平電位差x10。
第一霍爾元件信號處理電路4501根據(jù)水平電位差x10把第一檢測位置信號px輸出到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2，所述信號px表示可移動單元300a在第一方向x上的第一位置。
第二霍爾元件信號處理電路4502根據(jù)垂直霍爾元件hv10的輸出信號，檢測垂直霍爾元件hv10的輸出端之間的水平電位差y10。
第二霍爾元件信號處理電路4502根據(jù)水平電位差y10把第二檢測位置信號py輸出到CPU 21的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3，所述信號py表示可移動單元300a在第二方向y上的第二位置。
對應(yīng)于最佳的水平霍爾元件電流值xDi的第一電壓XVf從CPU 21的D/A轉(zhuǎn)換器D/A 0被施加在第一霍爾元件信號處理電路4501的電路4560上。
對應(yīng)于最佳的垂直霍爾元件電流值yDi的第二電壓YVf從CPU 21的D/A轉(zhuǎn)換器D/A 1被施加在第二霍爾元件信號處理電路4502的電路4660上。
利用圖18說明與霍爾元件信號處理單元450的第一霍爾元件信號處理電路4501中水平霍爾元件hh10的輸入/輸出信號有關(guān)的電路結(jié)構(gòu)，以及與霍爾元件信號處理單元450的第二霍爾元件信號處理電路4502中垂直霍爾元件hv10的輸入/輸出信號有關(guān)的電路結(jié)構(gòu)。
第一霍爾元件信號處理電路4501具有電路4510和電路4530，用于控制水平霍爾元件hh10的輸出；并具有電路4560，用于控制水平霍爾元件hh10的輸入。
第二霍爾元件信號處理電路4502具有電路4610和電路4630，用于控制垂直霍爾元件hv10的輸出；并具有電路4660，用于控制垂直霍爾元件hv10的輸入。
水平霍爾元件hh10的兩個輸出端連接到電路4510，以便電路4510與電路4530連接。
電路4510是差分放大器電路，該電路放大第一水平霍爾元件hh10的輸出端之間的信號差。
電路4530是減法放大器電路，該電路根據(jù)電路4510的放大的信號差與參考電壓Vref之間的差值計算水平電位差x10(霍爾輸出電壓)，并通過把水平電位差x10乘以第一放大率AA1計算第一檢測位置信號px。電路4510具有電阻R101、電阻R102、電阻R103、運算放大器A101和運算放大器A102，與第一實施例中的電路451類似。運算放大器A101具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。運算放大器A102具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
水平霍爾元件hh10的一個輸出端與運算放大器A101非倒相輸入端連接，水平霍爾元件hh10的另一端與運算放大器A102非倒相輸入端連接。
運算放大器A101的倒相輸入端與電阻R101和R102連接，運算放大器A102的倒相輸入端與電阻R101和R103連接。
運算放大器A101的輸出端與電路4530中的電阻R102和電阻R107連接。運算放大器A102的輸出端與電路4530中的電阻R103和電阻R109連接。
電路4510具有電阻R101、電阻R102、電阻R103、運算放大器A101和運算放大器A102，與第一實施例中的電路451類似。運算放大器A101具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。運算放大器A102具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
水平霍爾元件hh10的一個輸出端與運算放大器A101非倒相輸入端連接，水平霍爾元件hh10的另一端與運算放大器A102非倒相輸入端連接。
運算放大器A101的倒相輸入端與電阻R101和R102連接，運算放大器A102的倒相輸入端與電阻R101和R103連接。
運算放大器A101的輸出端與電路4530中的電阻R102和電阻R107連接。運算放大器A102的輸出端與電路4530中的電阻R103和電阻R109連接。
電路4530具有電阻R107、電阻R108、電阻R109、電阻R110和運算放大器A105，與第一實施例中的電路453類似。運算放大器A105具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
運算放大器A105的倒相輸入端與電阻R107和R108連接。運算放大器A105的非倒相輸入端與電阻R109和R110連接。運算放大器A105的輸出端與電阻R108。通過水平電位差x10乘以第一放大率AA1獲得的第一檢測位置信號px從運算放大器A105的輸出端被輸出。電阻R110的一端與電源連接，該電源的電壓為參考電壓Vref。
電阻R101和R103的值相同。電阻R107和R109的值相同。電阻R108和R110的值相同。
第一放大率AA1根據(jù)電阻R107～R110的值(電阻R107的值與電阻R108的值之間的比值)。
運算放大器A101和A102是相同類型的放大器。
電路4560具有電阻R119和運算放大器A108，與第一實施例中的電路456類似。運算放大器A108具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
運算放大器A108的倒相輸入端與電阻R119和水平霍爾元件hh10的一個輸入端連接。運算放大器A108的非倒相輸入端的電勢設(shè)定為與數(shù)值為最佳的水平霍爾元件電流值xDi對應(yīng)的第一電壓XVf，所述最佳的水平霍爾元件電流值xDi流過水平霍爾元件hh10的輸入端。第一電壓XVf的數(shù)值是通過把最佳的水平霍爾元件電流值xDi乘以電阻R119的值獲得。
運算放大器A108的輸出端與水平霍爾元件hh10的另一個輸入端連接。電阻R119的一端接地。
垂直霍爾元件hv10的兩個輸出端與電路4610連接，以便電路4610與電路4630連接。
電路4610是差分放大器電路，該電路放大垂直霍爾元件hv10的輸出端之間的信號差。
電路4630是減法電路，該電路根據(jù)電路4610的放大的信號差與參考電壓Vref之間的差值計算垂直電位差y10(霍爾輸出電壓)，并通過把垂直電位差y10乘以第二放大率AA2計算第二檢測位置信號py。
電路4610具有電阻R121、電阻R122、電阻R123、運算放大器A121和運算放大器A122，與第一實施例中電路461類似。運算放大器A121具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。運算放大器A122具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
垂直霍爾元件hv10的一個輸出端與運算放大器A121非倒相輸入端連接，垂直霍爾元件hv10的另一端與運算放大器A122非倒相輸入端連接。
運算放大器A121的倒相輸入端與電阻R121和R122連接，以便運算放大器A122的倒相輸入端與電阻R121和R123連接。
運算放大器A121的輸出端與電路4630中的電阻R122和電阻R127連接。運算放大器A122的輸出端與電路4630中的電阻R123和電阻R129連接。
電路4630具有電阻R127、電阻R128、電阻R129、電阻R130和運算放大器A125。與第一實施例中電路463類似。運算放大器A125具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
運算放大器A125的倒相輸入端與電阻R127和R128連接。運算放大器A125的非倒相輸入端與電阻R129和R130連接。運算放大器A125的輸出端與電阻R128連接。通過垂直電位差y10乘以第二放大率AA2獲得的第二檢測位置信號py從運算放大器A125的輸出端被輸出。電阻R130的一端與電源連接，該電源的電壓為參考電壓Vref。
電阻R122和R123的值相同。電阻R127和R129的值相同。電阻R128和R130的值相同。
第二放大率AA2根據(jù)電阻R127～R130的值(電阻R127的值與電阻R128的值之間的比值)。
運算放大器A121和A122是相同類型的放大器。
電路4660具有電阻R139和運算放大器A128，與第一實施例中的電路466類似。運算放大器A128具有倒相輸入端、非倒相輸入端和輸出端。
運算放大器A128的倒相輸入端與電阻R139和垂直霍爾元件hv10的一個輸入端連接。運算放大器A128的非倒相輸入端的電勢設(shè)定為與數(shù)值為最佳的垂直霍爾元件電流值yDi對應(yīng)的第二電壓YVf，所述最佳的垂直霍爾元件電流值yDi流過垂直霍爾元件hv10的輸入端。第二電壓YVf的數(shù)值通過把最佳的垂直霍爾元件電流值yDi乘以電阻R139的值獲得。
運算放大器A128的輸出端與垂直霍爾元件hv10的另一個輸入端連接。電阻R139的一端接地。
第二實施例中的其它結(jié)構(gòu)與第一實施例中的相同。
在第二實施例的初始調(diào)整操作中，第一和第二放大率的值A(chǔ)A1和AA2是固定的(不變化)，執(zhí)行改變流過水平霍爾元件hh10的輸入端電流值的第一初始調(diào)整操作以及改變流過垂直霍爾元件hv10輸入端電流值的第二初始調(diào)整操作。
具體地，在第二實施例的第一初始調(diào)整操作中，當(dāng)可移動單元300a的中心接觸第二水平邊緣點rx11時，流過水平霍爾元件hh10輸入端的電流值(第一水平霍爾元件電流值xDi1)被調(diào)整，其中第一檢測位置信號px的輸出值與CPU 21中的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 2的A/D轉(zhuǎn)換范圍中的最大值相同。
然后，當(dāng)可移動單元300a的中心接觸第二水平邊緣點rx12時，流過水平霍爾元件hh10輸入端的電流值(第二水平霍爾元件電流值xDi2)被調(diào)整，其中第一檢測位置信號px的輸出值與CPU 21中的A/D轉(zhuǎn)換器A/D2的A/D轉(zhuǎn)換范圍中的最小值相同。
然后，判斷第一水平霍爾元件電流值xDi1是否大于第二水平霍爾元件電流值xDi2，以便將第一和第二水平霍爾元件電流值xDi1和xDi2中較小的值確定為最佳的水平霍爾元件電流值xDi，并存儲在存儲單元72中。
類似地，在第二實施例的第二初始調(diào)整操作中，當(dāng)可移動單元300a的中心接觸第一垂直邊緣點ry11時，流過垂直霍爾元件hv10輸入端的電流值(第一垂直霍爾元件電流值yDi1)被調(diào)整，其中第二檢測位置信號py的輸出值與CPU 21中的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3的A/D轉(zhuǎn)換范圍中的最大值相同。
然后，當(dāng)可移動單元300a的中心接觸第二垂直邊緣點ry12時，流過垂直霍爾元件hv10輸入端的電流值(第二垂直霍爾元件電流值yDi2)被調(diào)整，其中第二檢測位置信號py的輸出值與CPU 21中的A/D轉(zhuǎn)換器A/D 3的A/D轉(zhuǎn)換范圍中的最小值相同。
然后，判斷第一垂直霍爾元件電流值yDi1是否大于第二垂直霍爾元件電流值yDi2，以將第一和第二垂直霍爾元件電流值yDi1和yDi2中較小的值確定為最佳的垂直霍爾元件電流值yDi，并存儲在存儲單元72中。
因此，第一初始調(diào)整操作包括調(diào)整流過水平霍爾元件hh10的輸入端的電流值的電調(diào)整(非機械調(diào)整)。類似地，第二初始調(diào)整操作包括調(diào)整流過垂直霍爾元件hv10的輸入端的電流值的電調(diào)整(非機械調(diào)整)。因此，與包括調(diào)整電阻值等機械調(diào)整的初始調(diào)整操作比較提高了實用性，其與第一實施例類似。
而且，因為最佳的水平和最佳的垂直霍爾元件電流值xDi與yDi被存儲在存儲單元72中，所以即使攝影裝置1(存儲單元72)設(shè)置成OFF狀態(tài)(切斷電源)這些數(shù)值也不會被刪除。因此，CPU 21讀取最佳的水平和最佳的垂直霍爾元件電流值xDi與yDi只進行一次第一和第二初始調(diào)整操作。
在第二實施例中，第一位置檢測和驅(qū)動磁體411b是一體的，以便檢測可移動單元300a在第一方向x上的第一位置，并在第一方向x上驅(qū)動可移動單元300a。然而，用于檢測第一位置的磁體和用于在第一方向x上驅(qū)動可移動單元300a的磁體可以是分開的。
類似地，第二位置檢測和驅(qū)動磁體412b是一體的，以便檢測可移動單元300a在第二方向y上的第二位置，并在第二方向y上驅(qū)動可移動單元300a。然而，用于檢測第二位置的磁體和用于在第二方向y上驅(qū)動可移動單元300a的磁體可以是分開的。
而且，盡管解釋了霍爾元件單元440a安裝在可移動單元300a上，位置檢測磁體(第一和第二位置檢測和驅(qū)動磁體411b和412b)安裝在固定單元300b上，但是，霍爾元件單元可以安裝在固定單元上，位置檢測磁體可以安裝在可移動單元上。
在第一和第二實施例中，產(chǎn)生磁場的磁體可以是一直產(chǎn)生磁場的永久磁體，也可以是在需要是產(chǎn)生磁場的電磁體。
而且，盡管解釋了可移動單元30a(300a)具有成像裝置39a1。然而，可移動單元30a(300a)也可以具有代替成像裝置的手抖動校正鏡頭。
而且，盡管解釋了霍爾元件用作位置檢測中的磁場變化檢測元件。然而，另一種檢測元件可以用于位置檢測。具體地，檢測元件可以是MI(磁抗)傳感器，換句話說是高頻載波型磁場傳感器，或者磁諧振類型的磁場檢測元件，或者MR(磁抗效應(yīng))元件。當(dāng)使用MI傳感器、磁諧振類型的磁場檢測元件或者MR元件之一時，可以通過檢測磁場變化獲得關(guān)于可移動單元的位置信息，與使用霍爾元件類似。
而且，在第一和第二實施例中，可移動單元30a(300a)在第一方向x和第二方向y上可以相對于固定單元30b(300b)移動，所以可以通過檢測可移動單元在第一方向x上的位置(第一位置)和在第二方向y上的位置(第一位置)執(zhí)行位置檢測操作。然而，任何在垂直于第三方向z(光軸LX)的平面內(nèi)移動可移動單元30a(300a)的其它方法(或裝置)以及在平面內(nèi)檢測可移動單元30a(300a)的其它方法(或裝置)都是可以的。
例如，可移動單元的運動可以是只在一個方向，所以可移動單元可以是只在第一方向x上(不必在第二方向y上)移動。在這種情況下，關(guān)于可移動單元在第二方向y上移動和關(guān)于可移動單元在第二方向y上的位置檢測的零件，諸如垂直霍爾元件hv10等，可以省略(見圖16等)。
而且，機關(guān)解釋了在初始調(diào)整操作中改變流過霍爾元件(磁場變化檢測元件)的電流值。然而，通過改變用于驅(qū)動霍爾元件(磁場變化檢測元件)的控制信號的值，也可以實現(xiàn)初始調(diào)整操作。
雖然參考附圖描述了本發(fā)明的實施例，但是在不脫離本發(fā)明范圍的情況下，顯然本領(lǐng)域技術(shù)人員可以進行改進和變化。
權(quán)利要求
1.一種攝影裝置的抗抖動裝置，包括可移動單元，具有成像裝置和手抖動校正鏡頭之一，可移動單元在第一和第二方向可移動，所述第一方向垂直于攝影裝置的照相鏡頭的光軸，所述第二方向垂直于光軸和第一方向；固定單元，在第一和第二兩個方向上滑動地支撐可移動單元；信號處理單元；和控制單元，控制可移動單元、固定單元和信號處理單元，并具有第一和第二A/D轉(zhuǎn)換器；可移動單元和固定單元之一具有磁場變化檢測單元，磁場變化檢測單元具有檢測可移動單元在第一方向上的位置作為第一位置的水平磁場變化檢測元件和檢測可移動單元在第二方向上的位置作為第二位置的垂直磁場變化檢測元件；可移動單元和固定單元中的另一個具有位置檢測磁體，用于檢測第一和第二位置，并對著磁場變化檢測單元；信號處理單元向第一A/D轉(zhuǎn)換器輸出第一檢測位置信號，該信號根據(jù)水平磁場變化檢測元件的輸出信號表示第一位置，并向第二A/D轉(zhuǎn)換器輸出第二檢測位置信號，該信號根據(jù)垂直磁場變化檢測元件的輸出信號表示第二位置；控制單元根據(jù)第一A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換操作計算第一位置，用于第一檢測位置信號，并根據(jù)第二A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換操作計算第二位置，用于第二檢測位置信號；在第一初始調(diào)整操作中計算最佳的水平電流值，其在第一檢測位置信號被第一A/D轉(zhuǎn)換器A/D轉(zhuǎn)換時，通過改變流過水平磁場變化檢測元件的輸入端的電流值調(diào)整第一檢測分辨率；當(dāng)檢測可移動單元的位置時具有最佳的水平電流值的電流流過水平磁場變化檢測元件的輸入端；在第二初始調(diào)整操作中計算最佳的垂直電流值，其在第二檢測位置信號被第二A/D轉(zhuǎn)換器A/D轉(zhuǎn)換時通過改變流過垂直磁場變化檢測元件的輸入端的電流值調(diào)整第二檢測分辨率；當(dāng)檢測可移動單元的位置時具有最佳的垂直電流值的電流流過垂直磁場變化檢測元件的輸入端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗抖動裝置，其中所述最佳的水平電流值是第一和第二水平電流值中的較小值；所述最佳的垂直電流值是第一和第二垂直電流值中的較小值；所述第一水平電流值是當(dāng)?shù)谝粰z測位置信號的輸出值與所述第一A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值相同時，以及當(dāng)可移動單元接觸第一水平邊緣點時，流過所述水平磁場變化檢測元件的輸入端的電流值，其中所述第一水平邊緣點是可移動單元在所述第一方向移動范圍的一個邊緣點；所述第二水平電流值是當(dāng)?shù)谝粰z測位置信號的輸出值與所述第一A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值相同時，以及當(dāng)可移動單元接觸第二水平邊緣點時，流過所述水平磁場變化檢測元件的輸入端的電流值，其中所述第二水平邊緣點是可移動單元在所述第一方向移動范圍的另一個邊緣點；所述第一垂直電流值是當(dāng)?shù)诙z測位置信號的輸出值與所述第二A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值相同時，以及當(dāng)可移動單元接觸第一垂直邊緣點時，流過所述垂直磁場變化檢測元件的輸入端的電流值，其中所述第一垂直邊緣點是可移動單元在所述第二方向移動范圍的一個邊緣點；所述第二垂直電流值是當(dāng)?shù)诙z測位置信號的輸出值與所述第二A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值相同時，以及當(dāng)可移動單元接觸第二垂直邊緣點時，流過所述垂直磁場變化檢測元件的輸入端的電流值，其中所述第二垂直邊緣點是可移動單元在所述第二方向移動范圍的另一個邊緣點。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗抖動裝置，其中所述固定單元具有磁場變化檢測單元；所述可移動單元具有位置檢測磁體；以及所述磁場變化檢測單元具有第一和第二水平磁場變化檢測元件，它們的輸入端串聯(lián)作為所述水平磁場變化檢測元件，并具有第一和第二垂直磁場變化檢測元件，它們的輸入端串聯(lián)作為所述垂直磁場變化檢測元件。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的抗抖動裝置，其中所述位置檢測磁體具有前表面，其對著所述磁場變化檢測單元，該表面是正方形，周邊平行于所述第一和所述第二方向之一；所述位置檢測磁體具有N極和S極，它們設(shè)置在平行于所述光軸的第三方向上。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的抗抖動裝置，其中當(dāng)包括在所述可移動單元中的成像裝置或手抖動校正鏡頭之一的中心通過光軸時，第一水平磁場變化檢測元件位于一個位置，該位置對著沿著所述位置檢測磁體的正方形前表面在第二方向上的一側(cè)的中間；第二水平磁場變化檢測元件位于一個位置，該位置對著所述位置檢測磁體的正方形前表面在第二方向上的另一側(cè)的中間；第一垂直磁場變化檢測元件位于一個位置，該位置對著沿著所述位置檢測磁體的正方形前表面在第一方向上的一側(cè)的中間，第二垂直磁場變化檢測元件位于一個位置，該位置對著所述位置檢測磁體的正方形前表面在第一方向上的另一側(cè)的中間。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的抗抖動裝置，其中所述磁場變化檢測單元是雙軸霍爾元件；所述第一和第二水平磁場變化檢測元件和所述第一和第二垂直磁場變化檢測元件是霍爾元件。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗抖動裝置，其中所述可移動單元具有磁場變化檢測單元；所述固定單元具有位置檢測磁體；以及所述磁場變化檢測單元具有一個水平磁場變化檢測元件和一個垂直磁場變化檢測元件；以及所述位置檢測磁體具有用于檢測所述第一位置并對著所述水平磁場變化檢測元件的第一位置檢測磁體，以及用于檢測所述第二位置并對著所述垂直磁場變化檢測元件的第二位置檢測磁體。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的抗抖動裝置，其中所述可移動單元具有用于在所述第一方向移動所述可移動單元的第一驅(qū)動線圈和用于在所述第二方向移動所述可移動單元的第二驅(qū)動線圈；所述第一位置檢測磁體用于在所述第一方向移動所述可移動單元；所述第二位置檢測磁體用于在所述第二方向移動所述可移動單元。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的抗抖動裝置，其中所述磁場變化檢測單元是單軸霍爾元件；所述水平磁場變化檢測元件和所述垂直磁場變化檢測元件是霍爾元件。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗抖動裝置，其中所述可移動單元具有位置檢測磁體；所述固定單元具有磁場變化檢測單元；所述磁場變化檢測單元具有一個水平磁場變化檢測元件和一個垂直磁場變化檢測元件；以及所述位置檢測磁體具有N極和S設(shè)置在所述第一方向并對著所述水平磁場變化檢測元件的第一位置檢測磁體，和N極和S設(shè)置在所述第二方向并對著所述垂直磁場變化檢測元件的第二位置檢測磁體。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗抖動裝置，進一步包括存儲單元，與所述控制單元連接，并且存儲所述最佳的水平電流值和所述最佳的垂直電流值；即使所述存儲單元設(shè)置成OFF狀態(tài)存儲在所述存儲單元中的內(nèi)容也不被刪除。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗抖動裝置，其中當(dāng)包括在所述可移動單元中的成像裝置或手抖動校正鏡頭之一的中心區(qū)域位于光軸上時，可移動單元與固定單元之間的位置關(guān)系設(shè)置成使所述可移動單元位于它的移動范圍內(nèi)所述第一方向和所述第二方向二者的中心。
13.一種在如權(quán)利要求1所述的攝影裝置的抗抖動裝置中A/D變換時用于調(diào)整檢測分辨率的方法，所述第一步，計算第一水平電流值；第二步，計算第二水平電流值；第三步，計算第一垂直電流值；第四步，計算第二垂直電流值；第五步，根據(jù)所述第一和第二水平電流值計算所述最佳的水平電流值，以及根據(jù)所述第一和第二垂直電流值計算所述最佳的垂直電流值；所述最佳的水平電流值是第一和第二水平電流值中的較小值；所述最佳的垂直電流值是第一和第二垂直電流值中的較小值；所述第一水平電流值是當(dāng)?shù)谝粰z測位置信號的輸出值與所述第一A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值相同時，以及當(dāng)可移動單元接觸第一水平邊緣點時，流過所述水平磁場變化檢測元件的輸入端的電流值，其中所述第一水平邊緣點是可移動單元在所述第一方向移動范圍的一個邊緣點；所述第二水平電流值是當(dāng)?shù)谝粰z測位置信號的輸出值與所述第一A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值相同時，以及當(dāng)可移動單元接觸第二水平邊緣點時，流過所述水平磁場變化檢測元件的輸入端的電流值，其中所述第二水平邊緣點是可移動單元在所述第一方向移動范圍的另一個邊緣點；所述第一垂直電流值是當(dāng)?shù)诙z測位置信號的輸出值與所述第二A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值相同時，以及當(dāng)可移動單元接觸第一垂直邊緣點時，流過所述垂直磁場變化檢測元件的輸入端的電流值，其中所述第一垂直邊緣點是可移動單元在所述第二方向移動范圍的一個邊緣點；所述第二垂直電流值是當(dāng)?shù)诙z測位置信號的輸出值與所述第二A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值相同時，以及當(dāng)可移動單元接觸第二垂直邊緣點時，流過所述垂直磁場變化檢測元件的輸入端的電流值，其中所述第二垂直邊緣點是可移動單元在所述第二方向移動范圍的另一個邊緣點。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，進一步包括第六步，把所述最佳的水平電流值和所述最佳的垂直電流值存儲在所述攝影裝置的存儲單元中；即使所述存儲單元設(shè)置成OFF狀態(tài)存儲在所述存儲單元中的內(nèi)容也不被刪除。
15.一種攝影裝置的抗抖動裝置，包括可移動單元，具有成像裝置和手抖動校正鏡頭之一，并在垂直于攝影裝置的照相鏡頭光軸的平面內(nèi)可移動；固定單元，支撐所述可移動單元，以便可移動單元在所述平面內(nèi)可移動；信號處理單元；和可移動單元和固定單元之一具有磁場變化檢測單元，用于檢測可移動單元在所述平面內(nèi)的位置；所述信號處理單元輸出表示所述位置的檢測位置信號；在初始調(diào)整操作中計算最佳的控制信號數(shù)值，其通過改變驅(qū)動所述磁場變化檢測單元的控制信號數(shù)值調(diào)整所述檢測位置信號的數(shù)值；以及當(dāng)檢測所述可移動單元的位置時所述最佳的控制信號驅(qū)動所述磁場變化檢測單元。
16.一種在攝影裝置的抗抖動裝置中A/D變換時用于調(diào)整檢測分辨率的方法，該攝影裝置包括可移動單元、固定單元、信號處理單元和控制單元，其中可移動單元具有成像裝置和手抖動校正鏡頭之一，并在垂直于攝影裝置的照相鏡頭光軸的平面內(nèi)可移動；固定單元支撐所述可移動單元，以便可移動單元在所述平面內(nèi)可移動；可移動單元和固定單元之一具有磁場變化檢測單元，用于檢測可移動單元在所述平面內(nèi)的位置；信號處理單元根據(jù)所述磁場變化檢測單元的輸出信號，把表示所述位置的檢測位置信號輸出到所述控制單元的A/D轉(zhuǎn)換器；所述控制單元根據(jù)所述A/D轉(zhuǎn)換器對所述檢測位置信號進行的A/D轉(zhuǎn)換操作計算所述位置；所述方法包括第一步，計算第一電流值；第二步，計算第二電流值；第三步，根據(jù)所述第一和第二電流值計算所述最佳的電流值；所述最佳的電流值是第一和第二電流值中的較小值；當(dāng)檢測所述位置時具有所述最佳的電流值的電流流過所述磁場變化檢測單元；所述第一電流值是當(dāng)所述檢測位置信號的輸出值與所述A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最大值相同時，以及當(dāng)可移動單元接觸第一水平邊緣點時，流過所述磁場變化檢測單元的電流值，其中所述第一水平邊緣點是可移動單元移動范圍的一個邊緣點；所述第二電流值是當(dāng)所述檢測位置信號的輸出值與所述A/D轉(zhuǎn)換器的A/D轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)的最小值相同時，以及當(dāng)可移動單元接觸第二水平邊緣點時，流過所述磁場變化檢測單元的電流值，其中所述第二水平邊緣點是可移動單元移動范圍的另一個邊緣點。
全文摘要
一種抗抖動裝置，包括可移動單元，固定單元、信號處理器和控制器?？梢苿訂卧哂谐上裱b置，并可以在第一和第二方向移動，被固定單元支撐。固定單元具有檢測第一位置的水平霍爾元件和檢測第二位置的垂直霍爾元件。信號處理器從水平霍爾元件的輸出信號向控制器的第一A/D轉(zhuǎn)換器輸出表示第一位置的第一信號，并從垂直霍爾元件的輸出信號向控制器的第二A/D轉(zhuǎn)換器輸出表示第二位置的第二信號?？刂破骺梢栽诘谝恍盘柕腁/D轉(zhuǎn)換操作中計算第一位置，在第二信號的A/D轉(zhuǎn)換操作中計算第二位置。在第一初始調(diào)整操作中計算最佳的水平電流值，其在對第一信號進行A/D轉(zhuǎn)換時通過改變流過水平霍爾元件的電流值調(diào)整第一檢測分辨率。當(dāng)檢測可移動單元的位置時具有最佳的水平電流值的電流流過水平霍爾元件。
文檔編號H04N5/228GK1667482SQ20051005357
公開日2005年9月14日 申請日期2005年3月8日 優(yōu)先權(quán)日2004年3月8日
發(fā)明者上中行夫, 瀬尾修三 申請人:賓得株式會社