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      數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)及方法

      文檔序號(hào):7627435閱讀:235來(lái)源:國(guó)知局
      專(zhuān)利名稱(chēng):數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)及方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明是關(guān)于一種數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)及方法。
      背景技術(shù)
      目前,數(shù)碼相機(jī)及帶數(shù)碼相機(jī)的移動(dòng)電話越來(lái)越普及,故數(shù)碼相機(jī)模組的需求也越來(lái)越大。請(qǐng)參閱圖1,數(shù)碼相機(jī)模組100包括一影像感測(cè)芯片封裝10、一鏡頭座20及一鏡頭30。鏡頭30包括一透鏡組302及一鏡筒304,透鏡組302裝設(shè)于鏡筒304內(nèi)。鏡頭座20系一端封閉的中空體,影像感測(cè)芯片封裝10安裝于鏡頭座20底部,鏡頭30通過(guò)螺紋連接等裝設(shè)于鏡頭座20內(nèi),且對(duì)準(zhǔn)影像感測(cè)芯片封裝10。組裝時(shí),首先將影像感測(cè)芯片封裝10安裝于鏡頭座20內(nèi),數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系將鏡頭30安裝于上述裝有影像感測(cè)芯片封裝10的鏡頭座20內(nèi),然后調(diào)焦及測(cè)試整個(gè)數(shù)碼相機(jī)模組的各項(xiàng)性能,調(diào)焦即調(diào)整鏡頭30與影像感測(cè)芯片封裝10間的距離。
      一種現(xiàn)有數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)包括一電性測(cè)試設(shè)備、一調(diào)焦設(shè)備及一影像測(cè)試設(shè)備,其方法系首先將數(shù)碼相機(jī)模組放置于電性測(cè)試設(shè)備進(jìn)行電性測(cè)試,然后進(jìn)入調(diào)焦設(shè)備調(diào)焦,接著進(jìn)入影像測(cè)試設(shè)備進(jìn)行影像測(cè)試,最后手動(dòng)將數(shù)碼相機(jī)模組卸下。
      另一種現(xiàn)有數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)包括一機(jī)器,其內(nèi)設(shè)置有不同程序以完成調(diào)焦及測(cè)試的所有功能,進(jìn)行調(diào)焦與測(cè)試的動(dòng)作,影像清晰達(dá)到要求后手動(dòng)將數(shù)碼相機(jī)模組卸下。上述兩種制程中將數(shù)碼相機(jī)模組放上及卸下設(shè)備的動(dòng)作均采用人工手動(dòng)方式。
      由于上述數(shù)碼相機(jī)模組的制程采用手動(dòng)方式上料及下料,速度較慢,降低了整個(gè)制程的速度,使生產(chǎn)效率大幅降低,提高了生產(chǎn)成本。尤其是第一種制程需要多次上料及下料,問(wèn)題更為嚴(yán)重;第二種制程雖然手動(dòng)上料及下料次數(shù)較少,但需要多次轉(zhuǎn)換功能參數(shù),同樣浪費(fèi)時(shí)閑、降低生產(chǎn)效率。

      發(fā)明內(nèi)容
      鑒于以上內(nèi)容,提供一種生產(chǎn)效率高、生產(chǎn)成本較低的數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)實(shí)為必要。
      還有必要提供一種生產(chǎn)效率高、生產(chǎn)成本較低的數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)及方法。
      一種數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng),用于對(duì)包括鏡頭及具影像感測(cè)封裝的鏡頭座的數(shù)碼相機(jī)模組進(jìn)行組裝與測(cè)試,其包括一前測(cè)試裝置、一安裝裝置、一調(diào)焦裝置、一影像測(cè)試裝置、一傳輸裝置及一總處理器。前測(cè)試裝置及影像測(cè)試裝置均連接至該總處理器。該前測(cè)試裝置對(duì)設(shè)于鏡頭座內(nèi)的影像感測(cè)芯片封裝進(jìn)行前測(cè)試;該安裝裝置將鏡頭安裝至裝設(shè)有影像感測(cè)芯片封裝的鏡頭座;該調(diào)焦裝置調(diào)整鏡頭與鏡頭座內(nèi)的影像感測(cè)芯片封裝間的距離;該影像測(cè)試裝置對(duì)數(shù)碼相機(jī)模組進(jìn)行影像測(cè)試;該傳輸裝置將工件自動(dòng)傳輸于上述各裝置之間;該總處理器對(duì)各測(cè)試裝置的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行處理、記錄。
      一種數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試方法,應(yīng)用于組裝與測(cè)試包括鏡頭及具影像感測(cè)封裝的鏡頭座的數(shù)碼相機(jī)模組,其包括以下步驟提供一上述數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng);傳輸裝置將裝設(shè)有影像感測(cè)芯片封裝的鏡頭座自動(dòng)傳輸至前測(cè)試裝置;前測(cè)試裝置對(duì)鏡頭座內(nèi)的影像感測(cè)芯片封裝進(jìn)行前測(cè)試,并將測(cè)試結(jié)果傳送至總處理器,傳輸裝置將鏡頭座自動(dòng)傳輸至鏡頭安裝裝置;鏡頭安裝裝置將鏡頭安裝至鏡頭座內(nèi)組成數(shù)碼相機(jī)模組,傳輸裝置將該數(shù)碼相機(jī)模組自動(dòng)傳輸至調(diào)焦裝置;調(diào)焦對(duì)數(shù)碼相機(jī)模組調(diào)焦,傳輸裝置將數(shù)碼相機(jī)模組自動(dòng)傳輸至影像測(cè)試裝置;影像測(cè)試裝置對(duì)數(shù)碼相機(jī)模組進(jìn)行影像測(cè)試,并將測(cè)試結(jié)果傳送至總處理器;根據(jù)總處理器記錄的測(cè)試結(jié)果將數(shù)碼相機(jī)模組分類(lèi),傳輸裝置將數(shù)碼相機(jī)模組卸下。
      相對(duì)現(xiàn)有技術(shù),所述數(shù)碼相機(jī)模組的制程采用自動(dòng)傳輸實(shí)現(xiàn)上料及卸料,并可根據(jù)總處理器的數(shù)據(jù)自動(dòng)將良品與不良品以及各類(lèi)不良品分別分開(kāi),其自動(dòng)過(guò)程極大地提高了生產(chǎn)效率,降低了生產(chǎn)成本。

      圖1是數(shù)碼相機(jī)模組的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2是本發(fā)明較佳實(shí)施例數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)示意圖。
      具體實(shí)施例本發(fā)明該數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)及方法用于將一鏡頭30與一裝設(shè)有影像感測(cè)芯片封裝10的鏡頭座20組裝成一數(shù)碼相機(jī)模組100并測(cè)試。
      請(qǐng)參閱圖2,該數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)包括一前測(cè)試裝置50、一安裝裝置60、一調(diào)焦裝置62、一影像測(cè)試裝置70、一傳輸裝置80及一總處理器90。該傳輸裝置80用于將工件自動(dòng)傳輸于上述各裝置之間,上述各裝置均連接至總處理器90。
      該前測(cè)試裝置50包括一電性測(cè)試裝置502及一影像暗點(diǎn)測(cè)試裝置504。該電性測(cè)試裝置502對(duì)鏡頭座20內(nèi)的影像感測(cè)芯片封裝10進(jìn)行電性測(cè)試。影像暗點(diǎn)測(cè)試裝置504對(duì)鏡頭座20內(nèi)的影像感測(cè)芯片封裝10進(jìn)行暗點(diǎn)測(cè)試。
      該安裝裝置60將鏡頭30安裝至所述鏡頭座20內(nèi)。該調(diào)焦裝置62調(diào)整鏡頭30與鏡頭座20內(nèi)的影像感測(cè)芯片封裝10間的距離,使該數(shù)碼相機(jī)模組100能成清晰的影像。
      該影像測(cè)試裝置70包括一明亮測(cè)試裝置702、一影像變形測(cè)試裝置704、一影像顏色測(cè)試裝置706及一影像缺點(diǎn)測(cè)試裝置708。該四測(cè)試裝置702、704、706、708分別對(duì)組裝完畢的數(shù)碼相機(jī)模組100進(jìn)行影像明亮測(cè)試、變形測(cè)試、顏色測(cè)試及缺點(diǎn)測(cè)試。
      該傳輸裝置80為自動(dòng)傳輸裝置,其包括承載托盤(pán)802,電性測(cè)試裝置502、影像暗點(diǎn)測(cè)試裝置504、明亮測(cè)試裝置702、影像變形測(cè)試裝置704、影像顏色測(cè)試裝置706及影像缺點(diǎn)測(cè)試裝置708各包括一測(cè)試板(圖未示)、一測(cè)試頭(圖未示)及一處理器(圖未示)。組裝及測(cè)試過(guò)程中,鏡頭座20放置于一制程用托盤(pán)上,每一鏡頭座20的制程用托盤(pán)上貼附有一用于監(jiān)控的條碼。該傳輸裝置80可通過(guò)馬達(dá)及一機(jī)械手實(shí)現(xiàn)自動(dòng)傳輸動(dòng)作。
      數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試方法包括以下步驟將裝設(shè)有影像感測(cè)芯片封裝10的鏡頭座20傳送至傳輸裝置80的承載托盤(pán)802上,該傳輸裝置80將鏡頭座20從承載托盤(pán)802傳輸至一制程用托盤(pán),然后傳輸裝置80自動(dòng)傳輸上料,其將該鏡頭座20傳輸至前測(cè)試裝置50對(duì)鏡頭座20內(nèi)的影像感測(cè)芯片封裝10進(jìn)行前測(cè)試。
      于該前測(cè)試過(guò)程中,鏡頭座20及制程用托盤(pán)先通過(guò)傳輸裝置80傳輸至電性測(cè)試裝置502。
      電性測(cè)試裝置502的測(cè)試板對(duì)鏡頭座20進(jìn)行電性測(cè)試,其測(cè)試頭接收鏡頭座20的測(cè)試信號(hào)并傳至其處理器,電性測(cè)試裝置的處理器對(duì)測(cè)試信號(hào)進(jìn)行處理,并將處理的測(cè)試結(jié)果傳送至總處理器90。該測(cè)試結(jié)果與制程用托盤(pán)上的條碼一一對(duì)應(yīng),以此來(lái)記錄各鏡頭座20及后續(xù)對(duì)應(yīng)數(shù)碼相機(jī)模組100的各項(xiàng)測(cè)試結(jié)果。接著傳輸裝置80將鏡頭座20與制程用托盤(pán)一起傳輸至影像暗點(diǎn)測(cè)試裝置504。
      影像暗點(diǎn)測(cè)試裝置504的測(cè)試板對(duì)鏡頭座20進(jìn)行影像暗點(diǎn)測(cè)試,其測(cè)試頭接收鏡頭的測(cè)試信號(hào)并傳至其處理器,影像暗點(diǎn)測(cè)試裝置504的處理器對(duì)測(cè)試信號(hào)進(jìn)行處理,并將處理的測(cè)試結(jié)果傳送至總處理器90。接著傳輸裝置80將鏡頭座20與制程用托盤(pán)一起傳輸至鏡頭安裝裝置60。
      鏡頭安裝裝置60將鏡頭30安裝于鏡頭座20內(nèi)組成數(shù)碼相機(jī)模組100。類(lèi)似地,接下來(lái)依次將此數(shù)碼相機(jī)模組100傳輸至調(diào)焦裝置62及影像測(cè)試裝置70,對(duì)其進(jìn)行調(diào)焦及影像測(cè)試,并將測(cè)試結(jié)果傳送至總處理器90,在此不再贅敘。
      在數(shù)碼相機(jī)模組100經(jīng)過(guò)影像測(cè)試后,自動(dòng)傳輸裝置80將其傳輸至承載托盤(pán)802。由于總處理器90中的每一組測(cè)試結(jié)果對(duì)應(yīng)一條碼,故根據(jù)總處理器90中記錄的測(cè)試結(jié)果,可將與數(shù)碼相機(jī)模組80上的條碼對(duì)應(yīng)的數(shù)碼相機(jī)模組分為良品及不良品,將良品卸貨,并根據(jù)不良品的不同的測(cè)試結(jié)果而分為不同的不合格類(lèi)別,將各類(lèi)分開(kāi)并卸貨。
      上述過(guò)程中,若于前面的制程中產(chǎn)生了不良品,則根據(jù)總處理器90中記錄的測(cè)試結(jié)果,后續(xù)的各測(cè)試及組裝制程皆不對(duì)該產(chǎn)品執(zhí)行以免增加無(wú)效率的時(shí)間。另外,總處理器90中的測(cè)試結(jié)果可提供良品日后產(chǎn)品追溯的依據(jù)。
      可以理解,不良品也可于測(cè)試及組裝過(guò)程中實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)實(shí)時(shí)卸下,不進(jìn)入后續(xù)制程;性測(cè)試裝置502、影像暗點(diǎn)測(cè)試裝置504、明亮測(cè)試裝置702、影像變形測(cè)試裝置704、影像顏色測(cè)試裝置706及影像缺點(diǎn)測(cè)試裝置708均可不包括處理器,而將測(cè)試信號(hào)傳送至總處理器90集中處理。
      權(quán)利要求
      1.一種數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng),用于對(duì)包括鏡頭及具影像感測(cè)封裝的鏡頭座的數(shù)碼相機(jī)模組進(jìn)行組裝與測(cè)試,其包括前測(cè)試裝置、安裝裝置、調(diào)焦裝置及影像測(cè)試裝置,該前測(cè)試裝置,對(duì)設(shè)于鏡頭座內(nèi)的影像感測(cè)芯片封裝進(jìn)行前測(cè)試,安裝裝置將鏡頭安裝至裝設(shè)有影像感測(cè)芯片封裝的鏡頭座,調(diào)焦裝置調(diào)整鏡頭與鏡頭座內(nèi)的影像感測(cè)芯片封裝間的距離,影像測(cè)試裝置對(duì)數(shù)碼相機(jī)模組進(jìn)行影像測(cè)試,其特征在于該數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)還包括傳輸裝置和總處理器,傳輸裝置將工件自動(dòng)傳輸于上述各裝置之間;總處理器對(duì)各測(cè)試裝置的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行處理、記錄,前測(cè)試裝置及影像測(cè)試裝置均連接至該總處理器。
      2.如權(quán)利要求1所述的數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng),其特征在于該前測(cè)試裝置包括一電性測(cè)試裝置及一影像暗點(diǎn)測(cè)試裝置,該影像測(cè)試裝置包括一明亮測(cè)試裝置、一影像變形測(cè)試裝置、一影像顏色測(cè)試裝置及一影像缺點(diǎn)測(cè)試裝置。
      3.如權(quán)利要求2所述的數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng),其特征在于該傳輸裝置包括承載托盤(pán),各測(cè)試裝置均包括一測(cè)試板及一測(cè)試頭。
      4.如權(quán)利要求3所述的數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng),其特征在于各測(cè)試裝置還包括一處理器。
      5.如權(quán)利要求1所述的數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng),其特征在于每一鏡頭座放置于一制程用托盤(pán)上,該每一鏡頭座的托盤(pán)上皆貼附一條碼,總處理器的測(cè)試結(jié)果與各條碼一一對(duì)應(yīng)。
      6.一種數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試方法,應(yīng)用于組裝與測(cè)試包括鏡頭及具影像感測(cè)封裝的鏡頭座的數(shù)碼相機(jī)模組,其包括以下步驟提供一數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng),該數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)包括一前測(cè)試裝置、一安裝裝置、一調(diào)焦裝置、一影像測(cè)試裝置、一傳輸裝置及一總處理器,前測(cè)試裝置及影像測(cè)試裝置均連接至該總處理器;傳輸裝置將裝設(shè)有影像感測(cè)芯片封裝的鏡頭座自動(dòng)傳輸至前測(cè)試裝置;前測(cè)試裝置對(duì)鏡頭座內(nèi)的影像感測(cè)芯片封裝進(jìn)行前測(cè)試,并將測(cè)試結(jié)果傳送至總處理器,傳輸裝置將鏡頭座自動(dòng)傳輸至鏡頭安裝裝置;鏡頭安裝裝置將鏡頭安裝至鏡頭座內(nèi)組成數(shù)碼相機(jī)模組,傳輸裝置將該數(shù)碼相機(jī)模組自動(dòng)傳輸至調(diào)焦裝置;調(diào)焦對(duì)數(shù)碼相機(jī)模組調(diào)焦,傳輸裝置將數(shù)碼相機(jī)模組自動(dòng)傳輸至影像測(cè)試裝置;影像測(cè)試裝置對(duì)數(shù)碼相機(jī)模組進(jìn)行影像測(cè)試,并將測(cè)試結(jié)果傳送至總處理器;根據(jù)總處理器記錄的測(cè)試結(jié)果將數(shù)碼相機(jī)模組分類(lèi),傳輸裝置將數(shù)碼相機(jī)模組卸下。
      7.如權(quán)利要求6所述的數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試方法,其特征在于該前測(cè)試裝置包括一電性測(cè)試裝置及一影像暗點(diǎn)測(cè)試裝置,該影像測(cè)試裝置包括一明亮測(cè)試裝置、一影像變形測(cè)試裝置、一影像顏色測(cè)試裝置及一影像缺點(diǎn)測(cè)試裝置。
      8.如權(quán)利要求7所述的數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試方法,其特征在于該傳輸裝置包括承載托盤(pán),各測(cè)試裝置均包括一測(cè)試板及一測(cè)試頭。
      9.如權(quán)利要求8所述的數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試方法,其特征在于各測(cè)試裝置還包括一處理器,每一處理器與總處理器相連。
      10.如權(quán)利要求8所述的數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試方法,其特征在于每一鏡頭座放置于一制程用托盤(pán)上,每一制程用托盤(pán)上皆貼附一條碼,卸貨時(shí)根據(jù)各條碼對(duì)應(yīng)的總處理器內(nèi)的測(cè)試結(jié)果,將數(shù)碼相機(jī)模組分為良品與不良品,并將不良品按不良類(lèi)別分開(kāi)。
      11.如權(quán)利要求10所述的數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試方法,其特征在于該傳輸裝置將鏡頭座從承載托盤(pán)上傳輸至前測(cè)試裝置的制程用托盤(pán),將鏡頭座或數(shù)碼相機(jī)模組與制程用托盤(pán)一起傳輸。
      12.如權(quán)利要求8所述的數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試方法,其特征在于該各測(cè)試裝置的測(cè)試板對(duì)鏡頭座或數(shù)碼相機(jī)模組進(jìn)行測(cè)試,其測(cè)試頭接收該測(cè)試信號(hào)并傳至總處理器,再由總處理器對(duì)測(cè)試信號(hào)進(jìn)行處理。
      13.如權(quán)利要求9所述的數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試方法,其特征在于該各測(cè)試裝置的測(cè)試板對(duì)鏡頭座或數(shù)碼相機(jī)模組進(jìn)行測(cè)試,其測(cè)試頭接收該測(cè)試信號(hào)并傳至其處理器,再由各處理器將測(cè)試信號(hào)進(jìn)行處理后,將處理的測(cè)試結(jié)果傳送至總處理器。
      全文摘要
      本發(fā)明公開(kāi)一種數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)及方法,其用于組裝鏡頭及裝設(shè)有影像感測(cè)芯片封裝的鏡頭座并進(jìn)行測(cè)試。該數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)包括前測(cè)試裝置、安裝裝置、調(diào)焦裝置、影像測(cè)試裝置、傳輸裝置及總處理器。該數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試方法包括以下步驟提供上述組裝與測(cè)試系統(tǒng);傳輸裝置將裝設(shè)有影像感測(cè)芯片封裝的鏡頭座自動(dòng)傳輸所述各裝置,各裝置分別對(duì)影像感測(cè)芯片封裝進(jìn)行前測(cè)試、安裝鏡頭、調(diào)焦、對(duì)數(shù)碼相機(jī)模組進(jìn)行測(cè)試,并將測(cè)試結(jié)果傳送至總處理器;傳輸裝置將數(shù)碼相機(jī)模組自動(dòng)卸下。該數(shù)碼相機(jī)模組的組裝與測(cè)試系統(tǒng)及方法采用自動(dòng)傳輸裝置,并能自動(dòng)將產(chǎn)品分類(lèi),極大地提高了生產(chǎn)效率。
      文檔編號(hào)H04N5/225GK1988680SQ20051012118
      公開(kāi)日2007年6月27日 申請(qǐng)日期2005年12月23日 優(yōu)先權(quán)日2005年12月23日
      發(fā)明者魏史文, 吳英政, 王淵博 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 揚(yáng)信科技股份有限公司
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