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      圖像穩(wěn)定器的制造方法

      文檔序號:7965445閱讀:525來源:國知局
      專利名稱:圖像穩(wěn)定器的制造方法
      技術領域
      本發(fā)明涉及一種圖像穩(wěn)定器的制造方法,所述圖像穩(wěn)定器能夠在發(fā)生相機振動時,通過在與透鏡系統(tǒng)光軸垂直的方向上移動校正透鏡從而使得校正透鏡的光軸與透鏡系統(tǒng)的光軸重合,以使因相機振動等原因造成模糊的圖像穩(wěn)定。更具體地講,本發(fā)明涉及一種圖像穩(wěn)定器的制造方法,其中可適當?shù)卦O置并固定構成移動校正透鏡的驅(qū)動器的一部分的線圈或磁體。
      背景技術
      近年,諸如數(shù)碼相機和攝像機的成像設備的性能已經(jīng)得到了巨大的改善,并且任何人都可能容易地拍攝高圖像品質(zhì)和高效率的靜態(tài)照片和活動圖像。這樣的成像設備改進的效率歸功于透鏡、CCD(電荷-耦合器件)、即固態(tài)圖像攝取設備和圖像處理電路的良好性能。
      然而,即使可使透鏡、CCD等性能更好,但是如果拍攝者持相機(成像設備)的手發(fā)生抖動,則高分辨率圖像也會發(fā)生模糊,導致拍攝圖像將不可避免地模糊。為解決這一問題,一部分相對昂貴些的相機配置有能夠校正相機振動和拍攝中類似情況引起的模糊的圖像穩(wěn)定器。然而,需要這類圖像穩(wěn)定器的相機并不是專業(yè)水平的相機,而且可以理解圖像穩(wěn)定器對許多具有較少拍攝經(jīng)驗的業(yè)余拍攝者的消費型相機是必要的。
      一般地,對更小更輕相機的需求是強烈的并且多數(shù)拍攝者喜歡重量輕、易于攜帶的相機。然而,由于現(xiàn)有技術的圖像穩(wěn)定器體積相對較大,當這樣的大圖像穩(wěn)定器嵌在相機體上時,整個相機將不可避免地變得體積巨大,這一點與使相機更小更輕的要求相悖。此外,現(xiàn)有技術的圖像穩(wěn)定器需要大量部件,并造成相機的成本隨部件數(shù)量的增多而提高的問題。
      例如,引用的專利參考1描述了這種現(xiàn)有技術的圖像穩(wěn)定器。所引用的專利參考1描述了如視頻電影等光學設備使用的圖像穩(wěn)定器和使用這種圖像穩(wěn)定器的透鏡的透鏡筒。在該引用專利參考1(下文稱為“第一現(xiàn)有技術例”)中描述的圖像穩(wěn)定器特征如下。在能夠通過在垂直平面內(nèi)相對于光軸移動拍攝透鏡的一部分而校正模糊圖像的圖像穩(wěn)定器中,該圖像穩(wěn)定器包括用于支撐校正透鏡的透鏡支撐架、用于引導所述透鏡支撐架在垂直平面內(nèi)相對于光軸朝第一方向移動的第一引導機構和用于引導所述透鏡支撐架朝與所述第一方向垂直的第二方向移動的第二引導機構。所述圖像穩(wěn)定器包括用于使所述透鏡支撐架朝所述第一方向移動的第一驅(qū)動器、用于使所述透鏡支撐架朝所述第二方向移動的第二驅(qū)動器和用于檢測校正透鏡位置的位置檢測器。所述第一引導機構和第二驅(qū)動器的一部分或者所述第二引導機構和第一驅(qū)動器的一部分設置在從光軸方向看相互重疊的位置。
      根據(jù)具有在所引用專利參考1中描述的上述構造的圖像穩(wěn)定器,由于用于移動所述校正透鏡的引導軸和所述用于驅(qū)動所述引導軸的線圈或磁體設置在,當從所述光軸方向觀察俯仰移動裝置(pitch shifter)和偏轉驅(qū)動器(yawdriver)或偏轉移動裝置和俯仰驅(qū)動器時,相互重疊的位置,可以獲得例如減少圖像穩(wěn)定器的寬度和高度的效果。
      引用專利參考2,例如,描述了現(xiàn)有技術圖像穩(wěn)定器的第二實施例。所述引用專利參考2描述了如視頻電影等光學設備使用的圖像穩(wěn)定器和使用這種圖像穩(wěn)定器的透鏡的透鏡筒。在該引用專利參考2(下文稱為“第二現(xiàn)有技術例”)中描述的所述圖像穩(wěn)定器特征如下。在能夠通過在垂直平面內(nèi)相對于光軸移動拍攝透鏡的一部分而校正模糊圖像的圖像穩(wěn)定器中,該圖像穩(wěn)定器包括用于支撐校正透鏡的透鏡支撐架,并且包括用于限制校正透鏡移動范圍的第一限制部分、用于引導所述透鏡支撐架在垂直平面內(nèi)相對于光軸朝第一方向移動的第一引導機構和用于引導所述透鏡支撐架朝與所述第一方向垂直的第二方向移動的第二引導機構。所述圖像穩(wěn)定器還包括用于使所述透鏡支撐架朝所述第一方向移動的第一驅(qū)動器、用于使所述透鏡支撐架朝所述第二方向移動的第二驅(qū)動器、用于檢測校正透鏡位置的位置檢測器和具有與所述第一限制部分接合的第二限制部分以限制校正透鏡移動范圍的固定機構。所述第一和第二限制部分設置在所述第一和第二驅(qū)動器中并且大致同心。
      根據(jù)具有在引用專利參考2中描述的上述構造的圖像穩(wěn)定器,由于可動限制單元設置校正透鏡和驅(qū)動器之間、相對于所述光軸的幾乎同心的圓上,且與所述限制單元接合的非接合單元設置在固定架上以限制所述校正透鏡的移動范圍,因此所述校正透鏡的可動范圍可被限制在可動部分內(nèi)。這樣,可實現(xiàn)例如構造小巧圖像穩(wěn)定器的效果。
      而且,例如,所引用的專利參考3描述了現(xiàn)有技術圖像穩(wěn)定器的第三實施例。所引用的專利參考3描述了裝配在相機等上的振動隔離器,所述振動隔離器用于檢測相對低頻率的振動和通過把檢測到的振動用作模糊圖像阻止信息而阻止模糊圖像。在該引用的專利參考3(下文稱為“第三現(xiàn)有技術例”)中描述的振動隔離器包括設置在用于支撐透鏡組的透鏡筒中并偏離所述透鏡組的光軸的校正光學機構、用于檢測施加在所述透鏡筒上的振動的振動檢測器和用于基于來自所述振動檢測器的信號驅(qū)動所述校正光學機構而隔離振動的振動隔離控制器。所述校正光學機構包括校正透鏡;用于固定所述校正透鏡的固定架;用于固定所述固定架從而使所述固定架可在不同于所述透鏡組的光軸方向的第一方向移動的第一支撐架;和用于支撐所述第一支撐架從而使所述第一支撐架可在不同于所述透鏡組的光軸方向和所述第一方向的第二方向移動并固定到所述透鏡的透鏡筒的第二支撐架。所述校正光學機構進一步包括用于在所述第一和第二方向移動所述第一和第二支撐架的第一和第二線圈、由與所述第一和第二線圈相對設置的第一和第二磁場產(chǎn)生單元形成的第一和第二驅(qū)動器、以及用于檢測其中固定架和所述第一支撐架在第一和第二方向上的移動量的第一和第二位置檢測器。至少一個所述的第一和第二磁場產(chǎn)生單元和所述的第一和第二位置檢測器設置在固定到所述透鏡的透鏡筒上并包括所述第二支撐架的固定單元上。
      根據(jù)具有在所引用專利參考3中描述的上述配置的振動隔離器,可實現(xiàn)這樣的效果,即所述振動隔離器可響應高至高頻振動的振動而不增加成本也不需要大空間。
      日本未審查專利,公開號2000-258813[引用的專利文獻2]日本未審查專利,公開號2003-270695[引用的專利文獻3]日本未審查專利,公開號H3-186823然而,所述第一到第三現(xiàn)有技術例包括用于檢測所述校正透鏡位置的位置傳感器,上述情形的任何一種的位置檢測器包括由發(fā)光二極管(LED)組成的發(fā)光器件和由位置敏感二極管(PSD)組成的光吸收器件。在所述第三個現(xiàn)有技術例的情況中,發(fā)光器件連接在一個定子上,并且光吸收器件連接在第二支撐架上,可依據(jù)發(fā)光器件和所述光吸收器件關聯(lián)地檢測固定架在第一傾斜方向上相對于第一支撐架的位置。
      這種情況下,所述發(fā)光器件和所述光吸收器件將在它們連接到所述定子和所述第二支撐架之后被適當?shù)囟ㄎ弧S捎诎l(fā)光器件和光吸收器件的中心部分不能可見地確認,所以難以將所述發(fā)光器件和光吸收器件適當?shù)囟ㄎ唬⑶耶a(chǎn)生了制造所需的工作效率不高的問題。而且,由于所述位置檢測器需要例如LED和PSD等兩種電子器件,所以部件數(shù)量增加,不經(jīng)濟。另外,還存在除位置檢測以外,整個設備的控制復雜化的問題。

      發(fā)明內(nèi)容
      在根據(jù)現(xiàn)有技術的圖像穩(wěn)定器的制造方法中,由于位置傳感器由所述LED(發(fā)光二極管)和PSD(位置敏感二極管)構成,并且難以適當定位所述LED和PSD,制造過程所需要的工作效率不高。
      根據(jù)本發(fā)明的制造圖像穩(wěn)定器的方法是一種制造包括具有可相對移動的線圈和磁體的驅(qū)動器的圖像穩(wěn)定器的方法。在所述驅(qū)動器中,所述線圈和所述磁體的一個固定到移動架上,另一個固定到可移動地支撐所述移動架的支撐架上,支撐在所述移動架上的校正透鏡可通過驅(qū)動器在與所述透鏡系統(tǒng)光軸垂直的第一方向以及在與所述第一方向垂直并且也與所述光軸垂直的第二方向上移動,所述校正透鏡的光軸與所述透鏡系統(tǒng)的光軸匹配,從而模糊圖像可被校正。根據(jù)本發(fā)明,一種制造圖像穩(wěn)定器的方法包括通過利用固定到支撐線圈的線圈支撐元件的第一霍爾元件來檢測磁體的磁力、從而檢測得到與校正透鏡的第一方向相關的位置信息的步驟,以及通過利用固定到所述線圈支撐元件的第二霍爾元件來檢測磁體的磁力、從而檢測得到與所述校正透鏡的第二方向相關的位置信息的步驟。
      該方法進一步包括以下各步驟將所述磁體和所述線圈支撐元件之一固定到所述移動架上;并且將所述磁體和所述線圈的另一個固定到支撐架上,該步驟在如下狀態(tài)下進行,即在所述第一和第二霍爾元件沿所述第一和第二方向移動,從而使所述第一和第二霍爾元件適當?shù)囟ㄎ辉谒鰞蓚€霍爾元件從所述磁體接收到的磁力作為參考值的位置處之后,使所述校正透鏡的光軸與所述透鏡系統(tǒng)的光軸匹配。
      根據(jù)本發(fā)明的制造圖像穩(wěn)定器的方法,由于所述霍爾元件用作位置檢測器,所以所述驅(qū)動器的磁體也可用作用于給所述霍爾元件提供必要信息的部件。因此,所述位置檢測器需要的部件數(shù)量可減少。而且,由于所述霍爾元件輸出的變化較大并且所述磁體和所述霍爾元件之間的位置關系可調(diào)整到大致線性變化的位置,能夠容易并且有效地對模糊圖像校正執(zhí)行高精度的控制。
      而且,按照制造圖像穩(wěn)定器的方法,由于在凸起部分附近的磁通量密度在平行于所述磁體等邊緣的方向上可保持近似均勻,所以當所述移動架朝第一方向移動時,所述第二霍爾元件的磁通量密度的變化可明顯地下降。同樣地,當所述移動架朝所述第二方向移動時,所述第一霍爾元件的磁通量密度的變化可明顯地下降。因此,所述第一和第二霍爾元件之間的相互干擾可明顯下降,并且可高精度地檢測所述位置。
      用于檢測在所述第一方向上移動的校正透鏡的第一霍爾元件、用于檢測在所述第二方向上移動的校正透鏡的第二霍爾元件、以及驅(qū)動器的線圈固定到所述移動架和所述支撐架之一上,并且所述磁體固定到所述移動架和所述支撐架的另一個上,從而所述移動架和所述支撐架相對定位。之后,所述兩個霍爾元件和所述磁體相對移動,從而所述兩個霍爾元件和所述磁體適當?shù)囟ㄎ辉谒鰞蓚€霍爾元件接收到的磁體的磁力作為參考值的位置上。然后,在那樣的狀態(tài)下,將所述兩個霍爾元件或所述磁體固定到所述移動架或所述支撐架上。因此,可容易而準確地進行所述兩個霍爾元件相對于所述磁體的定位,并且也可實現(xiàn)容易和準確地制造這類圖像穩(wěn)定器的制造方法。
      而且,由于在凸起部分附近的磁通量密度可在與所述磁體的邊緣平行的方向上保持近似均勻,所以當所述移動架沿所述第一方向移動時,第二霍爾元件的磁通量密度的變化可大大降低。進一步,當所述移動架在第二方向上移動時,第一霍爾元件磁通量的變化可大大降低。因此,第一和第二霍爾元件之間的相互干擾可明顯降低,并且可高精度地檢測所述位置。


      圖1示出了透鏡裝置的第一實施例的透視圖,其用于解釋根據(jù)本發(fā)明一實施例制造圖像穩(wěn)定器的方法,并從前側示出所述透鏡裝置;圖2為從后側示出圖1所示的所述透鏡裝置的透視圖;圖3為圖1所示的透鏡裝置的正視圖;圖4為圖1所示的透鏡裝置的后視圖;圖5為圖1所示透鏡裝置的左視圖;
      圖6為圖1所示透鏡裝置的右視圖;圖7為圖1所示透鏡裝置的平面圖;圖8為圖1所示透鏡裝置的底視圖;圖9為沿圖5所示透鏡裝置的M-M線的截面圖;圖10為沿圖3所示透鏡裝置的N-N線的截面圖;圖11為圖1所示透鏡裝置的分解透視圖;圖12為用于解釋圖1所示透鏡裝置的透鏡系統(tǒng)的解釋視圖;圖13為示出成像裝置的第一實施例的分解透視圖,其用于解釋根據(jù)本發(fā)明一實施例制造圖像穩(wěn)定器的方法,并且顯示出將上述成像裝置用于數(shù)碼相機的情形;圖14為示出成像裝置的第一實施例的分解透視圖,其用于解釋根據(jù)本發(fā)明一實施例制造圖像穩(wěn)定器的方法,并且從前側顯示處于物鏡被鏡頭蓋遮閉的狀態(tài)下的數(shù)碼相機;圖15為示出成像裝置的第一實施例的分解透視圖,其用于解釋根據(jù)本發(fā)明一實施例制造圖像穩(wěn)定器的方法,并且從前側顯示處于因打開鏡頭蓋而露出物鏡的狀態(tài)下的數(shù)碼相機;圖16為圖14所示的數(shù)碼相機的后視圖;圖17為圖14所示的數(shù)碼相機的平面圖;圖18為表示成像裝置的第一實施例的分解透視圖,其用于解釋根據(jù)本發(fā)明一實施例制造圖像模糊校正裝置的方法,并且從前側顯示圖像穩(wěn)定器;圖19為從后側顯示圖18所示的圖像穩(wěn)定器的透視圖;圖20為圖18所示的圖像穩(wěn)定器的平面圖;圖21為圖18所示的圖像穩(wěn)定器的正視圖;圖22為圖18所示的圖像穩(wěn)定器的后視圖;圖23為圖18所示的圖像穩(wěn)定器的分解透視圖;圖24為圖18所示的圖像穩(wěn)定器的第一移動架的透視圖;圖25為圖18所示圖像穩(wěn)定器的線圈組合體、磁體和磁軛的分解透視圖;圖26為圖18所示圖像穩(wěn)定器的線圈組合體、磁體和磁軛的放大平面圖;圖27為圖18所示圖像穩(wěn)定器的線圈組合體、磁體和磁軛的放大正視圖;圖28為根據(jù)本發(fā)明制造的圖像穩(wěn)定器的線圈組合體、磁體和磁軛的第二實施例的平面圖;
      圖29為根據(jù)本發(fā)明制造的圖像穩(wěn)定器的線圈組合體、磁體和磁軛的第三實施例的平面圖;圖30為圖29所示的線圈組合體、磁體和磁軛的分解透視圖;圖31為用于解釋成像設備的控制原理的方框圖,其用于說明根據(jù)本發(fā)明一實施例制造圖像穩(wěn)定器的方法;圖32為示出成像設備的系統(tǒng)配置的第一實施例的方框圖,其用于說明根據(jù)本發(fā)明一實施例制造圖像穩(wěn)定器的方法;圖33為示出成像設備的系統(tǒng)配置的第二實施例的方框圖,其用于說明根據(jù)本發(fā)明一實施例制造圖像穩(wěn)定器的方法;圖34為示出移動磁體系統(tǒng)圖像穩(wěn)定器的透視圖,其用于解釋根據(jù)本發(fā)明一實施例制造圖像穩(wěn)定器的方法;圖35為示出圖34所示的圖像穩(wěn)定器的分解透視圖;圖36A和36B為示出圖34所示圖像穩(wěn)定器的視圖,其中圖36A為其平面圖,圖36B為其底視圖;圖37A、37B、37C和37D為示出圖34所示圖像穩(wěn)定器的視圖,其中圖37A、圖37B、圖37C和圖37D分別為其正視圖、后視圖、右視圖和左視圖;圖38為顯示移動霍爾元件系統(tǒng)圖像穩(wěn)定器的透視圖,其用于解釋根據(jù)本發(fā)明一實施例制造圖像穩(wěn)定器的方法;圖39為顯示圖38所示的圖像穩(wěn)定器的分解透視圖;圖40A和圖40B為顯示圖38所示圖像穩(wěn)定器的視圖,其中,圖40A和40B分別是其平面圖和底視圖;圖41A、41B、41C和41D為顯示圖38所示的圖像穩(wěn)定器的視圖,其中圖41A、圖41B、圖41C和圖41D分別為正視圖、后視圖、右視圖和左視圖;圖42A、42B、42C和42D為用于解釋磁體、磁軛和霍爾元件之間關系的視圖,其用于解釋根據(jù)本發(fā)明一實施例制造圖像穩(wěn)定器的方法,其中圖42A為磁軛和磁體的平面圖,圖42B為其縱向橫截面圖,圖42C為示出磁軛、磁體、霍爾元件和線圈之間關系的解釋視圖,圖42D為示出霍爾元件和線圈之間關系的解釋視圖;圖43A和43B為表示當磁通量密度由圖42C所示的霍爾元件檢測時獲取的結果的表格,其中圖43A表示在磁軛具有突起部分的狀態(tài)下,霍爾元件測量磁通量密度所獲取的數(shù)據(jù);圖43B表示在磁軛沒有突起部分的狀態(tài)下,霍爾元件測量磁通量密度所獲取的數(shù)據(jù);圖44A和44B為表示當由圖43A和43B所示的霍爾元件檢測磁通量密度時獲取的結果的表格,其中圖44A為表示在磁軛具有突起部分的狀態(tài)下,霍爾元件測量磁通量密度所獲取的數(shù)據(jù);圖44B為表示在磁軛沒有突起部分的狀態(tài)下,霍爾元件測量磁通量密度所獲取的數(shù)據(jù);圖45為用于解釋由圖42C所示霍爾元件產(chǎn)生磁通量密度的狀態(tài)的解釋視圖;以及圖46A、46B和46C為解釋由圖45中所示霍爾元件檢測磁通量密度的狀態(tài)的視圖,其中圖46A為解釋不具有突起部分的短邊側面的視圖,圖46B為解釋具有突起部分的短邊側面的視圖,圖46C為解釋長邊側的視圖。
      具體實施例方式
      在下文將參照附圖描述本發(fā)明的實施例。圖1到圖46A、46B和46C為用于解釋本發(fā)明實施例的視圖。
      圖1為從前側顯示包括根據(jù)本發(fā)明制造的圖像穩(wěn)定器的透鏡裝置的第一實施例的透視圖。圖2為從后側顯示透鏡裝置的透視圖。圖3為其正視圖。圖4為其后圖。圖5為其左視圖。圖6為其右視圖。圖7為其平面圖。圖8為其底視圖。圖9為沿圖5中M-M線的截面圖。圖10為沿圖3中N-N線的截面圖。圖11為其分解透視圖。圖12為用于解釋透鏡系統(tǒng)的視圖。圖13為數(shù)碼相機的分解透視圖,其表示裝有包括根據(jù)本發(fā)明制造的圖像穩(wěn)定器的透鏡裝置的成像裝置的第一實施例。圖14為從前側顯示數(shù)碼相機的透視圖。圖15為示出處于因打開鏡頭蓋而露出物鏡的狀態(tài)的透視圖。圖16為其后視圖,而圖17為其平面圖。
      圖18為從前側顯示根據(jù)本發(fā)明制造的圖像穩(wěn)定器的第一實施例的透視圖。圖19為從后側顯示該圖像穩(wěn)定器的透視圖。圖20為其平面圖。圖21為其正視圖,圖22為其后視圖,而圖23為其分解透視圖。圖24為表示第一移動架的透視圖。圖25為表示線圈組合體、磁體和磁軛的分解透視圖。圖26為表示線圈組合體等的平面圖,圖27為其正視圖。圖28為表示線圈組合體、磁體和磁軛的第二實施例的平面圖。圖29為表示線圈組合體等的第三實施例的透視圖,圖30為其分解透視圖。圖31為用于解釋控制根據(jù)本發(fā)明制造的圖像穩(wěn)定器的原理的方框圖。圖32為表示配置有包括根據(jù)本發(fā)明制造的圖像穩(wěn)定器的透鏡裝置的成像裝置的系統(tǒng)配置的第一實施例的方框圖。圖33為表示配置有包括根據(jù)本發(fā)明制造的圖像穩(wěn)定器的透鏡裝置的成像裝置的系統(tǒng)配置的第二實施例的方框圖。
      圖34到圖46A、46B和46C分別為用于解釋磁體的磁力與作為檢測磁體磁力的位置檢測器的霍爾元件之間關系的視圖。在圖34到圖42A、42B、42C和42D中,為了便于理解,沒有示出構成驅(qū)動器的一部分的線圈。
      具體地講,圖34到圖37A、37B、37C和37D顯示了本發(fā)明被應用于包括移動磁體系統(tǒng)驅(qū)動器的圖像穩(wěn)定器的實施例,該移動磁體系統(tǒng)驅(qū)動器中,驅(qū)動器的線圈和兩個霍爾元件固定,而磁體可動。圖34為表示所述圖像穩(wěn)定器外觀的透視圖,圖35為其分解透視圖,圖36A為其平面圖,圖36B為其底視圖,圖37A、圖37B和圖37D分別為其正視圖、右視圖和左視圖。圖38到圖41A、41B、41C和41D表示了將本發(fā)明應用到配置有移動線圈(移動霍爾元件)系統(tǒng)驅(qū)動器的實施例,其中所述驅(qū)動器的磁體固定,而兩個霍爾元件是可動的。圖38為表示所述圖像穩(wěn)定器外觀透視圖,圖39為其分解透視圖,圖40A和圖40B分別是其平面圖和底視圖,圖41A、圖41B、圖41C和圖41D分別為其的正視圖、后視圖、右視圖和左視圖。
      圖42A、42B、42C和42D分別為用于說明磁體、磁軛和兩個霍爾元件等之間位置關系的視圖。圖42A為磁體和磁軛的平面圖,圖42B為其縱向橫截面圖,圖42C為解釋磁體、磁軛、線圈和所述兩個霍爾元件之間位置關系的解釋視圖,圖42D為在略去磁體和磁軛情況下解釋所述線圈和所述兩個霍爾元件之間位置關系的解釋視圖。圖43A和43B為表示所述霍爾元件在所述磁軛包括所述突起部分的情況下檢測的磁通量密度值和在所述磁軛不包括所述突起部分的情況下檢測的磁通量密度值之間差異的表格。圖43A為表示當磁軛具有突起部分時獲取的檢測數(shù)據(jù)的表格,圖43B為表示當磁軛沒有具有突起部分時獲取的檢測數(shù)據(jù)的表格。圖44A和44B為以曲線圖形式表示由圖43A和43B所示的檢測數(shù)據(jù)的解釋性圖表。圖45為表示所述霍爾元件相對于磁體的位置和所述磁通量密度之間關系的解釋視圖,圖46A、46B和46C為表示將圖45所示的關系用于所述具體位置的情況的解釋視圖。
      如圖1到11所示,表示包括根據(jù)本發(fā)明制造的圖像穩(wěn)定器的透鏡裝置的第一實施例的透鏡裝置1如下文所述進行構造。即,其中包括包括具有設置在同一光軸L上的多個透鏡的5組透鏡的透鏡系統(tǒng)2、用于固定該透鏡系統(tǒng)2的透鏡或支撐該透鏡系統(tǒng)2的透鏡從而使其可移動的透鏡筒3、表示固定到所述透鏡筒3的成像裝置的實例的CCD4((電荷耦合器件),即,固態(tài)成像器件)、安裝到所述透鏡筒3并且可穩(wěn)定所述透鏡系統(tǒng)2等的圖像的圖像穩(wěn)定器5。
      所述透鏡裝置1的透鏡系統(tǒng)2配置成由具有設置在同一光軸L上的五套透鏡組的五個透鏡組7到11組成的可伸縮透鏡。對于五個透鏡組7到11,其中,布置在頂端側的第一透鏡組7由作為與物體相對的物鏡的第一透鏡7A、設置在物鏡7A的與物體相反側的棱鏡7B和與棱鏡7B相對的第二透鏡7C構成。棱鏡7B為截面為直角等邊三角形的三棱柱。物鏡7A與成90度位置相鄰的兩個表面中的一個表面相對,并且第二透鏡7C與另一表面相對。
      在第一透鏡組7中,經(jīng)所述物鏡7A而從一表面進入所述棱鏡7B的光在相對光軸L傾斜45度的反射面上反射,因此其傳播方向彎曲90度。然后,該光從另一表面射出,經(jīng)過第二透鏡7C并沿光軸L向第二透鏡組8傳播。第二透鏡組8由第三透鏡8A和第四透鏡8B組合配置以便可在光軸L上移動。經(jīng)第二透鏡組8的光被引入第三透鏡組9。
      第三透鏡組9由固定到透鏡筒3的第五透鏡組成。第四透鏡組10由配置在第三透鏡組9后面的第六透鏡組成??烧{(diào)整經(jīng)過透鏡系統(tǒng)2的光量的可變光闌機構12設置在第四透鏡組10和第三透鏡組9之間。第四透鏡組10被構造成使光軸L能夠移動。第五透鏡組11設置在第四透鏡10組之后,其由第七透鏡11A和校正透鏡15組成,將在后面描述。第五透鏡組11中,第七透鏡11A固定到所述透鏡筒3并且校正透鏡15設置在所述第七透鏡11A之后從而其可移動。另外,CCD4設置在校正透鏡15后。
      第二透鏡組8和第四透鏡組10可分別并獨立地沿光軸L朝光軸方向移動。使用者可通過在預定方向上移動第二透鏡組8和第四透鏡組10進行變焦和聚焦。更具體地說,變焦調(diào)節(jié)時,使用者能夠通過將第二透鏡組8和第四透鏡組10從廣角(wide-angle)位置向遠攝(telephoto)位置移動來調(diào)整變焦比。調(diào)節(jié)聚焦時,使用者能夠通過使第四透鏡組10從廣角位置向遠攝位置移動來調(diào)整焦點位置。
      CCD 4固定到CCD適配器上并且經(jīng)該CCD適配器被連接到透鏡筒3上。濾光器14設置在CCD 4前面并且包括所述校正透鏡15的圖像穩(wěn)定器5設置在濾光器14和第七透鏡11A之間。將在下文詳細描述的圖像穩(wěn)定器5用于校正由于透鏡系統(tǒng)2的振動等在拍攝圖像上造成的模糊。在常規(guī)狀態(tài)下,校正透鏡15被以這樣的方式連接,即,使其光軸與透鏡系統(tǒng)2的光軸L匹配。當在CCD4的聚焦屏幕上由于相機機身的振動等原因而發(fā)生圖像模糊時,圖像穩(wěn)定器5能夠通過在與光軸L垂直的兩個方向(第一X方向和第二Y方向)上移動校正透鏡15來校正CCD 4的聚焦屏幕上的模糊圖像。
      支撐具有上述設置的透鏡系統(tǒng)2的透鏡筒3由可如圖1到11所示地在上或下方向進行組裝和連接的上透鏡筒16、中透鏡筒17和下透鏡筒18組成。上透鏡筒16由在前部的上部開口的開口窗19和具有在下表面開口的開口部分的殼體組成。第一透鏡組7的物鏡7A安裝到開口窗19上,并且物鏡7A通過固定到開口窗19前部的板21連接到上透鏡筒18。棱鏡7B和第二透鏡7C固定在上透鏡筒16中,棱鏡7B經(jīng)過擋光板22設置在物鏡7A的后部,第二透鏡7C設置在該棱鏡7B下表面。
      在上透鏡筒16內(nèi),第一可動支撐架23以這樣的方式支撐,即,能夠在與沿透鏡筒3的上下方向延伸的透鏡系統(tǒng)2的光軸L平行的上下方向移動。第一可動支撐架23具有鉆過上下方向的通孔,并且該第二透鏡組8固定到通孔上。第一可動支撐架23這樣配置,即,可在預定的范圍內(nèi)在透鏡系統(tǒng)2的光軸L的方向上由連接在上透鏡筒16的變焦驅(qū)動機構24前后移動。
      變焦驅(qū)動機構24由變焦電機25、作為變焦電機25轉軸的進給螺桿26和與該進給螺桿26嚙合的進給螺母等部件構成。變焦電機25固定到U形第一托架28上,并且朝一端突出的進給螺桿26的兩個端部由第一托架28支撐以便可自由地轉動。第一托架28被表示為緊固裝置的實例的多個固定螺栓29a(本實施例中有兩個固定螺栓29a)連接到上透鏡筒16上。
      在第一托架28連接到上透鏡筒16上的狀態(tài)下,進給螺母27可滑動地與進給螺桿26嚙合。進給螺母27由第一可動支撐架23支撐,從而可限制進給螺母27在螺紋槽延伸的方向上的移動。而且,第一可移動支撐架23具有穿其而過的兩個導軸31a和31b,從而可在與光軸L平行的方向上滑動。兩個導軸31a和31b的一端被上透鏡筒16保持,其另一端則被中透鏡筒17保持。
      因此,當驅(qū)動變焦電機25時,進給螺桿26的旋轉力經(jīng)過進給螺母27傳遞到第一可動支撐架23上。同時,進給螺母27在相對于在預定位置旋轉的進給螺桿26的軸向方向上移動。因此,第一可動支撐架23與進給螺母27聯(lián)動,從而第二透鏡組8可響應于變焦電機25的旋轉方向選擇地在靠近第一透鏡組7的方向或者在靠近第三透鏡組9的方向上移動。此時,由于支撐第二透鏡組8的第一可動支撐架23由兩個導軸31a和31b在與光軸L平行的方向上引導,所以第一可動支撐架23可在光軸L上高精度移動。
      設置在固定到中透鏡筒17的第三透鏡組9下方的可調(diào)光闌機構12由開口區(qū)域可自由調(diào)節(jié)的光闌單元32、用于可動地支撐該光闌單元32的光闌支撐盤33、用于打開和關閉光闌單元32的步進電機34組成。步進電機34通過電機底座35固定到中透鏡筒17上表面的側部。中透鏡筒17放置在下透鏡筒18上,上透鏡筒16則放置在中透鏡筒17上。這三個透鏡筒16、17和18在上下方向被穿孔通過透鏡筒16、17和18的多個緊固螺釘29b(本實施例中為三個緊固螺釘29b、29b和29b)緊固并固定到一起,并由此整體組裝為透鏡筒3。
      下透鏡筒18由在上表面、側表面和下表面開口的殼體形成。在下透鏡筒18的殼體中,支撐可在與透鏡系統(tǒng)2的光軸L平行的上下方向移動的第二可動支撐架36。第二可動支撐架36具有在上下方向上鉆孔穿過的通孔,并且第四透鏡組10固定到該通孔。第二可動支撐架36配置為,可由連接到下透鏡筒18的聚焦驅(qū)動機構37驅(qū)動,沿透鏡系統(tǒng)2的光軸L方向上在預定范圍前后移動。
      聚焦驅(qū)動裝置37由聚焦電機38、用作該聚焦電機38旋轉軸的進給螺桿39和與該進給螺桿39嚙合的進給螺母41等組成。聚焦電機38固定到U形第二托架42上,且朝第二托架42的一端突伸的進給螺桿39的相應端部被第二托架42旋轉地支撐。第二托架42被用作緊固機構的多個緊固螺釘29c(兩個緊固螺釘29c)連接到下透鏡筒18。
      在第二托架42的連接狀態(tài)中,進給螺母41可滑動地與進給螺桿39嚙合。進給螺母41固定到第二可動支撐架36,從而其在螺紋槽延伸的方向上的移動受限。而且,兩個導軸43(圖11中僅示出了一根導軸42)沿與光軸L平行的方向可滑動地插入第二可動支撐架36。兩個導軸43的一端固定到中透鏡筒17,其另一端則固定到下透鏡筒18上。
      這樣,當驅(qū)動聚焦電機38時,進給螺桿39的旋轉力通過進給螺母41向第二可動支撐架36傳遞。此時,進給螺母41沿在預定位置旋轉的進給螺桿39的軸向方向相對地移動。因此,第二可動支撐架36與進給螺母41聯(lián)動,從而第四透鏡組10可響應于聚焦電機38的旋轉方向,選擇性地在接近第三透鏡組9的方向和在接近第五透鏡組11的方向移動。此時,由于支撐第四透鏡組10的第二可動移動架36由兩個導軸43沿與光軸L平行的方向引導,所以其可高精度地在光軸L上移動。
      CCD4通過CCD適配器44連接到下透鏡筒18的下表面上。CCD適配器4由具有穿過其中心部分的正方形開口孔的盤體形成,并且CCD 4通過如介由方框狀密封橡膠件45的粘接劑的緊固機構整體固定到CCD適配器44的一個表面。連接有濾光器14的擋光板46放置在CCD適配器44的另一表面上。CCD適配器44和擋光板46被過濾器按壓板47按壓并由此被固定。然后,在內(nèi)部設置有濾光器14的狀態(tài)下,CCD適配器44被如緊固螺釘?shù)裙潭C構連接到下透鏡筒18。
      圖像穩(wěn)定器5可拆卸地連接到在該下透鏡筒18的側表面開口的開口部分48上。圖像穩(wěn)定器5具有如圖18到圖27所示的設置。該圖像穩(wěn)定器5包括上面提到的校正透鏡15、用于支撐該校正透鏡15的第一移動架51、和用于以第一移動架51可在與透鏡系統(tǒng)2的光軸L垂直的第一方向X上移動的方式支撐第一移動架51的第二移動架52。還包括用于在與光軸L垂直同時與第一方向X垂直的第二方向Y上支撐第二移動架52的固定底板53;作為驅(qū)動器的一實例的致動機構54,其用于在第一方向X上移動第一移動架51和在第二方向Y上移動第二移動架52;用于檢測校正透鏡15位置的位置探測器94、95等。
      當相機機身因在下文描述的手抖動而振動或搖擺時,校正透鏡15響應相機機身顫動的量而沿第一方向X或第二方向Y移動其位置以借此穩(wěn)定圖像。如圖23所示,校正透鏡15在其外側周沿形成有在圓周方向上的一個表面?zhèn)冗B續(xù)的一階梯部分15。而且,在校正透鏡15的外周沿上形成對應直徑方向的兩個切口,從而形成兩個面寬部分(two-surface wide portions)15a和15b。該校正透鏡15固定到作為移動架的第一實例的第一移動架51。
      如圖23和24所示,第一移動架51由其中裝配有校正透鏡15的環(huán)形透鏡固定部分51a、連續(xù)形成于透鏡固定部分51a一側并且其上固定有磁軛66的曲柄狀磁軛固定部分51b等構成。透鏡固定部分51a具有對應校正透鏡15形狀的形狀,并且與校正透鏡15的階梯部分15a接合的階梯部分設置在其中裝配有校正透鏡15的裝配孔58的周沿上。另外,透鏡固定部分51a包括對應校正透鏡15的兩面寬部分15a和15b的兩面寬部分51c和51d,并且磁軛固定部分51b延續(xù)到在與兩面寬部分51c和51d正對方向(第二方向Y)垂直的方向(第一方向X)一側。
      第一主軸承部分61和第一副軸承部分62設置在透鏡固定部分51a的兩面寬部分51c和51d的外部。第一主軸承部分61a包括兩個以預定間隔沿第一方向X設置的軸承件61a和61b。第一主導軸63沿第一方向X穿過兩個軸承件61a和61b。第一主導軸63在壓力的作用下被插入兩個軸承件61a和61b并被固定在其中。第一主導軸63的各端部別從軸承件61a和61b朝外突伸。橫向開口的軸承槽64穿過第一副軸承部分62。第一副導軸65滑動地與該軸承槽64接合。
      構成一部分致動機構54的磁軛66被固定機構如粘接劑和緊固螺釘固定到第一移動架51的磁軛固定部分51b。如圖25所示,磁軛66由彼此平行且相隔預定間距的上部件66a和下部件66b以及連接上部件66a和下部件66b的連接件66c構成。連接件66c設置在上部件66a和下部件66b的縱向一側,凹槽66d形成在連接件66c的橫向上,而第一移動架51的磁軛固定部分51b的一部分插入凹槽66d中。
      磁軛66的凹槽66d使線圈組合體93(在下文詳細描述)更加靠近校正透鏡15。該凹槽66d可使致動機構54體積更小。尺寸與上部件66a和下部件66b基本相等的矩形扁平磁體67a和67b分別被如粘接劑的固定機構固定到磁軛66的上部件66a和下部件66b的兩個內(nèi)表面上。上下方向相對的兩個磁體67a和67b以及磁軛66組成磁回路。具體地講,一套由磁軛66和兩個磁體67a和67b組成的磁回路單元用作第一驅(qū)動器的磁回路及第二驅(qū)動器的磁回路。
      如圖23所示,作為移動架的第二實例的第二移動架52由比第一移動架51稍寬的扁扁平板體形成。第二移動架52與第一移動架的下側相對并與之組裝。第二移動架52具有和第一裝配孔58尺寸基本相同且位置與第一移動架51的裝配孔58相對的通孔68。第二軸承部分設置在第二移動架52的上表面以支撐第一移動架51,以使得第一移動架51能在第一方向X上滑動。
      第二軸承部分包括用于滑動地支撐固定到第一移動架51的第一主導軸63的第二主軸承部分71和用于固定支撐第一副導軸65的第二副軸承部分72。第二主軸承部分71設置在能夠以第一移動架51放置在第二移動架52上方的狀態(tài)支撐第一主導軸63的各端部的位置處。具體地,第二主軸承部分71包括用以支撐第一主導軸63的各端部的兩個軸承件71a和71b,且被設置成在第二移動架52的上表面上朝上突伸。
      第二主軸承部分71的兩個軸承件71a和71b間隔開一距離,該距離是第一主軸承部分61沿第一方向X延伸的長度加上足以使第一移動架51在第一方向X上移動的長度。兩個軸承件71a和71b上具有軸承孔,并且第一主導軸63的兩個端部分別滑動地插入這些軸承孔中。
      而且,第二副軸承部分72以第一移動架51放在第二移動架52上方的狀態(tài)位于在與第一副軸承部分62對應的位置上。具體地,第二副軸承件72由用于支撐第一副導軸65的各端部的兩個軸承件72a和72b組成。兩個軸承件72a和72b具有軸承孔,并且第一副導軸65的兩個端部在壓力作用下裝配在這些軸承孔中并固定。第一副導軸65滑動地插入形成在第一移動架51的第一副軸承部分62的軸承槽64中。第一副導軸65和第一主導軸63設置成其軸線相互平行。第一移動架51由第一副導軸65和第一主導軸63導引,從而可在第一方向X上移動。
      第三軸承部分設置在第二移動架42的下表面上以支撐第二移動架52,從而使得第二移動架52能夠在與第一方向X垂直的第二方向Y上滑動。第三軸承部分由第三主軸承部分75和第三副軸承部分76組成。第三副軸承部分75由設置在第二移動架52的第一方向X上的一端的兩個軸承件75a和75b組成,并且它們在第二方向Y上具有一預定的間隔。兩個軸承件75a和75b各自具有軸承孔,并且在第二方向Y上延伸的第二主導軸77的兩個端部分別滑動地插入這些軸承孔中。
      另外,第三副軸承部分76設置在第二移動架52的第一方向X上的另一端部的大致中心部分上。橫向開口的軸承槽78設置在第三副軸承部分76上。在與第一方向X垂直的第二方向Y上延伸的第二副導軸79與該軸承槽78可滑動地接合。第二主導軸77和第二副導軸79分別固定到固定基板53上。固定基板53為支撐架的一實例,并且第二移動架53與該固定基板53相對并安裝其上。
      如圖23所示,固定基板53由尺寸與第二移動架52相對應的移動架支撐部分53a、具有與該移動架支撐部分53a連續(xù)形成為一體的線圈固定部分53b等等構成。移動架支撐部分53a由尺寸基本與第二移動架52相同的扁扁平板體形成,而且線圈固定部分53b在第一方向X上接續(xù)到該移動支撐部分53a的一端。移動支撐部分53a在對應第二移動架52的通孔69位置處具有尺寸與第二移動支架52的通孔68大致相同的通孔81。第四軸承部分的第一方向X上的各端部設置在移動架支撐部分53a的上表面上,從而可通過第二導軸使第二移動架52在第二方向Y滑動。
      第四軸承部分由設置在第一方向X上的一側的第四主軸承部分82和設置在第一方向X上的另一側的第四副軸承部分83組成。第四主軸承部分82由在第二方向Y上以適當間隔設置的兩個軸承件82a和82b組成,并且它們在移動架支撐部分53a的上表面上方向上突伸。兩個軸承件82a和82b分別具有軸承孔,并且第二主導軸77的兩個軸向中部在壓力作用下插入這些軸承孔并由此固定。因此,第二主導軸77的各端部別朝兩個軸承件82a和82b的外部突伸。
      設置在第二移動架52上的第三主軸承部分75的兩個軸承件75a和75b可滑動地與第二主導軸77兩端的突伸部分接合。兩個軸承件75a和75b間隔一距離,該距離是兩個軸承件82a和82b的長度加上足夠第二移動架52在第二方向Y上移動的長度。因此,第二移動架52的第三主軸承部分75被支撐到固定在固定基板53的第四主軸承部分83上的第二主導軸77上,從而使其可在兩個軸承件82a和82b的外部移動。
      而且,第四副軸承部分83由兩個在第二方向Y上以適當間隔設置的軸承件83a和83b組成,并且它們設置成以朝移動架支撐部分53a的上表面向上突伸。兩個軸承件83a和83b具有軸承孔。第二副導軸79在壓力作用下插入這些軸承孔并且沿軸向其各端部受到支撐。在兩個軸承件83a和83b之間,設置在第二移動架52上的第三副軸承部分76的軸承槽78可滑動地與第二副導軸79接合。因此,第三副軸承部分76被位于兩個軸承件83a和83b之間的第二副導軸79引導,從而可在第二方向Y上移動預定距離。
      固定基板53的線圈固定部分53b由具有在向上方向上凸起的支撐壁48的大致方形的扁平部分形成,并且支撐壁84位于第二方向Y的一側。線圈支撐架85固定到線圈固定部分53b,并且線圈組合體93連接到線圈支撐架85。如圖25所示,線圈支撐架85被設置成使線圈組合體93保持在預定的高度并且形成為具有U形平面的支架組合體。該線圈支撐架85設置在線圈固定部分53b上以沿支撐壁84延伸,且整體上通過如粘接劑和緊固螺釘?shù)墓潭C構固定到固定基板53上。用于固定固定基板53的連接凸起部分53c設置在固定基板53的下表面上。
      線圈支撐架85的上表面為平的表面,且兩個用于適當定位撓性加強板86的定位凸出部分85a和85a設置在線圈支撐架85的上表面上。兩個定位凸出部分85a和85b在第二方向Y上以預定的間隔設置,由兩個定位凸出部分85a和85a適當定位的撓性加強板86固定到線圈支撐架85的上表面上。柔性印刷電路板87由如粘接帶的固定機構固定到撓性加強板86上,其中,柔性印刷電路板87的上下表面印制并?;蓄A定電路。
      具有平面繞組的平線圈83安裝在撓性加強板86的上表面上并與設置在柔性印刷電路板87上表面上的預定布線圖電連接。如圖25等所示,平線圈88具有使兩個橢圓線圈部分88a和88b并置的形狀。兩個線圈部分88a和88b在寬度方向上長度大致相同而在長度方向上長度不同。兩個線圈部分88a和88b在長度方向上長度不同的原因在于,磁軛66的連接件66c可設置在較短線圈部分88b的外部,從而其可靠近校正透鏡15而保持平線圈88的平面?zhèn)染哂休^寬區(qū)域,從而使其可最小化整個致動機構54。
      兩個線圈部分88a和88b通過纏繞一根線圈線而形成并且一根線圈線的纏繞方向設定為電流在推力產(chǎn)生部分89a和88b中以相同方向流動的方式,當平線圈88通電時,推力產(chǎn)生部分89a和8b的寬度方向上相鄰的長側是直線延伸的。平線圈88由如粘接劑的固定機構以兩個線圈部分88a和88b的縱向方向指向第二方向Y的狀態(tài)固定到撓性板86。因此,當電流流經(jīng)兩個線圈部分88a和88b時,由于磁體67a和67b的磁力在與平線圈88垂直的方向上作用,根據(jù)弗萊明左手定則,指向第一方向X的力作用在磁體67a和67b側部。
      筒形線圈91連接到撓性加強板86的下表面上并且筒形線圈91的兩端都電連接到設置在柔性印刷電路板87的下平面上的預定布線圖上。如圖25等所示,筒形線圈91包括設置在其中心部分的矩形空間部分以使整體成為矩形柱體,且通過纏繞預定量的線圈線而成方形柱體,從而在層疊方向上提供預定的厚度。該筒形線圈91具有由如粘接劑的固定機構固定到柔性印刷電路板87的推力產(chǎn)生部分92,此時線圈延伸的方向指向第一方向X。
      磁軛66的下部66b和與下部66b固定成為一體的下部磁體67b可插入筒形線圈91的中心空間部分。因此,當電流流經(jīng)筒形線圈91時,由于磁體67a和67b產(chǎn)生的磁力作用在與推力產(chǎn)生部分92垂直的方向上,故而,按照弗萊明左手定則,指向第二方向Y的力在磁體67a和67b的側部發(fā)生作用。撓性加強板86、柔性印刷電路板87、平線圈88和筒形線圈91組成線圈組合體93。
      圖26和27表示由上述線圈組合體93、磁軛66和兩個磁體67a和67b構成的致動機構54。致動機構54,磁軛66、兩個磁體67a和67b和平線圈88組成一驅(qū)動器,該驅(qū)動器通過第一移動架51沿第一方向X移動校正透鏡15。然后,第一移動架51的第一主軸承部分61和副軸承部分62、第一主導軸63和第一副導軸65、第二主軸承部分71和第二副軸承部分71組成一第一導向器,該第一導向器沿垂直于透鏡裝置1的光軸L的第一方向X通過第一移動架51移動校正透鏡15。
      進一步,磁軛66、兩個磁體67a和67b以及筒形線圈91組成使校正透鏡15通過第二移動架52沿第二方向Y移動的第二驅(qū)動裝置。然后,第二移動架52的第三主軸承部分75、第三副軸承部分76、第二主導軸77、第二副導軸79、第四主軸承部分82和第四副軸承部分83組成使校正透鏡15通過第二移動架52不僅沿與透鏡裝置1的光軸L垂直的方向而且沿與第一方向X垂直的第二方向Y移動的第二導向器。
      如上所述,按照該實施例,由于由一個磁軛66和兩個磁體67a和67b組成的一套磁回路單元用作第一驅(qū)動裝置的磁回路以及第二驅(qū)動裝置的磁回路。因此,不必在每個驅(qū)動裝置上設置磁回路單元,所以組件的數(shù)量可減少且結構可簡化,從而整個裝置可最小化。
      而且,如圖25所示,作為第一位置探測器的實例的第一霍爾元件94、作為第二位置探測器的實例的第二霍爾元件以及作為溫度探測器的實例的熱敏電阻被分別連接到撓性加強板86的下平面上。第一霍爾元件94適用于檢測經(jīng)第一移動架51的校正透鏡15相對于第一方向X的位置。而且,第二霍爾元件95適用于檢測經(jīng)第二移動架52的校正透鏡15相對于第二方向Y的位置。第一霍爾元件94設置在筒形線圈91的一側,第二霍爾元件95設置在筒形線圈91的另一側。
      第一和第二霍爾元件94和95適用于檢測預定位置處的下部磁體67b的磁力并輸出對應于磁力的檢測信號。控制裝置基于兩個霍爾元件94和95的檢測信號來估計和計算校正透鏡15的位置。而且,熱敏電阻96檢測線圈組合體93周圍的溫度并當周圍溫度超過預定溫度值時在對手振動和顫動造成的模糊圖像的校正中添加溫度校正。第一和第二霍爾元件94和95、磁體67a和67b以及磁軛66之間的位置關系、感測的磁通量密度等將在下文中詳細描述。
      具有上述設置的圖像穩(wěn)定器5例如如下進行組裝。第一,如圖25到27所示,平線圈88固定到柔性印刷電路板86的一個表面上,而筒形線圈91固定到連接有柔性印刷電路板86的表面的另一側,從而構建將柔性印刷電路板86與兩個線圈88和91一體形成的線圈組合體93。
      下部件66b橫向插入到線圈組合體93筒形線圈91的孔中,并且固定到下部件66內(nèi)表面的下部磁體67b與筒形線圈91的推力產(chǎn)生部分92相對。同時,上部磁體67a與平線圈88的上表面相對。因此,上部和下部磁體67a和67b把平線圈88的推力產(chǎn)生部分89a和89b以及筒形線圈91的推力產(chǎn)生部分92夾在中間以構成致動機構54。致動機構54的撓性加強板86放置在線圈支撐架85的上表面,并由兩個定位凸出部分85a和85b適當定位。然后,撓性加強板86由如粘接劑的固定機構固定到線圈支撐架85。
      其次,第二移動架52面朝固定基板53的移動架支撐部分53a并且第四主軸承部分82的兩個軸承件82a和82b設置在第三主軸承部分75的兩個軸承件75a和75b之間。然后,第三副軸承部分76設置在第四副軸承部分83的兩個軸承件83a和83b。之后,第二主導軸77插入第三主軸承部分75和第四主軸承部分82的四個軸承件75a、75b、82a和82b的相應軸承孔中。此時,盡管第二主導軸77通過壓配合固定到第四主軸承部分82上,但其仍可相對第三主軸承部分75滑動。
      再則,第二副導軸79插入第四副軸承部分83的兩個軸承孔83a和83b以及第三副軸承部分76的軸承槽78中。此時,盡管第二副導軸79通過壓配合固定到第四副軸承部分83,但其仍可相對第三副軸承部分76滑動。因此,第二移動架52可相對固定基板53沿第二方向Y移動一預定距離,該距離通過從第三主軸承部分75的兩個軸承件75a和75b的內(nèi)表面之間的距離中減去第四主軸承部分82的兩個主軸承件82a和82b的外表面之間的距離而得到。
      接著,第一移動架51的透鏡固定部分51a面朝第二移動架52并且第一主軸承部分61的兩個軸承件61a和61b設置在第二主軸承部分71的兩個軸承件71a和71b之間。然后,第一副軸承部分61設置在第二副軸承部分72的兩個軸承件72a和72b之間。其次,第一主導軸63插入第一主軸承部分61和第二主軸承部分71的四個軸承件61a、61b、71a和71b的相應軸承孔中。此時,盡管第一主導軸63通過壓配合固定到第一主軸承部分61上,但其仍可相對第二主軸承部分71滑動。
      進一步,第一副導軸65插入第二副軸承部分72的兩個軸承件72a和72b的軸承孔以及第一副軸承部分62的軸承槽64中。此時,盡管第一副導軸65通過壓配合固定到第二副軸承部分72上,但其仍可相對第一副軸承部分62滑動。因此,第一移動架51能夠相對第二移動架52沿第一方向X移動一預定距離,該距離通過從第二主軸承部分71的兩個軸承件71a和71b的內(nèi)表面之間的距離中減去第一主軸承部分61的兩個軸承件61a和61b的外表面之間的距離而得到。
      接下來,將其上固定有兩個磁體67a和67b的磁軛66連接到第一移動架51上。磁軛66可在第一移動架51連接到第二移動架52之前提前連接到第一移動架51。然后,將其上安裝有線圈組合體93的線圈支撐架85連接到固定基板53的線圈固定部分53b上。線圈支撐架85優(yōu)選例如按照如下方式連接到固定基板53的線圈固定部分53b上。
      第一,第一移動架51和固定基板53適當定位到預定位置上,并且它們被臨時固定。當?shù)谝灰苿蛹?1和固定基板53臨時固定時,例如如圖23所示,定位軸被裝配進大致在第一移動架51中心部分上鉆出的定位孔311和大致在固定基板53的中心部分上鉆出的定位孔312中。此時,在第二移動架52上鉆出直徑大于定位軸直徑的排出孔313,以防止定位軸與排出孔313的內(nèi)周表面接觸。因此,可在預定位置適當定位第一移動架51和固定基板53之間的間隔,從而使校正透鏡15的光軸可相對于固定基板53適當?shù)囟ㄎ辉陬A定位置處。
      此時,筒形線圈91橫向裝入孔中,并且磁軛66的下部件66b和下部磁體67b被插入孔中。此時,線圈支撐架85沿第一方向X和第二方向Y適當移動,并且測量在磁體67a和67b作用下獲得且通過固定到柔性印刷電路板87的兩個霍爾元件94和95檢測到的磁通量密度。然后,第一移動架51和固定基板53在適當數(shù)值的位置適當定位,在該適當數(shù)值的位置上,由兩個霍爾元件94和95從磁體67a和67b獲得的磁力作為參考值。這些定位工作將在下文詳細描述。
      在第一移動架51和固定基板53適當定位在預定位置的狀態(tài)下,線圈支撐架85被如粘接劑的固定機構固定到固定基板53上。這種方式中,圖像穩(wěn)定器5的裝配工作完成,并且可獲得具有圖18到22所示的設置的圖像穩(wěn)定器5??蛇x擇地,如下文將描述的,可將線圈和兩個霍爾元件固定到第一移動架,磁體可相對線圈和兩個霍爾元件相對移動以檢測由兩個霍爾元件94和95從磁體67a和67b收到的磁力,磁體可基于檢測結果適當定位并且磁體可由粘接劑等固定到固定基板53上。
      具有上述設置的圖像穩(wěn)定器5的動作如下。圖像穩(wěn)定器5的校正透鏡15可通過選擇性地或同步地經(jīng)柔性印刷電路板87向致動機構54的平線圈88和筒形線圈91供給適當數(shù)值的驅(qū)動電流而移動。
      圖像穩(wěn)定器5的平線圈88和筒形線圈91經(jīng)過撓性加強板86固定到線圈支撐架85上并被進一步經(jīng)線圈支撐架85固定到固定基板53上。此時,平線圈88的推力產(chǎn)生部分89a和89b沿第二方向Y延伸并且筒形線圈91的推力產(chǎn)生部分92沿第一方向X延伸。而且,由于固定到筒形線圈91兩端的兩個磁體67a和67b設置在兩個線圈88和91的上下方向,由磁軛66和兩個磁體67a和67b形成的磁回路的磁通量起作用,從而垂直經(jīng)過平線圈88的推力產(chǎn)生部分89a和89b與筒形線圈91的推力產(chǎn)生部分92。
      另一方面,磁軛66與兩個磁體67a和67b固定到支撐校正透鏡15的第一移動架51上。校正透鏡15由具有第一移動架51的第一導向器以其可沿第一方向X相對第二移動架52移動的方式支撐。進一步,校正透鏡15由具有第二移動架52的第二導向器以其可在第二方向Y上相對固定基板53移動的方式支撐。因此,由于第一導向器和第二導向器的作用,校正透鏡15能夠沿第一方向X和第二方向Y中的任何方向在預定的范圍內(nèi)自由移動。
      現(xiàn)在,當電流流到平線圈88上時,由于平線圈88的推力產(chǎn)生部分89a和89b沿第二方向Y延伸,使得電流在推力產(chǎn)生部分89a和89b中流到第二方向Y上。此時,由于磁回路的磁通量作用在與推力產(chǎn)生部分89a和89b垂直的上下方向上,所以按照弗萊明定則,在第一方向X上取向的力作用在磁體67a和67b和磁軛66上。因此,其上固定有磁軛66等的第一移動架51沿第一方向X移動。因此,支撐在第一移動架51上的校正透鏡15由第一導向器引導,并在第一方向Y上響應流經(jīng)平線圈88的電流值移動。
      另一方面,當電流流到筒形線圈91時,由于筒形線圈91的推力產(chǎn)生單元92沿第一方向X延伸,使得電流在推力產(chǎn)生單元92中流向第一方向X。此時,由于磁回路的磁通量作用在垂直于推力產(chǎn)生部分92的上下方向上,所以按照弗萊明定則,在第二方向Y上取向的力作用在磁體67a和67b以及磁軛66上。因此,第二移動架52通過其上固定有磁軛66等的第一移動架51而在第二方向Y上移動。因此,由于第二移動架52連同第一移動架51一起在第二方向Y上被導引和移動,所以校正透鏡15響應流向筒形線圈91的電流值在第二方向Y上移動。
      而且,當電流同時流向平線圈88和筒形線圈91時,上述平線圈88進行的移動操作和筒形線圈91進行的移動操作以復合模式進行。具體地講,在校正透鏡15由流向平線圈88電流的作用而在第一方向X上移動的同時,校正透鏡15由流向平線圈88電流的作用而在第二方向Y上移動。因此,校正透鏡15能夠在傾斜方向上移動以穩(wěn)定透鏡系統(tǒng)2的圖像。
      具有上述設置和作用的圖像穩(wěn)定器5被連接到如圖1到11所示的透鏡裝置。圖像穩(wěn)定器5橫向插入和移出在透鏡的透鏡筒3的下透鏡筒18上鉆出的開口部分48,并被可拆卸地連接到下透鏡筒18上。這種情況下,由于根據(jù)本發(fā)明實施例的圖像穩(wěn)定器配置成單一單元,所以其可從下透鏡筒18上非常容易和快速地連接和卸下。圖11中的參考標記98等表示覆蓋圖像穩(wěn)定器5的覆蓋單元。覆蓋單元98由如緊固螺釘?shù)裙潭C構可拆卸地連接到透鏡的透鏡筒3的下透鏡筒18上。
      其次,將參照圖12描述其上連接有圖像穩(wěn)定器5的透鏡裝置1的透鏡系統(tǒng)2的操作。如圖12所示,當透鏡裝置1的物鏡7A朝向物體時,來自物體的光從物鏡7A進入透鏡系統(tǒng)2中。此時,經(jīng)過物鏡7A的光被棱鏡7B折轉90度,而后沿透鏡系統(tǒng)2的光軸L移向CCD4。具體地,在被棱鏡7B反射后、經(jīng)過第一透鏡組7的第二透鏡7C的光經(jīng)過第二透鏡組8、第三透鏡組9、第四透鏡組10、第五透鏡組11的第七透鏡11A和校正透鏡15到達濾光器14,通過濾光器14,對應于物體的圖像聚焦到CCD4的聚焦屏幕上。
      這種情況下,當拍攝照片時,如果透鏡裝置1沒有因相機振動而振動和顫動,那么來自物體的光經(jīng)第一透鏡組的中心部分以如圖12中實線所示的光6A那樣沿透鏡裝置1的光軸L到達第五透鏡組,使得圖像可以在CCD4聚焦屏幕的預定位置處聚焦,從而可能獲得完好的圖片而不會不穩(wěn)定。
      另一方面,當拍攝照片時,如果透鏡裝置1因相機振動而振動和顫動時,那么來自物體的光會以象如圖12中虛線所示的光6C或點劃線所示的光6B那樣傾斜的狀態(tài)進入第一透鏡組。盡管這樣的入射光6B和6C分別以偏離透鏡裝置1的光軸L的狀態(tài)經(jīng)過第一透鏡組到達第透鏡組,但可通過響應于相機振動等使校正透鏡移動預定的量來穩(wěn)定圖像。因此,圖像可聚焦在CCD4的聚焦屏幕的預定位置上,并由此可通過去除不穩(wěn)定圖像來獲得完好的圖像。
      可通過檢測器檢測相機振動、顫動及透鏡裝置1的類似情況。例如,陀螺傳感器可用作這樣的檢測器。該陀螺傳感器和透鏡裝置1一起安裝在相機機身上以檢測由于拍攝者手振動、相機振動等原因產(chǎn)生作用在透鏡裝置1上的加速度、角速度、角加速度等。由陀螺傳感器測量的如加速度和角速度的信息提供給控制裝置,以在控制裝置的控制下驅(qū)動致動機構54,從而使第一移動架51與第一方向X上的相機振動相關地在第一方向X上移動,以及第二移動架52與第二方向Y上的相機振動相關地在第二方向Y上移動,從而在CCD4聚焦屏幕的預定位置上形成圖像。
      圖13到17為說明表示配置具有前述設置的透鏡裝置1的成像裝置的第一實施例的數(shù)碼相機100的圖。該數(shù)據(jù)透鏡相機100使用半導體記錄介質(zhì)用作信息記錄介質(zhì),并且能夠用CCD(固態(tài)成像裝置)把物體的光學圖像轉化成電信號,并把這樣的電信號記錄在半導體記錄介質(zhì)上或者把這些電信號作為圖像顯示在如液晶顯示屏的顯示裝置上。
      該數(shù)碼相機100包括如圖13等所示,機身101、用于接受光形式的物體圖像并把這樣的光引入用作成像裝置的CCD4、由液晶顯示屏等形成以基于從CCD4輸出的影像信號而顯示圖像的顯示裝置102、用于控制透鏡裝置1的操作以及液晶顯示屏102等上的顯示的控制裝置103和電池供電裝置(未圖示)等等。
      相機機身101由長方形扁平殼體形成,并包括各自設置在前后方向上的前部殼體105和后部殼體106、用于在前后方向上分開前部殼體105和后部殼體106形成的空間部分的主框架107、連接到前部殼體105的前部且在上下方向上可滑動的鏡頭蓋108等。透鏡裝置1固定到主框架107前部的一側,此時,設置CCD4使光軸L在上下方向取向。進一步,將通過在印刷電路板上安裝預定的微處理器、電阻、電容和其它電子器件而形成的控制裝置103、閃光燈裝置110等等都連接到主框架107上。
      并排放置控制裝置103和透鏡裝置1,且將閃光燈裝置110定位在控制裝置103和透鏡裝置1上方。閃光燈裝置110包括在前部殼體105前部露出的發(fā)光部分110a、用于驅(qū)動發(fā)光部分110a的驅(qū)動單元110b、用于向驅(qū)動單元110b提供預定電力的電容器110c等。在前部殼體105的相應位置鉆出透鏡裝配孔111a和閃光燈裝配孔111b,以露出閃光燈裝置110的發(fā)光部分110a和透鏡裝置1的物鏡7A。物鏡7A和面板21一起被裝進透鏡裝配孔111a,并且發(fā)光部分110a被裝進閃光燈裝配孔111b。
      進一步,前部殼體105具有多個開孔111c,從而設置在鏡頭蓋108上的多個支腿部件插入多個開孔111c中??赏ㄟ^設置在多個支腿部件上的保持部分防止鏡頭蓋108不小心從前部殼體105掉落。鏡頭蓋108可通過多個開孔111c在上下方向上移動,且可由鎖定機構(未圖示)鎖定上端部和下端部。如圖14A所示,當鏡頭蓋108被放置在上端部時,物鏡7A完全關閉,從而可保護物鏡7A。另一方面,如圖15A所示,當鏡頭蓋108移動到下端部時,物鏡7A可完全敞開并且電源供給開關開啟從而可進行拍攝。
      如圖13和16所示,后部殼體106包括方形開口窗112,以露出顯示裝置102的顯示屏。設置開口窗112以大面積地敞開后部殼體106的后表面,并且顯示裝置102布置在開口窗112的內(nèi)側。顯示裝置102由尺寸和開口窗112對應的液晶顯示裝置與緊鄰該液晶顯示裝置內(nèi)表面上方放置的背光單元的組合構成。保護板114在液晶顯示裝置側部通過密封框架113放置在顯示裝置102上,并且保護板114的周緣部分與開口窗112的內(nèi)表面接觸。
      進一步,后部殼體106設置有多種操作開關。用于選擇功能模式(照片、錄像、回放、等等)的模式選擇開關115、用于執(zhí)行變焦操作的變焦按鈕116、用于顯示屏幕的屏幕顯示按鈕117、用于選取各種菜單的菜單按鈕118、用于移動光標以選取菜單等的方向鍵119、用于改變屏幕尺寸并可刪除的屏幕按鈕121等作為操作切換開光放置在適當位置處。揚聲器孔122設置在顯示裝置102一側端部處的后部殼體106上,而且揚聲器容納在揚聲器孔122之中,并且?guī)钪谓饘倥浼?23連接到后部殼體106另一側端部上。
      而且,如圖17等所示,相機機身101在其上表面上設置有用于接通和切斷電源的電源按鈕125、用于開始和終止拍攝的拍攝按鈕126、用于當相機機身振動等時通過操作圖像穩(wěn)定器5而執(zhí)行圖像穩(wěn)定的相機振動設定按鈕127。進一步,麥克風孔128設置在相機機身101上表面的大致中心的部分,并且麥克風容納在麥克風孔128中。這些電源按鈕125、拍攝按鈕126和相機振動設定按鈕127被連接到固定于相機機身101的開關支撐架124。進一步,麥克風孔128也設置在開關支撐架124上并且內(nèi)置的麥克風固定到該開關支撐架124上。
      圖31用于解釋控制前述圖像穩(wěn)定器5的原理的方框圖。如圖31所示,控制單元130包括圖像穩(wěn)定計算單元131、模擬伺服單元132、驅(qū)動電路單元133、四放大器(AMP)134A、134B、135A、135B等等。第一陀螺傳感器135經(jīng)過第一放大器(AMP)134A連接到圖像穩(wěn)定計算單元131上并且第二陀螺傳感器136經(jīng)第二放大器(AMP)134B連接到圖像穩(wěn)定計算單元135上。
      第一陀螺傳感器135適用于檢測相機機身101在第一方向X上因相機振動等產(chǎn)生的移動量。第二陀螺傳感器136適用于檢測相機機身101在第二方向Y上因相機振動等產(chǎn)生的移動的量。盡管提供了兩個陀螺傳感器135和136以分開檢測如上所述的本發(fā)明實施例中的相機機身101在第一方向X上移動的量和相機機身101在第二方向Y上移動的量,但本發(fā)明不限于這一點,并且顯然可提供單個陀螺傳感器以檢測相機機身101在兩個方向、即第一方向X和第二方向Y上移動的量。
      模擬伺服單元132連接到圖像穩(wěn)定計算單元131上。模擬伺服單元132把由圖像穩(wěn)定計算單元131計算的數(shù)字值轉化成模擬值,并輸出對應于這樣獲得的模擬值的控制信號。驅(qū)動電路單元133連接到模擬伺服單元132。作為第一位置探測元件的第一霍爾元件94經(jīng)第三放大器(AMP)135A連接到驅(qū)動電路單元133,并且作為第二位置探測元件的第二霍爾元件經(jīng)第四放大器(AMP)135B連接到驅(qū)動電路單元133。進一步,作為第一方向驅(qū)動線圈的平線圈88連接到驅(qū)動單元133上,并且作為第二方向驅(qū)動線圈的筒形線圈91連接到驅(qū)動單元133上。
      由第一霍爾元件94測得的第一移動架51在第一方向X上的位移量經(jīng)第三放大器135A輸入到驅(qū)動電路單元133上。而且,由第二霍爾元件95測得的第二移動架52在第二方向Y上的位移量經(jīng)第四放大器135B輸入到驅(qū)動電路單元133上。為了基于輸入信號和來自模擬伺服單元132的控制信號移動校正透鏡15以穩(wěn)定圖像,驅(qū)動電路單元133向平線圈88和筒形線圈91中任一個或者兩個線圈輸出預定控制信號。
      圖32為說明設置有具有前述設置和作用的圖像穩(wěn)定器5的數(shù)碼相機100系統(tǒng)配置的第一實施例的方框圖。如圖32所示,該數(shù)碼相機100包括具有圖像穩(wěn)定器5的透鏡裝置1、作為控制裝置主要功能單元的控制單元140、包括驅(qū)動控制單元140的程序存儲器和數(shù)據(jù)存儲器的存儲器裝置141、其它RAM(隨機存取存儲器)、ROM(只讀存儲器)等。還包括用于輸入各種命令信號以開啟和關閉電源、以選取拍攝模式或拍攝圖像的操作單元120,用于顯示拍攝圖片等的顯示裝置102,用于擴充存儲能力的外部存儲器143等。
      控制單元140由包括例如微處理器(CPU)等的運算電路組成??刂茊卧?40與存儲器裝置141、操作單元142、模擬信號處理單元144、數(shù)字信號處理單元145、兩個A/D(模擬到數(shù)字)轉換器146、147、D/A(數(shù)字到模擬)轉換器148和定時發(fā)生器(TG)149連接在一起。模擬信號處理單元144連接到附接于透鏡裝置1的CCD4上,并且基于與由CCD4輸出的拍攝圖像對應的模擬信號執(zhí)行預定的信號處理。該模擬信號處理單元144連接到第一A/D轉換器146上,并且模擬信號處理單元144的輸出由A/D轉換器146轉換成數(shù)字信號。
      數(shù)字信號處理單元145連接到第一A/D轉換器146上并且數(shù)字信號處理單元145由第一A/D轉換器146提供的數(shù)字信號執(zhí)行預定的信號處理。顯示裝置102和外部存儲器143連接到該數(shù)字信號處理單元145上,從而將對應物體的圖像顯示在顯示裝置102或者存儲在外部存儲器143上。作為模糊檢測單元的實例的陀螺傳感器151連接到第二A/D轉換器147。該陀螺傳感器151檢測相機機身101的顫動、振動等,并且可對應檢測結果穩(wěn)定圖像。
      作為用于圖像穩(wěn)定的伺服計算單元的驅(qū)動控制單元152被連接到D/C轉換器148上。驅(qū)動控制單元152可通過相應于校正透鏡5的位置來驅(qū)動和控制圖像穩(wěn)定器5穩(wěn)定圖像。圖像穩(wěn)定器5、作為用于通過檢測兩個移動架51和52的位置來檢測校正透鏡15位置的位置探測器的第一位置檢測器(第一霍爾元件)94和第二位置檢測器(第二霍爾元件)95被連接到驅(qū)動控制單元152上。將定時發(fā)生器(TG)149連接到CCD4上。
      因此,當物體的圖像輸入到透鏡裝置1的透鏡系統(tǒng)2并被聚焦到CCD4的聚焦屏幕上時,圖像信號輸出為模擬信號并被提供給模擬信號處理單元144,在此以預定處理方式進行處理并且處理過的模擬信號被第一A/D轉換器146轉化成數(shù)字信號。第一A/D轉換器146的輸出以預定處理模式被數(shù)字信號處理單元145處理,并由此作為物體對應的圖像顯示在顯示裝置102上或者作為存儲器信息被存儲在外部存儲器中。
      在這樣的拍攝狀態(tài)下,如果圖像穩(wěn)定器5處于工作狀態(tài),則當相機機身101顫動或振動時,陀螺傳感器151檢測到顫動或振動并且向控制單元140輸出檢測信號。根據(jù)提供的檢測信號,控制單元140執(zhí)行預定的計算處理并輸出控制信號到驅(qū)動控制單元152以控制圖像穩(wěn)定器5的操作。驅(qū)動控制單元152基于來自控制單元140的控制信號輸出預定驅(qū)動信號到圖像穩(wěn)定器5,從而在第一方向X上移動第一移動架51預定量并在第二方向Y上移動第二移動架52預定量。因此,可通過校正透鏡15的移動而去除不穩(wěn)定圖像,從而形成完好的圖像。
      圖33為說明設置有具有前述配置和作用的圖像穩(wěn)定器5的數(shù)碼相機系統(tǒng)配置的第二實施例的方框圖。如圖33所示,該數(shù)碼相機100A包括具有圖像穩(wěn)定器5的透鏡裝置1、起控制裝置主要功能單元的視頻記錄/再現(xiàn)電路單元160、包括程序存儲器的內(nèi)置存儲器161和驅(qū)動視頻記錄/再現(xiàn)電路160的數(shù)據(jù)存儲器和其它RAM和ROM。還包括將拍攝圖像和等處理為預定信號的視頻信號處理單元162、用于顯示拍攝圖像等的顯示裝置163、用于擴充存儲容量的外部存儲器164、用于驅(qū)動和控制圖像穩(wěn)定器5等的校正透鏡控制單元165。
      視頻記錄/再現(xiàn)電路單元160包括具有微處理器(CPU)等的計算單元。內(nèi)置存儲器161、視頻信號處理單元162、校正透鏡控制單元165、監(jiān)視器驅(qū)動單元166、放大器167和三個接口(I/F)171、172和173被連接到該視頻記錄/再現(xiàn)電路單元160上。視頻信號處理單元162經(jīng)過放大器167被連接到連接于透鏡裝置1的CCD4上,從而作為預定視頻信號經(jīng)處理的信號被輸入到視頻記錄/再現(xiàn)電路單元160中。
      顯示裝置163經(jīng)監(jiān)視器驅(qū)動單元166連接到視頻記錄/再現(xiàn)電路單元160。而且,連接器168被連接到第一接口(I/F)171并且外部存儲器164可自由拆卸地連接到該連接器168上。設置在相機機身101上的連接端子174被連接到第二接口(I/F)172上。
      作為模糊檢測單元的加速度檢測器175經(jīng)第三接口(I/F)173連接到校正透鏡控制單元165上。該加速度檢測器175適用于檢測因顫動和相機振動而加到相機機身101上的加速度位移,而且陀螺傳感器可應用于加速度檢測器175。驅(qū)動和控制校正透鏡15的圖像穩(wěn)定器5的透鏡驅(qū)動單元被連接到校正透鏡控制單元165,并且用于探測校正透鏡15位置的兩個位置探測器94和95被連接到校正透鏡控制單元165上。
      因此,當物體的圖像輸入到透鏡裝置1的透鏡系統(tǒng)2上并且圖像聚焦到CCD 4的聚焦屏上時,圖像信號經(jīng)放大器167輸入到視頻信號處理單元162上。作為預定視頻信號由該視頻信號處理單元162處理的信號被輸入到視頻記錄/再現(xiàn)電路單元160中。因此,來自攝像記錄/再現(xiàn)電路單元160的對應于物體的圖像的信號被輸出到監(jiān)視器驅(qū)動單元166和內(nèi)置存儲器161或者外部存儲器164上。因此,對應物體圖像的圖像經(jīng)監(jiān)視器驅(qū)動單元166顯示在顯示裝置163上,或者如果必要則被作為信息信號記錄在內(nèi)置存儲器161上或者外部存儲器164上。
      在該拍攝狀態(tài),如果圖像穩(wěn)定器5處于工作狀態(tài),則當相機機身101顫動或振動時,加速器檢測器175檢測顫動或振動,并經(jīng)過校正透鏡控制單元165輸出檢測信號到視頻記錄/再現(xiàn)電路單元160上。對應所提供的檢測信號,視頻記錄/再現(xiàn)電路單元160執(zhí)行預定計算處理,并輸出控制信號到校正透鏡控制單元165以控制圖像穩(wěn)定器5的操作。該校正透鏡控制單元165基于來自視頻記錄/再現(xiàn)電路單元160的控制信號輸出預定驅(qū)動信號到圖像穩(wěn)定器5,從而在第一方向X上移動第一移動架51預定的量并且在第二方向Y上移動第二移動架52預定的量。因此,可通過校正透鏡15的移動而去除不穩(wěn)定圖像,并由此可獲取完好的圖像。
      圖28為描述前述致動機構54的其它實施例的視圖。通過改變線圈組合體93的裝配方向并且使其裝配與上述實施例中的相似,形成該致動機構54A。該實施例中,線圈組合體93以平線圈88的縱向(推力產(chǎn)生部分延伸的方向)在第一方向X上取向的方式連接到固定基座53上。然后,在磁軛66的縱向(該關系也適用于磁體67a和67b)與平線圈88的縱向保持一致的狀態(tài)下,其上固定有磁體67a和67b的磁軛66連接到第一移動架51上。因此,筒形線圈91的推力產(chǎn)生單元沿與第一方向X垂直的第二方向Y延伸。
      在該實施例中,當電流流向平線圈88時,產(chǎn)生在第二方向Y上移動第二移動架52的力。而且,當電流流向筒形線圈91時,產(chǎn)生在第一方向X上移動第一移動架52的力。
      圖29和30為表示前述線圈組合體93其它實施例的視圖。在該實施例中所示的線圈組合體181把平線圈182用作第一驅(qū)動器的線圈,并且把平線圈183用作第二驅(qū)動器方式的線圈。兩個平線圈182和183形成為同樣尺寸的橢圓形線圈。線圈組合體181如下配置,即上平線圈182安裝在柔性印刷電路板184的一個表面上,下平線圈183被連接到其它表面。上平線圈182和下平線圈183設置成兩者縱向垂直交叉。
      進一步,在該實施例中,一個磁體186連接到U形磁軛185上并由此形成磁回路。磁體186的縱向設定成與上平線圈182推力產(chǎn)生部分垂直的方向。甚至具有上述配置的線圈組合體181可實現(xiàn)與上述實施例相似的效果。特別是,在該實施例中,由于線圈組合體181的厚度和前述線圈組合體93相比可以做得非常小,所以能夠減少整個裝置的厚度。
      其次,通過檢測磁體67a和67b的磁力來檢測校正透鏡15的位置的兩個霍爾元件(位置檢測器)94和95之間的關系以及磁體67a和67b將參照圖34到45進行描述。在圖34到45中,與圖1到33中相同的元件和部分(或者類似的元件和部分)相同參考標記表示。
      圖34到37描述了將本發(fā)明用于包括移動型磁體系統(tǒng)驅(qū)動器的圖像穩(wěn)定器300的實施例。而且,圖38到41描述了將本發(fā)明用于包括移動線圈(移動霍爾元件)系統(tǒng)驅(qū)動器的圖像穩(wěn)定器301。圖42A到42D為用于解釋磁體67a和67b、磁軛66和兩個霍爾元件94和95等之間位置關系的視圖。圖43A、43B、圖44A、44B、圖45和46為用于解釋當磁軛66具有凸起部分時或當磁軛66沒有凸起部分時通過霍爾元件95獲得的磁通量密度檢測值的差異。
      如圖34到37所示,圖像穩(wěn)定器300由第一移動架51A、第二移動架52A和固定基座53A組成。第一移動架51A包括環(huán)形透鏡固定部分51a和整體上與環(huán)形透鏡固定部分51a成為一體的磁軛固定部分51b。校正透鏡15裝進并固定到透鏡固定部分51a的中心部分所形成的裝配孔58a中。第一主軸承部分61設置在透鏡固定部分51a的一側并且第一副軸承部分設置在與上面一側正對的另一側。
      第一主導軸63在水平方向上插入第一主軸承部分61,并且第一主導軸63通過壓配合固定到第一主軸承部分中部。進一步,定位孔311在第一主軸承部分61上形成,在第一副軸承部分62上形成橫向開口的軸承槽64,且第一副導軸65可滑動地與軸承槽64接合。
      U形磁軛66整體地固定到磁軛固定部分51b。在相對的兩部件66a和66b在上下方向指向的狀態(tài)下,磁軛66通過將固定連接兩部件66a和66b的連接件66c連接到磁軛固定部分51b而連接到磁軛固定部分51b。磁軛66的上部件66a和下部件66b為矩形,并且平面形狀大致相同的扁平方形磁體67a和67b被如粘接劑的固定機構整體上固定到相應部件66a和66b的內(nèi)表面上。
      使磁體67a和67b的磁力主動排開(escape)到磁軛66的側面的凸起部分321、322和323、324設置在上部件66a和下部件66b頂端邊緣和一側邊緣上。盡管這四個凸起部分321、322和323、324在本實施例中為半圓形,但本發(fā)明不限于此,且形狀因此可為方形、矩形、橢圓形、三角形和其它形狀。在磁體67a和67b相互垂直的方向上形成的兩個平表面接觸或者接近這些凸起部分321、322和323、324的內(nèi)表面。
      形成在上部件66a和下部件66b頂端側的第一凸起部分321和323用于主動排開在磁體67a和67b頂端側產(chǎn)生的磁力。而且,形成在上部件66a和下部件66b側邊緣側的第二凸起部分322和324用于主動排開在磁體67a和67b側邊緣側產(chǎn)生的磁力。檢測第一方向X的位置的第一霍爾元件94以非接觸狀態(tài)設置在第一凸起部分321和322之間。然后,檢測第二方向Y的位置的第二霍爾元件95以非接觸狀態(tài)設置在第二凸起部分322和324之間。
      使第二移動架52A形成為平面形狀為C形框架體的框架體。兩個軸承件71a和71b形成的第二主軸承部分71設置在第二移動架52a的開口側。固定到第一移動架51A上的第一主導軸63兩端的凸起部分可滑動地插入兩個軸承件71a和71b,并由此可旋轉地支撐其上。而且,第一副導軸65支撐在第二移動架52A正對第二主軸承部分71一側上。第一副導軸65延伸的方向在該實施例中設置在第二方向Y上,并且第三主軸承部分75沿與上述方向平行的方向設置在第二移動架52A的一側。第三副軸承部分76設置在第二移動架52A的另一側。
      第二主導軸77被插入第三主軸承部分75,并且第二主導軸77通過壓配合固定到第三主軸承部分75中部。橫向開口的軸承槽78設置在第三副軸承部分76上,并且第二副導軸79可滑動地與軸承槽78接合。
      固定基板53A形成為大致十字形的在環(huán)形中央部分四個部分設置的凸起部分的固定基板,并且包括移動架支撐部分53a和與移動架支撐部分53a設置在一起的線圈支撐部分53b。兩個軸承件82a和82b形成的第四主軸承部分82設置在該固定基板53A的一側邊緣部分,而兩個軸承件83a和83b形成的第四副主軸承部分83設置在與該固定基板53A的一側邊緣部分正對的另一側邊緣部分。第二移動架52A的第二主軸承導軸77兩端的凸起部分可滑動地插入第四主軸承部分82的兩個軸承件82a和82b中并從而可旋轉地固定其中。而且,第二副導軸79的兩個端部固定到第四副軸承部分83的兩個軸承件83a和83b,并由此兩端被支撐。進一步,在固定基板53A上形成可適當定位固定基板53A和第一移動架51A的定位孔312。
      該實施例中,第四主軸承部分82和第四副軸承部分83相互正對的方向設定為第二方向Y。兩個霍爾元件94和95與驅(qū)動線圈(未示出)設置在與第二方向Y垂直的方向的一側上。上表面和橫向開口的槽口部分330設置在線圈支撐部分53b上,其為布置兩個霍爾元件94和95以及驅(qū)動線圈(未圖示)的固定基板53A的一側。柔性印刷電路板87固定地支撐在圍繞該槽口部分330的右和左側邊緣部分,并且兩個霍爾元件94和95以及驅(qū)動線圈(未示出)固定到柔性印刷電路板87的預定位置。
      在第一移動架51A和固定基板53適當設置在預定位置的狀態(tài)中,兩個霍爾元件94和95如下設置,兩個霍爾元件94和95的檢測部分的中心可與形成磁體67a和67b參考位置的兩個平面的邊緣部分重疊。即,第一霍爾元件94如下設置,其中心部分穿過磁體67a和67b的頂端側的邊緣部分。然后,第二霍爾元件95以如下方式設置,即其中心部分可穿過磁體67a和67b一側沿側的邊緣部分。
      通過將參考銷(未示出)插入定位孔311和312可容易而確切地定位第一移動架51A和固定基板53A,從而可使第一移動架51A和固定基板53A被暫時固定。
      如圖38到41所示,圖像穩(wěn)定器301與在上述實施例中說明的圖像穩(wěn)定器300不同,其不同在于圖像穩(wěn)定器300的磁體67a和67b以及兩個霍爾元件94和95相互替代以提供移動霍爾元件(移動線圈)系統(tǒng)驅(qū)動器。在該圖像穩(wěn)定器301中,與圖像穩(wěn)定器300相同的元件和部分以相同的參考標記表示并由此不必在描述。
      該圖像穩(wěn)定器301由第一移動架51B、第二移動架52A和固定基板53B組成。第一移動架51B包括環(huán)狀透鏡固定部分51a和整體上與透鏡固定部分51a成為一體的線圈固定部分51c。兩個霍爾元件94和95以及線圈(未示出)固定到線圈固定部分51C上。兩個霍爾元件94和95以及線圈(未示出)被安裝到柔性印刷電路板87上,并且它們經(jīng)過柔性印刷電路板87固定到線圈固定部分51c上。第二移動架52A的設置與上述實施例中的相似。
      盡管固定基板53B具有與上述固定基板53A大致相似的外形,但由于柔性印刷電路板87橫向凸起,使得固定基板53B的槽口部分331在形狀上稍微不同。具體地講,固定基板53B的槽口部分331除了在上和前方向以外還在橫向開口,并且磁軛66容納在該槽口部分331中。磁軛66形狀和結構上沒有變化但不同之處在于其連接方向在橫向上改變了90度。
      磁軛66具有四個凸起部分321、322和323、324。設置在一側沿的兩個凸起部分321和323用于第一霍爾元件94以檢測第一方向X,而設置在尖端的兩個凸起部分322和324用于第二霍爾元件95以檢測第二方向Y。其余設置與圖34到37中所示的實施例相似。
      圖42A到42D為用于解釋兩個霍爾元件94、95和磁體67a、67b(或者磁軛66)之間關系的視圖。具體地講,圖42A和42B為用于解釋磁軛66的凸起部分322、324與霍爾元件95的移動方向之間關系的視圖。磁軛66的上部件66a和下部件66b在其與上下方向相對的位置形成有凸起部分322和324。將作為每凸起部分322和324基部側中心部分的上部件66a的邊緣部分的中心部分(該關系也適用于下部件66b)設定作為參考點O2。通過調(diào)整位置而使第二霍爾元件95檢測部分的中心部分與該參考點O2面對來適當?shù)叵鄬τ诖朋w67a和67b定位第二霍爾元件95。
      另一方面,在圖42所示的實施例中,第一霍爾元件94具有凸起部分不是必要的設置,下文將詳細描述。如圖42C和42D所示,第一霍爾元件94以如下方式設置,即磁體67a和67b的與由第二霍爾元件95感測的邊緣部分垂直的邊緣部分可橫跨第一霍爾元件94的中心部分。下面將說明以不同方式使用第一和第二霍爾元件94和95的原因。
      圖45為說明霍爾元件94和95收到的由磁體67a和67b發(fā)出的穿過磁體67a和67b的橫截面方向的磁力的強度隨著霍爾元件94和95的位置而變化的視圖?;魻栐?4和95接收到的磁通量密度如圖45中實線R所示地隨著霍爾元件94和95的位置而變化。磁通量密度保持高數(shù)值且在磁體67a和67b的中心部分相對緩慢地變化,并從邊緣部分稍前一點的位置到邊緣部分稍后一點的位置的范圍內(nèi)大致呈線性(成比例的)地變化。然后,當霍爾元件94和95大大偏離磁體67a和67b時,磁通量密度的變化逐漸回復并降低到零。
      如圖45所示,當通過對實線R求導而計算斜角時,霍爾元件94和95收到的磁通量密度變成由實線R′表示的曲線,且其影響點(infection point)與磁體67a和67b的邊緣大致相互重疊。因此,在由霍爾元件94和95測得實線R后,當通過對測量值求導而計算得到實線R′時,相對磁體67a和67b的邊緣,第一霍爾元件94可在第一參考點O1處適當定位并且第二霍爾元件95可在第二參考點O2適當定位。
      下面將描述霍爾元件94和95適當定位的實施例。首先,當?shù)谝灰苿蛹?1和固定基板53適當定位時,通過將參考銷(未圖示)插入第一移動架51和固定基板53的定位孔311和312中而臨時固定第一移動架51和固定基板53。其次,在校正透鏡15的光軸與透鏡裝置2的光軸L重合的狀態(tài)下,磁體67a和67b(或者第一霍爾元件94)以如下的方式移動,即第一霍爾元件94可在第一方向X上相對移動并且第一參考點O1可通過測量上述實線R而測得。類似地,在校正透鏡15的光軸與透鏡裝置2的光軸L重合的狀態(tài)下,磁體67a和67b(或者第二霍爾元件95)以如下的方式移動,即第二霍爾元件95可在第二方向Y上相對移動并且第二參考點O2可通過測量上述實線R而測得。
      可通過相對于第一方向X和第二方向Y同時移動兩個霍爾元件94和95來減少測量時間,即,通過以大約45度角的方向移動磁體67a和67b(或霍爾元件94和95)。
      由于相對移動的霍爾元件94和95以及磁體67a和67b具有圖45所示的關系,所以,如果霍爾元件94和95的移動距離(可動寬度),例如,被認為是Q,則當從點P1到點P2的可移動寬度Q或者從點P3到點P4的可移動寬度Q用作檢測寬度時,其磁通量的變化Δ較小,并由此難以檢測磁通量密度的準確變化。另一方面,當采用從點P2到點P3的可動距離Q時,磁通量密度的變化Δ較大,并由此可檢測磁通量密度的準確變化。
      本發(fā)明可以使用這些特征。當磁體67a和67b的邊緣部分被霍爾元件94和95檢測時可進行對準,因此可高精度地測量位置。圖46A到46C為說明如下的方式的視圖,即霍爾元件94和95接收到的來自磁體67a和67b的平行經(jīng)過磁軛66的上部件66a和下部件66b邊緣附近的部分的磁力的強度根據(jù)霍爾元件94和95位置而變化。圖46A表示當磁軛66不具有兩個凸起部分322和324時第二霍爾元件95接收到的磁力的強度。圖46B表示當磁軛66具有兩個凸起部分322和324時第二霍爾元件95接收到的磁力的強度。圖46C表示當?shù)谝换魻栐?4在磁軛66長邊側移動時第二霍爾元件95接收到的磁場67a和67b的磁力的強度。
      具體來講,磁軛66具有凸起部分321和322(321到324)的原因如下。如圖42C所示,在第一霍爾元件94的情況下,由于磁體67a和67b的邊緣部分相對于作為第一霍爾元件94的相對移動方向的第二方向Y足夠長,所以,即使第一霍爾元件94相對地移動一定距離,第一霍爾元件94接收到的磁體67a和67b的磁力的強度變化也不大。
      另一方面,在第二霍爾元件95的情況,如果磁體67a和67b的邊緣部分相對于作為第二霍爾元件95的相對移動方向的第一方向X較短時,那么即使第二霍爾元件95非常輕微地移動,第二霍爾元件95也會不可避免地接近磁體67a和67b的邊緣部分的端部。因此,如圖46A所示,當?shù)诙魻栐?5接近磁體67a和67b邊緣部分的端部時,來自磁體67a和67b的磁力降低,使得第二霍爾元件95接收到的磁體67a和67b的磁力強度變化。因此,即使在第二霍爾元件95在第一方向X上相對移動時,就如同第二方向Y在移動,輸出被改變,從而使得難于準確地檢測位置。
      為了解決上述問題,磁軛66具有凸起部分321、322(321到324)。由于磁軛66具有凸起部分321到324,所以可使磁通量主動避開凸起部分321、322(321到324)。因此,如圖46B所示,磁體67a和67b中心附近的磁通量密度可減小并且在第一方向X的移動范圍內(nèi)檢測第二方向Y上的位置的第二霍爾元件95的輸出可基本保持均勻。因此,可大大減小第一和第二霍爾元件94和95之間的相互影響。
      圖43A、43B和圖44A、44B為說明當霍爾元件的磁通量密度在磁軛66具有或者不具有凸起部分321、322(321到324)的狀態(tài)下測量時獲取的結果的視圖,其產(chǎn)生圖42C所示的第二霍爾元件95的檢測結果。而且,圖43B和44B為說明當霍爾元件的磁通量密度在磁軛66不具有凸起部分321、322(321到324)的狀態(tài)下測量時獲取的結果的視圖,其產(chǎn)生圖42C所示的第二霍爾元件95的檢測結果。在相應的圖中,點0表示參考位置,點02對應第二霍爾元件95中的參考點。然后,把在從相應參考位置起向第一方向X和第二方向Y每次移動0.2mm的位置感測的值標示在相應的表和圖中。
      每個值的單位為高斯(G=10-4Wb/m2)。
      而且,磁通量密度Δ的公式如下所示磁通量密度Δ=霍爾元件輸出/移動距離如上所述,根據(jù)本發(fā)明的圖像穩(wěn)定器的制造方法,由于通過移動霍爾元件或者磁體來檢測霍爾元件的輸出,所以基于感測的結果適當?shù)囟ㄎ换魻栐痛朋w并且通過粘接劑等將其固定,霍爾元件和磁體可高精度地相對容易地適當定位。因此,改善了這種圖像穩(wěn)定器的生產(chǎn)率。而且,根據(jù)本發(fā)明制造的圖像穩(wěn)定器,由于磁體和磁軛所形成的一套磁回路單元用作第一驅(qū)動器的磁回路也用作了第二驅(qū)動器的磁回路,所以可減少組件的個數(shù),而且圖像穩(wěn)定器本身也可尺寸緊湊且重量輕。因此,其上固定有本發(fā)明的圖像穩(wěn)定器的透鏡裝置以及配置有該透鏡裝置的成像裝置整體可尺寸緊湊且重量輕。
      而且,由于用于構成磁回路單元的磁體用作第一位置探測器(第一霍爾元件94)的磁體以檢測第一導向器(第一移動架51)的位置,也用作第二位置探測器(第二霍爾元件95)的磁體以檢測第二導向器(第二移動架52)的位置,所以可以實現(xiàn)對組件數(shù)目的更大的減少。而且,由于第一和第二霍爾元件固定在基板上,所以用于定位第一和第二霍爾元件的空間可減小并且圖像穩(wěn)定器可在尺寸上更小。
      進一步,由于包括兩個線圈、用于對兩個線圈供電的柔性印刷電路板等的線圈組合體固定到固定基板并且磁軛和磁體固定到第一移動架,所以通過對線圈提供電流而產(chǎn)生的推力可作用在磁軛和磁體的側部,從而移動校正透鏡。因此,連接到線圈組合體的柔性印刷電路板可固定到預定的位置并且不必維持移動柔性印刷電路板的空間,從而最小化圖像穩(wěn)定器。此外,由于校正透鏡不和柔性印刷電路板聯(lián)動,故而使得移動校正透鏡的推力的數(shù)值不必足夠大以彎折印刷電路板,并由此減少了圖像穩(wěn)定器的電力消耗。
      而且,由于透鏡裝置可構造成可伸縮系統(tǒng)透鏡,以使透過物鏡的光被棱鏡彎折90度并被引入圖像穩(wěn)定器的校正透鏡(五個透鏡組組),因此當圖像穩(wěn)定器處于正確的狀態(tài)時,校正透鏡與地面平行,從而作為校正透鏡的移動方向以及重量作用方向的第一和第二方向相互垂直。因此,由于用于支撐校正透鏡從而使校正透鏡可自由移動的第一和第二移動架從不受重量作用而沿第一和第二方向移動且也不需要在重量的相反方向被抬起然后被固定,所以不必經(jīng)常向圖像穩(wěn)定器提供電力。因此,當成像裝置處于正確位置時需要的電力消耗可大大降低,并由此延長成像裝置可操作使用的時間。此外,由于移動校正透鏡的推力可減小,所以第一和第二移動架重量,即大概1G的相機振動加速度變得可能,并由此能夠克服如較大相機振動的相機振動。
      上述實施例中說明的圖像穩(wěn)定器5的例采用固定了兩套線圈88a、88b和線圈91的移動磁體型致動機構,且到目前為止已經(jīng)解釋可動的磁體67a、67b和磁軛66,但本發(fā)明不限于此。相反,不必說明的是上述移動磁體型致動機構可被構造成其中磁體67a和67b和磁軛66固定到固定基板53、兩套線圈88a、88b、線圈91、霍爾元件94、95、柔性印刷電路板87和撓性加強板86固定到固定基板53,線圈等與校正透鏡15一起可移動的移動線圈系統(tǒng)致動機構。
      本發(fā)明不限于附圖中所示的前述的實施例,可在不偏離本發(fā)明的要旨的情況下進行各種修改。例如,盡管已在上述實施例中描述了數(shù)碼相機應用于圖像穩(wěn)定器的實施例,但本發(fā)明不限于此,可用于數(shù)碼攝像機、具有內(nèi)置相機的個人電腦、具有內(nèi)置相機的移動電話和其它成像裝置。進一步,盡管已在上述實施例中描述五個透鏡組用于透鏡裝置1的實施例,但本發(fā)明也可適于小于四個透鏡組的透鏡或者多于六個透鏡組的透鏡。
      本領域技術人員應當理解,在所附權利要求或者其等效內(nèi)容范圍內(nèi),根據(jù)設計要求和其它的因素進行各種修改、組合、子組合和變化。
      本發(fā)明要求于2005年7月11日在日本專利局申請的日本專利申請JP2005-201825的優(yōu)先權,其全部內(nèi)容在此引作結合。
      權利要求
      1.一種用于制造圖像穩(wěn)定器的方法,所述圖像穩(wěn)定器中的校正透鏡包括具有可相對移動的線圈和磁體的驅(qū)動器且通過所述驅(qū)動器固定到移動架,其中所述線圈和磁體中的一個固定到所述移動架而另一個固定到可移動地支撐所述移動架的支撐架,所述校正透鏡可在與透鏡系統(tǒng)的光軸垂直的第一方向上和與所述第一方向垂直且也與所述光軸垂直的第二方向上移動,控制所述校正透鏡的光軸使其與所述透鏡系統(tǒng)的所述光軸重合,所述方法包括如下步驟通過利用固定到支撐所述線圈的線圈支撐元件的第一霍爾元件檢測所述磁體的磁力,檢測與所述校正透鏡的第一方向相關的位置信息;通過利用固定到所述線圈支撐元件的第二霍爾元件檢測所述磁體的磁力,檢測與所述校正透鏡的第二方向相關的位置信息;通過使所述第一和第二霍爾元件向所述第一和第二方向移動,將所述第一和第二霍爾元件定位在所述第一和第二霍爾元件接收到的來自所述磁體的磁力作為參考值的位置處,其中,所述磁體和線圈中的一個固定到所述移動架上,所述磁體和所述線圈支撐元件中的另一個固定到所述支撐架上,并且所述校正透鏡的光軸與所述透鏡系統(tǒng)的光軸重合;以及將所述磁體和所述線圈支撐元件的另一個固定到所述支撐架上。
      2.如權利要求1所述的圖像穩(wěn)定器的制造方法,其中,所述驅(qū)動器包括用于使所述校正透鏡向所述第一方向移動的第一線圈,用于使所述校正透鏡向所述第二方向移動的第二線圈和用于向所述第一和第二線圈提供磁力的所述磁體,一個磁體的磁力對兩個線圈共同作用,從而使所述校正透鏡可在所述第一和第二方向上移動。
      3.如權利要求1所述的圖像穩(wěn)定器的制造方法,其中,所述磁體由具有至少彼此垂直交叉的兩個平面部分的扁平板體形成,而且所述第一和第二霍爾元件在所述第一和第二霍爾元件檢測部分的大致中心部分檢測所述磁體的所述兩個平面部分的邊緣部分,或者檢測其上固定有所述磁體的磁軛中對應于所述磁體的所述兩個平面部分的邊緣部分。
      4.如權利要求3所述的圖像穩(wěn)定器的制造方法,其中,所述磁軛在其對應于所述磁體的所述兩個平面部分的邊緣部分包括凸起部分,以便引入由所述磁體產(chǎn)生的磁通量。
      5.如權利要求3所述的圖像穩(wěn)定器的制造方法,其中,所述凸起部分由設置在所述邊緣部分中的所述兩個平面部分的一側的大致中心部分的第一和第二凸起部分形成,并且設置在所述第一霍爾元件一側的所述第一凸起部分設置在當所述第一霍爾元件相對地移向所述第二方向時磁通量密度最大位置附近,設置在所述第二霍爾元件一側的所述第二凸起部分設置在當所述第二霍爾元件相對地移向所述第一方向時磁通量密度最大位置附近。
      6.如權利要求1所述的圖像穩(wěn)定器的制造方法,進一步包括提供適當定位所述移動架和所述支撐架的定位裝置的步驟和提供支撐座的步驟,該支撐座具有所述線圈和連接到其上的所述磁體中的一個,所述支撐座固定到所述支撐架,并且其中在所述支撐座適當定位之后,所述支撐座由粘接劑連接到所述支撐架上,且在所述校正透鏡處于由所述定位機構適當定位在預定位置的狀態(tài)下,通過經(jīng)所述支撐座移動所述支撐架上的所述線圈或者所述磁體,對所述第一和第二霍爾元件的輸出進行監(jiān)控。
      7.如權利要求2所述的圖像穩(wěn)定器的制造方法,其中,所述第一和第二線圈由具有平面繞組的平線圈或筒形線圈或?qū)盈B到適當高度的平線圈或者平線圈和筒形線圈的組合而形成,并且,所述第一線圈固定到所述線圈支撐元件的一個表面上,所述第二線圈固定到所述線圈支撐元件的另一個表面上,所述第一線圈的推力產(chǎn)生部分和所述第二線圈的推力產(chǎn)生部分設置成彼此垂直交叉,使得所述磁體的磁力對兩個所述推力產(chǎn)生部分共同作用。
      全文摘要
      一種圖像穩(wěn)定器制造方法,提供一個可穩(wěn)定由相機振動或顫動產(chǎn)生的模糊圖像的圖像穩(wěn)定器。磁體和線圈支撐元件的一個固定到移動架上。在校正透鏡的光軸與透鏡系統(tǒng)的光軸匹配的狀態(tài)下,在第一和第二霍爾元件被適當定位到通過將第一和第二霍爾元件移向第一和第二方向而使兩個霍爾元件接收到的磁力作為參考值的位置之后,將磁體和線圈支撐元件的另一個固定到支撐架上。
      文檔編號H04N5/232GK1896804SQ200610106049
      公開日2007年1月17日 申請日期2006年6月5日 優(yōu)先權日2005年7月11日
      發(fā)明者高橋立幸 申請人:索尼株式會社
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