專利名稱：：單板測試信息存儲裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及測試領(lǐng)域，尤其涉及單板測試信息存儲裝置和單板測試信息存儲方法。
背景技術(shù)：
：在生產(chǎn)測試領(lǐng)域，單4反測試信息十分重要，通過單纟反測試信息的分析可以了解單板的測試完成狀況和單玲反的功能實現(xiàn)情況，對生產(chǎn)測試管理、單一反維^修以及設(shè)備開局維護人員都有4艮大的幫助。單板功能測試一般采用的方式是上位機通過通訊口向單板發(fā)送測試命令，單板測試完畢后，將結(jié)果上報，由上位機判斷單板測試結(jié)果。對于測試信息，一^:采用由上位沖幾處理發(fā)送到月l務(wù)器采用網(wǎng)上凄t據(jù)庫存儲的方式。這種存儲測試信息方法的一個限制是查詢不方便。首先需要安裝特定的數(shù)據(jù)庫軟件，其次要通過上網(wǎng)才能進行查詢。這種存儲測試信息方法的另一個限制是不能保證存儲信息的準確性。因為這種存儲方式必須利用纟皮測單4反的一個唯一屬性作為標識來存4諸或查詢數(shù)據(jù)，例如，條碼或編號等。如果測試操作中這個標識的輸入環(huán)節(jié)有操作失誤或錯誤的情況，則不能在數(shù)據(jù)庫中正確的查到該單纟反的測試zf言息。這種存儲測試信息方法的再一個限制是無法判斷單板是否進行了測試。在數(shù)據(jù)庫的測試信息中，由于無法區(qū)分單板標識信息是輸入錯誤還是沒有輸入，導(dǎo)致無法判斷某單板是否進行測試。因此，需要采用一種方法能夠?qū)伟鍦y試信息準確唯一的存儲，并能方便獲取信息和分析信息。
發(fā)明內(nèi)容針對以上的一個或多個問題，本發(fā)明提供了一種單板測試信息存儲裝置和方法。本發(fā)明的單板測試信息存儲裝置包括非易失性存儲單元，用于存儲來自單板的單板測試信息，保證在掉電時數(shù)據(jù)不丟失；控制處理單元，用于提供對非易失性存儲單元的讀寫功能和對上位機的通信接口單元的控制功能；以及通信接口單元，用于實現(xiàn)上位機和下位機之間測試信息的傳輸。其中，單板測試信息包括以下至少一種被測單板條碼、單板PCB版本、測試時間、單^反測試狀態(tài)、以及單^反測試項測試狀態(tài)信息。單板信息的數(shù)字表示方式采用4個比特位的二進制數(shù)字表示一位十進制數(shù)字，即，一個字節(jié)存儲兩個數(shù)字。被測單板條碼分配N個字節(jié)存儲空間，可存儲2xN位條碼數(shù)字，條碼數(shù)字的存儲順序是條碼數(shù)字從左到右依次存儲，從存儲空間的低位地址開始每一個字節(jié)存儲條碼的兩位數(shù)字，一個字節(jié)的高4位存儲兩位數(shù)字中左邊的數(shù)字，低4位存儲兩位數(shù)字中右邊的數(shù)字，其中，N為正整^:。單板PCB版本分配M個字節(jié)存儲空間，可存儲2xM位數(shù)字，存儲順序與單板條碼的存儲順序相同，其中，M為正整數(shù)。單板測試時間分配M個字節(jié)存儲空間，可存儲2xM位數(shù)字，時間按照年月日來存儲，各由兩個數(shù)字表示，存儲順序是按照年月日依次從低位地址開始存儲，一個字節(jié)的高4位存儲兩位數(shù)字中的十位lt字，低4位存儲兩位數(shù)字中的個位數(shù)字，其中，M為正整凄t。根據(jù)測試項的數(shù)目和存儲空間的大小設(shè)置單板測試狀態(tài)和單板測i式項測i式^R態(tài)〗言息。本發(fā)明的單板測試信息存儲方法包括以下步驟步驟S202，單板測試信息存儲裝置通過其通信接口單元接收來自上位機的通信命令；步驟S204,單板測試信息存儲裝置才艮據(jù)通信命令對不同的單板測試信息進行不同的處理；以及步驟S206，單板測試信息存儲裝置將處理后的單板測試信息存儲到其對應(yīng)的非易失性存儲單元中。本發(fā)明的優(yōu)點在于一、能夠?qū)伟宓臏y試信息存儲到本板，確保了測試信息的正確性和唯一性。二、測試信息獲取方便。獲取方式靈活，即可通過通訊接口上才艮給上位才幾來查詢，也可通過單板軟件直接讀耳又查詢。適用于生產(chǎn)測試管理、單板維^修、i殳備現(xiàn)場維護等多種情況，不受網(wǎng)絡(luò)和數(shù)據(jù)庫軟件限制。三、存儲信息內(nèi)容完備，便于信息分析。根據(jù)存儲的條碼信息和單板實際條碼對比可以判斷單板是否誤測；根據(jù)單板測試狀態(tài)信息可以判斷單板是否測試；根據(jù)測試項狀態(tài)信息可以判斷單板功能測試是否完全以及單板功能的實現(xiàn)情況。本發(fā)明不^又方《更生產(chǎn)測試i由4企，有效的加強生產(chǎn)測i式管理還可以協(xié)助維護維^修人員了解單板狀態(tài)，^是高工作效率。此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構(gòu)成本申-清的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其i兌明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當限定。在附圖中圖1為根據(jù)本發(fā)明的單板測試信息存儲裝置的整體框圖2為根據(jù)本發(fā)明的單板測試信息存儲方法的流程圖3是根據(jù)本發(fā)明的表示條碼信息存儲格式說明圖4是根據(jù)本發(fā)明的表示測試時間信息存儲格式說明圖；以及圖5是根據(jù)本發(fā)明的表示單板和測試項測試狀態(tài)信息存儲格式說明圖。具體實施例方式下面參考附圖，詳細說明本發(fā)明的具體實施方式。為解決以上問題，本發(fā)明提出一種將單板的測試信息存儲在被測單板上，將特定的測試信息按約定的表示方式和存儲格式的進行存儲和讀取的方法。一個目的是確保了測試信息的唯一性和準確性；另一個目的是，方便單板使用或維護人員，可直接從單板上獲取分析測試信息；再一個目的是，可協(xié)助生產(chǎn)測試管理，準確判斷單外反是否漏測或i吳測。本發(fā)明提供的單板測試信息存儲方法從硬件和軟件兩個方面結(jié)合實現(xiàn)。在單一反上i殳計非易失性存々者單元、控制處理單元以及和上位才幾通訊接口單元。非易失性存儲單元用來存々者單^反測試信息，確係:掉電數(shù)據(jù)不丟失；控制處理單元提供非易失性存儲器件讀寫功能和上位才幾通訊接口控制功能；上位才幾通ifU妄口實現(xiàn)上下位才幾測試信息的傳遞。單々反上位4幾軟件將單纟反測試信息通過通ifU妄口發(fā)送到^皮測單板；被測單板軟件將測試信息按照約定的格式存儲到單板上的非易失性存儲單元中；被測單板同時提供軟件接口可供讀取非易失性存儲單元內(nèi)的信息。對要存儲的測試信息的內(nèi)容、表示方法和存儲格式規(guī)定如下存儲測試信息內(nèi)容包括被測單板條碼、單板PCB版本、測試時間、單板測試狀態(tài)、單板測試項測試狀態(tài)信息。單板信息的數(shù)字表示方式采用4個bit位的二進制數(shù)來表示一位10進制數(shù)字的方式，即一個字節(jié)存儲兩個數(shù)字，可高效的利用存儲空間。單板條碼分配7個字節(jié)存儲空間，可存儲14位條碼數(shù)字，存儲順序是條碼數(shù)字從左到由右依次存儲，從存儲空間的^f氐位地址開始每一個字節(jié)存儲條碼兩位凄史字，一個字節(jié)的高4位存儲兩位數(shù)字中左邊的數(shù)字，低4位存儲兩位數(shù)字中右邊的數(shù)字。單板PCB版本分配3個字節(jié)存儲空間，可存儲6位數(shù)字，存儲順序同單4反條碼的順序一樣。單板測試時間分配3個字節(jié)存儲空間，可存儲6位數(shù)字，時間按年月日存儲，各由兩個數(shù)字表示。存儲順序是時間按年月日依次從低位地址開始存儲，一個字節(jié)的高4位存儲兩位數(shù)字中十位數(shù)字，低4位存儲兩位凄t字中的個位數(shù)字。單板測試狀態(tài)和單板測試項測試狀態(tài)信息共分配若干個字節(jié)具體可根據(jù)測試項的數(shù)目和存儲空間大小設(shè)置。單板測試狀態(tài)分配2個bit來表示。"00"表示測試通過；"01"表示測試失??；"11"表示沒有測試。每個測試項的對應(yīng)2個bit來表示測試狀態(tài)，"00"表示測試通過；"01"表示測試失?。?11"表示沒有測試。存^f諸順序從低位地址開始，每個字節(jié)內(nèi)的存儲順序是從高位到低位依次存儲單板測試狀態(tài)信息和單板測試項測試狀態(tài)信息。圖1表示本發(fā)明一較佳實施例的由以上各硬件單元組成的單板測試信息存儲裝置的原理框圖，并示出了裝置各組成單元之間的信號流向。本發(fā)明在硬件上需要控制處理單元、非易失性存儲器單元和通訊接口單元支持，軟件提供按約定格式存儲和讀取測試信息的功能。其中，接口單元102主要實現(xiàn)整個單元的通訊*接口連4妄功能，實現(xiàn)上位才幾測試命令或測試信息的下發(fā)，以及下位才幾測試結(jié)果或測試信息的上才艮，具體實現(xiàn)可4艮據(jù)測試環(huán)境實際情況選擇串口、網(wǎng)口或其^也方式的通ifl口；控制處理單元104主要實現(xiàn)對通訊接口的的控制功能、通訊數(shù)據(jù)的處理功能以及非易失性存儲器件的讀寫功能。具體實現(xiàn)可由MCU、CPU、邏輯或其^也處理4空制系統(tǒng)完成。非易失性存儲單元106實現(xiàn)測試信息的斷電不丟失存儲，非易失性存儲器件既可是串行總線也可是并行總線器件。圖2表示本發(fā)明的單板測試信息存儲方法的流程圖。上位機通過通訊接口向單板發(fā)送存儲測試信息的命令(S202)，單板軟件根據(jù)測試命令接收不同的測試信息(S204)，并存儲到相應(yīng)的存儲地址單元中(S206)。同時單板軟件也可根據(jù)測試命令，將不同的測試信息A人相應(yīng)的存^f諸地址中讀耳又上才艮。圖3表示條碼信息的存儲結(jié)構(gòu)。例如條碼信息是102547696893，存儲單元基址是0x1000,那么條碼信息的存々者內(nèi)容為<table>tableseeoriginaldocumentpage10</column></row><table>PCB版本信息存儲與條碼信息存儲方式相同。圖4表示測試時間的存4諸結(jié)構(gòu)。例如測試時間是06年12月19日，存儲單元基址是0x1010，那么測試時間信息的存儲內(nèi)容是<table>tableseeoriginaldocumentpage10</column></row><table>圖5表示單板測試狀態(tài)和單板測試項狀態(tài)信息的存儲結(jié)構(gòu)。例如單板測試不通過.共10個測試項，測試項序號從l開始。其中第1、3測試項測試不通過、第5、6測試項沒有測試、其余測試項測試都通過。存儲單元基址是0x1020。那么單板測試狀態(tài)和測試項狀態(tài)信息的存儲內(nèi)容是<table>tableseeoriginaldocumentpage10</column></row><table>0x1002地址空間的最低兩位沒有存儲信息，可不處理或補"11"狀態(tài)。以上僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的^支術(shù)人員來i兌，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。權(quán)利要求1.一種單板測試信息存儲裝置，其特征在于包括非易失性存儲單元，用于存儲來自單板的單板測試信息，保證在掉電時數(shù)據(jù)不丟失；控制處理單元，用于提供對所述非易失性存儲單元的讀寫功能和對上位機的通信接口單元的控制功能；以及所述通信接口單元，用于實現(xiàn)上位機和下位機之間測試信息的傳輸。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單板測試信息存儲裝置，其特征在于，所述單板測試信息包括以下至少一種被測單板條碼、單板PCB版本、測試時間、單才反測試狀態(tài)、以及單^反測試項測試狀態(tài)信息。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的單板測試信息存儲裝置，其特征在于，所述單板信息的數(shù)字表示方式采用4個比特位的二進制數(shù)字表示一位十進制數(shù)字，即，一個字節(jié)存儲兩個數(shù)字。4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的單板測試信息存儲裝置，其特征在于，所述纟皮測單板條碼分配N個字節(jié)存儲空間，可存儲2xN位條碼數(shù)字，所述條碼數(shù)字的存儲順序是條碼數(shù)字從左到右依次存儲，從所述存儲空間的^f氐位地址開始每一個字節(jié)存儲條碼的兩位數(shù)字，一個字節(jié)的高4位存儲兩位數(shù)字中左邊的數(shù)字，低4位存儲兩位數(shù)字中右邊的數(shù)字，其中，N為正整數(shù)。5.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的單板測試信息存儲裝置，其特征在于，所述單板PCB版本分配M個字節(jié)存儲空間，可存儲2xM位數(shù)字，存儲順序與所述單板條碼的存儲順序相同，其中，M為正整凌t。6.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的單板測試信息存儲裝置，其特征在于，所述單板測試時間分配M個字節(jié)存々者空間，可存儲2xM位數(shù)字，時間按照年月日來存儲，各由兩個凄史字表示，存儲順序是按照年月日依次從低位地址開始存儲，一個字節(jié)的高4位存儲兩位數(shù)字中的十位數(shù)字，低4位存儲兩位數(shù)字中的個位^t字，其中，M為正整凄t。7.才艮據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的單板測試信息存儲裝置，其特征在于，根據(jù)所述測試項的數(shù)目和存儲空間的大小設(shè)置所述單一反測試狀態(tài)和所述單一反測試項測試狀態(tài)信息。8.—種使用權(quán)利要求1至7中任一項所述的單板測試信息存儲裝置的單纟反測試信息存〗諸方法，其特征在于，包4舌以下步駛《步驟S202,單纟反測試信息存4諸裝置通過其通信4妄口單元接收來自上位機的通信命令；步驟S204，所述單板測試信息存〗諸裝置4艮據(jù)所述通信命令對不同的單板測試信息進行不同的處理；以及步驟S206，所述單板測試信息存儲裝置將處理后的單板測試信息存儲到其對應(yīng)的非易失性存儲單元中。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的單板測試信息存儲方法，其特征在于，所述單板測試信息包括以下至少一種被測單板條碼、單板PCB版本、測試時間、單^反測試狀態(tài)、以及單^反測試項測試狀態(tài)4言息。全文摘要本發(fā)明提供了一種單板測試信息存儲裝置和方法，該裝置包括非易失性存儲單元，用于存儲來自單板的單板測試信息，保證在掉電時數(shù)據(jù)不丟失；控制處理單元，用于提供對非易失性存儲單元的讀寫功能和對上位機的通信接口單元的控制功能；以及通信接口單元，用于實現(xiàn)上位機和下位機之間測試信息的傳輸。本發(fā)明的優(yōu)點在于一、能夠?qū)伟宓臏y試信息存儲到本板，確保了測試信息的正確性和唯一性。二、測試信息獲取方便，獲取方式靈活。既可通過通訊接口上報給上位機來查詢，也可通過單板軟件直接讀取查詢。適用于生產(chǎn)測試管理、單板維修、設(shè)備現(xiàn)場維護等多種情況，不受網(wǎng)絡(luò)和數(shù)據(jù)庫軟件限制。三、存儲信息內(nèi)容完備，便于信息分析。文檔編號H04Q1/20GK101193327SQ20071011074公開日2008年6月4日申請日期2007年6月6日優(yōu)先權(quán)日2007年6月6日發(fā)明者鵬張,錢崇麗,閆曉艷申請人:中興通訊股份有限公司