專利名稱：一種單板信號(hào)的輔助測(cè)試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通信設(shè)備測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種單板信號(hào)的輔助測(cè)試系 統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
在較大規(guī)模的電路單板測(cè)試過(guò)程中，往往會(huì)涉及到大量信號(hào)方面的測(cè)試， 如信號(hào)完整性測(cè)試、接口時(shí)序測(cè)試等。所述信號(hào)方面的測(cè)試量非常巨大，并且 涉及到的芯片很多，而每個(gè)芯片對(duì)輸入本芯片的信號(hào)有差別的要求，如果針對(duì) 每個(gè)單板和芯片設(shè)計(jì)測(cè)試項(xiàng)，將涉及大量的重復(fù)工作。所述重復(fù)工作及其面臨 的問(wèn)題主要集中如下幾個(gè)方面1、 信號(hào)選擇，也就是如何確定被測(cè)信號(hào)。測(cè)試設(shè)計(jì)人員首先要閱讀單板 芯片原理圖，大致了解其實(shí)現(xiàn)的基本原理，然后根據(jù)情況來(lái)確定需要測(cè)試哪些 信號(hào)，然后閱讀單板芯片的數(shù)據(jù)手冊(cè)査找這些信號(hào)要求，根據(jù)這些要求編寫出 測(cè)試文檔然后進(jìn)入測(cè)試階段。由于是根據(jù)測(cè)試人員經(jīng)驗(yàn)來(lái)決定測(cè)試哪些信號(hào)和 信號(hào)要求，其并不能夠保證測(cè)試的質(zhì)量。2、 測(cè)試執(zhí)行管理。測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試人員要把示波器等儀器測(cè)試到的數(shù) 據(jù)和抓取的圖片輸入到文檔中，然后根據(jù)測(cè)試的數(shù)據(jù)和測(cè)試項(xiàng)的參數(shù)要求判斷 出各參數(shù)是否合格。再對(duì)測(cè)試項(xiàng)作出結(jié)論，最后根據(jù)所有的信號(hào)測(cè)試項(xiàng)對(duì)單板 信號(hào)的整體質(zhì)量作出評(píng)價(jià)，并統(tǒng)計(jì)出不合格的測(cè)試項(xiàng)。其對(duì)于測(cè)試本身需要評(píng) 價(jià)測(cè)試的覆蓋率，測(cè)試執(zhí)行的質(zhì)量等。3、 問(wèn)題項(xiàng)跟蹤。測(cè)試完畢后，所有問(wèn)題反饋給開發(fā)人員，問(wèn)題通過(guò)協(xié)商 和改版解決，再次交給測(cè)試人員驗(yàn)證。單板的改版周期較長(zhǎng)，當(dāng)改版后的單板 交給測(cè)試人員時(shí)，測(cè)試人員往往需要再次熟悉單板的實(shí)現(xiàn)和改版情況，而對(duì)于 信號(hào)的驗(yàn)證耗費(fèi)較多的時(shí)間。因此，如何快速完成單板中被測(cè)信號(hào)的選擇和測(cè)試要求的獲取，完成測(cè)試 項(xiàng)的建立，提高測(cè)試覆蓋率；如何快速獲取測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)，提高測(cè)試的質(zhì)量；如
何改善測(cè)試過(guò)程的管理，提高測(cè)試效率等是單板測(cè)試所需要解決的主要問(wèn)題。 目前尚未有相關(guān)技術(shù)解決上述問(wèn)題。綜上可知，現(xiàn)有的單板測(cè)試技術(shù)，在實(shí)際使用上，顯然存在不便與缺陷， 所以有必要加以改進(jìn)。發(fā)明內(nèi)容針對(duì)上述的缺陷，本發(fā)明的第一目的在于提供一種單板信號(hào)的輔助測(cè)試系 統(tǒng)，該系統(tǒng)可以快速完成單板中被測(cè)信號(hào)的選擇和測(cè)試要求的獲取，提高測(cè)試 質(zhì)量和測(cè)試效率。本發(fā)明的第二目的在于提供一種單板信號(hào)的輔助測(cè)試方法，該方法可以快 速完成單板中被測(cè)信號(hào)的選擇和測(cè)試要求的獲取，提高測(cè)試質(zhì)量和測(cè)試效率。 為了實(shí)現(xiàn)上述第一目的，本發(fā)明提供一種單板信號(hào)的輔助測(cè)試系統(tǒng)，包括信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)，用于存儲(chǔ)和提供單板芯片信號(hào)信息；信號(hào)輔助測(cè)試管理模塊，用于檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè) 試項(xiàng)工作表格以輔助單板信號(hào)的測(cè)試，并且對(duì)單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程和結(jié)果進(jìn)行管理。根據(jù)本發(fā)明的系統(tǒng)，所述對(duì)單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程和結(jié)果進(jìn)行管理包括在 單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片加載至測(cè)試項(xiàng)工作 表格，并根據(jù)所述測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片判斷測(cè)試項(xiàng)工作表格中的測(cè)試項(xiàng)是否合 格；在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格中所有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜合統(tǒng) 計(jì)、分析得到測(cè)試項(xiàng)的不合格率和問(wèn)題項(xiàng)，并對(duì)問(wèn)題項(xiàng)進(jìn)行跟蹤。根據(jù)本發(fā)明的系統(tǒng)，所述信號(hào)輔助測(cè)試管理模塊包括測(cè)試項(xiàng)建立模塊，用于檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè)試項(xiàng)工 作表格以輔助單板信號(hào)的測(cè)試；測(cè)試執(zhí)行管理模塊，用于在單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè)試數(shù)值 和測(cè)試圖片加載至測(cè)試項(xiàng)工作表格，并根據(jù)所述測(cè)試數(shù)值和測(cè)i式圖片判斷測(cè)試 項(xiàng)工作表格中的測(cè)試項(xiàng)是否合格；在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格 中所有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜合統(tǒng)計(jì)和分析得到測(cè)試項(xiàng)的不合格率和問(wèn)題項(xiàng)，并對(duì)問(wèn) 題項(xiàng)進(jìn)行跟蹤。根據(jù)本發(fā)明的系統(tǒng)，所述測(cè)試執(zhí)行管理模塊進(jìn)一步包括 測(cè)試過(guò)程管理模塊，用于在單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè)試數(shù)值 和測(cè)試圖片加載至測(cè)試項(xiàng)工作表格，并根據(jù)測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片判斷出測(cè)試項(xiàng) 工作表格中的測(cè)試項(xiàng)是否合格；測(cè)試結(jié)論評(píng)價(jià)模塊，用于在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格中所 有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜合統(tǒng)計(jì)和分析計(jì)算出測(cè)試項(xiàng)的不合格率和問(wèn)題項(xiàng)；問(wèn)題項(xiàng)跟蹤模塊，用于在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)統(tǒng)計(jì)分析出的問(wèn)題項(xiàng)進(jìn) 行跟蹤。根據(jù)本發(fā)明的系統(tǒng)，所述測(cè)試執(zhí)行管理模塊進(jìn)一步包括數(shù)據(jù)庫(kù)維護(hù)模塊，用于對(duì)信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行擴(kuò)充、修改和管理。根據(jù)本發(fā)明的系統(tǒng)，所述信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)按照"芯片代碼、芯片型號(hào)、適用管 腳、參數(shù)表、說(shuō)明"的格式進(jìn)行建模；所述參數(shù)表米用 aral (min， max) 、 para2 (min， max)、 …、paraN (min， max)"的方式，para是參數(shù)名稱，min是該參數(shù)要求的最小值，max 是該參數(shù)要求的最大值。根據(jù)本發(fā)明的系統(tǒng)，所述信號(hào)輔助測(cè)試管理模塊根據(jù)從單板原理圖和PCB 圖導(dǎo)出的芯片信息和網(wǎng)絡(luò)信息檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)以得到單板芯片參數(shù)及要求。根據(jù)本發(fā)明的系統(tǒng)，所述信號(hào)輔助測(cè)試管理模塊根據(jù)芯片信息、網(wǎng)絡(luò)信息 和單板芯片參數(shù)及要求建立測(cè)試項(xiàng)工作表格。為了實(shí)現(xiàn)上述第二目的，本發(fā)明提供一種單板信號(hào)的輔助測(cè)試方法，包括 如下步驟A、 建立信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)以存儲(chǔ)和提供單板芯片信號(hào)信息；B、 檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè)試項(xiàng)工作表格以輔助單板 信號(hào)的測(cè)試，并且對(duì)單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程和結(jié)果進(jìn)行管理。根據(jù)本發(fā)明的方法，所述步驟B進(jìn)一步包括Bl 、檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè)試項(xiàng)工作表格，并在測(cè) 試項(xiàng)工作表格中標(biāo)注若干個(gè)測(cè)試項(xiàng)以輔助單板信號(hào)的測(cè)試；B2、在單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片加載至 測(cè)試項(xiàng)工作表格，并根據(jù)所述測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片判斷測(cè)試項(xiàng)工作表格中的測(cè) 試項(xiàng)是否合格；B3、在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格中所有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜 合統(tǒng)計(jì)和分析得到測(cè)試項(xiàng)的不合格率和問(wèn)題項(xiàng)，并對(duì)問(wèn)題項(xiàng)進(jìn)行跟蹤。本發(fā)明通過(guò)建立信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)以存儲(chǔ)和提供單板芯片信號(hào)信息，通過(guò)檢索所 述信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè)試項(xiàng)工作表格以輔助單板信號(hào)的測(cè) 試，由此通過(guò)所述測(cè)試項(xiàng)工作表格快速完成了單板中被測(cè)信號(hào)的選擇和測(cè)試要 求的獲取。在單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片加載至 測(cè)試項(xiàng)工作表格，并根據(jù)所述測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片判斷測(cè)試項(xiàng)工作表格中的測(cè) 試項(xiàng)是否合格；在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格中所有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn) 行綜合統(tǒng)計(jì)和分析得到測(cè)試項(xiàng)的不合格率，并對(duì)問(wèn)題項(xiàng)進(jìn)行跟蹤，由此解決大 規(guī)模的電路單板測(cè)試中的信號(hào)的管理，保證了測(cè)試的全面性和完整性，進(jìn)而提 高了測(cè)試質(zhì)量和測(cè)試效率。


圖1是本發(fā)明提供的單板信號(hào)的輔助測(cè)試系統(tǒng)模塊示意圖；圖2是本發(fā)明提供的單板信號(hào)的輔助測(cè)試方法流程圖；圖3是本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例提供的單板信號(hào)的輔助測(cè)試方法流程圖。
具體實(shí)施方式
為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí) 施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅 僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。本發(fā)明的基本思想是建立信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)以存儲(chǔ)和提供單板芯片信號(hào)信息， 通過(guò)檢索所述信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè)試項(xiàng)工作表格以輔助單 板信號(hào)的測(cè)試，并且對(duì)單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程和結(jié)果進(jìn)行管理。本發(fā)明提供的單板信號(hào)的輔助測(cè)試系統(tǒng)100如圖1所示，該系統(tǒng)包括信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)101和信號(hào)輔助測(cè)試管理模塊102。其中，信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)101，與信號(hào)輔助測(cè)試管理模塊102相連，用于將存儲(chǔ)和提供 單板芯片信號(hào)信息。本發(fā)明，按照單板芯片的要求，把單板芯片的信號(hào)按照參數(shù)要求輸入到信 號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)IOI，所述參數(shù)要求包括信號(hào)完整性要求和接口時(shí)序要求。所述數(shù)據(jù) 庫(kù)101是按照"芯片代碼、芯片型號(hào)、適用管腳、參數(shù)表、說(shuō)明"的格式進(jìn)行
建模，其中參數(shù)表采用"paral (min， max) 、 para2 (min， max)、…、paraN (min， max)"的方式，"para"是參數(shù)名稱，如Tr代表上升時(shí)間，"min" 是該參數(shù)要求的最小值，"max"是該參數(shù)要求的最大值。"說(shuō)明"是對(duì)該記 錄中的參數(shù)解釋或有必要添加的文本或圖片。進(jìn)一步地，根據(jù)單板芯片的要求，把芯片適用管腳分成若干類，每個(gè)類建 立一條記錄。調(diào)用信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)101時(shí)根據(jù)芯片的代碼、型號(hào)、管腳名稱等可以 檢索到該記錄。本發(fā)明通過(guò)信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)101的共享獲取準(zhǔn)確的信號(hào)要求，能夠?qū)π盘?hào)要求 進(jìn)行了有效的積累，減少了測(cè)試人員的獲取信號(hào)要求的工作量，避免了因個(gè)人 經(jīng)驗(yàn)或理解造成的錯(cuò)誤。并能夠使測(cè)試質(zhì)量得到保障。信號(hào)輔助測(cè)試管理模塊102，用于檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)101存儲(chǔ)的單板芯片信 息建立測(cè)試項(xiàng)工作表格以輔助單板信號(hào)的測(cè)試，并且對(duì)單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程和 結(jié)果進(jìn)行管理。本發(fā)明中對(duì)單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程和結(jié)果進(jìn)行管理主要包括在單板信號(hào)的 測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片加載至測(cè)試項(xiàng)工作表格，并根據(jù) 所述測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片判斷測(cè)試項(xiàng)工作表格中的測(cè)試項(xiàng)是否合格；在單板信 號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格中所有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜合統(tǒng)計(jì)和分析得到 測(cè)試項(xiàng)的不合格率和問(wèn)題項(xiàng)，并對(duì)問(wèn)題項(xiàng)進(jìn)行跟蹤。該信號(hào)輔助測(cè)試管理模塊102進(jìn)一步包括測(cè)試項(xiàng)建立模塊103和測(cè)試執(zhí) 行管理模塊104。其中，測(cè)試項(xiàng)建立模塊103，亦稱為測(cè)試項(xiàng)工作表格組裝模塊，用于檢索信號(hào)數(shù) 據(jù)庫(kù)101存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè)試項(xiàng)工作表格以輔助單板信號(hào)的測(cè)試。具體而言，該測(cè)試項(xiàng)建立模塊103利用電路開發(fā)軟件的網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)出工具， 從單板原理圖和PCB圖105中導(dǎo)出芯片信息和網(wǎng)絡(luò)信息，該網(wǎng)絡(luò)信息包括位 號(hào)、器件代碼、器件名稱、網(wǎng)絡(luò)名、管腳名等信息，根據(jù)位號(hào)信息過(guò)濾提取有 關(guān)芯片的網(wǎng)絡(luò)信息，并根據(jù)所述芯片信息和網(wǎng)絡(luò)信息檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)101獲取 單板芯片參數(shù)及要求，根據(jù)所獲取單板芯片參數(shù)及要求、芯片信息和網(wǎng)絡(luò)信息 建立測(cè)試項(xiàng)工作表格以輔助單板信號(hào)的測(cè)試。所述測(cè)試項(xiàng)工作表格作為整個(gè)測(cè) 試過(guò)程中的主要記錄文件。在測(cè)試項(xiàng)工作表格中，每個(gè)信號(hào)完整性要求形成一條測(cè)試項(xiàng)，每一個(gè)接口
時(shí)序形成一條測(cè)試項(xiàng)，并且在各測(cè)試項(xiàng)上預(yù)留參數(shù)、要求、測(cè)試值、結(jié)論、圖 片表格。在該測(cè)試項(xiàng)工作表格中，測(cè)試人員對(duì)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行二次過(guò)濾，標(biāo)記需要 被測(cè)試的測(cè)試項(xiàng)。通過(guò)所述測(cè)試項(xiàng)建立模塊103可以快速的獲取測(cè)試項(xiàng)，能夠提高測(cè)試的覆 蓋率，減輕測(cè)試人員大量查找信號(hào)，編寫測(cè)試文檔的工作量。測(cè)試執(zhí)行管理模塊104，用于在單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè)試 數(shù)值和測(cè)試圖片加載至測(cè)試項(xiàng)工作表格，并根據(jù)所述測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片判斷測(cè)試項(xiàng)工作表格中的測(cè)試項(xiàng)是否合格；在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格中所有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜合統(tǒng)計(jì)和分析得到測(cè)試項(xiàng)的不合格率，并對(duì)問(wèn)題項(xiàng) 進(jìn)行跟蹤。該測(cè)試執(zhí)行管理模塊104進(jìn)一步包括測(cè)試過(guò)程管理模塊1041、測(cè)試結(jié) 論評(píng)價(jià)模塊1042、問(wèn)題項(xiàng)跟蹤模塊1043和數(shù)據(jù)庫(kù)維護(hù)模塊1044。測(cè)試過(guò)程管理模塊1041，用于在單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè) 試數(shù)值和測(cè)試圖片加載至測(cè)試項(xiàng)工作表格，并根據(jù)所述測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片判 斷測(cè)試項(xiàng)工作表格中的測(cè)試項(xiàng)是否合格。該測(cè)試過(guò)程管理模塊1041主要是提供給測(cè)試人員的測(cè)試項(xiàng)的管理界面， 顯示測(cè)試項(xiàng)工作表格的記錄，負(fù)責(zé)測(cè)試執(zhí)行模塊106的數(shù)據(jù)輸入和測(cè)試項(xiàng)的評(píng) 價(jià)。具體過(guò)程如下測(cè)試人員根據(jù)測(cè)試項(xiàng)工作表格中的測(cè)試項(xiàng)，使用示波器等 測(cè)試儀器1061對(duì)被測(cè)單板1062信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試過(guò)程管理模塊1041通過(guò) 管理界面把相應(yīng)參數(shù)的測(cè)試數(shù)值輸入到測(cè)試項(xiàng)工作表格中，并把示波器1061 抓取的圖片加載到測(cè)試項(xiàng)工作表格中。該測(cè)試過(guò)程管理模塊1041對(duì)所述測(cè)試 數(shù)值和參數(shù)所要求的范圍進(jìn)行比較，判斷出測(cè)試數(shù)值是否在范圍內(nèi)，從而判定 該測(cè)試項(xiàng)是否合格。測(cè)試結(jié)論評(píng)價(jià)模塊1042，用于在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表 格中所有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜合統(tǒng)計(jì)和分析得到測(cè)試項(xiàng)的不合格率和問(wèn)題項(xiàng)。具體而言，該測(cè)試結(jié)論評(píng)價(jià)模塊1042主要是對(duì)所有測(cè)試項(xiàng)完成后的綜合 評(píng)價(jià)，包括合格項(xiàng)的統(tǒng)計(jì)，對(duì)單板整體信號(hào)進(jìn)行評(píng)估。測(cè)試執(zhí)行完成后，測(cè)試 結(jié)論評(píng)價(jià)模塊1042根據(jù)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)的參數(shù)要求和測(cè)試數(shù)值，判斷測(cè)試數(shù)值是 否在要求范圍內(nèi)，如果不在范圍內(nèi)，在該測(cè)試項(xiàng)的結(jié)論中記錄該參數(shù)不合格的 結(jié)論，這樣對(duì)該測(cè)試項(xiàng)的所有參數(shù)均作出結(jié)論。根據(jù)該測(cè)試項(xiàng)所有參數(shù)的結(jié)論 綜合判斷該測(cè)試項(xiàng)是否合格。所有測(cè)試項(xiàng)都做完評(píng)價(jià)后，測(cè)試結(jié)論評(píng)價(jià)模塊 1042對(duì)所有測(cè)試項(xiàng)作出統(tǒng)計(jì)，統(tǒng)計(jì)出不合格項(xiàng)的數(shù)量，計(jì)算出測(cè)試項(xiàng)的不合 格率即單板信號(hào)的不合格率。問(wèn)題項(xiàng)跟蹤模塊1043，用于在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)統(tǒng)計(jì)分析出的問(wèn)題項(xiàng)進(jìn)行跟蹤。具體而言，問(wèn)題項(xiàng)跟蹤模塊1043主要是對(duì)測(cè)試結(jié)論完成后出現(xiàn)的不合格 項(xiàng)即問(wèn)題項(xiàng)進(jìn)行管理，測(cè)試人員通過(guò)該問(wèn)題項(xiàng)跟蹤模塊1043把問(wèn)題項(xiàng)反饋給 開發(fā)部門107的開發(fā)人員進(jìn)行處理。由于單板信號(hào)問(wèn)題修改一般需要改版解 決，因此周期比較長(zhǎng)。改版后驗(yàn)證測(cè)試時(shí)，從問(wèn)題項(xiàng)跟蹤模塊1043中調(diào)出不 合格的問(wèn)題項(xiàng)。數(shù)據(jù)庫(kù)維護(hù)模塊1044，與信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)101相連，用于對(duì)信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)101進(jìn)行擴(kuò)充、修改和管理。所述數(shù)據(jù)庫(kù)維護(hù)模塊1044通過(guò)權(quán)限管理信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)101。本發(fā)明中，所述數(shù)據(jù)庫(kù)維護(hù)模塊1044提供對(duì)信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)的擴(kuò)充、修改、管理的界面。具有權(quán)限的測(cè)試人員通過(guò)該界面對(duì)信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)101的記錄進(jìn)行添加、刪除和修改。圖2是本發(fā)明提供的單板信號(hào)的輔助測(cè)試方法流程圖，包括如下 步驟S201，建立信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)以存儲(chǔ)和提供單板芯片信號(hào)信息。 所述信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)按照"芯片代碼、芯片型號(hào)、適用管腳、參數(shù)表、說(shuō)明"的格式進(jìn)行建模，所述參數(shù)表采用"paral (min， max) 、 para2 (min， max)、…、paraN (min， max)"的方式，para是參數(shù)名稱，min是該參數(shù)要求的最小值，max是該參數(shù)要求的最大值。步驟S202，檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè)試項(xiàng)工作表格以輔助單板信號(hào)的測(cè)試，并且對(duì)單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程和結(jié)果進(jìn)行管理。本步驟中對(duì)單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程和結(jié)果進(jìn)行管理主要包括在單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片加載至測(cè)試項(xiàng)工作表格，并根據(jù)所述測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片判斷測(cè)試項(xiàng)工作表格中的測(cè)試項(xiàng)是否合格；在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格中所有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜合統(tǒng)計(jì)和分析得到測(cè)試項(xiàng)的不合格率和問(wèn)題項(xiàng)，并對(duì)問(wèn)題項(xiàng)進(jìn)行跟蹤。
本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例提供的單板信號(hào)的輔助測(cè)試方法如圖3所示，結(jié)合圖2 所示的測(cè)試系統(tǒng)100進(jìn)行描述，該方法具體包括如下步驟S301，建立信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)101以存儲(chǔ)和提供單板芯片信號(hào)信息。本步驟還可以通過(guò)數(shù)據(jù)庫(kù)維護(hù)模塊1044對(duì)信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)101進(jìn)行擴(kuò)充、修改和管理。步驟S302，測(cè)試項(xiàng)建立模塊103利用電路開發(fā)軟件的網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)出工具， 從單板原理圖和PCB圖105中導(dǎo)出芯片信息和網(wǎng)絡(luò)信息步驟S303,測(cè)試項(xiàng)建立模塊103根據(jù)單板原理圖和PCB圖105中導(dǎo)出的 芯片信息和網(wǎng)絡(luò)信息檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)101存儲(chǔ)的單板芯片信息即參數(shù)要求。步驟S304，測(cè)試項(xiàng)建立模塊103根據(jù)芯片信息、網(wǎng)絡(luò)信息和參數(shù)要求建 立測(cè)試項(xiàng)工作表格以輔助單板信號(hào)的測(cè)試，并在測(cè)試項(xiàng)工作表格中標(biāo)注若干個(gè) 測(cè)試項(xiàng)。步驟S305，測(cè)試執(zhí)行模塊106根據(jù)測(cè)試項(xiàng)工作表格中的測(cè)試項(xiàng)，使用示 波器等測(cè)試儀器1061對(duì)被測(cè)單板1062信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。歩驟S306,測(cè)試過(guò)程管理模塊1041在單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào) 的測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片加載至測(cè)試項(xiàng)工作表格。步驟S307，測(cè)試過(guò)程管理模塊1041對(duì)所述測(cè)試數(shù)值和參數(shù)所要求的范圍 進(jìn)行比較，判斷出測(cè)試數(shù)值是否在范圍內(nèi)，從而判定該測(cè)試項(xiàng)是否合格。歩驟S308，測(cè)試結(jié)論評(píng)價(jià)模塊1042在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格中所有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜合統(tǒng)計(jì)和分析得到測(cè)試項(xiàng)的不合格率和問(wèn)題項(xiàng)。 步驟S309，問(wèn)題項(xiàng)跟蹤模塊1043在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)統(tǒng)計(jì)分析出 的問(wèn)題項(xiàng)進(jìn)行跟蹤。步驟S310，將測(cè)試項(xiàng)工作表格返回給單板開發(fā)部門107。 綜上可知，本發(fā)明通過(guò)建立信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)以存儲(chǔ)和提供單板芯片信號(hào)信息， 通過(guò)檢索所述信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè)試項(xiàng)工作表格以輔助單 板信號(hào)的測(cè)試，由此通過(guò)所述測(cè)試項(xiàng)工作表格快速完成了單板中被測(cè)信號(hào)的選 擇和測(cè)試要求的獲取。在單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè)試數(shù)值和測(cè)試 圖片加載至測(cè)試項(xiàng)工作表格，并根據(jù)所述測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片判斷測(cè)試項(xiàng)工作 表格中的測(cè)試項(xiàng)是否合格；在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格中^f有 的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜合統(tǒng)計(jì)和分析，并對(duì)問(wèn)題項(xiàng)進(jìn)行跟蹤，由此解決大規(guī)模的電路
單板測(cè)試中的信號(hào)的管理，保證了測(cè)試的全面性和完整性，進(jìn)而提高了測(cè)試質(zhì) 量和測(cè)試效率。當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情 況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但 這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1、 一種單板信號(hào)的輔助測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括 信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)，用于存儲(chǔ)和提供單板芯片信號(hào)信息；信號(hào)輔助測(cè)試管理模塊，用于檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè) 試項(xiàng)工作表格以輔助單板信號(hào)的測(cè)試，并且對(duì)單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程和結(jié)果進(jìn)行管理。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述對(duì)單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程和結(jié)果進(jìn)行管理包括在單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè)試數(shù)值和測(cè) 試圖片加載至測(cè)試項(xiàng)工作表格，并根據(jù)所述測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片判斷測(cè)試項(xiàng)工 作表格中的測(cè)試項(xiàng)是否合格；在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格中所 有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜合統(tǒng)計(jì)、分析得到測(cè)試項(xiàng)的不合格率和問(wèn)題項(xiàng)，并對(duì)問(wèn)題項(xiàng) 進(jìn)行跟蹤。
3、 根據(jù)權(quán)利要求l或2所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述信號(hào)輔助測(cè)試管 理模塊包括測(cè)試項(xiàng)建立模塊，用于檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè)試項(xiàng)工 作表格以輔助單板信號(hào)的測(cè)試；測(cè)試執(zhí)行管理模塊，用于在單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè)試數(shù)值 和測(cè)試圖片加載至測(cè)試項(xiàng)工作表格，并根據(jù)所述測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片判斷測(cè)試 項(xiàng)工作表格中的測(cè)試項(xiàng)是否合格；在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格 中所有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜合統(tǒng)計(jì)和分析得到測(cè)試項(xiàng)的不合格率和問(wèn)題項(xiàng)，并對(duì)問(wèn) 題項(xiàng)進(jìn)行跟蹤。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試執(zhí)行管理模塊進(jìn) 一步包括測(cè)試過(guò)程管理模塊,用于在單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè)試數(shù)值 和測(cè)試圖片加載至測(cè)試項(xiàng)工作表格，并根據(jù)測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片判斷出測(cè)試項(xiàng) 工作表格中的測(cè)試項(xiàng)是否合格；測(cè)試結(jié)論評(píng)價(jià)模塊，用于在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格中所 有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜合統(tǒng)計(jì)和分析計(jì)算出測(cè)試項(xiàng)的不合格率和問(wèn)題項(xiàng)；問(wèn)題項(xiàng)跟蹤模塊，用于在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)統(tǒng)計(jì)分析出的問(wèn)題項(xiàng)進(jìn) 行跟蹤。
5、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試執(zhí)行管理模塊進(jìn) 一步包括數(shù)據(jù)庫(kù)維護(hù)模塊，用于對(duì)信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行擴(kuò)充、修改和管理。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)按照"芯 片代碼、芯片型號(hào)、適用管腳、參數(shù)表、說(shuō)明"的格式進(jìn)行建模；所述參數(shù)表米用"paral (min， max) 、 para2 (min， max)、 …、paraN (min， max)"的方式，para是參數(shù)名稱，min是該參數(shù)要求的最小值，max 是該參數(shù)要求的最大值。
7、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述信號(hào)輔助測(cè)試管理模 塊根據(jù)從單板原理圖和PCB圖導(dǎo)出的芯片信息和網(wǎng)絡(luò)信息檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)以 得到單板芯片參數(shù)及要求。
8、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述信號(hào)輔助測(cè)試管理模 塊根據(jù)芯片信息、網(wǎng)絡(luò)信息和單板芯片參數(shù)及要求建立測(cè)試項(xiàng)工作表格。
9、 一種應(yīng)用于如權(quán)利要求1 8任一項(xiàng)所述系統(tǒng)的方法，其特征在于，包 括如下步驟A、 建立信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)以存儲(chǔ)和提供單板芯片信號(hào)信息；B、 檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè)試項(xiàng)工作表格以輔助單板 信號(hào)的測(cè)試，并且對(duì)單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程和結(jié)果進(jìn)行管理。
10、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述步驟B進(jìn)一步包括 Bl、檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè)試項(xiàng)工作表格，并在測(cè)試項(xiàng)工作表格中標(biāo)注若干個(gè)測(cè)試項(xiàng)以輔助單板信號(hào)的測(cè)試；B2、在單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程中將單板信號(hào)的測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片加載至 測(cè)試項(xiàng)工作表格，并根據(jù)所述測(cè)試數(shù)值和測(cè)試圖片判斷測(cè)試項(xiàng)工作表格中的測(cè) 試項(xiàng)是否合格；B3、在單板信號(hào)的測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試項(xiàng)工作表格中所有的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行綜 合統(tǒng)計(jì)和分析得到測(cè)試項(xiàng)的不合格率和問(wèn)題項(xiàng)，并對(duì)問(wèn)題項(xiàng)進(jìn)行跟蹤。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種單板信號(hào)的輔助測(cè)試系統(tǒng)，包括信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)，用于存儲(chǔ)和提供單板芯片信號(hào)信息；信號(hào)輔助測(cè)試管理模塊，用于檢索信號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的單板芯片信息建立測(cè)試項(xiàng)工作表格以輔助單板信號(hào)的測(cè)試，并且對(duì)單板信號(hào)的測(cè)試過(guò)程和結(jié)果進(jìn)行管理。相應(yīng)地，本發(fā)明還提供一種單板信號(hào)的輔助測(cè)試方法。借此，本發(fā)明可以快速完成單板中被測(cè)信號(hào)的選擇和測(cè)試要求的獲取，由此解決大規(guī)模的電路單板測(cè)試中的信號(hào)的管理，保證了測(cè)試的全面性和完整性，進(jìn)而提高了測(cè)試質(zhì)量和測(cè)試效率。
文檔編號(hào)H04M3/22GK101146147SQ20071017595
公開日2008年3月19日 申請(qǐng)日期2007年10月16日 優(yōu)先權(quán)日2007年10月16日
發(fā)明者郭玉棟 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司