專利名稱：數(shù)據(jù)識別裝置和錯誤測定裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通過控制對于輸入數(shù)據(jù)信號的時鐘的讀取定時，從而消除數(shù) 據(jù)信號的相位起伏的數(shù)據(jù)識別裝置，特別地涉及用于將該讀取定時自動地設(shè) 定為適當(dāng)?shù)亩〞r的數(shù)據(jù)識別裝置。
背景技術(shù)：
作為對處理數(shù)據(jù)信號的設(shè)備或傳輸路徑的性能進(jìn)行評價的 一種方法，存 在將基準(zhǔn)模式的數(shù)據(jù)信號作為試驗用信號而提供給評價對象，測定對于從該 評價對象輸出的數(shù)據(jù)信號的比特錯誤率的方法。
實現(xiàn)這樣的方法的錯誤測定裝置，接收從評價對象輸出的數(shù)據(jù)信號，將 其輸入到波形整形電路從而消除振幅方向的起伏分量，并對該被波形整形的 數(shù)據(jù)信號進(jìn)行被相位調(diào)整的時鐘信號的符號讀取處理，消除相位方向的起伏 分量。然后，該錯誤測定裝置將被消除了振幅方向和相位方向的起伏分量的 數(shù)據(jù)信號的符號、與提供給評價對象的試驗用信號的模式的符號一個比特一 個比特進(jìn)行比較，從而求出錯誤率。
這樣通過對于數(shù)據(jù)信號的波形整形處理和基于時鐘信號的讀取處理，消 除振幅和相位的起伏分量后求出比特錯誤率的錯誤測定裝置，例如公開在以
下的專利文獻(xiàn)1、 2中。
專利文獻(xiàn)l:特開平5-7135號公報 專利文獻(xiàn)2:特開平8-88625號公報

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明所要解決的課題
在上述的專利文獻(xiàn)1、 2中，作為將被波形整形處理后的數(shù)據(jù)信號的符號 讀取定時進(jìn)行最佳化的技術(shù)，公開了以下技術(shù)即回掃對于數(shù)據(jù)信號的時鐘 的相位，從而找出識別器的輸出的平均值成為峰值的移相量或者識別器的輸 入輸出數(shù)據(jù)的相位差成為最大的移相量，將成為該峰值間的中央的移相量設(shè)
4為最佳值。
但是，上述的以往的技術(shù)，必須在實際測定之前將對于數(shù)據(jù)信號的時鐘 的相位在較寬范圍連續(xù)回掃后設(shè)定最佳移相量，進(jìn)行實際的測定需要時間。 此外，以往的技術(shù)，在存在溫度漂移等時，需要中斷測定而進(jìn)行上述的回掃 處理，存在不能進(jìn)行長時間的穩(wěn)定的測定的問題。
此外，以往的技術(shù)中存在，根據(jù)輸入數(shù)據(jù)信號的標(biāo)記率和波形質(zhì)量，導(dǎo) 致移相量的最佳值偏離的問題。
本發(fā)明的目的在于，提供一種解決該問題，且在無需上述那樣的相位連 續(xù)回掃處理的情況下能夠設(shè)定對于數(shù)據(jù)信號的時鐘的相位的最佳狀態(tài)，且能 夠長時間維持該最佳狀態(tài)的數(shù)據(jù)識別裝置以及錯誤測定裝置。
用于解決課題的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明的數(shù)據(jù)識別裝置包括可變延遲器(32)，相對地移相被波形整形 后的數(shù)據(jù)信號和時鐘；以及識別器(31)，接受通過所述可變延遲器被相對移 相的、所述被波形整形后的數(shù)據(jù)信號和時鐘，在該時鐘的一個電平變移定時 讀取所述被波形整形后的數(shù)據(jù)信號的符號，并作為識別數(shù)據(jù)信號而輸出，所 述數(shù)據(jù)識別裝置的特征在于，包括延遲器(34)，將從所述識別器輸出的識 別數(shù)據(jù)信號以比特為單位進(jìn)行延遲后輸出；第1相位檢波器(35)，輸出與所 述被波形整形后的數(shù)據(jù)信號和從該識別器輸出的識別數(shù)據(jù)信號之間的相位差 對應(yīng)的電壓；第2相位檢波器(36)，輸出與從所述識別器輸出的識別數(shù)據(jù)信 號和從所述延遲器輸出的數(shù)據(jù)信號之間的相位差對應(yīng)的電壓；第3相位;險波 器(37),輸出成為所述第1相位檢波器的輸出電壓的基礎(chǔ)的基礎(chǔ)電壓；以及 相位控制部件(38)，控制所述可變延遲器的移相量，以使從所述第l相位檢 波器輸出的電壓、與從所述第2相位檢波器輸出的電壓和所述基礎(chǔ)電壓的中 間電壓相等。
另夕卜，也可以是所述第1至第3相位檢波器由相同的相位檢波器構(gòu)成， 所述第3相位檢波器輸出與相同符號且同相位的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號之間的相位差 對應(yīng)的電壓作為所述基礎(chǔ)電壓。
此外，也可以是所述相位控制部件對所述中間電壓和所述第1相位檢 波器的輸出電壓進(jìn)行比較，在該輸出電壓比所述中間電壓大時控制所述可變 延遲器的移相量，以使所述被波形整形后的數(shù)據(jù)信號和所述時鐘的相位差變 小，在所述輸出電壓比所述中間電壓小時控制所述可變延遲器的移相量，以使所述波形整形后的數(shù)據(jù)信號和所述時鐘的相位差變大。
此外，也可以是所述相位控制部件接受輸入數(shù)據(jù)信號的標(biāo)記率，根據(jù)
該標(biāo)記率對所述中間電壓進(jìn)4亍校正。
此外，也可以是在所述第2相位檢波器的輸出電壓和所述基礎(chǔ)電壓的 差低于規(guī)定的閾值的情況下，所述相位控制部件使所述可變延遲器的移相量 變化所述時鐘的半周期。
此外，本發(fā)明的錯誤測定裝置，包括波形整形電路(21)，對輸入數(shù)據(jù) 信號的波形進(jìn)行整形，輸出被波形整形后的數(shù)據(jù)信號；以及數(shù)據(jù)識別裝置， 識別所述被波形整形后的數(shù)據(jù)信號的符號，所述錯誤測定裝置測定所述被輸 入的數(shù)據(jù)信號的符號錯誤，所述錯誤測定裝置的特征在于，所述數(shù)據(jù)識別裝 置由上述的數(shù)據(jù)識別裝置構(gòu)成。
另外，也可以是所述相位控制部件對所述中間電壓和所述第1相位檢 波器的輸出電壓進(jìn)行比較，在該輸出電壓比所述中間電壓大時控制所述可變 延遲器的移相量，以使所述被波形整形后的數(shù)據(jù)信號和所述時鐘的相位差變 小，在所述輸出電壓比所述中間電壓小時控制所述可變延遲器的移相量，以 使所述被波形整形后的數(shù)據(jù)信號和所述時鐘的相位差變大。
此外，也可以是本發(fā)明的錯誤測定裝置包括基準(zhǔn)信號發(fā)生部件(41 )， 輸出被指定的基準(zhǔn)信號的標(biāo)記率作為所述輸入數(shù)據(jù)信號的標(biāo)記率，所述相位 控制部件接收從所述基準(zhǔn)信號發(fā)生部件輸出的標(biāo)記率，根據(jù)該標(biāo)記率校正所 述中間電壓。
發(fā)明效果
由此，本發(fā)明的數(shù)據(jù)識別裝置和錯誤測定裝置，由第l相位檢波器檢測 識別器的輸入輸出數(shù)據(jù)的相位差，并且由第2相位檢波器檢測對于從識別器 輸出的數(shù)據(jù)信號、和以比特單位延遲了該數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)信號的相位差，并 控制可變延遲器的移相量，以使該第2相位檢波器的輸出和基礎(chǔ)電壓的中間 值與第1相位檢測器的輸出相等，因此能夠不進(jìn)行相位的回掃處理而將對于 數(shù)據(jù)信號的時鐘的相位設(shè)定為最佳狀態(tài)，且能夠長時間維持該最佳狀態(tài)。
此外，本發(fā)明的數(shù)據(jù)識別裝置和錯誤測定裝置，通過根據(jù)數(shù)據(jù)信號的標(biāo) 記率而校正中間值，從而能夠與數(shù)據(jù)信號的模式無關(guān)地、在相位余量較高的 狀態(tài)下進(jìn)行正確的數(shù)據(jù)識別。


圖l是表示本發(fā)明的實施方式的結(jié)構(gòu)的圖。
圖2是表示實施方式的主要部分的結(jié)構(gòu)例的圖。
圖3是表示實施方式的主要部分的結(jié)構(gòu)例的圖。
圖4是實施方式的主要部分的動作說明圖。
圖5是實施方式的主要部分的動作說明圖。
圖6是表示實施方式的主要部分的其他結(jié)構(gòu)例的圖。
標(biāo)號i兌明
20錯誤測定裝置
21波形整形電鴻^
22電壓一全測部4牛
23參照電壓發(fā)生部件
24偏置電壓發(fā)生部件
25比較器
27校正信息輸出部件 28 一交正部件
29電平偏移器(level shifter)
30數(shù)據(jù)識別裝置
31識別器
32可變延遲器
33相位纟企波部件
34延遲器
35第1相位檢波器
36第2相位;險波器
37第3相位檢波器
38相位控制部件
40錯誤測定單元
41基準(zhǔn)信號發(fā)生部件
42符號比較部件
43運算單元
具體實施例方式
以下，基于

本發(fā)明的實施方式。
圖1表示具有本發(fā)明的數(shù)據(jù)識別裝置30的錯誤測定裝置20的結(jié)構(gòu)。
該錯誤測定裝置20的測定對象的輸入數(shù)據(jù)信號Da被輸入到波形整形電 路21。
該波形整形電路21對輸入數(shù)據(jù)信號Da和與該輸入數(shù)據(jù)信號Da的振幅 中心電壓對應(yīng)的參照電壓進(jìn)行比較，高電平電壓和低電平電壓分別被波形整 形為規(guī)定值的數(shù)據(jù)信號而輸出。
圖2是表示該波形整形電路21的具體結(jié)構(gòu)例的圖，波形整形電路21包 括電壓檢測部件22、參照電壓發(fā)生部件23、比較器25、校正信息輸出部件 27、以及才交正部件28。
電壓4全測部件22對輸入數(shù)據(jù)信號Da進(jìn)行4企波，并求出其振幅值和振幅 中心電壓。
更具體地說，如圖3所示，電壓檢測部件22包括對輸入數(shù)據(jù)信號Da 進(jìn)行二極管檢波從而檢測高電平的電壓Va的高電平電壓檢測器22a、對輸入
22b、以及求出振幅中心電壓Vc= ( Va+Vb ) /2的中心電壓檢測器22c。
對應(yīng)的參照電壓Vr。其中，該參照電壓Vr被將在后面敘述的校正部件28進(jìn) 行校正。
比較器25對輸入數(shù)據(jù)信號Da和被校正后的參照電壓Vr，進(jìn)行比較，例 如生成被整形波形后的數(shù)據(jù)信號Db，以使在輸入數(shù)據(jù)信號Da的電壓超過參 照電壓Vr，時成為高電平，在輸入數(shù)據(jù)信號Da的電壓為參照電壓Vr，以下時 成為低電平，并將其輸出到后述的識別器31。
校正信息輸出部件27基于從后述的基準(zhǔn)信號發(fā)生部件41輸出的標(biāo)記率 M和輸入數(shù)據(jù)信號的振幅，對校正部件28輸出用于校正電壓檢測部件22檢 測的振幅中心電壓Vc的誤差的校正信息AV。
校正部件28使用校正信息AV進(jìn)行參照電壓Vr的校正(此時為減法或 者加法校正)。另外，這里表示將輸入數(shù)據(jù)信號直接輸入到比較器25，對參 照電壓側(cè)進(jìn)行校正的情況，但如后所述那樣，也可以固定參照電壓側(cè)，將輸 入數(shù)據(jù)信號輸入到電平偏移器，使該直流補償變化后輸入到比較器25。
8這里，對數(shù)據(jù)信號的標(biāo)記率和檢波輸出之間的關(guān)系進(jìn)行說明，若將數(shù)據(jù) 信號的標(biāo)記率設(shè)為高電平數(shù)據(jù)的比特數(shù)/全部比特數(shù)，則標(biāo)記率越大，正側(cè)(高 電平側(cè))的檢波輸出的平均值上升、負(fù)側(cè)(低電平側(cè))的檢波輸出的平均值 也上升。
從而，如圖4(a)所示，導(dǎo)致正負(fù)的檢波輸出的中間值Vc高于數(shù)據(jù)信 號Da的真實的振幅中心Vcr，振幅余量變小。
相反，若標(biāo)記率變小，則正側(cè)(高電平側(cè))的檢波輸出的平均值下降， 負(fù)側(cè)(低電平側(cè))的檢波輸出的平均值下降。
從而，如圖4(b)所示，導(dǎo)致正負(fù)的檢波輸出的中間值Vc低于數(shù)據(jù)信 號Da的真實的振幅中心Vcr,振幅余量仍然變小。
此外，若如前所述的振幅的數(shù)據(jù)信號以較低的S/N被輸入，則振幅余量 必然減小，導(dǎo)致對于上述標(biāo)記率的變化的振幅余量越來越小。
因此，在本實施方式的波形整形電路21中，對于數(shù)據(jù)信號不同的標(biāo)記率 和振幅值預(yù)先求出例如檢波輸出的中間值Vc和數(shù)據(jù)信號的振幅中心Vcr之間 的誤差△ V作為與標(biāo)記率M和振幅對應(yīng)的校正信息△ V,并將其存儲在存儲 器(未圖示)中，校正信息輸出部件27基于電壓檢測部件22所檢測到的振 幅值和標(biāo)記率M讀出校正信息△ V，校正部件28對參照電壓Vr加上校正信 息AV而輸出到比較器25。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，即使在數(shù)據(jù)信號的振幅較小的情況下、或者數(shù)據(jù)信號的標(biāo) 記率被大幅改變的情況下，波形整形電路21也能夠進(jìn)行振幅余量充分的波形 整形。
另外，校正信息輸出部件27除了讀出預(yù)先存儲在存儲器中的校正信息而 使用以外，也可以在每次測定時進(jìn)行運算處理而計算校正信息AV。該運算 方法可根據(jù)電路方式等而考慮各種各樣的方法。作為傾向，由于所述中間電 壓的誤差對標(biāo)記率和振幅的依賴性較高，因此例如以下的運算式那樣，可使 用系數(shù)a、 (3和對于百分之50的標(biāo)記率M的差以及振幅(Va-Vb )計算校正 信息AV。
△ V= ( M-0.5 ) [a ( Va-Vb ) +(3]
另外，系數(shù)a、 (3不一定是常數(shù)。例如，也可以是對于波形整形電路21 的周圍溫度、輸入數(shù)據(jù)信號Da的比特率(輸入時鐘Cka的頻率)、輸入數(shù)據(jù) 信號Da的標(biāo)記率M的每個組合預(yù)先設(shè)定系數(shù)a、 p，并存儲在上述的存儲器
9中，校正信息輸出部件27根據(jù)測定狀況，從存儲器的存儲內(nèi)容選擇系數(shù)a、 (3。
此外，校正信息輸出部件27也可以從由電壓檢測部件22檢測到的Va 和Vb得到的振幅值(Va-Vb )、如上那樣選擇的a以及卩、標(biāo)記率M按照上 述運算式計算校正信息△V。
在對于波形整形電路21的周圍溫度、輸入數(shù)據(jù)信號Da的比特率、輸入 數(shù)據(jù)信號Da的標(biāo)記率，對于各個幾個點的每個組合設(shè)定系數(shù)a、卩的情況下， 例如對于輸入數(shù)據(jù)信號Da的比特率，設(shè)定lGbps、 5Gbps的a、 (3的情況下， 在測定時的比特率為3Gbps時，校正信息輸出部件27通過利用線性插補等， 能夠?qū)λ械臏y定狀況求出校正信息△ V。
此外，也可以是存儲在存儲器中的組合中包含振幅值(Va-Vb )，校正信 息輸出部件27不使用上述運算式而求出AV。
如圖1所示，這樣被波形整形的數(shù)據(jù)信號Db,被輸入到數(shù)據(jù)識別裝置 30的識別器31中，與輸入數(shù)據(jù)信號Da —同從外部被輸入的輸入時鐘CKa 在可變延遲器32中接受延遲，被延遲的該時鐘CKb被輸入到識別器31中。
識別器31由觸發(fā)器構(gòu)成，在時鐘CKb的一個電平變移定時(例如上升 定時)鎖定(latch )數(shù)據(jù)信號Db的符號，從而將此鎖定結(jié)果作為識別數(shù)據(jù)信 號Dc輸出到錯誤測定單元40。
相位檢波部件33接受數(shù)據(jù)信號Db和從識別器31輸出的數(shù)據(jù)信號Dc, 從而生成用于判定識別器31的識別定時，即時鐘CKb的電平變移定時是否 適當(dāng)所需的3個信號P1 P3。
即，相位檢波部件33包括由觸發(fā)器構(gòu)成且對數(shù)據(jù)信號Dc提供1比特 的延遲的延遲器34、檢測數(shù)據(jù)信號Db、 Dc的相位差的第1相位檢波器35、 檢測數(shù)據(jù)信號Dc和從延遲器34輸出的數(shù)據(jù)信號Dd的相位差的第2相位檢 波器36、以及檢測相同信號(這里為數(shù)據(jù)信號Dd)的相位差(始終是零) 的第3相位檢波器37。另外，各個相位檢波器35 37由進(jìn)行相位比較對象的 兩個信號的一致、不一致判定的EXOR (異或邏輯)電路和從EXOR的輸出 提取直流分量的LPF構(gòu)成。
此外，第3相位檢波器37是構(gòu)成用于輸出第1相位檢波器35、第2相 位檢波器36的輸出的基礎(chǔ)電壓(在本例中是低電平電壓)的基礎(chǔ)電壓輸出部 件的檢波器，這樣通過由與兩個相位檢波器相同的相位檢波器構(gòu)成基礎(chǔ)電壓輸出部件，從而不受溫度漂移的影響。其中，該基礎(chǔ)電壓發(fā)生部件也可以不 是相位檢波器，而由固定地輸出基礎(chǔ)的電壓的其他的邏輯電路構(gòu)成。
這里，在第2相位檢波器36中，由于相同符號的數(shù)據(jù)信號之間以偏移1 比特的狀態(tài)下被輸入，因此高概率地發(fā)生符號不一致，其輸出值P2與電路能 夠輸出的最大電壓VH幾乎相等。 '
此外，在第3相位檢波器37中，由于輸入相同符號的數(shù)據(jù)信號，因此其 輸出值P3與電路能夠輸出的最小電壓VL (基礎(chǔ)電壓)幾乎相等。
而且，在第l相位檢波器35中，由于相同符號的數(shù)據(jù)信號Db、 Dc以不 超過1比特的相位差被輸入，因此其輸出值Pl成為電壓VH和電壓VL之間 的值。
這里，在數(shù)據(jù)信號Db、 Dc的相位幾乎相等的情況下，輸出值P1幾乎與 電壓VL相等，在數(shù)據(jù)信號Db、 Dc的相位幾乎偏移1比特的情況下，輸出 值P1幾乎與電壓VH相等。
即，如圖5 (a)所示，第1相位檢波器35的輸出值Pl對于數(shù)據(jù)信號 Db、 Dc的相位差小的0 2丌為止的變化從電壓VL至電壓VH為止以一定的 斜率單調(diào)遞增。從而，該輸出值P1與電壓VL和VH的中間值Vm相等的狀 態(tài)為相位余量的最高狀態(tài)。
相位控制部件38求出輸出值P2和輸出值P3的中間電壓而作為電壓VL、 VH的中間值Vm,將對于該中間值Vm設(shè)定的允許電壓范圍Vm ± y和輸出 值P1進(jìn)行比較，在輸出值P1比Vm+Y高時使時鐘的延遲量向變少的方向變 化，在輸出值P1比Vm-Y小時使時鐘的延遲量向變大的方向變化，將輸出值 Pl集中到允許電壓范圍Vm± y，始終維持相位余量較高的狀態(tài)(參照圖5 (a)的箭頭)。
這里，第1相位檢波器35的輸出值Pl、第2相位檢波器36的輸出值 P2、第3相位檢波器37的輸出值P3，對于數(shù)據(jù)信號Db、 Dc的相位差小的 0 2丌為止的變化，成為如圖5(b)所示那樣。
尤其是，在數(shù)據(jù)信號Db的電平變移期間存在延遲器34的鎖定定時時， 即數(shù)據(jù)信號Db、 Dc的相位差幾乎成為0或2丌時，由于數(shù)據(jù)信號Dc成為不 定，因此第2相位檢波器36的輸出值P2接近于電壓VL、 VH的中間值Vm。
因此，在輸出值P2比規(guī)定的閾值低的情況下，相位控制部件38使時鐘 的延遲量變化一半周期(7t或者-tt )。由此，相位控制部件38能夠?qū)⑤敵鲋?br> iiPl迅速地集中到允許電壓范圍Vm± Y。另外，在輸出值P2和輸出值P3之 間的差比規(guī)定的閾值低的情況下，相位控制部件38也可以使時鐘的延遲量變 化一半周期。
另外，相位控制部件38也可以經(jīng)常進(jìn)行這些相位控制處理，也可以每隔 一定時間、或者在測定者所指定的任意的定時進(jìn)行。
總之，數(shù)據(jù)識別裝置30不在相位較寬范圍內(nèi)連續(xù)回掃也能夠設(shè)定為相位 余量最高的位置，而且能夠穩(wěn)定地維持該狀態(tài)。
另外，第2相位檢波器36的輸出值P2根據(jù)輸入數(shù)據(jù)信號Da的標(biāo)記率 而變化，因此在被求出的中間值Vm產(chǎn)生誤差。
因此，相位控制部件38根據(jù)以下運算式求出將輸出值P2、 P3的中間的 電壓通過使用從后述的基準(zhǔn)信號發(fā)生部件41輸出的標(biāo)記率M和常數(shù)k而算 出的校正量X進(jìn)行校正后的中間值Vm。
Vm=[ ( P2+P3 ) /2]+X
X=|M-0.5|-k
通過使用該校正后的中間值Vm，數(shù)據(jù)識別裝置30在相位余量最高的定 時能夠更高精度地進(jìn)行數(shù)據(jù)識別。
這樣所得到的數(shù)據(jù)信號Dc與時鐘信號CKb —起被輸入到錯誤測定單元40。
錯誤測定單元40的基準(zhǔn)信號發(fā)生部件41與時鐘信號CKb同步地，將數(shù) 據(jù)信號Dc和相同符號列的基準(zhǔn)信號Dr輸入到符號比較器42。
符號比較器42判定數(shù)據(jù)信號Dc和基準(zhǔn)信號Dr的符號是否一致，并將 其判定結(jié)果輸出到運算單元43。運算單元43對符號比較器42的判定結(jié)果進(jìn) 行計數(shù)，從而計算比特錯誤率E。
這里，錯誤判定所使用的符號列(模式)可由測定者任意選擇(通常， 與提供基準(zhǔn)模式的數(shù)據(jù)信號的評價對象應(yīng)輸出的模式相同)，基準(zhǔn)信號發(fā)生部 件41生成由模式指定部件44所指定的符號列的基準(zhǔn)信號Dr。
此外，該基準(zhǔn)信號發(fā)生部件41具有作為輸出標(biāo)記率的部件的功能，將被 指定的模式的標(biāo)記率M輸出到校正信息輸出部件27以及相位控制部件38。
這里，基準(zhǔn)信號發(fā)生部件41由被指定的模式運算標(biāo)記率M，但除此之 外，也可以預(yù)先對每個模式求出標(biāo)記率并存儲在內(nèi)部的存儲器中，在模式被 指定時，參照被存儲在存儲器中的標(biāo)記率。這樣，本實施方式的數(shù)據(jù)識別裝置30由第1相位檢波器35檢測識別器 31的輸入輸出數(shù)據(jù)的相位差，同時由第2相位檢波器36檢測從識別器31輸 出的數(shù)據(jù)信號和將該數(shù)據(jù)信號延遲了 一個比特的數(shù)據(jù)信號的相位差，并控制 可變延遲器32的移相量，以使該第2相位檢波器36的輸出P2和基礎(chǔ)電壓(此 時為第3相位檢波器37的輸出P3 )的中間值Vm與第1相位;險波器35的輸 出Pl相等，因此不進(jìn)行相位的回掃處理就能夠?qū)τ跀?shù)據(jù)信號的時鐘的相位 設(shè)定為最佳狀態(tài)，且能夠長時間維持該最佳狀態(tài)。
此外，數(shù)據(jù)識別裝置30根據(jù)標(biāo)記率M對中間值進(jìn)行校正，因此與數(shù)據(jù) 信號的模式無關(guān)地、在具有相位余量的狀態(tài)下能夠正確地進(jìn)行數(shù)據(jù)識別。
另外，在該錯誤測定裝置20的波形整形電路21中，表示了對被輸入到 比較器25中的參照電壓進(jìn)行校正的例子，但代替此例，如圖6所示的波形整 形電路21，那樣，也可以將輸入數(shù)據(jù)信號Da進(jìn)行電平移位。
波形整形電路21，包括電平偏移器29、電壓檢測部件22、參照電壓發(fā)生 部件23，、偏置電壓發(fā)生部件24、比較器25、校正信息輸出部件27、以及校 正部件28。
電平偏移器29將輸入數(shù)據(jù)信號Da電平移位由校正部件28提供的偏置 電壓VB，。參照電壓發(fā)生部件23，生成參照電壓Vr。
比較器25對由電平偏移器29電平移位后的輸入數(shù)據(jù)信號Da，和參照電 壓Vr進(jìn)行比較，并生成被波形整形后的數(shù)據(jù)信號Db，以使例如在輸入數(shù)據(jù) 信號Da，的電壓超過參照電壓Vr時成為高電平，在輸入數(shù)據(jù)信號Da，的電壓 小于參照電壓Vr時成為低電平，并輸出到識別器3 0 。
電壓檢測部件22求出輸入數(shù)據(jù)信號Da，的高電平的電壓Va、低電平的電 壓Vb以及振幅中心電壓Vc。校正信息輸出部件27基于從基準(zhǔn)信號發(fā)生部件 41輸出的標(biāo)記率M、和被電平移位后的輸入數(shù)據(jù)信號Da，的振幅值(Va-Vb ), 對校正部件28輸出校正信息△ V。
這里，對于校正信息AV,能夠與在前所述的情況一樣求出。
偏置電壓發(fā)生部件24例如由低通濾波器構(gòu)成，接受由電壓檢測部件22 檢測到的振幅中心電壓Vc，生成偏置電壓VB,但在振幅中心電壓Vc的脈 動分量充分小的情況下，也可以使用振幅中心電壓Vc作為偏置電壓VB。
校正部件28使用參照電壓Vr、校正信息AV以及偏置電壓VB,將偏置 電壓VB，提供給電平偏移器29，從而輸入數(shù)據(jù)信號Da，的補償值被參照電壓Vr控制。
這樣波形整形電路21，與波形整形電路21 —樣，即使存在輸入數(shù)據(jù)信號 的標(biāo)記率的大幅的變化和振幅的減少變化等，也能夠在具有振幅余量的狀態(tài) 下進(jìn)行波形整形處理。
此外，在上述實施方式中，在時鐘側(cè)插入可變延遲器32, ^v而相對可變 與數(shù)據(jù)信號的相位，但也可以將從波形整形電路21或21，輸出的數(shù)據(jù)信號輸 入到可變延遲器32中，從而將其相位對時鐘可變。
權(quán)利要求
1、一種數(shù)據(jù)識別裝置，包括可變延遲器(32)，相對地移相被波形整形后的數(shù)據(jù)信號和時鐘；以及識別器(31)，接受通過所述可變延遲器被相對移相的、所述被波形整形后的數(shù)據(jù)信號和時鐘，在該時鐘的一個電平變移定時讀取所述被波形整形后的數(shù)據(jù)信號的符號，并作為識別數(shù)據(jù)信號而輸出，所述數(shù)據(jù)識別裝置的特征在于，包括延遲器(34)，將從所述識別器輸出的識別數(shù)據(jù)信號以比特為單位進(jìn)行延遲后輸出；第1相位檢波器(35)，輸出與所述被波形整形后的數(shù)據(jù)信號和從該識別器輸出的識別數(shù)據(jù)信號之間的相位差對應(yīng)的電壓；第2相位檢波器(36)，輸出與從所述識別器輸出的識別數(shù)據(jù)信號和從所述延遲器輸出的數(shù)據(jù)信號之間的相位差對應(yīng)的電壓；第3相位檢波器(37)，輸出成為所述第1相位檢波器的輸出電壓的基礎(chǔ)的基礎(chǔ)電壓；以及相位控制部件(38)，控制所述可變延遲器的移相量，以使從所述第1相位檢波器輸出的電壓、與從所述第2相位檢波器輸出的電壓和所述基礎(chǔ)電壓的中間電壓相等。
2、 如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)識別裝置，其特征在于， 所述第1至第3相位檢波器由相同的相位檢波器構(gòu)成，所述第3相位檢波器輸出與相同符號且同相位的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號之間的相 位差對應(yīng)的電壓作為所述基礎(chǔ)電壓。
3、 如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)識別裝置，其特征在于，所述相位控制部件 對所述中間電壓和所述第1相位檢波器的輸出電壓進(jìn)行比較，在該輸出電壓 比所述中間電壓大時控制所述可變延遲器的移相量，以使所述被波形整形后 的數(shù)據(jù)信號和所述時鐘的相位差變小，在所述輸出電壓比所述中間電壓小時 控制所述可變延遲器的移相量，以使所述被波形整形后的數(shù)據(jù)信號和所述時 鐘的相位差變大。
4、 如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)識別裝置，其特征在于，所述相位控制部件 接受輸入數(shù)據(jù)信號的標(biāo)記率，根據(jù)該標(biāo)記率對所述中間電壓進(jìn)行校正。
5、 如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)識別裝置，其特征在于，在所述第2相位枱r 波器的輸出電壓和所述基礎(chǔ)電壓的差低于規(guī)定的闞值的情況下，所述相位控 制部件使所述可變延遲器的移相量變化所述時鐘的半周期。
6、 一種錯誤測定裝置，包括波形整形電路(21)，對輸入數(shù)據(jù)信號的波形進(jìn)行整形，輸出被波形整形 后的數(shù)據(jù)信號；以及數(shù)據(jù)識別裝置，識別所述被波形整形后的數(shù)據(jù)信號的符號，所述錯誤測定裝置測定所述被輸入的數(shù)據(jù)信號的符號錯誤，所述錯誤測 定裝置的特征在于，所述數(shù)據(jù)識別裝置由權(quán)利要求1至權(quán)利要求5的任意一項所述的數(shù)據(jù)識 別裝置構(gòu)成。
7、 如權(quán)利要求6所述的錯誤測定裝置，其特征在于，所述相位控制部件 對所述中間電壓和所述第1相位檢波器的輸出電壓進(jìn)行比較，在該輸出電壓 比所述中間電壓大時控制所述可變延遲器的移相量，以使所述被波形整形后 的數(shù)據(jù)信號和所述時鐘的相位差變小，在所述輸出電壓比所述中間電壓小時 控制所述可變延遲器的移相量，以使所述被波形整形后的數(shù)據(jù)信號和所述時 鐘的相位差變大。
8、 如權(quán)利要求6所述的錯誤測定裝置，其特征在于， 包括基準(zhǔn)信號發(fā)生部件(41 ),輸出被指定的基準(zhǔn)信號的標(biāo)記率作為所述輸入數(shù)據(jù)信號的標(biāo)記率，所述相位控制部件接收從所述基準(zhǔn)信號發(fā)生部件輸出的標(biāo)記率，根據(jù)該 標(biāo)記率才交正所迷中間電壓。
全文摘要
本發(fā)明的目的在于提供一種無需相位連續(xù)回掃處理而能夠?qū)τ跀?shù)據(jù)信號的時鐘的相位設(shè)定為最佳狀態(tài)，且能夠長時間維持該最佳狀態(tài)的數(shù)據(jù)識別裝置以及錯誤測定裝置。本發(fā)明的數(shù)據(jù)識別裝置包括延遲器(34)，將從識別器(31)輸出的數(shù)據(jù)信號(Dc)以延遲1比特而輸出；第1相位檢波器(35)，檢測輸入到識別器(31)中的數(shù)據(jù)信號(Db)和從識別器(31)輸出的數(shù)據(jù)信號(Dc)的相位差；第2相位檢波器(36)，檢測從識別器(31)輸出的數(shù)據(jù)信號(Dc)和從延遲器(34)輸出的數(shù)據(jù)信號(Dd)的相位差；第3相位檢波器(37)，輸出成為第1相位檢波器(35)和第2相位檢波器(36)的輸出值的基礎(chǔ)的電壓；以及相位控制部件(38)，控制可變延遲器(32)的移相量，以使第1相位檢波器(35)的輸出值(P1)、與第2相位檢波器(36)的輸出值(P2)和基礎(chǔ)電壓(P3)的中間值相等。
文檔編號H04L7/02GK101455023SQ20078001948
公開日2009年6月10日 申請日期2007年3月26日 優(yōu)先權(quán)日2006年3月31日
發(fā)明者山根一浩, 藤沼一弘 申請人:安立股份有限公司