專利名稱：介質(zhì)缺陷檢測系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及傳輸信息的系統(tǒng)和方法，并且尤其涉及確定與數(shù)據(jù)傳 輸相關(guān)聯(lián)的介質(zhì)相關(guān)的問題的系統(tǒng)和方法。
背景技術(shù)：
已經(jīng)開發(fā)出包括存儲(chǔ)系統(tǒng)、蜂窩電話系統(tǒng)、無線傳輸系統(tǒng)的各種 數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)。在每一個(gè)這樣的系統(tǒng)中，數(shù)據(jù)經(jīng)由某些介質(zhì)從發(fā)送方 傳輸至接收方。例如，在存儲(chǔ)系統(tǒng)中，數(shù)據(jù)經(jīng)由存儲(chǔ)介質(zhì)從發(fā)送方(即， 寫入功能)發(fā)送至接收方(即，讀取功能)。任何傳輸?shù)挠行远际?到與傳輸介質(zhì)相關(guān)聯(lián)的任何缺陷的影響。在某些情況下，由傳輸介質(zhì) 中的缺陷所導(dǎo)致的數(shù)據(jù)丟失可能使得傳輸介質(zhì)中的數(shù)據(jù)恢復(fù)很困難， 即使是從沒有缺陷的區(qū)域或時(shí)間中接收的數(shù)椐。
已經(jīng)研究出用于識(shí)別傳輸介質(zhì)中的缺陷的各種方法。這些方法提 供識(shí)別缺陷的一般能力，但在許多情況下是不準(zhǔn)確的。在最好的情況 下，這種不準(zhǔn)確性限制了任何缺陷識(shí)別的有效性。在最差的情況下， 不準(zhǔn)確的缺陷檢測實(shí)際上可能妨礙數(shù)據(jù)恢復(fù)處理。
因此，出于至少上述理由，本領(lǐng)域存在對先進(jìn)的缺陷檢測系統(tǒng)和 方法的需求。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及傳輸信息的系統(tǒng)和方法，并且尤其涉及確定數(shù)據(jù)傳輸 相關(guān)聯(lián)的介質(zhì)相關(guān)的問題的系統(tǒng)和方法。
本發(fā)明的各個(gè)實(shí)施例提供介質(zhì)缺陷檢測系統(tǒng)和方法。本發(fā)明的某
些特定實(shí)施例提供包括數(shù)據(jù)檢測器、缺陷檢測器和選通電路(gating circuit)的數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)。數(shù)據(jù)檢測器提供軟輸出，而缺陷檢測器用來接收軟輸出和數(shù)據(jù)信號(hào)，并且至少部分地基于軟輸出和數(shù)據(jù)信號(hào)來
斷言(assert)缺陷指示。選通電路用來只要缺陷指示被斷言就修改檢 測器的軟輸出。在上述實(shí)施例的某些實(shí)例中，數(shù)據(jù)檢測器可以是但不 限于維特比(Viterbi)檢測器或者最大后驗(yàn)概率檢測器。
在上述實(shí)施例的各個(gè)實(shí)例中，系統(tǒng)是硬盤驅(qū)動(dòng)器。在這類系統(tǒng)中， 硬盤驅(qū)動(dòng)器包括存儲(chǔ)介質(zhì)，并且數(shù)據(jù)信號(hào)來自存儲(chǔ)介質(zhì)。數(shù)據(jù)檢測器 接收來自存儲(chǔ)介質(zhì)的數(shù)據(jù)信號(hào)并且至少部分地基于數(shù)據(jù)信號(hào)而提供軟 輸出。缺陷檢測器用來檢測存儲(chǔ)介質(zhì)上的缺陷區(qū)域。在某些情況下， 缺陷檢測器包括數(shù)據(jù)分析電路、軟分析電路和兩個(gè)計(jì)數(shù)器電路。數(shù)據(jù) 分析電路包括用來比較數(shù)據(jù)信號(hào)的絕對值和數(shù)據(jù)閾值的第 一比較器， 并且計(jì)數(shù)器電路中的一個(gè)用來確定數(shù)據(jù)信號(hào)的絕對值低于數(shù)據(jù)閾值的 期間的數(shù)量。軟分析電路包括用來比較軟輸出和軟閾值的第二比較器， 并且另一個(gè)計(jì)數(shù)器電路用來確定軟輸出低于軟閾值的期間的數(shù)量。
在上述實(shí)施例的某些實(shí)例中，在與數(shù)據(jù)閾值進(jìn)行比較之前使用高 通濾波器濾波數(shù)據(jù)信號(hào)。在上述實(shí)施例的各個(gè)實(shí)例中，數(shù)據(jù)閾值和軟 閾值是可編程的。在上述實(shí)施例的特定實(shí)例中，只要第一計(jì)數(shù)器和第 二計(jì)數(shù)器中的至少一個(gè)超過計(jì)數(shù)閾值就斷言缺陷指示。而且，只要數(shù) 據(jù)信號(hào)的絕對值超過數(shù)據(jù)信號(hào)閾值就重置與數(shù)據(jù)信號(hào)比較相關(guān)聯(lián)的計(jì) 數(shù)器，并且其中只要軟輸出超過軟閾值就重置另一個(gè)計(jì)數(shù)器。在特定 情況下， 一旦缺陷指示被斷言，其至少在最小期間內(nèi)一直保持被斷言。 最小期間可以是可編程的。
在上述實(shí)施例的其它實(shí)例中，系統(tǒng)是通信設(shè)備。在這類實(shí)例中， 通信設(shè)備經(jīng)由通信信道接收信息，并且數(shù)據(jù)信號(hào)從通信信道獲得。數(shù) 據(jù)檢測器接收從通信信道獲得的數(shù)據(jù)信號(hào)并且至少部分地基于數(shù)據(jù)信 號(hào)而提供軟輸出。缺陷檢測器用來檢測通信信道的缺陷期間。
本發(fā)明的其它實(shí)施例提供缺陷檢測方法。這樣的方法包括接收數(shù) 據(jù)信號(hào)，以及對數(shù)據(jù)信號(hào)執(zhí)行檢測處理。檢測處理提供軟輸出。該方 法還包括比較數(shù)據(jù)信號(hào)和數(shù)據(jù)閣值，以及比較軟輸出和軟閾值。該比 較導(dǎo)致只要數(shù)據(jù)信號(hào)低于數(shù)據(jù)閾值達(dá)第 一確定期間就斷言的數(shù)據(jù)比較
6結(jié)果，以及只要軟輸出低于軟閾值達(dá)第二確定期間就的斷言的軟比較 結(jié)果。該方法還包括只要軟比較結(jié)果和數(shù)據(jù)比較結(jié)果中的至少一個(gè)被 斷言就斷言缺陷指示符。在某些情況下，僅僅在軟比較結(jié)果和數(shù)據(jù)比 較結(jié)果同時(shí)被斷言的時(shí)候斷言缺陷檢測器。在上述實(shí)施例的各個(gè)實(shí)例 中，第一確定期間和第二確定期間是相同的期間，并且該共同期間是 可編程的。
上述實(shí)施例的各個(gè)實(shí)例包括確定數(shù)據(jù)信號(hào)的絕對值。在此情況 下，與數(shù)據(jù)閾值進(jìn)行比較的數(shù)據(jù)信號(hào)是數(shù)據(jù)信號(hào)的絕對值。而且，本 發(fā)明的某些實(shí)施例包括確定軟輸出的絕對值。在此情況下，與軟閾值 進(jìn)行比較的軟輸出是軟輸出的絕對值。又進(jìn)一步，本發(fā)明的某些實(shí)施 例包括濾波數(shù)據(jù)信號(hào)。在此情況下，與數(shù)據(jù)閾值進(jìn)行比較的數(shù)據(jù)信號(hào) 是已濾波的數(shù)據(jù)信號(hào)。
本發(fā)明的又 一 些其它實(shí)施例提供存儲(chǔ)系統(tǒng)。這類存儲(chǔ)系統(tǒng)包括存 儲(chǔ)介質(zhì)，讀/寫電路和定位控制器。與存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)地布置讀/寫電路的 至少一部分，并且定位控制器用來與存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)地定位讀/寫電路的
至少一部分。讀/寫電路包括但不限于提供軟輸出的數(shù)據(jù)檢測器、缺 陷檢測器和選通電路。缺陷檢測器用來接收軟輸出，并且至少部分地 基于軟輸出而斷言缺陷指示。選通電路只要缺陷指示被斷言就修改檢 測器的軟輸出。在上述實(shí)施例的某些實(shí)例中，存儲(chǔ)系統(tǒng)并入在電子系 統(tǒng)中。這類電子系統(tǒng)包括但不限于計(jì)算機(jī)、音頻播放器、視頻播放器、 獨(dú)立存儲(chǔ)系統(tǒng)和/或蜂窩電話。這類計(jì)算機(jī)可以是但不限于個(gè)人計(jì)算 機(jī)、筆記本計(jì)算機(jī)、服務(wù)器和/或個(gè)人數(shù)字助理。
該發(fā)明內(nèi)容僅僅提供本發(fā)明某些實(shí)施例的概要。根據(jù)下面的詳細(xì) 描述、所附權(quán)利要求和附圖，本發(fā)明的許多其它目的、特征、優(yōu)點(diǎn)和 其它實(shí)施例將變得更加明顯。


通過參考說明書剩余部分所描述的附圖，可以實(shí)現(xiàn)對本發(fā)明各個(gè) 實(shí)施例的進(jìn)一步理解。在附圖中，若干圖中使用的相似附圖標(biāo)記表示
7相似部件。在某些實(shí)例中，與附圖標(biāo)記相關(guān)聯(lián)的由小寫字母組成的子 標(biāo)注表示多個(gè)相似部件中的一個(gè)。當(dāng)引用一個(gè)附圖標(biāo)記而不具體到已 有的子標(biāo)注時(shí)，其意在引用所有的這些多個(gè)相似部件。
圖l描述了根據(jù)本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例的缺陷檢測系統(tǒng)；
圖2a顯示了根據(jù)本發(fā)明某些實(shí)施例的缺陷檢測電路的特定實(shí)現(xiàn)；
圖2b描述了施加至圖2a的缺陷檢測電路以及從圖2a的缺陷檢 測電路接收的示例性信號(hào)的時(shí)序圖3a顯示了根據(jù)本發(fā)明某些實(shí)施例的包括數(shù)據(jù)濾波的缺陷檢測 電路的另一個(gè)特定實(shí)現(xiàn)；
圖3b描述了施加至圖3a的缺陷檢測電路以及從圖3a的缺陷檢 測電路接收的示例性信號(hào)的時(shí)序圖4a顯示了根據(jù)本發(fā)明一個(gè)或更多個(gè)實(shí)施例的包括缺陷指示擴(kuò) 展器的缺陷檢測電路的又一個(gè)特定實(shí)現(xiàn)；
圖4b描 述了施加至圖4a的缺陷檢測電路以及從圖4a的缺陷檢 測電路接收的示例性信號(hào)的時(shí)序圖5描述了根據(jù)本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例的包括介質(zhì)缺陷系統(tǒng)的存儲(chǔ)系
統(tǒng)；
圖6描述了 ^L據(jù)本發(fā)明 一個(gè)或更多個(gè)實(shí)施例的包括介質(zhì)缺陷系統(tǒng) 的通信系統(tǒng)；以及
圖7是描述根據(jù)本發(fā)明某些實(shí)施例的介質(zhì)缺陷檢測方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明涉及傳輸信息的系統(tǒng)和方法，并且尤其涉及確定與數(shù)據(jù)傳 輸相關(guān)聯(lián)的介質(zhì)相關(guān)的問題的系統(tǒng)和方法。
眾所周知，介質(zhì)缺陷可能導(dǎo)致缺陷區(qū)域周圍和或與介質(zhì)相關(guān)聯(lián)的 缺陷時(shí)間附近的錯(cuò)誤的突發(fā)(burst)。在許多情況下，與許多介質(zhì)缺 陷相關(guān)聯(lián)的錯(cuò)誤是局部的并且不會(huì)傳播。因而，通常認(rèn)為歸咎于介質(zhì) 缺陷的錯(cuò)誤傳播不是嚴(yán)重的問題。然而，已經(jīng)發(fā)現(xiàn)，在各種條件下，歸咎于介質(zhì)缺陷的錯(cuò)誤傳播可能是個(gè)問題。特別是看起來在多種檢測 器/解碼器實(shí)現(xiàn)中，這些錯(cuò)誤可能會(huì)傳播，其中與從缺陷區(qū)域或在缺陷
時(shí)間期間獲取的數(shù)據(jù)相關(guān)地報(bào)告合理高的軟概率。本發(fā)明的某些實(shí)施 例通過將軟輸出信息并入至介質(zhì)缺陷確定過程來解決該問題。
轉(zhuǎn)至圖1，描述了根據(jù)本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例的缺陷檢測系統(tǒng)100。 缺陷檢測系統(tǒng)100包括軟輸入介質(zhì)缺陷檢測器120，軟輸出檢測器110、 150，選通電路130、 160以及軟輸出解碼器140。軟輸出檢測器IIO、 150可以是本領(lǐng)域所公知的能夠提供軟輸出信息(即，正確地識(shí)別所 檢測數(shù)據(jù)的概率)的任何檢測器。因而，軟輸出檢測器可以是但不限 于本領(lǐng)域所公知的軟輸出維特比算法檢測器(SOVA)或者最大后驗(yàn) 概率(MAP)檢測器?；诒旧暾埶峁┑墓_內(nèi)容，本領(lǐng)域技術(shù)人 員將認(rèn)識(shí)到可以與本發(fā)明的不同實(shí)施例相關(guān)地使用的各種檢測器。
介質(zhì)數(shù)據(jù)180接收自某些形式的介質(zhì)并且被傳輸至缺陷檢測系統(tǒng) 100。因而，例如，在缺陷檢測系統(tǒng)IOO作為石更盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的一部分來 實(shí)現(xiàn)的情況下，介質(zhì)數(shù)據(jù)180可以從并入在硬盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)中的磁存儲(chǔ) 介質(zhì)獲得。作為另一個(gè)示例，在缺陷檢測系統(tǒng)100作為通信系統(tǒng)的一 部分來實(shí)現(xiàn)的情況下，介質(zhì)數(shù)據(jù)180可以從發(fā)送和接收設(shè)備之間的無 線或其它傳輸介質(zhì)獲得。基于本申請所提供的公開內(nèi)容，本領(lǐng)域技術(shù) 人員將認(rèn)識(shí)到可以從其獲得介質(zhì)數(shù)據(jù)180的各種介質(zhì)。
將介質(zhì)數(shù)據(jù)180提供給軟輸出檢測器110和軟輸入介質(zhì)缺陷檢測 器120。軟輸出檢測器110對介質(zhì)數(shù)據(jù)180執(zhí)行檢測功能并且提供軟 輸入112至軟輸入介質(zhì)缺陷檢測器120。軟介質(zhì)缺陷檢測器120結(jié)合 軟輸入112來分析介質(zhì)數(shù)據(jù)180以確定提供介質(zhì)數(shù)據(jù)180的介質(zhì)是否 在獲取介質(zhì)數(shù)據(jù)180的位置周圍出現(xiàn)缺陷。只要軟輸入介質(zhì)缺陷檢測 器120識(shí)別出缺陷，就斷言缺陷輸出122和缺陷延遲輸出124。將來 自軟輸出檢測器110的輸出以及缺陷輸出122提供給選通電路130。 當(dāng)缺陷輸出122被斷言時(shí)，選通電路130致使來自軟輸出檢測器110 的軟輸出被斷言，使得介質(zhì)數(shù)據(jù)180已經(jīng)被適當(dāng)檢測的指示概率為零。 這種"零"概率被提供給軟輸出解碼器140，在解碼器140中該概率被用來解碼介質(zhì)數(shù)據(jù)180。軟輸出解碼器140可以是本領(lǐng)域所公知的 任何數(shù)據(jù)解碼器。通過將與介質(zhì)缺陷的標(biāo)識(shí)符一致的軟輸出信息零化 (zeroing)，選通電路130用來限制軟輸出解碼器140會(huì)不正確地將 來自缺陷區(qū)域的數(shù)據(jù)識(shí)別為正確的概率。
將來自軟輸出解碼器140的輸出提供給執(zhí)行另 一個(gè)檢測處理并且 提供指示正確數(shù)據(jù)的可能性的另一個(gè)軟輸出的軟輸出檢測器150。將 缺陷延遲輸出124與來自軟輸出檢測器150的輸出一同提供給選通電 路160。缺陷延遲輸出124是缺陷輸出122的如下版本其被足夠延 遲以匹配經(jīng)由選通電路130、軟輸出解碼器140和軟輸出檢測器150 傳遞介質(zhì)數(shù)據(jù)180所導(dǎo)致的時(shí)序延遲。與選通電路130類似，當(dāng)缺陷 延遲輸出124被斷言時(shí)，選通電路160致使來自軟輸出檢測器150的 軟輸出被斷言，使得介質(zhì)數(shù)據(jù)180已經(jīng)被適當(dāng)檢測的指示概率為零。 這種"零"概率被提供給軟輸出解碼器170，在解碼器170中該概率 被用來解碼介質(zhì)數(shù)據(jù)180。軟輸出解碼器170可以是本領(lǐng)域所公知的 任何數(shù)據(jù)解碼器。通過將與介質(zhì)缺陷的標(biāo)識(shí)符一致的軟輸出信息零化， 選通電路160用來限制軟輸出解碼器170會(huì)不正確地將來自缺陷區(qū)域 的數(shù)據(jù)識(shí)別為正確的概率。軟輸出解碼器170提供根據(jù)具體設(shè)計(jì)可以 用于、或者施加至進(jìn)一步的檢測/解碼階段的數(shù)據(jù)輸出190。
轉(zhuǎn)至圖2a，顯示了根據(jù)本發(fā)明某些實(shí)施例的軟輸入缺陷檢測電路 200。軟輸入缺陷檢測電路200包括數(shù)據(jù)分析電路241(顯示在虛線中)、 軟分析電路243 (顯示在虛線中)以及組合電路212。數(shù)據(jù)分析電路 241被設(shè)計(jì)成用來基于來自被檢測(at issue )介質(zhì)的數(shù)據(jù)輸入202來 標(biāo)識(shí)潛在的介質(zhì)缺陷。軟分析電路243被設(shè)計(jì)成用來基于從軟輸出檢 測器(未示出)接收的軟輸入232來標(biāo)識(shí)潛在的介質(zhì)缺陷。組合電路 212被設(shè)計(jì)成用來組合數(shù)據(jù)分析電路241和軟分析電路243的結(jié)果以 確定介質(zhì)缺陷是否存在，并且基于該確定來斷言缺陷輸出214。軟輸 入缺陷檢測電路200還可以包括接收缺陷輸出214并且在下一級解碼/ 檢測處理的使用所期望時(shí)延遲缺陷輸出的延遲電路216。所延遲的輸 出被識(shí)別為缺陷延遲輸出218。數(shù)據(jù)分析電路241包括接收數(shù)據(jù)輸入202并且執(zhí)行偏移(offset) 處理以產(chǎn)生數(shù)據(jù)輸入202的絕對值的絕對值電路204。將數(shù)據(jù)輸入202 的絕對值246提供給比較絕對值246和可編程數(shù)據(jù)閾值220的比較器 206。在絕對值246超過可編程數(shù)據(jù)閾值220的情況下，清除計(jì)數(shù)器 208。否則，在絕對值246小于可編程數(shù)據(jù)閾值220的情況下，計(jì)數(shù)器 208與時(shí)鐘248同步地繼續(xù)增加。計(jì)數(shù)器輸出250被提供給比較器210, 其與可編程位計(jì)數(shù)222進(jìn)行比較。在計(jì)數(shù)器輸出250超過可編程位計(jì) 數(shù)222的情況下，基于數(shù)據(jù)輸入202斷言介質(zhì)缺陷指示254。
軟分析電路243包括比較軟輸入232和可編程軟閾值242的比 較器236 (應(yīng)當(dāng)注意到，在需要時(shí)，可以將軟輸入232提供給與電路 204相似的絕對值電路并且絕對值用于后面的比較)。在軟輸入232 超過可編程軟閾值242的情況下，清除計(jì)數(shù)器238。否則，在軟輸入 232小于可編程軟閾值242的情況下，計(jì)數(shù)器238與時(shí)鐘248同步地 繼續(xù)增加。計(jì)數(shù)器輸出252被提供給比較器240，在比較器240中將 計(jì)數(shù)器輸出252與可編程位計(jì)數(shù)244進(jìn)行比較。在計(jì)數(shù)器輸出252超 過可編程位計(jì)數(shù)244的情況下，基于軟輸入232斷言介質(zhì)缺陷指示256。
通過組合電路212組合介質(zhì)缺陷指示254和介質(zhì)缺陷指示256。 在某些情況下，組合電路212執(zhí)行介質(zhì)缺陷指示254和介質(zhì)缺陷指示 256的邏輯AND (和)等效值，而邏輯AND的輸出為缺陷輸出214。 執(zhí)行這樣的組合用以限制從軟輸入缺陷檢測電路200輸出誤報(bào)(false positive )的概率。在其它情況下，組合電路212執(zhí)行介質(zhì)缺陷指示254 和介質(zhì)缺陷指示256的邏輯OR (或)等效值，而邏輯OR的輸出為缺 陷輸出214。執(zhí)行這樣的組合用以限制從軟輸入缺陷檢測電路200輸 出漏報(bào)(false negative)的概率?；诒旧暾埶峁┑墓_內(nèi)容，本 領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到可以用來組合介質(zhì)缺陷指示254和介質(zhì)缺陷指 示256以生成缺陷輸出214的各種組合電路。
轉(zhuǎn)至圖2b，基于與研究中發(fā)現(xiàn)的那些一致的示例性輸入，時(shí)序圖 201、 211、 231描述了軟輸入缺陷檢測電路200的操作。特別地，時(shí) 序圖201顯示了包括從非缺陷介質(zhì)接收數(shù)據(jù)的期間205、 207以及從缺陷介質(zhì)接收數(shù)據(jù)的期間203的示例性數(shù)據(jù)輸入202。當(dāng)與來自缺陷介 質(zhì)(203部分)的數(shù)據(jù)比較時(shí)，來自非缺陷介質(zhì)(205、 207部分)的 數(shù)據(jù)展現(xiàn)了相對高的振幅。時(shí)序圖211描述了時(shí)序圖201的信號(hào)的絕 對值。該絕對值代表圖2a的絕對值246。與可編程位計(jì)數(shù)222的比較 的滿足度在時(shí)序圖211中顯示為虛線213。在此情況下，可編程位計(jì) 數(shù)為4，并且一旦絕對值246的4個(gè)連續(xù)值被記錄為低于可編程數(shù)據(jù) 閾值220時(shí)被滿足。如此前所述， 一旦已經(jīng)達(dá)到這4個(gè)連續(xù)期間，則 斷言介質(zhì)缺陷指示254。應(yīng)當(dāng)注意到，4個(gè)期間的數(shù)目僅僅是示例并且
根據(jù)本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例可以編程任意數(shù)目的期間。
時(shí)序圖211描述與可編程軟閾值242比較的軟輸入232 (無論其 原始值或絕對值)。與可編程位計(jì)數(shù)244的比較的滿足度在時(shí)序圖231 中顯示為虛線233。在此情況下，可編程位計(jì)數(shù)為4，并且一旦4個(gè)連 續(xù)軟輸入232值被記錄為低于可編程軟閾值242時(shí)被滿足。如此前所 述， 一旦已經(jīng)達(dá)到這4個(gè)連續(xù)期間，則斷言介質(zhì)缺陷指示256。應(yīng)當(dāng) 再次注意到，4個(gè)期間的數(shù)目僅僅是示例并且根據(jù)本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例 可以編程任意數(shù)目的期間。
還顯示了缺陷輸出214。如圖所示，只要介質(zhì)缺陷指示254和介 質(zhì)缺陷指示256中的一個(gè)或兩個(gè)被斷言，就斷言缺陷輸出214。不同 于圖2b中所示，在某些情況下，可編程位閾值222和可編程位閾值 244在不同的時(shí)間點(diǎn)被滿足。在這樣的情況下，將根據(jù)組合電路212 是邏輯AND函數(shù)、邏輯OR函數(shù)還是某些其它函數(shù)而在不同的時(shí)間點(diǎn) 來斷言缺陷輸出214。
轉(zhuǎn)至圖3a，顯示了根據(jù)本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例的軟輸入缺陷檢測電路 300。軟輸入缺陷檢測電路300包括數(shù)據(jù)分析電路341(顯示在虛線中)、 軟分析電路343 (顯示在虛線中)以及組合電路312。數(shù)據(jù)分析電路 341被設(shè)計(jì)成用來基于來自被檢測介質(zhì)的數(shù)據(jù)輸入302來標(biāo)識(shí)潛在的 介質(zhì)缺陷。軟分析電路343被設(shè)計(jì)成用來基于從軟輸出檢測器(未示 出)接收的軟輸入332來標(biāo)識(shí)潛在的介質(zhì)缺陷。組合電路312被設(shè)計(jì) 成用來組合數(shù)據(jù)分析電路341和軟分析電路343的結(jié)果以確定介質(zhì)缺陷是否存在，并且基于該確定來斷言缺陷輸出314。軟輸入缺陷檢測 電路300還可以包括接收缺陷輸出314并且在下一級解碼/檢測處理的 使用所期望時(shí)延遲缺陷輸出的延遲電路316。所延遲的輸出被識(shí)別為 缺陷延遲輸出318。
數(shù)據(jù)分析電路341包括濾波器375和允許選擇原始數(shù)據(jù)輸入302 或者數(shù)據(jù)輸入302的濾波版本373的多路復(fù)用器377。模式選擇器379 選擇期望的數(shù)據(jù)輸入302或?yàn)V波版本373。將多路復(fù)用器377的輸出 提供給絕對值電路304。絕對值電路304接收數(shù)據(jù)輸入302的所選版 本并且執(zhí)行偏移處理以產(chǎn)生數(shù)據(jù)輸入302的所選版本的絕對值。將數(shù) 據(jù)輸入302的絕對值346提供給比較絕對值346和可編程數(shù)據(jù)閾值320 的比較器306。在絕對值346超過可編程數(shù)據(jù)閾值320的情況下，清 除計(jì)數(shù)器308。否則，在絕對值346小于可編程數(shù)據(jù)閾值320的情況 下，計(jì)數(shù)器308與時(shí)鐘348同步地繼續(xù)增加。計(jì)數(shù)器輸出350被提供 給比較器310,在比較器310中將計(jì)數(shù)器輸出350與可編程位計(jì)數(shù)322 進(jìn)行比較。在計(jì)數(shù)器輸出350超過可編程位計(jì)數(shù)322的情況下，基于 數(shù)據(jù)輸入302斷言介質(zhì)缺陷指示354。
軟分析電路343包括比較軟輸入332和可編程軟閾值342的比 較器336 (應(yīng)當(dāng)注意到，如果需要，可以將軟輸入332提供給與電路 304相似的絕對值電路)。在軟輸入332超過可編程軟閣值342的情 況下，清除計(jì)數(shù)器338。否則，在軟輸入332小于可編程軟閾值3" 的情況下，計(jì)數(shù)器338與時(shí)鐘348同步地繼續(xù)增加。計(jì)數(shù)器輸出352 被提供給比較器340,在比較器340中將計(jì)數(shù)器輸出352與可編程位 計(jì)數(shù)344進(jìn)行比較。在計(jì)數(shù)器輸出352超過可編程位計(jì)數(shù)344的情況 下，基于軟輸入332斷言介質(zhì)缺陷指示356。
通過組合電路312組合介質(zhì)缺陷指示354和介質(zhì)缺陷指示356。 在某些情況下，組合電路312執(zhí)行介質(zhì)缺陷指示354和介質(zhì)缺陷指示 356的邏輯AND等效值，而邏輯AND的輸出為缺陷輸出311執(zhí)行 這樣的組合用以限制從軟輸入缺陷檢測電路300輸出誤報(bào)的概率。在 其它情況下，組合電路312執(zhí)行介質(zhì)缺陷指示354和介質(zhì)缺陷指示的邏輯OR等效值，而邏輯OR的輸出為缺陷輸出314。執(zhí)行這樣的組 合用以限制從軟輸入缺陷檢測電路300輸出漏報(bào)的概率。基于本申請 所提供的公開內(nèi)容，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到可以用來組合介質(zhì)缺陷 指示354和介質(zhì)缺陷指示356以生成缺陷輸出314的各種組合電路。
轉(zhuǎn)至圖3b，基于與研究中發(fā)現(xiàn)的那些一致的示例性輸入，時(shí)序圖 301、 311、 331描述了軟輸入缺陷檢測電路300的操作。特別地，時(shí) 序圖301顯示了包括從非缺陷介質(zhì)接收數(shù)據(jù)的期間305、 307以及從缺 陷介質(zhì)接收數(shù)據(jù)的期間303的示例性數(shù)據(jù)輸入202。重要的是，來自 缺陷部分的數(shù)據(jù)包括可以通過軟輸入缺陷檢測電路300的濾波器375 的使用而被消除的DC偏移。可以使用本領(lǐng)域所公知的任何濾波器技 術(shù)來設(shè)計(jì)濾波器375。在本發(fā)明的一個(gè)特定實(shí)施例中，濾波器375是 高通濾波器。這樣的高通濾波器可以例如是簡單的f=l-ma，其中ma 是移動(dòng)平均低通濾波器。在抽頭(tap)數(shù)目為L(其可以是可編程的) 的情況下，那么通過下列等式來描述高通濾波器f=l-[11…/L。而 且，當(dāng)與來自缺陷介質(zhì)(303部分)的數(shù)據(jù)比較時(shí)，來自非缺陷介質(zhì) (305、 307部分)的數(shù)據(jù)展現(xiàn)了相對高的振幅。時(shí)序圖311描述了時(shí) 序圖301的信號(hào)的濾波的絕對值。特別地，在模式選擇379選擇數(shù)據(jù) 輸入302的濾波版本373的情況下，時(shí)序圖311的濾波的絕對值代表 軟輸入缺陷檢測電路300的信號(hào)346。與可編程位計(jì)數(shù)322的比較的 滿足度在時(shí)序圖311中顯示為虛線313。在此情況下，可編程位計(jì)數(shù) 為4,并且一旦絕對值346的4個(gè)連續(xù)值被記錄為低于可編程數(shù)據(jù)閾 值320時(shí)被滿足。如此前所述， 一旦已經(jīng)達(dá)到這4個(gè)連續(xù)期間，則斷 言介質(zhì)缺陷指示354。應(yīng)當(dāng)注意到，4個(gè)期間的數(shù)目僅僅是示例并且根 據(jù)本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例可以編程任意數(shù)目的期間。
時(shí)序圖311描述與可編程軟閾值342比較的軟輸入332 (無論其 原始值或絕對值)。與可編程位計(jì)數(shù)344的比較的滿足度在時(shí)序圖331 中顯示為虛線333。在此情況下，可編程位計(jì)數(shù)為4，并且一旦4個(gè)連 續(xù)軟輸入332值被記錄為低于可編程軟閾值342時(shí)被滿足。如此前所 述， 一旦已經(jīng)達(dá)到這4個(gè)連續(xù)期間，則斷言介質(zhì)缺陷指示356。應(yīng)當(dāng)
14再次注意到，4個(gè)期間的數(shù)目僅僅是示例并且根據(jù)本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例 可以編程任意數(shù)目的期間。
還顯示了缺陷輸出314。如圖所示，只要介質(zhì)缺陷指示354和介 質(zhì)缺陷指示356中的一個(gè)或兩個(gè)被斷言，就斷言缺陷輸出314。不同 于圖3b中所示，在某些情況下，可編程位閾值322和可編程位閾值 344在不同的時(shí)間點(diǎn)被滿足。在這樣的情況下，將根據(jù)組合電路312 是邏輯AND函數(shù)、邏輯OR函數(shù)還是某些其它函數(shù)而在不同的時(shí)間點(diǎn) 來斷言缺陷輸出314。
轉(zhuǎn)至圖4a，顯示了根據(jù)本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例的軟輸入缺陷檢測電路 400。軟輸入缺陷檢測電路400包括數(shù)據(jù)分析電路441(顯示在虛線中)、 軟分析電路443 (顯示在虛線中)以及組合電路412。數(shù)據(jù)分析電路 441祐/沒計(jì)成用來基于來自^皮檢測介質(zhì)的數(shù)據(jù)輸入402來標(biāo)識(shí)潛在的 介質(zhì)缺陷。軟分析電路443被設(shè)計(jì)成用來基于從軟輸出檢測器(未示 出)接收的軟輸入432來標(biāo)識(shí)潛在的介質(zhì)缺陷。組合電路412被設(shè)計(jì) 成用來組合數(shù)據(jù)分析電路441和軟分析電路443的結(jié)果以確定介質(zhì)缺 陷是否存在，并且基于該確定來斷言缺陷輸出414。
數(shù)據(jù)分析電路441包括濾波器475和允許選擇原始數(shù)據(jù)輸入402 或者數(shù)據(jù)輸入402的濾波版本473的多路復(fù)用器477?？梢允褂帽绢I(lǐng) 域所公知的任何濾波器技術(shù)來設(shè)計(jì)濾波器475。在本發(fā)明的一個(gè)特定 實(shí)施例中，濾波器475是高通濾波器。模式選擇器479選擇期望的數(shù) 據(jù)輸入402或?yàn)V波版本473。將多路復(fù)用器477的輸出提供給絕對值 電路404。絕對值電路404接收數(shù)據(jù)輸入402的所選版本并且執(zhí)行偏 移處理以產(chǎn)生數(shù)據(jù)輸入402的所選版本的絕對值。將數(shù)據(jù)輸入402的 絕對值446提供給比較絕對值446和可編程數(shù)據(jù)閣值420的比較器 406。在絕對值446超過可編程數(shù)據(jù)閾值420的情況下，清除計(jì)數(shù)器 408。否則，在絕對值446小于可編程數(shù)據(jù)閾值420的情況下，計(jì)數(shù)器 408與時(shí)鐘448同步地繼續(xù)增加。計(jì)數(shù)器輸出450被提供給比較器410， 在比較器410中將計(jì)數(shù)器輸出450與可編程位計(jì)數(shù)422進(jìn)行比較。在 計(jì)數(shù)器輸出450超過可編程位計(jì)數(shù)422的情況下，基于數(shù)據(jù)輸入402斷言介質(zhì)缺陷指示454。
軟分析電路443包括比較軟輸入432和可編程軟閾值442的比 較器436 (應(yīng)當(dāng)注意到，如果需要，可以將軟輸入432提供給與電路 404相似的絕對值電路)。在軟輸入432超過可編程軟閣值442的情 況下，清除計(jì)數(shù)器438。否則，在軟輸入432小于可編程軟閾值442 的情況下，計(jì)數(shù)器438與時(shí)鐘448同步地繼續(xù)增加。計(jì)數(shù)器輸出452 被提供給比較器440，在比較器440中將計(jì)數(shù)器輸出452與可編程位 計(jì)數(shù)444進(jìn)行比較。在計(jì)數(shù)器輸出452超過可編程位計(jì)數(shù)444的情況 下，基于軟輸入432斷言介質(zhì)缺陷指示456。
通過組合電路412組合介質(zhì)缺陷指示454和介質(zhì)缺陷指示456。 在某些情況下，組合電路412執(zhí)行介質(zhì)缺陷指示454和介質(zhì)缺陷指示 456的邏輯AND等效值，而邏輯AND的輸出為缺陷輸出414。執(zhí)行 這樣的組合用以限制從軟輸入缺陷檢測電路400輸出誤報(bào)的概率。在 其它情況下，組合電路412執(zhí)行介質(zhì)缺陷指示454和介質(zhì)缺陷指示456 的邏輯OR等效值，而邏輯OR的輸出為缺陷輸出414。執(zhí)行這樣的組 合用以限制從軟輸入缺陷檢測電路400輸出漏報(bào)的概率?；诒旧暾?所提供的公開內(nèi)容，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到可以用來組合介質(zhì)缺陷 指示454和介質(zhì)缺陷指示456以生成缺陷輸出414的各種組合電路。
軟輸入缺陷檢測電路400還包括缺陷延長器電路490。缺陷延長 器電路490是將缺陷輸出414的任何斷言延長預(yù)定期間的電路。其中， 該延長用來濾出介質(zhì)的有效部分的錯(cuò)誤指示。因而，例如，在缺陷輸 出414被斷言并且在后一周期中被濾波，絕對值446超過可編程數(shù)據(jù) 閾值420和/或軟輸入432超過可編程軟閾值442的情況下，缺陷輸出 414將仍然保持被斷言至少直到缺陷延長器電路4卯的預(yù)定期間過期。 在看起來是非缺陷區(qū)域的出現(xiàn)為假的情況下，將不會(huì)取消斷言(de-asserted)以及再次斷言(re - asserted )缺陷輸出414。另一方面，在 看起來是非缺陷區(qū)域的出現(xiàn)持續(xù)期間超過缺陷延長器電路490的期間 的情況下，將在缺陷延長器電路490的期間結(jié)束時(shí)取消斷言缺陷輸出 414。在某些實(shí)現(xiàn)中，缺陷延長器電路可以向軟輸入檢測電路400的其它部分提供反饋?；诒旧暾埶峁┑墓_內(nèi)容，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到根據(jù)本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例的包括例如可以被研發(fā)用來實(shí)現(xiàn)延長器
期間的計(jì)數(shù)器電路的各種電路。軟輸入缺陷檢測電路400還可以包括接收缺陷輸出414并且在下一級解碼/檢測處理的使用所期望時(shí)延遲缺陷輸出的延遲電路416。延遲的輸出被標(biāo)識(shí)為缺陷延遲輸出418。
轉(zhuǎn)至圖4b，基于與研究中發(fā)現(xiàn)的那些一致的示例性輸入，時(shí)序圖401、 411、 431描述了軟輸入缺陷檢測電路400的操作。特別地，時(shí)序圖401顯示了包括從非缺陷介質(zhì)接收數(shù)據(jù)的期間405、 407以及從缺陷介質(zhì)接收數(shù)據(jù)的期間403的示例性數(shù)據(jù)輸入402。重要的是，來自缺陷部分的數(shù)據(jù)可以或者可以不包括如上關(guān)于圖3b所更加完整描述的DC偏移。而且，當(dāng)與來自缺陷介質(zhì)(403部分)的數(shù)據(jù)比較時(shí)，來自非缺陷介質(zhì)(405、 407部分)的數(shù)據(jù)展現(xiàn)了相對高的振幅。時(shí)序圖411描述了時(shí)序圖401的信號(hào)的濾波的絕對值。重要的是，期間403內(nèi)的臨時(shí)信號(hào)超過可編程數(shù)據(jù)閾值420。在此情況下，缺陷延長器電路不允許在看起來是介質(zhì)的非缺陷部分的這個(gè)虛假實(shí)例期間重置缺陷輸出414。相反，保持缺陷輸出414直到延長器期間491超過期間407中確定的開始點(diǎn)。在此情況下，延長器期間是4個(gè)時(shí)鐘周期并且通過與時(shí)序圖中虛線所指示的可編程延長計(jì)數(shù)492的比較來確定。應(yīng)當(dāng)注
程任意數(shù)目的期間。
特別地，在模式選擇479選擇數(shù)據(jù)輸入402的濾波版本473的情況下，時(shí)序圖411的濾波的絕對值信號(hào)代表軟輸入缺陷檢測電路400的信號(hào)446。與可編程位計(jì)數(shù)422的比較的滿足度在時(shí)序圖411中顯示為虛線413。在此情況下，可編程位計(jì)數(shù)為4，并且一旦絕對值446的4個(gè)連續(xù)值被記錄為低于可編程數(shù)據(jù)閾值420時(shí)被滿足。如此前所述， 一旦已經(jīng)達(dá)到這4個(gè)連續(xù)期間，則斷言介質(zhì)缺陷指示454。應(yīng)當(dāng)注意到，超過可編程數(shù)據(jù)閾值的信號(hào)的實(shí)例415、 417、 419是不一致的并且包括小于可編程延長計(jì)數(shù)492的連續(xù)出現(xiàn)。因此，實(shí)例415、417、 419中沒有一個(gè)致使缺陷輸出414被取消斷言。應(yīng)當(dāng)再次注意到，數(shù)目的期間。
時(shí)序圖411描述與可編程軟閾值442比較的軟輸入432 (無論其原始值或絕對值)。與可編程位計(jì)數(shù)444的比較的滿足度在時(shí)序圖431中顯示為虛線433。在此情況下，可編程位計(jì)數(shù)為4，并且一旦4個(gè)連續(xù)軟輸入432值被記錄為低于可編程軟閾值442時(shí)被滿足。如此前所述， 一旦已經(jīng)達(dá)到這4個(gè)連續(xù)期間，則斷言介質(zhì)缺陷指示456。應(yīng)當(dāng)再次注意到，4個(gè)期間的數(shù)目僅僅是示例并且根據(jù)本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例可以編程任意^t目的期間。
還顯示了缺陷輸出414。如圖所示，只要介質(zhì)缺陷指示354和介質(zhì)缺陷指示456中的一個(gè)或兩個(gè)被斷言，就斷言缺陷輸出414。而且，不取消斷言缺陷輸出414直到接收到對應(yīng)于可編程延長計(jì)數(shù)492的看起來是來自非缺陷區(qū)域的值的連續(xù)數(shù)目。不同于圖4b中所示，在某些情況下，可編程位閾值422和可編程位閾值444在不同的時(shí)間點(diǎn)被滿足。在這樣的情況下，將根據(jù)組合電路412是邏輯AND函數(shù)、邏輯OR函數(shù)還是某些其它函數(shù)而在不同的時(shí)間點(diǎn)來斷言缺陷輸出414。
轉(zhuǎn)至圖5，顯示了根據(jù)本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例的包括介質(zhì)缺陷系統(tǒng)的存儲(chǔ)系統(tǒng)500。存儲(chǔ)系統(tǒng)500可以是例如硬盤驅(qū)動(dòng)器。存儲(chǔ)系統(tǒng)500包括并入有介質(zhì)缺陷檢測器的讀取通道510。并入的介質(zhì)缺陷檢測器可以是能夠使用軟信息以形成介質(zhì)缺陷的確定的任何介質(zhì)缺陷檢測器。因而，例如，并入的介質(zhì)缺陷檢測器可以是但不限于軟輸入缺陷檢測電路200、 300、 400中的任何一個(gè)。此外，存儲(chǔ)系統(tǒng)500包括接口控制器520、前置放大器570、硬盤控制器566、電機(jī)控制器568、主軸電機(jī)572、盤板(diskplatter) 578以及讀/寫頭576。接口控制器520控制到/來自盤板578的尋址和時(shí)序。盤板578上的數(shù)據(jù)由可以通過讀/寫頭組件576在組件適當(dāng)?shù)囟ㄎ挥诒P板578時(shí)檢測的多組磁信號(hào)組成。在典型的讀取操作中，通過電機(jī)控制器568將讀/寫頭組件576精確地定位于盤板578上的期望數(shù)據(jù)軌道。電機(jī)控制器568在硬盤控制器566的指示下通過移動(dòng)讀/寫頭組件至盤板578的適當(dāng)數(shù)據(jù)軌道來與盤才反578相關(guān)地定位讀/寫頭組件576以及驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)572。主軸電機(jī)572按照確定的轉(zhuǎn)速(RPM)來旋轉(zhuǎn)盤板578。
一旦讀/寫頭組件578被定位為鄰近適當(dāng)?shù)臄?shù)據(jù)軌道，通過主軸電機(jī)572旋轉(zhuǎn)盤板578，讀/寫頭組件576感測(sense )表示盤板578上的數(shù)據(jù)的磁信號(hào)。將感測的磁信號(hào)作為表示盤板578上磁性數(shù)據(jù)的連續(xù)、瞬間(minute)模擬信號(hào)來提供。經(jīng)由前置放大器570將該瞬間模擬信號(hào)從讀/寫頭組件576傳輸至讀取通道模塊564。前置放大器570用來放大從盤板578訪問的瞬間模擬信號(hào)。此外，前置放大器570用來放大要寫入盤板578的來自讀取通道模塊510的數(shù)據(jù)。轉(zhuǎn)而，讀取通道模塊510解碼(包括介質(zhì)缺陷檢測)和數(shù)字化接收的模擬信號(hào)以再次生成(recreate)原始寫入盤板578的信息。將該數(shù)據(jù)作為讀取數(shù)據(jù)503提供給接收電路。寫入操作與寫入數(shù)據(jù)501被提供給讀取通道模塊510的在前讀取操作實(shí)質(zhì)上相反。該數(shù)據(jù)接著被解碼并且被寫入盤板578。
轉(zhuǎn)至圖6,顯示了根據(jù)本發(fā)明一個(gè)或更多個(gè)實(shí)施例的包括具有介質(zhì)缺陷系統(tǒng)的接收器620的通信系統(tǒng)600。通信系統(tǒng)600包括用來如本領(lǐng)域所公知的經(jīng)由傳輸介質(zhì)630發(fā)射編碼信息的發(fā)射器。接收器620從傳輸介質(zhì)630接收編碼數(shù)據(jù)。接收器620并入有用來確定傳輸介質(zhì)630中是否出現(xiàn)"缺陷"的介質(zhì)缺陷檢測電路。因而，例如，在傳輸介質(zhì)620是互聯(lián)網(wǎng)的情況下，其可能確定沒有接收到信號(hào)。替代地，在傳輸介質(zhì)620是空氣承載的無線信號(hào)的情況下，介質(zhì)缺陷檢測電路可以指示噪音很大并且不可靠的傳輸環(huán)境?；诒旧暾埶峁┑墓_內(nèi)容，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到可能包括缺陷并且可以與本發(fā)明不同實(shí)施例相關(guān)地使用的各種介質(zhì)。并入的介質(zhì)缺陷檢測器可以是能夠使用軟信息來形成介質(zhì)缺陷的決定的任何介質(zhì)缺陷檢測器。因而，例如,并入的介質(zhì)缺陷檢測器可以是但不限于軟輸入缺陷檢測電路200、300、400中的任何一個(gè)。
轉(zhuǎn)至圖7，流程圖700描述了根據(jù)本發(fā)明某些實(shí)施例的介質(zhì)缺陷檢測方法。根據(jù)流程圖700，接收數(shù)據(jù)信號(hào)(塊705)。該數(shù)據(jù)信號(hào)可
19以是，或者例如是在硬盤驅(qū)動(dòng)器的讀取期間接收的數(shù)據(jù)流或者通信設(shè)備接收的數(shù)據(jù)流?；诒旧暾埶峁┑墓_內(nèi)容，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到可以與本發(fā)明不同實(shí)施例相關(guān)地使用的各種數(shù)據(jù)信號(hào)和信號(hào)源。
對接收的數(shù)據(jù)信號(hào)執(zhí)行數(shù)據(jù)檢測(塊760)。這樣的數(shù)據(jù)檢測可以包括但不限于執(zhí)行維特比算法。該數(shù)據(jù)檢測處理生成指示數(shù)據(jù)正確的可能性的軟輸出。接著，并且創(chuàng)建所提供的軟輸出的絕對值(塊765 )。接著，比較軟輸出的絕對值和軟閾值(塊770)。可以通過例如軟閾值寄存器編程該軟閾值。在軟輸出的絕對值小于軟閾值的情況下(塊770)，增加軟計(jì)數(shù)器(塊785)。替代地，在軟輸出的絕對值超過軟閾值的情況下(塊770)，附加地確定此前是否斷言過缺陷指示符，以及其是否被斷言達(dá)至少最小期間或者延長期間(塊775)。在缺陷指示符此前被斷言達(dá)延長期間或者在其根本沒有被斷言的情況下(塊775)，重置軟計(jì)數(shù)器(塊780 )。替代地，在缺陷指示符被斷言并且沒有被斷言達(dá)至少最小或延長期間的情況下(塊775)，不重置軟計(jì)數(shù)器。
此外，確定所接收的數(shù)據(jù)信號(hào)是否需要被濾波(塊710)。在信號(hào)需要被濾波的情況下(塊710)，濾波信號(hào)(塊715)。這可以包括例如通過高通濾波器傳遞信號(hào)以移除任何低頻偏移量。無論如何，確定或者所濾波信號(hào)或者原始信號(hào)的絕對值(塊720)。接著，比較數(shù)據(jù)信號(hào)的絕對值與數(shù)據(jù)閾值(塊725 )。可以通過例如數(shù)據(jù)閾值寄存器編程數(shù)據(jù)閾值。在數(shù)據(jù)信號(hào)的絕對值小于數(shù)據(jù)閾值的情況下(塊725)，增加數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)器(塊735)。替代地，在數(shù)據(jù)信號(hào)的絕對值超過數(shù)據(jù)閾值的情況下(塊725)，附加地確定此前是否斷言過缺陷指示符，以及其是否被斷言達(dá)至少最小期間或者延長期間(塊730 )。在缺陷指示符此前被斷言達(dá)延長期間或者在其根本沒有被斷言的情況下(塊730)，重置數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)器(塊740)。替代地，在缺陷指示符被斷言并且沒有被斷言達(dá)至少最小或延長期間的情況下(塊730)，不重置數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)器。接著，確定軟計(jì)數(shù)和數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)組合的每一個(gè)是否超過各自閾值
(塊790)。在某些情況下，這包括比較軟計(jì)數(shù)與軟計(jì)數(shù)閾值以及數(shù) 據(jù)計(jì)數(shù)與數(shù)據(jù)閾值。在某些情況下，可以通過各自的寄存器編程上述 閾值中的每一個(gè)。在實(shí)現(xiàn)邏輯AND函數(shù)(如塊790中所述)的情況下， 斷言缺陷指示符(塊795 )，其中軟計(jì)數(shù)超過軟計(jì)數(shù)閾值并且數(shù)據(jù)計(jì) 數(shù)超過數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)閾值。在此情況下，在或者軟計(jì)數(shù)沒有超過軟計(jì)數(shù)閾 值或者數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)沒有超過數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)閾值的情況下，不在那個(gè)點(diǎn)斷言缺 陷指示符。替代地，在實(shí)現(xiàn)邏輯OR函數(shù)(塊790中沒有描述)，斷 言缺陷指示符(塊795),其中軟計(jì)數(shù)超過軟計(jì)數(shù)閾值或者數(shù)據(jù)計(jì)數(shù) 超過數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)閾值。在此情況下，在軟計(jì)數(shù)沒有超過軟計(jì)數(shù)閾值并且 數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)沒有超過數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)閾值的情況下，不在那個(gè)點(diǎn)斷言缺陷指示 符。
總之，本發(fā)明提供了檢測介質(zhì)缺陷的新系統(tǒng)、設(shè)備、方法和布置。 盡管以上給出了本發(fā)明一個(gè)或更多個(gè)實(shí)施例的詳細(xì)描述，但在不脫離 本發(fā)明的實(shí)質(zhì)的前提下，各種替代物、修改和等同物對于本領(lǐng)域技術(shù) 人員而言是明顯的。例如，本發(fā)明的一個(gè)或更多個(gè)實(shí)施例可以應(yīng)用至 各種數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)和數(shù)字通信系統(tǒng)，如，例如，磁帶記錄系統(tǒng)、光盤 驅(qū)動(dòng)器、無線系統(tǒng)以及數(shù)字用戶線路系統(tǒng)。因此，不應(yīng)當(dāng)將上述說明 書內(nèi)容作為對通過所附權(quán)利要求所限定的本發(fā)明的范圍的限制。
權(quán)利要求
1.一種數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)，其中解碼系統(tǒng)包含數(shù)據(jù)檢測器，其中所述數(shù)據(jù)檢測器基于數(shù)據(jù)信號(hào)提供軟輸出；缺陷檢測器，其中所述缺陷檢測器用來接收所述軟輸出和所述數(shù)據(jù)信號(hào)，并且其中所述缺陷檢測器用來至少部分地基于所述軟輸出和所述數(shù)據(jù)信號(hào)來斷言缺陷指示；以及選通電路，其中所述選通電路用來只要所述缺陷指示被斷言就修改所述檢測器的所述軟輸出。
2. 如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述數(shù)據(jù)檢測器從以下部件 所組成的組中選擇維特比檢測器和最大后驗(yàn)概率檢測器。
3. 如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述系統(tǒng)是硬盤驅(qū)動(dòng)器，其 中所述硬盤驅(qū)動(dòng)器包括存儲(chǔ)介質(zhì)，其中所述數(shù)據(jù)信號(hào)從所述存儲(chǔ)介質(zhì) 獲得，其中所述數(shù)據(jù)檢測器接收從所述存儲(chǔ)介質(zhì)獲得的所述數(shù)據(jù)信號(hào) 并且至少部分地基于所述數(shù)據(jù)信號(hào)來提供所述軟輸出，并且其中所述 缺陷檢測器用來檢測所述存儲(chǔ)介質(zhì)上的缺陷區(qū)域。
4. 如權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其中所述缺陷檢測器包括 數(shù)據(jù)分析電路，其中所述數(shù)據(jù)分析電路包括用來比較所述數(shù)據(jù)信號(hào)的絕對值和數(shù)據(jù)閾值的第一比較器；第一計(jì)數(shù)器電路，其中所述第一計(jì)數(shù)器電路用來確定所述數(shù)據(jù)信 號(hào)的絕對值低于數(shù)據(jù)閾值的期間的數(shù)量；軟分析電路，其中所述軟分析電路包括用來比較所述軟輸出與軟 閾值的第二比較器；以及第二計(jì)數(shù)器電路，其中所述第二計(jì)數(shù)器電路用來確定所述軟輸出低于所述軟閾值的期間的數(shù)量。
5. 如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其中所述數(shù)據(jù)信號(hào)在與所述數(shù)椐 閾值比較之前被使用高通濾波器濾波。
6. 如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其中所述數(shù)據(jù)閾值是可編程的。
7. 如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其中所述軟閾值是可編程的。
8. 如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其中只要所述第一計(jì)數(shù)器和所述 第二計(jì)數(shù)器中的至少 一個(gè)超過計(jì)數(shù)閾值就斷言所述缺陷指示。
9. 如權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其中只要所述數(shù)據(jù)信號(hào)的絕對值 超過所述數(shù)據(jù)信號(hào)閾值就重置所述第一計(jì)數(shù)器，并且其中只要所述軟 輸出超過所述軟閾值就重置所述第二計(jì)數(shù)器。
10. 如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其中一旦所述缺陷指示被斷言， 其至少在最小期間內(nèi)保持被斷言。
11. 如權(quán)利要求IO所述的系統(tǒng)，其中所述最小期間是可編程的。
12. 如權(quán)利要求l所述的系統(tǒng)，其中所述系統(tǒng)是通信設(shè)備，其中 所述通信設(shè)備通過通信信道接收信息，其中所述數(shù)據(jù)信號(hào)從所述通信 信道獲得，其中所述數(shù)據(jù)檢測器接收從所述通信信道獲得的所述數(shù)據(jù) 信號(hào)并且至少部分地基于所述數(shù)據(jù)信號(hào)來提供所述軟輸出，并且其中 所述缺陷檢測器用來檢測所述通信信道的缺陷期間。
13. —種缺陷檢測方法，所述方法包含以下步驟 接收數(shù)據(jù)信號(hào)；對所述數(shù)據(jù)信號(hào)執(zhí)行檢測處理，其中數(shù)據(jù)檢測處理提供軟輸出； 比較所述數(shù)據(jù)信號(hào)和數(shù)據(jù)閾值，其中只要所述數(shù)據(jù)信號(hào)低于所述數(shù)據(jù)閾值達(dá)第 一確定期間就斷言數(shù)據(jù)比較結(jié)果；比較所述軟輸出和軟閾值，其中只要所述軟輸出小于所述軟閾值達(dá)第二確定期間就斷言軟比較結(jié)果；以及只要所述軟比較結(jié)果和所述數(shù)據(jù)比較結(jié)果中的至少一個(gè)被斷言 就斷言缺陷指示符。
14. 如權(quán)利要求13所述的方法，其中所述斷言缺陷指示符的步 驟僅僅發(fā)生在所述軟比較結(jié)果和所述數(shù)據(jù)比較結(jié)果均被斷言的時(shí)候。
15. 如權(quán)利要求13所述的方法，其中所述第一確定期間和所述 第二確定期間是相同期間，并且其中該相同期間是可編程的。
16. 如權(quán)利要求13所述的方法，其中所述方法還包含以下步驟 確定所述數(shù)據(jù)信號(hào)的絕對值，其中與所述數(shù)據(jù)閾值進(jìn)行比較的所述數(shù)據(jù)信號(hào)是所述數(shù)據(jù)信號(hào)的絕對值。
17. 如權(quán)利要求13所述的方法，其中所述方法還包含以下步驟 確定所述軟輸出的絕對值，其中與所述軟閾值進(jìn)行比較的所述軟輸出是所述軟輸出的絕對值。
18. 如權(quán)利要求13所述的方法，其中所述方法還包含以下步驟 濾波所述數(shù)據(jù)信號(hào)，其中與所述數(shù)據(jù)閾值進(jìn)行比較的所述數(shù)據(jù)信號(hào)是已濾波的所述數(shù)據(jù)信號(hào)。
19. 一種存儲(chǔ)系統(tǒng)，其中所述存儲(chǔ)系統(tǒng)包含 存儲(chǔ)介質(zhì)；讀/寫電路，其中與所述存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)地布置所述讀/寫電路的至 少一部分，并且其中所述讀/寫電路包括數(shù)據(jù)檢測器，其中所述數(shù)據(jù)檢測器提供軟輸出； 缺陷檢測器，其中所述缺陷檢測器用來接收所述軟輸出，并且 其中所述缺陷檢測器用來至少部分地基于所述軟輸出來斷言缺陷指示；選通電路，其中所述選通電路用來只要所述缺陷指示被斷言就修改所述檢測器的所述軟輸出；以及定位控制器，其中所述定位控制器用來與所述存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)地定 位所述讀/寫電路的至少一部分。
20. 如權(quán)利要求19所述的系統(tǒng)，,其中所述存儲(chǔ)系統(tǒng)并入在電子 系統(tǒng)中，并且其中所述電子系統(tǒng)從以下部件所組成的組中選擇計(jì)算 機(jī)、音頻播放器、視頻播放器、獨(dú)立存儲(chǔ)系統(tǒng)以及蜂窩電話。
全文摘要
本發(fā)明的各個(gè)實(shí)施例提供介質(zhì)缺陷檢測系統(tǒng)和方法。例如，公開了一種包括數(shù)據(jù)檢測器、缺陷檢測器和選通電路的數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)。數(shù)據(jù)檢測器提供軟輸出，而缺陷檢測器用來接收軟輸出和數(shù)據(jù)信號(hào)，并且至少部分地基于軟輸出和數(shù)據(jù)信號(hào)而斷言缺陷指示。選通電路用來只要缺陷指示被斷言就修改檢測器的軟輸出。
文檔編號(hào)H04B1/10GK101647203SQ200780052585
公開日2010年2月10日 申請日期2007年10月1日 優(yōu)先權(quán)日2007年10月1日
發(fā)明者譚衛(wèi)軍 申請人:艾格瑞系統(tǒng)有限公司