專利名稱：可降低噪聲干擾的測(cè)試端口處理方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)一種測(cè)試端口處理方法，尤指一種可降低噪聲干擾的測(cè)試端口 處理方法。
背景技術(shù)：
在科技技術(shù)不斷地提升下，許多通信裝置相繼地被開發(fā)出來。為了使通信 裝置具有優(yōu)良的收發(fā)性能及通話質(zhì)量，研發(fā)人員會(huì)為通信裝置量身設(shè)計(jì)一根匹 配的天線，以供該通信裝置使用?；蛘?，在通信裝置內(nèi)部增設(shè)防電磁波千擾結(jié) 構(gòu)，以提升通信裝置的接收靈敏度及通話質(zhì)量。
但是，即使有良好的天線及防電磁波干擾結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，通信裝置的接收靈敏
度及通話質(zhì)量也不一定可以確保。請(qǐng)參閱圖1、圖2所示，通信裝置所使用的 電路主機(jī)板10在開發(fā)過程中，會(huì)在主機(jī)板10上預(yù)留由兩個(gè)或兩個(gè)以上接腳102 所組成的第一端子組101。主機(jī)板10在進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，在兩個(gè)或兩個(gè)以上的接腳 102上串聯(lián)有包含兩個(gè)或兩個(gè)以上零歐姆電阻的零歐姆電阻單元103，利用該兩 個(gè)或兩個(gè)以上零歐姆電阻來連接測(cè)試端口 20的第二端子組201,以進(jìn)行主機(jī)板 IO的檢測(cè)或軟件刻錄。
一旦在信號(hào)檢測(cè)或軟件刻錄完成后，該零歐姆電阻單元103被移除，使測(cè) 試端口 20的第二端子組201預(yù)留在主機(jī)板10上。但在使用該通信裝置時(shí)，易 產(chǎn)生輻射噪聲；為了避免輻射噪聲，電路板布局有相當(dāng)大的限制，也造成電路 板布局的難度。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的主要目的，在于提供一種可以阻斷信號(hào)源，并減少噪 聲產(chǎn)生，同時(shí)能正常進(jìn)行數(shù)字信號(hào)接收，使得電路主機(jī)板在布局上更有靈活性
3的可降低噪聲干擾的測(cè)試端口處理方法。
為達(dá)到上述的目的，本發(fā)明提供一種可降低噪聲干擾的測(cè)試端口處理方法，
應(yīng)用于檢測(cè)或軟件刻錄的待測(cè)組件上，該方法包括 提供零歐姆電阻單元、待測(cè)系統(tǒng)及測(cè)試端口；
將該零歐姆電阻單元的第一端與該待測(cè)系統(tǒng)電性串聯(lián)，該零歐姆電阻單元 的第二端與所述測(cè)試端口電性連接；
在檢測(cè)或軟件刻錄后，將該零歐姆電阻單元的第一端與所述待測(cè)系統(tǒng)斷開， 呈斷路狀態(tài)，并將零歐姆電阻單元的第一端接地，阻斷信號(hào)源產(chǎn)生。
由上述方案可知，本發(fā)明通過在檢測(cè)或軟件刻錄完畢后，將該零歐姆電阻 單元的第一端與待測(cè)系統(tǒng)呈斷路狀態(tài)，并將零歐姆電阻單元的第一端接地以阻 斷信號(hào)源，減少噪聲產(chǎn)生，并不影響數(shù)字信號(hào)接收，使得電路主機(jī)板在布局上 更有靈活性。如果該待測(cè)系統(tǒng)為電子通信產(chǎn)品，則可以提升通信裝置的接收靈 敏度及通話質(zhì)量。


圖1為傳統(tǒng)電路主機(jī)板在檢測(cè)時(shí)的連接示意圖2為圖1的主機(jī)板在檢測(cè)后的連接示意圖3為本發(fā)明中待測(cè)系統(tǒng)在檢測(cè)或軟件刻錄時(shí)的連接示意圖4為本發(fā)明中待測(cè)系統(tǒng)在檢測(cè)或軟件刻錄完成后的連接示意圖。
附圖標(biāo)記說明
主機(jī)板 10第一端子組101接腳 102
零歐姆電阻單元103測(cè)試端口20第二端子組201
待測(cè)系統(tǒng)1第一端子組11第一接腳 111
第二接腳112第三接腳113第四接腳 114
第五接腳115第六接腳116
零歐姆電阻單元2第一電阻21第二電阻 22第三電阻23第四電阻24第五電阻25
第六電阻26測(cè)試端口3第二端子組31
第一接腳311第二接腳312第三接腳313
第四接腳314第五接腳315第六接腳 31具體實(shí)施例方式
有關(guān)本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容及詳細(xì)說明，現(xiàn)配合

如下 請(qǐng)參閱圖3,為本發(fā)明的待測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)或軟件刻錄連接示意圖。如圖3 所示本發(fā)明的可降低噪聲干擾的測(cè)試端口處理方法，可以應(yīng)用在用于檢測(cè)或 軟件刻錄的待測(cè)組件上，待測(cè)組件包括待測(cè)系統(tǒng)l、零歐姆電阻單元2及測(cè) 試端口 3。所述處理方法包括提供零歐姆電阻單元2、待測(cè)系統(tǒng)l及測(cè)試端口 3;將該零歐姆電阻單元2的第一端與該待測(cè)系統(tǒng)1電性串聯(lián)，該零歐姆電阻舉 元2的第二端與測(cè)試端口 3電性連接；如圖4所示，在檢測(cè)或軟件刻錄后，將 該零歐姆電阻單元2的第一端與待測(cè)系統(tǒng)1呈斷路狀態(tài)，并將零歐姆電阻單元 2的第一端接地，以阻斷信號(hào)源產(chǎn)生。
所述處理方法還可以包含提供第一端子組11，在該待測(cè)系統(tǒng)1上電性連接 該第一端子組11，該第一端子組11由兩個(gè)或兩個(gè)以上接腳組成，所述接腳與 零歐姆電阻單元2的第一端電性連接。如圖3所示，該兩個(gè)或兩個(gè)以上接腳中 的第一接腳111例如可以為JTMS接腳，第二接腳112為JTDO接腳，第三接 腳113為JTDI接腳，第四接腳114為JTCK接腳，第五接腳115為JRTCK接 腳，第六接腳116為JTRST—N接腳。該第一端子組11除了提供待測(cè)系統(tǒng)1電 性連接檢測(cè)外，還可供軟件刻錄器(圖中未示出)電性連接，將要刻錄的軟件 通過該第一端子組11傳送。在本圖中，該待測(cè)系統(tǒng)1為移動(dòng)通信系統(tǒng)(如電子 設(shè)備)或芯片。
該零歐姆電阻單元2，由兩個(gè)或兩個(gè)以上零歐姆電阻組成，如由第一電阻 21,第二電阻22,第三電阻23,第四電阻24,第五電阻25及第六電阻26組 成。第一電阻21至第六電阻26的第一端與該第一端子組11的第一接腳n至第六接腳116分別對(duì)應(yīng)電性串聯(lián)連接。
該測(cè)試端口 3,為連接器或信號(hào)接點(diǎn)，具有第二端子組31，該第二端子組 31與該測(cè)試端口 3電性連接，該第二端子組31由兩個(gè)或兩個(gè)以上接腳組成， 并與該零歐姆電阻單元2的第二端電性連接，如該第二端子組31由第一接腳 311,第二接腳3i2，第三接腳313，第四接腳314,第五接腳315及第六接腳 316組成，零歐姆電阻單元2中第一電阻21至第六電阻26的第二端與該第二 端子組31的第一接腳311至第六接腳316分別對(duì)應(yīng)電性連接。
在待測(cè)組件進(jìn)行檢測(cè)或軟件刻錄時(shí)，通過該測(cè)試端口 3進(jìn)行連接，以判斷 待測(cè)系統(tǒng)1是否正常及軟件刻錄器是否正常提供軟件的刻錄。
請(qǐng)參閱圖4 ，為本發(fā)明中待測(cè)系統(tǒng)在檢測(cè)或軟件刻錄完成后的連接示意圖。 如圖4所示在該待測(cè)系統(tǒng)1測(cè)試完畢后，將該零歐姆電阻單元2的第一電阻 21至第六電阻26的第一端與待測(cè)系統(tǒng)1的第一端子組11的第一接腳111至第 六接腳116斷開，形成斷路狀態(tài)，再將零歐姆電阻單元2的第一電阻21至第六 電阻26的第一端接地，以阻斷信號(hào)源，并減少噪聲產(chǎn)生，不影響數(shù)字信號(hào)接收, 使得電路主機(jī)板在布局上更有靈活性。例如，如果該待測(cè)系統(tǒng)1為電子通信產(chǎn) 品，則可以提升通信裝置接收靈敏度及通話質(zhì)量。
上述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非用來限定本發(fā)明實(shí)施的范圍。即 凡依本發(fā)明所做的等效變化與修飾，都認(rèn)為被本發(fā)明的專利范圍所涵蓋。
權(quán)利要求
1、一種可降低噪聲干擾的測(cè)試端口處理方法，應(yīng)用于檢測(cè)或軟件刻錄的待測(cè)組件上，其特征在于，該方法包括提供零歐姆電阻單元、待測(cè)系統(tǒng)及測(cè)試端口；將該零歐姆電阻單元的第一端與該待測(cè)系統(tǒng)電性串聯(lián)，該零歐姆電阻單元的第二端與所述測(cè)試端口電性連接；在檢測(cè)或軟件刻錄后，將該零歐姆電阻單元的第一端與所述待測(cè)系統(tǒng)斷開，呈斷路狀態(tài)，并將零歐姆電阻單元的第一端接地，阻斷信號(hào)源產(chǎn)生。
2、 如權(quán)利要求1所述的可降低噪聲干擾的測(cè)試端口處理方法，其特征在于， 所述待測(cè)系統(tǒng)為芯片。
3、 如權(quán)利要求l所述的可降低噪聲干擾的測(cè)試端口處理方法，其特征在于， 所述待測(cè)系統(tǒng)為電子設(shè)備。
4 、如權(quán)利要求1所述的可降低噪聲干擾的測(cè)試端口處理方法，其特征在于， 所述方法還包含提供與所述待測(cè)系統(tǒng)電性連接的第一端子組，該第一端子組由兩個(gè)或兩個(gè) 以上的接腳組成，該接腳與所述零歐姆電阻單元的第一端電性連接。
5、 如權(quán)利要求1所述的可降低噪聲干擾的測(cè)試端口處理方法，其特征在于， 所述零歐姆電阻單元由兩個(gè)或兩個(gè)以上的零歐姆電阻組成。
6、 如權(quán)利要求1所述的可降低噪聲干擾的測(cè)試端口處理方法，其特征在于， 所述方法還包含提供與所述測(cè)試端口電性連接的第二端子組，該第二端子組由兩個(gè)或兩個(gè) 以上的接腳組成，并與該零歐姆電阻單元的第二端電性連接。
7、 如權(quán)利要求1所述的可降低噪聲干擾的測(cè)試端口處理方法，其特征在于, 所述測(cè)試端口為連接器。
8、 如權(quán)利要求1所述的可降低噪聲干擾的測(cè)試端口處理方法，其特征在于, 所述測(cè)試端口為信號(hào)接點(diǎn)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種可降低噪聲干擾的測(cè)試端口處理方法，可以應(yīng)用于待測(cè)組件進(jìn)行檢測(cè)或軟件刻錄，該處理方法包括提供零歐姆電阻單元、待測(cè)系統(tǒng)及測(cè)試端口，將該零歐姆電阻單元的第一端與該待測(cè)系統(tǒng)電性串聯(lián)，該零歐姆電阻單元的第二端與測(cè)試端口電性連接，最后，在檢測(cè)或軟件刻錄完畢后，將該零歐姆電阻單元的第一端與待測(cè)系統(tǒng)斷開，形成斷路狀態(tài)，并將零歐姆電阻單元的第一端接地，以降低噪聲產(chǎn)生的機(jī)率并增加電路布線的靈活性。
文檔編號(hào)H04M3/22GK101488999SQ200810001109
公開日2009年7月22日 申請(qǐng)日期2008年1月15日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月15日
發(fā)明者何建勛, 林建榮, 陳怡蓁 申請(qǐng)人:誠(chéng)實(shí)科技股份有限公司