專利名稱：一種測試手機天線性能的方法及測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試方法，尤其涉及一種測試手機天線性能的方法及測試裝置。
背景技術(shù)：
天線作為手機的一個重要組成部分，對手機的無線射頻性能的影響是巨大 的。只有保障了天線的性能，手機的無線射頻性能才能夠得到保障。
現(xiàn)在的手機天線大都做到了手機的內(nèi)部，成為手機結(jié)構(gòu)的一部。這樣既節(jié) 省了空間，也節(jié)省了相應(yīng)的成本。為了進一步降低成本，通常會把天線的金屬 片通過熱熔的方式，或者其它方式固定在手機的殼體上，達到最大降低成本， 節(jié)省手機空間的目的。
天線內(nèi)置的天線的無線性能，和非常多的因素相關(guān)，例如天線金屬片的材 質(zhì)，形狀，在手機中的相對位置，殼體的材質(zhì)等等，都會有影響。手機天線的 設(shè)計過程， 一般是通過無線測試最終來確定天線的材質(zhì)、形狀和固定的位置， 后續(xù)只要這些確定了，射頻性能就能夠得到保障。天線熱熔到手機殼體上的方 案， 一般是設(shè)計好了天線金屬片，確定好了天線需要熱熔的位置，并將熱熔點 預留了下來。最后將天線的金屬片熱熔到手機的殼體中，形成手機最終的天線。
但是在現(xiàn)有技術(shù)中，對天線熱熔到手機殼體上后，往往不進行相應(yīng)的測試， 就認為手機的天線性能可以達到設(shè)計者的要求，這樣就無法知道生產(chǎn)中使用的 天線的材質(zhì)是否存在問題，影響天線性能，也無法判斷知道天線金屬片在運輸、 熱熔等過程發(fā)生了意外的變形。影響天線性能
另 一種現(xiàn)有技術(shù)中對熱熔到殼體的天線，進行^L影測量天線的各個尺寸。 通過這種方式來確保手機天線的無線性能。但是這種現(xiàn)有技術(shù)效率低下，精確 測量尺寸的時間要很長，如果全檢，成本高昂。如果進行抽檢，則無法保障所有手^L的天線性能的一致性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例所要解決的技術(shù)問題在于，提供一種測試手機天線性能的方 法及測試裝置。簡化了測試手機天線性能的操作，同時提高測試效率。
為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實施例提供了 一種用于測試手機天線性能 的方法，包4舌
通過測試裝置將帶天線的手機結(jié)構(gòu)件與PCB板進行模擬連接； 通過所述測試裝置測試所述結(jié)構(gòu)件上天線在判決頻點的駐波值，并判斷所 述駐波值與預先設(shè)定的判決頻點處的駐波值的差值是否在限定值范圍內(nèi)，當判 斷為是時，確定所述天線性能合格，當判斷為否時，則確定所述天線性能不合格。
相應(yīng)的，本發(fā)明實施例還提供了一種測試裝置，包括 測試治具，用于將帶天線的手機結(jié)構(gòu)件與PCB板進行模擬連接； 測試儀，與所述PCB板相連接，用于測試所述與PCB板進行模擬連接的天 線的駐波曲線，并確定所述駐波曲線在判決頻點的駐波值，并判斷所述天線在 判決頻點的駐波值與所述預先設(shè)定的判決頻點處的駐波值的差值是否在限定值 范圍內(nèi)，當判斷為是時，確定所述天線性能合格，當判斷為否時，則確定所述 天線性能不合格。
本發(fā)明實施例，通過測試裝置將帶天線的手機結(jié)構(gòu)件與PCB板進行模擬連 接，通過所述測試裝置測試所述結(jié)構(gòu)件上天線的性能是否合格，簡化了測試手 機天線性能的操作，同時提高測試效率。


圖1是本發(fā)明的測試裝置的一個實施例結(jié)構(gòu)組成示意圖2是本發(fā)明的一種測試手機天線性能方法的一個實施例流程示意圖。
具體實施例方式
為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明 作進一步地詳細描述。參照圖1,本發(fā)明實施例中測試裝置包括測試治具1,用于將帶天線的手機
結(jié)構(gòu)件與PCB板進行模擬連接。測試儀2,與所述PCB板相連接，與所述PCB 板相連接，用于測試所述與PCB板進行模擬連接的天線的駐波曲線，并確定所 述駐波曲線在判決頻點的駐波值；判斷所述天線在判決頻點的駐波值與所述預 先設(shè)定的判決頻點處的駐波值的差值是否在限定值范圍內(nèi)，當判斷為是時，確 定所述天線性能合格，當判斷為否時，則確定所述天線性能不合格。測試儀2 具體還包括測試端口21，用于與所述PCB板的制式接口相連。測試單元22，與 所述測試端口相連，用于測試所述與PCB板進行沖莫擬連接的天線的駐波曲線， 并確定所述駐波曲線在判決頻點的駐波值。判斷單元23，用于判斷所述天線在 判決頻點的駐波值與所述預先設(shè)定的判決頻點處的駐波值的差值是否在限定值 范圍內(nèi)，當判斷為是時，確定所述天線性能合格，當判斷為否時，則確定所述 天線性能不合格。設(shè)定單元24,用于當與PCB板進行模擬連接的天線已知為合 格天線時，根據(jù)所述測試單元確定的諧振點設(shè)定兩個判決頻點，并將所述判決 頻點的駐波值設(shè)定為預先設(shè)定的判決頻點駐波值。
具體實施時，所述與帶天線的手機結(jié)構(gòu)件模擬連接的PCB板與真實手機上 PCB板同樣大小，且所述與帶天線的手機結(jié)構(gòu)件模擬連接的PCB板上有天線饋 點，所述天線饋點與板邊有一條50歐姆阻抗的連線，所述與帶天線的手機結(jié)構(gòu) 件模擬連接的PCB板的板邊位置焊有標準的SMA插座，或者N型插座，或者 其它標準制式的插座。當需要測試手機天線的性能時，首先將所述與帶天線的 手機結(jié)構(gòu)件模擬連接的PCB板固定在測試治具1中，并通過同軸電纜將所述測 試裝置的測試儀2的測試端口 21與所述PCB板的制式接口連接。然后，通過所 述測試治具1將需要進行測試的帶天線的手機結(jié)構(gòu)件壓至所述PCB板上，使所 述手機結(jié)構(gòu)件的天線與所述PCB板上的天線饋點連接。在將所述帶天線的手機 結(jié)構(gòu)件與所述PCB板通過所述測試治具1模擬連接好后，則通過測試儀2中的 測試單元22測試所述與PCB板進行才莫擬連接的天線的駐波曲線，并確定所述駐 波曲線在判決頻點的駐波值，然后通過判斷單元23判斷所述天線在判決頻點的 駐波值與所述預先設(shè)定的判決頻點處的駐波值的差值是否在限定值范圍內(nèi)，當 判斷為是時，確定所述天線性能合格，當判斷為否時，則確定所述天線性能不 合格。所述判決頻點為通過測試裝置對性能合格的帶天線的手機結(jié)構(gòu)件進行測 試，得出所述性能合格的天線的駐波曲線的諧振點，并通過測試儀2中的設(shè)定單元24根據(jù)所述測試單元確定的諧振點設(shè)定兩個判決頻點，并將所述判決頻點 的駐波值設(shè)定為預先設(shè)定的判決頻點駐波值。
圖2是本發(fā)明實施例的測試手機天線性能的流程示意圖，具體包括以下步
驟
步驟S201測試性能合格的手機天線的駐波點并確定諧振點。 步驟S202根據(jù)所述性能合格的手機天線的諧振點設(shè)定兩個判決頻點。具體 實施時，所述判決頻點作為預先設(shè)定的判決頻點，并將所述判決頻點的駐波值 設(shè)定為預先設(shè)定的判決頻點駐波值。。具體實現(xiàn)中，并不需要在每次進行天線性 能測試前都需要根據(jù)合格的天線設(shè)定判決頻點，可以沿用之前設(shè)定好的判決頻 點即可。
步驟S203將需與天線相連的PCB板固定在測試裝置上。具體實施時，所 述與帶天線的手機結(jié)構(gòu)件模擬連接的PCB板與真實手機上PCB板同樣大小，且 所述與帶天線的手機結(jié)構(gòu)件模擬連接的PCB板上有天線饋點，所述天線饋點與 板邊有一條50歐姆阻抗的連線，所述與帶天線的手機結(jié)構(gòu)件模擬連接的PCB 板的板邊位置焊有標準的SMA插座，或者N型插座，或者其它標準制式的插座。步驟S204將所述帶天線的手機結(jié)構(gòu)件壓至所述測試裝置的測試治具上，使 所述天線與所述PCB板上的天線饋點連接。
步驟S205將所述測試裝置的測試儀與所述PCB板連接。具體實施時，通 過同軸電纜將所述測試裝置的測試儀的測試端口與所述PCB板的制式接口連接
步驟S206通過所述測試裝置測試所述與PCB板進行模擬連接的天線的駐 波曲線，并確定所述駐波曲線在判決頻點的駐波值。
步驟S207判斷所述天線在判決頻點的駐波值與所述預先設(shè)定的判決頻點 駐波值的差值是否在限定值范圍內(nèi)，當判斷為是時，執(zhí)行步驟S208，當判斷為 否時，執(zhí)行步驟S209。
步驟S208 當所述天線在判決頻點的駐波值與所述預先設(shè)定的判決頻點駐 波值的差值是在限定值范圍內(nèi)時，確定所述被測天線的性能合格。
步驟S209當所述天線在判決頻點的駐波值與所述預先設(shè)定的判決頻點駐 波值的差值不是在限定值范圍內(nèi)時，確定所述被測天線的性能不合格。
通過采用本發(fā)明測試天線性能，可以控制包括天線材質(zhì)，天線形狀的變化 等會對天線性能產(chǎn)生影響的因素，并且操作簡便，有效的提高了生產(chǎn)效率。以上所揭露的僅為本發(fā)明較佳實施例而已，當然不能以此來限定本發(fā)明之 權(quán)利范圍，因此依本發(fā)明權(quán)利要求所作的等同變化，仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。
權(quán)利要求
1、一種測試天線性能的方法，其特征在于，包括通過測試裝置將帶天線的手機結(jié)構(gòu)件與PCB板進行模擬連接；通過所述測試裝置測試所述結(jié)構(gòu)件上天線在判決頻點的駐波值，并判斷所述駐波值與預先設(shè)定的判決頻點處的駐波值的差值是否在限定值范圍內(nèi)，當判斷為是時，確定所述天線性能合格，當判斷為否時，則確定所述天線性能不合格。
2,如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，所迷通過測試裝置將帶天線的 手機結(jié)構(gòu)件與PCB板進行模擬連接包括將需與天線相連的PCB板固定在所述測試裝置上；將所述帶天線的手機結(jié)構(gòu)件壓至所述測試裝置的測試治具上，使所述天線 與所述PCB板上的天線饋點連接。
3，如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，所述通過所述測試裝置測試所 述結(jié)構(gòu)件上天線在判決頻點的駐波值，并判斷所述駐波值與預先設(shè)定的判決頻 點處的駐波值的差值是否在限定值范圍內(nèi)，當判斷為是時，確定所述天線性能 合格，當判斷為否時，則確定所述天線性能不合格的步驟具體包括將所述測試裝置的測試儀與所述PCB板連接；通過所述測試裝置測試所述與PCB板進行模擬連接的天線的駐波曲線，并 確定所述駐波曲線在判決頻點的駐波值；判斷所述天線判決頻點的駐波值與所述預先設(shè)定的判決頻點處的駐波值的 差值是否在限定值范圍內(nèi)，當判斷為是時，確定所述天線性能合格，當判斷為 否時，則確定所述天線性能不合格。
4、如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述將所述測試裝置的測試儀 與所述PCB板連接包括通過同軸電纜將所述測試裝置的測試儀的測試端口與所述PCB板的制式接 口連接。
5, 如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述PCB的制式接口為標準的 SMA插座、N型插座，或其他標準制式的插座。
6, 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括 測試性能合格的帶天線的手機結(jié)構(gòu)件的駐波曲線，確定諧振點； 根據(jù)所述諧振點確定兩個判決頻點，所述兩個判決頻點處的駐波值作為所述預先設(shè)定的判決頻點處的駐波值。
7, —種測試裝置，其特征在于，包括測試治具，用于將帶天線的手機結(jié)構(gòu)件與PCB板進行模擬連接； 測試儀，與所述PCB板相連接，用于測試所述與PCB板進行模擬連接的天 線的駐波曲線，并確定所述駐波曲線在判決頻點的駐波值，并判斷所述天線在 判決頻點的駐波值與預先設(shè)定的判決頻點處的駐波值的差值是否在限定值范圍 內(nèi)，當判斷為是時，確定所述天線性能合格，當判斷為否時，則確定所述天線 性能不合格。
8, 如權(quán)利要求7所述的測試裝置，其特征在于，所述測試儀包括 測試端口，用于與所述PCB板的制式接口相連；測試單元，與所述測試端口相連，用于測試所述與PCB板進行模擬連接的 天線的駐波曲線，并確定所述駐波曲線在判決頻點的駐波值；判斷單元，用于判斷所述天線在判決頻點的駐波值與所述預先設(shè)定的判決 頻點處的駐波值的差值是否在限定值范圍內(nèi)，當判斷為是時，確定所述天線性 能合格，當判斷為否時，則確定所述天線性能不合才各。
9, 如權(quán)利要求7所述的測試裝置，其特征在于，所述與PCB板進行模擬 連接的天線已知為合格天線，所述測試儀還包括設(shè)定單元，用于根據(jù)所述測試單元確定的諧振點設(shè)定兩個判決頻點，并將 所述判決頻點的駐波值設(shè)定為預先設(shè)定的判決頻點駐波值。
10、如權(quán)利要求7所述的測試裝置，其特征在于，所述PCB板的制式接口為標準的SMA插座、N型插座，或其他標準制式的插座。
全文摘要
本發(fā)明實施例公開了一種測試手機天線性能的方法及測試裝置，其中所述方法包括通過測試裝置將帶天線的手機結(jié)構(gòu)件與PCB板進行模擬連接；通過所述測試裝置測試所述結(jié)構(gòu)件上天線在判決頻點的駐波值，并判斷所述駐波值與預先設(shè)定的判決頻點處的駐波值的差值是否在限定值范圍內(nèi)，當判斷為是時，確定所述天線性能合格，當判斷為否時，則確定所述天線性能不合格。通過采用本發(fā)明測試天線性能，可以控制包括天線材質(zhì)，天線形狀的變化等會對天線性能產(chǎn)生影響的因素，并且操作簡便，有效的提高了生產(chǎn)效率。
文檔編號H04Q7/34GK101321023SQ20081002957
公開日2008年12月10日 申請日期2008年7月18日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月18日
發(fā)明者猛 侯, 周儉軍, 楊麗萍, 王德煉 申請人:深圳華為通信技術(shù)有限公司